JPH09245588A - 真空気密容器の製造方法および真空気密容器 - Google Patents

真空気密容器の製造方法および真空気密容器

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JPH09245588A
JPH09245588A JP5476596A JP5476596A JPH09245588A JP H09245588 A JPH09245588 A JP H09245588A JP 5476596 A JP5476596 A JP 5476596A JP 5476596 A JP5476596 A JP 5476596A JP H09245588 A JPH09245588 A JP H09245588A
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昌子 中橋
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りか 滝川
Kiyoshi Osabe
清 長部
Shoji Niwa
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 セラミックからなる絶縁容器の開口端部と金
属からなる端板とを濡れ広がった脚長のろう材および前
記開口端部表面に形成したTi偏析層により強固に封着
することが可能な真空気密容器の製造方法を提供するも
のである。 【解決手段】 セラミックからなる絶縁容器の開口端部
と金属からなる端板との間にAg−Cu−Ti層、Cu
中間層およびAg−Cu層をこの順序で積層した封着ろ
う材を前記Ag−Cu−Ti層が絶縁容器の開口端部側
に位置するように配置する工程と、Ag−Cu層の融点
以上の温度で熱処理して前記Ag−Cu−Ti層を溶融
して前記絶縁容器表面にTi偏析層を形成する工程と、
熱処理温度をさらに上げて前記Cu中間層をAg−Cu
−Tiのろう材中に溶融させ、冷却することにより絶縁
容器の開口端部と端板とを前記Ti偏析層を含むAg−
Cu−Tiの封着部により接合する工程とを具備するこ
とを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、真空気密容器の製
造方法および真空気密容器に関する。
【0002】
【従来の技術】真空バルブやサイリスタ等に用いられる
真空気密容器は、セラミックからなる絶縁容器の開口端
部に金属からなる端板(封止金具)を封着(接合)する
ことにより製造され、内部を真空気密状態に保持するも
のである。
【0003】このような真空気密容器は、従来よりセラ
ミックからなる絶縁容器の開口端部に金属からなる端板
との間にMo−Mnメタライズ層を介在し、加熱するこ
とにより前記絶縁容器と前記端板とを封着する方法によ
り製造されていた。しかしながら、この方法はMo−M
nメタライズ層を作る工程が複雑であり、しかも封着に
際し高温度の熱処理を必要とする問題があった。
【0004】そこで、Mo−Mnメタライズ層を用いる
方法に代わる封着方法として、活性金属法が検討されて
いる。活性金属ろう材としては、Ag、Cu、Tiの3
元素を含むものが一般的であり、共晶組成のAg−Cu
中にTiを添加したろう材により接合することが特開昭
35−1216号に開示されている。しかしながら、こ
のような活性金属ろう材を前記セラミックからなる絶縁
容器の開口端部と前記金属からなる端板との間に介在さ
せ、前記ろう材の融点で加熱すると、ろう材全体が一度
に溶融して前記絶縁容器に対して十分な濡れ性が得られ
ないため、前記絶縁容器の開口端部に前記金属からなる
端板を良好に封着することが困難であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、セラミック
からなる絶縁容器の開口端部と金属からなる端板とを濡
れ広がった脚長のろう材および前記開口端部表面に形成
したTi偏析層により強固に封着し、かつセラミックか
らなる絶縁容器へのクラック発生を防止した真空気密容
器の製造方法および真空気密容器を提供しようとするも
のである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる真空気密
容器の製造方法は、セラミックからなる絶縁容器の開口
端部と金属からなる端板との間にAg−Cu−Ti層、
Cu中間層およびAg−Cu層をこの順序で積層した封
着ろう材を前記Ag−Cu−Ti層が絶縁容器の開口端
部側に位置するように配置する工程と、Ag−Cu層の
融点以上の温度で熱処理して前記Ag−Cu−Ti層を
溶融して前記絶縁容器表面にTi偏析層を形成する工程
と、熱処理温度をさらに上げて前記Cu中間層をAg−
Cu−Tiのろう材中に溶融させ、冷却することにより
絶縁容器の開口端部と端板とを前記Ti偏析層を含むA
g−Cu−Tiの封着部により接合する工程とを具備す
ることを特徴とするものである。
【0007】本発明に係わる真空気密容器は、セラミッ
クからなる絶縁容器の開口端部と金属からなる端板との
間にAg−Cu−Ti層、Cu中間層およびAg−Cu
層をこの順序で積層した封着ろう材を前記Ag−Cu−
Ti層が絶縁容器の開口端部側に位置するように配置す
る工程と、Ag−Cu層の融点以上の温度で熱処理して
前記Ag−Cu−Ti層を溶融して前記絶縁容器表面に
Ti偏析層を形成する工程と、熱処理温度をさらに上げ
て前記Cu中間層をAg−Cu−Tiのろう材中に溶融
させ、冷却することにより絶縁容器の開口端部と端板と
を前記Ti偏析層を含むAg−Cu−Tiの封着部によ
り接合する工程とにより製造された真空気密容器であっ
て、前記封着部中の未溶融Cu中間層は、絶縁容器表面
に対して垂直方向の断面において前記封着ろう材を構成
する前記Cu中間層の70%以下の面積を有することを
特徴とするものである。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の真空気密容器を図
面を参照して詳細に説明する。 (第1工程)まず、図1および図2に示すようにセラミ
ックからなる絶縁容器1の開口端部と金属からなる端板
(封止金具)2との間にAg−Cu−Ti層3、Cu中
間層4およびAg−Cu層5をこの順序で積層した封着
ろう材6を前記Ag−Cu−Ti層3が絶縁容器1の開
口端部側に位置するように配置する。
【0009】前記絶縁容器は、例えばアルミナ、窒化珪
素等のセラミックから形成される。前記端板(封止金
具)は、例えばステンレス、鉄、ニッケル合金等の金属
から形成される。
【0010】前記Ag−Cu−Ti層とCu中間層とA
g−Cu層の厚さ比率は、Ag−Cu−Ti層:Cu中
間層:Ag−Cu層で1〜3:3〜10:4〜12にす
ることが好ましい。また、Ag−Cu−Ti層の組成
は、Ag:Cu:Ti=54〜59:36〜39:2〜
10程度にすることが好ましい。Ag−Cu層の組成
は、凝固後に微細な共晶組織を形成するように共晶に近
いようにする。Ti組成は、十分にセラミック、例えば
アルミナと反応し、かつ融点上昇を起こさないように1
〜10atm%にすることが好ましい。
【0011】(第2工程)Ag−Cu層5の融点以上の
温度で熱処理する。この時、図3に示すようにAg−C
u層およびAg−Cu−Ti層を溶融してそれぞれAg
−Cu−Ti液相7、Ag−Cu液相8になる。未溶融
のCu中間層4の存在により前記Ag−Cu−Ti液相
7を前記絶縁容器1の開口端部に広い面積で脚長に保持
されると共に、Ag−Cu−Ti液相7中のTiが前記
開口端部表面に拡散してTi偏析層9が形成される。な
お、前記Ag−Cu液相8は前記封止金具2とCu中間
層4を接合し、一方前記Ag−Cu−Ti液相7は前記
絶縁容器1の開口端部との界面に前記Ti偏析層9が形
成されることにより前記絶縁容器1の開口端部との接合
が可能になる。
【0012】(第3工程)熱処理温度をさらに上げる。
この熱処理温度は、ろう材の融点より十数K〜数十K程
度に高くすることが好ましい。このような熱処理により
Ag−Cu−Tiのろう材中の平衡組成が高くなり、前
記Cu中間層がろう材中に溶融する。この後、冷却する
ことにより絶縁容器1の開口端部と封止金具2とを前記
Ti偏析層9を含むAg−Cu−Tiの封着部10によ
り接合する。なお、図中の11は未溶融Cu中間層、1
1はCu中間層寄り溶融したCu初晶である。
【0013】前記Ti偏析層9は、50nm以上の厚さ
を有するように熱処理条件を選定することが好ましい。
前記熱処理条件の選定により、封着部10中の未溶融C
u中間層11は絶縁容器1表面に対して垂直方向の断面
において前記封着ろう材6を構成する前記Cu中間層4
の70%以下の面積を有するようになる。
【0014】以上説明した本発明によれば、前記絶縁容
器1の開口端部に封止金具2を脚長の封着部10により
接合でき、かつ絶縁容器1の開口端部との界面にTi偏
析層9を形成できるため、前記絶縁容器1の開口端部と
封止金具2とが強固にかつ気密に接合された真空気密容
器を製造することができる。
【0015】また、得られた真空気密容器の封着部10
中の未溶融Cu中間層11を絶縁容器1表面に対して垂
直方向の断面において前記封着ろう材6を構成する前記
Cu中間層4の70%以下の面積にする、つまりセラミ
ックからなる絶縁容器1との間の熱膨張係数の差に起因
する前記封着部中のCu中間層の面積を小さくすること
によって、前記絶縁容器1に加わる応力を緩和して、前
記絶縁容器1にクラックが発生するのを防止できる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例を前述した図面を参照
して詳細に説明する。 (実施例1)厚さ0.05mmのAg−Cu−Tiろう
材箔、厚さ0.3mmのCu中間箔および厚さ0.2m
mのAg−Cuろう材箔をこの順序で積層したリング状
の封着ろう材を作製した。つづいて、外径44mm、内
径39mm、高さ52mmの純度94%のアルミナ製の
筒状絶縁容器の両端面と0.5mm、外径39mm、高
さ5mmのキャップ状をなすSUS304からなる封止
金具との間に前記封着ろう材をAg−Cu−Tiろう材
箔が前記筒状絶縁容器の両端面に位置するようにそれぞ
れ介在した。ひきつづき、これらの部材を真空炉に入
れ、6×10-4Paまで真空引きした後、10K/分の
昇温速度で1090Kまで昇温し、20分間保持した
後、1100Kまで昇温し10分間保持した。この後炉
冷することにより、絶縁容器の両端面に封止金具が封着
部に接合された真空気密容器を製造した。
【0017】(比較例1)実施例1と同様な3層構造の
リング状の封着ろう材を、外径44mm、内径39m
m、高さ52mmの純度94%のアルミナ製の筒状絶縁
容器の両端面と0.5mm、外径39mm、高さ5mm
のキャップ状をなすSUS304からなる封止金具との
間にAg−Cu−Tiろう材箔が前記筒状絶縁容器の両
端面に位置するようにそれぞれ介在した。つづいて、こ
れらの部材を真空炉に入れ、6×10-4Paまで真空引
きした後、10K/分の昇温速度で1090Kまで昇温
し、そのまま炉冷することにより絶縁容器の両端面に封
止金具が封着部に接合された真空気密容器を製造した。
【0018】得られた実施例1および比較例1の真空気
密容器について内部の真空気密性を調べた。その結果、
実施例1の真空気密容器はリークが認められなかった。
これに対し、比較例1の真空気密容器はリークによる真
空度の低下が認められた。また、実施例1および比較例
1の真空気密容器の封着部に赤色塗料を塗ってレッドチ
ェックを行った。その結果、実施例1の真空気密容器は
クラックの発生が認められなかった。これに対し、比較
例1の真空気密容器は絶縁容器にクラックの発生が認め
られた。実施例1および比較例1の真空気密容器につい
て封止金具を引張って封着部の破面を調べた。その結
果、実施例1の真空気密容器では接合界面および絶縁容
器にクラックの発生が認められなかった。これに対し、
比較例1の真空気密容器ではアルミナからなる絶縁容器
にクラックの発生が認められた。
【0019】さらに、実施例1および比較例1の真空気
密容器の封着部の断面組織を観察した。その結果、実施
例1の真空気密容器の封着部は前述した図4に示した組
織同様で、未溶融のCu中間層の面積は封着前の封着ろ
う材を構成するCu中間箔の約20%に減少していた。
これに対し、比較例1の真空気密容器の封着部の断面組
織は図5に示すようにアルミナからなる絶縁容器1の両
端面と封止金具2との間に形成された封着部13にCu
中間箔14がそのまま残存し、前記Cu中間箔14に起
因する残留応力により絶縁容器1に生じたクラック15
が観察された。
【0020】(実施例2)厚さ0.25mmのCu中間
板に厚さ0.05mmのAg箔をクラッドし、前記Ag
箔と反対側の前記Cu中間板に厚さ0.005mmのT
i膜を成膜し、リング状に打ち抜き加工することにより
リング状の封着ろう材を作製した。つづいて、外径44
mm、内径39mm、高さ52mmの純度94%のアル
ミナ製の筒状絶縁容器の両端面と0.5mm、外径39
mm、高さ5mmのキャップ状をなすSUS304から
なる封止金具との間に前記封着ろう材をそのTi膜が前
記筒状絶縁容器の両端面に位置するようにそれぞれ介在
した。ひきつづき、これらの部材を真空炉に入れ、6×
10-4Paまで真空引きした後、15K/分の昇温速度
で1060Kまで昇温し、5分間保持した後、1100
Kまで昇温し10分間保持した。この後炉冷することに
より、絶縁容器の両端面に封止金具が封着部に接合され
た真空気密容器を製造した。
【0021】(比較例2)実施例2と同様な3層構造の
リング状の封着ろう材を、外径44mm、内径39m
m、高さ52mmの純度94%のアルミナ製の筒状絶縁
容器の両端面と0.5mm、外径39mm、高さ5mm
のキャップ状をなすSUS304からなる封止金具との
間にAg−Cu−Tiろう材箔が前記筒状絶縁容器の両
端面に位置するようにそれぞれ介在した。つづいて、こ
れらの部材を真空炉に入れ、6×10-4Paまで真空引
きした後、15K/分の昇温速度で1060Kまで昇温
し、そのまま炉冷することにより絶縁容器の両端面に封
止金具が封着部に接合された真空気密容器を製造した。
【0022】得られた実施例2および比較例2の真空気
密容器について内部の真空気密性を調べた。その結果、
実施例2および比較例2の真空気密容器はいずれもリー
クが認められなかった。また、実施例2および比較例2
の真空気密容器の封着部に赤色塗料を塗ってレッドチェ
ックを行った。その結果、実施例2の真空気密容器はク
ラックの発生が認められなかった。これに対し、比較例
2の真空気密容器は絶縁容器にクラックの発生が認めら
れた。実施例2および比較例2の真空気密容器について
封止金具を引張って封着部の破面を調べた。その結果、
実施例2の真空気密容器では接合界面および絶縁容器に
クラックの発生が認められなかった。これに対し、比較
例2の真空気密容器ではアルミナからなる絶縁容器にク
ラックの発生が認められた。
【0023】さらに、実施例2および比較例2の真空気
密容器の封着部の断面組織を観察した。その結果、実施
例1の真空気密容器の封着部は図6に示すように未溶融
のCu中間層11の厚さが0.1mm程度になり、その
面積が封着前の封着ろう材を構成するCu中間板の約3
3%に減少していた。これに対し、比較例2の真空気密
容器の封着部の断面組織は図7に示すようにアルミナか
らなる絶縁容器1の両端面と封止金具2との間に形成さ
れた封着部16にCu中間板17がそのまま残存し、前
記Cu中間板17に起因する残留応力により絶縁容器1
に生じたクラック15が観察された。
【0024】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればセ
ラミックからなる絶縁容器の開口端部と金属からなる端
板とを濡れ広がった脚長のろう材および前記開口端部表
面に形成したTi偏析層により強固に封着され、かつセ
ラミックからなる絶縁容器へのクラック発生を防止した
信頼性の高い真空気密容器の製造方法および真空気密容
器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の真空気密容器の接合前の状態を示す断
面図。
【図2】図1の封着ろう材付近の拡大断面図。
【図3】熱処理過程での封着ろう材の組織を示す図。
【図4】本発明の真空気密容器における封着部の組織を
示す図。
【図5】比較例1により製造された真空気密容器の封着
部の断面組織を示す図。
【図6】本発明の実施例2により製造された真空気密容
器における封着部の組織を示す図。
【図7】比較例2により製造された真空気密容器の封着
部の断面組織を示す図。
【符号の説明】
1…絶縁容器、 2…封止金具、 3…Ag−Cu−Ti層、 4…Cu中間層、 5…Ag−Cu層 6…封着ろう材、 9…Ti偏析層、 10…封着部 11…未溶融Cu中間層。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長部 清 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内 (72)発明者 丹羽 昭次 東京都府中市晴見町2丁目24番地の1 東 芝エフエーシステムエンジニアリング株式 会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミックからなる絶縁容器の開口端部
    と金属からなる端板との間にAg−Cu−Ti層、Cu
    中間層およびAg−Cu層をこの順序で積層した封着ろ
    う材を前記Ag−Cu−Ti層が絶縁容器の開口端部側
    に位置するように配置する工程と、 Ag−Cu層の融点以上の温度で熱処理して前記Ag−
    Cu−Ti層を溶融して前記絶縁容器表面にTi偏析層
    を形成する工程と、 熱処理温度をさらに上げて前記Cu中間層をAg−Cu
    −Tiのろう材中に溶融させ、冷却することにより絶縁
    容器の開口端部と端板とを前記Ti偏析層を含むAg−
    Cu−Tiの封着部により接合する工程とを具備するこ
    とを特徴とする真空気密容器の製造方法。
  2. 【請求項2】 セラミックからなる絶縁容器の開口端部
    と金属からなる端板との間にAg−Cu−Ti層、Cu
    中間層およびAg−Cu層をこの順序で積層した封着ろ
    う材を前記Ag−Cu−Ti層が絶縁容器の開口端部側
    に位置するように配置する工程と、 Ag−Cu層の融点以上の温度で熱処理して前記Ag−
    Cu−Ti層を溶融して前記絶縁容器表面にTi偏析層
    を形成する工程と、 熱処理温度をさらに上げて前記Cu中間層をAg−Cu
    −Tiのろう材中に溶融させ、冷却することにより絶縁
    容器の開口端部と端板とを前記Ti偏析層を含むAg−
    Cu−Tiの封着部により接合する工程とにより製造さ
    れた真空気密容器であって、 前記封着部中の未溶融Cu中間層は、絶縁容器表面に対
    して垂直方向の断面において前記封着ろう材を構成する
    前記Cu中間層の70%以下の面積を有することを特徴
    とする真空気密容器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2022551814A (ja) * 2019-10-01 2022-12-14 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 活性ろう付け接合部および処理方法
CN117820005A (zh) * 2023-12-28 2024-04-05 南京三乐集团有限公司 平封结构瓷封件的平封结构组件及其高精度封接方法

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