JPH09218161A - ガラス面等の表面に生じた傷の程度を測定する光学式測定装置 - Google Patents

ガラス面等の表面に生じた傷の程度を測定する光学式測定装置

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JPH09218161A
JPH09218161A JP5102396A JP5102396A JPH09218161A JP H09218161 A JPH09218161 A JP H09218161A JP 5102396 A JP5102396 A JP 5102396A JP 5102396 A JP5102396 A JP 5102396A JP H09218161 A JPH09218161 A JP H09218161A
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JP
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light
slit
reflected light
reflected
glass surface
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JP5102396A
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Inventor
Toshiyuki Sotani
俊之 操谷
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Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 簡単な構成で、かつ、簡易な測定法によりガ
ラス面等の表面に生じた傷の程度を測定する光学式測定
装置を提供する。 【解決手段】 光源3と、その反射光を2つの受光側光
路P1 ,P2 に分岐する分岐手段6と、一方の受光側光
路P1 に設けられた第1受光部11と、他方の受光側光
路P2 に設けられた第2受光部15と、第1受光部11
が、反射光cのうち鏡面反射光を集光可能な開口を有す
る第1スリット10と、この第1スリット10からの鏡
面反射光を受光する第1受光器8とから構成される一
方、第2受光部15が、鏡面反射光とともに拡散反射光
も集光可能なように第1スリット10よりも大きい開口
13を有する第2スリット14と、この第2スリット1
4からの鏡面反射光および拡散反射光を受光する第2受
光器12とから構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ガラス面等の表
面に生じた傷の程度を測定する光学式測定装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】自動車の外観品質に対する関心は年々高
まりつつある。新車時の品質を維持していくためには定
期的な保守が必要である。フロントガラスもその1つの
重要な要素である。雨天走行時、ガラス表面の雨滴を取
り除いて前方視界を確保するため、ワイパーのゴム部分
をフロントガラスに押しつける形で摺動させるが、路面
から巻き上げた砂や粉塵がワイパーとガラスの間に入り
込むとガラスに細かな擦過傷(以下、単に傷という)が
多数生じることになり、ひどい場合には著しく外観品質
を損ねることになる。これは、ポリッシングにより再生
させることができる。しかし、傷の程度は、従来、人が
目で見て判定していた。したがって、基準が明確で無い
ため、傷の程度は各人の判断に依存しがちで、再生に対
する十分な動機づけとなり難い。また、作業効果の判定
基準も曖昧であることから、フロントガラスのポリッシ
ングは、あまり普及していなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、傷の程度を
客観的に判定するために現在実用化されている装置は、
レーザビームを回転ミラーによりライン走査して測定面
に照射し、その反射光をフォトダイオードまたはCCD
画像素子で受光するレーザ走査型の測定法を用いたもの
であって、ビーム径を絞ることにより、圧延鋼板や樹脂
シート、板硝子などの生産ラインにおける微小な傷の検
出ができるけれども、簡易な測定法ではなく、フロント
ガラスの傷を測定する場合に使用するには、光学系が複
雑であったり傷判定のための処理系が大がかりになるな
ど装置が大型化するおそれがあるとともに、回転ミラー
を使用しているので機械的強度に弱い欠点がある。
【0004】一方、簡易な測定法の1つとして、光源か
らの光を測定面に直接照射し、測定面から拡散反射する
拡散反射光を積分球により集光する拡散反射光集光型の
ものがある。この測定法を用いた装置では、前記レーザ
走査型の測定法を用いた装置に比して光学系等の構造が
簡単であるけれども、レーザ走査型のものに比べて微小
な傷に対する感度は劣る。
【0005】もう1つの簡易な測定法として、光源から
の光を測定面に対して照射し、受光器手前に設けたスリ
ットを通して鏡面反射光を1つの受光器において受光す
る鏡面反射光集光型のものがある。しかし、この測定法
を用いた光沢測定装置は、拡散反射光集光型の装置と同
様に、微小な傷に対する感度が低く、例えば0.1μm
a 程度のかすかな傷に対しては感度が低くなる。しか
も、この光沢測定装置は、前記拡散反射光集光型の装置
と同様に、ガラス面の表面粗さに対して線型な出力特性
が得られないという欠点がある。
【0006】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、簡単な構成で、かつ、簡易な測
定法により例えば乗用車などのフロントガラスの傷の程
度を客観的に判定できるとともに、微小な傷に対しても
できるだけ光学系の感度を高めることができるガラス面
等の表面に生じた傷の程度を測定する光学式測定装置を
提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、光を被測定面に照射する光源と、その
反射光の反射光路を2つの受光側光路に分岐する分岐手
段と、一方の受光側光路に設けられた第1受光部と、他
方の受光側光路に設けられた第2受光部と、第1,2受
光部からの出力の比または差を演算する演算手段と、そ
の演算結果を表示する表示手段とを備え、更に、第1受
光部が、前記反射光のうち鏡面反射光を集光可能な開口
を有する第1スリットと、この第1スリットからの鏡面
反射光を受光する第1受光器とから構成される一方、第
2受光部が、鏡面反射光とともに拡散反射光も集光可能
なように第1スリットよりも大きい開口を有する第2ス
リットと、この第2スリットからの鏡面反射光および拡
散反射光を受光する第2受光器とから構成されている。
【0008】この発明では、鏡面反射光と拡散反射光が
複合した形の反射光が被測定面から反射し、その反射光
路に反射光分岐手段を設けて受光側光路を2つに分岐
し、一方の受光側光路に設けた第1スリットを介して鏡
面反射光を集光し、鏡面反射光の大きさに相当する出力
を第1受光器から演算手段に入力し、他方の受光側光路
に設けた第2スリットを介して鏡面反射光と拡散反射光
を集光し、鏡面反射光の大きさと拡散反射光の大きさの
和に相当する出力を第2受光器から演算手段に入力した
後、両出力の比または差が演算され、表示手段にガラス
面等の表面に生じた傷の程度が数値(傷値)で表示され
る。
【0009】また、別の観点から、この発明は、光を被
測定面に照射する光源と、その反射光を受光する受光器
と、この受光器の受光強度が最大となるピーク部分か
ら、鏡面反射光の大きさに相当する出力と、鏡面反射光
の大きさと拡散反射光の大きさの和に相当する出力とを
算出して各出力の比または差を演算する演算手段と、そ
の演算結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴と
するガラス面等の表面に生じた傷の程度を測定する光学
式測定装置を提供する。この場合でも、鏡面反射光の大
きさに相当する出力と、鏡面反射光の大きさと拡散反射
光の大きさの和に相当する出力の比または差が演算され
るので、光沢度測定法に比べて、光軸のズレに対するガ
ラス面等の表面に生じた傷の程度の指示値の変動を小さ
くできる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態を、図
面に基づいて説明する。図1はこの発明の光学式測定装
置の光学系を示し、図2はその処理系、図3〜図6は動
作原理を示す図である。この第1の実施形態では、乗用
車のフロントガラス面(被測定面)の表面に生じた傷の
程度を測定している。なお、本光学式測定装置は、フロ
ントガラス面の表面に生じた傷以外に、樹脂板の表面や
石材の表面等に生じた傷の程度を測定する場合にも適用
できる。
【0011】図1、図2において、1は、光学系および
処理系を内蔵するポケット型ケースで、光学系は、放射
状に出射される近赤外光aをガラス面(被測定面)2に
照射する近赤外発光ダイオード(光源)3と、入射側ス
リット4を通った近赤外光aを平行光(入射光)bにす
るレンズ5と、反射光cの反射光路P0 上に設置され反
射光路P0 を2つの受光側光路P1 ,P2 に分岐する分
岐手段としての半透過ミラー6と、反射光路P0 上に設
置された集光レンズ7と、受光側光路P1 に設けられ、
鏡面反射光A(図5参照)を受光する第1受光器8と鏡
面反射光Aを集光可能な開口9を有する第1スリット1
0とからなる第1受光部11と、受光側光路P2 に設け
られ、鏡面反射光Aおよび拡散反射光Bを受光する第2
受光器12と鏡面反射光Aとともに拡散反射光Bを集光
可能な開口13を有する第2スリット14とからなる第
2受光部15とで構成される。なお、受光器8,12と
して、近赤外発光ダイオード3の発光波長に十分な感度
を有するフォトダイオードを用いるのが好ましい。ま
た、近赤外発光ダイオード3の代わりに、光源として半
導体レーザを用いてもよく、その他適用可能なタイプの
ものであればこれらに限らない。
【0012】そして、光源3は、ガラス面2を臨む形で
ケース1内に設けてあり、光源3と第1受光器8とを、
それぞれの中心線16,17がガラス面2に対して鉛直
な方向18となす角度α,β(例えば、α=β=70
°)が互いに等しくなるように配置し、光源3から放射
状に出射される発光ピーク波長0.88μmの近赤外光
aを間欠発光させながら、例えば焦点距離が10.35
mmの光学レンズ5で平行光bとしてガラス面2におけ
る一定の面積を均等に照射し、そのときの反射光cの反
射光路P0 上に設置された集光レンズ7の光軸に対して
半透過ミラー6を角度γ(=45°)だけ傾けて配置し
てある。なお、半透過ミラー6として、反射光cの透過
率が50パーセントの透過・反射特性を有するものを用
い、近赤外光aを間欠発光させたのは、測定時の周囲の
光の影響を受ける難くするためであって、光源3は、一
定時間ごとに繰り返しパルス状の発光を行うよう、例え
ば、発光パルス幅10マイクロ秒、発光間隔0.001
秒(デューテイ比100)で発光するよう構成されてい
る。
【0013】また、第1受光器8も、半透過ミラー6を
介してガラス面2を臨む形でケース1内に設けてあり、
例えば焦点距離が10.35mmの集光レンズ7を通し
てガラス面2からの鏡面反射光Aを受光する。
【0014】この受光側に設けられた集光レンズ7と入
射側に設けられたレンズ5は、ケース1の下面1aに形
成された凹所19の側壁に相対向して設置され、測定時
には、凹所19の上壁面19cがガラス面2に平行にな
るように構成されている。一方、ケース1の上面1bに
は、傷値を表示するための、例えば液晶表示部や、電源
オン・オフキー等の操作キーが設置されている。
【0015】ガラス面2で反射する反射光cは、細かな
凹凸の無い(鏡面研磨した全く傷の無い完全鏡面)ガラ
ス面2の場合(傷値=0%)を除き、鏡面反射光と拡散
反射光が複合した形となる。すなわち、図3に示すよう
にガラス面2が完全鏡面の場合、入射光bに対する反射
光cの強度の空間分布は符号20で示すダイアグラム
(鏡面反射光束)になり、一方、ガラス面2が粗面(傷
がある)の場合、図4に示すように、入射光bに対する
反射光cの強度の空間分布は符号21で示すダイアグラ
ム(鏡面反射光束と拡散反射光束との和)になると考え
られる。なお、符号22は入射光bの強度の空間分布を
示すダイアグラムである。
【0016】ところで、半透過ミラー6を透過して受光
側光路P1 に入った反射光cは、図5に示すように、第
1スリット10で集光された後第1受光器8で受光され
るわけであるが、開口9の径が鏡面反射光束の幅と同程
度に設定されているので、第1スリット10で鏡面反射
光Aが集光され、よって、第1受光器8は、鏡面反射光
Aの大きさに相当する出力25を後述する処理系に入力
することになる。なお、第1スリット10の開口径は、
例えば、1.5μmにセットされるのが好ましい。
【0017】一方、半透過ミラー6で反射して受光側光
路P2 に入った反射光cは、図6に示すように、第2ス
リット14で集光された後第2受光器12で受光される
わけであるが、開口13の径が、鏡面反射光束より幅広
の拡散反射光束の幅と同程度に設定されているので、第
2スリット14では、鏡面反射光Aとともに拡散反射光
Bも集光され、よって、第2受光器12は、鏡面反射光
Aの大きさと拡散反射光Bの大きさの和に相当する出力
26を処理系に入力することになる。なお、第2スリッ
ト14の開口径は、開口9よりも大であればよく、その
第1スリット10の開口9との開口比をガラス面2の表
面粗さの程度に応じて、すなわち、測定対象に合わせて
適宜設定できる。
【0018】次に、処理系について説明する。22、2
3および24は、それぞれ、マルチプレクサ、マイクロ
コンピュータ(MCU)および液晶表示部で、鏡面反射
光Aの大きさに相当する出力25と、鏡面反射光Aの大
きさと拡散反射光Bの大きさの和に相当する出力26
は、それぞれプリアンプ27,28で増幅された後、マ
ルチプレクサ22で多量化され、A/D変換器29を介
して演算手段としてのMCU23に入る。MCU23で
は、これら2つの出力25,26の比を演算し、フロン
トガラスの傷値として適当な数値で液晶表示部24に表
示される。
【0019】傷の程度を数値化する方法として、この実
施形態では、以下のような演算式によって算出する方法
を採用している。
【0020】 傷値[%]= 〔(拡散反射光Bの大きさ)/(鏡面反射光Aの大きさ)〕×100 = 〔(第2受光器12の出力26−第1受光器8の出力25)/(第1受光 器8の出力25)〕×100 この演算式によれば、鏡面研磨した全く傷の無い完全鏡
面の場合は傷値が0となり、完全粗面では傷値が無限大
に近い値になる。なお、傷値として数値で液晶表示部2
4に表示されるが、MCU23を用いることによって、
傷の程度に応じた数値に適宜変換可能である。
【0021】ここで、上述した従来の光沢測定装置と本
装置を比較する。光沢測定装置と本装置との構成状の相
違点は、光沢測定装置が、本装置の半透過ミラー6と第
2受光部15に相当する光学系を備えていない点であ
る。したがって、光沢測定装置は受光部が1つであるの
で、処理系も当然相違する。
【0022】図7は、光源として、発光ピーク波長0.
88μmの近赤外光aを用いた光沢測定装置の受光部の
出力特性を示し、例えば、Jは、スリットの開口径を
1.5μmとした場合の受光部の出力(縦軸)を示し、
横軸は10点平均表面粗さ[μmRa ]で、測定面の表
面粗さを示す。この表面粗さの数値が小さくなる程測定
面が粗い凹凸表面を有することになる。また、K,Lお
よびMは、それぞれ開口径を3.5μm,4.0μmお
よび9.5μmにした場合の出力特性を示し、Nは、ス
リット無しの場合の出力特性を示す。
【0023】図7から、光沢測定装置で測定した場合、
ガラス面の表面粗さに対して非線型な出力特性しか得ら
れないのが分かる。これは、反射光を1つの受光部で受
光する構成であることに起因すると考えられる。
【0024】一方、図8は、1.5μmの開口径を有す
る第1スリット10と、3.5μm,4.0μm,9.
5μmの3種類の開口径を有する第2スリット14を用
いた場合の、第1スリット10に対する第2スリット1
4の開口比(Qは、3.5/1.5の場合、Rは4.0
/1.5の場合、Sは9.5/1.5の場合を示す)
と、傷に対する感度を示す図である。10点平均表面粗
さ[μmRa ]が0.001〜0.5μmであるガラス
面に対し、上述の演算式に示された傷値(出力比)が、
0〜100、0〜200、0〜300と、二つのスリッ
ト10,14の開口比を変えることにより、出力比のダ
イナミックレンジを変えることができる。すなわち、測
定対象に合わせて光学系の感度を最適化できるので、測
定レンジも光沢測定装置の光学系を用いた場合よりも広
く取れる。
【0025】このように、本装置を用いた場合には、ガ
ラス面2の表面粗さに対して直線性もよく、線型な出力
特性が得られる上に、半透過ミラー6により2つの受光
部11,15を設置したので、スリット10,14の開
口径の開口比を変えることによってガラス面2の傷に対
する感度を変えることができる。
【0026】上述のように、光源3を周囲の光の影響を
受けないよう、繰り返しパルス状の発光形態とし、光源
3から放射状に出射される近赤外光aをレンズ5により
平行光bとし、この平行光bをガラス面2の一定の面積
を均等に照射し、反射光路P0 に半透過ミラー6を傾斜
角γ45°で設置し、半透過ミラー6で2つの受光側光
路P1 ,P2 に分岐し、しかも受光側光路P1 には、鏡
面反射光束と略同じ大きさの開口9を有するスリット1
0を設け、受光側光路P2 には、それよりも大きな開口
13を有するスリット14を設けたので、傷の程度を2
つの出力比で数値化できる。また、ガラス面2の汚れや
光源3の発光のふらつきなどによる指示影響も低減でき
る。
【0027】なお、第1の実施形態では、MCU23で
2つの出力25,26の比を演算したものを示したが、
両出力25,26の差を演算することによってガラス面
2に生じた傷の程度を表示するようにしてもよい。
【0028】次に、図9,10は、ガラス面2で反射す
る反射光を受光する受光器として、CCD画像素子32
を用いたこの発明の第2の実施形態を示す。
【0029】図9,10において、40はMCUで、C
CD画像素子32の受光強度が最大となるピーク部分3
3から、鏡面反射光の大きさに相当する出力と、鏡面反
射光の大きさと拡散反射光の大きさの和に相当する出力
とを算出して各出力の比を演算する。41は、その演算
結果を表示する液晶表示部である。
【0030】この実施形態では、上記第1の実施形態で
用いた2つの受光器8,12の代わりに、1つのCCD
画像素子32を受光器として用いている点を特徴として
おり、MCU40は、CCD画像素子32の受光面32
a上の画素からの受光強度が最大となるピーク部分33
の位置を、X−Y方向に移動可能な信号走査部34によ
り捜索させ、ピーク部分33のピーク位置Tを中心とし
て、図10に示すような径dの小円35内での出力の積
分値および径w(>d)の大円36内での出力の積分値
を求め、かつ、各出力の比を演算する機能を有する。な
お、42はプリアンプ、43はA/D変換器である。こ
の場合、小円35内での出力の積分値が鏡面反射光の大
きさに相当する出力を示し、大円36内での出力の積分
値が、鏡面反射光の大きさと拡散反射光の大きさの和に
相当する出力を示すので、両出力の比をMCU40で演
算することにより、傷値を液晶表示部41に表示でき
る。
【0031】なお、第2の実施形態でも、各出力の比を
演算する代わりに、各出力の差を演算するようにしても
よい。また、CCD画像素子32の代わりに、基板上に
複数個のフォトダイオードを1列に配置して構成される
フォトダイオード・アレイを用いてもよく、その他、こ
れと同様の機能を有する光検出器を用いることも可能で
ある。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、この発明において
は、鏡面反射光と拡散反射光が複合した形の反射光がガ
ラス面等の被測定面から反射し、その反射光路に反射光
分岐手段を設けて受光側光路を2つに分岐し、一方の受
光側光路に設けた第1スリットを介して鏡面反射光を集
光し、鏡面反射光の大きさに相当する出力を第1受光器
から演算手段に入力し、他方の受光側光路に設けた第2
スリットを介して鏡面反射光と拡散反射光を集光し、鏡
面反射光の大きさと拡散反射光の大きさの和に相当する
出力を第2受光器から演算手段に入力し、両出力の比ま
たは差を演算することによって、表示手段にガラス面等
の表面に生じた傷の程度が数値(傷値)で表示されるよ
うに構成したので、以下の効果を奏する。
【0033】1.2つの受光器を設けるだけという簡単
な構成で、かつ、簡易な測定法によりガラス面等の表面
に生じたの傷の程度を客観的に判定できるとともに、微
小な傷に対してもできるだけ光学系の感度を高めること
ができ、現場で使用するハンディタイプの測定装置とし
て極めて有用である。また、受光側に分岐手段と受光器
を追加することにより、光源その他による入射側のノイ
ズやふらつきを低減できる。 2.ガラス面等の表面の汚れや光源の発光のふらつきな
どによる指示影響も低減できる。 3.ガラス面等の表面粗さに対して直線的な出力特性が
得られる。 4.受光側に設けた2つのスリットの開口径の開口比を
変えることができ、開口比を変えることによってガラス
面等の表面粗さに対する感度を変えることができるの
で、測定レンジも光沢測定装置の光学系を用いた場合よ
りも広く取れる。
【0034】また、この発明では、別の観点から、受光
器の受光強度が最大となるピーク部分から、鏡面反射光
の大きさに相当する出力と、鏡面反射光の大きさと拡散
反射光の大きさの和に相当する出力とを算出し、両出力
の比または差を演算するように構成したので、光沢度測
定法に比べて、光軸のズレに対するガラス面等の表面に
生じた傷の程度の指示値の変動を小さくできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施形態における光学系を示
す構成説明図である。
【図2】上記実施形態における処理系を示すブロック図
である。
【図3】上記実施形態において、ガラス面が完全鏡面の
場合、入射光に対する反射光強度の空間分布を説明する
ための図である。
【図4】上記実施形態において、ガラス面に傷がある場
合、入射光に対する反射光強度の空間分布を説明するた
めの図である。
【図5】上記実施形態における第1受光部の受光動作を
示す図である。
【図6】上記実施形態における第2受光部の受光動作を
示す図である。
【図7】光沢測定装置の受光部の出力特性を示す特性図
である。
【図8】上記実施形態における第1スリットに対する第
2スリットの開口比対第1,2受光部の出力比特性図で
ある。
【図9】この発明の第2の実施形態における処理系を示
す図である。
【図10】上記第2の実施形態における処理動作を説明
するための図である。
【符号の説明】
1…ポケット型ケース、2…ガラス面(被測定面)、3
…光源、6…半透過ミラー(分岐手段)、8…第1受光
器、10…第1スリット、12…第2受光器、14…第
2スリット、23…マイクロコンピュータ、24…液晶
表示部、A…鏡面反射光、B…拡散反射光、a…近赤外
光、c…反射光、P0 …反射光路、P1…受光側光路、
2 …受光側光路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光を被測定面に照射する光源と、その反
    射光の反射光路を2つの受光側光路に分岐する分岐手段
    と、一方の受光側光路に設けられた第1受光部と、他方
    の受光側光路に設けられた第2受光部と、第1,2受光
    部からの出力の比または差を演算する演算手段と、その
    演算結果を表示する表示手段とを備え、更に、第1受光
    部が、前記反射光のうち鏡面反射光を集光可能な開口を
    有する第1スリットと、この第1スリットからの鏡面反
    射光を受光する第1受光器とから構成される一方、第2
    受光部が、鏡面反射光とともに拡散反射光も集光可能な
    ように第1スリットよりも大きい開口を有する第2スリ
    ットと、この第2スリットからの鏡面反射光および拡散
    反射光を受光する第2受光器とから構成されたことを特
    徴とするガラス面等の表面に生じた傷の程度を測定する
    光学式測定装置。
  2. 【請求項2】 前記光源と第1受光器とを、それぞれの
    中心線がガラス面に対して鉛直な方向となす角度が互い
    に等しくなるように配置し、前記光源から放射状に出射
    される近赤外光を間欠発光させながら、光学レンズで平
    行光にされた近赤外光をガラス面における一定の面積に
    照射し、そのときの反射光の反射光路上に設置された集
    光レンズの光軸に対して前記分岐手段としての半透過ミ
    ラーを45°傾けて配置してある請求項1に記載のガラ
    ス面等の表面に生じた傷の程度を測定する光学式測定装
    置。
  3. 【請求項3】 光を被測定面に照射する光源と、その反
    射光を受光する受光器と、この受光器の受光強度が最大
    となるピーク部分から、鏡面反射光の大きさに相当する
    出力と、鏡面反射光の大きさと拡散反射光の大きさの和
    に相当する出力とを算出して各出力の比または差を演算
    する演算手段と、その演算結果を表示する表示手段とを
    備えたことを特徴とするガラス面等の表面に生じた傷の
    程度を測定する光学式測定装置。
JP5102396A 1996-02-13 1996-02-13 ガラス面等の表面に生じた傷の程度を測定する光学式測定装置 Pending JPH09218161A (ja)

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