JPH09212923A - 光デイスク原盤の製造方法 - Google Patents

光デイスク原盤の製造方法

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JPH09212923A
JPH09212923A JP3903196A JP3903196A JPH09212923A JP H09212923 A JPH09212923 A JP H09212923A JP 3903196 A JP3903196 A JP 3903196A JP 3903196 A JP3903196 A JP 3903196A JP H09212923 A JPH09212923 A JP H09212923A
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JP
Japan
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substrate
film layer
manufacturing
recording signal
stamper
Prior art date
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Application number
JP3903196A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Tanaka
宏明 田中
Yuichi Aki
祐一 安芸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】製造を容易にし得る光デイスク原盤の製造方法
を実現し難かつた。 【解決手段】基板の一面上に所定厚で高硬度炭素からな
る高硬度炭素膜層を形成し、これに記録信号に応じてオ
ンオフしながら所定パワーでレーザ光を照射するように
して必要部位に開口部又は凹部を形成するようにしたこ
とにより、基板の一面上に記録信号に応じた凹凸パター
ンを高硬度炭素膜層によつて形成することができる。従
つていわゆるデイスク・マスタを容易に作成することが
でき、かくするにつき製造を容易に製造し得る光デイス
ク原盤の製造方法を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光デイスク原盤の製
造方法に関し、光デイスク成形時の金型として使用する
スタンパの製造に適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来、スタンパにおいては、図2(A)
〜(J)に示す以下の手順により製造されている。すな
わち、まず先行するマスタリング工程において使用され
た図2(A)のようなガラス又はニツケルからなる基板
1を用い、当該基板1に化学洗浄処理(3工程)を施す
ことにより図2(B)のようにその表面からニツケル及
びレジスト等の残留物2を除去する。
【0003】次いで図2(C)のようにこの基板1の一
面1Aを極めて平滑に研磨し(1工程)、図2(D)の
ようにこの基板1を精密洗浄した後(3工程)、図2
(E)のようにこの基板1の一面1A上にスピンコート
法等を用いてフオトレジストを塗布することによりレジ
スト層3を形成する(2工程)。
【0004】続いて図2(F)に示すように、このレジ
スト層3を記録信号に応じて露光し(1工程)、現像す
ることにより、図2(G)に示すような基板1の一面1
A上に残存レジスト層3Aからなる記録信号に応じた凹
凸パターンが設けられたデイスク・マスタ4を形成し、
この後図2(H)に示すように、このデイスク・マスタ
3の凹凸パターン上にめつき処理(2工程)によりニツ
ケルからなる金属層5を積層形成する。
【0005】さらにこの後図2(I)のようにこの金属
層5をデイスク・マスタ4から剥離し、洗浄した後、中
心部に開口(センターホール)を穿設する。これにより
図2(J)に示すような一面6Aに記録信号に応じた凹
凸パターンを有するスタンパ6を得ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような従
来のスタンパ製造方法においては、上述のように工程数
が多いために製造設備も多く必要となり、その分設備費
が高く、また製造設備の占有面積が大きくなる問題があ
つた。またスタンパ6自身においても、上述のようにレ
ジストの塗布、露光及び現像等の数多くの工程を経て製
造されるため、製造時間が長く、製造コストが高くなる
問題があつた。
【0007】さらに上述のようなスタンパ製造方法で
は、基板1の一面1A上に記録信号に応じた凹凸パター
ンを形成する手段としてガラスやニツケルとの密着性や
強度の弱いフオトレジストを用いているため、一枚のデ
イスク・マスタ4からは一枚のスタンパ6しか作成する
ことができない問題があつた。
【0008】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、製造を容易にし得る光デイスク原盤の製造方法を提
案しようとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、基板の一面上に所定厚で高硬度炭
素からなる高硬度炭素膜層を形成し、これに記録信号に
応じてオンオフしながら所定パワーでレーザ光を照射す
るようにして必要部位に開口部又は凹部を形成するよう
にした。
【0010】このようにすることによつて基板の一面上
に記録信号に応じた凹凸パターンを高硬度炭素膜層によ
つて形成することができる。従つていわゆるデイスク・
マスタを容易に作成することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
【0012】図1(A)〜(I)は、実施例によるスタ
ンパの製造手順を示すものであり、まず図1(A)のよ
うなガラス又はニツケルからなる基板10の一面10A
上に、図1(B)のようにめつき処理(1工程)により
めつき層11を形成することにより、当該基板10の一
面10A側を極めて平滑に仕上げる。
【0013】次いで図1(C)に示すように、この基板
10の一面10A上(正確にはめつき層11上)に、蒸
着法等によりDLC(Diamond Like Carbon )からなる
薄膜層(以下、これをDLC膜層と呼ぶ)12を再生波
長やフオーマツトに応じた規定のピツトの深さ(例えば
0.11〔μm 〕)と同じ厚みで形成する。
【0014】続いて図1(D)に示すように、このDL
C膜層12に紫外線レーザ光を記録信号に応じて強度変
調しながら所定パワーで照射する。これによりDLC膜
層12の各必要部位(例えばピツト相当部位)の炭素分
子の結合をたち切らせて当該各必要部位の炭素分子を昇
華させる(レーザアブレーシヨン)ことによりピツト形
状の開口部12Aを形成し、かくして一面に記録信号に
応じた凹凸パターンを有するデイスク・マスタ13を作
成する。
【0015】続いて図1(E)に示すように、このデイ
スク・マスタ13の一面上にめつき処理によりニツケル
からなる金属層14を形成し、この後図1(F)のよう
にこの金属層14を基板10から剥離し、洗浄した後、
センターホールを穿設する。これにより図1(I)に示
すような一面15Aに記録信号に応じた凹凸パターンを
有するスタンパ15を得ることができる。
【0016】以上の構成において、この実施例では、基
板10Aの一面10A上にDLC膜層12を形成すると
共に、このDLC膜層12に紫外線レーザ光を記録信号
に応じて強度変調しながら照射することにより一面に記
録信号に応じた凹凸パターンを有するデイスク・マスタ
13を作成し、このデイスク・マスタ13に基づいてス
タンパ15を製造する。
【0017】従つてこのスタンパの製造方法では、フオ
トレジストを用いた従来のスタンパ製造方法に比べて製
造工程数を削減することができ、その分スタンパ15の
製造時間を短縮させることができると共にスタンパ15
の製造コストを低減することができる。またこのスタン
パの製造方法では、製造工程数を削減することができる
分、製造設備を削減することができ、その分製造設備費
や製造設備の占有面積を低減することができる。
【0018】さらにこのスタンパの製造方法では、記録
信号に応じた凹凸パターンを形成する手段としてガラス
やニツケルからなる基板10との密着性が良く、かつ硬
質なDLMを使用しているため、一枚のデイスク・マス
タ13から複数枚のスタンパ15を作成することがで
き、その分最終的に生産される光デイスクの生産コスト
や生産効率を向上させることができる。
【0019】以上の構成によれば、基板10の一面10
A上にDLC膜層12を形成すると共に、このDLC膜
層12に紫外線レーザ光を記録信号に応じてオンオフし
ながら照射することにより一面に記録信号に応じた凹凸
パターンを有するデイスク・マスタ13を作成し、この
デイスク・マスタ13に基づいてスタンパ15を製造す
るようにしたことにより、スタンパ15の製造工程数を
削減することができ、かくしてスタンパ15の製造を容
易にし得るスタンパの製造方法を実現できる。
【0020】なお上述の実施例においては、基板10の
一面10A上にピツトの深さに応じた膜厚でDLC膜層
12を形成すると共に、当該DLC膜層12に記録信号
に応じて開口部12Aを形成するようにした場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、例えば基板10の
一面10A上にDLC膜層を規格によるピツトの深さ以
上の膜厚で形成し、カツテイング工程(図1(D))時
に紫外線レーザ光の出力パワーを制御することにより当
該DLC膜層の必要部位(例えばピツト相当部位)に規
格によるピツトの深さで凹部を形成するようにしても良
い。
【0021】また上述の実施例においては、基板10の
一面10A上にめつき層11を形成するようにした場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば基板
10の一面10Aを極めて平滑に研磨するようにしても
良い。
【0022】さらに上述の実施例においては、基板10
の一面10A上にDLC膜層12を形成する方法として
蒸着法を適用するようにする場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、例えばプラズマCVD法等を用い
てDLC膜層12を形成するようにしても良く、基板1
0の一面10A上にDLC膜層12を形成する手段とし
ては、この他種々の方法を適用できる。
【0023】さらに上述の実施例においては、基板10
の一面10A上に形成されたDLC膜層12に記録信号
に応じて開口部12Aを形成する手段として紫外線レー
ザ光を適用するようにした場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、要は、DLC膜層12に開口を形成
することができる(例えば波長 300〔nm〕以下)のであ
ればこの他エキシマレーザ光等種々のレーザ光を適用で
きる。
【0024】さらに上述の実施例においては、基板10
の一面10A上にDLCからなるDLC膜層12を形成
するようにした場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、この他種々の高硬度炭素からなる高硬度炭素膜
層を形成するようにしても良い。
【0025】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、基板の一
面上に所定厚で高硬度炭素からなる高硬度炭素膜層を形
成し、これに記録信号に応じてオンオフしながら所定パ
ワーでレーザ光を照射するようにして必要部位に開口部
又は凹部を形成するようにしたことにより、基板の一面
上に記録信号に応じた凹凸パターンを高硬度炭素膜層に
よつて形成することができる。従つていわゆるデイスク
・マスタを容易に作成することができ、かくするにつき
製造を容易に製造し得る光デイスク原盤の製造方法を実
現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例によるスタンパの製造手順を示す断面図
である。
【図2】従来のスタンパの製造手順を示す断面図であ
る。
【符号の説明】
10……基板、10A……一面、12……DLC膜層、
12A……開口部、13……デイスク・スタンパ、14
……金属層、15……スタンパ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光デイスク成形時の金型となる光デイスク
    原盤の製造方法において、 一面が平滑に形成された基板の当該一面上に所定厚で高
    硬度炭素からなる高硬度炭素膜層を形成する第1の工程
    と、 記録信号に応じてオンオフしながら所定パワーでレーザ
    光を照射するようにして上記高硬度炭素膜層の必要部位
    に開口部又は凹部を形成する第2の工程とを具えること
    を特徴とする光デイスク原盤の製造方法。
  2. 【請求項2】上記レーザ光は、紫外線レーザ光でなるこ
    とを特徴とする請求項1に記載の光デイスク原盤の製造
    方法。
JP3903196A 1996-01-31 1996-01-31 光デイスク原盤の製造方法 Pending JPH09212923A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990018744A (ko) * 1997-08-28 1999-03-15 윤종용 다이아몬드 정보 저장 디스크 및 정보 기록 및 재생 방법
JP2008234752A (ja) * 2007-03-19 2008-10-02 Ricoh Co Ltd 追記型情報記録媒体及びマスター基板

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KR19990018744A (ko) * 1997-08-28 1999-03-15 윤종용 다이아몬드 정보 저장 디스크 및 정보 기록 및 재생 방법
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