JPH0943302A - 絶縁試験方法およびその装置 - Google Patents
絶縁試験方法およびその装置Info
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- JPH0943302A JPH0943302A JP7197353A JP19735395A JPH0943302A JP H0943302 A JPH0943302 A JP H0943302A JP 7197353 A JP7197353 A JP 7197353A JP 19735395 A JP19735395 A JP 19735395A JP H0943302 A JPH0943302 A JP H0943302A
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- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型モータなどの巻線レヤショートを最小ダ
メージで検出する。 【構成】 巻線の絶縁状態を検査するのに、インパルス
電圧試験において、印加するインパルス電圧を０Ｖから
順次増大させながら印加し、供試巻線がインパルス電圧
に耐えられなくなった瞬間、すなわち故障モードになっ
た瞬間に上昇中のインパルス電圧を停止させ、同時にそ
の時のインパルス電圧を読みとることにより供試巻線に
加わるダメージを最小限にとどめ、かつ耐インパルス電
圧値を容易に測定することを可能とするインパルス電圧
発生装置。
メージで検出する。 【構成】 巻線の絶縁状態を検査するのに、インパルス
電圧試験において、印加するインパルス電圧を０Ｖから
順次増大させながら印加し、供試巻線がインパルス電圧
に耐えられなくなった瞬間、すなわち故障モードになっ
た瞬間に上昇中のインパルス電圧を停止させ、同時にそ
の時のインパルス電圧を読みとることにより供試巻線に
加わるダメージを最小限にとどめ、かつ耐インパルス電
圧値を容易に測定することを可能とするインパルス電圧
発生装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は小型モータ，トランスな
どの巻線部分の絶縁状態の欠陥を試験するために供する
絶縁試験装置である。
どの巻線部分の絶縁状態の欠陥を試験するために供する
絶縁試験装置である。
【０００２】
【従来の技術】一般に、小型モータ，トランスが使用中
に巻線の絶縁破壊から寿命をきたす主な原因としては、
巻線のマグネットワイヤーの絶縁被覆の傷がもとで、マ
グネットワイヤとマグネットワイヤ間で絶縁破壊する局
部的破壊（いわゆるレヤショート）と巻線と鉄心の間を
絶縁している絶縁紙の欠陥から生じる絶縁破壊（いわゆ
る接地短絡）からの異常電流により、焼損にいたらしめ
るものがある。
に巻線の絶縁破壊から寿命をきたす主な原因としては、
巻線のマグネットワイヤーの絶縁被覆の傷がもとで、マ
グネットワイヤとマグネットワイヤ間で絶縁破壊する局
部的破壊（いわゆるレヤショート）と巻線と鉄心の間を
絶縁している絶縁紙の欠陥から生じる絶縁破壊（いわゆ
る接地短絡）からの異常電流により、焼損にいたらしめ
るものがある。
【０００３】従来この種の絶縁状態を試験するための代
表的な方法としてはインパルス電圧試験法がある。
表的な方法としてはインパルス電圧試験法がある。
【０００４】以下に従来のインパルス電圧試験法につい
て説明する。図３は従来のインパルス電圧試験法の回路
図である。図３において、インパルス電圧発生装置１
と、インパルス電圧極性切り替えスイッチ２と、供試巻
線３０と標準巻線３２が直列に接続された被測定体３
と、波形観測をするためのオシロスコープ４により構成
されている。
て説明する。図３は従来のインパルス電圧試験法の回路
図である。図３において、インパルス電圧発生装置１
と、インパルス電圧極性切り替えスイッチ２と、供試巻
線３０と標準巻線３２が直列に接続された被測定体３
と、波形観測をするためのオシロスコープ４により構成
されている。
【０００５】（インパルス電圧発生装置）商用電源１１
は電圧調整器１２により、昇圧トランス１３で昇圧され
た後の電圧が０から３０００Ｖの間の所定の電圧となる
ように調整される。昇圧された電圧は、ダイオード１４
により半波整流された後コンデンサ１５に直流高電圧と
してチャージされる。ここで、ダイオード１４の半波整
流非充電期間にインパルストリガー発生回路１８からト
リガーパルスが発生しＳＣＲ１６を導通状態にすること
でインパルス電圧が出力される。抵抗１７はＳＣＲ１６
を安定に動作させるための負荷抵抗である。
は電圧調整器１２により、昇圧トランス１３で昇圧され
た後の電圧が０から３０００Ｖの間の所定の電圧となる
ように調整される。昇圧された電圧は、ダイオード１４
により半波整流された後コンデンサ１５に直流高電圧と
してチャージされる。ここで、ダイオード１４の半波整
流非充電期間にインパルストリガー発生回路１８からト
リガーパルスが発生しＳＣＲ１６を導通状態にすること
でインパルス電圧が出力される。抵抗１７はＳＣＲ１６
を安定に動作させるための負荷抵抗である。
【０００６】このようにして発生させたインパルス電圧
の波形を図４に示す。 （インパルス電圧極性切り替えスイッチ）インパルス電
圧発生装置１から出力されたインパルス電圧はインパル
ス電圧極性切り替えスイッチ２により極性が交互に切り
替わるようにスイッチングされて被測定体３へ出力され
る。
の波形を図４に示す。 （インパルス電圧極性切り替えスイッチ）インパルス電
圧発生装置１から出力されたインパルス電圧はインパル
ス電圧極性切り替えスイッチ２により極性が交互に切り
替わるようにスイッチングされて被測定体３へ出力され
る。
【０００７】（被測定体）被測定体３は供試巻線３０と
標準巻線３２が直列に接続されており、供試巻線３０と
標準巻線３２の接続点にはオシロスコープ４が接続され
ている。また各々の巻線の鉄心３１，３３はそれぞれ接
地されている。
標準巻線３２が直列に接続されており、供試巻線３０と
標準巻線３２の接続点にはオシロスコープ４が接続され
ている。また各々の巻線の鉄心３１，３３はそれぞれ接
地されている。
【０００８】インパルス電圧極性切り替えスイッチ２か
ら出力されたインパルス電圧は最初に供試巻線３０から
入り標準巻線３２に到達の後消滅する。この時オシロス
コープ４には標準巻線３２の両端に現れる過渡電圧波形
が観測される。
ら出力されたインパルス電圧は最初に供試巻線３０から
入り標準巻線３２に到達の後消滅する。この時オシロス
コープ４には標準巻線３２の両端に現れる過渡電圧波形
が観測される。
【０００９】次にインパルス電圧極性切り替えスイッチ
２が反転し、インパルス電圧は標準巻線３２から入り供
試巻線３０に到達の後消滅する。この時オシロスコープ
４には供試巻線３０の両端に現れる過渡電圧波形が観測
されるのでオシロスコープ４の画面には標準巻線３２と
供試巻線３０の両端にそれぞれ現れる過渡電圧波形が重
なって表示されることになる。
２が反転し、インパルス電圧は標準巻線３２から入り供
試巻線３０に到達の後消滅する。この時オシロスコープ
４には供試巻線３０の両端に現れる過渡電圧波形が観測
されるのでオシロスコープ４の画面には標準巻線３２と
供試巻線３０の両端にそれぞれ現れる過渡電圧波形が重
なって表示されることになる。
【００１０】この時、供試巻線３０が健全であれば標準
巻線３２と供試巻線３０の両端に現れる過渡電圧波形は
同一の波形となりオシロスコープ４の画面には１つの波
形として観測される。
巻線３２と供試巻線３０の両端に現れる過渡電圧波形は
同一の波形となりオシロスコープ４の画面には１つの波
形として観測される。
【００１１】また、供試巻線３０に接地短絡，レヤショ
ートなどが発生した場合には標準巻線３２と供試巻線３
０の両端に現れる過渡電圧波形は異なってくるのでオシ
ロスコープ４の画面には２つの波形として観測されるこ
とになり供試巻線３０の接地短絡，レヤショートを検出
することができる。
ートなどが発生した場合には標準巻線３２と供試巻線３
０の両端に現れる過渡電圧波形は異なってくるのでオシ
ロスコープ４の画面には２つの波形として観測されるこ
とになり供試巻線３０の接地短絡，レヤショートを検出
することができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、インパルス電圧値をあらかじめ所定の電圧
に設定しておいて、この電圧値に対して供試巻線が耐え
られるかどうかを判定するもので、たとえばインパルス
電圧値を２０００Ｖに設定した場合、供試巻線が２００
０Ｖに耐えられれば合格、２０００Ｖで接地短絡，レヤ
ショートが発生すれば不合格と判定する。すなわち合否
の判定は可能であるが供試巻線が何Ｖのインパルス電圧
で初めて絶縁破壊を起こすかを知ることは困難であっ
た。
の構成では、インパルス電圧値をあらかじめ所定の電圧
に設定しておいて、この電圧値に対して供試巻線が耐え
られるかどうかを判定するもので、たとえばインパルス
電圧値を２０００Ｖに設定した場合、供試巻線が２００
０Ｖに耐えられれば合格、２０００Ｖで接地短絡，レヤ
ショートが発生すれば不合格と判定する。すなわち合否
の判定は可能であるが供試巻線が何Ｖのインパルス電圧
で初めて絶縁破壊を起こすかを知ることは困難であっ
た。
【００１３】また、供試巻線に加えるインパルス電圧に
よるストレスを最小限にとどめたい場合、たとえば修復
可能な程度の傷は検査によって発見し、修復後再びライ
ンに投入したい場合にも検査によって必要以上のダメー
ジが与えられてしまい対応が不可能であるという問題点
を有していた。
よるストレスを最小限にとどめたい場合、たとえば修復
可能な程度の傷は検査によって発見し、修復後再びライ
ンに投入したい場合にも検査によって必要以上のダメー
ジが与えられてしまい対応が不可能であるという問題点
を有していた。
【００１４】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、供試巻線に必要以上のダメージを与えないで、かつ
供試巻線の絶縁耐力を具体的な電圧値で測定することを
可能とする絶縁試験方法および装置を提供することを目
的としている。
で、供試巻線に必要以上のダメージを与えないで、かつ
供試巻線の絶縁耐力を具体的な電圧値で測定することを
可能とする絶縁試験方法および装置を提供することを目
的としている。
【００１５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、供試巻線に繰り返し印加するインパルス電
圧の電圧値を時間の経過とともに上昇させ、一方で供試
巻線の巻線両端電圧を監視することにより供試巻線の絶
縁破壊を検出し、絶縁破壊を検出したら直ちにインパル
ス電圧の印加を停止し、同時に絶縁破壊に至った時点の
インパルス電圧の電圧値を測定してメモリーに蓄え、イ
ンパルス電圧の停止後データとして取り出すという構成
を有している。
に本発明は、供試巻線に繰り返し印加するインパルス電
圧の電圧値を時間の経過とともに上昇させ、一方で供試
巻線の巻線両端電圧を監視することにより供試巻線の絶
縁破壊を検出し、絶縁破壊を検出したら直ちにインパル
ス電圧の印加を停止し、同時に絶縁破壊に至った時点の
インパルス電圧の電圧値を測定してメモリーに蓄え、イ
ンパルス電圧の停止後データとして取り出すという構成
を有している。
【００１６】
【作用】この構成によって、供試コイルに印加されるイ
ンパルス電圧は０Ｖまたは充分に低い電圧から徐々に上
昇していき、最初に発生した絶縁破壊を検出すると直ち
にインパルス電圧の印加を停止するので供試コイルに与
えるダメージを必要最小限にとどめることができる。ま
た、インパルス電圧の印加を停止したときのインパルス
電圧値を知ることができるので供試巻線の絶縁耐力を具
体的な数値で測定することができる。
ンパルス電圧は０Ｖまたは充分に低い電圧から徐々に上
昇していき、最初に発生した絶縁破壊を検出すると直ち
にインパルス電圧の印加を停止するので供試コイルに与
えるダメージを必要最小限にとどめることができる。ま
た、インパルス電圧の印加を停止したときのインパルス
電圧値を知ることができるので供試巻線の絶縁耐力を具
体的な数値で測定することができる。
【００１７】
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【００１８】図１は本発明の一実施例におけるインパル
ス電圧発生装置の構成を示すものである。図２は本発明
の一実施例におけるインパルス電圧Ｖｐと直流電圧Ｖｏ
と同期信号のタイミングチャートである。図１におい
て、１１は商用電源で、５１は商用電源の交流電圧を直
流電圧に変換するための整流回路である。５２は整流回
路５１から出力された直流電圧を０Ｖから所定の電圧ま
で時間とともに上昇させるための電圧制御回路であり、
実施例の場合はパワートランジスタを用いたシリーズレ
ギュレータを使用している。５３は電圧制御回路５２か
ら出力された直流電圧をチョッピングしてパルス電圧に
変換するためのスイッチング手段で実施例の場合はパワ
ーＭＯＳＦＥＴを使用している。１３はスイッチング手
段５３で変換されたパルス電圧を昇圧するための昇圧ト
ランスである。１４は昇圧トランス１３で昇圧されたパ
ルス電圧を再び高圧の直流電圧に変換するためのダイオ
ードである。１５はダイオード１４によって整流された
高圧直流電圧によってチャージされるコンデンサであ
る。１６はトリガ信号を受け取った導通状態となりコン
デンサ１５にチャージされた電圧をインパルス電圧とし
て供試巻線に印加するためのＳＣＲである。１７はＳＣ
Ｒ１６を安定に動作させるための負荷抵抗である。
ス電圧発生装置の構成を示すものである。図２は本発明
の一実施例におけるインパルス電圧Ｖｐと直流電圧Ｖｏ
と同期信号のタイミングチャートである。図１におい
て、１１は商用電源で、５１は商用電源の交流電圧を直
流電圧に変換するための整流回路である。５２は整流回
路５１から出力された直流電圧を０Ｖから所定の電圧ま
で時間とともに上昇させるための電圧制御回路であり、
実施例の場合はパワートランジスタを用いたシリーズレ
ギュレータを使用している。５３は電圧制御回路５２か
ら出力された直流電圧をチョッピングしてパルス電圧に
変換するためのスイッチング手段で実施例の場合はパワ
ーＭＯＳＦＥＴを使用している。１３はスイッチング手
段５３で変換されたパルス電圧を昇圧するための昇圧ト
ランスである。１４は昇圧トランス１３で昇圧されたパ
ルス電圧を再び高圧の直流電圧に変換するためのダイオ
ードである。１５はダイオード１４によって整流された
高圧直流電圧によってチャージされるコンデンサであ
る。１６はトリガ信号を受け取った導通状態となりコン
デンサ１５にチャージされた電圧をインパルス電圧とし
て供試巻線に印加するためのＳＣＲである。１７はＳＣ
Ｒ１６を安定に動作させるための負荷抵抗である。
【００１９】５８は試験巻線（図示せず）の両端に現れ
る電圧を監視し、絶縁破壊が発生したときの過渡電圧波
形の変化を検出して故障信号を出力するための故障検出
回路である（供試巻線自体の過渡電圧波形の変化により
絶縁破壊を検出するので従来の測定装置のように標準巻
線を直列に接続することを必要としない）。５７はスイ
ッチング手段５３とＳＣＲ１６をドライブするための同
期信号発生回路であり、５７で発生した同期信号はマイ
クロコンピュータ５５に供給されるとともに位相シフト
回路５６へと供給され、ここで互いに１８０度位相の異
なったパルス信号となってスイッチング手段５３とＳＣ
Ｒ１６へ供給させる。
る電圧を監視し、絶縁破壊が発生したときの過渡電圧波
形の変化を検出して故障信号を出力するための故障検出
回路である（供試巻線自体の過渡電圧波形の変化により
絶縁破壊を検出するので従来の測定装置のように標準巻
線を直列に接続することを必要としない）。５７はスイ
ッチング手段５３とＳＣＲ１６をドライブするための同
期信号発生回路であり、５７で発生した同期信号はマイ
クロコンピュータ５５に供給されるとともに位相シフト
回路５６へと供給され、ここで互いに１８０度位相の異
なったパルス信号となってスイッチング手段５３とＳＣ
Ｒ１６へ供給させる。
【００２０】マイクロコンピュータ５５は整流回路５１
から出力された直流電圧の電圧値を時間の経過とともに
上昇させるように電圧制御回路５２を制御する電圧制御
指令信号を発生させるとともに、故障検出回路５８から
の故障信号を受けた場合には直ちに電圧制御回路５２か
ら出力電圧Ｖｏを０Ｖへとカットダウンさせるための指
令信号を発生させる。また故障信号を受け取った時の電
圧制御指令信号から供試巻線に印加されていたインパル
ス電圧を換算し、絶縁破壊電圧値として出力する。Ｄ／
Ａ変換回路５４はマイクロコンピュータ５５からのデジ
タル信号として出力されてくる電圧制御回路５２を制御
するための電圧指令信号をアナログ信号に変換する回路
である。
から出力された直流電圧の電圧値を時間の経過とともに
上昇させるように電圧制御回路５２を制御する電圧制御
指令信号を発生させるとともに、故障検出回路５８から
の故障信号を受けた場合には直ちに電圧制御回路５２か
ら出力電圧Ｖｏを０Ｖへとカットダウンさせるための指
令信号を発生させる。また故障信号を受け取った時の電
圧制御指令信号から供試巻線に印加されていたインパル
ス電圧を換算し、絶縁破壊電圧値として出力する。Ｄ／
Ａ変換回路５４はマイクロコンピュータ５５からのデジ
タル信号として出力されてくる電圧制御回路５２を制御
するための電圧指令信号をアナログ信号に変換する回路
である。
【００２１】以上のように構成されたインパルス電圧発
生装置について、その動作を説明する。まず、商用電源
１１から整流回路５１によって直流電圧が作り出され、
この出力はマイクロコンピュータ５５によってＤ／Ａ変
換回路５４を介してコントロールされる電圧制御回路５
２に入力され、０Ｖから所定の電圧まで時間とともに段
階的に上昇するように制御された電圧Ｖｏとして電圧制
御回路５２から出力される。電圧制御回路５２から出力
された電圧Ｖｏはスイッチング手段５３でチョッピング
されてパルス電圧となり昇圧トランス１３で昇圧される
ことが可能となる。昇圧トランス１３から出力された高
圧のパルス電圧はダイオード１４によって半波整流され
て高圧の直流電圧となりコンデンサ１５に充電される。
ＳＣＲ１６はスイッチング手段１３とは１８０度位相の
異なった信号によってドライブされているためスイッチ
ング手段１３のオフ期間、すなわちダイオード１４の半
波整流の非通電期間の開始時にトリガがかかって導通状
態となる。これによりコンデンサ１５は半波整流の通電
期間に充電され、非通電期間に放電されるという動作を
繰り返すことになる。この放電により供試巻線に繰り返
しインパルス電圧Ｖｐが印加されるのであるが、インパ
ルス電圧Ｖｐの電圧値は直流電圧Ｖｏに比例するので繰
り返し印加されながら０Ｖから所定の電圧まで時間とと
もに上昇していくことになる。
生装置について、その動作を説明する。まず、商用電源
１１から整流回路５１によって直流電圧が作り出され、
この出力はマイクロコンピュータ５５によってＤ／Ａ変
換回路５４を介してコントロールされる電圧制御回路５
２に入力され、０Ｖから所定の電圧まで時間とともに段
階的に上昇するように制御された電圧Ｖｏとして電圧制
御回路５２から出力される。電圧制御回路５２から出力
された電圧Ｖｏはスイッチング手段５３でチョッピング
されてパルス電圧となり昇圧トランス１３で昇圧される
ことが可能となる。昇圧トランス１３から出力された高
圧のパルス電圧はダイオード１４によって半波整流され
て高圧の直流電圧となりコンデンサ１５に充電される。
ＳＣＲ１６はスイッチング手段１３とは１８０度位相の
異なった信号によってドライブされているためスイッチ
ング手段１３のオフ期間、すなわちダイオード１４の半
波整流の非通電期間の開始時にトリガがかかって導通状
態となる。これによりコンデンサ１５は半波整流の通電
期間に充電され、非通電期間に放電されるという動作を
繰り返すことになる。この放電により供試巻線に繰り返
しインパルス電圧Ｖｐが印加されるのであるが、インパ
ルス電圧Ｖｐの電圧値は直流電圧Ｖｏに比例するので繰
り返し印加されながら０Ｖから所定の電圧まで時間とと
もに上昇していくことになる。
【００２２】同期信号と、段階的に上昇していく直流電
圧Ｖｏと、発生したインパルス電圧Ｖｐのタイミングチ
ャートを図４に示す。
圧Ｖｏと、発生したインパルス電圧Ｖｐのタイミングチ
ャートを図４に示す。
【００２３】一方、故障検出回路５８は供試巻線の両端
に現れる過渡電圧波形を監視しており、傷のある巻線で
も絶縁破壊を起こさない程度の充分に低いインパルス電
圧値（実施例の場合５００Ｖ）での過渡電圧波形をメモ
リーに蓄えておき、順次電圧を上昇させながらインパル
ス電圧Ｖｐを印加していき、その都度供試巻線の過渡電
圧波形をメモリーに蓄えられた電圧波形と比較してい
く。供試巻線が健全である場合には過渡電圧波形には変
化がないので所定の電圧値になるまで故障信号は出力さ
れず供試巻線は良品ということで測定は終了する。ま
た、供試巻線に傷などがあった場合にはあるインパルス
電圧値で供試巻線は絶縁破壊を起こしメモリーに蓄えら
れた過渡電圧波形とは異なった過渡電圧波形となり、故
障検出回路５８からは故障信号が出力される。
に現れる過渡電圧波形を監視しており、傷のある巻線で
も絶縁破壊を起こさない程度の充分に低いインパルス電
圧値（実施例の場合５００Ｖ）での過渡電圧波形をメモ
リーに蓄えておき、順次電圧を上昇させながらインパル
ス電圧Ｖｐを印加していき、その都度供試巻線の過渡電
圧波形をメモリーに蓄えられた電圧波形と比較してい
く。供試巻線が健全である場合には過渡電圧波形には変
化がないので所定の電圧値になるまで故障信号は出力さ
れず供試巻線は良品ということで測定は終了する。ま
た、供試巻線に傷などがあった場合にはあるインパルス
電圧値で供試巻線は絶縁破壊を起こしメモリーに蓄えら
れた過渡電圧波形とは異なった過渡電圧波形となり、故
障検出回路５８からは故障信号が出力される。
【００２４】マイクロコンピュータ５５は、この故障信
号を受け取ると直ちに電圧制御回路５２に対して出力電
圧Ｖｏを０Ｖとするように電圧制御指令信号を送ると同
時に、故障信号を受け取った時点の電圧指令信号から供
試巻線に印加されていたインパルス電圧値を換算し、絶
縁破壊電圧値として出力する。
号を受け取ると直ちに電圧制御回路５２に対して出力電
圧Ｖｏを０Ｖとするように電圧制御指令信号を送ると同
時に、故障信号を受け取った時点の電圧指令信号から供
試巻線に印加されていたインパルス電圧値を換算し、絶
縁破壊電圧値として出力する。
【００２５】以上のように本実施例によれば供試巻線に
印加するインパルス電圧Ｖｐを０Ｖから時間とともに順
次上昇させて印加し、絶縁破壊を検出した時点で直ちに
インパルス電圧の印加を停止することにより、供試巻線
に不必要なダメージを与えることがないので修復可能な
程度の傷を検査によって修復不能なまでに拡大させてし
まうことがない。また絶縁破壊検出時のインパルス電圧
値をマイクロコンピュータの電圧制御指令信号から換算
して読みとることで、従来の測定装置では良，不良の判
定しかできなかったものを定量的な絶縁破壊電圧値とし
て計測可能となった。
印加するインパルス電圧Ｖｐを０Ｖから時間とともに順
次上昇させて印加し、絶縁破壊を検出した時点で直ちに
インパルス電圧の印加を停止することにより、供試巻線
に不必要なダメージを与えることがないので修復可能な
程度の傷を検査によって修復不能なまでに拡大させてし
まうことがない。また絶縁破壊検出時のインパルス電圧
値をマイクロコンピュータの電圧制御指令信号から換算
して読みとることで、従来の測定装置では良，不良の判
定しかできなかったものを定量的な絶縁破壊電圧値とし
て計測可能となった。
【００２６】なお、実施例においては直流電圧Ｖｏは０
Ｖから時間とともに任意の電圧まで上昇させるものとし
たが、充分に低いある電圧からスタートして任意の電圧
まで時間とともに上昇させることにより測定時間の短縮
をはかることも可能である。また、電圧の上昇させ方は
実施例では段階的に上昇させるとしているが、ステップ
をさらに細かく分割して連続的に上昇しているように見
える場合でも効果は同じである。
Ｖから時間とともに任意の電圧まで上昇させるものとし
たが、充分に低いある電圧からスタートして任意の電圧
まで時間とともに上昇させることにより測定時間の短縮
をはかることも可能である。また、電圧の上昇させ方は
実施例では段階的に上昇させるとしているが、ステップ
をさらに細かく分割して連続的に上昇しているように見
える場合でも効果は同じである。
【００２７】さらに、実施例においては絶縁破壊時にイ
ンパルス電圧値をマイクロコンピュータの電圧制御指令
信号から換算しているが、故障検出回路で監視している
供試巻線両端に現れる過渡電圧から読みとることも可能
であるし、また直流電圧Ｖｏを読みとって換算によって
求めることもできる。
ンパルス電圧値をマイクロコンピュータの電圧制御指令
信号から換算しているが、故障検出回路で監視している
供試巻線両端に現れる過渡電圧から読みとることも可能
であるし、また直流電圧Ｖｏを読みとって換算によって
求めることもできる。
【００２８】
【発明の効果】以上のように本発明は、インパルス電圧
を時間とともに順次上昇させながら印加していき、一方
故障検出回路を設けて絶縁破壊が起きたことを検出し直
ちにインパルス電圧の印加を停止すると同時に、その時
にインパルス電圧値を測定する手段を備えたことにより
供試巻線に加わるダメージを最小限にとどめ、さらに従
来きわめて困難であった絶縁破壊電圧値を定量的に測定
することをきわめて容易とした優れたインパルス電圧発
生装置を実現できるものである。
を時間とともに順次上昇させながら印加していき、一方
故障検出回路を設けて絶縁破壊が起きたことを検出し直
ちにインパルス電圧の印加を停止すると同時に、その時
にインパルス電圧値を測定する手段を備えたことにより
供試巻線に加わるダメージを最小限にとどめ、さらに従
来きわめて困難であった絶縁破壊電圧値を定量的に測定
することをきわめて容易とした優れたインパルス電圧発
生装置を実現できるものである。
【図１】本発明の一実施例におけるインパルス電圧発生
装置の構成図
装置の構成図
【図２】本発明の一実施例におけるインパルス電圧発生
装置のタイミングチャート
装置のタイミングチャート
【図３】従来のインパルス電圧発生装置の構成図
【図４】代表的インパルス電圧の波形図
１ インパルス電圧発生装置 ２ インパルス電圧極性切り替えスイッチ ３ 被測定体 ４ オシロスコープ １１ 商用電源 １２ 電圧調整器 １３ 昇圧トランス １４ ダイオード １５ コンデンサ １６ ＳＣＲ １７ 抵抗 １８ インパルストリガー発生回路 ３０ 供試巻線 ３１ 供試巻線鉄心 ３２ 標準巻線 ３３ 標準巻線鉄心 ５１ 整流回路 ５２ 電圧制御回路 ５３ スイッチング手段 ５４ Ｄ／Ａ変換回路 ５５ マイクロコンピュータ ５６ 位相シフト回路 ５７ 同期信号発生回路 ５８ 故障検出回路
Claims (3)
- 【請求項１】供試巻線に繰り返し印加するインパルス電
圧の電圧値を時間の経過とともに上昇させ、一方で供試
巻線の巻線両端電圧を監視することにより供試巻線の絶
縁破壊を検出し、絶縁破壊を検出したら直ちにインパル
ス電圧の印加を停止することを特徴とする絶縁試験方
法。 - 【請求項２】絶縁破壊に至った時点のインパルス電圧の
電圧値を測定してメモリーに蓄え、インパルス電圧の停
止後データとして取り出すことを特徴とする請求項１記
載の絶縁試験方法。 - 【請求項３】任意の電圧まで時間の経過とともに電圧値
が上昇する直流電圧源と、前記直流電圧源から高圧イン
パルス電圧を発生させるインパルス電圧発生手段と、供
試巻線の絶縁が破壊されたことを検出する故障検出手段
と、前記故障検出手段からの故障信号にもとづいて直ち
に前記インパルス電圧発生手段を停止させ、同時に絶縁
破壊時のインパルス電圧測定手段とを備えたことを特徴
とする絶縁試験装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7197353A JPH0943302A (ja) | 1995-08-02 | 1995-08-02 | 絶縁試験方法およびその装置 |
| US08/691,672 US5963410A (en) | 1995-08-02 | 1996-08-02 | Insulation testing method and apparatus therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7197353A JPH0943302A (ja) | 1995-08-02 | 1995-08-02 | 絶縁試験方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0943302A true JPH0943302A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16373080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7197353A Pending JPH0943302A (ja) | 1995-08-02 | 1995-08-02 | 絶縁試験方法およびその装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5963410A (ja) |
| JP (1) | JPH0943302A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168474A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Nippon Technart Inc | 絶縁耐電圧試験方法及び装置 |
| JP2010008199A (ja) * | 2008-06-26 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | 回転電機巻線の製造工程内絶縁試験方法及び回転電機巻線の製造方法 |
| JP2017009331A (ja) * | 2015-06-18 | 2017-01-12 | 三菱電機株式会社 | 試験装置 |
| CN111983524A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-11-24 | 西南交通大学 | 一种基于振荡波时频变换的变压器绕组故障评估方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005016958A (ja) * | 2003-06-23 | 2005-01-20 | Fanuc Ltd | モータ駆動装置 |
| CN100359332C (zh) * | 2004-10-09 | 2008-01-02 | 西安交通大学 | 一种绝缘脉冲耐电强度测试装置 |
| FR2917176B1 (fr) * | 2007-06-11 | 2009-09-04 | Valeo Sys Controle Moteur Sas | Dispositif de detection de defaut d'isolement d'un convertisseur en tension |
| US7764067B2 (en) * | 2007-12-27 | 2010-07-27 | Caterpillar Inc | High voltage cable testing method |
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| GB2531787A (en) | 2014-10-31 | 2016-05-04 | Isra-Juk Electronics Ltd | System and method for detection of electrical faults in an electrical network |
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| US3515986A (en) * | 1968-05-21 | 1970-06-02 | Hipotronics | Method and apparatus for series resonant corona and dielectric testing of long lengths of high-voltage electrical transmission cable |
| JPS62180282A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-07 | Shinko Electric Co Ltd | 低圧回転機絶縁欠陥の非破壊検査方法 |
| US5514967A (en) * | 1994-08-16 | 1996-05-07 | Zelm; Richard J. | Automatic insulation test equipment for testing high voltage electrical equipment at the rated voltage level |
-
1995
- 1995-08-02 JP JP7197353A patent/JPH0943302A/ja active Pending
-
1996
- 1996-08-02 US US08/691,672 patent/US5963410A/en not_active Expired - Lifetime
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| CN111983524A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-11-24 | 西南交通大学 | 一种基于振荡波时频变换的变压器绕组故障评估方法 |
| CN111983524B (zh) * | 2020-08-26 | 2021-06-08 | 西南交通大学 | 一种基于振荡波时频变换的变压器绕组故障评估方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5963410A (en) | 1999-10-05 |
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