JPH09245693A - 電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置 - Google Patents
電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置Info
- Publication number
- JPH09245693A JPH09245693A JP5338496A JP5338496A JPH09245693A JP H09245693 A JPH09245693 A JP H09245693A JP 5338496 A JP5338496 A JP 5338496A JP 5338496 A JP5338496 A JP 5338496A JP H09245693 A JPH09245693 A JP H09245693A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- electron
- electrode
- electron source
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 層間絶縁層形成工程における位置合わせマー
ジンが大きく、時間工数の低減された電子源基板をを提
供する。 【解決手段】 層間絶縁層3を介して互いに略直交する
第1の配線2と第2の配線4とを基板面に形成したマト
リクス配線基板の、第1の配線2と第2の配線4とで囲
まれた各領域に、第1の配線と第2の配線とにそれぞれ
接続された一対の略長方形の素子電極1b、1aを形成
するが、この場合前記一対の素子電極1a、1bの微小
間隙5を第2の配線4と平行に形成する。電子放出部は
微小間隙5に形成する。
ジンが大きく、時間工数の低減された電子源基板をを提
供する。 【解決手段】 層間絶縁層3を介して互いに略直交する
第1の配線2と第2の配線4とを基板面に形成したマト
リクス配線基板の、第1の配線2と第2の配線4とで囲
まれた各領域に、第1の配線と第2の配線とにそれぞれ
接続された一対の略長方形の素子電極1b、1aを形成
するが、この場合前記一対の素子電極1a、1bの微小
間隙5を第2の配線4と平行に形成する。電子放出部は
微小間隙5に形成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子源基板、特に
表面伝導型電子放出素子を2次元平面上に複数個配設し
た電子源基板、その製造方法、及び電子源基板を組み込
んだ画像表示装置に関する。
表面伝導型電子放出素子を2次元平面上に複数個配設し
た電子源基板、その製造方法、及び電子源基板を組み込
んだ画像表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子としては、熱電子源
と冷陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源
には、電界放出型(以下、FEと記す)、金属/絶縁層
/金属型(以下、MIMと記す)や表面伝導型電子放出
素子等がある。
と冷陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源
には、電界放出型(以下、FEと記す)、金属/絶縁層
/金属型(以下、MIMと記す)や表面伝導型電子放出
素子等がある。
【0003】FE型の例としては、W.P.Dyke & W.W.Dol
an, “Field emission”, Advancein Electron Physici
s, 8, 89 (1956)或いはC.A.Spindt, “Physical Proper
ties of thin-film field emission cathodes with mol
ybdenum”, J.Appl.Phys.,47, 5248 (1976) 等が知られ
ている。
an, “Field emission”, Advancein Electron Physici
s, 8, 89 (1956)或いはC.A.Spindt, “Physical Proper
ties of thin-film field emission cathodes with mol
ybdenum”, J.Appl.Phys.,47, 5248 (1976) 等が知られ
ている。
【0004】MIM型の例としては、C.A.Mead, “The
tunnel-emission amplifier, J. Appl. Phys., 32, 646
(1961) が知られている。
tunnel-emission amplifier, J. Appl. Phys., 32, 646
(1961) が知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、M.
I.Elinson, Radio Eng. Electron Phys., 10, (1965)]
等がある。
I.Elinson, Radio Eng. Electron Phys., 10, (1965)]
等がある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は基板上に形成さ
れた小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことによ
り、電子放出が生ずる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては、前記Elinson 等によ
るSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの[G.
Dittmer:“Thin Solid Films", 9, 317 (1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell and C.G.
Fonstad: “IEEE Trans. ED Conf.”,519 (1975)]、カ
ーボン薄膜によるもの[荒木久他:真空、第26巻、第
1号、22ページ(1983)]等が報告されている。
れた小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことによ
り、電子放出が生ずる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては、前記Elinson 等によ
るSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの[G.
Dittmer:“Thin Solid Films", 9, 317 (1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell and C.G.
Fonstad: “IEEE Trans. ED Conf.”,519 (1975)]、カ
ーボン薄膜によるもの[荒木久他:真空、第26巻、第
1号、22ページ(1983)]等が報告されている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として、前述のM.Hartwellの素子構成を図1
4に示す。同図において141は、基板である。142
は導電性薄膜で、スパッタリングで形成されたH型形状
の金属酸化物薄膜等からなり、後述するフォーミングと
呼ばれる通電処理により電子放出部143が形成され
る。
な素子構成として、前述のM.Hartwellの素子構成を図1
4に示す。同図において141は、基板である。142
は導電性薄膜で、スパッタリングで形成されたH型形状
の金属酸化物薄膜等からなり、後述するフォーミングと
呼ばれる通電処理により電子放出部143が形成され
る。
【0008】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜142を予め
フォーミングと呼ばれる通電処理することによって、電
子放出部143を形成するのが一般的であった。すなわ
ち、通電フォーミングとは、前記導電性薄膜142の両
端に直流電圧、或いは非常にゆっくりとした昇電圧、例
えば1V/分程度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に
破壊、変形もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態
にした電子放出部143を形成することである。なお電
子放出部143は導電性薄膜142の一部に亀裂が発生
し、その亀裂付近から電子放出が行われる場合もある。
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜142を予め
フォーミングと呼ばれる通電処理することによって、電
子放出部143を形成するのが一般的であった。すなわ
ち、通電フォーミングとは、前記導電性薄膜142の両
端に直流電圧、或いは非常にゆっくりとした昇電圧、例
えば1V/分程度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に
破壊、変形もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態
にした電子放出部143を形成することである。なお電
子放出部143は導電性薄膜142の一部に亀裂が発生
し、その亀裂付近から電子放出が行われる場合もある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記表面伝導型電子放
出素子を多数配列して電子源基板を製造する方法として
は、従来フォトリソグラフィーによっていた(特開平6
ー12997)。しかし、この場合には、層間絶縁層
近傍における不具合による上下配線間で短絡が生じ易
い、製造工程における位置合わせマージンが小さく時
間工数が大きい等の問題があった。
出素子を多数配列して電子源基板を製造する方法として
は、従来フォトリソグラフィーによっていた(特開平6
ー12997)。しかし、この場合には、層間絶縁層
近傍における不具合による上下配線間で短絡が生じ易
い、製造工程における位置合わせマージンが小さく時
間工数が大きい等の問題があった。
【0010】本発明は上記事情に鑑みなされたもので、
その目的とするところは、上記問題を解決した電子源基
板、その製造方法、及び画像表示装置を提供することに
ある。
その目的とするところは、上記問題を解決した電子源基
板、その製造方法、及び画像表示装置を提供することに
ある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は層間絶縁層を介して互いに直交する複数の
第1の配線と複数の第2の配線とを基板面に形成したマ
トリクス配線基板と、第1の配線と第2の配線とで囲ま
れた各領域にそれぞれ配設されると共に第1の配線と第
2の配線とにそれぞれ接続された一対の素子電極及び前
記一対の素子電極間に形成された電子放出部からなる電
子放出素子とを有する電子源基板において、前記一対の
素子電極が電極部及び前記電極部に一体に形成された接
続部とからなり前記一対の電極部を互いに所定間隔離間
して対向させることにより形成する両電極の間隙部を前
記第1の電極又は第2の電極の一方に平行に配設すると
共に各接続部を前記第1の配線又は第2の配線にそれぞ
れ接続してなることを特徴とする電子源基板を提案する
ものである。
に、本発明は層間絶縁層を介して互いに直交する複数の
第1の配線と複数の第2の配線とを基板面に形成したマ
トリクス配線基板と、第1の配線と第2の配線とで囲ま
れた各領域にそれぞれ配設されると共に第1の配線と第
2の配線とにそれぞれ接続された一対の素子電極及び前
記一対の素子電極間に形成された電子放出部からなる電
子放出素子とを有する電子源基板において、前記一対の
素子電極が電極部及び前記電極部に一体に形成された接
続部とからなり前記一対の電極部を互いに所定間隔離間
して対向させることにより形成する両電極の間隙部を前
記第1の電極又は第2の電極の一方に平行に配設すると
共に各接続部を前記第1の配線又は第2の配線にそれぞ
れ接続してなることを特徴とする電子源基板を提案する
ものである。
【0012】また本発明は、上記の電子源基板の製造方
法において、まず基板上に素子電極を形成し、次いで第
1の配線を形成することを特徴とする電子源基板の製造
方法である。
法において、まず基板上に素子電極を形成し、次いで第
1の配線を形成することを特徴とする電子源基板の製造
方法である。
【0013】また本発明は上記の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極対を形成し、次いで一
対の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線
を形成し、次いで第1の配線の上面を覆って層間絶縁層
を形成した後、一対の素子電極の他方の電極の接続部に
重ねて第2の配線を形成することを特徴とする電子源基
板の製造方法である。
において、まず基板上に素子電極対を形成し、次いで一
対の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線
を形成し、次いで第1の配線の上面を覆って層間絶縁層
を形成した後、一対の素子電極の他方の電極の接続部に
重ねて第2の配線を形成することを特徴とする電子源基
板の製造方法である。
【0014】また本発明は上記の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極を形成し、次いで一対
の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線を
形成し、次いで一対の素子電極の他方の電極の接続部に
重ねて各第1の配線間の中点に接続用切り欠き部を有す
る層間絶縁層を第1の配線と直交させて形成した後、層
間絶縁層の上面に第2の配線を形成することを特徴とす
る電子源基板の製造方法である。
において、まず基板上に素子電極を形成し、次いで一対
の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線を
形成し、次いで一対の素子電極の他方の電極の接続部に
重ねて各第1の配線間の中点に接続用切り欠き部を有す
る層間絶縁層を第1の配線と直交させて形成した後、層
間絶縁層の上面に第2の配線を形成することを特徴とす
る電子源基板の製造方法である。
【0015】また本発明は上記の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極対を形成し、次いで一
対の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線
を形成し、次いで第1の配線の上面であってかつ第1の
配線と第2の配線との交差予定部を覆って層間絶縁層を
形成した後、一対の素子電極の他方の電極の接続部に重
ねて第2の配線を形成することを特徴とする電子源基板
の製造方法である。
において、まず基板上に素子電極対を形成し、次いで一
対の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線
を形成し、次いで第1の配線の上面であってかつ第1の
配線と第2の配線との交差予定部を覆って層間絶縁層を
形成した後、一対の素子電極の他方の電極の接続部に重
ねて第2の配線を形成することを特徴とする電子源基板
の製造方法である。
【0016】また本発明は第1の配線、第2の配線、層
間絶縁層、又は素子電極を厚膜印刷法によって形成する
上記の電子源基板の製造方法である。
間絶縁層、又は素子電極を厚膜印刷法によって形成する
上記の電子源基板の製造方法である。
【0017】また本発明は電子放出素子が導電性薄膜に
通電処理を施すことにより電子放出部が形成される表面
伝導型電子放出素子である上記の電子源基板の製造方法
である。
通電処理を施すことにより電子放出部が形成される表面
伝導型電子放出素子である上記の電子源基板の製造方法
である。
【0018】また本発明は上記製造方法によって製造さ
れた電子源基板である。
れた電子源基板である。
【0019】また本発明は上記電子源基板の各電子放出
素子と対向する位置に、電子の照射により可視光を発す
る蛍光体を配設することにより画素を形成せしめる画像
表示装置である。
素子と対向する位置に、電子の照射により可視光を発す
る蛍光体を配設することにより画素を形成せしめる画像
表示装置である。
【0020】本発明は上記構成とすることにより、単純
マトリクス配線基板において、第1の配線(第2の配
線)に接続される素子電極が隣接する2つの第2の配線
(第1の配線)の中央に配置できる。
マトリクス配線基板において、第1の配線(第2の配
線)に接続される素子電極が隣接する2つの第2の配線
(第1の配線)の中央に配置できる。
【0021】これらによって、素子電極の接続箇所が隣
接する配線から最も遠い位置になるため、第1の配線と
第2の配線との短絡が著しく低減する。
接する配線から最も遠い位置になるため、第1の配線と
第2の配線との短絡が著しく低減する。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明を詳
細に説明する。
細に説明する。
【0023】図1に、本発明の電子源基板に用いる代表
的な電子放出素子の構成(平面図)を示す。
的な電子放出素子の構成(平面図)を示す。
【0024】図2に、その製造方法の工程フロー図を示
す。図中、1a,1bは素子電極、2は第1の配線(信
号側配線又は走査側配線)、3は第1の配線と第2の配
線との間の層間絶縁層、4は第2の配線(走査側配線又
は信号側配線)、5は素子電極により形成される微小間
隙である。この微小間隙の部分を覆って電子放出部形成
用膜が形成される。
す。図中、1a,1bは素子電極、2は第1の配線(信
号側配線又は走査側配線)、3は第1の配線と第2の配
線との間の層間絶縁層、4は第2の配線(走査側配線又
は信号側配線)、5は素子電極により形成される微小間
隙である。この微小間隙の部分を覆って電子放出部形成
用膜が形成される。
【0025】以下、図2の工程フロー図にしたがって、
本発明による電子源基板の製造方法を詳細に説明する。
本発明による電子源基板の製造方法を詳細に説明する。
【0026】まず、予め洗浄された基板に、略長方形で
あって大きさの異なる一対の素子電極1a,1bを形成
する(図2(a))。本電極は、導電性薄膜と上下各配
線とのオーム接触を良好にするために設けられるもので
ある。通常、導電性薄膜は、配線用の導体層と比べて著
しく薄い膜であるため、「ヌレ性」、「膜厚保持性」等
の問題を回避するために設けているものである。
あって大きさの異なる一対の素子電極1a,1bを形成
する(図2(a))。本電極は、導電性薄膜と上下各配
線とのオーム接触を良好にするために設けられるもので
ある。通常、導電性薄膜は、配線用の導体層と比べて著
しく薄い膜であるため、「ヌレ性」、「膜厚保持性」等
の問題を回避するために設けているものである。
【0027】前記素子電極1a,1bは一体に形成した
略長方形状の電極部15a,15bと、略長方形状の接
続部17a,17bとからなる。一対の素子電極1a、
1bは前記略長方形の電極部15a,15bの一辺18
a,18bを互いに対向させて所定間隔離れて配設する
ことにより、微小間隔5を形成している。
略長方形状の電極部15a,15bと、略長方形状の接
続部17a,17bとからなる。一対の素子電極1a、
1bは前記略長方形の電極部15a,15bの一辺18
a,18bを互いに対向させて所定間隔離れて配設する
ことにより、微小間隔5を形成している。
【0028】ここで、本発明の特徴について述べると、
一対の素子電極により形成された微小間隙5が、素子電
極と接続する第1の配線2又は第2の配線4と平行にな
るように素子電極のパターンを形成することにある。
一対の素子電極により形成された微小間隙5が、素子電
極と接続する第1の配線2又は第2の配線4と平行にな
るように素子電極のパターンを形成することにある。
【0029】この構成により、後述する実施例1に示す
ように素子電極1aと第2の配線4との接続部分を層間
絶縁層3に形成する際に自由度が増す。好ましいこの例
としては、隣接する2本の第1の配線のちょうど中点部
分に接続部分を形成することである。一般に印刷ペース
トによる配線は印刷時にダレ等により、配線幅が若干広
がるが、上記のような構成により、ダレ等による上下間
配線の短絡が著しく低減される。
ように素子電極1aと第2の配線4との接続部分を層間
絶縁層3に形成する際に自由度が増す。好ましいこの例
としては、隣接する2本の第1の配線のちょうど中点部
分に接続部分を形成することである。一般に印刷ペース
トによる配線は印刷時にダレ等により、配線幅が若干広
がるが、上記のような構成により、ダレ等による上下間
配線の短絡が著しく低減される。
【0030】さらに、最も良い例は後述する実施例2に
示すように、素子電極形成工程のすぐ次の工程にて第2
の配線を形成することである。こうすることにより、層
間絶縁層に接続部分を形成する必要がなくなる。したが
って、印刷ペーストのダレ等による問題は回避される。
示すように、素子電極形成工程のすぐ次の工程にて第2
の配線を形成することである。こうすることにより、層
間絶縁層に接続部分を形成する必要がなくなる。したが
って、印刷ペーストのダレ等による問題は回避される。
【0031】電極の形成方法としては、真空蒸着法、ス
パッタリング法、プラズマCVD法等の真空系を用いる
方法や、溶媒に金属成分及びガラス成分を混合した厚膜
ペーストを印刷、焼成することにより形成する厚膜印刷
法がある。
パッタリング法、プラズマCVD法等の真空系を用いる
方法や、溶媒に金属成分及びガラス成分を混合した厚膜
ペーストを印刷、焼成することにより形成する厚膜印刷
法がある。
【0032】本発明の効果を最大限に引き出すには、フ
ォトリソ工程を必要としない厚膜印刷法を用いることに
よって最も工程及び時間工数の短縮を図ることができ
る。しかしながら素子電極の膜厚は薄いことが望まし
い。そこで、厚膜印刷法を用いる場合は、その際使用す
るペーストとして、有機金属化合物により構成された所
謂MODペーストを使用することが好ましい。もちろ
ん、これ以外の成膜方法を用いても差し支えなく、ま
た、構成材料としては、電気伝導性のある材料であれ
ば、特に限定されるものではない。
ォトリソ工程を必要としない厚膜印刷法を用いることに
よって最も工程及び時間工数の短縮を図ることができ
る。しかしながら素子電極の膜厚は薄いことが望まし
い。そこで、厚膜印刷法を用いる場合は、その際使用す
るペーストとして、有機金属化合物により構成された所
謂MODペーストを使用することが好ましい。もちろ
ん、これ以外の成膜方法を用いても差し支えなく、ま
た、構成材料としては、電気伝導性のある材料であれ
ば、特に限定されるものではない。
【0033】さらに、本発明の内、最も簡単な工程を構
成する場合には、既述の素子電極1a,1b、さらには
外部回路との接続用電極(不図示)との部分を同時に形
成することが可能である。この場合も、厚膜印刷法を用
いることが簡便であるが、もちろんスパッタリング法等
により成膜し、フォトリソ法によりパターンを形成して
も、一向に構わない。
成する場合には、既述の素子電極1a,1b、さらには
外部回路との接続用電極(不図示)との部分を同時に形
成することが可能である。この場合も、厚膜印刷法を用
いることが簡便であるが、もちろんスパッタリング法等
により成膜し、フォトリソ法によりパターンを形成して
も、一向に構わない。
【0034】次に、第1の配線2を形成する(図2
(b))。配線2の形成方法には、素子電極1aの形成
方法と同様の形成方法が適用可能であるが、配線2の場
合には、素子電極1aと異なり、膜厚が厚い方が電気抵
抗を低減でき有利である。そこで、厚膜印刷を用いるの
が有利である。もちろん、薄膜配線の適用も可能である
が、膜厚を厚くするのには時間が必要であり、また、極
厚膜は、現実性がない。
(b))。配線2の形成方法には、素子電極1aの形成
方法と同様の形成方法が適用可能であるが、配線2の場
合には、素子電極1aと異なり、膜厚が厚い方が電気抵
抗を低減でき有利である。そこで、厚膜印刷を用いるの
が有利である。もちろん、薄膜配線の適用も可能である
が、膜厚を厚くするのには時間が必要であり、また、極
厚膜は、現実性がない。
【0035】次に、層間絶縁層3を形成する(図2
(c))。ここで、図1及び図2においては例(最も複
雑な例)として、層間絶縁層3に第2の配線4との接続
用切り欠き部20(凹型のパターン)を形成している。
(c))。ここで、図1及び図2においては例(最も複
雑な例)として、層間絶縁層3に第2の配線4との接続
用切り欠き部20(凹型のパターン)を形成している。
【0036】層間絶縁層3の構成材料としては、絶縁性
を保てるものであればよく、例えばSiO2 薄膜、金属
成分を含まない厚膜ペーストによる膜等がある。
を保てるものであればよく、例えばSiO2 薄膜、金属
成分を含まない厚膜ペーストによる膜等がある。
【0037】次に、第2の配線4を形成する(図2
(d))。形成方法は第1の配線2と同様の方法が適用
可能である。
(d))。形成方法は第1の配線2と同様の方法が適用
可能である。
【0038】最後に、導電性薄膜を形成して、冷陰極電
子ビーム源用の素子(1素子分)が完成する。成膜方法
及び電子放出部分(表面伝導型電子放出素子)の形成方
法は、従来の方法をそのまま適用することが可能である
(後述)。
子ビーム源用の素子(1素子分)が完成する。成膜方法
及び電子放出部分(表面伝導型電子放出素子)の形成方
法は、従来の方法をそのまま適用することが可能である
(後述)。
【0039】本図では、1素子部分のみを図示してある
が、これを複数個、同時に形成するようにすることで、
単純マトリクス構成の電子源基板の構成が完成する。
が、これを複数個、同時に形成するようにすることで、
単純マトリクス構成の電子源基板の構成が完成する。
【0040】なお、マトリクス構成については、さらに
簡単な構成にすることも可能で、例えば、実施例2に示
すように素子電極を形成する工程の次工程で走査側配線
を形成すれば、実施例1の複雑な例のような、層間絶縁
層に凹型の部分を形成することなく、素子電極と走査側
の配線の接続が可能となる。
簡単な構成にすることも可能で、例えば、実施例2に示
すように素子電極を形成する工程の次工程で走査側配線
を形成すれば、実施例1の複雑な例のような、層間絶縁
層に凹型の部分を形成することなく、素子電極と走査側
の配線の接続が可能となる。
【0041】本発明は、画像表示装置の中でも、表面伝
導型電子放出素子を用いた単純マトリクス方式の画像表
示装置において、また特に厚膜印刷法を用いた製造方法
において、優れた効果をもたらすものである。
導型電子放出素子を用いた単純マトリクス方式の画像表
示装置において、また特に厚膜印刷法を用いた製造方法
において、優れた効果をもたらすものである。
【0042】表面伝導型電子放出素子の代表的な構成、
製造方法及び特性については、例えば特開平2−568
22に開示されている。
製造方法及び特性については、例えば特開平2−568
22に開示されている。
【0043】以下、本発明にかかわる表面伝導型電子放
出素子の基本的な構成と製造方法及び特性について概説
する。図3(a)は、本発明にかかわる模式的な電子放
出素子の構成を示す図面(原理図)である。図におい
て、31は絶縁性基板、35と36は素子電極、34は
導電性薄膜、33は電子放出部である。
出素子の基本的な構成と製造方法及び特性について概説
する。図3(a)は、本発明にかかわる模式的な電子放
出素子の構成を示す図面(原理図)である。図におい
て、31は絶縁性基板、35と36は素子電極、34は
導電性薄膜、33は電子放出部である。
【0044】本発明における、電子放出部33を含む薄
膜34のうち電子放出部33としては、粒径が数nmの
電気伝導性粒子からなり、電子放出部33以外の電子放
出部を含む導電性薄膜34は、微粒子膜よりなる。
膜34のうち電子放出部33としては、粒径が数nmの
電気伝導性粒子からなり、電子放出部33以外の電子放
出部を含む導電性薄膜34は、微粒子膜よりなる。
【0045】導電性薄膜34の具体例としては、Pd,
Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Z
n,Sn,Ta,W,Pb等の金属、PdO,SnO
2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の酸化物、Hf
B2 ,LaB6 ,CeB6 ,YB4 ,GdB4 等のホウ
化物、TiC,ZrC,HfC,TaC,SiC,WC
等の炭化物、TiN,ZrN,HfN等の窒化物、S
i,Ge等の半導体、さらにはカーボン等である。
Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Z
n,Sn,Ta,W,Pb等の金属、PdO,SnO
2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の酸化物、Hf
B2 ,LaB6 ,CeB6 ,YB4 ,GdB4 等のホウ
化物、TiC,ZrC,HfC,TaC,SiC,WC
等の炭化物、TiN,ZrN,HfN等の窒化物、S
i,Ge等の半導体、さらにはカーボン等である。
【0046】また、該薄膜の形成方法としては、真空蒸
着法、スパッタリング法、化学的気相成長法、分散塗布
法、ディッピング法、スピナー法等がある。
着法、スパッタリング法、化学的気相成長法、分散塗布
法、ディッピング法、スピナー法等がある。
【0047】表面伝導型電子放出素子の形成方法として
は様々な方法が考えられるが、その一例を図4に示す。
34は導電性薄膜で、例えば微粒子膜が挙げられる。
は様々な方法が考えられるが、その一例を図4に示す。
34は導電性薄膜で、例えば微粒子膜が挙げられる。
【0048】なお、ここで述べる微粒子膜とは複数の微
粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子
が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに
隣接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を
指しており、微粒子の粒径は数nmから数100nmで
あり、好ましくは1nmより20nmである。
粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子
が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに
隣接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を
指しており、微粒子の粒径は数nmから数100nmで
あり、好ましくは1nmより20nmである。
【0049】電子放出部33は導電性薄膜34の一部に
形成された高抵抗の亀裂であり、通電フォーミング等に
より形成される。また、亀裂内には数nmから数10n
mの粒径の導電性微粒子を有することもある。この導電
性微粒子は導電性薄膜34を構成する物質の少なくとも
一部の元素を含んでいる。また、電子放出部33及びそ
の近傍の導電性薄膜34は炭素及び炭素化合物を有する
こともある。
形成された高抵抗の亀裂であり、通電フォーミング等に
より形成される。また、亀裂内には数nmから数10n
mの粒径の導電性微粒子を有することもある。この導電
性微粒子は導電性薄膜34を構成する物質の少なくとも
一部の元素を含んでいる。また、電子放出部33及びそ
の近傍の導電性薄膜34は炭素及び炭素化合物を有する
こともある。
【0050】以下、図3、図4及び図5を参照しつつ、
素子の形成方法を説明する。
素子の形成方法を説明する。
【0051】以下の説明は、単一の素子の形成方法を説
明したものであるが、既述の本発明による新規な電子源
基板の製造方法にも適用されるものである。
明したものであるが、既述の本発明による新規な電子源
基板の製造方法にも適用されるものである。
【0052】1)基板1を洗剤、純水及び有機溶剤によ
り十分に洗浄後、真空蒸着技術、フォトリソグラフィー
技術により、該基板31の面上に素子電極35,36を
形成する(図4(a))。素子電極の材料としては電気
伝導性を有するものであればいずれのものでも構わない
が、例えばニッケル金属が挙げられる。素子電極間隔L
1は20μm(10〜30μmが好ましい。)、素子電
極長さW2は300μm(100〜500μmが好まし
い。)、素子電極35,36の膜厚dは100nm(5
0〜300nmが好ましい。)である。素子電極(電子
放出部近傍電極)の形成方法として、厚膜印刷法を用い
ても一向に差し支えない。印刷法の場合の材料としては
有機金属ペースト(MOD)等がある。
り十分に洗浄後、真空蒸着技術、フォトリソグラフィー
技術により、該基板31の面上に素子電極35,36を
形成する(図4(a))。素子電極の材料としては電気
伝導性を有するものであればいずれのものでも構わない
が、例えばニッケル金属が挙げられる。素子電極間隔L
1は20μm(10〜30μmが好ましい。)、素子電
極長さW2は300μm(100〜500μmが好まし
い。)、素子電極35,36の膜厚dは100nm(5
0〜300nmが好ましい。)である。素子電極(電子
放出部近傍電極)の形成方法として、厚膜印刷法を用い
ても一向に差し支えない。印刷法の場合の材料としては
有機金属ペースト(MOD)等がある。
【0053】2)絶縁性基板31上に設けられた素子電
極35と36との間に、素子電極35と36を形成した
絶縁性基板31上に、有機金属溶液を塗布して放置する
ことにより、有機金属薄膜を形成する。なお、有機金属
溶液とは、前記Pd,Ru,Ag,Au,Ti,In,
Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pd等の金
属を主元素とする有機金属化合物の溶液である。この
後、有機金属薄膜を加熱焼成処理して、リフトオフ、エ
ッチング等によりパターニングし、導電性薄膜34を形
成する(図4(b))。
極35と36との間に、素子電極35と36を形成した
絶縁性基板31上に、有機金属溶液を塗布して放置する
ことにより、有機金属薄膜を形成する。なお、有機金属
溶液とは、前記Pd,Ru,Ag,Au,Ti,In,
Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pd等の金
属を主元素とする有機金属化合物の溶液である。この
後、有機金属薄膜を加熱焼成処理して、リフトオフ、エ
ッチング等によりパターニングし、導電性薄膜34を形
成する(図4(b))。
【0054】3)続いて、フォーミングと呼ばれる通電
処理を素子電極35,36間に電圧を印加することによ
り行ない、これにより導電性薄膜34の部分に、構造の
変化した電子放出部33が形成される(図4(c))。
この通電処理により導電性薄膜34を局所的に破壊、変
形もしくは変質せしめ、構造の変化した部位を電子放出
部33と呼ぶ。先に説明したように電子放出部33は金
属微粒子で構成されていることを本出願人らは観察して
いる。
処理を素子電極35,36間に電圧を印加することによ
り行ない、これにより導電性薄膜34の部分に、構造の
変化した電子放出部33が形成される(図4(c))。
この通電処理により導電性薄膜34を局所的に破壊、変
形もしくは変質せしめ、構造の変化した部位を電子放出
部33と呼ぶ。先に説明したように電子放出部33は金
属微粒子で構成されていることを本出願人らは観察して
いる。
【0055】フォーミング処理中の電圧波形を図5に示
す。電圧波形は特にパルス波形が好ましく、パルス波高
値が一定の電圧パルスを連続的に印加する場合(図5
(a))と、パルス波高値を増加させながら、電圧パル
スを印加する場合(図5(b))とがある。まず、パル
ス波高値を一定電圧とした場合(図5(a))について
説明する。
す。電圧波形は特にパルス波形が好ましく、パルス波高
値が一定の電圧パルスを連続的に印加する場合(図5
(a))と、パルス波高値を増加させながら、電圧パル
スを印加する場合(図5(b))とがある。まず、パル
ス波高値を一定電圧とした場合(図5(a))について
説明する。
【0056】図5(a)のにおけるT1及びT2は電圧
波形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ
秒〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒
とし、三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電
圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選
択し、適当な真空度、例えば10-5torr程度の真空
雰囲気下で、数秒から数十分間印加する。
波形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ
秒〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒
とし、三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電
圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選
択し、適当な真空度、例えば10-5torr程度の真空
雰囲気下で、数秒から数十分間印加する。
【0057】図5(b)におけるT1及びT2は図5
(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォーミン
グ時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステップ程度ず
つ増加させ適当な真空雰囲気下で印加する。なお、この
場合の通電フォーミング処理はパルス間隔T2中に、導
電性薄膜2を局所的に破壊、変形しない程度の電圧、例
えば0.1V程度の電圧で素子電流を測定し、抵抗値を
求め、例えば1MΩ以上の抵抗を示したときに通電フォ
ーミングを終了とする。
(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォーミン
グ時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステップ程度ず
つ増加させ適当な真空雰囲気下で印加する。なお、この
場合の通電フォーミング処理はパルス間隔T2中に、導
電性薄膜2を局所的に破壊、変形しない程度の電圧、例
えば0.1V程度の電圧で素子電流を測定し、抵抗値を
求め、例えば1MΩ以上の抵抗を示したときに通電フォ
ーミングを終了とする。
【0058】次に通電フォーミングが終了した素子に活
性化工程と呼ぶ処理を施すことが望ましい。活性化工程
とは、例えば10-4〜10-5torr程度の真空度で、
通電フォーミング同様、パルス波高値が一定の電圧パル
スを繰り返し印加する処理のことであり、真空中に存在
する有機物質に起因する炭素もしくは炭素化合物を導電
性薄膜上に堆積させ、素子電極If、放電電流Ieを著
しく変化させる処理である。活性化工程は素子電流If
と放出電流Ieを測定しながら、例えば放出電流Ieが
飽和した時点で終了する。また、印加する電圧パルスは
動作駆動電圧で行うことが好ましい。
性化工程と呼ぶ処理を施すことが望ましい。活性化工程
とは、例えば10-4〜10-5torr程度の真空度で、
通電フォーミング同様、パルス波高値が一定の電圧パル
スを繰り返し印加する処理のことであり、真空中に存在
する有機物質に起因する炭素もしくは炭素化合物を導電
性薄膜上に堆積させ、素子電極If、放電電流Ieを著
しく変化させる処理である。活性化工程は素子電流If
と放出電流Ieを測定しながら、例えば放出電流Ieが
飽和した時点で終了する。また、印加する電圧パルスは
動作駆動電圧で行うことが好ましい。
【0059】以上、説明した電子放出部を形成する際
に、素子の電極間に三角波パルスを印加してフォーミン
グ処理を行っているが、素子の電極間に印加する波形は
三角波に限定することはなく、矩形波等所望の波形を用
いてもよく、その波高値及びパルス幅、パルス間隔等に
ついても上述の値に限るものではなく、電子放出部が良
好に形成されれば所望の値を選択することができる。
に、素子の電極間に三角波パルスを印加してフォーミン
グ処理を行っているが、素子の電極間に印加する波形は
三角波に限定することはなく、矩形波等所望の波形を用
いてもよく、その波高値及びパルス幅、パルス間隔等に
ついても上述の値に限るものではなく、電子放出部が良
好に形成されれば所望の値を選択することができる。
【0060】なお、ここで炭素もしくは炭素化合物とは
グラファイト(単、多結晶双方を指す)、非晶質カーボ
ン(非晶質カーボン及び多結晶グラファイトとの混合物
を指す)であり、その膜厚は50nm以下が好ましく、
より好ましくは30nm以下である。
グラファイト(単、多結晶双方を指す)、非晶質カーボ
ン(非晶質カーボン及び多結晶グラファイトとの混合物
を指す)であり、その膜厚は50nm以下が好ましく、
より好ましくは30nm以下である。
【0061】こうして作成した電子放出素子をフォーミ
ング工程、活性化工程における真空度よりも高い真空度
の雰囲気下において動作駆動させるのがよい。また、さ
らに高い真空度の雰囲気下で80℃〜150℃の加熱後
動作駆動させることが望ましい。なお、フォーミング工
程、活性化処理した真空度より高い真空度とは、例えば
約10-6以上の真空度であり、より好ましくは超高真空
系であり、新たに炭素もしくは炭素化合物が導電性薄膜
上にほとんど堆積しない真空度である。こうすることに
よって素子電流If、放出電流Ieを安定化させること
が可能になる。
ング工程、活性化工程における真空度よりも高い真空度
の雰囲気下において動作駆動させるのがよい。また、さ
らに高い真空度の雰囲気下で80℃〜150℃の加熱後
動作駆動させることが望ましい。なお、フォーミング工
程、活性化処理した真空度より高い真空度とは、例えば
約10-6以上の真空度であり、より好ましくは超高真空
系であり、新たに炭素もしくは炭素化合物が導電性薄膜
上にほとんど堆積しない真空度である。こうすることに
よって素子電流If、放出電流Ieを安定化させること
が可能になる。
【0062】上述のような素子構成と製造方法によって
作成された本発明にかかわる電子放出素子の基本特性に
ついて図6と図7を用いて説明する。
作成された本発明にかかわる電子放出素子の基本特性に
ついて図6と図7を用いて説明する。
【0063】図6は、図3で示した構成を有する素子の
電子放出特性を測定するための測定評価装置の概略構成
図である。図6において、31は基板、35,36は素
子電極、34は導電性薄膜、33は電子放出部を示す。
また、61は素子に素子電圧Vfを印加するための電
源、60は素子電極35,36間の導電性薄膜34を流
れる素子電流Ifを測定するための電流計、64は素子
の電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉するた
めのアノード電極、63はアノード電極64に電圧を印
加するための高圧電源、62は素子の電子放出部33よ
り放出される放出電流Ieを測定するための電流計であ
る。電子放出素子の上記素子電流If、放出電流Ieの
測定にあったては、素子電極35,36に電源61と電
流計60とを接続し、該電子放出素子の上方に電源63
と電流計62とを接続したアノード電極64を配置して
いる。また、本電子放出素子及びアノード電極64は真
空装置65内に設置され、その真空装置には不図示の排
気ポンプ及び真空計等の真空装置に必要な機器が具備さ
れており、所望の真空下にて本素子の測定評価を行える
ようになっている。なお、アノード電極の電圧は1〜1
0kV、アノード電極と電子放出素子との距離Hは3〜
8mmの範囲で測定することが、好ましい。
電子放出特性を測定するための測定評価装置の概略構成
図である。図6において、31は基板、35,36は素
子電極、34は導電性薄膜、33は電子放出部を示す。
また、61は素子に素子電圧Vfを印加するための電
源、60は素子電極35,36間の導電性薄膜34を流
れる素子電流Ifを測定するための電流計、64は素子
の電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉するた
めのアノード電極、63はアノード電極64に電圧を印
加するための高圧電源、62は素子の電子放出部33よ
り放出される放出電流Ieを測定するための電流計であ
る。電子放出素子の上記素子電流If、放出電流Ieの
測定にあったては、素子電極35,36に電源61と電
流計60とを接続し、該電子放出素子の上方に電源63
と電流計62とを接続したアノード電極64を配置して
いる。また、本電子放出素子及びアノード電極64は真
空装置65内に設置され、その真空装置には不図示の排
気ポンプ及び真空計等の真空装置に必要な機器が具備さ
れており、所望の真空下にて本素子の測定評価を行える
ようになっている。なお、アノード電極の電圧は1〜1
0kV、アノード電極と電子放出素子との距離Hは3〜
8mmの範囲で測定することが、好ましい。
【0064】図6に示した測定評価装置により測定され
た放出電流Ie及び素子電流Ifと素子電圧Vfの関係
の典型的な例を図7に示す。なお、図7は任意単位で示
されており、放出電流Ieは素子電流Ifのおよそ10
00分の1程度である。図から明らかなように、電子放
出素子は放出電流Ieに対して3つの特性を有する。
た放出電流Ie及び素子電流Ifと素子電圧Vfの関係
の典型的な例を図7に示す。なお、図7は任意単位で示
されており、放出電流Ieは素子電流Ifのおよそ10
00分の1程度である。図から明らかなように、電子放
出素子は放出電流Ieに対して3つの特性を有する。
【0065】第一に、本素子はある電圧(閾値電圧と呼
ぶ、図7中のVth)以上の素子電圧を印加すると、急
激に放出電流Ieが増加し、一方、閾値電圧以下では放
出電流Ieがほとんど検出されない。すなわち、放出電
流Ieに対する明確な閾値電圧Vthをもった非線形素
子である。
ぶ、図7中のVth)以上の素子電圧を印加すると、急
激に放出電流Ieが増加し、一方、閾値電圧以下では放
出電流Ieがほとんど検出されない。すなわち、放出電
流Ieに対する明確な閾値電圧Vthをもった非線形素
子である。
【0066】第二に、放出電流Ieが素子電圧Vfに依
存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御でき
る。
存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御でき
る。
【0067】第三に、アノード電極64に捕捉される電
荷量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御でき
る。
荷量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御でき
る。
【0068】以上のような特性を有するため、本発明に
かかわる電子放出素子は、多方面への応用が期待され
る。また、素子電流Ifは素子電圧Vfに対して単調増
加する(MI)特性の例を図7に示したが、この他に
も、素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御型負
性抵抗(VCNR)特性を示す場合もある(不図示)。
この場合も電子放出素子は上述した3つの特性を有す
る。なお、予め導電性微粒子を分散して構成した表面伝
導型電子放出素子においては、前記本発明の基本的な素
子構成の、基本的な製造方法の一部を変更しても構成で
きる。
かかわる電子放出素子は、多方面への応用が期待され
る。また、素子電流Ifは素子電圧Vfに対して単調増
加する(MI)特性の例を図7に示したが、この他に
も、素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御型負
性抵抗(VCNR)特性を示す場合もある(不図示)。
この場合も電子放出素子は上述した3つの特性を有す
る。なお、予め導電性微粒子を分散して構成した表面伝
導型電子放出素子においては、前記本発明の基本的な素
子構成の、基本的な製造方法の一部を変更しても構成で
きる。
【0069】また、本発明が適用されるカラー画像表示
装置の代表的な構成としては、まず、上記特開平2−5
6822のような製造方法により作成される電子放出素
子を複数個、基板31上に形成する(図8)。該基板3
1をリアプレート32上に固定した後、基板31の5m
m上方にフェースプレート40(ガラス基板37の内面
に蛍光体膜38とメタルバック39が形成されて構成さ
れる)を支持枠43を介して配置し、フェースプレート
40、支持枠43、リアプレート32の接合部にフリッ
トガラスを塗布し、大気中もしくは窒素雰囲気中にて4
00℃ないし500℃で10分間以上焼成することで封
着できる(図8)。また、リアプレート32への基板3
1の固定もフリットガラスによりできる。図8におい
て、34は電子放出部、75,76はそれぞれ第1の配
線(X方向配線)、第2の配線(Y方向配線)である。
なお、ここではフェースプレート40、支持枠43、リ
アプレート32で外囲器41を構成したが、リアプレー
ト32は主に基板31の強度を補強する目的で設けられ
るため、基板31自体で十分な強度をもつ場合には、別
体のリアプレート32は不要であり、基板31に直接、
支持枠43を封着し、フェースプレート40、支持枠4
3、基板31にて外囲器41を構成する。また、蛍光体
膜38の内面側には通常メタルバック39が設けられ
る。
装置の代表的な構成としては、まず、上記特開平2−5
6822のような製造方法により作成される電子放出素
子を複数個、基板31上に形成する(図8)。該基板3
1をリアプレート32上に固定した後、基板31の5m
m上方にフェースプレート40(ガラス基板37の内面
に蛍光体膜38とメタルバック39が形成されて構成さ
れる)を支持枠43を介して配置し、フェースプレート
40、支持枠43、リアプレート32の接合部にフリッ
トガラスを塗布し、大気中もしくは窒素雰囲気中にて4
00℃ないし500℃で10分間以上焼成することで封
着できる(図8)。また、リアプレート32への基板3
1の固定もフリットガラスによりできる。図8におい
て、34は電子放出部、75,76はそれぞれ第1の配
線(X方向配線)、第2の配線(Y方向配線)である。
なお、ここではフェースプレート40、支持枠43、リ
アプレート32で外囲器41を構成したが、リアプレー
ト32は主に基板31の強度を補強する目的で設けられ
るため、基板31自体で十分な強度をもつ場合には、別
体のリアプレート32は不要であり、基板31に直接、
支持枠43を封着し、フェースプレート40、支持枠4
3、基板31にて外囲器41を構成する。また、蛍光体
膜38の内面側には通常メタルバック39が設けられ
る。
【0070】メタルバックの目的は、蛍光体の発光のう
ち内面側への光をフェースプレート40側へ鏡面反射す
ることにより輝度を向上することで、電子ビーム加速電
圧を印加するための電極として作用すること、外囲器内
で発生した負イオンの衝突によるダメージからの蛍光体
の保護等である。
ち内面側への光をフェースプレート40側へ鏡面反射す
ることにより輝度を向上することで、電子ビーム加速電
圧を印加するための電極として作用すること、外囲器内
で発生した負イオンの衝突によるダメージからの蛍光体
の保護等である。
【0071】メタルバックは、蛍光体膜作成後、蛍光体
膜の内面の平滑処理(通常フィルミングと呼ばれる)を
行い、その後Alを真空蒸着することで作成する。フェ
ースプレート40には、さらに蛍光体膜38の電気伝導
性を高めるため、蛍光体膜38の外面側に透明電極(図
示せず)が設けられる場合もある。前述の封着を行う
際、カラー画像表示装置の場合には、各色に対応する蛍
光体と電子放出素子との位置合わせを十分に行う必要が
ある。このようにして作成されるガラス容器内の雰囲気
を排気管(図示せず)を通じて真空ポンプにて排気し、
十分な真空度に達した後、容器外端子Dx1〜Dxmと
Dy1〜Dyn(不図示)を通じ素子電極35,36間
に電圧を印加し、前述のフォーミングを実施して、電子
放出部34を形成し電子放出素子を作成する。最後に、
10-6torr程度の真空度にて、排気管を熱して溶着
して外囲器の封止を行い画像表示装置を完成する。さら
に、封止後に真空度を維持するために、ゲッター処理な
る工程を実施する。これは、封止を行う直前あるいは封
止後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱とにより、画像表
示装置の所定の位置(図示せず)に配設されたゲッター
を加熱してゲッター蒸着膜を形成する処理である。ゲッ
ターとしては、通常、Ba等が主成分であり、該蒸着膜
の吸着作用により真空度を維持するものである。
膜の内面の平滑処理(通常フィルミングと呼ばれる)を
行い、その後Alを真空蒸着することで作成する。フェ
ースプレート40には、さらに蛍光体膜38の電気伝導
性を高めるため、蛍光体膜38の外面側に透明電極(図
示せず)が設けられる場合もある。前述の封着を行う
際、カラー画像表示装置の場合には、各色に対応する蛍
光体と電子放出素子との位置合わせを十分に行う必要が
ある。このようにして作成されるガラス容器内の雰囲気
を排気管(図示せず)を通じて真空ポンプにて排気し、
十分な真空度に達した後、容器外端子Dx1〜Dxmと
Dy1〜Dyn(不図示)を通じ素子電極35,36間
に電圧を印加し、前述のフォーミングを実施して、電子
放出部34を形成し電子放出素子を作成する。最後に、
10-6torr程度の真空度にて、排気管を熱して溶着
して外囲器の封止を行い画像表示装置を完成する。さら
に、封止後に真空度を維持するために、ゲッター処理な
る工程を実施する。これは、封止を行う直前あるいは封
止後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱とにより、画像表
示装置の所定の位置(図示せず)に配設されたゲッター
を加熱してゲッター蒸着膜を形成する処理である。ゲッ
ターとしては、通常、Ba等が主成分であり、該蒸着膜
の吸着作用により真空度を維持するものである。
【0072】以上のような製造方法により構成される画
像表示装置において、各電子放出素子には容器外端子D
x1〜DxmないしDy1〜Dynを通じて電圧を印加
することにより電子放出させ、また高圧端子Hvを通じ
メタルバック39または透明電極に数kV以上の高圧を
印加し電子ビームを加速して蛍光体膜38に衝突させて
蛍光体を励起、発光させることにより画像が形成され
る。もちろん、これらの構成は画像表示装置を作成する
上で必要な構成の概略であり、各部材の材料等は上述の
内容に限るものではない。
像表示装置において、各電子放出素子には容器外端子D
x1〜DxmないしDy1〜Dynを通じて電圧を印加
することにより電子放出させ、また高圧端子Hvを通じ
メタルバック39または透明電極に数kV以上の高圧を
印加し電子ビームを加速して蛍光体膜38に衝突させて
蛍光体を励起、発光させることにより画像が形成され
る。もちろん、これらの構成は画像表示装置を作成する
上で必要な構成の概略であり、各部材の材料等は上述の
内容に限るものではない。
【0073】蛍光体膜38は、モノクローム表示の場合
には蛍光体のみからなるが、カラー表示の場合は蛍光体
の配列によりブラックストライプあるいはブラックマト
リクスと呼ばれる黒色部材92と蛍光体93とで構成さ
れる(図9)。黒色部材が設けられる目的は、カラー表
示の場合に必要となる三原色蛍光体の、各蛍光体93の
塗り分け部分を黒くすることで混色等を目立たなくする
こと、蛍光体膜38における外光反射によるコントラス
トの低下を抑制することである。該黒色材料としては、
通常、黒鉛を主成分とするものが多いが、電気伝導性が
あり、光の透過及び反射が少ない材料であれば、これに
限るものではない。
には蛍光体のみからなるが、カラー表示の場合は蛍光体
の配列によりブラックストライプあるいはブラックマト
リクスと呼ばれる黒色部材92と蛍光体93とで構成さ
れる(図9)。黒色部材が設けられる目的は、カラー表
示の場合に必要となる三原色蛍光体の、各蛍光体93の
塗り分け部分を黒くすることで混色等を目立たなくする
こと、蛍光体膜38における外光反射によるコントラス
トの低下を抑制することである。該黒色材料としては、
通常、黒鉛を主成分とするものが多いが、電気伝導性が
あり、光の透過及び反射が少ない材料であれば、これに
限るものではない。
【0074】ガラス基板37に蛍光体を塗布する方法と
しては、モノクロームの場合には沈澱法、印刷法等があ
る。カラーでは、スラリー法等がある。もちろん、カラ
ーにて印刷法を用いることも可能である。
しては、モノクロームの場合には沈澱法、印刷法等があ
る。カラーでは、スラリー法等がある。もちろん、カラ
ーにて印刷法を用いることも可能である。
【0075】
【実施例】次に、実施例により、電子源基板、特に表面
伝導型電子放出素子を用いた画像表示装置及びその製造
方法について説明する。
伝導型電子放出素子を用いた画像表示装置及びその製造
方法について説明する。
【0076】[実施例1]第1の実施例を、図1及び図
2を参照しつつ説明する。図1は平面図、図2は作製プ
ロセスを説明する工程図である。本実施例は、層間絶縁
層の、素子電極と第2の配線(走査側配線)との接続部
分に、切り欠き部20(凹部分)を形成した例で、本発
明における最も複雑な構造の製造方法である。
2を参照しつつ説明する。図1は平面図、図2は作製プ
ロセスを説明する工程図である。本実施例は、層間絶縁
層の、素子電極と第2の配線(走査側配線)との接続部
分に、切り欠き部20(凹部分)を形成した例で、本発
明における最も複雑な構造の製造方法である。
【0077】まず、洗浄されたガラス基板(ここでは、
ソーダライムガラス基板を使用)に、素子電極1a,1
bを形成した。本実施例では、膜の成膜方法としては、
スクリーン印刷法を使用した。ここで使用した厚膜ペー
スト材料は、MODペーストで、金属成分はAuであ
る。印刷の方法はスクリーン印刷法である。印刷の後、
70℃で10分乾燥し、次に本焼成を実施した。焼成温
度は580℃で、ピーク保持時間は約8分である。印
刷、焼成後の膜厚は、0.3μmであった。
ソーダライムガラス基板を使用)に、素子電極1a,1
bを形成した。本実施例では、膜の成膜方法としては、
スクリーン印刷法を使用した。ここで使用した厚膜ペー
スト材料は、MODペーストで、金属成分はAuであ
る。印刷の方法はスクリーン印刷法である。印刷の後、
70℃で10分乾燥し、次に本焼成を実施した。焼成温
度は580℃で、ピーク保持時間は約8分である。印
刷、焼成後の膜厚は、0.3μmであった。
【0078】パターンは、図2に記載の通り、略長方形
のパターンを形成した。また、このとき同時に、外部駆
動回路との接続用引出電極(不図示)を形成した。この
ことにより工程が1工程短縮される。もちろん、別々に
形成しても一向に差し支えない。
のパターンを形成した。また、このとき同時に、外部駆
動回路との接続用引出電極(不図示)を形成した。この
ことにより工程が1工程短縮される。もちろん、別々に
形成しても一向に差し支えない。
【0079】次に第1の配線2(信号側配線)を形成し
た。膜の形成方法は、スクリーン印刷法を用い、ペース
ト材料としては、ノリタケカンパニー製Ag含有厚膜ペ
ーストNP−4028Aを使用した。印刷、焼成後の膜
厚は13μmであった。
た。膜の形成方法は、スクリーン印刷法を用い、ペース
ト材料としては、ノリタケカンパニー製Ag含有厚膜ペ
ーストNP−4028Aを使用した。印刷、焼成後の膜
厚は13μmであった。
【0080】次に、層間絶縁層3を形成した。本実施例
では配線と同様に、厚膜スクリーン印刷法を用いた。ペ
ースト材料はPbOを主成分としてガラスバインダーを
混合したペーストである。焼成温度は580℃、ピーク
保持時間は約8分である。印刷、焼成後の膜厚は30μ
mであった。また、通常、絶縁層は上下の第1の配線と
第2の配線との層間の絶縁性を確保するために、印刷、
焼成を2回ずつ実施する。厚膜ペーストにより形成され
る膜は通常ポーラスな膜である。このため、1回印刷、
焼成後、再度印刷を行い1回目の膜のポーラス状態を埋
め込むようにして2回目の膜を印刷、焼成する。これに
より絶縁性が確保されることになる。本実施例もこれに
従った。
では配線と同様に、厚膜スクリーン印刷法を用いた。ペ
ースト材料はPbOを主成分としてガラスバインダーを
混合したペーストである。焼成温度は580℃、ピーク
保持時間は約8分である。印刷、焼成後の膜厚は30μ
mであった。また、通常、絶縁層は上下の第1の配線と
第2の配線との層間の絶縁性を確保するために、印刷、
焼成を2回ずつ実施する。厚膜ペーストにより形成され
る膜は通常ポーラスな膜である。このため、1回印刷、
焼成後、再度印刷を行い1回目の膜のポーラス状態を埋
め込むようにして2回目の膜を印刷、焼成する。これに
より絶縁性が確保されることになる。本実施例もこれに
従った。
【0081】ここで、本発明の特徴である、素子電極に
より形成される微小間隙5と第2の配線4とが平行であ
ることの効果が発揮される。すなわち、本発明の構成に
よれば、素子電極と第2の配線(走査側配線)とを電気
的に接続する切り欠き部20(凹部分)を形成する位置
は、隣接する任意の二つの第1の配線(信号側配線)の
間であれば、どの位置にでも形成することが可能であ
る。 ここで、第1の配線の丁度中点部分に接続部分を
形成することにより、上下配線間での短絡を著しく低減
することが可能となる。
より形成される微小間隙5と第2の配線4とが平行であ
ることの効果が発揮される。すなわち、本発明の構成に
よれば、素子電極と第2の配線(走査側配線)とを電気
的に接続する切り欠き部20(凹部分)を形成する位置
は、隣接する任意の二つの第1の配線(信号側配線)の
間であれば、どの位置にでも形成することが可能であ
る。 ここで、第1の配線の丁度中点部分に接続部分を
形成することにより、上下配線間での短絡を著しく低減
することが可能となる。
【0082】最後に、第2の配線(走査側配線)を形成
する。第1の配線と同様に、形成方法は厚膜スクリーン
印刷法を用い、ペースト材料としては、ノリタケカンパ
ニーのNP−4035Cを使用した。焼成温度は450
℃、ピーク保持時間は約8分である。印刷、焼成後の膜
厚は、15μmであった。
する。第1の配線と同様に、形成方法は厚膜スクリーン
印刷法を用い、ペースト材料としては、ノリタケカンパ
ニーのNP−4035Cを使用した。焼成温度は450
℃、ピーク保持時間は約8分である。印刷、焼成後の膜
厚は、15μmであった。
【0083】以上で、マトリクス配線の部分が完成す
る。もちろん、ペースト材料、印刷方法等はここに記し
たものに限るものではない。
る。もちろん、ペースト材料、印刷方法等はここに記し
たものに限るものではない。
【0084】配線完成後、電子放出部を形成する。ま
ず、上記印刷方法で形成された、電子放出部へ通電する
ための素子電極1a,1bを覆ってその上に有機パラジ
ウム(CCP4230、奥野製薬工業(株)製)をスピ
ンナーにより回転塗布後、300℃で10分間の加熱処
理を行い導電性薄膜5を形成する。このようにして形成
された導電性薄膜は、PdOを主元素とする微粒子から
構成され、その膜厚は10nm、シート抵抗値は5×1
04Ω/□であった。なお、ここで述べる微粒子膜とし
ては複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造と
しては微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微
粒子が互いに隣接、あるいは、重なり合った状態(島状
も含む)の膜をも指し、その粒径とは、前記状態で粒子
形状が認識可能な微粒子についての径をいう。
ず、上記印刷方法で形成された、電子放出部へ通電する
ための素子電極1a,1bを覆ってその上に有機パラジ
ウム(CCP4230、奥野製薬工業(株)製)をスピ
ンナーにより回転塗布後、300℃で10分間の加熱処
理を行い導電性薄膜5を形成する。このようにして形成
された導電性薄膜は、PdOを主元素とする微粒子から
構成され、その膜厚は10nm、シート抵抗値は5×1
04Ω/□であった。なお、ここで述べる微粒子膜とし
ては複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造と
しては微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微
粒子が互いに隣接、あるいは、重なり合った状態(島状
も含む)の膜をも指し、その粒径とは、前記状態で粒子
形状が認識可能な微粒子についての径をいう。
【0085】この導電性薄膜をフォトリソグラフィー法
を用いて、パターニングすることによりフォーミング前
までの素子の製造工程が完了する。
を用いて、パターニングすることによりフォーミング前
までの素子の製造工程が完了する。
【0086】フォーミング方法は、従来の方法を採用す
ることができる。本実施例では、以下の条件とした(図
5参照)。図5中、T1及びT2は電圧波形のパルス幅
とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、T
2を10ミリ秒とし、三角波の波高値(フォーミング時
のピーク電圧)は14Vとしフォーミング処理は約1×
10ー6torrの真空雰囲気下で60秒間実施した。
ることができる。本実施例では、以下の条件とした(図
5参照)。図5中、T1及びT2は電圧波形のパルス幅
とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、T
2を10ミリ秒とし、三角波の波高値(フォーミング時
のピーク電圧)は14Vとしフォーミング処理は約1×
10ー6torrの真空雰囲気下で60秒間実施した。
【0087】次に、すべての表面伝導型電子放出素子の
フォーミングが終了後、1×10ー6torr程度の真空
度で排気管(不図示)をガスバーナーで熱して溶着し外
囲器の封止を行った。
フォーミングが終了後、1×10ー6torr程度の真空
度で排気管(不図示)をガスバーナーで熱して溶着し外
囲器の封止を行った。
【0088】最後に、封止後の真空度を維持するため
に、ゲッター処理を行った。これは、封止を行う直前に
高周波加熱等の加熱法により、画像表示装置内の所定の
位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜
を形成する処理である。ゲッターはBa等を主成分とす
るものである。
に、ゲッター処理を行った。これは、封止を行う直前に
高周波加熱等の加熱法により、画像表示装置内の所定の
位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜
を形成する処理である。ゲッターはBa等を主成分とす
るものである。
【0089】以上のようにして完成した本発明の画像表
示装置において、各電子放出素子には、容器外端子Dx
1ないしDxm、Dy1ないしDynを通じて、走査信
号及び変調信号を信号発生手段(不図示)により、それ
ぞれ印加することにより、電子放出させ、高圧端子Hv
を通じて、メタルバック膜に数kVの高圧を印加し、電
子ビームを加速して蛍光膜に衝突、励起、発光させるこ
とで画像を表示させた。
示装置において、各電子放出素子には、容器外端子Dx
1ないしDxm、Dy1ないしDynを通じて、走査信
号及び変調信号を信号発生手段(不図示)により、それ
ぞれ印加することにより、電子放出させ、高圧端子Hv
を通じて、メタルバック膜に数kVの高圧を印加し、電
子ビームを加速して蛍光膜に衝突、励起、発光させるこ
とで画像を表示させた。
【0090】[実施例2]第2の実施例を、図10及び
図11を参照しつつ説明する。図10は平面図、図11
は工程図である。本実施例の電子源基板の構成は、本発
明中、最も簡便な構成である。
図11を参照しつつ説明する。図10は平面図、図11
は工程図である。本実施例の電子源基板の構成は、本発
明中、最も簡便な構成である。
【0091】まず、実施例1と同様にして、洗浄された
ガラス基板(ここでは、ソーダライムガラス基板を使
用)に、素子電極81a,81bを形成する(図11
(a))。本実施例でも、実施例1と同様に、膜の成膜
方法としては、厚膜印刷法を使用した。ここで使用した
厚膜ペースト材料は、MODペーストで、本実施例では
金属成分としてPtを用いた。印刷の方法はスクリーン
印刷法である。
ガラス基板(ここでは、ソーダライムガラス基板を使
用)に、素子電極81a,81bを形成する(図11
(a))。本実施例でも、実施例1と同様に、膜の成膜
方法としては、厚膜印刷法を使用した。ここで使用した
厚膜ペースト材料は、MODペーストで、本実施例では
金属成分としてPtを用いた。印刷の方法はスクリーン
印刷法である。
【0092】印刷の後、70℃で10分乾燥し、次に本
焼成を実施した。焼成温度は580℃で、ピーク保持時
間は約8分であった。印刷、焼成後の膜厚は、0.25
μmであった。
焼成を実施した。焼成温度は580℃で、ピーク保持時
間は約8分であった。印刷、焼成後の膜厚は、0.25
μmであった。
【0093】パターンは、図11に示すように一対の長
方形パターンを形成した。また、このとき同時に、外部
駆動回路との接続用引出電極(不図示)を形成した。こ
のことにより工程が1工程短縮される。
方形パターンを形成した。また、このとき同時に、外部
駆動回路との接続用引出電極(不図示)を形成した。こ
のことにより工程が1工程短縮される。
【0094】次に、本実施例では、走査側の配線84を
形成した(図11(b))。
形成した(図11(b))。
【0095】ここで、本発明の特徴である、素子電極に
より形成される微小間隙85と走査側の配線層84とが
平行であることの効果が発揮される。すなわち、本発明
の構成によれば、素子電極と走査側配線84との接続部
分が大きくとれ、かつ次工程で形成される層間絶縁層8
3に接続用の例えば凹部分等を設ける必要がない。この
ことは、層間絶縁層を印刷で形成する際にパターンの崩
れ等がなく良好な膜が形成できる。
より形成される微小間隙85と走査側の配線層84とが
平行であることの効果が発揮される。すなわち、本発明
の構成によれば、素子電極と走査側配線84との接続部
分が大きくとれ、かつ次工程で形成される層間絶縁層8
3に接続用の例えば凹部分等を設ける必要がない。この
ことは、層間絶縁層を印刷で形成する際にパターンの崩
れ等がなく良好な膜が形成できる。
【0096】また、凹部分がないことから、信号側の配
線を形成した際のペーストのダレ等による上下間の短絡
等がなくなる。
線を形成した際のペーストのダレ等による上下間の短絡
等がなくなる。
【0097】次に、層間絶縁層83を形成する。本実施
例では厚膜印刷法を用いた。ペースト材料はPbOを主
成分としてガラスバインダー及び樹脂を混合したペース
トである。焼成温度は580℃、ピーク保持時間は約8
分であった。印刷、焼成後の膜厚は30μmであった。
形成方法は実施例1と同様に2回印刷、2回焼成した
(図11(c))。
例では厚膜印刷法を用いた。ペースト材料はPbOを主
成分としてガラスバインダー及び樹脂を混合したペース
トである。焼成温度は580℃、ピーク保持時間は約8
分であった。印刷、焼成後の膜厚は30μmであった。
形成方法は実施例1と同様に2回印刷、2回焼成した
(図11(c))。
【0098】最後に、信号側配線82を形成した(図1
1(d))。走査側配線と同様に、形成方法は厚膜スク
リーン印刷法を用い、ペースト材料としては、ノリタケ
カンパニーのNP−4035Cを使用した。焼成温度は
450℃、ピーク保持時間は約8分である。印刷、焼成
後の膜厚は、15μmであった。
1(d))。走査側配線と同様に、形成方法は厚膜スク
リーン印刷法を用い、ペースト材料としては、ノリタケ
カンパニーのNP−4035Cを使用した。焼成温度は
450℃、ピーク保持時間は約8分である。印刷、焼成
後の膜厚は、15μmであった。
【0099】以上で、マトリクス配線の部分が完成す
る。もちろん、ペースト材料、印刷方法等はここに記し
たものに限るものではない。
る。もちろん、ペースト材料、印刷方法等はここに記し
たものに限るものではない。
【0100】これ以降の工程は実施例1と同様にして作
製した。
製した。
【0101】[実施例3]第3の実施例を図12及び図
13を用いて説明する。図12は平面図、図13は工程
図である。本実施例は、実施例2をさらに簡略化した例
で、層間絶縁層93を上下の配線(第1、第2の配線9
2、94)の交差する部分近傍にのみ形成したものであ
る。その他の構成は実施例1と同様であるからその説明
を省略する。
13を用いて説明する。図12は平面図、図13は工程
図である。本実施例は、実施例2をさらに簡略化した例
で、層間絶縁層93を上下の配線(第1、第2の配線9
2、94)の交差する部分近傍にのみ形成したものであ
る。その他の構成は実施例1と同様であるからその説明
を省略する。
【0102】なお、91a,91bは素子電極である。
【0103】このような構成にすることで、電子放出部
分より放出される電子ビームの軌道に与える影響が緩和
される。
分より放出される電子ビームの軌道に与える影響が緩和
される。
【0104】なお、本実施例の場合、層間絶縁層93を
上下配線の交差部分のみに形成してあることから、第1
の配線、第2の配線(走査側配線、信号側配線)の形成
順序を逆にすることも可能である。
上下配線の交差部分のみに形成してあることから、第1
の配線、第2の配線(走査側配線、信号側配線)の形成
順序を逆にすることも可能である。
【0105】
【発明の効果】以上説明したように、本発明においては
電子源基板を上記のように構成したので、層間絶縁層に
走査側配線と素子電極との電気的接続用の切り欠き部を
形成する場合には、隣接する任意の第1の配線の間の任
意の箇所又は隣接する任意の第2の配線の間の任意の箇
所に形成でき、特に中点部分に形成する場合には第1の
配線と第2の配線との間の短絡を確実に低減できる。と
いう効果があり、特に厚膜スクリーン印刷法を用いて電
子源基板を作製する場合に、信頼性が高くかつ、製造工
程の容易な方法で製造が可能となる。
電子源基板を上記のように構成したので、層間絶縁層に
走査側配線と素子電極との電気的接続用の切り欠き部を
形成する場合には、隣接する任意の第1の配線の間の任
意の箇所又は隣接する任意の第2の配線の間の任意の箇
所に形成でき、特に中点部分に形成する場合には第1の
配線と第2の配線との間の短絡を確実に低減できる。と
いう効果があり、特に厚膜スクリーン印刷法を用いて電
子源基板を作製する場合に、信頼性が高くかつ、製造工
程の容易な方法で製造が可能となる。
【図1】本発明の電子源基板の素子部分の基本構成を示
す概略平面図である。
す概略平面図である。
【図2】(a)〜(d)は本発明の電子源基板の製造方
法の一例を示す工程フロー図である。
法の一例を示す工程フロー図である。
【図3】本発明に用いる表面伝導型電子放出素子の典型
的な構成を示す(a)は平面図、(b)は側面図であ
る。
的な構成を示す(a)は平面図、(b)は側面図であ
る。
【図4】(a)〜(c)は表面伝導型電子の放出素子の
製造方法の各工程を示す説明図である。
製造方法の各工程を示す説明図である。
【図5】(a),(b)はフォーミング電圧波形を示す
グラフである。
グラフである。
【図6】電子放出素子の電子放出特性測定評価装置の構
成を示す概略図である。
成を示す概略図である。
【図7】表面伝導型電子放出素子の典型的な放電特性を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図8】本発明の画像表示装置の構成例を示す斜視図で
ある。
ある。
【図9】(a),(b)は蛍光体の構成を示す平面図で
ある。
ある。
【図10】実施例2の素子構成を示す平面図である。
【図11】(a)〜(d)は実施例2の製造方法の各工
程を示す説明図である。
程を示す説明図である。
【図12】実施例3の素子構成を示す平面図である。
【図13】(a)〜(d)は実施例3の製造方法の各工
程を示す説明図である。
程を示す説明図である。
【図14】従来の表面伝導型電子放出素子の構成を示す
平面図である。
平面図である。
1a,1b 素子電極 2 第1の配線 3 層間絶縁層 4 第2の配線 5 微小間隙 6 切り欠き部
Claims (9)
- 【請求項1】 層間絶縁層を介して互いに直交する複数
の第1の配線と複数の第2の配線とを基板面に形成した
マトリクス配線基板と、第1の配線と第2の配線とで囲
まれた各領域にそれぞれ配設されると共に第1の配線と
第2の配線とにそれぞれ接続された一対の素子電極及び
前記一対の素子電極間に形成された電子放出部からなる
電子放出素子とを有する電子源基板において、前記一対
の素子電極が電極部及び前記電極部に一体に形成された
接続部とからなり前記一対の電極部を互いに所定間隔離
間して対向させることにより形成する両電極の間隙部を
前記第1の電極又は第2の電極の一方に平行に配設する
と共に各接続部を前記第1の配線又は第2の配線にそれ
ぞれ接続してなることを特徴とする電子源基板。 - 【請求項2】 請求項1に記載の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極を形成し、次いで第1
の配線を形成することを特徴とする電子源基板の製造方
法。 - 【請求項3】 請求項1に記載の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極対を形成し、次いで一
対の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線
を形成し、次いで第1の配線の上面を覆って層間絶縁層
を形成した後、一対の素子電極の他方の電極の接続部に
重ねて第2の配線を形成することを特徴とする電子源基
板の製造方法。 - 【請求項4】 請求項1に記載の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極を形成し、次いで一対
の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線を
形成し、次いで一対の素子電極の他方の電極の接続部に
重ねて第1の配線間の中点に接続用切り欠き部を有する
層間絶縁層を第1の配線と直交させて形成した後、層間
絶縁層の上面に第2の配線を形成することを特徴とする
電子源基板の製造方法。 - 【請求項5】 請求項1に記載の電子源基板の製造方法
において、まず基板上に素子電極対を形成し、次いで一
対の素子電極の一方の電極の接続部に重ねて第1の配線
を形成し、次いで第1の配線の上面であってかつ第1の
配線と第2の配線との交差予定部を覆って層間絶縁層を
形成した後、一対の素子電極の他方の電極の接続部に重
ねて第2の配線を形成することを特徴とする電子源基板
の製造方法。 - 【請求項6】 第1の配線、第2の配線、層間絶縁層、
又は素子電極を厚膜印刷法によって形成する請求項2乃
至5のいずれかに記載された電子源基板の製造方法。 - 【請求項7】 電子放出素子が導電性薄膜に通電処理を
施すことにより電子放出部が形成される表面伝導型電子
放出素子である請求項2乃至6のいずれかに記載された
電子源基板の製造方法。 - 【請求項8】 請求項2乃至7のいずれかに記載された
製造方法によって製造された電子源基板。 - 【請求項9】 請求項1又は8に記載された電子源基板
の各電子放出素子と対向する位置に、電子の照射により
可視光を発する蛍光体を配設することにより画素を形成
せしめる画像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5338496A JPH09245693A (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5338496A JPH09245693A (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09245693A true JPH09245693A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=12941337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5338496A Pending JPH09245693A (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09245693A (ja) |
-
1996
- 1996-03-11 JP JP5338496A patent/JPH09245693A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3217629B2 (ja) | 電子源、該電子源を用いた画像形成装置、前記電子源の製造方法および前記画像形成装置の製造方法 | |
| JP3372720B2 (ja) | 電子源基板および画像形成装置ならびにそれらの製造方法 | |
| JP3200270B2 (ja) | 表面伝導型電子放出素子、電子源、及び、画像形成装置の製造方法 | |
| JP3222338B2 (ja) | 電子源および画像形成装置の製造方法 | |
| JPH08162001A (ja) | 電子源基板、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 | |
| JP3332673B2 (ja) | 電子源基板および画像形成装置ならびにそれらの製造方法 | |
| JP4058187B2 (ja) | 電子源基板、画像表示装置及び電子源基板の製造方法 | |
| JP3450533B2 (ja) | 電子源基板および画像形成装置の製造方法 | |
| JPH09245694A (ja) | 電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置 | |
| JPH09245693A (ja) | 電子源基板、その製造方法、及び画像表示装置 | |
| JP3459705B2 (ja) | 電子源基板の製造方法、及び画像形成装置の製造方法 | |
| JP3450565B2 (ja) | 電子源基板および画像形成装置の製造方法 | |
| JP3450425B2 (ja) | 電子源およびその製造方法、ならびに画像形成装置 | |
| JPH08180800A (ja) | 電子源及び画像表示装置の製造方法 | |
| JP4147072B2 (ja) | 電子源基板とその製造方法、並びに該電子源基板を用いた画像表示装置 | |
| JP3135801B2 (ja) | 画像形成装置の製造方法 | |
| JP3207990B2 (ja) | 平板型画像形成装置 | |
| JP3387710B2 (ja) | 電子源基板の製造方法および画像形成装置の製造方法 | |
| JP3459720B2 (ja) | 電子源の製造方法および画像形成装置の製造方法 | |
| JP2001351548A (ja) | 平板型画像形成装置及びその製造方法 | |
| JPH0855560A (ja) | 電子放出部形成用材料、電子放出素子および画像形成装置の製造方法 | |
| JPH09219142A (ja) | 電子放出素子、電子源基板、電子源、表示パネルおよび画像形成装置 | |
| JPH11312462A (ja) | 電子源基板及び画像表示装置並びに電子源基板の製造方法 | |
| JPH07321110A (ja) | 配線形成方法、電子源およびその製造方法、ならびに画像形成装置 | |
| JP2000251681A (ja) | 電子源基板、画像表示装置、電子源基板の製造方法及び記憶媒体 |