JPH09211360A - 走査光学装置 - Google Patents

走査光学装置

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JPH09211360A
JPH09211360A JP4206096A JP4206096A JPH09211360A JP H09211360 A JPH09211360 A JP H09211360A JP 4206096 A JP4206096 A JP 4206096A JP 4206096 A JP4206096 A JP 4206096A JP H09211360 A JPH09211360 A JP H09211360A
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Hiroshi Kanazawa
浩 金沢
Naoshi Mizuguchi
直志 水口
Masahiro Ono
政博 大野
Mitsunori Iima
光規 飯間
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Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 結像面の傾き等を調整する作業を容易に行う
ことを可能にする、走査光学装置を提供することを目的
とする。 【解決手段】 ケース(1)の底面に描画用の開口(1
1)を形成すると共に、ケース(1)の側面に調整用の
開口(12)を形成し、走査光学系からの射出光を調整
用開口(12)からケース(1)の外部に導くよう構成
した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザープリンタ
等において光ビームを走査する走査光学装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】高精細用の走査光学装置は、走査光学装
置からの射出光の結像面の傾きや湾曲の許容範囲が、通
常の走査光学装置に比べて厳しい。そのため、製造時に
は、走査光学装置を単体として組み上げてから、結像面
の傾きや湾曲等を測定しつつ、走査光学装置内のレンズ
の傾き等の微調整を行うのが一般的である。
【0003】具体的には、走査光学装置から静止ビーム
(走査を行わないビーム)を発し、結像面近傍における
ビーム径を専用の測定器により測定すると共に、当該測
定器を光軸方向に移動させつつ測定を行うことにより、
ビーム径が最小になる位置、即ち結像位置を求める。そ
して、主走査方向の3箇所で測定した結像位置のデータ
から、結像面の傾きあるいは湾曲が求められる。そし
て、結像面が設計通りの平面になるよう、レンズの傾き
等の微調整が行われる。従って、この調整は多数回の測
定を伴い、作業工数が多い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、高精細
用のプリンタでは、走査光学系が略同一平面に配置さ
れ、感光体ドラムがこの平面に直交する方向に所定量離
れた位置に配置されるのが一般的である。即ち、結像面
は、略同一面に配列された走査光学装置に対して直交す
る方向に離れた位置に形成される。そのため、走査光学
装置に対し3次元で多数回の測定を行わなければなら
ず、作業効率が悪いという問題点がある。さらに、近
年、大画面化に伴ってプリンタは大型化する傾向にあ
り、走査光学装置がさらに大きくなり、作業者の作業ス
ペース自体が確保しずらい治具構造となっている。
【0005】本発明は、走査光学装置において、結像面
の傾き等を調整する作業を容易に行うことを可能にす
る、走査光学装置を提供することを目的とするものであ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明による走査光学装置は、ケースに走査光学系
からの射出光を該ケース外部に導く二つの開口を備え、
二つの開口のうち一方の開口を描画用とすると共に、他
方の開口が一対の面を夫々延長した面の間に射出光を導
くよう形成したものである。このように構成することに
より、描画用の開口の他に、走査光学装置と略同一面内
に射出光を導く開口が設けられるため、走査光学装置と
略同一面内で調整作業を行うことが可能となる。
【0007】なお、描画用の開口が射出光を上記の一対
の面を夫々延長した面の外に導くよう構成することもで
きる。また、上記の他方の開口を調整用の開口としても
良い。また、調整用の開口と走査光学系との間にミラー
を取り付けることにより、射出光が描画用の開口を通過
し、当該ミラーを取り外すことにより射出光が調整用の
開口を通過するよう構成することもできる。また、上記
の描画用の開口は、上記の一対の面のうちの一方に設け
ることもできる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、この発明にかかる走査光学
装置の実施形態を説明する。実施形態として示される走
査光学装置は、8本のレーザ光を同時に走査させること
により、一回の走査で8本の走査線を同時に形成するマ
ルチビーム走査光学装置である。まず、装置全体の概略
構成を説明する。
【0009】図1は走査光学装置の実施形態を示す斜視
図、図2は走査光学装置の実施形態を感光体ドラムと共
に示す側面図である。走査光学装置は、図1に示される
ように、ほぼ直方体状の偏平なケーシング1内に走査光
学系を配して構成されている。ケーシング1の上部開口
は、使用時には上部蓋体2により閉成される。
【0010】ケーシング1の図中上部には、画像情報に
関する信号を受けるコネクタ部102が設けられてい
る。コネクタ102に隣接してレーザーブロック支持基
板300が設けられ、支持基板300には、上記信号に
基づき光束を発する8つの半導体レーザー101と光フ
ァイバー120の入力端とを向き合わせて保持するレー
ザーブロック310が固定されている。これにより、8
つの光ファイバー120に光束が導かれる。
【0011】光ファイバー120の射出側の端面120
bは、ファイバーアライメントブロック130により保
持されている。射出端面120bからの光束は、後述す
るコリメートレンズ140、ハーフミラー144、ダイ
ナミックプリズム160、及びシリンドリカルレンズ1
70を介して、ポリゴンミラー180に入射する。ポリ
ゴンミラー180は、ケーシングに固定されたポリゴン
モータ371(図2参照)により回転駆動されており、
ミラー面に入射した光束を反射・偏向する。ポリゴンミ
ラー180により偏向された光束は、結像レンズである
fθレンズ190に入射する。fθレンズ190からの
光束は、折り返しミラー200によって図中下側に反射
され、図2に示されるように走査対象面である感光体ド
ラム210上に結像する。
【0012】ここで、光学素子の作用を規定するため、
光軸に垂直な面内でfθレンズ190や感光体ドラム2
10(図2)上での光束の走査方向を主走査方向、光軸
に垂直な面内で主走査方向に直行する方向を副走査方向
として定義する。また、図中にfθレンズ190の光軸
と平行なX軸、このX軸に垂直な面内で互いに直行する
Y軸、Z軸を定義する。Y軸およびZ軸は、それぞれ主
走査方向および副走査方向に一致する。
【0013】次に、上記の装置の光学系の概略を示す図
3に基づいて光学系の各構成要素について説明する。光
源部100は、8つの半導体レーザー101と、これら
の半導体レーザーから発する発散光束を伝送する8本の
光ファイバー120と、これらの光ファイバー120を
直線上に整列させるファイバーアライメントブロック1
30とから構成されている。光ファイバー120は、コ
ア径が6μm、クラッドを含めた全体の径が125μmの
石英ガラスファイバーである。
【0014】光ファイバー120の入射端面120aを
含む端部は支持管であるファイバー支持体319により
保持されている。ファイバー支持体319は、入射端1
20aと半導体レーザー101が対向した状態で、レー
ザーブロック310に保持される。そして、半導体レー
ザー101から発せられた光束は、光ファイバー120
の入射端面120aに入射する。
【0015】図3に示すように、光源部100とポリゴ
ンミラー180との間の光路中には、光ファイバーの射
出端面から射出する発散光束を平行光束にするコリメー
トレンズ140、コリメートレンズ140を射出した光
束の主走査方向と副走査方向の辺をもつ長方形の開口部
によってビーム形状を制御するスリット142、スリッ
ト142を透過した光束を2つに分離するハーフミラー
144、ハーフミラー144で反射された光束の副走査
方向の角度を回転することにより逐次制御するダイナミ
ックプリズム160、そして、ダイナミックプリズム1
60により角度制御された光束を副走査方向に収束させ
るシリンドリカルレンズ170が設けられている。
【0016】なお、ハーフミラー144を透過した光束
は、光量を検出して半導体レーザーの出力をコントロー
ルするための信号を得るAPC(オートマチックパワー
コントロール)信号検出部150に入射する。APC信
号検出部150は、ハーフミラー144を透過した光束
をコンデンサレンズ151により収束させ、偏光ビーム
スプリッタ153に入射する。偏光ビームスプリッタ1
53は、入射光束を入射方向に透過する透過光と、入射
方向に対し直交する方向に偏光する偏光光とに分離す
る。透過光はAPC用第1受光素子155により検出さ
れ、偏光光はAPC用第2受光素子157により検出さ
れる。
【0017】ファイバー120の射出端面120bは、
後述のファイバーアライメントブロック130及びファ
イバーアライメントブロックホルダ300(図示せず)
によって、図4のように主走査方向に対して所定角度傾
斜した直線上に所定間隔をおいて配列され、点光源列を
形成する。この8つの点光源よりなる点光源列からの光
束は、図3において、コリメートレンズ140、シリン
ドリカルレンズ170等を透過し、ポリゴンミラー18
0のミラー面近傍に、副走査方向に結像する。ポリゴン
ミラー180への入射光束は、ポリゴンミラー180の
回転によりY方向に走査され、fθレンズ190に入射
する。
【0018】fθレンズ190は、ポリゴンミラー18
0側から折り返しミラー200側に向けて順に、主走査
方向、副走査方向の両方向に関してそれぞれ負、正、
正、負のパワーを有する第1、第2、第3、第4レンズ
191、193、195、197よりなるものである。
fθレンズ190透過した光束は、折り返しミラー20
0を介して、感光体ドラム210表面(図2)に結像す
ると共に、主走査方向の走査速度が等速になる。このよ
うにして、8つの点光源からの光束は、結像面上に、図
5に示すビームスポットの列を形成する。感光体ドラム
210は、走査に同期して矢印R方向に回転駆動され、
これにより感光体ドラム210の表面に静電潜像が形成
される。
【0019】次に、本発明の走査光学装置の実施形態に
ついて説明する。図2に示すように、ケーシング1の底
面には描画用開口11が設けられ、側面には調整用開口
12が設けられている。描画用開口11は、結像レンズ
であるfθレンズ190からの射出光が折り返しミラー
200により反射されたものを、結像面である感光体ド
ラム210表面まで導くためのものである。そのため、
描画用開口11は、fθレンズ190からの射出光が通
過できるよう、主走査方向および副走査方向に走査範囲
よりも長い辺を有する長方形となっている。また、ミラ
ー200は、ケーシング1に対して取り外し可能となっ
ている。
【0020】調整用開口12も、描画用開口11と同様
に、主走査方向および副走査方向の走査範囲よりも長い
辺を有する長方形となっている。また、調整用開口12
は、ミラー200を取り外した状態でfθレンズ190
からの射出光が透過できるよう、fθレンズ190の光
軸方向に位置している。また、調整用開口12には、ケ
ーシング1内部に埃が入らないようにするための蓋13
が設けられている。蓋13は、簡単に外れないようケー
シング1にねじ止めされている。
【0021】図6に、調整時の走査光学装置を示す。調
整時には、走査光学装置はベースフレーム410に取り
付けられる。ベースフレーム410には走査光学装置の
ケーシング1を支持する脚部411が設けられ、これに
よって走査光学装置は水平に支持される。調整用開口1
2は主走査方向および副走査方向に走査範囲よりも長い
辺を有し、ミラー20と蓋13を外すことにより、fθ
レンズ190からの透過光をケーシング1の外部に導く
ものである。つまり、fθレンズ190からの透過光
は、調整用開口12を通って、走査光学装置1とほぼ同
一の平面内、言い換えれば、ケーシング1の下面と上部
蓋体2を夫々延長した面の間に導かれる。
【0022】ベースフレーム410には、走査光学装置
の調整用開口12からの射出光の光軸方向に、ビーム径
を測定するための測定器400が設けられる。測定器4
00はその先端部に受光面を備えており、受光面内での
ビーム径を測定するものである。
【0023】測定器400はベースフレーム410によ
り保持され、このベースフレーム410に固定された板
部材であるユニットフレーム420には、主走査方向
(Y方向:図6では紙面に直交する方向)に沿って延び
る一対のガイドレール422が設けられている。夫々ガ
イドレール422上をナット423が移動可能に係合し
ており、ナット423にはテーブル425が固定されて
いる。テーブル425には、光軸方向(X方向)に延び
るガイドレール426が形成され、ガイドレール426
にはナット427が移動可能に係合している。そして、
ナット427には測定器400を保持した保持プレート
430が固定されている。このようにして、測定器40
0は主走査方向(Y方向)及び光軸方向(X方向)に移
動可能となる。
【0024】次に、調整用開口部12を利用した光学系
の微調整の概略について、結像面を示す図7を参照して
説明する。走査光学装置の製造時には、走査光学装置を
単体として組み上げてから、結像面の傾きや湾曲等の測
定しつつ、走査光学装置内のレンズの傾き等の微調整を
行う。この時、ポリゴン180(図6)を停止させ、射
出光として単ビームを発する。単ビームは開口12を通
り、図7に示すように、結像面F上に静止したビームス
ポットが形成する。
【0025】測定器400により、光軸X方向の数カ所
でビーム径を測定し、ビーム径が最小になった位置がビ
ームウェスト位置即ち結像位置である。このような結像
位置の測定を、さらに主走査方向の数カ所(図7におけ
る主走査方向の中央部A及び両端部B,C)についても
行う。そして、上記の主走査方向の数カ所で祖規定され
た結像位置のデータから、結像面の傾きあるいは湾曲が
算出される。
【0026】即ち、例えば図7において、本来B点であ
るべき結像位置がB’点であり、本来C点であるべき結
像位置がC’点であった場合には、像面Fが図中D方向
に傾いている(あるいは回転している)ことが分かる。
このような場合には、B’点やC’点にある結像位置が
夫々B点あるいはC’点に移るまで、fθレンズ190
中の適当なレンズの傾き調整等の微調整を行う。
【0027】このように、本実施の形態の走査光学系に
よると、測定器400を光軸X方向と主走査方向Yに高
い精度で移動させるための位置決めは、走査光学装置と
略同一面内で行うことができる。そのため、測定器を走
査光学装置1の下部において3次元で調整作業を行う従
来のものに比べ、調整作業が極めて容易になる。
【0028】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明による走
査光学系によると、射出光が、描画用の開口とは別に設
けられた調整用の開口によって、走査光学装置と略同一
面内(走査光学系が間に配列された一対の面を夫々延長
した面の間)に導かれるため、測定器の位置決めを走査
光学装置と略同一面内で行うことが可能となり、調整作
業が極めて容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る走査光学装置の実施形態を示す斜
視図である。
【図2】図1の走査光学装置の側面図である。
【図3】図1の走査光学装置の光学系を示す図である。
【図4】点光源列を示す図である。
【図5】ビームスポットを示す図である。
【図6】調整時の走査光学装置を示す側面図である。
【図7】結像面を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 ケーシング(ケース) 2 蓋体 11 描画用開口(一方の開口) 12 調整用開口(他方の開口) 13 蓋 100 光源部 120 ファイバー 140 コリメートレンズ 180 ポリゴンミラー 190 fθレンズ 200 折り返しミラー 210 感光体ドラム 400 測定器 410 ベースフレーム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 飯間 光規 東京都板橋区前野町2丁目36番9号 旭光 学工業株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】走査光学系と、該走査光学系を一対の面の
    間に配列したケースと、を備えた走査光学装置におい
    て、 前記ケースに、前記走査光学系からの射出光を該ケース
    の外部に導く二つの開口を設け、 前記二つの開口のうち、一方の開口は描画用であると共
    に、 他方の開口は、前記一対の面を夫々延長した面の間に前
    記射出光を導くこと、を特徴とする走査光学装置。
  2. 【請求項2】前記一方の開口は、前記射出光を前記一対
    の面を夫々延長した面の外に導くこと、を特徴とする請
    求項1に記載の走査光学装置。
  3. 【請求項3】前記他方の開口は調整用であること、を特
    徴とする請求項1又は2に記載の走査光学装置。
  4. 【請求項4】前記射出光は、前記他方の開口と前記走査
    光学系との間にミラーを取り付けることによって前記一
    方の開口を通過し、前記ミラーを取り外すことによっ
    て、前記他方の開口を通過すること、を特徴とする請求
    項1から3のいずれかに記載の走査光学装置。
  5. 【請求項5】前記一方の開口は前記一対の面のうちの一
    つに設けられていること、を特徴とする請求項1から4
    のいずれかに記載の走査光学装置。
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