JPH09250932A - データ処理装置および試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パラメータの変更に対して旧データの修正が
可能なデータ処理装置および該データ処理装置を備えた
試験装置を提供する。 【解決手段】 データ処理装置３および試験装置１にお
いて、パラメータ設定部３２は入力されるデータに関し
た校正乗数等のパラメータを設定し、保存部３３は入力
されたデータとパラメータ設定部３２で設定したパラメ
ータを含む種々のパラメータとを両者の対応付けを行い
ながら累積して格納し履歴として保持する。データ処理
部３４は、保存部３３からデータを読み出すと共に、前
記対応付けを利用してパラメータの履歴の中から対応す
るパラメータを読み出し、読み出したパラメータによっ
てデータの校正を行う。設定パラメータの変更時には、
パラメータ設定部３２によってパラメータの履歴を変更
するとともに、パラメータとデータとの対応付けを利用
してデータを読み出し、読み出したデータに対して変更
パラメータによるデータ処理を施して旧データの修正を
行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分析装置や計測装
置等の測定装置によって収集したデータに対してパラメ
ータによりデータ処理を行うデータ処理装置および該デ
ータ処理装置を備えた試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、分析装置や計測装置等の測定装
置から得られるデータは各装置が備えたセンサが出力す
る出力信号であり、該出力信号はそのままのデータでは
必ずしも分析や計測によって得ようとする物理量を表す
とは限らない。そのため、得られたデータから必要とす
る物理量を得るために、従来よりデータに対してパラメ
ータを用いて校正を行っている。

【０００３】図８は従来のデータ処理を説明するための
ブロック図である。図８において、分析装置や計測装置
等の測定装置６０で得られたデータは、データ処理装置
６でパラメータを用いたデータ処理が行われ校正済デー
タとして出力される。データ処理装置６は、測定装置６
０からのデータを入力するデータ収集部６１と、パラメ
ータを設定するためのパラメータ設定部６２と、収集し
たデータに対してパラメータでデータ処理を施して校正
済データを得るデータ処理部６４と、求めた校正済デー
タを保存するデータ保存部６３を備え、パラメータ設定
部６２は最新のパラメータのみを保持し、データ保存部
６３は校正済データのみを保存している。

【０００４】従来のデータ処理装置６においてパラメー
タを変更する場合には、パラメータ設定部６２から新た
なパラメータを入力すると共に保持していたパラメータ
を消去して更新を行う。データ処理部６４は、新たに収
集したデータに対して更新したパラメータでデータ処理
を行う。また、試験装置は分析装置や計測装置等の測定
装置にデータ処理装置を組み合わせて構成し、測定装置
が求めた測定データをデータ処理装置においてパラメー
タによって校正し有意な物理量を求めている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来のデータ処理装置
および該データ処理装置を備えた試験装置では、パラメ
ータが変更された場合に旧データの修正が困難であると
いう問題がある。従来行っているデータ処理では、最新
のパラメータのみを保持し従前のパラメータがどうであ
ったかを示すパラメータの履歴を所持しておらず、ま
た、保存データについてもデータ処理後の校正済データ
のみを保持しているため、パラメータが変更された場合
には、従前に得たデータに対しては変更後のパラメータ
で校正を行うことができない。

【０００６】例えば、パラメータ変更後に従前のパラメ
ータ設定に誤りが発見されたとしても、保存されたデー
タを正しいパラメータによって再びデータ処理し直し、
正しく校正されたデータを得ることはできず、再度測定
を行うか測定条件が再現できない場合には従前の測定を
放棄せざるを得ないことになる。そこで、本発明は前記
した従来の問題点を解決し、パラメータの変更に対して
旧データの修正が可能なデータ処理装置および該データ
処理装置を備えた試験装置を提供することを目的とす
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本出願の第１の発明は、
パラメータによりデータの校正を行うデータ処理装置に
おいて、パラメータを設定するパラメータ設定部と、入
力したデータと設定したパラメータの履歴をそれぞれ対
応付けて保持する保存部と、保存部から対応するデータ
およびパラメータを読み出し、読み出したパラメータに
よってデータの校正を行うデータ処理部とを備えること
によって、設定したパラメータの変更に対して旧データ
の修正を行うことができる。

【０００８】本出願の第１の発明のデータ処理装置にお
いて、パラメータ設定部は入力されるデータに関したパ
ラメータ（例えば、入力されるデータを所定の物理量等
に変換するための校正乗数等）を設定する。保存部は入
力されたデータとパラメータ設定部で設定したパラメー
タを含む種々のパラメータとを累積して格納し履歴とし
て保持する。このとき、データとパラメータとの対応付
けを行って保存を行う。データ処理部は、保存部からデ
ータを読み出すと共に、前記対応付けを利用してパラメ
ータの履歴の中から対応するパラメータを読み出し、該
パラメータによってデータの校正を行う。

【０００９】また、既に設定したパラメータの変更を行
う場合には、パラメータ設定部によってパラメータの履
歴を変更すると共に、パラメータとデータとの対応付け
を利用して変更パラメータに対応したデータを保存部か
ら読み出し、読み出したデータに対して変更パラメータ
によるデータ処理を施し、これによって旧データの修正
を行う。

【００１０】本出願の第２の発明は、測定データを出力
する測定装置と該測定データのデータ処理を行うデータ
処理装置とを備えた試験装置において、データ処理装置
は、パラメータを設定するパラメータ設定部と、測定装
置から入力した測定データと設定したパラメータの履歴
をそれぞれ対応付けて保持する保存部と、保存部から対
応する測定データとパラメータとを読み出し、読み出し
たパラメータによってデータの校正を行うデータ処理部
とを有することによって、設定したパラメータの変更に
対して旧データの修正を行うことができる。

【００１１】本出願の第２の発明の試験装置において、
測定装置は測定データをデータ処理装置に出力する。デ
ータ処理装置側では、前記した第１の発明のデータ処理
装置と同様のデータ処理を行って、測定データの処理を
行う。

【００１２】パラメータ設定部は入力される測定データ
に関した校正乗数等のパラメータを設定し、保存部は測
定データとパラメータ設定部で設定したパラメータを含
む種々のパラメータとを累積して格納し履歴として保持
する。この保存において、測定データとパラメータとは
対応付けが行われる。データ処理部は、保存部から測定
データを読み出すと共に、対応付けを利用してパラメー
タの履歴の中から対応するパラメータを読み出し測定デ
ータの校正を行い有意な物理量として校正済データを得
る。

【００１３】また、測定終了後に既に設定したパラメー
タの変更する場合には、パラメータ設定部によってパラ
メータの履歴を変更すると共に、パラメータとデータと
の対応付けを利用して変更パラメータに対応した測定デ
ータを保存部から読み出し、読み出した測定データに対
して変更パラメータによるデータ処理を施し、これによ
って旧測定データの修正し、変更パラメータで校正した
校正済データを得る。

【００１４】第１の実施態様は、本出願の第１の発明お
よび第２の発明において、保存部はデータの入力処理に
応じてレコード番号を設定し、データをレコード番号と
共に格納すると共に、パラメータをデータと対応するレ
コード番号と共に格納するものであり、これによって、
入力したデータと設定したパラメータの履歴をそれぞれ
対応付けて保持することができる。

【００１５】また、第２の実施態様は、本出願の第２の
発明の試験装置を静的構造物試験に適用するものであ
り、測定装置は静的構造物の変位を測定する変位計を備
え、保存部は校正パラメータの他に構造物の変位を測定
する変位計の設置位置に応じて変更される初期値をパラ
メータとして格納するものである。これによって、静的
構造物試験の変位計の設置位置による測定データの修正
を行うことができる。また、試験による加圧でサンプル
が変形して再試験が困難となる場合でも、前回のデータ
を修正して再利用することができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。本発明の実施の形態の構
成例について、図１のデータ処理装置の一実施の形態を
説明するためのブロック図を用いて説明する。図１にお
いて、データ処理装置３は測定装置２等のデータ源から
得られたデータを入力してデータ処理を行う装置であ
り、データ源と通信を行ってデータの収集を行うデータ
収集部３１と、データ処理に使用するパラメータを設定
するパラメータ設定部３２と、入力したデータやパラメ
ータを格納する保存部３３と、保存部３３から得たデー
タに対して同じく保存部３３から得たパラメータを用い
て校正等のデータ処理を行うデータ処理部３４と、処理
内容の指定や校正済データの出力等を行う入出力部３５
とを備える。保存部３３は、データを記憶する記憶領域
５１とパラメータを記憶するパラメータ記憶領域５２を
有した記憶手段５を備え、記憶手段５とデータ収集部３
１，パラメータ設定部３２，データ処理部３４との間で
行うデータやパラメータの書込み，読み出しの制御を制
御手段４を介して行っている。

【００１７】なお、図１では、説明の便宜上からパラメ
ータ設定３２と入出力部３５とを別個の手段により示し
ているが、共通の入出力手段によって行うこともでき
る。また、記憶手段５中のパラメータ記憶領域５２に格
納するパラメータは、パラメータ設定部３２による設定
に限らず、データ記憶領域５１中の格納されているデー
タから設定することも、また、入出力部３５から設定す
ることもできる。

【００１８】データ源は分析装置や計測装置等の種々の
測定装置とすることができ、静的構造物の試験を行う場
合には、被測定物に設置した変位計やひずみゲージ等の
種々のセンサにより構成することができ、また、センサ
からの測定データの収集を行うデータロガーを前記構成
中に含ませることもできる。そして、測定装置２とデー
タ処理装置３によって試験装置１を構成することができ
る。

【００１９】次に、保存部３３が保存するデータとパラ
メータの各データ構造について図２を用いて説明する。
図２（ａ）は、保存部３３中の記憶手段５がデータ記憶
領域５１内にデータを格納するデータ構造の概略を示し
ており、データと該データの出力源を特定する項目（図
２（ａ）ではセンサＩＤとする）とを１つの組とし、こ
れらのデータの複数個の組にレコード番号を付した構造
としている。レコード番号は、測定装置における測定を
特定する項目であり、ある測定時に複数のセンサで測定
されたデータは同じレコード番号によって特定すること
ができ、異なる測定時に測定されたデータは同じセンサ
であっても異なるレコード番号で区別することができ
る。なお、データの出力源が、データ記憶領域内におけ
る格納順等で特定できる場合や特定する必要がない場合
には、センサＩＤ等の出力源を特定する項目を省略する
こともできる。

【００２０】また、図２（ｂ）は、保存部３３中の記憶
手段５がパラメータ記憶領域５２内にパラメータを格納
するデータ構造の概略を示しており、データを校正する
ための校正乗数や初期値等の項目と、該項目を適用する
データ範囲を設定するためのレコード番号を示すための
開始レコード番号および終了レコード番号と該項目を適
用するデータを特定するためのセンサＩＤ等の項目を備
えている。開始レコード番号は適用するデータの始まり
のレコード番号を示し、終了レコード番号は適用するデ
ータの終わりのレコード番号を示している。なお、適用
するデータがデータ記憶領域内における格納順等で特定
できる場合や特定する必要がない場合には、センサＩＤ
等の適用するデータを特定するための項目を省略するこ
ともできる。なお、データを校正する校正乗数や初期値
等のパラメータの項目は、データの校正内容により変更
することができ、パラメータ設定部３２やデータ記憶領
域５１や入出力部３５から設定することができる。

【００２１】図２（ｂ）では、説明の便宜上格納するパ
ラメータの項目として開始レコード番号，終了レコード
番号，校正乗数，初期値のみを示しているが、これらの
項目の他に例えば、パラメータの設定の有無等の設定状
況を示すフラグ、測定データを収集するデータロガーの
チャンネル番号、センサの種類を表すセンサタイプやセ
ンサの型番、測定レンジ、校正後の単位、コメント等を
選択的に追加することもできる。次に、データ処理装置
および試験装置におけるデータ処理の動作について、図
１のブロック図、図３，図４のデータとパラメータの構
造を説明する図、および図５の試験装置の一実施の形態
を説明するためのブロック図を用いて説明する。

【００２２】図５において、試験装置１は測定装置２と
データ処理装置３とによって構成し、測定装置（計測装
置）２は被測定物２２に布設した複数個のセンサ（セン
サＳ１〜センサＳ１５）のセンサ出力をデータロガー２
１の各チャンネル（チャンネルＣ１〜チャンネルＣ１
５）に接続して構成し、データロガー２１はパラレル入
力されたセンサ出力をデータ処理装置３に対してシリア
ル信号で送信する。なお、センサの個数やデータロガー
のチャンネルの個数は任意とすることができ、また、セ
ンサとチャンネルとの対応関係についても任意とするこ
とができる。

【００２３】データ処理装置３のデータ収集部３１は、
測定装置２側のデータロガー２１等と間で通信を行い測
定したデータを入力する。制御手段４は、入力したデー
タに対して共通の測定については同一のレコード番号を
付してデータ記憶領域５１内に格納する。このとき、各
データを特定する必要がある場合にはセンサＩＤ等のセ
ンサを特定する項目を付すことができる。一つの測定に
よるデータの入力が終了した後、次の測定によるデータ
を入力する場合には異なるレコード番号を付してパラメ
ータ記憶領域５２内に格納する。図３（ａ）は第１の測
定から第９の測定におけるデータの格納状態を示してお
り、各測定のデータには１から９のレコード番号が付さ
れ、例えばレコード番号１にはデータＤ1,1 、Ｄ2,1 、
Ｄ3,1 、・・・が格納され、レコード番号２にはデータ
Ｄ1,2 、Ｄ2,2 、Ｄ3,2 、・・・が格納される。

【００２４】また、パラメータ設定部３２からセンサＩ
ＤがＳ１のデータを校正する校正乗数α１を入力する
と、制御手段４はこの校正乗数α１をパラメータ記憶領
域５２に格納する。このとき、制御手段４は校正乗数と
共に開始レコード番号と終了レコード番号とセンサＩＤ
を格納し、設定した校正乗数α１を適用するデータの範
囲を指定する。図３（ｂ）中において、開始レコード番
号の“１”は校正乗数α１の適用を図３（ａ）のレコー
ド番号１で示されるデータから開始することを指定し、
終了レコード番号“０”は校正乗数α１の適用を図３
（ａ）の最後のレコード番号で示されるデータまでとす
ることを指定している。したがって、図３（ａ）のデー
タのレコード番号が増加した場合であっても、終了レコ
ード番号を“０”とすることによってパラメータの適用
範囲を最後のレコード番号のデータまでとすることがで
きる。

【００２５】図４は１５個のレコード番号のセンサＩＤ
がＳ１のデータに対して２個の校正乗数を適用する場合
を示し、図３の格納状態に続いてレコード番号１０〜１
５のデータを入力し、該レコード番号１０〜１５のデー
タに適用する他のパラメータを設定する場合を示してい
る。図４（ａ）は第１の測定から第１５の測定における
データの格納状態を示し、図３（ａ）の加えてレコード
番号が１０から１５の領域にそれぞれデータＤ1,10、Ｄ
2,10、Ｄ3,10・・・、Ｄ1,15、Ｄ2,15、Ｄ3,15、・・・
が格納される。

【００２６】また、図４（ｂ）はパラメータの設定状態
を示し、パラメータ設定部３２からデータを校正する校
正乗数α２を入力すると、制御手段４はこの校正乗数α
２をパラメータ記憶領域５２に格納する。このとき、制
御手段４は校正乗数α１については開始レコード番号
“１”と終了レコード番号“９”を格納して校正乗数α
１をレコード番号１〜９のデータについて適用する様に
データ範囲を指定し、また、校正乗数α２を設定すると
共に開始レコード番号“１０”と終了レコード番号
“０”を格納し、設定した校正乗数α２をレコード番号
１０〜１５のデータについて適用する様にデータの範囲
を指定する。また、初期値については、校正内容に応じ
て設定することができ、データ記憶領域から求めたβ
１，β２を格納する。これによって、保存部内にパラメ
ータの履歴を格納することができる。

【００２７】データ処理部３４は保存部５からデータと
パラメータを読み出し、読み出したデータをパラメータ
で校正して校正済データを得る。このデータ処理は、処
理対象のデータが既に保存部３３内に格納されている場
合には、入出力部３５から該データに対応するレコード
番号を入力し、制御手段４を介してデータ記憶領域５１
からレコード番号に対応するデータを読み出すと共にパ
ラメータ記憶領域５２からレコード番号に対応するパラ
メータを読み出して行う。また、処理対象のデータが取
り込み時のデータである場合には、データ処理部３４
は、制御手段４が記憶手段５に送るデータとレコード番
号とを読み込むと共に、制御手段４を介してパラメータ
記憶領域５２からレコード番号に対応するパラメータを
読み出して行う。

【００２８】また、パラメータの履歴の変更を行う場合
には、入出力部３５にパラメータの一覧の内容を表示さ
せ、コメント等を参照して変更するパラメータの開始レ
コード番号および終了レコード番号を確認し、パラメー
タ設定部３２から変更するレコード番号の範囲について
新たなパラメータを入力して設定を行う。

【００２９】このとき、変更前のパラメータを消去する
場合には、変更後のパラメータを上書きして変更前のパ
ラメータを消す処理を行う。また、変更前のパラメータ
についても履歴を保存する場合には、パラメータの項目
としてパラメータの設定の有無等の設定状況を示すフラ
グを設け、変更後のパラメータのフラグを例えば“１”
に設定して設定有りとし、変更前のパラメータのフラグ
を例えば“０”に設定して設定無しとすることにより行
うことができる。

【００３０】したがって、パラメータの変更前後では、
単にパラメータ記憶領域５２内のパラメータの設定内容
が変化するだけであるため、変更したパラメータを用い
てデータの校正は前記と同様の処理によって行うことが
できる。次に、本発明のデータ処理装置および試験装置
を静的構造物試験に適用した例、およびデータの校正例
について説明する。図６は静的構造物試験の測定装置の
構成例の概略図である。図６において、被測定物２２に
静圧を印加しそのときの変形を測定して構造物の試験を
行う。この試験装置では、例えば、ベース２５と移動板
２６との間に被測定物２２を挟み、ロッド２７によって
移動板２６を移動させて被測定物２２に圧力を印加す
る。被測定物２２の変形は、例えば移動板２６に変位セ
ンサ２３の測定ロッド２４を当接させ、該測定ロッド２
４の変位量を変位センサ２３で測定することによって測
定する。この変位センサ２３のセンサ出力は、図５中の
データロガー２１等を通してデータ処理装置３に送信す
る。

【００３１】一般に、変位センサによって被測定物の変
位を測定する場合には、変位前の位置を基準とし該基準
位置からの変位量を用いるため、基準値として変位前の
変位センサの初期値が必要となる。そこで、制御手段４
は、基準時における測定で収集した測定データを記憶手
段５内のデータ記憶領域５１に格納すると共に、その測
定データを初期値としてパラメータ記憶領域５２内の初
期値の項目に格納する。初期値とする測定データの測定
時点は任意とすることができ、例えばｉ回目の測定で測
定装置から収集したデータＤｉを初期値とするときに
は、パラメータの初期値の項目にＤｉを格納する。

【００３２】一般に、静的構造物試験においては、図７
（ｂ），（ｄ），（ｆ）に示すように静圧印加時（所定
の一定圧力を所定時間（ｔ１，ｔ２，ｔ３）印加する）
には変位量は変化しないという前提があり、一定した静
圧時のデータを求めている。そこで、静的構造物試験を
行う試験装置は、一定圧力の各測定で得られた測定デー
タをデータ収集部３１で収集し、制御手段４によってレ
コード番号と共に記憶手段５内のデータ記憶領域５１に
格納する。また、パラメータを変更する場合にはパラメ
ータ設定部３２から入力したパラメータを制御手段４を
介して記憶手段５内のパラメータ記憶領域５２に格納す
る。

【００３３】そして、格納した測定データの校正を行う
には、例えばｊ回目の測定において測定装置から収集し
た測定データをＤｊとしそのレコード番号をｋとする
と、データ処理部３４はレコード番号“ｋ”に対応する
パラメータから校正乗数Ｃと初期値Ｉを読み出し、 Ｃ×（Ｄｉ−Ｉ） の演算を行って測定データを校正し所定の物理量を得
る。なお、校正のための演算は必要に応じて変更するこ
とができる。以後、同様に、データ収集部によるデータ
の取込み、保存部による取り込んだデータへのレコード
番号の付与と保存、およびレコード番号を指標とするデ
ータとパラメータの読み出し、データ処理部によるパラ
メータを用いたデータの校正の手順によって処理が行わ
れる。

【００３４】また、一般に、静的構造物試験において、
測定範囲の小さな変位計（例えば０〜５０ｍｍ）を用い
て大きな変位（０〜１５０ｍｍ）を測定する場合には、
試験中に変位計の設置位置を変更したり、測定範囲の大
きな変位計に切り換えたりする必要がある。このように
変位計の変更を行う場合には、パラメータ設定部３２か
ら切り換えた変位計の校正乗数Ｃ’やセンサの型番や測
定レンジ等のパラメータを再設定する。

【００３５】例えば、図７（ｃ）において変位計２３の
測定範囲が限界に達したときには、変位計２３を図中の
ｄだけ移動して図７（ｅ）に示す位置に変更する。この
とき、図７（ｃ）におけるｉ回目の測定データをＤｉ，
校正乗数をＣ，初期値をＩとし、変位計の変更後の図７
（ｅ）における（ｉ＋１）回目の測定データをＤｉ＋
１，校正乗数をＣ’，初期値をＩ’とすると、変位計を
変更した後の初期値Ｉ’は、 Ｉ’＝Ｄｉ＋１−（Ｃ／Ｃ’）×（Ｄｉ−Ｉ） の演算によって得ることができる。この初期値Ｉ’をデ
ータ処理部３４で求めた後、保存部３３は求めた初期値
Ｉ’および校正乗数Ｃ’を格納し、開始レコード番号お
よび終了レコード番号を変更してパラメータの履歴を保
存する。なお、上記演算式において、ｉ回目の測定と
（ｉ＋１）回目の測定との間において被測定物の変形は
進まないものとする。

【００３６】静的構造物試験を行うデータ処理装置およ
び試験装置においても、パラメータの設定の誤り訂正や
設定変更に伴って、保存部内において変更前のパラメー
タについても保存することによってパラメータを履歴と
して保存し、これによって、旧データの修正を行うこと
ができる。

【００３７】また、静的構造物試験において、試験によ
る加圧によってサンプルが変形して再試験が不可能とな
る場合であっても、本発明のデータ処理装置および試験
装置を適用することによって、前回のデータを修正して
再利用することが可能である。なお、本発明の実施の形
態において、測定装置から得られるデータとして被測定
物に設置したセンサからの測定データに限らず、シミュ
レーションにより得られるデータを用いることもでき
る。

【００３８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
パラメータが変更に対して旧データの修正が可能なデー
タ処理装置および該データ処理装置を備えた試験装置を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のデータ処理装置の一実施の形態を説明
するためのブロック図である。

【図２】本発明の保存部でのデータおよびパラメータの
構造を説明するための概略図である。

【図３】本発明の保存部でのデータおよびパラメータの
構造を説明するための概略図である。

【図４】本発明の保存部でのデータおよびパラメータの
構造を説明するための概略図である。

【図５】本発明の試験装置の一実施の形態を説明するた
めのブロック図である。

【図６】本発明の試験装置を静的構造物試験に適用した
場合の測定装置の構成を説明するための概略図である。

【図７】本発明の試験装置を静的構造物試験に適用した
場合の測定装置の動作を説明するための概略図である。

【図８】従来のデータ処理を説明するためのブロック図
である。

【符号の説明】

１…試験装置、２…測定装置、３…データ処理装置、４
…制御手段、５…記憶手段、２１…データロガー、２２
…被測定物、２３…変位センサ、２４…測定ロッド、３
１…データ収集部、３２…パラメータ設定部、３３…保
存部、３４…データ処理部、３５…入出力部。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 パラメータによりデータの校正を行うデ
   ータ処理装置において、パラメータを設定するパラメー
   タ設定部と、入力したデータと設定したパラメータの履
   歴をそれぞれ対応付けて保持する保存部と、前記保存部
   から対応するデータおよびパラメータを読み出し、読み
   出したパラメータによってデータの校正を行うデータ処
   理部とを備えたことを特徴とするデータ処理装置。
2. 【請求項２】 測定データを出力する測定装置と該測定
   データのデータ処理を行うデータ処理装置とを備えた試
   験装置において、前記データ処理装置は、パラメータを
   設定するパラメータ設定部と、前記測定装置から入力し
   た測定データと設定したパラメータの履歴をそれぞれ対
   応付けて保持する保存部と、保存部から対応する測定デ
   ータとパラメータとを読み出し、読み出したパラメータ
   によってデータの校正を行うデータ処理部とを有するこ
   とを特徴とする試験装置。