JPH09257638A - 多芯光ファイバの異常一括検出方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多芯光ファイバの異常検出を効率的に行う。 【解決手段】 複数の光ファイバ８ａ〜８ｈが並設され
てなる光コネクタ１のうちの２本の被測定用の光ファイ
バ８ａ，８ｈの異常検出を行う際に、光源９および反射
光測定部10を備えた反射測定器３と光コネクタ１との間
に光分波器６を介設する。光分波器６は１つの入射端11
と互いに長さの異なる２本の光通路５ａ，５ｂを設けて
形成し、光源９から入射端11に入射する測定光を光通路
５ａ，５ｂに分割してその長さの異なる分だけ光ファイ
バ８ａ，８ｈへの測定光入射タイミングをずらして入射
させる。光ファイバ８ａ，８ｂを伝搬しながら反射する
反射戻り光を光分波器６を介して反射光測定部10にタイ
ミングをずらして入射させ、反射光測定部10で測定する
ことにより、一括して光ファイバ８ａ，８ｈの異常検出
を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、多芯光ファイバの
異常を一括して検出するために用いられる多芯光ファイ
バの異常一括検出方法およびその装置に関するもので、
特に、光ファイバ線路の断線を一括して検出する方法お
よびその装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】複数の光ファイバが並設されてなる多芯
光ファイバを用いた光通信用の機器や光通信システム等
が用いられており、その光ファイバの断線等の異常を検
出して対処することが行われている。この種の多芯光フ
ァイバの異常検出方法としては、一般に、透過測定方法
と反射測定方法とがあり、透過測定は、被測定用の光フ
ァイバの一方側から光を入射させて他方側から出射さ
せ、その入力と出力との差を測定して被測定光ファイバ
の異常の有無を判定する方法である。また、反射測定
は、被測定用の光ファイバに光源からの測定光を入射さ
せ、この測定光が被測定用光ファイバを伝搬しながら反
射する反射戻り光を反射光測定装置にて測定し、被測定
用光ファイバの異常の有無を検出するものである。

【０００３】図５には、反射測定方法を用いて被測定用
光ファイバとしての光ファイバ８の異常を検出する方法
が示されている。なお、光ファイバ８はフェルール２に
８本並設されて光コネクタ１を形成している。光ファイ
バ８（８ａ〜８ｈ）の異常を検出するときには、まず、
同図の（ａ）に示すように、光源９および反射光測定部
10を備えたＯＴＤＲ21を、被測定用の光ファイバ８ａに
接続する。そして、光源９からの測定光を光ファイバ８
ａに入射させ、この測定光が光ファイバ８ａを伝搬しな
がら反射する反射戻り光を反射光測定部10によって測定
し、光ファイバ８ａの異常の有無および異常箇所の特定
を行う。

【０００４】次に、同図の（ｂ）に示すように、ＯＴＤ
Ｒ21を被測定用の光ファイバ８ｂに繋ぎ替え、この状態
で、光源９からの測定光を光ファイバ８ｂに入射させ、
前記と同様に、この光ファイバ８ｂを伝搬しながら反射
する反射戻り光を反射光測定部10によって測定し、光フ
ァイバ８ｂの異常の有無の検出およびその異常箇所の特
定を行う。次に、ＯＴＤＲ21を被測定用光ファイバ８ｃ
に繋ぎ替え、前記と同様の動作を行い、このようにし
て、順次各光ファイバ８ａ〜８ｈの異常の有無の検出お
よび異常箇所の特定を行う。

【０００５】また、前記透過測定方法を用いて被測定用
光ファイバの異常の有無を検出するときにも、上記反射
測定方法と同様に、光スイッチ等によって、被測定用光
ファイバと光源および測定装置との光接続を順次切り換
えることにより１本ずつ被測定用光ファイバの異常の有
無の検出が行われる。

【０００６】図４には、図５に示した反射測定方法を用
いて光通信システム中の光ファイバの異常の有無を検出
する異常検出装置の一例が、光通信システムに組み込み
状態で示されている。同図において、電話線等の光加入
者線路16は光ファイバ８を複数（図では８本）並設した
多芯光ファイバによって形成されており、カプラ25を介
して局側交換器24に接続され、この局側交換器24を介し
て電話通信等の光通信が行えるようになっている。ま
た、光ファイバ８には、カプラ25とフェルール２を介し
て、光ファイバの異常検出装置22が接続されており、こ
の異常検出装置22は、ＯＴＤＲ21と心線選択装置23とを
有して構成されている。

【０００７】心線選択装置23には、多いものでは1000芯
といった多数の光ファイバが８芯テープファイバ７を１
つの単位として接続されている。心線選択装置23は、こ
の８芯テープファイバ７のうちの１つを選択することに
より、異常検出を行うための光加入者線路16を選択す
る。

【０００８】ＯＴＤＲ21は、光源９と反射光測定部10と
を有しており、光源９からの測定光を、心線選択装置23
によって選択された８芯テープファイバ７のうちの１本
の被測定用の光ファイバ（例えば８ａ）に入射させ、こ
の測定光が被測定用の光ファイバ８ａを伝搬しながら反
射する反射戻り光を反射光測定部10によって測定する。
この測定結果は、被測定用の光ファイバ８ａの長手方向
に対する損失レベルのデータとして検出されるものであ
り、光ファイバ８ａに断線等の異常があると、その損失
レベルが断線等の異常のない部位の損失レベルよりも際
立って大きくなるために、この大きな損失レベルが生じ
たときには、光ファイバ８ａに断線等の異常が生じてい
ると判定され、また、その異常部位も特定することがで
きる。

【０００９】なお、このような異常検出装置22を用いて
光ファイバ８ａ〜８ｈの異常検出を行うためには、ＯＴ
ＤＲ21と心線選択装置23との光接続切り換えを順次行う
ことになる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
如く、被測定用光ファイバの異常の有無の検出を、測定
装置と被測定用光ファイバとの光接続を切り換えて１本
ずつ行っていた従来の方法を用いるのでは、多数の被測
定用光ファイバの異常の有無の検出を行うためには非常
に時間がかかるといった問題があった。特に、透過測定
方法を用いた場合には、被測定用光ファイバと光源との
光接続切り換えおよび、被測定用光ファイバと受光装置
との光接続切り換えの両方を被測定用光ファイバ１本ず
つに対して行わなければならないために、非常に作業効
率が悪かった。しかも、透過測定方法を用いた場合に
は、被測定用光ファイバの異常の有無は検出できるが、
異常部位の特定を行うことはできないといった問題もあ
った。

【００１１】本発明は上記従来の課題を解決するために
なされたものであり、その目的は、多芯光ファイバのう
ちの２本以上の被測定用光ファイバの異常の有無の検出
を短時間で行うことが可能であり、願わくば、被測定用
光ファイバの異常部位の特定も行うことができる多芯光
ファイバの異常一括検出方法およびその装置を提供する
ことにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は次のような構成により課題を解決するため
の手段としている。すなわち、本発明の多芯光ファイバ
の異常一括検出方法は、複数の光ファイバが並設されて
なる多芯光ファイバのうちの２本以上の被測定用の光フ
ァイバにそれぞれ光源からの測定光を入射させ、該測定
光がこれらの各被測定用光ファイバを伝搬しながら反射
する反射戻り光を反射光測定装置にて一括して測定して
各被測定用光ファイバの異常の有無を一括検出する多芯
光ファイバの異常一括検出方法であって、１つの入射端
を有し該入射端から入射する前記測定光を複数の光通路
に分割し、かつ、各光通路の長さを互いに異なる長さに
して各光通路の出射端から出射させる光分波器を前記光
源と被測定用光ファイバとの間に介設し、前記光源から
の測定光を前記光分波器に入射させて前記各光通路に分
割し該各光通路の長さが異なる分だけ前記各被測定用光
ファイバへの測定光の入射のタイミングをずらして各被
測定用光ファイバに入射させることを特徴として構成さ
れている。

【００１３】また、前記光分波器の入射端側と反射測定
装置との間に測定光を透過して該測定光の波長とは異な
る波長の光をカットする測定光透過フィルタを介設し、
被測定用光ファイバ側からの測定光の波長とは異なる波
長の光が反射測定装置に入射することを阻止することも
本発明の多芯光ファイバの異常一括検出方法の特徴的な
構成とされている。

【００１４】さらに、本発明の多芯光ファイバの異常一
括検出装置は、複数の光ファイバが並設されてなる多芯
光ファイバのうちの２本以上の被測定用の光ファイバに
それぞれ光源からの測定光を入射させ、該測定光がこれ
らの各被測定用光ファイバを伝搬しながら反射する反射
戻り光を反射光測定装置にて一括して測定して各被測定
用光ファイバの異常の有無を一括検出する多芯光ファイ
バの異常一括検出装置であって、反射光測定装置と被測
定用光ファイバとの間に介設される光分波器を有し、該
光分波器は１つの入射端と該入射端から入射される前記
測定光を分割する複数の光通路とを有し、該光通路は互
いに異なる長さに形成されていることを特徴として構成
されている。

【００１５】さらに、前記光分波器の入射端側と反射測
定装置との間には測定光を透過し該測定光の波長とは異
なる波長の光をカットして被測定用光ファイバ側からの
測定光の波長とは異なる波長の光が反射測定装置に入射
することを阻止する測定光透過フィルタが介設されてい
ることも本発明の多芯光ファイバの異常一括検出装置の
特徴的な構成とされている。

【００１６】上記構成の本発明において、反射光測定装
置と被測定用光ファイバとの間には、１つの入射端を有
し該入射端から入射する前記測定光を複数の光通路に分
割し、かつ、各光通路の長さを互いに異なる長さにして
各光通路の出射端から出射させる光分波器が設けられて
いるために、光源からの測定光は光分波器に入射させら
れて、この光分波器の各光通路に分割され、各光通路の
長さが異なる分だけ各被測定光ファイバへの測定光の入
射のタイミングがずらされて各光ファイバに入射させら
れる。

【００１７】そうすると、この測定光の反射戻り光は、
それぞれ、被測定用光ファイバを伝搬しながら反射して
反射光測定装置側に戻ってくるが、この各反射戻り光
は、前記の如く、測定光の入射のタイミングがずらされ
た分だけタイミングがずれて光分波器の出射端側に戻っ
てきて、この出射端側から光分波器の入射端側に逆行し
て反射光測定装置に戻ってくる。

【００１８】このように、本発明においては、光源から
の測定光を、互いに長さの異なる光通路によって分割し
て順次被測定用光ファイバに入射させ、その反射戻り光
を各被測定用光ファイバで反射した反射戻り光ごとにタ
イミングをずらして反射光測定装置によって測定できる
ことから、光源や反射光測定装置の被測定用光ファイバ
との光接続切り換えを行わなくとも、複数の被測定用光
ファイバの異常の有無を一括して、かつ、正確に検出す
ることが可能となり、作業効率の効率化が図られ、か
つ、被測定用光ファイバの異常部位の特定も容易に可能
となり、上記課題が解決される。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。なお、本実施形態例の説明におい
て、従来例と同一名称部分には同一符号を付し、その重
複説明は省略する。図１には、本発明に係る多芯光ファ
イバの異常一括検出装置の一実施形態例が光コネクタ１
と共に示されている。なお、この光コネクタ１は、図５
に示した光コネクタ１と同様に、フェルール２に光ファ
イバ８を８本並設して形成した８芯コネクタであり、本
実施形態例では、この光コネクタ１に並設された８本の
光ファイバ８ａ〜８ｈのうちの光ファイバ８ａ，８ｈが
被測定用光ファイバとなしている。

【００２０】本実施形態例が図５に示した従来の多芯光
ファイバの異常検出方法と異なる特徴的なことは、測定
光の反射戻り光を測定するための反射光測定装置を周知
のマイケルソン干渉計の原理を利用した反射測定器３に
より構成したことと、この反射測定器３と光コネクタ１
との間に光分波器６を介設し、それにより、被測定用の
光ファイバ、例えば光ファイバ８ａ，８ｈの異常の有無
を一括検出し、かつ、その異常箇所の特定を一括して行
うように構成したことである。なお、図中19は反射測定
器３と光分波器６を接続するコネクタ部であり、20は、
光分波器６を光コネクタ１に接続するコネクタ部であ
る。また、周知のように、マイケルソン干渉計の原理を
利用した反射測定器は、ＯＴＤＲよりも分解能が高い装
置である。

【００２１】光分波器６は、１つの入射端11を有し、こ
の入射端11から入射される測定光を分割する複数、すな
わち、本実施形態例では２本の光通路５ａ，５ｂを有し
ている。光通路５ｂは光通路５ａよりも約60mm長く形成
されており、このように、光通路５ａ，５ｂは互いに異
なる長さに形成されている。本実施形態例では、光分波
器６をこのように構成することによって入射端11から入
射する、例えば1.55μｍ帯の測定光を２本の光通路５
ａ，５ｂに分割して光通路５ａ，５ｂの出射端13，14か
ら出射させ、この光通路５ａ，５ｂの長さが異なる分だ
け被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈへの測定光の入射の
タイミングをずらして各被測定用の光ファイバ８ａ，８
ｈに入射させるようになっている。

【００２２】本実施形態例は以上のように構成されてお
り、本実施形態例でも、従来の反射測定方法と同様に、
反射測定器３の光源９からの測定光を各被測定用の光フ
ァイバ８ａ，８ｈに入射させて、この測定光が光ファイ
バ８ａ，８ｈを伝搬しながら反射する反射戻り光を反射
測定部10にて測定して光ファイバ８ａ，８ｈの異常検出
を行うが、本実施形態例では、光源９からの測定光を光
分波器６に入射させて各光通路５ａ，５ｂに分割し、こ
の光通路５ａ，５ｂの長さが異なる分だけタイミングを
ずらして被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈに入射させ
る。そして、被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈを伝搬し
ながら反射する反射戻り光を光分波器６の各光通路５
ａ，５ｂを介して反射測定器３の反射測定部10によって
測定し、そうすることで、被測定用の光ファイバ８ａ，
８ｈの異常の有無および異常箇所の検出を一括して行
う。

【００２３】図２には、上記実施形態例の装置を用いて
実際に被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈの異常検出を行
ったときの実験結果が示されている。なお、同図の
（ａ）には被測定用の光ファイバ８ａのフェルール２の
近傍に断線が生じていた場合の結果が示されており、同
図の（ｂ）には断線が生じていない場合の結果が示され
ている。これらの図から明らかなように、反射光測定部
10によって検出される光の損失レベルは、光分波器６の
コネクタ部20と光コネクタ１との接続点で大きくなり、
同図の点Ａ、点Ｈに損失レベルのピークが生じる。点Ａ
での損失レベルピークは被測定用の光ファイバ８ａへの
測定光の入射のタイミングを示しており、点Ｈでの損失
レベルピークは被測定用の光ファイバ８ａへの測定光の
入射のタイミングを示している。

【００２４】すなわち、被測定用の光ファイバ８ａへの
測定光の入射は光分波器６の光通路５ａを介して行わ
れ、一方、被測定用の光ファイバ８ｈへの測定光の入射
は光分波器６の光通路５ｂを介して行われるために、光
通路５ａと光通路５ｂとの長さが異なる分（約60mm）だ
け、図の点Ａに示す被測定用の光ファイバ８ａへの測定
光入射タイミングと図の点Ｈに示す被測定用光ファイバ
８ｈへの測定光入射タイミングとがずれることになる。
そして、被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈのいずれにも
フェルール２の近傍に断線等の異常がない場合には、同
図の（ｂ）に示すように、各被測定用の光ファイバ８
ａ，８ｈへの測定光の入射のタイミングを示すピーク以
外に損失レベルピークが生じることはなく、一方、被測
定用の光ファイバ８ａのコネクタの近傍に断線等の異常
がある場合には、同図の（ａ）に示すように、点Ｐに断
線による損失レベルの増加ピークが生じる。

【００２５】したがって、これらの測定結果から、被測
定用の光ファイバ８ａ，８ｈのフェルール２の近傍領域
での断線等の異常の有無が一括して正確に検出され、か
つ、その異常箇所の特定も行われる。

【００２６】本実施形態例によれば、上記動作により、
反射測定器３と光コネクタ１との間に介設した光分波器
６によって測定光を分割し、その測定光の各被測定用の
光ファイバの８ａ，８ｈへの入射のタイミングをずらし
て測定光を被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈに入射させ
ることにより、被測定用の光ファイバ８ａ，８ｈの断線
等の異常の有無および異常箇所の特定を、特にフェルー
ル２の近傍領域において正確に一括して検出することが
できる。

【００２７】図３には、本発明に係る多芯光ファイバの
異常一括検出装置の第２の実施形態例が、光通信システ
ムへの組み込み状態で示されている。本実施形態例は、
光監視システムに本発明の多芯光ファイバの異常一括検
出方法を適用したものであり、本実施形態例が図４に示
した従来例と異なる特徴的なことは、上記第１の実施形
態例と同様に、光源９と被測定用の光ファイバ８との間
に光分波器６を介設したことである。また、本実施形態
例では、光分波器６の入射端11側と反射測定器３との間
に、測定光を透過して測定光の波長とは異なる波長の光
をカットする測定光透過フィルタとしてのＬＷＰＦ（Lo
ng Wave Pass Filter ）26を介設し、被測定用光ファイ
バ側からの測定光の波長とは異なる波長の光、すなわ
ち、通信光である1.3 μｍ帯の光が反射測定器３に入射
することを阻止するようにしている。

【００２８】なお、本実施形態例に用いられている光分
波器６は、１つの入射端11と、この入射端11から入射さ
れる測定光を分割する８本の光通路５を有しており、こ
れらの各光通路は互いに異なる長さに形成されている。
そして、このように構成されていることで、光分波器６
は、入射端11から入射する測定光を８本の光通路５に分
割し、その出射端15から各光通路５の長さが異なる分だ
け心線選択装置23を介して光ファイバ８への測定光入射
タイミングをずらして測定光を入射させるようになって
いる。

【００２９】本実施形態例は以上のように構成されてお
り、本実施形態例でも、上記第１の実施形態例と同様
に、光分波器６によって測定光を分割し、各光通路５の
長さが異なる分だけタイミングをずらして被測定用の光
ファイバ８に測定光を入射させて、その反射戻り光を測
定するために、上記第１の実施形態例と同様の効果を奏
することができる。そして、本実施形態例では、心線選
択装置23で選択した８芯テープファイバ７に接続されて
いる８本の全ての光ファイバ８の異常検出を一括して効
率良く行うことができる。

【００３０】また、本実施形態例では、光分波器６と反
射測定器３との間に測定光のみを透過し、測定光の波長
以外の光をカットするＬＷＰＦ26を介設して、被測定用
光ファイバ側からの測定光以外の波長の光が反射測定器
３に入射することを阻止するために、例えば波長1.3 μ
ｍの通信光を利用しての光通信を行いながら、波長1.55
μｍの測定光を利用しての光ファイバの異常検出を行っ
ても、この波長1.3 μｍ帯の通信光が反射測定器３に入
射することは阻止され、通信光が反射測定器３側に入射
することによる悪影響を防ぐことができる。そのため、
通信光を用いての光通信を行いながら光加入者線路16の
異常検出を正確に、かつ、効率良く行うことができる。

【００３１】なお、本発明は上記実施形態例に限定され
ることはなく様々な実施の態様を採り得る。例えば上記
第１の実施形態例では、分波器６は２本の光通路５ａ，
５ｂを有する光分波器とし、上記第２の実施形態例では
８本の光通路５を有する光分波器としたが、光分波器６
は、複数、好ましくは被測定用の光ファイバの本数に対
応する数の光通路５を有していればよく、光通路５の本
数は適宜設定されるものである。

【００３２】また、光分波器６に配設される複数の各光
通路の長さは、特に限定されるものではなく、互いに異
なる長さに適宜設定されるものである。

【００３３】さらに、上記第１の実施形態例では、２本
の被測定用の光ファイバ８の異常検出を一括して行う構
成とし、上記第２の実施形態例では８本の被測定用の光
ファイバの異常検出を一括して行う構成としたが、本発
明の多芯光ファイバの異常一括検出方法およびその装置
は、２本以上の適宜の本数の被測定用光ファイバの異常
を一括して検出する方法および装置として適宜設定さ
れ、用いられるものである。

【００３４】さらに、上記実施形態例では、測定光の反
射戻り光を測定する反射光測定装置として、マイケルソ
ン干渉計の原理を利用した反射測定器３を用いたが、反
射測定装置は特に限定されるものではなく、適宜設定さ
れるものであり、例えばＯＴＤＲ21としてもよい。

【００３５】さらに、上記実施形態例では、反射測定器
３は光源９と反射測定部10を備えた装置としたが、光源
９と反射光測定装置とは別個に設けても構わない。

【００３６】

【発明の効果】本発明によれば、光源と被測定用光ファ
イバとの間に、１つの入射端を有し該入射端から入射す
る前記測定光を複数の光通路に分割し、かつ、各光通路
の長さを互いに異なる長さにして各光通路の出射端から
出射させる光分波器を介設し、光源からの測定光を光分
波器の各光通路によって分割し、その長さが異なる分だ
け各被測定用光ファイバへの測定光の入射タイミングを
ずらすようにしたものであるから、その測定光の反射戻
り光を測定すれば、各反射戻り光は測定光の入射のタイ
ミングがずれた分だけずれたタイミングで反射光測定装
置にて測定することができるために、複数の被測定用光
ファイバの断線等の異常の有無を一括して正確に検出す
ることができる。そのため、光ファイバの異常検出を非
常に効率的に、かつ、正確に行うことが可能となり、反
射光測定装置をマイケルソン干渉計の原理を利用した装
置やＯＴＤＲ等の装置によって構成することにより、そ
の異常の箇所の特定も正確に行うことができる。

【００３７】また、光分波器の入射端側と反射測定装置
との間に、測定光を透過して該測定光の波長とは異なる
波長の光をカットする測定光透過フィルタを介設し、被
測定用光ファイバ側からの測定光の波長とは異なる波長
の光が反射測定装置に入射することを阻止する本発明の
多芯光ファイバの異常一括検出方法およびその装置によ
れば、この装置および方法を光通信システムに適用した
ときに、通信光が被測定用光ファイバ側から反射測定装
置に入射することを阻止することができるために、反射
測定装置は通信光による悪影響を受けることなく被測定
用光ファイバの異常検出を行うことが可能となる。その
ため、光通信システムにこの本発明の多芯光ファイバの
異常一括検出方法およびその装置を適用して、非常に効
率的に、かつ、正確に光ファイバの異常検出を一括して
行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る多芯光ファイバの異常一括検出装
置の第１の実施形態例を光コネクタと共に示す構成図で
ある。

【図２】上記実施形態例の装置を用いて光ファイバの異
常一括検出を行った実験結果を示すグラフである。

【図３】本発明に係る多芯光ファイバの異常一括検出装
置の第２の実施形態例を光通信シスムテに組み込み状態
で模式的に示す構成図である。

【図４】従来の光ファイバの異常検出装置を光通信シス
テムに組み込み状態で模式的に示す説明図である。

【図５】従来の光ファイバの異常検出方法の一例を示す
説明図である。

【符号の説明】

１ 光コネクタ ３ 反射測定器 ５，５ａ，５ｂ 光通路 ６ 光分波器 ８，８ａ〜８ｈ 光ファイバ ９ 光源 10 反射光測定部 26 ＬＷＰＦ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の光ファイバが並設されてなる多芯
   光ファイバのうちの２本以上の被測定用の光ファイバに
   それぞれ光源からの測定光を入射させ、該測定光がこれ
   らの各被測定用光ファイバを伝搬しながら反射する反射
   戻り光を反射光測定装置にて一括して測定して各被測定
   用光ファイバの異常の有無を一括検出する多芯光ファイ
   バの異常一括検出方法であって、１つの入射端を有し該
   入射端から入射する前記測定光を複数の光通路に分割
   し、かつ、各光通路の長さを互いに異なる長さにして各
   光通路の出射端から出射させる光分波器を前記光源と被
   測定用光ファイバとの間に介設し、前記光源からの測定
   光を前記光分波器に入射させて前記各光通路に分割し該
   各光通路の長さが異なる分だけ前記各被測定用光ファイ
   バへの測定光の入射のタイミングをずらして各被測定用
   光ファイバに入射させることを特徴とする多芯光ファイ
   バの異常一括検出方法。
2. 【請求項２】 光分波器の入射端側と反射測定装置との
   間に測定光を透過して該測定光の波長とは異なる波長の
   光をカットする測定光透過フィルタを介設し、被測定用
   光ファイバ側からの測定光の波長とは異なる波長の光が
   反射測定装置に入射することを阻止することを特徴とす
   る請求項１記載の多芯光ファイバの異常一括検出方法。
3. 【請求項３】 複数の光ファイバが並設されてなる多芯
   光ファイバのうちの２本以上の被測定用の光ファイバに
   それぞれ光源からの測定光を入射させ、該測定光がこれ
   らの各被測定用光ファイバを伝搬しながら反射する反射
   戻り光を反射光測定装置にて一括して測定して各被測定
   用光ファイバの異常の有無を一括検出する多芯光ファイ
   バの異常一括検出装置であって、反射光測定装置と被測
   定用光ファイバとの間に介設される光分波器を有し、該
   光分波器は１つの入射端と該入射端から入射される前記
   測定光を分割する複数の光通路とを有し、該光通路は互
   いに異なる長さに形成されていることを特徴とする多芯
   光ファイバの異常一括検出装置。
4. 【請求項４】 光分波器の入射端側と反射測定装置との
   間には測定光を透過し該測定光の波長とは異なる波長の
   光をカットして被測定用光ファイバ側からの測定光の波
   長とは異なる波長の光が反射測定装置に入射することを
   阻止する測定光透過フィルタが介設されていることを特
   徴とする請求項３記載の多芯光ファイバの異常一括検出
   装置。