JPH09236984A - 現像剤担持体及びこれを用いた現像装置 - Google Patents

現像剤担持体及びこれを用いた現像装置

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JPH09236984A JP8069333A JP6933396A JPH09236984A JP H09236984 A JPH09236984 A JP H09236984A JP 8069333 A JP8069333 A JP 8069333A JP 6933396 A JP6933396 A JP 6933396A JP H09236984 A JPH09236984 A JP H09236984A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 環境安定性に優れ、現像ゴーストなどの画質
欠陥のない良好な画質を得ることができ且つ安価な現像
剤担持体及びそれを用いた現像装置を提供する。 【解決手段】 円筒状の支持体1と該支持体1の外周面
が被覆されるコート層2とを備え、該コート層2表面に
現像剤を担持する現像剤担持体3において、前記コート
層2が導電性微粒子を含有した樹脂層であり、該樹脂層
の結着樹脂は架橋前重量平均分子量が3,000〜5,
000の範囲のフェノール樹脂であることを特徴とす
る。また、これを用いた現像装置を提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子写真感光体、
静電記録誘電体などの像担持体上に形成された潜像を現
像して可視化するための現像装置に係り、特に、磁性一
成分現像方式の現像剤担持体及びその現像剤担持体を用
いた現像装置の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来において、乾式磁性一成分現像剤の
帯電量を制御するための物質、乾式シリカを現像剤に外
添することは知られている。このような現像剤を用いた
現像装置については、例えば、スリーブ上に現像剤薄層
を形成して現像した場合、シリカ未外添の現像剤を使用
した場合と比較して、画像濃度が上がり、かつ、がさつ
きのない画像が得られることは広く知られていることで
ある。
【0003】一方、前記現像剤による現像性を良好に保
つために現像装置についても種々の提案がなされてい
る。例えば、特開昭63−311367号公報には、1
9〜1013Ω・cmの抵抗の樹脂層を表面上に設けた
現像剤担持体が開示されている。また、特開平4−16
6864号公報には、グラファイトと正帯電樹脂粒子と
を有する現像剤担持体が開示されている。更に、特開平
4−246676号公報には表面研磨処理により表面粗
さを規定した現像剤担持体が開示されている。また、特
開平6−289697号公報には現像剤の層厚規制部材
に振動電界をかけることを特徴とする現像装置が開示さ
れている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開昭
63−311367号公報所載の現像剤担持体にあって
は、現像剤担持体表面の抵抗が高く、例えば負極性現像
剤に強い負極性シリカを外添した現像剤では現像剤担持
体上にプリントパターンの履歴である現像ゴーストが生
じやすい。また、特開平4−166864号公報所載の
現像剤担持体にあっては、正帯電樹脂粒子の含有量が限
られるために、正帯電樹脂粒子の分散の程度が不均一に
なりやすい。このため、正帯電樹脂粒子による表面コー
ト層の抵抗に不均一化が生じ、バイアスリークや現像ゴ
ーストが生じやすくなる。更に、特開平4−24667
6号公報所載の現像剤担持体にあっては、表面研磨処理
をすることで現像剤担持体表面が平滑になり、これによ
り現像剤の搬送量が減少し、画像濃度が低下するという
技術的課題が生ずる。
【0005】また、特開平6−289697号公報所載
の現像装置にあっては、現像剤の層厚規制部材に振動電
界を作用させ、画像濃度の低下、非画像部のカブリ、現
像ゴーストの発生を抑えるというものであるが、振動電
界をかけるための装置の必要性からコストの上昇を招い
てしまうという根本的な技術的課題がある。
【0006】本発明は以上の技術的課題を解決するため
になされたものであって、その目的は、現像剤担持体表
面構成を単に工夫することにより、現像ゴーストなどの
画質欠陥のない良好な画質を得ることができ且つ安価な
現像剤担持体及びそれを用いた現像装置を提供すること
にある。更に、本発明においては、高温高湿及び低温低
湿な環境においても良好な画質を得ることができる環境
安定性を有し、繰り返し使用を行っても現像剤の固着な
どのフィルミングを発生しない耐久性に優れた現像剤担
持体及びそれを用いた現像装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、図
1に示すように、円筒状の支持体1と該支持体1の外周
面が被覆されるコート層2とを備え、該コート層2表面
に現像剤を担持する現像剤担持体3において、前記コー
ト層2が導電性微粒子を含有した樹脂層であり、該樹脂
層の結着樹脂は架橋前重量平均分子量が3,000〜
5,000の範囲のフェノール樹脂であることを特徴と
するものである。
【0008】このような技術的手段において、本発明に
おける現像剤担持体3は、少なくとも円筒状の支持体1
及びコート層2からなるスリーブを備えていればよく、
内部に設置される磁界生成用の磁石部材の形状やその設
置状態(固定,回転)、あるいは、磁極の配列パターン
などについては適宜設計変更して差し支えない。
【0009】また、現像剤担持体3の表面は、導電性微
粒子を含有した樹脂層を有しているが、このときの導電
性微粒子として次のようなものが挙げられる。例えば、
カーボンブラック、グラファイト、カーボンファイバな
どの炭素化合物、また銅、銀などの金属粉、導電性チタ
ン酸カリウムなどの導電性ウイスカなどといったものが
挙げられる。
【0010】更に、本発明におけるフェノール樹脂は、
架橋前重量平均分子量Mwが3,000〜5,000で
あるものが好ましい。架橋前重量平均分子量Mwが3,
000より少ないと、導電性微粒子の分散性が悪くな
り、適切な抵抗値が得られなくなる。また、架橋前重量
平均分子量Mwが5,000を越えてしまうと、導電性
微粒子に樹脂が吸着しにくくなり、導電性微粒子が凝集
しやすくなってしまい、適切な抵抗値が得られなくな
る。
【0011】更にまた、前記フェノール樹脂の架橋前重
量平均分子量Mwと架橋後の現像剤担持体3の表面粗さ
としての有効線長さSRlr(断面曲線の全長を区間長
さで除したもの(%表示))との関係を調べたところ、
架橋前重量平均分子量Mwが増加するに従って前記有効
線長さSRlrが反比例的に減少することが確認され、
フェノール樹脂の架橋前重量平均分子量Mwが3,00
0である条件下で架橋後の現像剤担持体3の表面粗さと
しての有効線長さSRlrは108.00であることが
判明した。従って、本発明において、フェノール樹脂の
架橋前重量平均分子量Mwが3,000〜5,000で
あることは、架橋後の現像剤担持体3の表面粗さが有効
線長さSRlrで108.00以下であることに相当す
るものである。
【0012】また、本発明は、図1の現像剤担持体3を
有し、該現像剤担持体3の表面に現像剤を担持して潜像
担持体5上の静電潜像が現像される現像位置に前記現像
剤を搬送する現像装置をも対象とする。
【0013】そして、このような現像装置は、一般に、
現像剤担持体3上の現像剤層厚が規制される層厚規制部
材4を有するが、この層厚規制部材4としてはウレタン
ゴムからなる弾性体で、その硬度がJIS−Aで55゜
〜75゜であることが好ましい。ゴム硬度が75゜を超
えると、現像剤の層形成が悪化し、現像に必要な現像剤
を搬送することができなくなり、画質上濃度むらが生じ
てしまう。また、ゴム硬度が55゜未満であると、柔ら
かいために傷がつき、それにより画質上白筋が発生して
しまう。
【0014】次に、上述したような技術的手段の作用に
ついて説明する。本発明の現像剤担持体3は、導電性微
粒子を含有した樹脂層からなるコート層2を有し、前記
樹脂層の結着樹脂については架橋前重量平均分子量Mw
が3,000〜5,000の範囲のフェノール樹脂を使
用したものである。このとき、結着樹脂であるフェノー
ル樹脂が均一に分散するため、導電性微粒子が凝集する
ことなく、導電性微粒子の分散性が良好に保たれること
になり、適切な抵抗値が得られる。
【0015】尚、本発明はコート層2が導電性微粒子を
含有した樹脂層であり、該樹脂層の結着樹脂として架橋
前重量平均分子量Mwが3,000〜5,000の範囲
のフェノール樹脂を使用したものに限定したが、他の結
着樹脂(アクリル樹脂、キシレン樹脂、フッ素樹脂、シ
リコン樹脂、ポリエステル樹脂など)についても、架橋
前重量平均分子量Mwを樹脂固有の範囲に選定すれば、
本発明と同様な作用を奏する可能性があるものと思料さ
れる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に示す実施の形態
に基づいてこの発明を詳細に説明する。図2は本発明が
適用された現像装置の実施の一形態を示す。同図におい
て、現像装置は、感光ドラム等の潜像担持体11に対向
して開口する現像ハウジング21を有し、この現像ハウ
ジング21内には磁性一成分現像剤(乾式シリカを外
添)を収容すると共に、現像ハウジング21の開口に面
した箇所に現像剤担持体(現像ロール)22を配設した
ものである。本実施の形態において、現像剤担持体22
は、回転可能な円筒状スリーブ23と、この円筒状スリ
ーブ23内に固定設置され且つ複数の磁極241が配列
されて現像剤搬送用の磁力パターンが形成される磁石ロ
ール24とで構成されている。
【0017】ここで、円筒状スリーブ23としては例え
ば次のようなものが用いられる。すなわち、円筒状スリ
ーブ23は、例えば支持体としてのアルミニウム管23
1に以下の組成の樹脂液をスプレー塗布した後に、熱乾
燥炉にて加熱硬化させてコート層232としたものであ
る。 ●樹脂液の組成 結着樹脂:架橋前平均分子量Mwが3,000〜5,0
00のフェノール樹脂 導電性微粒子:カーボンブラック、グラファイト等の公
知材料 希釈液:プロピレングリコールモノメチルエーテル、イ
ソプロピルアルコールなどの公知材料
【0018】尚、円筒状スリーブ23の製造法について
は、例えばディップコート、ロールコートのような他の
公知の手法を用いることができることは勿論である。
【0019】また、現像ハウジング21には現像剤の層
厚規制部材25の基端が取付けられており、層厚規制部
材25が所定の弾性力にて現像剤担持体22に接触配置
され、現像剤担持体22上の現像剤の層厚を規制するよ
うになっている。本実施の形態において、層厚規制部材
25としてはウレタンゴムからなるゴムブレードが用い
られており、使用するウレタンゴムの硬度はJIS−A
(アスカC)で55゜〜75゜の範囲のものである。
尚、本実施の形態では、層厚規制部材25の自由端が現
像剤担持体22の回転方向に対向するドクタブレード方
式を用いているが、層厚規制部材25の自由端が現像剤
担持体22の回転方向に沿ったワイパブレード方式を用
いても差し支えない。
【0020】本実施の形態によれば、後述する実施例及
び比較例の結果からも明らかなように、フェノール樹脂
の架橋前重量平均分子量Mwを3,000〜5,000
の範囲にすることで導電性微粒子の分散性を上げ、凝集
を防ぎ、適切な抵抗値を得ることができ、優れた画質の
画像が得られた。また、層厚規制部材25をJIS−A
(アスカC)で55゜〜75゜の範囲のウレタンゴムと
することで、濃度むら及び白筋のない優れた画質の画像
が得られた。
【0021】
【実施例】以下、本実施の形態の実施例及び比較例につ
いて詳細に説明する。 ◎実施例1 本実施例1では、アルミニウム管に以下の組成の樹脂液
をスプレー塗布した。 ●樹脂液の組成 結着樹脂:フェノール樹脂(Mw=3200) 100重量部 導電性微粒子:カーボンブラック 20重量部 :グラファイト 50重量部 希釈剤:プロピレングリコールモノメチルエーテル 100重量部 :イソプロピルアルコール 150重量部 前記樹脂液をサンドミルにて分散を行い、スプレーにて
アルミニウム管上に塗布した。そして、熱乾燥炉で16
0°Cで30分間加熱硬化し、本発明に係る現像剤担持
体とした。このときの現像剤担持体の抵抗率は7.7×
10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは1.1μmであっ
た。また、現像剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの
硬度は58゜のものを用いた。実験環境は常温常湿、低
温低湿、高温高湿とし、各環境において前記現像剤担持
体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタFX410
9に組み込み、プリントテストを行った。そして、プリ
ントサンプルにおいて画像濃度はX−Rite社製Mo
del404Aで測定し、現像ゴーストは目視にて評価
を行った。
【0022】◎実施例2 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを4,200とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は11.2×10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.3μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は65゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0023】◎実施例3 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを4,500とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は9.5×10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.4μmであった。また、現像剤層厚規制部材である
ウレタンゴムの硬度は70゜のものを用いた。 この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0024】◎実施例4 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを4,800とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は1.35×10-1(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.5μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は73゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0025】◎実施例5 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを3,800とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は8.6×10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.8μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は68゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0026】◎実施例6 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを3,200とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は4.7×10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.1μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は72゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0027】◎実施例7 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを3,500とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は7.5×10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.3μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は58゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0028】◎実施例8 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを3,900とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は9.9×10-2(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.4μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は70゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0029】◎実施例9 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを4,500とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は1.3×10-1(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.6μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は63゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0030】◎実施例10 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを4,900とし、サンドミルに
て分散を行い、スプレー塗布、加熱硬化させ、本発明に
係る現像剤担持体とした。このときの現像剤担持体の抵
抗率は1.8×10-1(Ω・cm)、表面粗さRaは
1.7μmであった。また、現像剤の層厚規制部材であ
るウレタンゴムの硬度は74゜のものを用いた。この現
像剤担持体及び現像剤層厚規制部材をレーザプリンタF
X4109に組み込み、実施例1と同様な画質評価を行
った。
【0031】◎比較例1 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを2,400とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は2.1×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは2.1μmであった。 また、現
像剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は81゜
のものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制
部材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例
1と同様な画質評価を行った。
【0032】◎比較例2 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを5,200とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は3.2×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは2.0μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は79゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0033】◎比較例3 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを2,200とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は1.2×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは2.1μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は66゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0034】◎比較例4 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを3,600とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は1.5×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは2.2μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は84゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0035】◎比較例5 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを5,300とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は2.5×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは2.2μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は58゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0036】◎比較例6 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを4,000とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は1.16×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは1.2μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は44゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0037】◎比較例7 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを2,400とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は2.1×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは2.1μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は49゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0038】◎比較例8 実施例1に示した材料において、フェノール樹脂の架橋
前重量平均分子量Mwを5,800とし、実施例1と同
様にしてサンドミルにて分散を行い、スプレー塗布、加
熱硬化させ、本発明に係る現像剤担持体とした。このと
きの現像剤担持体の抵抗率は7.7×100(Ω・c
m)、表面粗さRaは0.5μmであった。また、現像
剤の層厚規制部材であるウレタンゴムの硬度は50゜の
ものを用いた。この現像剤担持体及び現像剤層厚規制部
材をレーザプリンタFX4109に組み込み、実施例1
と同様な画質評価を行った。
【0039】以上のような実施例1〜10及び比較例1
〜8の画質評価結果を以下の表1に示す。尚、同表にお
いて、◎,○,△,×は、 ◎:画質欠陥が殆ど見られなかったもの ○:画質欠陥が僅かに見られたもの △:画質欠陥が見られるが実用上問題がないもの ×:はっきりと画質欠陥が見られたもの を夫々示す。
【0040】
【表1】
【0041】また、表1において、フェノール樹脂の架
橋前重量平均分子量Mwと画像濃度(光学濃度)との関
係を調べた結果を図3に示す。尚、図3の網点領域は架
橋前重量平均分子量Mwが3,000〜5,000の範
囲で画像濃度が1.3以上である領域を示す。更に、表
1において、フェノール樹脂の架橋前重量平均分子量M
wと現像ゴーストの発生の有無との関係について調べた
結果を図4に示す。尚、図4の網点領域は架橋前重量平
均分子量Mwが3,000〜5,000の範囲で現像ゴ
ーストが発生しないことを示す。
【0042】表1及び図3,4からも明らかなように、
各実施例1〜10(フェノール樹脂の架橋前重量平均分
子量Mwが3,000〜5,000,層厚規制部材のゴ
ム硬度55゜〜75゜)においては、各環境下で現像剤
に適切な帯電量を付与することができ、画像濃度、現像
ゴースト及びリークは実用上問題ない結果であった。特
に、実施例2(Mw=4,200/硬度65゜)、実施
例3(Mw=4,500/硬度70゜)、実施例7(M
w=3,500/硬度58゜)、実施例8(Mw=3,
900/硬度70゜)、実施例9(Mw=4,500/
硬度63゜)では、高温高湿下においても高画像濃度を
示した。また、低温低湿下における現像ゴーストもほと
んど発生することがなく、非常に優れた結果となった。
以上の各実施例の結果より、フェノール樹脂の架橋前重
量平均分子量が3,500〜4,500の範囲であり、
ウレタンゴムのゴム硬度が60〜70゜の範囲であるも
のを用いた現像装置とすることが望ましい。
【0043】また、各実施例及び各比較例において、フ
ェノール樹脂の架橋前重量平均分子量Mwと架橋後の現
像剤担持体の表面粗さとしての有効線長さSRlrとの
関係を調べたところ、図6に示すような結果が得られ
た。ここで、表面粗さとしての有効線長さSRlrは、
図5に示すように、断面曲線の全長aを区間長さbで除
したものを%表示したものである。
【0044】同図によれば、フェノール樹脂の架橋前重
量平均分子量Mwが増加するにつれて、表面粗さとして
の有効線長さSRlrが反比例的に減少する傾向にある
ことが確認された。このとき、Mw=3,000のとき
SRlr=108.00という結果が得られたため、少
なくともフェノール樹脂の架橋前重量平均分子量Mwが
3,000〜5,000のものを使用した場合には、表
面粗さとしての有効線長さSRlrが108.00以下
になっていることが理解される。
【0045】更に、フェノール樹脂の架橋前重量平均分
子量Mwが3,000,3,800,4,500のもの
を使用した現像剤担持体の表面状態について走査電子顕
微鏡(SEM)にて10.0k(1万)倍の2次電子像
(0゜方向(真上方向))を撮影したところ、図7
(a),図8(a),図9(a)に示すような結果が得
られた。また、各場合の現像剤担持体の表面状態をRD
−500形三次元形状解析装置((株)電子光学研究
所)にて解析したところ、図7(b),図8(b),図
9(b)に示すような結果が得られた。
【0046】これらの図7〜図9によれば、導電性微粒
子(図中白色部分が相当)が凝集することなく、均一に
分散していることが理解され、また、現像剤担持体の表
面粗さがMwの増加に伴って次第に低減していることも
理解される。
【0047】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明に係る
現像剤担持体によれば、導電性微粒子の結着樹脂とし
て、架橋前重量平均分子量が3,000〜5,000で
あるフェノール樹脂を用いたので、現像剤担持体の表面
コート層として、導電性微粒子を凝集させることなく、
均一に分散させて適切な抵抗値を容易に得ることが可能
である。このため、現像剤に適正な帯電量を均一に付与
することができ、リークや現像ゴーストの発生がなく、
均一で濃度ムラのない高画質の画像を確実に得ることが
できる。特に、本発明に係る現像剤担持体又はこれを用
いた現像装置は、低温低湿下でもリークや現像ゴースト
を効果的に防ぐことができ、高温高湿下における高画像
濃度を保つことができるという優れた画像濃度環境安定
性を有している。従って、環境変化に影響されることな
く、画像濃度を十分に確保することができ、しかも、リ
ークや現像ゴーストの発生を抑え、均一で濃度ムラのな
い高画質の画像を得ることができる。
【0048】また、本発明において、フェノール樹脂の
架橋前重量平均分子量が3,000〜5,000という
要件は、架橋後の現像剤担持体の表面粗さとして有効線
長さが予め決められた所定値以下であるという要件に相
当するので、架橋後においては、現像剤担持体の表面粗
さとして有効線長さをパラメータとして、リークや現像
ゴーストの発生の有無、画像濃度の適否についてある程
度評価することができる。
【0049】更に、本発明の現像装置において、現像剤
の層厚規制部材として、JIS−A(アスカC)で55
゜〜75゜の範囲のウレタンゴムを使用するようにすれ
ば、層厚規制部材による規制動作に伴う濃度むらや白筋
といった画質欠陥を確実に回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る現像剤担持体及びこれを用いた
現像装置を示す説明図である。
【図2】 本発明が適用された現像装置の実施の一形態
を示す説明図である。
【図3】 現像剤担持体の表面コート層におけるフェノ
ール樹脂の架橋前重量平均分子量と画像濃度との関係を
示すグラフ図である。
【図4】 現像剤担持体の表面コート層におけるフェノ
ール樹脂の架橋前重量平均分子量と現像ゴーストとの関
係を示すグラフ図である。
【図5】 現像剤担持体の表面粗さとしての有効線長さ
SRlrを示す説明図である。
【図6】 現像剤担持体の表面コート層におけるフェノ
ール樹脂の架橋前重量平均分子量と現像剤担持体の表面
粗さとしての有効線長さSRlrとの関係を示すグラフ
図である。
【図7】 (a)はフェノール樹脂の架橋前重量平均分
子量が3,000である現像剤担持体の表面状態を走査
電子顕微鏡にて撮影した図面代用写真、(b)はその表
面状態をRD−500形三次元形状解析装置で解析した
図面代用写真である。
【図8】 (a)はフェノール樹脂の架橋前重量平均分
子量が3,800である現像剤担持体の表面状態を走査
電子顕微鏡にて撮影した図面代用写真、(b)はその表
面状態をRD−500形三次元形状解析装置で解析した
図面代用写真である。
【図9】 (a)はフェノール樹脂の架橋前重量平均分
子量が4,500である現像剤担持体の表面状態を走査
電子顕微鏡にて撮影した図面代用写真、(b)はその表
面状態をRD−500形三次元形状解析装置で解析した
図面代用写真である。
【符号の説明】
1…支持体,2…コート層,3…現像剤担持体,4…層
厚規制部材,5…潜像担持体,11…潜像担持体,22
…現像剤担持体,23…円筒状スリーブ,231…アル
ミニウム管,232…コート層,25…層厚規制部材

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円筒状の支持体(1)と該支持体(1)
    の外周面が被覆されるコート層(2)とを備え、該コー
    ト層(2)表面に現像剤を担持する現像剤担持体(3)
    において、 前記コート層(2)は導電性微粒子を含有した樹脂層で
    あり、該樹脂層の結着樹脂は架橋前重量平均分子量が
    3,000〜5,000の範囲のフェノール樹脂である
    ことを特徴とする現像剤担持体。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の現像剤担持体(3)にお
    いて、現像剤担持体(3)の表面粗さが有効線長さSR
    lrで108.00以下であることを特徴とする現像剤
    担持体。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の現像剤担持体(3)を有
    し、該現像剤担持体(3)の表面に現像剤を担持して潜
    像担持体(5)上の静電潜像が現像される現像位置に前
    記現像剤を搬送する現像装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の現像装置において、現像
    剤担持体(3)上の現像剤層厚が規制される層厚規制部
    材(4)を有し、該層厚規制部材(4)がウレタンゴム
    からなる弾性体であり、その硬度がJIS−Aで55゜
    〜75゜であることを特徴とする現像装置。
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