JPH09214511A - セル処理装置の故障自己監視方式 - Google Patents

セル処理装置の故障自己監視方式

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JPH09214511A
JPH09214511A JP8018819A JP1881996A JPH09214511A JP H09214511 A JPH09214511 A JP H09214511A JP 8018819 A JP8018819 A JP 8018819A JP 1881996 A JP1881996 A JP 1881996A JP H09214511 A JPH09214511 A JP H09214511A
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cell
monitoring
processing device
circuit
arithmetic circuit
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Toru Takamichi
透 高道
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Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＡＴＭ綱のセル処理装置において、主信号セ
ル流に影響することなく、セル処理装置を通常動作させ
ながら、インサービスでセル処理装置内の内部回路の故
障監視を行うセル処理装置の故障自己監視方式の提供。 【解決手段】 ＡＴＭセル流中の制御用セルや空きセル
などのセル処理装置では処理を行わないセルを、セル処
理装置内で使用していないＶＰＩとＶＣＩの組み合わせ
を持つ監視セルにより上書きして監視対象である演算回
路の前段で印加して演算回路内を転送させて、その結果
得られる演算回路の動作状態を表す監視情報信号ＣＨＫ
と期待値Ｅとを比較照合して、その一致／不一致から演
算回路の回路故障を検出し、演算回路の後段において監
視セルを抽出する構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＡＴＭ綱のセル処理
装置に関し、特にセル処理装置の故障自己監視方式に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術における、故障監視機能を有す
るセル処理装置を図１０に示す。このセル処理装置は、
その装置内に、監視対象である演算回路８の前段に監視
セル印加部５と、後段に監視セル終端部１０を設け、ま
た、監視結果の期待値を作成する監視結果期待値発生部
９と、監視セル発生部４と、セルパターン比較照合部１
１を有する。本装置の故障監視動作は、監視期待値発生
部９で作成した監視期待値をもとに監視セル発生部４で
監視セルを発生させ、監視セル印加部５により主信号セ
ル流中に含まれる空きセルや制御セル、あるいは監視セ
ルを挿入するためにセル流中に挿入されている特定のセ
ルを検出して、監視セルを上書きする。監視対象である
演算回路８は、監視セルを通常の一般のセルと同様に処
理を行い、監視セルを含む主信号セル流を出力する。監
視セル終端部１０は監視セルを抽出して、該セルを監視
セル印加部５で上書きする前のセルパターンに書き直
す。セルパターン比較照合部１１は、監視セル終端部１
０で抽出した監視セルのセルパターン中のセルヘッダや
情報フィールドに付加された擬似ランダムデータなどの
監視データと、監視期待値発生部９で作成した監視期待
値とを比較照合することにより、セル処理装置内の演算
回路８が正常に動作しているか否かを確認する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】図１０の従来例におけ
る故障監視方式は、監視セルのセルヘッダや情報フィー
ルド中に、監視対象である演算回路８が正常に動作して
いるか否かを表す監視情報が含まれている場合には、そ
の監視情報を発した演算回路８内部のディジタル論理回
路に対する故障検出を行うことができる。しかし、監視
セルのセルヘッダや情報フィールド中に、演算回路８の
動作状態を示す監視情報がそのまま書き込まれるのでは
なく、トラヒックシェーピングの例のように、出力間隔
を変えて出力する場合には、演算回路８の故障検出を行
うことはできなかった。また、該セル処理装置が、複数
の演算回路によって構成されており、かつ、監視セル中
の監視情報がセル処理装置内のある一つの演算回路の動
作状態によって一意に定まる場合には、その監視情報の
照合によって故障した演算回路を特定することができる
が、セルレート監視の例のように、監視セル中の監視情
報がセル処理装置内の複数の演算回路の回路状態に依存
して決まる場合には、複数演算回路のうちどの演算回路
の故障であるか特定が困難であった。
【０００４】本発明の目的は、監視対象とする演算回路
を含むセル処理装置内において、エンドユーザ間コネク
ションや制御用コネクションとして使用されていないＶ
ＰＩとＶＣＩの組み合わせを有するコネクションを故障
監視用とし、インサービスによって、通常のセル処理動
作を行いながら故障監視を行うセル処理装置の故障自己
監視方式を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のセル処理装置の
故障自己監視方式は、ＡＴＭ網におけるセル処理装置内
に、監視対象の演算回路と、前記演算回路の前段におい
て監視セルを主信号セル流に上書きする監視セル印加部
と、前記演算器の後段において前記監視セルを抽出する
とともに、主信号セル流を出力とする監視セル終端部
と、監視期待値を作成する監視結果期待値発生部と、前
記監視期待値をもとに監視セルを発生する監視セル発生
部と、前記監視セルの監視データと前記監視期待値とを
比較照合するセルパターン比較照合部を有するセル処理
装置の故障自己監視方式であって、前記演算回路の主信
号セル流を監視し、任意のＶＰＩとＶＣＩの組み合わせ
を持つコネクション情報を設定するコネクション監視部
と、前記コネクション情報に基づき、監視期待値として
監視情報パターンを前記監視セル発生部に指示する監視
期待値発生部と、前記演算回路の後段において、監視セ
ルを含む主信号セル流から監視セルを除去する監視セル
終端部と、前記演算回路の後段において、前記主信号セ
ル流から演算回路の回路動作状態を表す監視情報信号Ｃ
ＨＫを出力して、前記監視情報信号ＣＨＫを前記監視期
待値Ｅと比較照合して前記演算回路の故障検出を行う監
視結果比較照合部を有する。
【０００６】また、前記任意のＶＰＩとＶＣＩの組み合
わせを持つコネクション情報を設定するコネクション監
視部は、前記セル処理装置内においてはエンドユーザ間
のコネクションや装置制御用コネクションが設定されて
いないＶＰＩとＶＣＩの組み合わせを持つコネクション
情報を設定するコネクション監視部を有する。
【０００７】更に、前記セル処理装置内の監視対象であ
る演算回路は、該演算回路転送後の該監視セルのセルヘ
ッダおよび情報フィールドに該演算回路が正常動作して
いるか否かを示す監視情報が含まれなくても、被監視対
象である該演算回路中から監視情報信号ＣＨＫを出力さ
せて、その監視情報信号ＣＨＫを期待値Ｅと照合するこ
とによって、該演算回路の故障検出を行う。
【０００８】また、前記セル処理装置内の監視対象であ
る演算回路は、複数の演算回路を故障監視対象として、
それぞれの監視期待値Ｅを出力する監視期待値発生部
と、それぞれの演算回路から回路動作状態を表す監視情
報信号ＣＨＫを出力して、該監視情報信号ＣＨＫと前記
監視期待値Ｅを比較照合を行う複数の照合回路と、複数
の前記監視回路の比較照合結果のＯＲ回路を有する。
【０００９】更に、前記セル処理装置内の監視対象であ
る複数の演算回路は、縦続あるいは並列接続されている
被監視対象の演算回路群中から、どの回路までが正常に
動作しているかあるいはどの回路までに回路故障が発生
しているのかを特定する判別回路を有する。
【００１０】更にまた、前記セル処理装置内の監視対象
である演算回路は、前記セル処理装置内のセルレート監
視装置あるいはトラヒックシェーピング装置の有する複
数の演算回路であってもよい。
【００１１】また更に、ＡＴＭ網におけるセル処理装置
の故障自己監視方式であって、 空きセルや制御セルな
どの、該セル処理装置では処理を行わない到着セルのと
きに故障監視を行い、それ以外の任意の時間は通常のセ
ル処理動作を行い、インサービスで該セル処理装置内の
演算回路の故障監視を行う。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明のセル処理装置の故障自己
監視方式を含む基本構成図を図１に示す。本発明の故障
自己監視方式を含むセル処理装置は、被監視回路である
演算回路１と、監視セル発生部４と、監視セル印加部５
と、コネクション監視部２と、監視期待値発生部３と、
監視結果比較照合部７と、監視セル終端部６とで構成さ
れる。
【００１３】本セル処理装置内で使用することが可能な
ＶＰＩ（Virtual Path Identifer）とＶＣＩ（Virtual
Channel Identifer ）の組み合わせのうち、セル処理装
置内ではエンドユーザ間のコネクションや装置制御用コ
ネクションが設定されていないものをコネクション監視
部２で探索し、またはＯＰＳ（Operation System）など
のセル処理装置以外の手段で探索した結果を用い、監視
期待値発生部３で作成した監視期待値に基づいて監視セ
ル発生部４でそのＶＰＩとＶＣＩの組み合わせを持つ監
視セルを発生し、指定した任意の時刻に監視セル印加部
５により主信号セル流上にセルを上書きし、演算回路１
内に擬似的にそのコネクションを設定した状態を作る。
演算回路１は監視セルを通常のコネクションのセルと同
様に処理し、その処理の結果得られる回路の動作状態を
示す監視情報信号ＣＨＫと主信号セル流とを出力する。
監視結果比較照合部７の出力は通常は照合結果を一致側
に固定しておくが、監視セル印加部５にて監視セルを印
加したときは、監視対象の演算回路１の監視情報信号Ｃ
ＨＫと監視期待値発生部３で作成した監視期待値Ｅを監
視結果比較照合部７にて比較照合して、演算回路１の内
部回路の故障検出を行う。監視セル終端部６では監視セ
ルを検出して、該セルを監視セル印加部５で監視セルに
上書きする前のセルパターンに書き直すか、あるいは、
他の定められたセルパターンに書き直す。
【００１４】上記構成によれば、セル処理装置は、監視
セルによって上書きされた主信号セル流上のセルを、制
御用セルや空きセルのように、主信号セル流上の中にあ
って演算回路１の動作に影響を及ぼさないセルとすれ
ば、監視用セル以外のＶＰＩとＶＣＩの組合せをセルヘ
ッダに持つ一般のコネクションのセル流が監視セルによ
って上書きされることがないので、そのコネクションは
何ら影響を受けない。したがって、本発明のセル処理装
置は一般のコネクションのセル処理動作を中止すること
なくインサービスで、ディジタル論理回路で構成した演
算回路１の故障自己監視を行うことができる。
【００１５】また、演算回路１がその内部の演算処理フ
ローとして複数の論理的なパス（これをかりに論理パス
と呼ぶ）を持ち、各々の論理パスが異なるディジタル論
理回路で構成されている場合には、動作頻度が大きいデ
ィジタル論理回路と動作頻度の小さいディジタル論理回
路が演算回路１内に存在することになるが、動作頻度が
小さい論理パスのディジタル論理回路の故障はその論理
パスが動作するまで検出できないため、故障発生から検
出まで大きな遅延が生じる恐れがある。論理パスの動作
頻度は演算回路１で処理するセルのセルヘッダや情報フ
ィールドのパターン、あるいはセル間隔によって変化す
るため、全ての論理パスが均等に動作状態になるよう
に、監視セルのセルヘッダや情報フィールドのパターン
やあるいは監視セル間隔を変更すれば、動作頻度の小さ
いディジタル論理回路の故障でも頻繁に故障監視するこ
とができる。
【００１６】監視用コネクションは、演算回路１内では
エンドユーザ間コネクションや装置制御用コネクション
として使用されていないＶＰＩとＶＣＩの組み合わせを
選んで用いられている疑似コネクションであり、そし
て、監視セル終端部６で終端するため、セル処理装置の
入出力主信号セル流および演算回路１の動作に何ら影響
を与えない。
【００１７】また、図２に示すように、セル処理装置が
複数の演算回路で構成されており、第１の演算回路１
２、第２の演算回路１３、・・・・・、第Ｎの演算回路
１４を有する場合には、各々の演算回路から監視情報信
号ＣＨＫｌ、ＣＨＫ２〜ＣＨＫＮを出力して計Ｎ個の監
視情報信号を出力し、また、監視期待値発生部３からも
それぞれの演算回路に対するＥｌ、Ｅ２〜ＥＮのＮ個の
監視期待値を出力してこれらをＮ個の照合を各々の監視
結果比較照合部（照合部）７で行い、その照合結果（正
常：０／違反：１）を表す１ビット信号をＯＲ回路１５
に入力して、該ＯＲ回路の出力からＮ個の演算回路の故
障検出を同時に行うことが可能である。この場合には、
監視セルのセルヘッダや情報フィールド中に、動作状態
を示す監視情報が記入されていない演算回路でも、該演
算回路から監視情報信号ＣＨＫが出力されていれば、該
演算回路の故障検出を行うことができる。また、監視セ
ルのセルヘッダや情報フィールド中に記入されている監
視情報がある一つの演算回路の動作状態によって一意に
定まらない場合でも、故障している演算回路はどれであ
るのか追求を行うことが可能であり、図２は第１の演算
回路１２、第２の演算回路１３、・・・・・、第Ｎの演
算回路１４が縦続接続されている場合であり、Ｎ個の監
視結果比較照合部７の照合結果から、第１の演算回路１
２、第２の演算回路１３、・・・・・、第Ｎの演算回路
１４のうちのどの回路までが正常動作しているか特定す
ることができる。一方、図３に示すように、第１の演算
回路１２、第２の演算回路１３、・・・・・、第Ｎの演
算回路１４が並列接続されている場合には、監視結果比
較照合部７のＮ個の照合結果から、第１の演算回路１
２、第２の演算回路１３、・・・・・、第Ｎの演算回路
１４のうちのどの演算回路に故障が発生しているか特定
することができる。
【００１８】なお、本発明のセル処理装置の故障自己監
視方式は、被監視回路である演算回路１がディジタル論
理回路のみでなく、ＣＰＵやプロセッサなどのソフトウ
ェアである場合にも同様に適用可能である。
【００１９】
【実施例】次に本発明の故障自己監視方式を適用したセ
ル処理装置内の具体的な実施例として、セルレート監視
装置の構成の一例を図４のブロック図に示す。一般に、
本発明を適用したセルレート監視装置にはＵＰＣ（Usag
e Para- meter Control）装置やＮＰＣ（Network Par
ameter Control ）装置があり、これらは指定した任意
のコネクションのトラヒック量が予め申告したトラヒッ
ク量を超過していないかポリシングを行う装置であり、
指定した任意のコネクションのセル流のピークセルレー
トＮｐと平均セルレートＮａが予め契約した値を超過し
ていないかをＶＳＡ（Virtual Scheduling Algorithm）
やＣＳＬＢＡ（Continuous State Leaky Bucket Algori
thm ）を用いて検査し、ＮｐとＮａが共に契約したレー
ト以下であればそのセルは通過させるが、ＮｐかＮａの
いずれかが契約違反であれば、そのセルは違反であると
して廃棄処理か、タグ付け処理を行う。
【００２０】図５は一般のセルレート監視装置の動作を
示すＶＳＡの処理フローチャートであり、ＶＳＡやＣＳ
ＬＢＡで行う実際の処理では、ピークセルレートの逆数
であるピークセル間隔１／Ｎｐ、平均セルレートの逆数
である平均セル間隔１／Ｎａの監視を行っており、初期
設定（図５のＳ１）の後にセル到着時刻ｔａ（図５のＳ
２）とセルの理論的到着時刻ＴＡＴとの大小比較を行い
（図５のＳ３）、ＴＡＴ≦ｔａであれば、つまりセルが
ＴＡＴよりも新しい時間に到着したのであれば、ＴＡＴ
をｔａで置き換え（図５のＳ６）、そしてこのセルは契
約を満たすものと判断して、加算用パラメータＮによっ
て、理論的到着時刻ＴＡＴを ＴＡＴ＝ｍａｘ（ｔａ，ＴＡＴ）十１／Ｎ として更新する（図５のＳ５）。この状態を状態：ＮＥ
Ｗとする。一方Ｓ３でＴＡＴ＞ｔａであれば、つまりセ
ルがＴＡＴ以前に到着した場合には、ｔａとしきい値τ
との和と、セルの理論的到着時刻ＴＡＴの大小を比較し
て（図５のＳ４）、ＴＡＴ＞ｔａ十τでないならば、こ
のセルは契約を満たすものと判断してＮによってＴＡＴ
を更新する（図５のＳ５）。この状態を状態：ＯＫとす
る。一方、Ｓ４でＴＡＴ＞ｔａ十τであるならば、違反
の判定を行う（図５のＳ７）。この状態を状態：ＮＧと
する。このようにＶＳＡはｔａとτおよびＴＡＴの大小
関係によって３通りの状態をとり、それぞれの論理パス
をディジタル論理回路で構成すれば、３つのパスが形成
されて、ｔａとτおよびＴＡＴの大小関係によって異な
るディジタル論理回路が動作する。τがセル遅延揺らぎ
ＣＤＶ（Cell Delay Va-riation ）許容値τｐかつＮ＝
Ｎｐのときがピークセルレート監視のためのＶＳＡ、τ
がバースト許容値τａｐかつＮ＝Ｎａのときが平均セル
レート監視のためのＶＳＡである。
【００２１】図４は本発明のセル処理装置の故障自己監
視方式を適用したセルレート監視装置のブロック図であ
る。ＶＳＡ回路を用いてＮｐとＮａをチェックするセル
レート監視装置は、図４に示すように、１６は処理回
路、１７はセル廃棄回路、１８はＮｐ用ＶＳＡ回路、１
９はＮａ用ＶＳＡ回路、２０はメモリ、２１はＯＲ回路
であり、また、監視セル印加部５、監視セル終端部６、
監視期待値発生部３、監視セル発生部４、監視結果比較
照合部７およびＯＲ回路１５を有する。
【００２２】次にＶＳＡ回路を用いてＮｐとＮａをチェ
ックするセルレート監視装置の動作の一例を図４を用い
て説明する。まず、主信号中の到着セルに対して処理回
路１６でその到着時刻ｔａを計測し、また同時に到着セ
ルのセルヘッダ部のＶＰＩまたはＶＣＩあるいはその両
方からコネクション番号を識別し、また、セルヘッダ部
からセルの種類を判別し、その到着セルがポリシングを
行うべきか判定し、ポリシングを行うべきと判定したと
きには、該到着セルのコネクション番号に該当するポリ
シング演算を行うためのパラメータ（Ｎｐ、Ｎａ、τ
ｐ、τａおよびＴＡＴ）をメモリ２０から読み出し、ポ
リシング演算を行うためのパラメータとｔａをＶＳＡ回
路１８と１９へ送る。Ｎｐ用ＶＳＡ回路１８ではその到
着時刻ｔａとポリシング演算を行うためのパラメータと
からディジタル論理回路で構成した回路で演算を行い、
その到着セルが予め契約したピークレート値を超過して
いるか（違反）あるいは契約ピークレート値以内である
か判定して、１ビットの信号で適合／違反（適合：０、
違反：１）を出力し、Ｎａ用ＶＳＡ回路１９においても
同様に到着時刻ｔａとポリシング演算を行うためのパラ
メータとからディジタル論理回路で構成した回路で演算
を行い、到着セルが予め契約した平均レート値を超過し
ているか（違反）あるいは契約平均レート値以内である
か判定して、１ビットの信号で適合／違反（適合：０、
違反：１）を出力し、セル廃棄回路１７では、０Ｒ回路
２１の１ビット出力信号が１ならば到着セルは予め契約
したレ一トに対して違反しているとして廃棄処理を行
い、一方、ＯＲ回路２１の１ビット出力信号が０ならば
到着セルは予め契約したレートに適合しているとして、
通過処理を行う。
【００２３】次に本発明のセル処理装置の故障自己監視
方式の動作を図４により説明する。監視期待値発生部３
は、メモリ２０を常時監視しており、セルレート監視装
置で取り扱うことが可能なＶＰＩとＶＣＩの組み合わせ
のうちで、セルレート監視装置内ではエンドユーザ間コ
ネクションや制御用コネクションが設定されていないＶ
ＰＩとＶＣＩの組み合わせを探索して監視用コネクショ
ンとするか、ＯＰＳ等のセル処理装置の外部手段から指
示されたＶＰＩとＶＣＩの組み合わせを監視用コネクシ
ョンとし、メモリ２０の監視用コネクションに対応する
領域にポリシング演算を行うためのパラメータを任意に
設定する。そして、処理回路１６で識別したセル種別
が、予め監視セルに上書きしても良いと定めたセルであ
る場合には、監視セル発生部４で監視用コネクションと
して定めたＶＰＩとＶＣＩの組み合わせをセルヘッダに
持つ監視セルを作成して、監視セル印加部５ではこの監
視セルで到着セルを上書きするかあるいは上書きせずに
そのまま通過させる。到着セルを監視セルに上書きする
か否かは監視期待値発生部３で任意に定めるか、あるい
はＯＰＳ等のセル処理装置の外部手段が定める。到着セ
ルを監視セルに上書きする際には、処理回路１６からメ
モリ２０上の監視用コネクションに対応する領域に設定
したポリシング演算を行うためのパラメータを読み出
し、ｔａとともにＮｐ用ＶＳＡ回路１８とＮａ用ＶＳＡ
回路１９へ送り、ＶＳＡ回路１８と１９では、その監視
セルを他の一般のコネクションのセルと同様にポリシン
グ演算を行い、また、ＯＲ回路２１およびセル廃棄回路
１７も通常動作を行う。監視セル終端部６では監視セル
を、監視セル印加部５で監視セルに上書きする前のセル
パターンに書き直す、あるいは、定められたセルパター
ンに書き直す。
【００２４】監視結果比較照合部７はポリシング対象セ
ルが一般のコネクションのセルである時には、その出力
を一致側に固定しておくが、監視セルのときにはＮｐ用
ＶＳＡ回路１８の内部動作状態を示す監視情報信号ＣＨ
Ｋｐと監視期待値発生部３で作成した期待値Ｅｐとを比
較照合し、一致していればＮｐ用ＶＳＡ回路１８および
処理回路１６の動作は正常であり、不一致ならばＮｐ用
ＶＳＡ回路１８あるいは処理回路１６に故障が発生して
いると判断することが可能であり、同様にＮａ用ＶＳＡ
回路１９の内部動作状態を示す監視情報信号ＣＨＫａと
監視期待値発生部３で作成した期待値Ｅａとを比較照合
し、一致していればＮａ用ＶＳＡ回路１９および処理回
路１６の動作は正常であり、不一致ならばＮａ用ＶＳＡ
回路１９あるいは処理回路１６に故障が発生していると
判断することが可能であり、また、ＯＲ回路１５の出力
からＮｐ用ＶＳＡ回路１８かＮａ用ＶＳＡ回路１９かあ
るいは処理回路１６のいずれかの回路故障を検出するこ
とができる。
【００２５】図６は、本発明を適用したセルレート監視
装置の動作を示すＶＳＡの処理フローチャートであり、
ＶＳＡ回路から出力する内部状態を示す監視情報信号の
期待値ＥｐとＥａの一例である。図５の説明でも示した
ように、ＶＳＡはｔａとτ、ＴＡＴとの大小関係によっ
て３通りの状態をとり、それぞれの論理パスをディジタ
ル論理回路で構成すれば、３つのパスが形成されて異な
るディジタル論理回路が動作するので、内部状態を示す
２ビットの信号ＣＨＫを定義して、図６のＳ３でｔａ≧
ＴＡＴの状態：ＮＥＷならばＣＨＫ＝１とし（同Ｓ
８）、同Ｓ４でＴＡＴ−τ≦ｔａの状態：ＯＫならばＣ
ＨＫ＝２（同Ｓ９）、同Ｓ４でｔａ＜ＴＡＴ−τの状
態：ＮＧならばＣＨＫ＝３（同ＳｌＯ）とする。
【００２６】このＣＨＫを図４のＮｐ用ＶＳＡ回路１８
とＮａ用ＶＳＡ回路１９から出力し、それぞれＣＨＫ
ｐ、ＣＨＫａとして、また、監視期待値発生部３から
も、それぞれのＣＨＫに対する２ビットの期待値Ｅｐと
Ｅａを出力して比較照合を行う。
【００２７】図８に示すように、ある１つのＶＰＩとＶ
ＣＩの組み合わせを持つ監視用コネクション（パターン
番号）に対して、（Ｎｐ用ＶＳＡ回路状態、Ｎａ用ＶＳ
Ａ回路状態）＝（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＯＫ、ＮＥＷ）
（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＮＧ、ＮＥＷ）（ＮＥＷ、ＮＥ
Ｗ）（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＯＫ、Ｏ
Ｋ）（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＮＧ、Ｏｋ）（ＮＥＷ、ＮＥ
Ｗ）（ＮＥＷ、ＯＫ）（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＯＫ、Ｎ
Ｇ）（ＮＥＷ、ＮＥＷ）（ＮＧ、ＮＧ）（ＮＥＷ、ＮＥ
Ｗ）（ＮＥＷ、ＮＧ）となるような１８種類のポリシン
グ用のパラメータ（Ｎｐ１〜Ｎｐ１８、Ｎａ１〜Ｎａ１
８、τｐ１〜τｐ１８、τａ１〜τａ１８）を用意して
おき、周期的に使用すれば、ピーク用ＶＳＡ回路のＣＨ
Ｋｐの取りうる状態の組み合わせ（ＣＨＫｐ＝１／２／
３）と平均用ＶＳＡ回路のＣＨＫａの取りうる状態の組
み合わせ（ＣＨＫａ＝１／２／３）を、周期的に故障検
出することができる。
【００２８】あるいは、図９に示すように、９つの異な
る監視用コネクション（コネクション番号）を用意し
て、それぞれの監視セルのポリシング結果が（Ｎｐ用Ｖ
ＳＡ回路状態、Ｎａ用ＶＳＡ回路状態）＝（ＮＥＷ、Ｎ
ＥＷ）と（ＯＫ、ＮＥＷ）の繰り返し、（ＮＥＷ、ＮＥ
Ｗ）と（ＮＧ、ＮＥＷ）の繰り返し、（ＮＥＷ、ＮＥ
Ｗ）の繰り返し、（ＮＥＷ、ＮＥＷ）と（ＯＫ、ＯＫ）
の繰り返し、（ＮＥＷ、ＮＥＷ）と（ＮＧ、ＯＫ）の繰
り返し、（ＮＥＷ、ＮＥＷ）と（ＮＥＷ、ＯＫ）の繰り
返し、（ＮＥＷ、ＮＥＷ）と（ＯＫ、ＮＧ）の繰り返
し、（ＮＥＷ、ＮＥＷ）と（ＮＧ、ＮＧ）の繰り返し、
（ＮＥＷ、ＮＥＷ）と（ＮＥＷ、ＮＧ）の繰り返し、と
なるようなポリシング用のパラメータ（Ｎｐ１ａとＮｐ
１ｂ〜Ｎｐ９ａとＮｐ９ｂ、Ｎａ１ａとＮａ１ｂ〜Ｎａ
９ａとＮａ９ｂ、τｐ１ａとτｐ１ｂ〜τｐ９ａとτｐ
９ｂ、τａ１ａとτａ１ｂ〜τａ９ａとτａ９ｂ）を用
意しておき、周期的に使用すれば、やはり、ピーク用Ｖ
ＳＡ回路のＣＨＫｐの取りうる状態の組み合わせ（ＣＨ
Ｋｐ＝１／２／３）と平均用ＶＳＡ回路のＣＨＫａの取
りうる状態の組み合わせ（ＣＨＫａ＝１／２／３）を、
周期的に故障検出することができる。
【００２９】図７は本発明のセル処理装置の故障自己監
視方式を適用したトラヒックシェーピング装置のブロッ
ク図である。トラヒックシェーピング装置は、任意のコ
ネクションのセル流に対して、そのセルの理想的な送出
時刻に基づいてセルの送出順序の管理を行う装置であ
る。セルの理想送出時刻を算出するアルゴリズム回路２
２と、算出した理想送出時刻に基づいてセル流の順序管
理を行う送出順序管理回路２３とで構成されており、ま
た、アルゴリズム回路２２の故障監視を行うものとす
る。そのために本発明に関する故障監視を行うコネクシ
ョン監視部２と、監視セル印加部５と、監視セル終端部
６と、監視期待値発生部３と、監視セル発生部４および
監視結果比較照合部７を有する。送出順序管理回路２３
に監視セルが入力されると、本来は伝送路上には存在し
ない監視セルと元々伝送路上に存在する一般のコネクシ
ョンのセルが出力競合を起こす可能性があり、一般のコ
ネクションのセルの送出順序管理に影響を及ぼす可能性
があるため、送出順序管理回路２３の前段に監視セル終
端部６を設けている。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
監視対象とする演算回路を含むセル処理装置内ではエン
ドユーザ間コネクションや制御用コネクションとして使
用されていないＶＰＩとＶＣＩの組み合わせを有するコ
ネクションを故障監視に用いる構成としたため、インサ
ービスによって、通常のセル処理動作を行いながら故障
監視を行うことができる。
【００３１】更に、セル処理装置が、複数の演算回路に
よって構成されていても、複数演算回路のうちどの演算
回路の故障であるかを特定することができる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のセル処理装置の故障自己監視方式を持
つ基本構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の故障自己監視方式を持つセル処理装置
が複数の演算回路を直列に有する場合の構成を示すブロ
ック図である。
【図３】本発明の故障自己監視方式を持つセル処理装置
が複数の演算回路を並列に有する場合の構成を示すブロ
ック図である。
【図４】本発明のセル処理装置の故障自己監視方式を適
用したセルレート監視装置の一例を示すブロック図であ
る。
【図５】一般のセルレート監視装置の動作を示すＶＳＡ
の処理フローチャートである。
【図６】本発明のセルレート監視アルゴリズムであるＶ
ＳＡのフローチャートである。
【図７】本発明のセル処理装置の故障自己監視方式を適
用したトラヒックシェーピング装置の一例を示すブロッ
ク図である。
【図８】本発明に関する、セルレート監視装置内のＮｐ
用ＶＳＡ回路とＮａ用ＶＳＡ回路の故障監視を行う際の
監視情報期待値ＥｐとＥａの組み合わせの一例を示す図
である。
【図９】本発明に関する、セルレート監視装置内のＮｐ
用ＶＳＡ回路とＮａ用ＶＳＡ回路の故障監視を行う際の
監視情報期待値ＥｐとＥａの組み合わせの他の例を示す
図である。
【図１０】従来技術における、故障監視機能を有するセ
ル処理装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１、８ 演算回路（被監視回路） ２ コネクション監視部 ３、９ 監視期待値発生部 ４ 監視セル発生部 ５ 監視セル印加部 ６、１０ 監視セル終端部 ７ 監視結果比較照合部（照合） １１ セルパターン比較照合部 １２ 演算回路１ １３ 演算回路２ １４ 演算回路Ｎ １５ ＯＲ回路 １６ 処理回路 １７ セル廃棄回路 １８ Ｎｐ用ＶＳＡ回路 １９ Ｎａ用ＶＳＡ回路 ２０ メモリ ２２ アリゴリズム回路 ２３ 送出順序管理回路

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ＡＴＭ網におけるセル処理装置内に、監
    視対象の演算回路と、前記演算回路の前段において監視
    セルを主信号セル流に上書きする監視セル印加部と、前
    記演算器の後段において前記監視セルを抽出するととも
    に、主信号セル流を出力とする監視セル終端部と、監視
    期待値を作成する監視結果期待値発生部と、前記監視期
    待値をもとに監視セルを発生する監視セル発生部と、前
    記監視セルの監視データと前記監視期待値とを比較照合
    するセルパターン比較照合部を有するセル処理装置の故
    障自己監視方式であって、 前記演算回路の主信号セル流を監視し、任意のＶＰＩと
    ＶＣＩの組み合わせを持つコネクション情報を設定する
    コネクション監視部と、 前記コネクション情報に基づき、監視期待値として監視
    情報パターンを前記監視セル発生部に指示する監視期待
    値発生部と、 前記演算回路の後段において、監視セルを含む主信号セ
    ル流から監視セルを除去する監視セル終端部と、 前記演算回路の後段において、前記主信号セル流から演
    算回路の回路動作状態を表す監視情報信号ＣＨＫを出力
    して、前記監視情報信号ＣＨＫを前記監視期待値Ｅと比
    較照合して前記演算回路の故障検出を行う監視結果比較
    照合部を有するセル処理装置の故障自己監視方式。
  2. 【請求項２】 前記任意のＶＰＩとＶＣＩの組み合わせ
    を持つコネクション情報を設定するコネクション監視部
    が、 前記セル処理装置内においてはエンドユーザ間のコネク
    ションや装置制御用コネクションが設定されていないＶ
    ＰＩとＶＣＩの組み合わせを持つコネクション情報を設
    定するコネクション監視部を有する請求項１記載のセル
    処理装置の故障自己監視方式。
  3. 【請求項３】 前記セル処理装置内の監視対象である演
    算回路が、 該演算回路転送後の該監視セルのセルヘッダおよび情報
    フィールドに該演算回路が正常動作しているか否かを示
    す監視情報が含まれなくても、被監視対象である該演算
    回路中から監視情報信号ＣＨＫを出力させて、その監視
    情報信号ＣＨＫを期待値Ｅと照合することによって、該
    演算回路の故障検出を行う請求項１または請求項２記載
    のセル処理装置の故障自己監視方式。
  4. 【請求項４】 前記セル処理装置内の監視対象である演
    算回路が、 複数の演算回路を故障監視対象として、それぞれの監視
    期待値Ｅを出力する監視期待値発生部と、 それぞれかの演算回路から回路動作状態を表す監視情報
    信号ＣＨＫを出力して、該監視情報信号ＣＨＫと前記監
    視期待値Ｅを比較照合を行う複数の照合回路と、 複数
    の前記監視回路の比較照合結果のＯＲ回路を有する請求
    項１または請求項２記載のセル処理装置の故障自己監視
    方式。
  5. 【請求項５】 前記セル処理装置内の監視対象である複
    数の演算回路が、 縦続接続されている被監視対象の演算回路群中から、ど
    の回路までが正常に動作しているかを特定する判別回路
    を有する請求項４記載のセル処理装置の故障自己監視方
    式。
  6. 【請求項６】 前記セル処理装置内の監視対象である複
    数の演算回路が、 並列接続されている被監視の演算回路群中から、どの回
    路までに回路故障が発生しているのか特定する判別回路
    を有する請求項４記載のセル処理装置の故障自己監視方
    式。
  7. 【請求項７】 前記セル処理装置内の監視対象である演
    算回路が、 前記セル処理装置内のセルレート監視装置の有する複数
    の演算回路である請求項４記載のセル処理装置の故障自
    己監視方式。
  8. 【請求項８】 前記セル処理装置内の監視対象である演
    算回路が、 前記セル処理装置内のトラヒックシェーピング装置の有
    する複数の演算回路である請求項４記載のセル処理装置
    の故障自己監視方式。
  9. 【請求項９】 ＡＴＭ網におけるセル処理装置の故障自
    己監視方式であって、 空きセルや制御セルなどの、該
    セル処理装置では処理を行わない到着セルのときに故障
    監視を行い、それ以外の任意の時間は通常のセル処理動
    作を行い、インサービスで該セル処理装置内の演算回路
    の故障監視を行う請求項４記載のセル処理装置の故障自
    己監視方式。
  10. 【請求項１０】 ＡＴＭ網におけるセル処理装置の故障
    自己監視方式であって、 空きセルや制御セルなどの、
    該セル処理装置では処理を行わない到着セルのときに故
    障監視を行い、それ以外の任意の時間は通常のセル処理
    動作を行い、インサービスで該セル処理装置内の演算回
    路の故障監視を行う請求項４記載のセル処理装置の故障
    自己監視方式。
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