JPH09264810A - レーザ素子劣化検出装置 - Google Patents
レーザ素子劣化検出装置Info
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- JPH09264810A JPH09264810A JP7493496A JP7493496A JPH09264810A JP H09264810 A JPH09264810 A JP H09264810A JP 7493496 A JP7493496 A JP 7493496A JP 7493496 A JP7493496 A JP 7493496A JP H09264810 A JPH09264810 A JP H09264810A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 19
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＬＤの劣化を温度補正して検出する際に、一
定値を保持すべき駆動電流の初期設定値を温度変動しな
いようにして、正確なＬＤの劣化検出を行う。 【解決手段】 自動発光量制御回路によってＬＤ１の発
光をＰＤ２で受光した出力電流を一定の発光量に閉ルー
プ制御する。電流電圧変換回路３からの電圧と基準電圧
値とを演算器７で比較して得られた発光量制御信号Ｓ２
２を電圧電流変換回路２１に出力する。ツェナーダイオ
ード２０及び演算器１５を通じて、ＬＤ１への発光量制
御信号Ｓ２２の電圧の温度変化量と同一の変化量に補正
した補正した基準電圧を、トランジスタＱ２６，Ｑ２７
のカレントミラー回路からの基準電圧に、抵抗器Ｒ１２
の両端を開閉するスイッチ１１及び可変抵抗器１３の直
列回路を通じて加える。この温度補正した補正した基準
電圧と発光量制御信号Ｓ２２の電圧とを比較器１０で比
較してＬＤ１の劣化を示すアラーム信号Ｓ２２を出力す
る。
定値を保持すべき駆動電流の初期設定値を温度変動しな
いようにして、正確なＬＤの劣化検出を行う。 【解決手段】 自動発光量制御回路によってＬＤ１の発
光をＰＤ２で受光した出力電流を一定の発光量に閉ルー
プ制御する。電流電圧変換回路３からの電圧と基準電圧
値とを演算器７で比較して得られた発光量制御信号Ｓ２
２を電圧電流変換回路２１に出力する。ツェナーダイオ
ード２０及び演算器１５を通じて、ＬＤ１への発光量制
御信号Ｓ２２の電圧の温度変化量と同一の変化量に補正
した補正した基準電圧を、トランジスタＱ２６，Ｑ２７
のカレントミラー回路からの基準電圧に、抵抗器Ｒ１２
の両端を開閉するスイッチ１１及び可変抵抗器１３の直
列回路を通じて加える。この温度補正した補正した基準
電圧と発光量制御信号Ｓ２２の電圧とを比較器１０で比
較してＬＤ１の劣化を示すアラーム信号Ｓ２２を出力す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気記録再生装
置などにあって、レーザダイオードの劣化を検出するレ
ーザ素子劣化検出装置に関する。
置などにあって、レーザダイオードの劣化を検出するレ
ーザ素子劣化検出装置に関する。
【０００２】従来、光磁気記録再生装置では、記録又は
再生を行うためにレーザを発光するレーザダイオードが
長期間の使用で劣化するため、この劣化を検出してい
る。このレーザダイオードの検出を行う従来例として特
開平３−３３６３４号公報の「レーザ素子劣化検出回
路」を挙げることが出来る。
再生を行うためにレーザを発光するレーザダイオードが
長期間の使用で劣化するため、この劣化を検出してい
る。このレーザダイオードの検出を行う従来例として特
開平３−３３６３４号公報の「レーザ素子劣化検出回
路」を挙げることが出来る。
【０００３】図２は、このような従来例のレーザ素子劣
化検出回路の構成を示す回路図である。図２の回路で
は、発光量制御信号Ｓ７１を電圧電流変換回路７０でレ
ーザダイオード（ＬＤ）５１が発光するための電流に変
換する。この電流によるＬＤ５１の発光が、フォトディ
テクタ（ＰＤ）５２で受光され光電変換される。この出
力電流が電流電圧変換回路５３で電圧に変換される。さ
らに、基準電圧源６１、抵抗器Ｒ５５，Ｒ５６、演算器
５７及び調整器（可変抵抗器）５８を通じて、基準電圧
と比較し、この比較値によってＬＤ５１が所定の一定発
光量になるように閉ループ制御が行われる。すなわち、
自動発光量制御（ＡＰＣ）が行われる。
化検出回路の構成を示す回路図である。図２の回路で
は、発光量制御信号Ｓ７１を電圧電流変換回路７０でレ
ーザダイオード（ＬＤ）５１が発光するための電流に変
換する。この電流によるＬＤ５１の発光が、フォトディ
テクタ（ＰＤ）５２で受光され光電変換される。この出
力電流が電流電圧変換回路５３で電圧に変換される。さ
らに、基準電圧源６１、抵抗器Ｒ５５，Ｒ５６、演算器
５７及び調整器（可変抵抗器）５８を通じて、基準電圧
と比較し、この比較値によってＬＤ５１が所定の一定発
光量になるように閉ループ制御が行われる。すなわち、
自動発光量制御（ＡＰＣ）が行われる。
【０００４】このように、ＬＤ５１が劣化した際の駆動
電流が初期電流よりも増加するため、発光量制御信号Ｓ
７１の電流値から、このＬＤ５１の劣化検出が可能であ
るが、このＬＤ５１は、図３に示すように周囲温度によ
って駆動電流が変化する。
電流が初期電流よりも増加するため、発光量制御信号Ｓ
７１の電流値から、このＬＤ５１の劣化検出が可能であ
るが、このＬＤ５１は、図３に示すように周囲温度によ
って駆動電流が変化する。
【０００５】すなわち、周囲温度の上昇によって発光量
制御信号Ｓ７１の電流が大きくなる。このため、発光量
制御信号Ｓ７１の電流増加を監視するのみでは、ＬＤ５
１の正確な劣化判断が困難である。このため発光量制御
信号Ｓ７１の電圧変動を周囲温度で補正することによっ
て、ＬＤ５１の、より正確な劣化判断を行っている。こ
の場合、発光量制御信号Ｓ７１の電流値と基準値とを比
較する際のしきい値を、温度変化で可変し、ＬＤ５１の
温度変化を補正して正確な劣化を判断している。
制御信号Ｓ７１の電流が大きくなる。このため、発光量
制御信号Ｓ７１の電流増加を監視するのみでは、ＬＤ５
１の正確な劣化判断が困難である。このため発光量制御
信号Ｓ７１の電圧変動を周囲温度で補正することによっ
て、ＬＤ５１の、より正確な劣化判断を行っている。こ
の場合、発光量制御信号Ｓ７１の電流値と基準値とを比
較する際のしきい値を、温度変化で可変し、ＬＤ５１の
温度変化を補正して正確な劣化を判断している。
【０００６】図２に示す回路では、基準電圧源６１、抵
抗器Ｒ６２，Ｒ６７及びトランジスタＱ６４で基準電圧
値を決定し、温度変化の補正をサーミスタ６０、抵抗器
Ｒ６３及びトランジスタＱ６５で行っている。さらに、
初期電流値を調整器（可変抵抗器）５９及びトランジス
タＱ６６を通じて調整している。
抗器Ｒ６２，Ｒ６７及びトランジスタＱ６４で基準電圧
値を決定し、温度変化の補正をサーミスタ６０、抵抗器
Ｒ６３及びトランジスタＱ６５で行っている。さらに、
初期電流値を調整器（可変抵抗器）５９及びトランジス
タＱ６６を通じて調整している。
【０００７】そして、温度変化の補正電流と初期電流が
加算された電流が、電流電圧変換回路６８で電圧に変換
され、この電圧と発光量制御信号Ｓ７１の電圧とを演算
器（比較器）６９で比較して、ＬＤ５１の劣化を示す劣
化アラーム信号Ｓ７２を出力している。
加算された電流が、電流電圧変換回路６８で電圧に変換
され、この電圧と発光量制御信号Ｓ７１の電圧とを演算
器（比較器）６９で比較して、ＬＤ５１の劣化を示す劣
化アラーム信号Ｓ７２を出力している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このような上記従来例
のレーザ素子劣化検出装置では、ＬＤ５１での温度変化
の補正がサーミスタ６０、抵抗器Ｒ６３及びトランジス
タＱ６５で行われるが、ＬＤ５１の初期電流は調整器５
９がトランジスタＱ６６のエミッタに接続されているた
め、調整器５９と抵抗器Ｒ６２と同一の抵抗値であれ
ば、トランジスタＱ６４のコレクタ電流が温度補正され
て一定化される。
のレーザ素子劣化検出装置では、ＬＤ５１での温度変化
の補正がサーミスタ６０、抵抗器Ｒ６３及びトランジス
タＱ６５で行われるが、ＬＤ５１の初期電流は調整器５
９がトランジスタＱ６６のエミッタに接続されているた
め、調整器５９と抵抗器Ｒ６２と同一の抵抗値であれ
ば、トランジスタＱ６４のコレクタ電流が温度補正され
て一定化される。
【０００９】しかしながら調整器５９での可変抵抗値が
抵抗器Ｒ６２の抵抗値と異なるため、トランジスタＱ６
４のコレクタ電流の温度特性とトランジスタＱ６６のコ
レクタ電流の温度特性が一致しなくなる。すなわち、一
定値を保持しなければならない初期電流値の設定が温度
で変化してしまい、正確なＬＤ５１の劣化検出が出来な
いという欠点がある。
抵抗器Ｒ６２の抵抗値と異なるため、トランジスタＱ６
４のコレクタ電流の温度特性とトランジスタＱ６６のコ
レクタ電流の温度特性が一致しなくなる。すなわち、一
定値を保持しなければならない初期電流値の設定が温度
で変化してしまい、正確なＬＤ５１の劣化検出が出来な
いという欠点がある。
【００１０】本発明は、このような従来の技術における
課題を解決するものであり、レーザダイオードの劣化を
温度補正して検出する際に、一定値を保持すべき駆動電
流の初期設定値が温度変化せずに、より正確なレーザダ
イオードの劣化検出が可能になるレーザ素子劣化検出装
置を提供する。
課題を解決するものであり、レーザダイオードの劣化を
温度補正して検出する際に、一定値を保持すべき駆動電
流の初期設定値が温度変化せずに、より正確なレーザダ
イオードの劣化検出が可能になるレーザ素子劣化検出装
置を提供する。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に、請求項１記載の発明のレーザ素子劣化検出装置は、
レーザダイオードの発光をフォトディテクタで受光して
一定発光量に閉ループ制御する自動発光量制御手段と、
基準電圧を出力する基準電圧出力回路と、周囲温度を検
出した温度検出電圧を自動発光量制御手段でのレーザダ
イオードへの発光量制御電圧の温度変化量と同一の変化
量に補正する補正手段と、基準電圧出力回路からの直流
基準電圧に、補正手段での補正した基準電圧を可変調整
して加えるための可変調整手段と、補正手段が出力する
補正した基準電圧と自動発光量制御手段でのレーザダイ
オードへの発光量制御電圧とを比較してレーザダイオー
ドの劣化を示すアラーム信号を出力する比較手段とを備
える構成としてある。
に、請求項１記載の発明のレーザ素子劣化検出装置は、
レーザダイオードの発光をフォトディテクタで受光して
一定発光量に閉ループ制御する自動発光量制御手段と、
基準電圧を出力する基準電圧出力回路と、周囲温度を検
出した温度検出電圧を自動発光量制御手段でのレーザダ
イオードへの発光量制御電圧の温度変化量と同一の変化
量に補正する補正手段と、基準電圧出力回路からの直流
基準電圧に、補正手段での補正した基準電圧を可変調整
して加えるための可変調整手段と、補正手段が出力する
補正した基準電圧と自動発光量制御手段でのレーザダイ
オードへの発光量制御電圧とを比較してレーザダイオー
ドの劣化を示すアラーム信号を出力する比較手段とを備
える構成としてある。
【００１２】請求項２記載のレーザ素子劣化検出装置
は、自動発光量制御手段として、フォトディテクタから
の出力電流を電圧に変換する電流電圧変換回路と、発光
量制御電圧をレーザダイオードに出力するための電圧電
流変換回路と、電流電圧変換回路からの電圧を所定電圧
値と比較した比較電圧を発光量制御電圧として電圧電流
変換回路に出力するための演算回路とを備える構成とし
てある。
は、自動発光量制御手段として、フォトディテクタから
の出力電流を電圧に変換する電流電圧変換回路と、発光
量制御電圧をレーザダイオードに出力するための電圧電
流変換回路と、電流電圧変換回路からの電圧を所定電圧
値と比較した比較電圧を発光量制御電圧として電圧電流
変換回路に出力するための演算回路とを備える構成とし
てある。
【００１３】請求項３記載のレーザ素子劣化検出装置
は、補正手段として、ツェナーダイオードに流れる電流
の降下電圧を周囲温度を検出した温度検出電圧として送
出するための抵抗器からなる回路を用いる構成としてあ
る。
は、補正手段として、ツェナーダイオードに流れる電流
の降下電圧を周囲温度を検出した温度検出電圧として送
出するための抵抗器からなる回路を用いる構成としてあ
る。
【００１４】請求項４記載のレーザ素子劣化検出装置
は、基準電圧出力回路として、カレントミラー回路を用
いる構成としてある。
は、基準電圧出力回路として、カレントミラー回路を用
いる構成としてある。
【００１５】請求項５記載のレーザ素子劣化検出装置
は、可変調整手段として、抵抗器の両端を開閉するスイ
ッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用いる構成として
ある。
は、可変調整手段として、抵抗器の両端を開閉するスイ
ッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用いる構成として
ある。
【００１６】このような構成のレーザ素子劣化検出装置
は、レーザダイオードの劣化を検出する際に、温度上昇
によって駆動電流が初期設定値よりも増加するため、周
囲温度を検出した温度検出電圧をレーザダイオードの発
光量制御電圧の温度変化量と同一の変化量に補正する。
この補正した基準電圧と発光量制御電圧とを比較してレ
ーザダイオードの劣化を示すアラーム信号を出力してい
る。
は、レーザダイオードの劣化を検出する際に、温度上昇
によって駆動電流が初期設定値よりも増加するため、周
囲温度を検出した温度検出電圧をレーザダイオードの発
光量制御電圧の温度変化量と同一の変化量に補正する。
この補正した基準電圧と発光量制御電圧とを比較してレ
ーザダイオードの劣化を示すアラーム信号を出力してい
る。
【００１７】この結果、レーザダイオードの劣化を温度
補正して検出する際に、一定値を保持すべき初期設定値
（駆動電流）を従来例のように電流源の変化に基づいて
設定していないため、より正確なレーザダイオードの劣
化検出が行われる。
補正して検出する際に、一定値を保持すべき初期設定値
（駆動電流）を従来例のように電流源の変化に基づいて
設定していないため、より正確なレーザダイオードの劣
化検出が行われる。
【００１８】また、温度検出電圧を可変調整して補正し
た基準電圧に加える可変調整手段として、抵抗器の両端
を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用
いているため、レーザダイオードの劣化点の設定、及
び、初期設定が容易に行われ、かつ、その調整が迅速に
行われる。
た基準電圧に加える可変調整手段として、抵抗器の両端
を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用
いているため、レーザダイオードの劣化点の設定、及
び、初期設定が容易に行われ、かつ、その調整が迅速に
行われる。
【００１９】
【発明の実施の形態】次に、本発明のレーザ素子劣化検
出装置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明のレーザ素子劣化検出装置の実施形態にお
ける構成を示す回路図である。図１のレーザ素子劣化検
出装置は、自動発光量制御（ＡＰＣ）を構成する、レー
ザダイオード（ＬＤ）１と、発光量制御信号Ｓ２２の電
圧をＬＤ１が発光するための電流に変換する電圧電流変
換回路２１とを有している。
出装置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明のレーザ素子劣化検出装置の実施形態にお
ける構成を示す回路図である。図１のレーザ素子劣化検
出装置は、自動発光量制御（ＡＰＣ）を構成する、レー
ザダイオード（ＬＤ）１と、発光量制御信号Ｓ２２の電
圧をＬＤ１が発光するための電流に変換する電圧電流変
換回路２１とを有している。
【００２０】さらに、ＬＤ１の発光を受光するフォトデ
ィテクタ（ＰＤ）２と、このＰＤ２からの出力電流を電
圧に変換する電流電圧変換回路３と、電圧源４、抵抗器
Ｒ５，Ｒ６、演算器７及び調整器（可変抵抗器）８から
なり、電流電圧変換回路３からの電圧を、初期設定した
基準電圧値と比較した発光量制御信号Ｓ２２を出力する
比較回路とを有している。
ィテクタ（ＰＤ）２と、このＰＤ２からの出力電流を電
圧に変換する電流電圧変換回路３と、電圧源４、抵抗器
Ｒ５，Ｒ６、演算器７及び調整器（可変抵抗器）８から
なり、電流電圧変換回路３からの電圧を、初期設定した
基準電圧値と比較した発光量制御信号Ｓ２２を出力する
比較回路とを有している。
【００２１】さらに、発光量制御信号Ｓ２２に対して温
度変化の補正を行うために、その温度検出を行うツェナ
ーダイオード２０と、このツェナーダイオード２０での
電流を決定する電圧源１９、抵抗器Ｒ１８とを有してい
る。また、ツェナーダイオード２０の電圧の温度変化を
変換して温度変化の補正を行うための補正手段を構成す
る抵抗器Ｒ１４，Ｒ１６，Ｒ１７、演算器１５とを有し
ている。さらに、カレントミラー回路を構成する電圧源
２３、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２８、トランジスタＱ２６、抵
抗器Ｒ２５、トランジスタＱ２７とを有している。
度変化の補正を行うために、その温度検出を行うツェナ
ーダイオード２０と、このツェナーダイオード２０での
電流を決定する電圧源１９、抵抗器Ｒ１８とを有してい
る。また、ツェナーダイオード２０の電圧の温度変化を
変換して温度変化の補正を行うための補正手段を構成す
る抵抗器Ｒ１４，Ｒ１６，Ｒ１７、演算器１５とを有し
ている。さらに、カレントミラー回路を構成する電圧源
２３、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２８、トランジスタＱ２６、抵
抗器Ｒ２５、トランジスタＱ２７とを有している。
【００２２】また、初期電流値と駆動電流が温度変化し
た値を加算したものと、発光量制御信号Ｓ２２とを比較
してＬＤ１の劣化を検出した劣化アラーム信号Ｓ２７を
出力する比較器１０と、初期電流の調整を行う可変調整
手段を構成するスイッチ１１、調整器（可変抵抗器）１
３及び抵抗器Ｒ１２とを有している。
た値を加算したものと、発光量制御信号Ｓ２２とを比較
してＬＤ１の劣化を検出した劣化アラーム信号Ｓ２７を
出力する比較器１０と、初期電流の調整を行う可変調整
手段を構成するスイッチ１１、調整器（可変抵抗器）１
３及び抵抗器Ｒ１２とを有している。
【００２３】次に、この実施形態の動作について説明す
る。図１において、発光量制御信号Ｓ２２を電圧電流変
換回路２１で、ＬＤ１を発光させるための電流に変換す
る。ＬＤ１の発光をＰＤ２で受光して光電変換する。こ
の出力電流が電流電圧変換回路３で電圧に変換され、電
圧源４、抵抗器Ｒ５，Ｒ６、演算器７及び調整器（可変
抵抗器）８からなる比較回路によって、電流電圧変換回
路３が出力する電圧を、電圧源４を調整器８で初期設定
した基準電圧と比較し、この比較値である発光量制御信
号Ｓ２２を出力する。この閉ループ回路によって、ＬＤ
１が所定の一定発光量に制御される。すなわち、周知の
自動発光量制御（ＡＰＣ）が行われる。
る。図１において、発光量制御信号Ｓ２２を電圧電流変
換回路２１で、ＬＤ１を発光させるための電流に変換す
る。ＬＤ１の発光をＰＤ２で受光して光電変換する。こ
の出力電流が電流電圧変換回路３で電圧に変換され、電
圧源４、抵抗器Ｒ５，Ｒ６、演算器７及び調整器（可変
抵抗器）８からなる比較回路によって、電流電圧変換回
路３が出力する電圧を、電圧源４を調整器８で初期設定
した基準電圧と比較し、この比較値である発光量制御信
号Ｓ２２を出力する。この閉ループ回路によって、ＬＤ
１が所定の一定発光量に制御される。すなわち、周知の
自動発光量制御（ＡＰＣ）が行われる。
【００２４】このように動作するＬＤ１は、長期間使用
して劣化した場合、駆動電流が初期設定値よりも増加す
るため、発光量制御信号Ｓ２２に基づいて、その検出が
可能であるが、ＬＤ１は図３に示すように周囲温度によ
って、その駆動電流が変化する。この周囲温度の上昇に
よって発光量制御信号Ｓ２２の電流が変化するため、発
光量制御信号Ｓ２２の電流変化を監視するのみでは、Ｌ
Ｄ１の正確な劣化判断が困難である。
して劣化した場合、駆動電流が初期設定値よりも増加す
るため、発光量制御信号Ｓ２２に基づいて、その検出が
可能であるが、ＬＤ１は図３に示すように周囲温度によ
って、その駆動電流が変化する。この周囲温度の上昇に
よって発光量制御信号Ｓ２２の電流が変化するため、発
光量制御信号Ｓ２２の電流変化を監視するのみでは、Ｌ
Ｄ１の正確な劣化判断が困難である。
【００２５】ここでは発光量制御信号Ｓ２２を周囲温度
で補正して、ＬＤ１の、より正確な劣化判断を行う。こ
の場合、発光量制御信号Ｓ２２の電圧と、基準値と比較
する際のしきい値を、温度変化で可変してＬＤ１の駆動
電流の変動を補正している。
で補正して、ＬＤ１の、より正確な劣化判断を行う。こ
の場合、発光量制御信号Ｓ２２の電圧と、基準値と比較
する際のしきい値を、温度変化で可変してＬＤ１の駆動
電流の変動を補正している。
【００２６】発光量制御信号Ｓ２２の電圧変動の補正
は、温度上昇によって電圧が降下するツェナーダイオー
ド２０を用いており、このツェナーダイオード２０での
電流を電圧源１９、抵抗器Ｒ１８で決定する。このツェ
ナーダイオード２０の電圧変化を抵抗器Ｒ１４，Ｒ１
６，Ｒ１７及び演算器１５を通じて取り出して、以下に
説明するように発光量制御信号Ｓ２２の電圧変動を補正
する。
は、温度上昇によって電圧が降下するツェナーダイオー
ド２０を用いており、このツェナーダイオード２０での
電流を電圧源１９、抵抗器Ｒ１８で決定する。このツェ
ナーダイオード２０の電圧変化を抵抗器Ｒ１４，Ｒ１
６，Ｒ１７及び演算器１５を通じて取り出して、以下に
説明するように発光量制御信号Ｓ２２の電圧変動を補正
する。
【００２７】また、電圧源２３、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２
８、トランジスタＱ２６、抵抗器Ｒ２５及びトランジス
タＱ２７でカレントミラー回路を構成しており、ＬＤ１
の駆動電流の初期値が、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２５を同一値
に設定することによって、トランジスタＱ２７のコレク
タ電流が温度補正され、その一定化が図られる。この一
定化された電流を調整器１３を調整して温度変化に影響
されない一定の基準電圧値に設定する。
８、トランジスタＱ２６、抵抗器Ｒ２５及びトランジス
タＱ２７でカレントミラー回路を構成しており、ＬＤ１
の駆動電流の初期値が、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２５を同一値
に設定することによって、トランジスタＱ２７のコレク
タ電流が温度補正され、その一定化が図られる。この一
定化された電流を調整器１３を調整して温度変化に影響
されない一定の基準電圧値に設定する。
【００２８】そして、初期電流値と駆動電流の温度変化
値とを加算して得られた基準電圧を発光量制御信号Ｓ２
２の電圧と比較器１０で比較する。この比較で発光量制
御信号Ｓ２２の電圧が高い場合、すなわち、ＬＤ１の駆
動電流が増加した際に、このＬＤ１の劣化を示す劣化ア
ラーム信号Ｓ２７を出力する。
値とを加算して得られた基準電圧を発光量制御信号Ｓ２
２の電圧と比較器１０で比較する。この比較で発光量制
御信号Ｓ２２の電圧が高い場合、すなわち、ＬＤ１の駆
動電流が増加した際に、このＬＤ１の劣化を示す劣化ア
ラーム信号Ｓ２７を出力する。
【００２９】前記の初期電流値の調整は、スイッチ１１
をオンに設定して調整器１３で比較器１０の比較動作が
反転する限界に設定する。その後、スイッチ１１をオフ
にすると抵抗器Ｒ１２を通じた電圧が比較器１０に入力
される電圧に加算される。すなわち、発光量制御信号Ｓ
２２の増加分として加算される。したがって、ＬＤ１の
劣化検出点に、容易に設定が出来るようになる。なお、
ＬＤ１の劣化検出点は抵抗器Ｒ１２の抵抗値によって自
由に設定できる。
をオンに設定して調整器１３で比較器１０の比較動作が
反転する限界に設定する。その後、スイッチ１１をオフ
にすると抵抗器Ｒ１２を通じた電圧が比較器１０に入力
される電圧に加算される。すなわち、発光量制御信号Ｓ
２２の増加分として加算される。したがって、ＬＤ１の
劣化検出点に、容易に設定が出来るようになる。なお、
ＬＤ１の劣化検出点は抵抗器Ｒ１２の抵抗値によって自
由に設定できる。
【００３０】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のレーザ素子劣化検出装置によれば、周囲温度を検出し
た温度検出電圧をレーザダイオードの発光量制御電圧の
温度変化量と同一の変化量に補正し、この補正した基準
電圧と発光量制御電圧とを比較してレーザダイオードの
劣化を示すアラーム信号を出力しているため、レーザダ
イオードの劣化を温度補正して検出する際に、一定値を
保持すべき駆動電流の初期設定値が温度変化せずに、よ
り正確なレーザダイオードの劣化検出が出来るようにな
る。
のレーザ素子劣化検出装置によれば、周囲温度を検出し
た温度検出電圧をレーザダイオードの発光量制御電圧の
温度変化量と同一の変化量に補正し、この補正した基準
電圧と発光量制御電圧とを比較してレーザダイオードの
劣化を示すアラーム信号を出力しているため、レーザダ
イオードの劣化を温度補正して検出する際に、一定値を
保持すべき駆動電流の初期設定値が温度変化せずに、よ
り正確なレーザダイオードの劣化検出が出来るようにな
る。
【００３１】また、温度検出電圧を可変調整して補正し
た基準電圧に加える可変調整手段として、抵抗器の両端
を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用
いているため、レーザダイオードの劣化点の設定、及
び、駆動電流の初期設定が容易に行われ、かつ、その調
整が迅速に出来るようになる。
た基準電圧に加える可変調整手段として、抵抗器の両端
を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用
いているため、レーザダイオードの劣化点の設定、及
び、駆動電流の初期設定が容易に行われ、かつ、その調
整が迅速に出来るようになる。
【図１】本発明のレーザ素子劣化検出装置の実施形態に
おける構成を示す回路図である。
おける構成を示す回路図である。
【図２】従来のレーザ素子劣化検出回路の構成を示す回
路図である。
路図である。
【図３】従来例にあって温度変化に対するＬＤの電流対
光出力量を示す特性図である。
光出力量を示す特性図である。
１ レーザダイオード（ＬＤ） ２ フォトディテクタ（ＰＤ） ３ 電流電圧変換回路 ４，１９，２３ 電圧源 ７，１５ 演算器 ８，１３ 調整器（可変抵抗器） １０ 比較器 １１ スイッチ ２０ ツェナーダイオード ２１ 電圧電流変換回路 Ｑ２６，Ｑ２７ トランジスタ Ｒ５〜Ｒ２８ 抵抗器 Ｓ２２ 発光量制御信号 Ｓ２７ 劣化アラーム信号
Claims (5)
- 【請求項１】 レーザダイオードの発光をフォトディテ
クタで受光して一定発光量に閉ループ制御する自動発光
量制御手段と、 基準電圧を出力する基準電圧出力回路と、 周囲温度を検出した温度検出電圧を前記自動発光量制御
手段でのレーザダイオードへの発光量制御電圧の温度変
化量と同一の変化量に補正する補正手段と、 前記基準電圧出力回路からの基準電圧に、前記補正手段
で補正した基準電圧を可変調整して加えるための可変調
整手段と、 前記補正手段が出力する補正した基準電圧と前記自動発
光量制御手段でのレーザダイオードへの発光量制御電圧
とを比較して前記レーザダイオードの劣化を示すアラー
ム信号を出力する比較手段と、 を備えることを特徴とするレーザ素子劣化検出装置。 - 【請求項２】 前記請求項１記載の自動発光量制御手段
として、 フォトディテクタからの出力電流を電圧に変換する電流
電圧変換回路と、 発光量制御電圧をレーザダイオードに出力するための電
圧電流変換回路と、 前記電流電圧変換回路からの電圧を所定電圧値と比較し
た比較電圧を発光量制御電圧として前記電圧電流変換回
路に出力するための演算回路と、 を備えることを特徴とするレーザ素子劣化検出装置。 - 【請求項３】 前記請求項１記載の補正手段として、ツ
ェナーダイオードに流れる電流の降下電圧を周囲温度を
検出した温度検出電圧として送出するための抵抗器から
なる回路を用いることを特徴とするレーザ素子劣化検出
装置。 - 【請求項４】 前記請求項１記載の基準電圧出力回路と
して、カレントミラー回路を用いることを特徴とするレ
ーザ素子劣化検出装置。 - 【請求項５】 前記請求項１記載の可変調整手段とし
て、抵抗器の両端を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の
直列接続回路を用いることを特徴とするレーザ素子劣化
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7493496A JPH09264810A (ja) | 1996-03-28 | 1996-03-28 | レーザ素子劣化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7493496A JPH09264810A (ja) | 1996-03-28 | 1996-03-28 | レーザ素子劣化検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09264810A true JPH09264810A (ja) | 1997-10-07 |
Family
ID=13561687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7493496A Pending JPH09264810A (ja) | 1996-03-28 | 1996-03-28 | レーザ素子劣化検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09264810A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001006484A1 (en) * | 1999-07-14 | 2001-01-25 | Sony Corporation | Current drive circuit and display comprising the same, pixel circuit, and drive method |
| US8167799B2 (en) | 2004-05-25 | 2012-05-01 | Andrew J Ronchi | Apparatus and method for monitoring strain and/or load applied to a mammal |
-
1996
- 1996-03-28 JP JP7493496A patent/JPH09264810A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001006484A1 (en) * | 1999-07-14 | 2001-01-25 | Sony Corporation | Current drive circuit and display comprising the same, pixel circuit, and drive method |
| US8167799B2 (en) | 2004-05-25 | 2012-05-01 | Andrew J Ronchi | Apparatus and method for monitoring strain and/or load applied to a mammal |
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