JPH09199793A - 縦型空洞表面放射レーザ - Google Patents
縦型空洞表面放射レーザInfo
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
-
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- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
- H01S5/18377—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors comprising layers of different kind of materials, e.g. combinations of semiconducting with dielectric or metallic layers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- H01S5/34326—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer based on InGa(Al)P, e.g. red laser
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な装置構成で効率の高い可視光縦型空洞
表面放射レーザ(VCSEL)を実現する。 【解決手段】 可視光を放射するためのVCSEL(1
0)は、第1のエピタキシャル成長された材料系の第1
の部分(15)および第2のエピタキシャル成長された
材料系の第2の部分(16)を有する第1のミラースタ
ック(14)、該第1のミラースタック(14)上に配
置された活性領域(20)、および該活性領域(20)
の上に配置された第2のミラースタック(22)を含
む。
表面放射レーザ(VCSEL)を実現する。 【解決手段】 可視光を放射するためのVCSEL(1
0)は、第1のエピタキシャル成長された材料系の第1
の部分(15)および第2のエピタキシャル成長された
材料系の第2の部分(16)を有する第1のミラースタ
ック(14)、該第1のミラースタック(14)上に配
置された活性領域(20)、および該活性領域(20)
の上に配置された第2のミラースタック(22)を含
む。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は縦型空洞表面放射
レーザ(vertical cavity surfa
ce emitting lasers)に関し、かつ
より特定的には可視光を放射するための高効率の縦型空
洞表面放射レーザに関する。
レーザ(vertical cavity surfa
ce emitting lasers)に関し、かつ
より特定的には可視光を放射するための高効率の縦型空
洞表面放射レーザに関する。
【0002】
【従来の技術】縦型空洞表面放射レーザ(VCSEL)
は、ミラースタックまたはミラー層とも称される、半導
体製造技術によって基板の頭部上に形成された第1の分
布型ブラッグ反射器(distributed Bra
gg reflector)、前記第1のミラースタッ
クの頭部上に形成された活性領域(active re
gion)、および前記活性領域の頭部上に形成された
第2のミラースタックを含む。VCSELは、活性領域
を通して電流を流すことによりドライブされ、典型的に
は基板の反対側の第1のコンタクトおよび前記第2のミ
ラースタックの頭部上の第2のコンタクトを提供するこ
とによって達成される。
は、ミラースタックまたはミラー層とも称される、半導
体製造技術によって基板の頭部上に形成された第1の分
布型ブラッグ反射器(distributed Bra
gg reflector)、前記第1のミラースタッ
クの頭部上に形成された活性領域(active re
gion)、および前記活性領域の頭部上に形成された
第2のミラースタックを含む。VCSELは、活性領域
を通して電流を流すことによりドライブされ、典型的に
は基板の反対側の第1のコンタクトおよび前記第2のミ
ラースタックの頭部上の第2のコンタクトを提供するこ
とによって達成される。
【0003】VCSELにおいてミラースタックを使用
することは技術的に充分確立されている。典型的には、
ミラースタックはしばしばミラー対とも称される複数対
の層から形成される。これらの対の層は異なる屈折率を
有しかつVCSELの他の部分に容易にラティスまたは
格子整合される2つの材料から一般に構成される材料系
(material system)で形成される。例
えば、GaAsをベースとしたVCSELは典型的には
AlAs/GaAsまたはAlGaAs/AlAs材料
系を使用し、1つの対の各層の異なる屈折率は各層のア
ルミニウム含有量を変えることによって達成される。伝
統的な装置においては、スタックごとのミラー対の数
は、各層の屈折率の間の差に応じて、高いパーセンテー
ジの反射率を達成するため20〜40の範囲におよぶ。
多数の対は反射光のパーセンテージを増大する。
することは技術的に充分確立されている。典型的には、
ミラースタックはしばしばミラー対とも称される複数対
の層から形成される。これらの対の層は異なる屈折率を
有しかつVCSELの他の部分に容易にラティスまたは
格子整合される2つの材料から一般に構成される材料系
(material system)で形成される。例
えば、GaAsをベースとしたVCSELは典型的には
AlAs/GaAsまたはAlGaAs/AlAs材料
系を使用し、1つの対の各層の異なる屈折率は各層のア
ルミニウム含有量を変えることによって達成される。伝
統的な装置においては、スタックごとのミラー対の数
は、各層の屈折率の間の差に応じて、高いパーセンテー
ジの反射率を達成するため20〜40の範囲におよぶ。
多数の対は反射光のパーセンテージを増大する。
【0004】効率を増大しかつ必要な対の数を低減する
上で、誘電体層を使用するミラースタックが開発されて
いる。誘電体層は半導体材料よりも屈折率に大きな差を
持たせて製造できる。その結果、有効なミラースタック
を形成するのに必要な層の数がより少なくなる。しかし
ながら、誘電体層の使用はそれらの非導電性および形成
する場合に使用される製造技術のため制約を受ける。V
CSELは第1および第2のコンタクトの間、すなわち
ほぼ装置全体、を通る電流によってドライブされるか
ら、誘電体層の使用は、電流が誘電体層を避けるよう
に、コンタクトを移動することのような、装置の変更を
必要とする。これは一般に誘電体層の使用を頭部ミラー
スタックに制限する。
上で、誘電体層を使用するミラースタックが開発されて
いる。誘電体層は半導体材料よりも屈折率に大きな差を
持たせて製造できる。その結果、有効なミラースタック
を形成するのに必要な層の数がより少なくなる。しかし
ながら、誘電体層の使用はそれらの非導電性および形成
する場合に使用される製造技術のため制約を受ける。V
CSELは第1および第2のコンタクトの間、すなわち
ほぼ装置全体、を通る電流によってドライブされるか
ら、誘電体層の使用は、電流が誘電体層を避けるよう
に、コンタクトを移動することのような、装置の変更を
必要とする。これは一般に誘電体層の使用を頭部ミラー
スタックに制限する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】伝統的なVCSELに
おいては、伝統的な材料系で適切に機能する。しかしな
がら、可視光の波長で光を放射するVCSELを必要と
する新しい製品が開発されてきている。高い効率を達成
するために、ミラースタックは、一般に99%より多く
の、極めて高いパーセンテージの光を反射しなければな
らない。これは各ミラースタックにおいて数多くのミラ
ー対を必要とする。VCSELが可視光波長で動作して
いる場合、AlAs/GaAs材料系の数多くのミラー
対を使用することは該材料系におけるひ化物(arse
nide)による光子(photon)の吸収により光
学的量子効率を大幅に低下させる。
おいては、伝統的な材料系で適切に機能する。しかしな
がら、可視光の波長で光を放射するVCSELを必要と
する新しい製品が開発されてきている。高い効率を達成
するために、ミラースタックは、一般に99%より多く
の、極めて高いパーセンテージの光を反射しなければな
らない。これは各ミラースタックにおいて数多くのミラ
ー対を必要とする。VCSELが可視光波長で動作して
いる場合、AlAs/GaAs材料系の数多くのミラー
対を使用することは該材料系におけるひ化物(arse
nide)による光子(photon)の吸収により光
学的量子効率を大幅に低下させる。
【0006】可視光を吸収しない他の材料系も使用でき
るが、これは一般にVCSELの動作および寿命に悪影
響を与え得るラティス不整合を生じる結果となる。
るが、これは一般にVCSELの動作および寿命に悪影
響を与え得るラティス不整合を生じる結果となる。
【0007】したがって、従来技術に固有の前述のおよ
び他の欠点を改善することが極めて好都合である。
び他の欠点を改善することが極めて好都合である。
【0008】したがって、本発明の目的は新しいかつ改
善されたVCSELを提供することにある。
善されたVCSELを提供することにある。
【0009】本発明の他の目的は高い効率の可視光VC
SELを提供することにある。
SELを提供することにある。
【0010】本発明のさらに他の目的は、VCSELに
おいて使用するための新しいかつ改善されたミラースタ
ックを提供することにある。
おいて使用するための新しいかつ改善されたミラースタ
ックを提供することにある。
【0011】本発明のさらに他の目的は可視光VCSE
Lに関して使用するための効率のよいミラースタックを
提供することにある。
Lに関して使用するための効率のよいミラースタックを
提供することにある。
【0012】本発明のさらに他の目的は可視光VCSE
Lにおけるミラー成長の複雑さを低減することにある。
Lにおけるミラー成長の複雑さを低減することにある。
【0013】本発明のさらに他の目的はラティス整合で
きるミラースタックを提供することにある。
きるミラースタックを提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】要約すれば、本発明の好
ましい実施形態によれば、本発明の所望の目的を達成す
るため、可視光を放射するためのVCSELが提供され
る。該VCSELは第1のエピタキシャル成長された材
料系の第1の部分および第2のエピタキシャル成長され
た材料系の第2の部分を含む第1のミラースタック、該
第1のミラースタックの上に配置された活性領域、およ
び該活性領域の上に配置された第2のミラースタックを
含む。
ましい実施形態によれば、本発明の所望の目的を達成す
るため、可視光を放射するためのVCSELが提供され
る。該VCSELは第1のエピタキシャル成長された材
料系の第1の部分および第2のエピタキシャル成長され
た材料系の第2の部分を含む第1のミラースタック、該
第1のミラースタックの上に配置された活性領域、およ
び該活性領域の上に配置された第2のミラースタックを
含む。
【0015】より特定的な実施形態では、前記VCSE
Lは基板、該基板上に配置された第1のミラースタッ
ク、第1のエピタキシャル成長された材料系の第1の部
分および第2のエピタキシャル成長された材料系の第2
の部分を含む第1のミラースタック、該第1のミラース
タック上に配置された活性領域、および該活性領域上に
配置された第2のミラースタックを含む。
Lは基板、該基板上に配置された第1のミラースタッ
ク、第1のエピタキシャル成長された材料系の第1の部
分および第2のエピタキシャル成長された材料系の第2
の部分を含む第1のミラースタック、該第1のミラース
タック上に配置された活性領域、および該活性領域上に
配置された第2のミラースタックを含む。
【0016】より特定的な実施形態は前記第1のミラー
スタックの第1および第2の部分の中間に配置された除
々に変化する(graded)整合層を含む。
スタックの第1および第2の部分の中間に配置された除
々に変化する(graded)整合層を含む。
【0017】別のより特定の実施形態では、VCSEL
は第1のミラースタックに隣接する第1のクラッド層と
第2のミラースタックに隣接する第2のクラッド層の間
にはさまれた活性層を含み、前記第1および第2のクラ
ッド層は前記活性層をそれぞれ前記第1のミラースタッ
クおよび前記第2のミラースタックとラティス結合する
ために除々に変化している。
は第1のミラースタックに隣接する第1のクラッド層と
第2のミラースタックに隣接する第2のクラッド層の間
にはさまれた活性層を含み、前記第1および第2のクラ
ッド層は前記活性層をそれぞれ前記第1のミラースタッ
クおよび前記第2のミラースタックとラティス結合する
ために除々に変化している。
【0018】さらに別の実施形態では、前記VCSEL
は第1のミラースタックの第3の部分を含み、該第3の
部分は前記第1および第2の部分の中間に位置しかつ第
3の材料系で形成されている。
は第1のミラースタックの第3の部分を含み、該第3の
部分は前記第1および第2の部分の中間に位置しかつ第
3の材料系で形成されている。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の上記および他のかつさら
に特定的な目的および利点は添付の図面と共に以下の好
ましい実施形態の詳細な説明から当業者にとってより明
らかなものとなるであろう。
に特定的な目的および利点は添付の図面と共に以下の好
ましい実施形態の詳細な説明から当業者にとってより明
らかなものとなるであろう。
【0020】次に図面に移ると、各図においては、同じ
参照文字はいくつかの図にわたり対応する要素を示して
いる。始めに、包括的に10で示される可視光縦型空洞
表面放射レーザ(VCSEL)を示す図1に注目する。
VCSEL10は、この特定の実施形態では、GaAs
である基板12上に形成されている。GaAsはほぼ5
90nm〜700nmの範囲の可視光波長で光を放出す
るVCSEL10の構成要素のエピタキシャル成長を可
能にするために好適に使用される。GaAsは1つの例
として使用されており、かつ他の半導体材料も基板12
として使用できることが理解されるべきである。
参照文字はいくつかの図にわたり対応する要素を示して
いる。始めに、包括的に10で示される可視光縦型空洞
表面放射レーザ(VCSEL)を示す図1に注目する。
VCSEL10は、この特定の実施形態では、GaAs
である基板12上に形成されている。GaAsはほぼ5
90nm〜700nmの範囲の可視光波長で光を放出す
るVCSEL10の構成要素のエピタキシャル成長を可
能にするために好適に使用される。GaAsは1つの例
として使用されており、かつ他の半導体材料も基板12
として使用できることが理解されるべきである。
【0021】基板12は上部面13を有し、該上部面1
3上にミラースタック14が配置されている。ミラース
タック14は第1のエピタキシャル成長された材料系の
部分15および第2のエピタキシャル成長された材料系
の部分16を含む。活性領域20がミラースタック14
の上に配置され、かつ第2のミラースタック22が活性
領域20の上に配置されている。
3上にミラースタック14が配置されている。ミラース
タック14は第1のエピタキシャル成長された材料系の
部分15および第2のエピタキシャル成長された材料系
の部分16を含む。活性領域20がミラースタック14
の上に配置され、かつ第2のミラースタック22が活性
領域20の上に配置されている。
【0022】ミラースタック14は基板12上に各層を
エピタキシャル的に被着することにより成長される。ミ
ラースタック14を基板12に結晶格子整合させるた
め、適切な半導体材料系が被着されなければならない。
この特定の例では、基板12はGaAsでありかつ、し
たがって、部分15のためにAlAs/AlGaAs材
料系が使用される。この材料系のほぼ20〜30のミラ
ー対が基板12上に被着される。部分16が次に部分1
5上に被着され可視光を反射する上で効率のよい材料系
からのミラー対によって構成される。この例では、Al
InP/AlGaInP材料系が使用されほぼ5〜10
のミラー対を備えている。
エピタキシャル的に被着することにより成長される。ミ
ラースタック14を基板12に結晶格子整合させるた
め、適切な半導体材料系が被着されなければならない。
この特定の例では、基板12はGaAsでありかつ、し
たがって、部分15のためにAlAs/AlGaAs材
料系が使用される。この材料系のほぼ20〜30のミラ
ー対が基板12上に被着される。部分16が次に部分1
5上に被着され可視光を反射する上で効率のよい材料系
からのミラー対によって構成される。この例では、Al
InP/AlGaInP材料系が使用されほぼ5〜10
のミラー対を備えている。
【0023】ミラースタック14は、より小さなスタッ
クのミラーにより反射光のパーセンテージを増大し、可
視光の光子吸収を低減することによって光学的量子効率
を増大しかつミラースタック14およびVCSEL10
内の格子整合を達成するために、1つより多くの材料系
を使用したハイブリッドミラーである。部分16は活性
領域20により放射される光子の内の大きなパーセンテ
ージを反射するために活性領域20に隣接して配置され
ている。使用される材料系の性質により、光子の大きな
吸収はなく、それによって光学的な効率を増大する。も
し単独で使用されれば、前記材料系(この例ではAlI
nP/AlGaInP)は必要な高い反射率を達成する
ため多数のミラー対を必要とすることになる。多数のこ
れらのミラー対を使用することは効率を劇的に低減しか
つ装置の機能に悪影響を与えるが、それはこれらの材料
は一様に成長するのが困難なためである。ほぼ5〜10
のミラー対を使用することにより、一様性の問題は発生
せず、かつ光の多くの部分、ほぼ85%、が反射され
る。部分16は光を吸収しないから、光学的な効率は高
くなる。
クのミラーにより反射光のパーセンテージを増大し、可
視光の光子吸収を低減することによって光学的量子効率
を増大しかつミラースタック14およびVCSEL10
内の格子整合を達成するために、1つより多くの材料系
を使用したハイブリッドミラーである。部分16は活性
領域20により放射される光子の内の大きなパーセンテ
ージを反射するために活性領域20に隣接して配置され
ている。使用される材料系の性質により、光子の大きな
吸収はなく、それによって光学的な効率を増大する。も
し単独で使用されれば、前記材料系(この例ではAlI
nP/AlGaInP)は必要な高い反射率を達成する
ため多数のミラー対を必要とすることになる。多数のこ
れらのミラー対を使用することは効率を劇的に低減しか
つ装置の機能に悪影響を与えるが、それはこれらの材料
は一様に成長するのが困難なためである。ほぼ5〜10
のミラー対を使用することにより、一様性の問題は発生
せず、かつ光の多くの部分、ほぼ85%、が反射され
る。部分16は光を吸収しないから、光学的な効率は高
くなる。
【0024】反射光のパーセンテージを所望のレベルま
で増大するため、基板12に隣接してミラースタック1
4に部分15が含まれている。使用される材料系の性質
により、前記各層と基板12との間に格子整合が容易に
達成される。比較的単純な手順および格子整合の容易さ
のため多数のミラー対を形成することができ、したがっ
て反射光のパーセンテージを所望のレベルに増大する。
で増大するため、基板12に隣接してミラースタック1
4に部分15が含まれている。使用される材料系の性質
により、前記各層と基板12との間に格子整合が容易に
達成される。比較的単純な手順および格子整合の容易さ
のため多数のミラー対を形成することができ、したがっ
て反射光のパーセンテージを所望のレベルに増大する。
【0025】部分15および部分16の間の適切な格子
整合を保証し、ひずみ(strain)を低減し、かつ
製造を単純化するために、ミラースタック14の部分1
5および部分16の中間に除々に変化する(grade
d)整合層24が形成される。上で使用した例で説明を
続けると、除々に変化する整合層24はAlGaInP
/GaInP/GaAsPを含む材料系で形成されかつ
一般に1つのミラー対の厚さより薄い。除々に変化する
整合層24はGaAsP材料の隣接部分15からAlG
aInP隣接部分16へと除々に変化している。
整合を保証し、ひずみ(strain)を低減し、かつ
製造を単純化するために、ミラースタック14の部分1
5および部分16の中間に除々に変化する(grade
d)整合層24が形成される。上で使用した例で説明を
続けると、除々に変化する整合層24はAlGaInP
/GaInP/GaAsPを含む材料系で形成されかつ
一般に1つのミラー対の厚さより薄い。除々に変化する
整合層24はGaAsP材料の隣接部分15からAlG
aInP隣接部分16へと除々に変化している。
【0026】活性領域20は好ましくはクラッド層26
および27の間にはさまれた活性層25を含む。活性層
25は単一のまたは複数の量子ウェル構造とすることが
でき、複数の量子ウェル構造はよく知られた方法でバリ
ア層によって分離された量子ウェル層を含む。可視光を
生成するためには、適切な材料を使用すべきである。こ
の特定の実施形態では、前記量子ウェル層はGaInP
で形成され、かつ前記バリア層はGaAlInPで形成
される。クラッド層26は活性層25をミラースタック
14と結晶格子整合させるため除々に変化する。この特
定の例について説明を続けると、クラッド層26はAl
InP/GaAlInP材料系で形成され、部分16に
隣接するAlInPおよび活性層25に隣接するGaA
lInPを備えている。
および27の間にはさまれた活性層25を含む。活性層
25は単一のまたは複数の量子ウェル構造とすることが
でき、複数の量子ウェル構造はよく知られた方法でバリ
ア層によって分離された量子ウェル層を含む。可視光を
生成するためには、適切な材料を使用すべきである。こ
の特定の実施形態では、前記量子ウェル層はGaInP
で形成され、かつ前記バリア層はGaAlInPで形成
される。クラッド層26は活性層25をミラースタック
14と結晶格子整合させるため除々に変化する。この特
定の例について説明を続けると、クラッド層26はAl
InP/GaAlInP材料系で形成され、部分16に
隣接するAlInPおよび活性層25に隣接するGaA
lInPを備えている。
【0027】ミラースタック22は実質的にミラースタ
ック14について上に述べたようにして形成することが
でき、部分30および部分31は除々に変化する整合層
32によって分離される。部分30は活性領域20に近
接して配置され、かつ部分31は活性領域20から離れ
て配置される。部分30および31はミラースタック1
4について前に述べたのと同じ材料系で形成でき、かつ
同様に動作する。
ック14について上に述べたようにして形成することが
でき、部分30および部分31は除々に変化する整合層
32によって分離される。部分30は活性領域20に近
接して配置され、かつ部分31は活性領域20から離れ
て配置される。部分30および31はミラースタック1
4について前に述べたのと同じ材料系で形成でき、かつ
同様に動作する。
【0028】当業者はミラースタック14および22の
内の一方または他方は上に述べたようなハイブリッドミ
ラースタックとし、他方は伝統的なミラースタック、例
えばAlAs/AlGaAs材料系を使用した複数対の
層を含むものとすることができることを容易に理解する
であろう。この場合、ほぼ590nm〜700nmの、
可視光波長の動作において光子の吸収を低減するためア
ルミニウムの含有量を0.6より低く維持することが望
ましい。
内の一方または他方は上に述べたようなハイブリッドミ
ラースタックとし、他方は伝統的なミラースタック、例
えばAlAs/AlGaAs材料系を使用した複数対の
層を含むものとすることができることを容易に理解する
であろう。この場合、ほぼ590nm〜700nmの、
可視光波長の動作において光子の吸収を低減するためア
ルミニウムの含有量を0.6より低く維持することが望
ましい。
【0029】次に図2に移ると、包括的に110で示さ
れた可視光縦型空洞表面放射レーザ(VCSEL)の別
の実施形態が示されている。VCSEL110はVCS
ELにおいてハイブリッドミラーを使用する可能な変形
をさらに示すために図示されている。VCSEL110
は基板112上に形成され、該基板112は前の実施形
態と同様に、GaAsである。GaAsはほぼ590n
m〜700nmの範囲の可視光波長で光を放射するVC
SEL110の構成要素のエピタキシャル成長を可能に
するために使用されるのが好ましい。基板112として
他の半導体材料も使用できることが理解されるべきであ
り、そのような他の材料は当業者に理解されるであろ
う。
れた可視光縦型空洞表面放射レーザ(VCSEL)の別
の実施形態が示されている。VCSEL110はVCS
ELにおいてハイブリッドミラーを使用する可能な変形
をさらに示すために図示されている。VCSEL110
は基板112上に形成され、該基板112は前の実施形
態と同様に、GaAsである。GaAsはほぼ590n
m〜700nmの範囲の可視光波長で光を放射するVC
SEL110の構成要素のエピタキシャル成長を可能に
するために使用されるのが好ましい。基板112として
他の半導体材料も使用できることが理解されるべきであ
り、そのような他の材料は当業者に理解されるであろ
う。
【0030】基板112はミラースタック114が上に
配置される上部面113を有する。ミラースタック11
4は前に述べたミラースタック14とほぼ同じであり、
かつ第1のエピタキシャル成長された材料系の部分11
5および第2のエピタキシャル成長された材料系の部分
116を含む。活性領域120はミラースタック114
の上に配置され、かつミラースタック122は活性領域
120の上に配置される。
配置される上部面113を有する。ミラースタック11
4は前に述べたミラースタック14とほぼ同じであり、
かつ第1のエピタキシャル成長された材料系の部分11
5および第2のエピタキシャル成長された材料系の部分
116を含む。活性領域120はミラースタック114
の上に配置され、かつミラースタック122は活性領域
120の上に配置される。
【0031】ミラースタック114は当業者によく知ら
れた方法で基板112上に各層をエピタキシャル的に被
着することにより成長される。部分115および部分1
16の適切な結晶格子整合を保証するため、部分115
および部分116の中間に除々に変化する(grade
d)整合層124が形成される。ミラースタック114
はミラースタック14と同様のものであるから、詳細に
は説明しない。
れた方法で基板112上に各層をエピタキシャル的に被
着することにより成長される。部分115および部分1
16の適切な結晶格子整合を保証するため、部分115
および部分116の中間に除々に変化する(grade
d)整合層124が形成される。ミラースタック114
はミラースタック14と同様のものであるから、詳細に
は説明しない。
【0032】ミラースタック114はハイブリッドミラ
ーであり、小さな(または実用的な)数のミラー対によ
って反射光のパーセンテージを増大し、可視光の光子吸
収を低減することによって光学的量子効率を増大しかつ
ミラースタック114およびVCSEL110内の結晶
格子整合を達成するために1つより多くの材料系を使用
している。
ーであり、小さな(または実用的な)数のミラー対によ
って反射光のパーセンテージを増大し、可視光の光子吸
収を低減することによって光学的量子効率を増大しかつ
ミラースタック114およびVCSEL110内の結晶
格子整合を達成するために1つより多くの材料系を使用
している。
【0033】活性領域120はクラッド層126および
127の間にはさまれた活性層125を含むのが好まし
い。活性領域120は単一のまたは複数の量子ウェルを
含むことができかつ前に述べた活性領域20と同じもの
であり、したがって詳細には説明しない。
127の間にはさまれた活性層125を含むのが好まし
い。活性領域120は単一のまたは複数の量子ウェルを
含むことができかつ前に述べた活性領域20と同じもの
であり、したがって詳細には説明しない。
【0034】ミラースタック122は活性領域120に
隣接して配置された第1のエピタキシャル成長された材
料系の部分130および第2の材料系の部分131を含
む。この特定の実施形態では、ミラースタック122の
第1の材料系の部分130は活性領域120に近接した
InAlGaP層133、およびGaInP電気的コン
タクト層134を含む。クラッド層127は前に述べた
ように除々に変化する構成(grading)を提供
し、これは部分130を活性層120に格子整合する。
第2の材料系の部分131は誘電体材料の交代層(al
ternating layers)を含む。誘電体ミ
ラーのスタックは技術的によく知られておりかつここで
は詳しく説明しない。誘電体材料が部分131のために
使用されているから、部分130は電流が通るコンタク
ト層134を持たなければならない。部分131はコン
タクト層134の表面への好適なアクセスを可能にする
ためにメサ構造へと形成されている。
隣接して配置された第1のエピタキシャル成長された材
料系の部分130および第2の材料系の部分131を含
む。この特定の実施形態では、ミラースタック122の
第1の材料系の部分130は活性領域120に近接した
InAlGaP層133、およびGaInP電気的コン
タクト層134を含む。クラッド層127は前に述べた
ように除々に変化する構成(grading)を提供
し、これは部分130を活性層120に格子整合する。
第2の材料系の部分131は誘電体材料の交代層(al
ternating layers)を含む。誘電体ミ
ラーのスタックは技術的によく知られておりかつここで
は詳しく説明しない。誘電体材料が部分131のために
使用されているから、部分130は電流が通るコンタク
ト層134を持たなければならない。部分131はコン
タクト層134の表面への好適なアクセスを可能にする
ためにメサ構造へと形成されている。
【0035】したがって、VCSEL110は、最も効
率的な動作および製造のために低減された光吸収および
結晶整合を提供する一方で、最も少ない数のミラー対に
よって最適の反射量を提供するよう設計された2つの異
なる材料系から形成されるハイブリッドミラーを含むよ
うに、ミラースタック114を構成することにより可視
光波長で光を放射するよう構成される。さらに、ミラー
スタック122は小型であり、容易に製造でき、かつ高
い反射率を提供する誘電体ミラーを導入する一方で、容
易にアクセス可能な電気的コンタクトを備えて形成され
る。
率的な動作および製造のために低減された光吸収および
結晶整合を提供する一方で、最も少ない数のミラー対に
よって最適の反射量を提供するよう設計された2つの異
なる材料系から形成されるハイブリッドミラーを含むよ
うに、ミラースタック114を構成することにより可視
光波長で光を放射するよう構成される。さらに、ミラー
スタック122は小型であり、容易に製造でき、かつ高
い反射率を提供する誘電体ミラーを導入する一方で、容
易にアクセス可能な電気的コンタクトを備えて形成され
る。
【0036】図3を参照すると、包括的に140で示さ
れたハイブリッドミラースタックの一実施形態の部分的
断面図が示されている。当業者はハイブリッドミラース
タック140は頭部ミラースタック、底部ミラースタッ
クまたは両方として使用できることを理解すると思われ
るが、方向付けのため、基板141上に形成されものと
して説明する。ハイブリッドミラースタック140は第
1のエピタキシャル成長された材料系の部分142、第
2のエピタキシャル成長された材料系の部分143、お
よび部分142および部分143の中間に配置されかつ
第3の材料系で形成された部分144を含む。
れたハイブリッドミラースタックの一実施形態の部分的
断面図が示されている。当業者はハイブリッドミラース
タック140は頭部ミラースタック、底部ミラースタッ
クまたは両方として使用できることを理解すると思われ
るが、方向付けのため、基板141上に形成されものと
して説明する。ハイブリッドミラースタック140は第
1のエピタキシャル成長された材料系の部分142、第
2のエピタキシャル成長された材料系の部分143、お
よび部分142および部分143の中間に配置されかつ
第3の材料系で形成された部分144を含む。
【0037】ミラースタック140を基板141に結晶
格子整合するため、適切な半導体材料系が使用される。
この例では、基板141はGaAsである。したがっ
て、部分142のためにはAlAs/AlxGaAs材
料系が使用される。部分144は部分142上にエピタ
キシャル成長され、かつ好ましくはAlx1GaInP
およびAlx2GaInPの交代層からなる材料系から
形成されたミラー対によって構成される。部分143は
次に部分144の上にエピタキシャル成長され、可視光
を反射する上で効率のよい材料系からのミラー対で構成
される。この例では、AlInP/AlGaInP材料
系が使用される。この実施形態では、部分142の材料
系は基板141に結晶格子整合されるよう選択される。
部分144の材料系は実質的に部分142および部分1
43に対し受入れ可能な量のひずみ(strain)と
共に結晶格子整合され、それによって部分142が最大
量の反射率(ほぼ85%)を提供できかつ部分144お
よび143が残りの必要な反射率を提供でき、一方最小
量の光吸収および比較的容易な製造方法によって、ハイ
ブリッドミラーを合理的な数のミラー対で終わらせるこ
とができるようになる。
格子整合するため、適切な半導体材料系が使用される。
この例では、基板141はGaAsである。したがっ
て、部分142のためにはAlAs/AlxGaAs材
料系が使用される。部分144は部分142上にエピタ
キシャル成長され、かつ好ましくはAlx1GaInP
およびAlx2GaInPの交代層からなる材料系から
形成されたミラー対によって構成される。部分143は
次に部分144の上にエピタキシャル成長され、可視光
を反射する上で効率のよい材料系からのミラー対で構成
される。この例では、AlInP/AlGaInP材料
系が使用される。この実施形態では、部分142の材料
系は基板141に結晶格子整合されるよう選択される。
部分144の材料系は実質的に部分142および部分1
43に対し受入れ可能な量のひずみ(strain)と
共に結晶格子整合され、それによって部分142が最大
量の反射率(ほぼ85%)を提供できかつ部分144お
よび143が残りの必要な反射率を提供でき、一方最小
量の光吸収および比較的容易な製造方法によって、ハイ
ブリッドミラーを合理的な数のミラー対で終わらせるこ
とができるようになる。
【0038】当業者にはここで説明の目的のために選択
された実施形態に対し種々の変更および修正を行なうこ
とは容易に可能であろう。例えば、単一のハイブリッド
ミラーをVCSELに使用しあるいは両方のミラーをハ
イブリッドとすることもできることは容易に理解される
であろう。さらに、pおよびnドーパントの双方に対し
VCSEL構造の対称性が存在し、さらに電気的に反転
された構造設計も存在することが理解されるべきであ
る。そのような修正および変更が本発明の精神から離れ
ることのない程度において、それらは添付の特許請求の
範囲の公正な解釈によってのみ評価される本発明の範囲
内に含まれるものと考えられる。
された実施形態に対し種々の変更および修正を行なうこ
とは容易に可能であろう。例えば、単一のハイブリッド
ミラーをVCSELに使用しあるいは両方のミラーをハ
イブリッドとすることもできることは容易に理解される
であろう。さらに、pおよびnドーパントの双方に対し
VCSEL構造の対称性が存在し、さらに電気的に反転
された構造設計も存在することが理解されるべきであ
る。そのような修正および変更が本発明の精神から離れ
ることのない程度において、それらは添付の特許請求の
範囲の公正な解釈によってのみ評価される本発明の範囲
内に含まれるものと考えられる。
【0039】以上本発明を当業者が理解しかつ実施でき
るように明瞭かつ簡潔な表現で完全に説明したが、本発
明の範囲は添付の特許請求の範囲に示される通りであ
る。
るように明瞭かつ簡潔な表現で完全に説明したが、本発
明の範囲は添付の特許請求の範囲に示される通りであ
る。
【0040】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、簡単な
装置構成で高い効率の可視光VCSELが得られる。ま
た、本発明によれば、このような可視光VCSELで使
用するための効率のよいミラースタックが提供され、ミ
ラー成長の複雑さも低減されると共に、的確に格子整合
できるミラースタックが得られる。
装置構成で高い効率の可視光VCSELが得られる。ま
た、本発明によれば、このような可視光VCSELで使
用するための効率のよいミラースタックが提供され、ミ
ラー成長の複雑さも低減されると共に、的確に格子整合
できるミラースタックが得られる。
【図1】本発明に係わるVCSELの第1の実施形態を
示す断面図である。
示す断面図である。
【図2】本発明に係わるVCSELのさらに他の実施形
態を示す等角投影図である。
態を示す等角投影図である。
【図3】ハイブリッドミラースタックのさらに他の実施
形態を示す部分的断面図である。
形態を示す部分的断面図である。
10 可視光縦型空洞表面放射レーザ(VCSEL) 12 基板 13 基板の上部面 14 ミラースタック 15,16 ミラースタック14の部分 20 活性領域 22 第2のミラースタック 24 除々に変化する整合層 25 活性層 26,27 クラッド層 30,31 ミラースタック22の部分 32 除々に変化する整合層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル・エス・レビー アメリカ合衆国アリゾナ州85219、アパッ チ・ジャンクション、ノース・ラバージ・ ロード 30
Claims (3)
- 【請求項1】 可視光を放射するための縦型空洞表面放
射レーザであって、 第1のエピタキシャル成長された材料系の第1の部分
(15)および第2のエピタキシャル成長された材料系
の第2の部分(16)を含む第1のミラースタック(1
4)、 該第1のミラースタック(14)上に配置された活性領
域(20)、そして該活性領域(20)上に配置された
第2のミラースタック(22)、 を具備することを特徴とする可視光を放射するための縦
型空洞表面放射レーザ。 - 【請求項2】 可視光を放射するための縦型空洞表面放
射レーザであって、 基板(12)、 該基板(12)上に配置された第1のミラースタック
(14)であって、該第1のミラースタック(14)は
第1のエピタキシャル成長された材料系の第1の部分
(15)および第2のエピタキシャル成長された材料系
の第2の部分(16)を含むもの、 前記第1のミラースタック(14)上に配置された活性
領域(20)、そして前記活性領域(20)上に配置さ
れた第2のミラースタック(22)、 を具備することを特徴とする可視光を放射するための縦
型空洞表面放射レーザ。 - 【請求項3】 可視光を放射するための縦型空洞表面放
射レーザであって、 GaAs基板、 前記基板上に配置されたAlAsおよびAlGaAsの
複数の交代層および前記AlAsおよびAlGaAsの
層の上に配置されたAlInPおよびAlGaInPの
交代層を含む第1のミラースタック、 前記第1のミラースタック上に配置された活性領域、そ
して前記活性領域上に配置された第2のミラースタッ
ク、 を具備することを特徴とする可視光を放射するための縦
型空洞表面放射レーザ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/586,391 US5748665A (en) | 1996-01-16 | 1996-01-16 | Visible VCSEL with hybrid mirrors |
| US08/586,391 | 1996-01-16 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09199793A true JPH09199793A (ja) | 1997-07-31 |
Family
ID=24345542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9014497A Pending JPH09199793A (ja) | 1996-01-16 | 1997-01-10 | 縦型空洞表面放射レーザ |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5748665A (ja) |
| EP (1) | EP0785601B1 (ja) |
| JP (1) | JPH09199793A (ja) |
| KR (1) | KR100445206B1 (ja) |
| DE (1) | DE69612077T2 (ja) |
| TW (1) | TW447181B (ja) |
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| US7693204B2 (en) | 2006-02-03 | 2010-04-06 | Ricoh Company, Ltd. | Surface-emitting laser device and surface-emitting laser array including same |
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1996
- 1996-01-16 US US08/586,391 patent/US5748665A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-05 TW TW085115035A patent/TW447181B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-12-23 DE DE69612077T patent/DE69612077T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-23 EP EP96120805A patent/EP0785601B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-01-10 JP JP9014497A patent/JPH09199793A/ja active Pending
- 1997-01-15 KR KR1019970000953A patent/KR100445206B1/ko not_active Expired - Fee Related
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