JPH09231502A - 磁気ディスク媒体の検査方法 - Google Patents
磁気ディスク媒体の検査方法Info
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- JPH09231502A JPH09231502A JP24510696A JP24510696A JPH09231502A JP H09231502 A JPH09231502 A JP H09231502A JP 24510696 A JP24510696 A JP 24510696A JP 24510696 A JP24510696 A JP 24510696A JP H09231502 A JPH09231502 A JP H09231502A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 検出手段から出力されるスパイク状の波形の
ピーク値を正確に検出できるようにするとともに、接触
が生じた位置をトラック方向のみならず円周方向につい
ても正確に特定し接触状態などの検査結果を二次元的に
把握可能とする。 【解決手段】 磁気ディスク媒体と磁気ヘッドとの接触
を検出する検出手段より出力された信号から、固有の振
動数以上の振動波形を抽出し、磁気ディスク媒体より得
られるトラック情報およびセクタ情報から、磁気ディス
ク媒体上における前記振動波形が抽出された位置を特定
するとともに、磁気ヘッドの状態を示すアクセス状態情
報から、前記振動波形が抽出された時のシーク状態が加
速状態であったか、減速状態であったか、或いはオント
ラック状態であったかを特定するようにする。
ピーク値を正確に検出できるようにするとともに、接触
が生じた位置をトラック方向のみならず円周方向につい
ても正確に特定し接触状態などの検査結果を二次元的に
把握可能とする。 【解決手段】 磁気ディスク媒体と磁気ヘッドとの接触
を検出する検出手段より出力された信号から、固有の振
動数以上の振動波形を抽出し、磁気ディスク媒体より得
られるトラック情報およびセクタ情報から、磁気ディス
ク媒体上における前記振動波形が抽出された位置を特定
するとともに、磁気ヘッドの状態を示すアクセス状態情
報から、前記振動波形が抽出された時のシーク状態が加
速状態であったか、減速状態であったか、或いはオント
ラック状態であったかを特定するようにする。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク媒
体、ヘッド、ヘッド駆動用アクチュエータ、及びこれら
の制御部からなる磁気ディスク装置のヘッドの浮上安定
性の評価、磁気ディスク媒体の表面状態の評価、及びヘ
ッドクラッシュの監視等に利用する磁気ディスク媒体の
検査方法に関するものである。 【０００２】 【従来の技術】磁気ディスクヘッドと磁気ディスク媒体
（以下「磁気ディスク」または「媒体」と略す）の接触
監視については、従来から磁気ヘッドの浮上特性測定に
関し多くの方法が提案されており、光の干渉を利用した
方法や、磁気ディスクに記録された信号のヘッドからの
出力レベルの変動により知る方法等がある。 【０００３】媒体の表面検査などのために、圧電素子を
接触検出手段に用いる方法が知られているが、次にこの
媒体の検査方法の例を図４に基づき説明する。図４は従
来の磁気ディスク媒体の検査方法の概要を示す図であ
る。 【０００４】磁気ディスク１上で浮上している磁気ヘッ
ド２は、ジンバル３、取り付けアーム４を介して、例え
ばシリンダからなるアクチュエータ５に連結されてお
り、アクチュエータ５によって、磁気ディスク１の径方
向に移動される。 【０００５】ジンバル３または磁気ヘッド２のスライダ
上に検出手段である圧電素子６が取り付けられ、その検
出信号は、実効値電圧計７またはオシロスコープ８で測
定される。 【０００６】媒体検査は、装置の稼働時と同様な動作を
させて行う。今、磁気ディスク１が回転すると磁気ヘッ
ド２が浮上するが、磁気ディスク１の表面状態、あるい
は磁気ヘッド２の浮上の不安定などにより、磁気ディス
ク１と磁気ヘッド２が接触することがある。 【０００７】すると、その衝撃が圧電素子６で検出さ
れ、実効値電圧計７によりそのレベルを読み、これをシ
リンダ位置に対応してプロットし、どの辺のシリンダ位
置でレベルが高いかを評価する。 【０００８】また、特開昭55-64629号公報に記載されて
いる磁気ヘッドの浮上量測定装置は、実効値電圧計７に
代えてオシロスコープ８が接続される。オシロスコープ
８の画面上の横軸は時間軸で、磁気ディスク１が一定の
回転角に達する毎にトリガされ掃引が開始される。 【０００９】いま、磁気ディスク１と磁気ヘッド２が接
触すると、画面上に小振幅のノイズ信号に重畳して大振
幅のスパイク波形Ｓ1 ，Ｓ2 が表示される。画面上のス
パイク波形Ｓ1 ，Ｓ2 の高さにより、接触の程度の大き
さが判断され、磁気ディスク表面状態が検査できる。 【００１０】 【発明が解決しようとする課題】このように、従来の磁
気ディスク媒体の検査方法は、媒体とヘッドとの接触検
査に際し、圧電素子６からの出力情報のみを利用し、そ
の出力を実効値電圧計７に接続してそのレベルからトラ
ック方向に対する評価を行うため、接触が生じたトラッ
クは判明するが、円周方向についての位置は不明であ
り、正確な評価ができない。更に接触に際しての波形は
衝撃的に発生するのに対し、実効値電圧を読むためピー
ク値が判らず、実際の表面状態の評価に直結した正しい
データが得られない。 【００１１】一方、オシロスコープ８を利用した検査方
法は、トリガ信号とのタイミングから、円周方向の位置
を特定することは可能であるが、総てのシリンダ位置に
ついて行うことは、その膨大な測定点数からみて実用性
に欠ける。 【００１２】本発明の技術的課題は、従来の検査方法に
おけるこのような問題を解消し、検出手段から出力され
るスパイク状の波形のピーク値を正確に検出できるよう
にするとともに、接触が生じた位置をトラック方向のみ
ならず円周方向についても正確に特定し接触状態などの
検査結果を二次元的に把握可能とすることにある。 【００１３】 【課題を解決するための手段】図１は本発明による磁気
ディスク媒体の検査方法の基本原理を説明するための本
発明方法に用いられる装置の概要を示す図である。Ｄは
磁気ディスク装置であり、磁気ディスク、磁気ヘッド、
磁気ヘッド駆動用のアクチュエータ、これらの制御部な
どからなっている。Ｍはメモリ手段、Ｃは計算機であ
る。 【００１４】圧電素子などのような、磁気ディスク検査
用の検出手段の検出信号は、磁気ディスク装置の制御部
からメモリ手段Ｍに入力される。また検出手段のシリン
ダ方向位置を示す情報として、シーク情報すなわちシリ
ンダ情報を利用し、検出手段の円周方向の位置を示す情
報として、セクタ情報を利用する。更に検出手段のアク
セス状態を示すアクセス状態情報を利用する。 【００１５】そして、これらの情報を、メモリ手段Ｍに
入力して収集し、計算機Ｃにより処理することで、磁気
ディスクの状態を二次元的に表現し評価可能とする。な
お、検出手段の検出信号は、例えばフィルタにより雑音
成分をカットし、検出手段固有の振動数のみを通過させ
てスパイク波形を取り出し、このスパイク波形の大きさ
をコンパレータにより検出させてピーク値のみをレベル
情報として出力させることで得られる。 【００１６】またトラック情報であるシリンダ情報は、
例えばシリンダカウンタに、磁気ディスク装置Ｄの制御
部からトラック横断時に発生するトラッククロスパルス
とシーク方向情報を入力し、カウントすることで得られ
る。 【００１７】更にセクタ情報は、例えばセクタカウンタ
に、磁気ディスク装置Ｄの制御部からインデックスパル
スとセクターパルスを入力し、カウントすることで得ら
れる。更にまたアクセス状態情報は、例えば磁気ディス
ク装置Ｄの制御部からシーク時の加速状態や減速状態あ
るいはオントラック状態を示す情報を入力することで得
られる。 【００１８】本発明において、圧電素子が磁気ディスク
表面に接触したりして、検出信号が出力すると、メモリ
手段Ｍに入力され、そのときの磁気ヘッドのシリンダ上
の位置は、シリンダ情報で特定される。また円周方向の
位置は、セクタ情報で特定できる。 【００１９】アクセス状態情報は、磁気ヘッドのシーク
が加速状態か、減速状態か、オントラック状態かなどを
示す情報であり、これらの情報は、メモリ手段Ｍに入力
して収集され、計算機Ｃによって処理される。 【００２０】そのため、検査結果を二次元的に把握し
て、評価でき、磁気ディスクの何番めのシリンダ上の何
セクタめに、突起などが存在するのか、正確に欠陥など
の位置を検出できる。またアクセス状態情報を使用する
ことで、検出信号の発生と磁気ディスクの装置の動作と
の関係が判明する。 【００２１】 【発明の実施の形態】次に、本発明による磁気ディスク
媒体の検査方法が実際上どのように具体化されるかを図
２に基づき説明する。図２は本発明による磁気ディスク
媒体の検査方法の一実施形態に用いられる装置のシステ
ムを示す図である。 【００２２】このシステムは、磁気ディスク装置Ｄにお
ける磁気ヘッドが受ける機械的衝撃を検出する圧電素子
の出力レベル情報を得るために、コンパレータ９を有し
ている。なお、コンパレータ９と磁気ディスク装置Ｄと
の間には、帯域通過フィルタ10と増幅器11を有してい
る。 【００２３】また、ヘッド位置を特定するためのセクタ
情報を得るためのセクタカウンタ12およびシリンダ情報
を得るためのシリンダカウンタ（アップダウンカウン
タ）13を有している。更にこれら３つの情報とアクセス
の状態情報をメモリ素子Ｍに収集し、計算機Ｃにより処
理する。なお、磁気ディスク装置Ｄにおける磁気ヘッド
や圧電素子などの検出手段の構成は、図４の従来例と同
じなため、同図を用いて説明する。 【００２４】いま、図４の磁気ディスク１が回転すると
磁気ヘッド２が浮上するが、磁気ディスク１表面の突
起、あるいは磁気ヘッド２の浮上不安定などにより、磁
気ヘッド２が磁気ディスク１面に衝突することがある。
このとき、圧電素子６からは、この衝突に呼応してスパ
イク状の波形が出力されるが、一般的に雑音成分の多い
波形である。 【００２５】そこで、圧電素子６の固有振動数のみを通
過、増幅する帯域通過フィルタ10および増幅器11を設
け、雑音成分を除去するとともに、実際に衝突したとき
に生じるスパイク波形のみをコンパレータ９に出力す
る。 【００２６】コンパレータ９は、このスパイク波形の大
きさを検出するのであるが、例えば５段階にその大きさ
を分割し、レベル情報ＩL としてはピーク値を出力し、
スパイク波形の立ち下がり時における５段階レベルの最
低レベルを横切ったときに、メモリ素子Ｍにメモリロー
ド信号ＳL を出力する。 【００２７】このスパイク波形が出力されたとき、すな
わち磁気ディスク１と磁気ヘッド２が接触したときのタ
イミングがどこであったかを知るために、磁気ディスク
装置Ｄからセクタ信号とシリンダ信号を取り出すのであ
るが、実際にアクチュエータが動作している途中の情報
を収集する必要がある。 【００２８】通常、磁気ディスク装置Ｄにはレジスタを
内蔵していないため、セクタカウンタ12およびシリンダ
カウンタ13を設ける。セクタカウンタ12は、接触箇所が
円周上のどの位置に有るかを示すセクタ情報Ｉｓを出力
するもので、セクタパルスをクロック信号として用い、
インデックスパルスでクリアする。 【００２９】シリンダカウンタ13は、接触箇所のトラッ
ク方向の位置情報であるシリンダ情報Ｉｃを出力するも
ので、基本的にはアップダウンカウンタであり、トラッ
クを横切る際に発生するトラッククロスパルスをクロッ
ク信号とし、シーク時のアクセス方向情報によりアップ
・ダウンを切り換えている。 【００３０】更に、磁気ディスク装置Ｄからは、アクセ
ス状態情報１ａとしてアクチュエータがどういう状態に
あったか、すなわち加速状態か、減速状態か、あるいは
オントラック状態か等を知るために、アクチュエータを
動かしている制御回路の制御信号を取り出す。 【００３１】これら４つの情報、すなわちレベル情報Ｉ
L 、セクタ情報Ｉｓ、シリンダ情報Ｉｃ、およびアクセ
ス状態情報１ａが、前述のメモリロード信号ＳL により
メモリ素子Ｍに同時に記憶される。以後は計算機Ｃにお
いて、ソフトウエアにより、メモリ素子Ｍから定期的に
情報を取り込み、二次元的な情報に表現する。入力する
ことで得られる。 【００３２】図３は本発明による磁気ディスク媒体の検
査方法の他の実施形態に用いられる装置のシステムを示
す図である。 【００３３】このシステムは、能率的な接触監視を行う
ために、監視装置を最大16台に増加し、並行して媒体全
面評価を行おうとするものである。しかし図２に示すよ
うな、各種情報を処理する基本的な構成は１組で済ます
ため、各装置のヘッドに貼付されている圧電素子Po〜Pf
から出力されるアナログ信号は、アナログスキャナ14で
選択され、また各装置のヘッドの位置情報となるインデ
ックスパルス、セクタパルス、トラッククロスパルス、
シーク方向情報、およびアクセス状態情報は、デジタル
スキャナ15により選択されるもので、この選択は計算機
により制御される。以下各装置につき、前述と同様な動
作を順次行うことにより、媒体全面の接触監視を行うこ
とができる。 【００３４】 【発明の効果】以上のように本発明によれば、磁気ディ
スク媒体と磁気ヘッドとの接触を検出する検出手段より
出力された信号から、固有の振動数以上の振動波形を抽
出し、磁気ディスク媒体より得られるトラック情報およ
びセクタ情報から、磁気ディスク媒体上における前記振
動波形が抽出された位置を特定するとともに、磁気ヘッ
ドの状態を示すアクセス状態情報から、前記振動波形が
抽出された時のシーク状態が加速状態であったか、減速
状態であったか、或いはオントラック状態であったかを
特定するようにしたので、実際の表面状態の評価に直結
した正確なデータが得られる。このため、接触位置の特
定、発生頻度、接触強度などの二次元的な表示ができ、
後の評価を容易かつ正確に行うことができる。
体、ヘッド、ヘッド駆動用アクチュエータ、及びこれら
の制御部からなる磁気ディスク装置のヘッドの浮上安定
性の評価、磁気ディスク媒体の表面状態の評価、及びヘ
ッドクラッシュの監視等に利用する磁気ディスク媒体の
検査方法に関するものである。 【０００２】 【従来の技術】磁気ディスクヘッドと磁気ディスク媒体
（以下「磁気ディスク」または「媒体」と略す）の接触
監視については、従来から磁気ヘッドの浮上特性測定に
関し多くの方法が提案されており、光の干渉を利用した
方法や、磁気ディスクに記録された信号のヘッドからの
出力レベルの変動により知る方法等がある。 【０００３】媒体の表面検査などのために、圧電素子を
接触検出手段に用いる方法が知られているが、次にこの
媒体の検査方法の例を図４に基づき説明する。図４は従
来の磁気ディスク媒体の検査方法の概要を示す図であ
る。 【０００４】磁気ディスク１上で浮上している磁気ヘッ
ド２は、ジンバル３、取り付けアーム４を介して、例え
ばシリンダからなるアクチュエータ５に連結されてお
り、アクチュエータ５によって、磁気ディスク１の径方
向に移動される。 【０００５】ジンバル３または磁気ヘッド２のスライダ
上に検出手段である圧電素子６が取り付けられ、その検
出信号は、実効値電圧計７またはオシロスコープ８で測
定される。 【０００６】媒体検査は、装置の稼働時と同様な動作を
させて行う。今、磁気ディスク１が回転すると磁気ヘッ
ド２が浮上するが、磁気ディスク１の表面状態、あるい
は磁気ヘッド２の浮上の不安定などにより、磁気ディス
ク１と磁気ヘッド２が接触することがある。 【０００７】すると、その衝撃が圧電素子６で検出さ
れ、実効値電圧計７によりそのレベルを読み、これをシ
リンダ位置に対応してプロットし、どの辺のシリンダ位
置でレベルが高いかを評価する。 【０００８】また、特開昭55-64629号公報に記載されて
いる磁気ヘッドの浮上量測定装置は、実効値電圧計７に
代えてオシロスコープ８が接続される。オシロスコープ
８の画面上の横軸は時間軸で、磁気ディスク１が一定の
回転角に達する毎にトリガされ掃引が開始される。 【０００９】いま、磁気ディスク１と磁気ヘッド２が接
触すると、画面上に小振幅のノイズ信号に重畳して大振
幅のスパイク波形Ｓ1 ，Ｓ2 が表示される。画面上のス
パイク波形Ｓ1 ，Ｓ2 の高さにより、接触の程度の大き
さが判断され、磁気ディスク表面状態が検査できる。 【００１０】 【発明が解決しようとする課題】このように、従来の磁
気ディスク媒体の検査方法は、媒体とヘッドとの接触検
査に際し、圧電素子６からの出力情報のみを利用し、そ
の出力を実効値電圧計７に接続してそのレベルからトラ
ック方向に対する評価を行うため、接触が生じたトラッ
クは判明するが、円周方向についての位置は不明であ
り、正確な評価ができない。更に接触に際しての波形は
衝撃的に発生するのに対し、実効値電圧を読むためピー
ク値が判らず、実際の表面状態の評価に直結した正しい
データが得られない。 【００１１】一方、オシロスコープ８を利用した検査方
法は、トリガ信号とのタイミングから、円周方向の位置
を特定することは可能であるが、総てのシリンダ位置に
ついて行うことは、その膨大な測定点数からみて実用性
に欠ける。 【００１２】本発明の技術的課題は、従来の検査方法に
おけるこのような問題を解消し、検出手段から出力され
るスパイク状の波形のピーク値を正確に検出できるよう
にするとともに、接触が生じた位置をトラック方向のみ
ならず円周方向についても正確に特定し接触状態などの
検査結果を二次元的に把握可能とすることにある。 【００１３】 【課題を解決するための手段】図１は本発明による磁気
ディスク媒体の検査方法の基本原理を説明するための本
発明方法に用いられる装置の概要を示す図である。Ｄは
磁気ディスク装置であり、磁気ディスク、磁気ヘッド、
磁気ヘッド駆動用のアクチュエータ、これらの制御部な
どからなっている。Ｍはメモリ手段、Ｃは計算機であ
る。 【００１４】圧電素子などのような、磁気ディスク検査
用の検出手段の検出信号は、磁気ディスク装置の制御部
からメモリ手段Ｍに入力される。また検出手段のシリン
ダ方向位置を示す情報として、シーク情報すなわちシリ
ンダ情報を利用し、検出手段の円周方向の位置を示す情
報として、セクタ情報を利用する。更に検出手段のアク
セス状態を示すアクセス状態情報を利用する。 【００１５】そして、これらの情報を、メモリ手段Ｍに
入力して収集し、計算機Ｃにより処理することで、磁気
ディスクの状態を二次元的に表現し評価可能とする。な
お、検出手段の検出信号は、例えばフィルタにより雑音
成分をカットし、検出手段固有の振動数のみを通過させ
てスパイク波形を取り出し、このスパイク波形の大きさ
をコンパレータにより検出させてピーク値のみをレベル
情報として出力させることで得られる。 【００１６】またトラック情報であるシリンダ情報は、
例えばシリンダカウンタに、磁気ディスク装置Ｄの制御
部からトラック横断時に発生するトラッククロスパルス
とシーク方向情報を入力し、カウントすることで得られ
る。 【００１７】更にセクタ情報は、例えばセクタカウンタ
に、磁気ディスク装置Ｄの制御部からインデックスパル
スとセクターパルスを入力し、カウントすることで得ら
れる。更にまたアクセス状態情報は、例えば磁気ディス
ク装置Ｄの制御部からシーク時の加速状態や減速状態あ
るいはオントラック状態を示す情報を入力することで得
られる。 【００１８】本発明において、圧電素子が磁気ディスク
表面に接触したりして、検出信号が出力すると、メモリ
手段Ｍに入力され、そのときの磁気ヘッドのシリンダ上
の位置は、シリンダ情報で特定される。また円周方向の
位置は、セクタ情報で特定できる。 【００１９】アクセス状態情報は、磁気ヘッドのシーク
が加速状態か、減速状態か、オントラック状態かなどを
示す情報であり、これらの情報は、メモリ手段Ｍに入力
して収集され、計算機Ｃによって処理される。 【００２０】そのため、検査結果を二次元的に把握し
て、評価でき、磁気ディスクの何番めのシリンダ上の何
セクタめに、突起などが存在するのか、正確に欠陥など
の位置を検出できる。またアクセス状態情報を使用する
ことで、検出信号の発生と磁気ディスクの装置の動作と
の関係が判明する。 【００２１】 【発明の実施の形態】次に、本発明による磁気ディスク
媒体の検査方法が実際上どのように具体化されるかを図
２に基づき説明する。図２は本発明による磁気ディスク
媒体の検査方法の一実施形態に用いられる装置のシステ
ムを示す図である。 【００２２】このシステムは、磁気ディスク装置Ｄにお
ける磁気ヘッドが受ける機械的衝撃を検出する圧電素子
の出力レベル情報を得るために、コンパレータ９を有し
ている。なお、コンパレータ９と磁気ディスク装置Ｄと
の間には、帯域通過フィルタ10と増幅器11を有してい
る。 【００２３】また、ヘッド位置を特定するためのセクタ
情報を得るためのセクタカウンタ12およびシリンダ情報
を得るためのシリンダカウンタ（アップダウンカウン
タ）13を有している。更にこれら３つの情報とアクセス
の状態情報をメモリ素子Ｍに収集し、計算機Ｃにより処
理する。なお、磁気ディスク装置Ｄにおける磁気ヘッド
や圧電素子などの検出手段の構成は、図４の従来例と同
じなため、同図を用いて説明する。 【００２４】いま、図４の磁気ディスク１が回転すると
磁気ヘッド２が浮上するが、磁気ディスク１表面の突
起、あるいは磁気ヘッド２の浮上不安定などにより、磁
気ヘッド２が磁気ディスク１面に衝突することがある。
このとき、圧電素子６からは、この衝突に呼応してスパ
イク状の波形が出力されるが、一般的に雑音成分の多い
波形である。 【００２５】そこで、圧電素子６の固有振動数のみを通
過、増幅する帯域通過フィルタ10および増幅器11を設
け、雑音成分を除去するとともに、実際に衝突したとき
に生じるスパイク波形のみをコンパレータ９に出力す
る。 【００２６】コンパレータ９は、このスパイク波形の大
きさを検出するのであるが、例えば５段階にその大きさ
を分割し、レベル情報ＩL としてはピーク値を出力し、
スパイク波形の立ち下がり時における５段階レベルの最
低レベルを横切ったときに、メモリ素子Ｍにメモリロー
ド信号ＳL を出力する。 【００２７】このスパイク波形が出力されたとき、すな
わち磁気ディスク１と磁気ヘッド２が接触したときのタ
イミングがどこであったかを知るために、磁気ディスク
装置Ｄからセクタ信号とシリンダ信号を取り出すのであ
るが、実際にアクチュエータが動作している途中の情報
を収集する必要がある。 【００２８】通常、磁気ディスク装置Ｄにはレジスタを
内蔵していないため、セクタカウンタ12およびシリンダ
カウンタ13を設ける。セクタカウンタ12は、接触箇所が
円周上のどの位置に有るかを示すセクタ情報Ｉｓを出力
するもので、セクタパルスをクロック信号として用い、
インデックスパルスでクリアする。 【００２９】シリンダカウンタ13は、接触箇所のトラッ
ク方向の位置情報であるシリンダ情報Ｉｃを出力するも
ので、基本的にはアップダウンカウンタであり、トラッ
クを横切る際に発生するトラッククロスパルスをクロッ
ク信号とし、シーク時のアクセス方向情報によりアップ
・ダウンを切り換えている。 【００３０】更に、磁気ディスク装置Ｄからは、アクセ
ス状態情報１ａとしてアクチュエータがどういう状態に
あったか、すなわち加速状態か、減速状態か、あるいは
オントラック状態か等を知るために、アクチュエータを
動かしている制御回路の制御信号を取り出す。 【００３１】これら４つの情報、すなわちレベル情報Ｉ
L 、セクタ情報Ｉｓ、シリンダ情報Ｉｃ、およびアクセ
ス状態情報１ａが、前述のメモリロード信号ＳL により
メモリ素子Ｍに同時に記憶される。以後は計算機Ｃにお
いて、ソフトウエアにより、メモリ素子Ｍから定期的に
情報を取り込み、二次元的な情報に表現する。入力する
ことで得られる。 【００３２】図３は本発明による磁気ディスク媒体の検
査方法の他の実施形態に用いられる装置のシステムを示
す図である。 【００３３】このシステムは、能率的な接触監視を行う
ために、監視装置を最大16台に増加し、並行して媒体全
面評価を行おうとするものである。しかし図２に示すよ
うな、各種情報を処理する基本的な構成は１組で済ます
ため、各装置のヘッドに貼付されている圧電素子Po〜Pf
から出力されるアナログ信号は、アナログスキャナ14で
選択され、また各装置のヘッドの位置情報となるインデ
ックスパルス、セクタパルス、トラッククロスパルス、
シーク方向情報、およびアクセス状態情報は、デジタル
スキャナ15により選択されるもので、この選択は計算機
により制御される。以下各装置につき、前述と同様な動
作を順次行うことにより、媒体全面の接触監視を行うこ
とができる。 【００３４】 【発明の効果】以上のように本発明によれば、磁気ディ
スク媒体と磁気ヘッドとの接触を検出する検出手段より
出力された信号から、固有の振動数以上の振動波形を抽
出し、磁気ディスク媒体より得られるトラック情報およ
びセクタ情報から、磁気ディスク媒体上における前記振
動波形が抽出された位置を特定するとともに、磁気ヘッ
ドの状態を示すアクセス状態情報から、前記振動波形が
抽出された時のシーク状態が加速状態であったか、減速
状態であったか、或いはオントラック状態であったかを
特定するようにしたので、実際の表面状態の評価に直結
した正確なデータが得られる。このため、接触位置の特
定、発生頻度、接触強度などの二次元的な表示ができ、
後の評価を容易かつ正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による磁気ディスク媒体の検査方法の基
本原理を説明するための本発明方法に用いられる装置の
概要を示す図である。 【図２】本発明による磁気ディスク媒体の検査方法の一
実施形態に用いられる装置のシステムを示す図である。 【図３】本発明による磁気ディスク媒体の検査方法の他
の実施形態に用いられる装置のシステムを示す図であ
る。 【図４】従来の磁気ディスク媒体の検査方法の概要を示
す図である。 【符号の説明】 １ 磁気ディスク媒体 ２ 磁気ヘッド ６ 圧電素子（検出手段） ＩL レベル情報（検出手段の出力信号から抽出した振
動波形） Ｉｃ シリンダ情報（トラック情報） Ｉｓ セクタ情報 １ａ アクセス状態情報
本原理を説明するための本発明方法に用いられる装置の
概要を示す図である。 【図２】本発明による磁気ディスク媒体の検査方法の一
実施形態に用いられる装置のシステムを示す図である。 【図３】本発明による磁気ディスク媒体の検査方法の他
の実施形態に用いられる装置のシステムを示す図であ
る。 【図４】従来の磁気ディスク媒体の検査方法の概要を示
す図である。 【符号の説明】 １ 磁気ディスク媒体 ２ 磁気ヘッド ６ 圧電素子（検出手段） ＩL レベル情報（検出手段の出力信号から抽出した振
動波形） Ｉｃ シリンダ情報（トラック情報） Ｉｓ セクタ情報 １ａ アクセス状態情報
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(51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所
Ｇ１１Ｂ 21/21 Ｇ１１Ｂ 21/21 Ｎ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気ディスク媒体と磁気ヘッドとの接触を検出する検出
手段に基づき該磁気ディスク媒体と該磁気ヘッドとの接
触状態を検査する磁気ディスク媒体の検査方法であっ
て、 前記検出手段より出力された信号から、固有の振動数以
上の振動波形を抽出する工程と、 前記磁気ディスク媒体より得られるトラック情報および
セクタ情報から、該磁気ディスク媒体上における前記振
動波形が抽出された位置を特定する工程と、 前記磁気ヘッドの状態を示すアクセス状態情報から、前
記振動波形が抽出された時のシーク状態が加速状態であ
ったか、減速状態であったか、或いはオントラック状態
であったかを特定する工程と、を有することを特徴とす
る磁気ディスク媒体の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24510696A JPH09231502A (ja) | 1996-09-17 | 1996-09-17 | 磁気ディスク媒体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24510696A JPH09231502A (ja) | 1996-09-17 | 1996-09-17 | 磁気ディスク媒体の検査方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62166442A Division JPH0792882B2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | 磁気ディスク媒体の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09231502A true JPH09231502A (ja) | 1997-09-05 |
Family
ID=17128713
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24510696A Pending JPH09231502A (ja) | 1996-09-17 | 1996-09-17 | 磁気ディスク媒体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09231502A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7511906B2 (en) | 2006-02-28 | 2009-03-31 | Fujitsu Limited | Disk device and method of controlling the disk device |
| JPWO2009150794A1 (ja) * | 2008-06-13 | 2011-11-10 | ローム株式会社 | モータ駆動回路 |
-
1996
- 1996-09-17 JP JP24510696A patent/JPH09231502A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7511906B2 (en) | 2006-02-28 | 2009-03-31 | Fujitsu Limited | Disk device and method of controlling the disk device |
| JPWO2009150794A1 (ja) * | 2008-06-13 | 2011-11-10 | ローム株式会社 | モータ駆動回路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19991207 |