JPH0926377A - 光ファイバ内の異常検知方法 - Google Patents
光ファイバ内の異常検知方法Info
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- JPH0926377A JPH0926377A JP19709195A JP19709195A JPH0926377A JP H0926377 A JPH0926377 A JP H0926377A JP 19709195 A JP19709195 A JP 19709195A JP 19709195 A JP19709195 A JP 19709195A JP H0926377 A JPH0926377 A JP H0926377A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥の位置を光ファイバの半径方向において
特定できない。 【解決手段】 光ファイバ１内に入射した光の後方散乱
光に基づいて光ファイバ１中の異常を検知する異常検知
方法において、光ファイバ１内に波長の異なる２以上の
光を入射し、各入射光の後方散乱光に基づいて光ファイ
バ内の異常を検知する。請求項２は、光ファイバ１内に
波長の異なる２以上の光を同時或いは切り替えて入射す
る。請求項３は、後方散乱光の時間領域における波形パ
ターンを観測する。
特定できない。 【解決手段】 光ファイバ１内に入射した光の後方散乱
光に基づいて光ファイバ１中の異常を検知する異常検知
方法において、光ファイバ１内に波長の異なる２以上の
光を入射し、各入射光の後方散乱光に基づいて光ファイ
バ内の異常を検知する。請求項２は、光ファイバ１内に
波長の異なる２以上の光を同時或いは切り替えて入射す
る。請求項３は、後方散乱光の時間領域における波形パ
ターンを観測する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバ中の異
常、例えば光ファイバ中の気泡、異物等の混入、光ファ
イバの突出、窪み等の変形、ファイバ長手方向における
Ｇｅ等の添加物の濃度変化といった光の伝送に障害とな
る物理的欠陥の検出に利用されるものである。
常、例えば光ファイバ中の気泡、異物等の混入、光ファ
イバの突出、窪み等の変形、ファイバ長手方向における
Ｇｅ等の添加物の濃度変化といった光の伝送に障害とな
る物理的欠陥の検出に利用されるものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバはその内部に前記のような物
理的欠陥が存在すると、強度低下や光伝送特性の劣化等
の問題が生じる。従って、光ファイバは検査によりそれ
ら物理的欠陥の有無をチェックし、欠陥があればその部
分を製品から除外するなどしなければならない。従来は
このために次のような検知を行なっていた。
理的欠陥が存在すると、強度低下や光伝送特性の劣化等
の問題が生じる。従って、光ファイバは検査によりそれ
ら物理的欠陥の有無をチェックし、欠陥があればその部
分を製品から除外するなどしなければならない。従来は
このために次のような検知を行なっていた。
【０００３】．光ファイバの外径を調べる方法。これ
は、光ファイバ中に穴が存在する場合に、穴のある部分
と穴のない部分とで光ファイバの外径が異なるという経
験則に基づくものであり、光ファイバの製造時に光ファ
イバの外径を外径測定装置等で計測してその変化を捕
え、変化のある部分を欠陥箇所として判断するものであ
る。
は、光ファイバ中に穴が存在する場合に、穴のある部分
と穴のない部分とで光ファイバの外径が異なるという経
験則に基づくものであり、光ファイバの製造時に光ファ
イバの外径を外径測定装置等で計測してその変化を捕
え、変化のある部分を欠陥箇所として判断するものであ
る。
【０００４】．光ファイバ内に入射した光の後方散乱
光を調べる方法。これは、光ファイバに短パルス光を入
射し、その後方散乱光を時間の関数としてＯＴＤＲで観
測する方法が一般的である。この方法によれば、観測さ
れた後方散乱光の波形パターンから光ファイバの伝送損
失や、結合部分の結合損失、破断点の位置（光ファイバ
の長手方向における位置）等を特定することができる。
光を調べる方法。これは、光ファイバに短パルス光を入
射し、その後方散乱光を時間の関数としてＯＴＤＲで観
測する方法が一般的である。この方法によれば、観測さ
れた後方散乱光の波形パターンから光ファイバの伝送損
失や、結合部分の結合損失、破断点の位置（光ファイバ
の長手方向における位置）等を特定することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記の検
査方法のうち外径を調べる方法では次のような問題があ
った。即ち、光ファイバの外径の変動要因は穴の有無以
外にもあり、例えば被覆樹脂の厚さの変化とか、ゴミの
付着といったように、穴の有無に関係なく外径を変化さ
せる要因が存在する。この場合、穴が無いにも拘らず穴
が有ると誤判断されてしまう。従って、外径に変化があ
っても直ちに光ファイバに欠陥が有ると判断することは
できず、更に、光ファイバの側面から顕微鏡で目視によ
り光ファイバ内部を観察したり、或いは光ファイバを切
断してその端面を顕微鏡で観察したりする必要があっ
た。光ファイバの製造中にこの方法で異常検知を行うこ
とは生産性の面で効率が悪い。
査方法のうち外径を調べる方法では次のような問題があ
った。即ち、光ファイバの外径の変動要因は穴の有無以
外にもあり、例えば被覆樹脂の厚さの変化とか、ゴミの
付着といったように、穴の有無に関係なく外径を変化さ
せる要因が存在する。この場合、穴が無いにも拘らず穴
が有ると誤判断されてしまう。従って、外径に変化があ
っても直ちに光ファイバに欠陥が有ると判断することは
できず、更に、光ファイバの側面から顕微鏡で目視によ
り光ファイバ内部を観察したり、或いは光ファイバを切
断してその端面を顕微鏡で観察したりする必要があっ
た。光ファイバの製造中にこの方法で異常検知を行うこ
とは生産性の面で効率が悪い。
【０００６】前記の検査方法のうち後方散乱光を調べる
方法では次のような問題があった。即ち、光ファイバの
長手方向のどの位置に物理的欠陥があるかを検知できる
ので非常に有用であるが、光ファイバの半径方向のどの
位置に欠陥があるかを検知することはできないという難
点があった。
方法では次のような問題があった。即ち、光ファイバの
長手方向のどの位置に物理的欠陥があるかを検知できる
ので非常に有用であるが、光ファイバの半径方向のどの
位置に欠陥があるかを検知することはできないという難
点があった。
【０００７】本発明の目的は光ファイバの物理的な欠陥
を検知することができ、しかも光ファイバの長手方向と
径方向のどの位置に欠陥があるかも特定することがで
き、また検知時間も短縮することができる光ファイバの
異常検知方法を提供することにある。
を検知することができ、しかも光ファイバの長手方向と
径方向のどの位置に欠陥があるかも特定することがで
き、また検知時間も短縮することができる光ファイバの
異常検知方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のうち請求項１記
載の光ファイバ内の異常検知方法は、光ファイバ１内に
その一端から光を入射し、その後方散乱光に基づいて光
ファイバ１中の異常を検知する光ファイバ内の異常検知
方法において、光ファイバ１内に波長の異なる２以上の
光を入射し、各入射光の後方散乱光に基づいて光ファイ
バ内の異常を検知するようにしたものである。
載の光ファイバ内の異常検知方法は、光ファイバ１内に
その一端から光を入射し、その後方散乱光に基づいて光
ファイバ１中の異常を検知する光ファイバ内の異常検知
方法において、光ファイバ１内に波長の異なる２以上の
光を入射し、各入射光の後方散乱光に基づいて光ファイ
バ内の異常を検知するようにしたものである。
【０００９】本発明のうち請求項２記載の光ファイバ内
の異常検知方法は、請求項１記載の光ファイバの異常検
知方法において、光ファイバ１内に波長の異なる２以上
の光を同時或いは切り替えて入射するようにしたもので
ある。
の異常検知方法は、請求項１記載の光ファイバの異常検
知方法において、光ファイバ１内に波長の異なる２以上
の光を同時或いは切り替えて入射するようにしたもので
ある。
【００１０】本発明のうち請求項３記載の光ファイバ内
の異常検知方法は、請求項１又は請求項２記載の光ファ
イバの異常検知方法において、後方散乱光の時間領域に
おける波形パターンを観測するようにしたものである。
の異常検知方法は、請求項１又は請求項２記載の光ファ
イバの異常検知方法において、後方散乱光の時間領域に
おける波形パターンを観測するようにしたものである。
【００１１】
【作用】本発明のうち請求項１、２記載の光ファイバ内
の異常検知方法では、光ファイバの一端から波長の異な
る光を入射するので、その後方散乱光を計測することに
より光ファイバ内の異常の有無を検知することができ
る。しかも光ファイバに入射される光の波長の長短によ
り光ファイバの径方向への分布が異なる。一般的には波
長の短い光は光ファイバ中を伝搬し易いが、光ファイバ
の径方向への分布は小さく、波長の長い光は光ファイバ
中を伝搬しにくいが、光ファイバの径方向への分布は広
い。このため、波長の異なる２以上の光を入射すること
により、光ファイバの径方向外周側に存在する物理的な
欠陥も捕えることができ、１波長の光では見逃されてし
まうような光ファイバ内の物理的な欠陥をも検知するこ
とができる。
の異常検知方法では、光ファイバの一端から波長の異な
る光を入射するので、その後方散乱光を計測することに
より光ファイバ内の異常の有無を検知することができ
る。しかも光ファイバに入射される光の波長の長短によ
り光ファイバの径方向への分布が異なる。一般的には波
長の短い光は光ファイバ中を伝搬し易いが、光ファイバ
の径方向への分布は小さく、波長の長い光は光ファイバ
中を伝搬しにくいが、光ファイバの径方向への分布は広
い。このため、波長の異なる２以上の光を入射すること
により、光ファイバの径方向外周側に存在する物理的な
欠陥も捕えることができ、１波長の光では見逃されてし
まうような光ファイバ内の物理的な欠陥をも検知するこ
とができる。
【００１２】本発明のうち請求項３記載の光ファイバ内
の異常検知方法では、後方散乱光の時間領域における波
形パターンを観測するようにしたので、光ファイバの径
方向の波形パターンを確認することができ、光ファイバ
の径方向における物理的欠陥を確実に検知できる。
の異常検知方法では、後方散乱光の時間領域における波
形パターンを観測するようにしたので、光ファイバの径
方向の波形パターンを確認することができ、光ファイバ
の径方向における物理的欠陥を確実に検知できる。
【００１３】
【発明の実施の形態１】図１は本発明の光ファイバ内の
異常検知方法に使用される測定系の一例を示したもので
ある。図１の測定系ではＯＴＤＲ等の測定器２から発光
される光（短パルス光）を光ファイバ１の一端から入射
し、光ファイバ１内で発生した反射光（後方散乱光）を
測定器２で受光し、その後方散乱光の波形を時間領域に
おいて観測できるようになっており（オシロスコープ機
能）、また、図２に示すように波形パターンとしてモニ
タできるようになっている。このモニタ画面の縦軸は後
方散乱光の相対レベル（ｄＢ）に対応しており、横軸は
光ファイバ１の入射端からの距離（Ｋｍ）に対応してい
る。図１では第２の光ファイバ１をその両側の第１、第
３の光ファイバ１にコネクタ３により接続し、第３の光
ファイバ１には破断点４を設けてある。
異常検知方法に使用される測定系の一例を示したもので
ある。図１の測定系ではＯＴＤＲ等の測定器２から発光
される光（短パルス光）を光ファイバ１の一端から入射
し、光ファイバ１内で発生した反射光（後方散乱光）を
測定器２で受光し、その後方散乱光の波形を時間領域に
おいて観測できるようになっており（オシロスコープ機
能）、また、図２に示すように波形パターンとしてモニ
タできるようになっている。このモニタ画面の縦軸は後
方散乱光の相対レベル（ｄＢ）に対応しており、横軸は
光ファイバ１の入射端からの距離（Ｋｍ）に対応してい
る。図１では第２の光ファイバ１をその両側の第１、第
３の光ファイバ１にコネクタ３により接続し、第３の光
ファイバ１には破断点４を設けてある。
【００１４】図１の測定系において、測定器２からの光
を光ファイバ１にその一端から入射すると、光ファイバ
１内の後方散乱光が測定器２に戻り、そのモニタ画面に
は図２に示すような波形パターンが表示される。この波
形パターンからは縦接続した３本の光ファイバ１の夫々
の接続点の損失（光コネクタの挿入損失）、接続点の位
置、破断点４の位置を読み取ることができる。
を光ファイバ１にその一端から入射すると、光ファイバ
１内の後方散乱光が測定器２に戻り、そのモニタ画面に
は図２に示すような波形パターンが表示される。この波
形パターンからは縦接続した３本の光ファイバ１の夫々
の接続点の損失（光コネクタの挿入損失）、接続点の位
置、破断点４の位置を読み取ることができる。
【００１５】図１の実施例では測定装置から光ファイバ
に入射する光の波長を適宜選択することができるように
してあり、例えば１．３μｍ、１．５５μｍ、１．６５
μｍの３つの波長の光を切り替えて入射できるようにし
てあり、夫々の波長における後方散乱光が測定装置のモ
ニタ画面に表示される。図３は波長１．３μｍ、１．５
５μｍ、１．６５μｍの光を光ファイバ１に通したとき
の光ファイバ１の半径方向における分布（モードフィー
ルド）を示したものであり、この図から、光の波長が長
くなるほど光ファイバ１の半径方向に光が広がる様子が
見られる。
に入射する光の波長を適宜選択することができるように
してあり、例えば１．３μｍ、１．５５μｍ、１．６５
μｍの３つの波長の光を切り替えて入射できるようにし
てあり、夫々の波長における後方散乱光が測定装置のモ
ニタ画面に表示される。図３は波長１．３μｍ、１．５
５μｍ、１．６５μｍの光を光ファイバ１に通したとき
の光ファイバ１の半径方向における分布（モードフィー
ルド）を示したものであり、この図から、光の波長が長
くなるほど光ファイバ１の半径方向に光が広がる様子が
見られる。
【００１６】また、図４に示すモニタ画面には前記３種
類の波長の後方散乱光が表示されている。図４では波長
１．３０μｍの場合は格別変化は見られないが、１．５
５μｍ、１．６５μｍの短パルス光を光ファイバ１に入
射した時は、光ファイバ１の長手方向中程に他の部分と
は異なるレベル変動が見られた。このことからレベル変
動が発生している部分でなんらかの異常があり、また波
長１．３０μｍの光には反応していないことから同波長
の光の広がりの領域外に、なんらかの欠陥があるものと
推測された。実際にその部分（光の入射端から約１１０
０ｍの付近）を観測したところ、光ファイバ１のクラッ
ドとコアの界面付近に直径約１μｍの泡を発見すること
ができた。
類の波長の後方散乱光が表示されている。図４では波長
１．３０μｍの場合は格別変化は見られないが、１．５
５μｍ、１．６５μｍの短パルス光を光ファイバ１に入
射した時は、光ファイバ１の長手方向中程に他の部分と
は異なるレベル変動が見られた。このことからレベル変
動が発生している部分でなんらかの異常があり、また波
長１．３０μｍの光には反応していないことから同波長
の光の広がりの領域外に、なんらかの欠陥があるものと
推測された。実際にその部分（光の入射端から約１１０
０ｍの付近）を観測したところ、光ファイバ１のクラッ
ドとコアの界面付近に直径約１μｍの泡を発見すること
ができた。
【００１７】
【発明の実施の形態２】前記方法と同じ方法、即ち測定
器２に光ファイバ１を接続し、光ファイバ１に入射する
光の波長を１．３０μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍ
と切り替えてその夫々の後方散乱光に対する観測を行な
った。図５はその結果測定器２のモニタ画面において観
測された後方散乱光の波形である。この結果では、波長
１．３０μｍの光にでは異常が検出されなかったが、
１．５５μｍ、１．６５μｍの光に対しては異常が検出
された。光ファイバ１の異常が検出された場所を検査し
てみると図６に示すように光ファイバ１がくびれてい
た。この結果を考察してみると、１．３μｍの光で障害
点５がほとんど表れず１．５５μｍ，１．６５μｍの光
で異常が現れたのは、コアの外側に広がろうとする長い
波長光が、くびれの部分で、散乱光となった為と推測さ
れる。
器２に光ファイバ１を接続し、光ファイバ１に入射する
光の波長を１．３０μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍ
と切り替えてその夫々の後方散乱光に対する観測を行な
った。図５はその結果測定器２のモニタ画面において観
測された後方散乱光の波形である。この結果では、波長
１．３０μｍの光にでは異常が検出されなかったが、
１．５５μｍ、１．６５μｍの光に対しては異常が検出
された。光ファイバ１の異常が検出された場所を検査し
てみると図６に示すように光ファイバ１がくびれてい
た。この結果を考察してみると、１．３μｍの光で障害
点５がほとんど表れず１．５５μｍ，１．６５μｍの光
で異常が現れたのは、コアの外側に広がろうとする長い
波長光が、くびれの部分で、散乱光となった為と推測さ
れる。
【００１８】以上説明した実施形態では、波長１．３０
μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍの３種類の光を使用
したが、本発明はこれに限定されるものでなく、光源さ
えあればより多種類の波長を使用することができ、また
より短波長の光、或いは長波長の光を使用することもで
きる。また波長は連続させて変化させても良いし、或い
は段階的に変化させてもよい。
μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍの３種類の光を使用
したが、本発明はこれに限定されるものでなく、光源さ
えあればより多種類の波長を使用することができ、また
より短波長の光、或いは長波長の光を使用することもで
きる。また波長は連続させて変化させても良いし、或い
は段階的に変化させてもよい。
【００１９】
【発明の効果】本発明では、光ファイバの破断点やその
他の障害点の位置（長手方向における位置と、半径方向
における位置）を特定することはできてもその種類を特
定することはできない。しかしながら、異常がある場合
にはそれを見い出すことができ、しかも併せて光ファイ
バの伝送損失や接続部の挿入損失等も測定できることか
ら、光ファイバの測定、検査に有効であり、光ファイバ
の検査時間の短縮にもつながる。
他の障害点の位置（長手方向における位置と、半径方向
における位置）を特定することはできてもその種類を特
定することはできない。しかしながら、異常がある場合
にはそれを見い出すことができ、しかも併せて光ファイ
バの伝送損失や接続部の挿入損失等も測定できることか
ら、光ファイバの測定、検査に有効であり、光ファイバ
の検査時間の短縮にもつながる。
【図１】本発明の光ファイバ内の異常検知方法の一実施
例を示した概略図。
例を示した概略図。
【図２】図１の異常検知方法において測定器のモニタ画
面に観測される後方散乱光の波形図。
面に観測される後方散乱光の波形図。
【図３】光ファイバに伝播される光の波長毎のモードフ
ィールドの説明図。
ィールドの説明図。
【図４】図１の異常検知方法における第一の測定結果を
示した説明図。
示した説明図。
【図５】図１の異常検知方法における第二の測定結果を
示した説明図。
示した説明図。
【図６】第二の測定で発見された光ファイバの異常箇所
の断面図。
の断面図。
１ 光ファイバ
Claims (3)
- 【請求項１】光ファイバ（１）内にその一端から光を入
射し、その後方散乱光に基づいて光ファイバ（１）中の
異常を検知する光ファイバ内の異常検知方法において、
光ファイバ（１）内に波長の異なる２以上の光を入射
し、各入射光の後方散乱光に基づいて光ファイバ内の異
常を検知するようにしたことを特徴とする光ファイバ内
の異常検知方法。 - 【請求項２】光ファイバ（１）に波長の異なる２以上の
光を同時或いは切り替えて入射するようにしたことを特
徴とする請求項１記載の光ファイバ内の異常検知方法。 - 【請求項３】後方散乱光の時間領域における波形パター
ンを観測するようにしたことを特徴とする請求項１又は
請求項２記載の光ファイバ内の異常検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19709195A JPH0926377A (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 光ファイバ内の異常検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19709195A JPH0926377A (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 光ファイバ内の異常検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926377A true JPH0926377A (ja) | 1997-01-28 |
Family
ID=16368585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19709195A Pending JPH0926377A (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 光ファイバ内の異常検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0926377A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001018520A1 (en) * | 1999-09-06 | 2001-03-15 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectormeter |
-
1995
- 1995-07-10 JP JP19709195A patent/JPH0926377A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001018520A1 (en) * | 1999-09-06 | 2001-03-15 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectormeter |
| US6611322B1 (en) | 1999-09-06 | 2003-08-26 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer which measures an optical fiber with different wavelengths according to an order and collectively displays waveform data and a list of events for each waveform in the same screen |
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