JPH09274988A - 有機el素子 - Google Patents
有機el素子Info
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- JPH09274988A JPH09274988A JP8083614A JP8361496A JPH09274988A JP H09274988 A JPH09274988 A JP H09274988A JP 8083614 A JP8083614 A JP 8083614A JP 8361496 A JP8361496 A JP 8361496A JP H09274988 A JPH09274988 A JP H09274988A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 陰電極層17側での電極配線の信頼性を改善
して、実用的な有機EL素子を提供すること。 【解決手段】 基板11、基板11の一部分上に設けられた
陽電極層13、陽電極層上から基板上に至るように設けら
れた有機EL層15と、有機EL層の少なくとも発光領域
15x とされる部分上に設けられた陰電極層17とを具え
る。さらに、引き出し電極層21であって、有機EL層の
発光領域とされる部分には接しない状態で陰電極層に一
部が接続され、有機EL層の発光領域とされる部分を除
いた部分上を経由して基板上に至るように設けられ、し
かも、陰電極層の材料に比べ化学的に安定でかつ有機E
L層および基板に対する密着性が良い材料で構成された
引き出し電極層21を具える。
して、実用的な有機EL素子を提供すること。 【解決手段】 基板11、基板11の一部分上に設けられた
陽電極層13、陽電極層上から基板上に至るように設けら
れた有機EL層15と、有機EL層の少なくとも発光領域
15x とされる部分上に設けられた陰電極層17とを具え
る。さらに、引き出し電極層21であって、有機EL層の
発光領域とされる部分には接しない状態で陰電極層に一
部が接続され、有機EL層の発光領域とされる部分を除
いた部分上を経由して基板上に至るように設けられ、し
かも、陰電極層の材料に比べ化学的に安定でかつ有機E
L層および基板に対する密着性が良い材料で構成された
引き出し電極層21を具える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はエレクトロルミネ
ッセンス(EL)現象を利用した有機EL素子に関する
ものである。
ッセンス(EL)現象を利用した有機EL素子に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来の典型的な有機EL素子は、図5
(A)、(B)に要部の斜視図および断面図をもって示
したように、発光光に対し透明性を有した基板11上
に、透明性を有した陽電極層13、単数あるいは複数の
有機EL層15および陰電極層17をこの順に具えた構
造となっている。なお、図5(B)は図5(A)の素子
をa−b線に添って切った断面図である。また、図5で
は有機EL層15が有機正孔輸送層15aおよび有機電
子輸送性発光層15b(詳細は後述する)で構成される
例を示してある。ここで、有機EL層15は、陽電極層
13上から基板11上に至るように設けられ、また、陰
電極層17は、有機EL層15の発光領域15xとされ
る部分上から、該有機EL層15の基板11上に設けた
部分上を経由して、基板11上に至るように設けられて
いる。有機EL層15を基板11上にまで至るように設
けたのは、特別に絶縁膜を設けずとも、陰電極層17を
陽電極13に短絡させることなく外部に引き出せるから
である。また陰電極層17を基板11上にまで至るよう
に設けたのは、陰電極層17の基板11上に設けた部分
17aにおいて外部信号源19と陰電極層17とを接続
するためである。これは、有機EL層15と陰電極層1
7との密着性があまり高くないこと、および、有機EL
層15の膜厚は約100nmでかつ陰電極層17の膜厚
も数百nm程度と非常に薄いことから、陰電極層17の
有機EL層上に当たる部分17bで外部信号源19との
接続を行なうと、陽電極層13および陰電極層17が短
絡したり、陰電極層17が剥離する危険が高いので、そ
れを防止するためであった。また、陰電極層17は、有
機EL層15に効率良く電子を注入する観点から、仕事
関数が低い(おおむね4.0eV以下)例えばMgなど
の金属、或は、当該金属に他の金属を少量混ぜ構成した
合金で構成されることが多い。
(A)、(B)に要部の斜視図および断面図をもって示
したように、発光光に対し透明性を有した基板11上
に、透明性を有した陽電極層13、単数あるいは複数の
有機EL層15および陰電極層17をこの順に具えた構
造となっている。なお、図5(B)は図5(A)の素子
をa−b線に添って切った断面図である。また、図5で
は有機EL層15が有機正孔輸送層15aおよび有機電
子輸送性発光層15b(詳細は後述する)で構成される
例を示してある。ここで、有機EL層15は、陽電極層
13上から基板11上に至るように設けられ、また、陰
電極層17は、有機EL層15の発光領域15xとされ
る部分上から、該有機EL層15の基板11上に設けた
部分上を経由して、基板11上に至るように設けられて
いる。有機EL層15を基板11上にまで至るように設
けたのは、特別に絶縁膜を設けずとも、陰電極層17を
陽電極13に短絡させることなく外部に引き出せるから
である。また陰電極層17を基板11上にまで至るよう
に設けたのは、陰電極層17の基板11上に設けた部分
17aにおいて外部信号源19と陰電極層17とを接続
するためである。これは、有機EL層15と陰電極層1
7との密着性があまり高くないこと、および、有機EL
層15の膜厚は約100nmでかつ陰電極層17の膜厚
も数百nm程度と非常に薄いことから、陰電極層17の
有機EL層上に当たる部分17bで外部信号源19との
接続を行なうと、陽電極層13および陰電極層17が短
絡したり、陰電極層17が剥離する危険が高いので、そ
れを防止するためであった。また、陰電極層17は、有
機EL層15に効率良く電子を注入する観点から、仕事
関数が低い(おおむね4.0eV以下)例えばMgなど
の金属、或は、当該金属に他の金属を少量混ぜ構成した
合金で構成されることが多い。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この出
願に係る発明者の詳細な研究によれば、上述の従来の有
機EL素子の陰電極層17における、有機EL層16の
表面と基板11の表面との境界近傍の基板部分11a上
に位置する部分17xの、基板との密着性は、一般に悪
いとされている有機EL層15と陰電極層17との密着
性よりもさらに悪いことが分かった。具体的には、この
従来の有機EL素子を保護膜(後述する)などは設けな
い状態で大気中に数週間放置した場合上記の陰電極層部
分17xが基板11から剥離することが観察された(後
述の比較例参照)。また、この従来の有機EL素子を大
気雰囲気から遮断する意味で例えば不活性ガス雰囲気中
に封止した状態としても、この素子では千時間程度の駆
動で上記の陰電極層部分17xが基板からやはり剥離す
ることが分かった。このような剥離現象は、有機EL素
子の信頼性を欠く現象であるから、解決が望まれる。
願に係る発明者の詳細な研究によれば、上述の従来の有
機EL素子の陰電極層17における、有機EL層16の
表面と基板11の表面との境界近傍の基板部分11a上
に位置する部分17xの、基板との密着性は、一般に悪
いとされている有機EL層15と陰電極層17との密着
性よりもさらに悪いことが分かった。具体的には、この
従来の有機EL素子を保護膜(後述する)などは設けな
い状態で大気中に数週間放置した場合上記の陰電極層部
分17xが基板11から剥離することが観察された(後
述の比較例参照)。また、この従来の有機EL素子を大
気雰囲気から遮断する意味で例えば不活性ガス雰囲気中
に封止した状態としても、この素子では千時間程度の駆
動で上記の陰電極層部分17xが基板からやはり剥離す
ることが分かった。このような剥離現象は、有機EL素
子の信頼性を欠く現象であるから、解決が望まれる。
【0004】また、低仕事関数の金属で構成された陰電
極層17は大気中の酸素や水分により容易に酸化されて
発光領域に非発光部が生じるなど、電極としての機能を
果たさなくなり易い。比較的安定なMgでも、有機EL
素子を実用的な長期間で使用する場合は上記の電極劣化
は顕著になる。これを回避するためには少なくとも陰電
極層17を大気からしかも陰電極層17形成後なるべく
速く遮断する必要がある。すなわち少なくとも陰電極層
17を封止する必要がある。しかし、従来の素子構造で
は、最も封止する必要がある陰電極層17の少なくとも
一部は外部信号源19との接続のためかなりの後まで露
出させる必要があるため、封止を有効に行なうことがで
きないという問題点もあった。
極層17は大気中の酸素や水分により容易に酸化されて
発光領域に非発光部が生じるなど、電極としての機能を
果たさなくなり易い。比較的安定なMgでも、有機EL
素子を実用的な長期間で使用する場合は上記の電極劣化
は顕著になる。これを回避するためには少なくとも陰電
極層17を大気からしかも陰電極層17形成後なるべく
速く遮断する必要がある。すなわち少なくとも陰電極層
17を封止する必要がある。しかし、従来の素子構造で
は、最も封止する必要がある陰電極層17の少なくとも
一部は外部信号源19との接続のためかなりの後まで露
出させる必要があるため、封止を有効に行なうことがで
きないという問題点もあった。
【0005】
【課題を解決するための手段】そこで、この発明の有機
EL素子によれば、基板と、該基板の一部分上に設けら
れた陽電極層と、該陽電極層上から前記基板上に至るよ
うに設けられ単数あるいは複数層で構成された有機EL
層と、該有機EL層の少なくとも発光領域とされる部分
上に設けられた陰電極層とを具える有機EL素子におい
て、前記有機EL層の発光領域とされる部分には接しな
い状態で前記陰電極層に一部が接続され、前記有機EL
層の発光領域とされる部分を除いた部分上を経由して前
記基板上に至るように設けられ、しかも、前記陰電極層
の材料に比べ化学的に安定でかつ前記有機EL層および
基板に対する密着性が良い材料で構成された引き出し電
極層を具えたことを特徴とする。
EL素子によれば、基板と、該基板の一部分上に設けら
れた陽電極層と、該陽電極層上から前記基板上に至るよ
うに設けられ単数あるいは複数層で構成された有機EL
層と、該有機EL層の少なくとも発光領域とされる部分
上に設けられた陰電極層とを具える有機EL素子におい
て、前記有機EL層の発光領域とされる部分には接しな
い状態で前記陰電極層に一部が接続され、前記有機EL
層の発光領域とされる部分を除いた部分上を経由して前
記基板上に至るように設けられ、しかも、前記陰電極層
の材料に比べ化学的に安定でかつ前記有機EL層および
基板に対する密着性が良い材料で構成された引き出し電
極層を具えたことを特徴とする。
【0006】この発明によれば、引き出し電極層によ
り、有機EL層上から基板上に至る電極部分を構成出来
る。この引き出し電極層を構成する材料は、陰電極層に
要求される性質(低仕事関数のもの等)にこだわること
なく選択できる。具体的には、陰電極層の構成材料より
化学的に安定でかつ基板や有機EL層に対する密着性が
良い材料で構成できる。そのため、有機EL層表面と基
板の表面との境界近傍の基板部分(図5(B)の例でい
えば11aの部分)上に位置する電極部分での剥離の問
題は解決される。ここで、有機EL層の発光領域とされ
る部分に引き出し電極層が接しない状態にすると述べた
のは、発光領域に引き出し電極層が接すると発光領域に
は陰電極層とは仕事関数の異なる電極が接する部分が生
じることになり発光ムラ等が生じる危険があるので、そ
れを回避するためである。また、発光領域とは、有機E
L層の、陽電極層と陰電極層とによって挟まれる部分で
ある。
り、有機EL層上から基板上に至る電極部分を構成出来
る。この引き出し電極層を構成する材料は、陰電極層に
要求される性質(低仕事関数のもの等)にこだわること
なく選択できる。具体的には、陰電極層の構成材料より
化学的に安定でかつ基板や有機EL層に対する密着性が
良い材料で構成できる。そのため、有機EL層表面と基
板の表面との境界近傍の基板部分(図5(B)の例でい
えば11aの部分)上に位置する電極部分での剥離の問
題は解決される。ここで、有機EL層の発光領域とされ
る部分に引き出し電極層が接しない状態にすると述べた
のは、発光領域に引き出し電極層が接すると発光領域に
は陰電極層とは仕事関数の異なる電極が接する部分が生
じることになり発光ムラ等が生じる危険があるので、そ
れを回避するためである。また、発光領域とは、有機E
L層の、陽電極層と陰電極層とによって挟まれる部分で
ある。
【0007】なお、この発明の実施に当たり、前記引き
出し電極層を、前記有機EL層の前記発光領域以外の部
分上から前記基板上に至るように設け、前記陰電極層を
前記有機EL層の前記発光領域上から該引き出し電極層
上に至るように設けるのが好適である(例えば図1に示
したような構造とするのが好適である。)。この構造で
あると、例えば引き出し電極層形成後に試料を大気に放
置したりしてもその悪影響が少ないこと、また、引き出
し電極層上に陰電極層を形成した後に速やかに陰電極層
を封止層で覆う手順をとることが可能になるので、結果
的に信頼性に優れる有機EL素子が得られるからであ
る。つまり、陰電極層を先に形成した場合は、この上に
引き出し電極層を形成し終えるまで陰電極層を封止層で
覆えないとか、陰電極層を例えば蒸着法で形成した場合
は、真空破壊をすることなく引き出し電極層をこの上に
形成する必要が生じる等、種々の不都合が生じるのに対
し、この好適例ではそれが生じないのである。
出し電極層を、前記有機EL層の前記発光領域以外の部
分上から前記基板上に至るように設け、前記陰電極層を
前記有機EL層の前記発光領域上から該引き出し電極層
上に至るように設けるのが好適である(例えば図1に示
したような構造とするのが好適である。)。この構造で
あると、例えば引き出し電極層形成後に試料を大気に放
置したりしてもその悪影響が少ないこと、また、引き出
し電極層上に陰電極層を形成した後に速やかに陰電極層
を封止層で覆う手順をとることが可能になるので、結果
的に信頼性に優れる有機EL素子が得られるからであ
る。つまり、陰電極層を先に形成した場合は、この上に
引き出し電極層を形成し終えるまで陰電極層を封止層で
覆えないとか、陰電極層を例えば蒸着法で形成した場合
は、真空破壊をすることなく引き出し電極層をこの上に
形成する必要が生じる等、種々の不都合が生じるのに対
し、この好適例ではそれが生じないのである。
【0008】ここでこの発明において基板とは、有機E
L素子の設計に応じた任意好適なものとできる。典型的
には基板側に光を取り出すことが多いので、その場合の
基板は発光光に対し透明性を有したガラス基板またはフ
ィルムなどで構成できる。
L素子の設計に応じた任意好適なものとできる。典型的
には基板側に光を取り出すことが多いので、その場合の
基板は発光光に対し透明性を有したガラス基板またはフ
ィルムなどで構成できる。
【0009】また、陽電極層も有機EL素子の設計に応
じた任意好適なものとできる。典型的には基板側に光を
取り出すことが多いので、その場合の陽電極層は透明導
電膜例えばITOで構成出来る。
じた任意好適なものとできる。典型的には基板側に光を
取り出すことが多いので、その場合の陽電極層は透明導
電膜例えばITOで構成出来る。
【0010】また、有機EL層の層構成は特に限定され
ない。有機発光層のみ、または有機正孔輸送層と有機電
子輸送性発光層との2層構造(後述の実施例で説明して
いる構造)、または有機正孔輸送性発光層と有機電子輸
送層との2層構造、または有機正孔輸送層と有機発光層
と有機電子輸送層とをこの順に積層させた3層構造等、
任意の層構成とできる。また有機EL層の構成材料も特
に限定されない。種々の好適な有機化合物およびそれら
の組み合わせが可能である。例えば、文献I(「有機E
L素子開発戦略」(サイエンスフォーラム1992年出
版))に開示されている化合物や積層の組み合わせはこ
の発明の適用例の一例とできる。また、有機EL層の成
膜方法は、実施例に示す真空蒸着法以外に、ウエットな
方法としては、ディップコ−ト法、スピンコート法、ラ
ングミュア・ブロジェット(LB)法やミセル電解法な
どを、また、ドライな方法としては、有機分子線蒸着
(OMBD)法やプラズマ重合法などを用いることも可
能である。
ない。有機発光層のみ、または有機正孔輸送層と有機電
子輸送性発光層との2層構造(後述の実施例で説明して
いる構造)、または有機正孔輸送性発光層と有機電子輸
送層との2層構造、または有機正孔輸送層と有機発光層
と有機電子輸送層とをこの順に積層させた3層構造等、
任意の層構成とできる。また有機EL層の構成材料も特
に限定されない。種々の好適な有機化合物およびそれら
の組み合わせが可能である。例えば、文献I(「有機E
L素子開発戦略」(サイエンスフォーラム1992年出
版))に開示されている化合物や積層の組み合わせはこ
の発明の適用例の一例とできる。また、有機EL層の成
膜方法は、実施例に示す真空蒸着法以外に、ウエットな
方法としては、ディップコ−ト法、スピンコート法、ラ
ングミュア・ブロジェット(LB)法やミセル電解法な
どを、また、ドライな方法としては、有機分子線蒸着
(OMBD)法やプラズマ重合法などを用いることも可
能である。
【0011】また、陰電極層の構成材料としては、例え
ばマグネシウム(Mg)、インジウム(In)、ガリウ
ム(Ga)、カドミウム(Cd)が仕事関数が低い
(4.0eV以下)ので好適である。また、これら例示
金属に、これらの有機EL層に対する密着性を高めかつ
それを安定化させるために他の金属を微量混ぜて構成し
た合金を陰電極層の構成材料としても良い。例えば、M
gにAg(銀)を微量混ぜ構成されるMgを主成分とす
る合金を用いても良い。また、別の系として、AlLi
(アルミニウムリチウム)系合金を用いても良い。
ばマグネシウム(Mg)、インジウム(In)、ガリウ
ム(Ga)、カドミウム(Cd)が仕事関数が低い
(4.0eV以下)ので好適である。また、これら例示
金属に、これらの有機EL層に対する密着性を高めかつ
それを安定化させるために他の金属を微量混ぜて構成し
た合金を陰電極層の構成材料としても良い。例えば、M
gにAg(銀)を微量混ぜ構成されるMgを主成分とす
る合金を用いても良い。また、別の系として、AlLi
(アルミニウムリチウム)系合金を用いても良い。
【0012】また、引き出し電極層の構成材料として
は、陰電極層を構成する材料に比べ、有機EL薄膜およ
び基板への密着性が良くかつ化学的に安定なものから選
ぶこととが出来る。より好ましくは電気抵抗が低く簡易
に成膜できるものが好ましい。このような材料として
は、後の実施の形態で述べるAg(銀)、Au(金)、
Al(アルミニウム)、Ni(ニッケル)、Mo(モリ
ブデン)、さらには、Ti(チタン)、Pt(白金)、
Cr(クロム)等を挙げることが出来る。なお、Auの
ようにその層のみでは基板との密着性が悪いと考えられ
る材料を用いる場合は、Cr層やTi層からなる薄い下
層を先ず設け、該下層上にAu層を設けても良い。
は、陰電極層を構成する材料に比べ、有機EL薄膜およ
び基板への密着性が良くかつ化学的に安定なものから選
ぶこととが出来る。より好ましくは電気抵抗が低く簡易
に成膜できるものが好ましい。このような材料として
は、後の実施の形態で述べるAg(銀)、Au(金)、
Al(アルミニウム)、Ni(ニッケル)、Mo(モリ
ブデン)、さらには、Ti(チタン)、Pt(白金)、
Cr(クロム)等を挙げることが出来る。なお、Auの
ようにその層のみでは基板との密着性が悪いと考えられ
る材料を用いる場合は、Cr層やTi層からなる薄い下
層を先ず設け、該下層上にAu層を設けても良い。
【0013】また、この発明の実施に当たり、少なくと
も有機EL層および陰電極層を大気から遮蔽するのが良
い。その具体的な方法としては、有機EL層および陰電
極層、若しくは素子全体を、固体例えば絶縁膜(蒸着絶
縁膜や樹脂例えば紫外線硬化型の樹脂)などで被覆する
構造、有機EL層および陰電極層、若しくは素子全体
を、有機EL素子の各構成成分を溶解しない液体により
覆う構造、有機EL層および陰電極層、若しくは素子全
体を、好適な気体例えば不活性ガスにより封止する構造
や真空雰囲気状態で封止する構造などが挙げられる。
も有機EL層および陰電極層を大気から遮蔽するのが良
い。その具体的な方法としては、有機EL層および陰電
極層、若しくは素子全体を、固体例えば絶縁膜(蒸着絶
縁膜や樹脂例えば紫外線硬化型の樹脂)などで被覆する
構造、有機EL層および陰電極層、若しくは素子全体
を、有機EL素子の各構成成分を溶解しない液体により
覆う構造、有機EL層および陰電極層、若しくは素子全
体を、好適な気体例えば不活性ガスにより封止する構造
や真空雰囲気状態で封止する構造などが挙げられる。
【0014】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の有機EL素
子のいくつかの実施例を比較例と併せて説明する。ただ
し説明に用いる各図は発明が理解出来る程度に各構成成
分の寸法、形状および配置関係を概略的に示してある。
また、各図において同様の構成成分については同一の番
号を付して示し、その重複する説明を省略する。また、
各図において従来と同様な構成成分については図5で用
いた番号と同一の番号を付して示してある。また、以下
の説明の中で用いる「電子輸送層」とは、仕事関数が小
さな電子注入電極を用いた場合に、多量の電子が注入可
能でしかも注入された電子が膜中を移動できる一方、正
孔は注入が困難であるか、注入は可能でも膜中を移動し
にくいような性質を持った薄膜層である。さらに、「正
孔輸送層」とは、仕事関数が大きな正孔注入電極を用い
た場合に、多量の正孔の注入が可能で、しかも注入され
た正孔が膜中を移動できる一方、電子の注入は困難であ
るか、注入可能でも膜中を移動しにくいような性質を持
った薄膜層である。
子のいくつかの実施例を比較例と併せて説明する。ただ
し説明に用いる各図は発明が理解出来る程度に各構成成
分の寸法、形状および配置関係を概略的に示してある。
また、各図において同様の構成成分については同一の番
号を付して示し、その重複する説明を省略する。また、
各図において従来と同様な構成成分については図5で用
いた番号と同一の番号を付して示してある。また、以下
の説明の中で用いる「電子輸送層」とは、仕事関数が小
さな電子注入電極を用いた場合に、多量の電子が注入可
能でしかも注入された電子が膜中を移動できる一方、正
孔は注入が困難であるか、注入は可能でも膜中を移動し
にくいような性質を持った薄膜層である。さらに、「正
孔輸送層」とは、仕事関数が大きな正孔注入電極を用い
た場合に、多量の正孔の注入が可能で、しかも注入され
た正孔が膜中を移動できる一方、電子の注入は困難であ
るか、注入可能でも膜中を移動しにくいような性質を持
った薄膜層である。
【0015】1.実施例1 図1は、実施例1の有機EL素子20の構成を示した断
面図であって、図5(B)と同様な表記方法により示し
た断面図である。なお、この実施例1の有機EL素子2
0は、引き出し電極層21を設けた点および、陰電極層
17の配置が従来と多少異なる点を除いては、基本的な
構造は図5(A)に示した有機EL素子と同じとしてあ
る。よって、実施例1の有機EL素子の全体構造は図5
(A)を参照することで類推出来ると考え、斜視図は省
略している。
面図であって、図5(B)と同様な表記方法により示し
た断面図である。なお、この実施例1の有機EL素子2
0は、引き出し電極層21を設けた点および、陰電極層
17の配置が従来と多少異なる点を除いては、基本的な
構造は図5(A)に示した有機EL素子と同じとしてあ
る。よって、実施例1の有機EL素子の全体構造は図5
(A)を参照することで類推出来ると考え、斜視図は省
略している。
【0016】この実施例1の有機EL素子20は、基板
11と、この基板11の一部分上に設けられた陽電極層
13と、この陽電極層13上から基板11上に至るよう
に設けられた有機EL層15と、この有機EL層15の
発光領域15x以外の部分上から基板11上に至るよう
に設けられた引き出し電極層21と、有機EL層15の
少なくとも発光領域15xを覆いかつそこから引き出し
電極層21上に至るように設けられた陰電極層17とを
具えている。したがって、この実施例1の有機EL素子
20は、引き出し電極21と陰電極層17とが、有機E
L層15の発光領域15xから離れた部分上においてし
かも引き出し電極層21の一部が陰電極層17に対し下
層となった状態で接続された構造を有した素子となって
いる。
11と、この基板11の一部分上に設けられた陽電極層
13と、この陽電極層13上から基板11上に至るよう
に設けられた有機EL層15と、この有機EL層15の
発光領域15x以外の部分上から基板11上に至るよう
に設けられた引き出し電極層21と、有機EL層15の
少なくとも発光領域15xを覆いかつそこから引き出し
電極層21上に至るように設けられた陰電極層17とを
具えている。したがって、この実施例1の有機EL素子
20は、引き出し電極21と陰電極層17とが、有機E
L層15の発光領域15xから離れた部分上においてし
かも引き出し電極層21の一部が陰電極層17に対し下
層となった状態で接続された構造を有した素子となって
いる。
【0017】ここで、基板11は石英ガラス基板で構成
してある。また陽電極層13は膜厚が180nmでシー
ト抵抗が10Ω/□以下でかつ幅(図1の横方向の寸法
W)が2mmのITO膜で構成してある。また有機EL
層15は、図1中では区分けしていないが、正孔輸送層
と電子輸送性発光層とをこの順に積層した構成としてあ
る。そして正孔輸送層を、膜厚が50nmのトリフェニ
ルアミン誘導体(N,N’−ジフェニル−N,N’−ビ
ス(3−メチルフェニル)−1,1’−ビフェニル−
4,4’−ジアミン(以下、TPDともいう。)の層で
構成し、電子輸送性発光層を、膜厚が50nmのアルミ
キノリノール錯体(トリス(8−ヒドロキシキノリノー
ル)アルミニウム(以下、Alq3 ともいう。)の層で
構成してある。また、引き出し電極層21は、膜厚が2
00nmで幅(図1の紙面に垂直な方向の寸法)が2.
5mmのアルミニウム膜で構成してある。また、陰電極
層17は膜厚が200nmで幅(図1の紙面に垂直な方
向の寸法)が2mmのマグネシウム膜で構成してある。
ただし、陽電極層13および陰電極層21は互いのスト
ライプ方向が直交するような配置関係で設けてある。し
たがって、発光領域15xの面積は2×2mm2 となっ
ている。
してある。また陽電極層13は膜厚が180nmでシー
ト抵抗が10Ω/□以下でかつ幅(図1の横方向の寸法
W)が2mmのITO膜で構成してある。また有機EL
層15は、図1中では区分けしていないが、正孔輸送層
と電子輸送性発光層とをこの順に積層した構成としてあ
る。そして正孔輸送層を、膜厚が50nmのトリフェニ
ルアミン誘導体(N,N’−ジフェニル−N,N’−ビ
ス(3−メチルフェニル)−1,1’−ビフェニル−
4,4’−ジアミン(以下、TPDともいう。)の層で
構成し、電子輸送性発光層を、膜厚が50nmのアルミ
キノリノール錯体(トリス(8−ヒドロキシキノリノー
ル)アルミニウム(以下、Alq3 ともいう。)の層で
構成してある。また、引き出し電極層21は、膜厚が2
00nmで幅(図1の紙面に垂直な方向の寸法)が2.
5mmのアルミニウム膜で構成してある。また、陰電極
層17は膜厚が200nmで幅(図1の紙面に垂直な方
向の寸法)が2mmのマグネシウム膜で構成してある。
ただし、陽電極層13および陰電極層21は互いのスト
ライプ方向が直交するような配置関係で設けてある。し
たがって、発光領域15xの面積は2×2mm2 となっ
ている。
【0018】この実施例1の有機EL素子20は次のよ
うな手順で形成した。なお以下の説明で用いる使用材料
および成膜方法、成膜条件、膜厚等の数値的条件は一例
にすぎない。
うな手順で形成した。なお以下の説明で用いる使用材料
および成膜方法、成膜条件、膜厚等の数値的条件は一例
にすぎない。
【0019】石英ガラス基板11を洗浄した後、この石
英ガラス基板11上にスパッタリング法によりITO膜
を膜厚が180nmでかつシート抵抗が10Ω/□以下
となる条件で形成した。次に、このITO膜をフォトリ
ソグラフィ技術及びエッチング技術により加工し、2m
m幅の陽電極層13を形成した。
英ガラス基板11上にスパッタリング法によりITO膜
を膜厚が180nmでかつシート抵抗が10Ω/□以下
となる条件で形成した。次に、このITO膜をフォトリ
ソグラフィ技術及びエッチング技術により加工し、2m
m幅の陽電極層13を形成した。
【0020】次に、この基板をアセトン、2−プロパノ
ールを順次に用いてそれぞれ10分ずつ超音波洗浄した
後、乾燥し、次いで、有機EL層形成用の真空蒸着装置
内に設置し以下のように有機EL層15を形成した。
ールを順次に用いてそれぞれ10分ずつ超音波洗浄した
後、乾燥し、次いで、有機EL層形成用の真空蒸着装置
内に設置し以下のように有機EL層15を形成した。
【0021】まず、正孔輸送層を形成するために、陽電
極層13の形成が済んだ基板11上に、真空蒸着法によ
り蒸着マスクを介しTPDを厚さ50nm程度になるよ
う蒸着した。なお、このときの蒸着速度は1.0nm/
sとした。引き続き、電子輸送性発光層を形成するため
に、同じ蒸着装置で、かつ同じ蒸着マスクを介し上記正
孔輸送層上にAlq3 を厚さ50nm程度になるように
真空蒸着した。このときの蒸着速度は1.0nm/sと
した。
極層13の形成が済んだ基板11上に、真空蒸着法によ
り蒸着マスクを介しTPDを厚さ50nm程度になるよ
う蒸着した。なお、このときの蒸着速度は1.0nm/
sとした。引き続き、電子輸送性発光層を形成するため
に、同じ蒸着装置で、かつ同じ蒸着マスクを介し上記正
孔輸送層上にAlq3 を厚さ50nm程度になるように
真空蒸着した。このときの蒸着速度は1.0nm/sと
した。
【0022】次にこの試料を別の真空蒸着装置(金属電
極用として用意した真空蒸着装置)に移し、この有機E
L層15上に蒸着法により蒸着マスクを介しAl膜を2
00nmの膜厚で形成して引き出し電極層21を形成し
た。なおこの時の蒸着速度は1.0nm/sとした。次
に、蒸着マスクを陰電極層用のものに交換した。このマ
スク交換は、蒸着装置の成膜室の真空破壊をすることな
く行った(そうでない例は後の実施例7に示す。)。次
に、この試料上に蒸着法により蒸着マスクを介してマグ
ネシウム膜を蒸着した。この蒸着においては、先ず、蒸
着速度を1.0nm/sとした条件で膜厚20nmのマ
グネシウム膜を形成後、蒸着速度を0.2nm/sとし
た条件で膜厚180nmのマグネシウム膜を形成して、
合計200nmの膜厚のマグネシウム膜を形成した。こ
のように2段構成の成膜条件であると、下地(ここで
は、有機EL層15)に対し比較的密着性の良いマグネ
シウム膜が形成できる。
極用として用意した真空蒸着装置)に移し、この有機E
L層15上に蒸着法により蒸着マスクを介しAl膜を2
00nmの膜厚で形成して引き出し電極層21を形成し
た。なおこの時の蒸着速度は1.0nm/sとした。次
に、蒸着マスクを陰電極層用のものに交換した。このマ
スク交換は、蒸着装置の成膜室の真空破壊をすることな
く行った(そうでない例は後の実施例7に示す。)。次
に、この試料上に蒸着法により蒸着マスクを介してマグ
ネシウム膜を蒸着した。この蒸着においては、先ず、蒸
着速度を1.0nm/sとした条件で膜厚20nmのマ
グネシウム膜を形成後、蒸着速度を0.2nm/sとし
た条件で膜厚180nmのマグネシウム膜を形成して、
合計200nmの膜厚のマグネシウム膜を形成した。こ
のように2段構成の成膜条件であると、下地(ここで
は、有機EL層15)に対し比較的密着性の良いマグネ
シウム膜が形成できる。
【0023】次に、この実施例1の有機EL素子20を
以下のように動作させた。陽電極層13および陰電極層
21間に印加する電圧を徐々に変える。この印加電圧が
4Vにおいてこの有機EL素子20は発光し始め、印加
電圧が14Vの時に16,200cd/cm2 の輝度を
示した。なお、このような発光特性は後述する比較例の
有機EL素子においても同様に得られた。
以下のように動作させた。陽電極層13および陰電極層
21間に印加する電圧を徐々に変える。この印加電圧が
4Vにおいてこの有機EL素子20は発光し始め、印加
電圧が14Vの時に16,200cd/cm2 の輝度を
示した。なお、このような発光特性は後述する比較例の
有機EL素子においても同様に得られた。
【0024】また、この実施例1の有機EL素子を大気
中で1ケ月保管した後、引き出し電極層21における、
有機EL層表面と基板の表面との境界近傍の基板部分
(図1の例でいえば11aの部分)上に位置する部分2
1x(以下、境界近傍部分21xともいう。)を、顕微
鏡により観察した。その結果、剥離は観察されなかっ
た。剥離が生じなかった理由は、専用の引き出し電極層
21を設けたため、および、それをマグネシウムに比べ
化学的に安定でかつ基板11や有機EL層13に対する
密着性の良い材料(ここではアルミニウム)で構成した
ためと考える。
中で1ケ月保管した後、引き出し電極層21における、
有機EL層表面と基板の表面との境界近傍の基板部分
(図1の例でいえば11aの部分)上に位置する部分2
1x(以下、境界近傍部分21xともいう。)を、顕微
鏡により観察した。その結果、剥離は観察されなかっ
た。剥離が生じなかった理由は、専用の引き出し電極層
21を設けたため、および、それをマグネシウムに比べ
化学的に安定でかつ基板11や有機EL層13に対する
密着性の良い材料(ここではアルミニウム)で構成した
ためと考える。
【0025】2.実施例2〜5 引き出し電極層21の構成材料をアルミニウムでなく、
Ag、Au、Ni、Moとそれぞれしたこと以外は実施
例1と同様にして実施例2〜実施例5の有機EL素子を
それぞれ構成した。ただし、それぞれの実施例の素子を
形成する際の引き出し電極層を形成するための蒸着時の
蒸着速度は、Agについては0.5nm/s、Auにつ
いては0.3nm/s、Niについては0.9nm/
s、Moについては0.9nm/sとそれぞれした。
Ag、Au、Ni、Moとそれぞれしたこと以外は実施
例1と同様にして実施例2〜実施例5の有機EL素子を
それぞれ構成した。ただし、それぞれの実施例の素子を
形成する際の引き出し電極層を形成するための蒸着時の
蒸着速度は、Agについては0.5nm/s、Auにつ
いては0.3nm/s、Niについては0.9nm/
s、Moについては0.9nm/sとそれぞれした。
【0026】これら実施例2〜5の各素子も、実施例1
の素子と同様な発光特性を示し、また、大気中の1ケ月
の保管後においても境界近傍部分21xでの剥離は観察
されなかった。
の素子と同様な発光特性を示し、また、大気中の1ケ月
の保管後においても境界近傍部分21xでの剥離は観察
されなかった。
【0027】3.比較例1 有機EL層15の形成工程までは実施例1と同様とし、
次に、引き出し電極層は形成することなく、マグネシウ
ムからなる陰電極層17を有機EL層15における発光
領域15a上から、該有機EL層15の基板11上に設
けた部分上を経由して、基板11上に至るように形成し
た。すなわち、図5を用いて説明した従来構造の有機E
L素子(比較例のEL素子)を構成した。なお、この場
合の陰電極層17の成膜条件は実施例1と同様とし、ま
た、陰電極層17の幅や膜厚も実施例1と同様としてい
る。したがって、この場合も発光領域の面積は実施例と
同様2×2mm2 となっている。
次に、引き出し電極層は形成することなく、マグネシウ
ムからなる陰電極層17を有機EL層15における発光
領域15a上から、該有機EL層15の基板11上に設
けた部分上を経由して、基板11上に至るように形成し
た。すなわち、図5を用いて説明した従来構造の有機E
L素子(比較例のEL素子)を構成した。なお、この場
合の陰電極層17の成膜条件は実施例1と同様とし、ま
た、陰電極層17の幅や膜厚も実施例1と同様としてい
る。したがって、この場合も発光領域の面積は実施例と
同様2×2mm2 となっている。
【0028】この比較例1の素子の場合も発光特性につ
いては実施例1と同様な特性が得られることが分かっ
た。しかし、比較例1の素子の場合、大気中の1ケ月の
保管試験後、陰電極層17の問題視している個所(図5
(B)に17xで示した部分)での剥離が観察された。
その剥離の様子を光学顕微鏡により観察した写真を模写
した図を図2に示した。この図2はちょうど図5(A)
中のP部分を基板裏面側から観察した顕微鏡写真の模写
図である。図2において、Iで示す領域は基板11と陰
電極層17とが積層している領域、IIで示す領域は基板
11と有機EL層15と陰電極層17とが積層している
領域、III 示す領域は基板11のみの領域、IVで示す領
域は基板11と有機EL層15とが積層している領域、
Cで示した線は有機EL層15と基板11との境界線を
それぞれ示す。境界線近傍の基板部分上の陰電極層では
該層が剥離して基板11から浮いた状態の部分17zが
生じているのが分かる。
いては実施例1と同様な特性が得られることが分かっ
た。しかし、比較例1の素子の場合、大気中の1ケ月の
保管試験後、陰電極層17の問題視している個所(図5
(B)に17xで示した部分)での剥離が観察された。
その剥離の様子を光学顕微鏡により観察した写真を模写
した図を図2に示した。この図2はちょうど図5(A)
中のP部分を基板裏面側から観察した顕微鏡写真の模写
図である。図2において、Iで示す領域は基板11と陰
電極層17とが積層している領域、IIで示す領域は基板
11と有機EL層15と陰電極層17とが積層している
領域、III 示す領域は基板11のみの領域、IVで示す領
域は基板11と有機EL層15とが積層している領域、
Cで示した線は有機EL層15と基板11との境界線を
それぞれ示す。境界線近傍の基板部分上の陰電極層では
該層が剥離して基板11から浮いた状態の部分17zが
生じているのが分かる。
【0029】4.実施例6 次に、図3に示すように、実施例1の構成に加え、有機
EL層15および陰電極層17の全てを覆い、引き出し
電極層21の一部(引き出し電極層21の基板11上に
ある部分)は露出するような封止層31を具えた有機E
L素子33(実施例6の有機EL素子)を構成する。こ
の場合の封止層31はエポキシ系の紫外線硬化型樹脂を
硬化させたもので構成してある。
EL層15および陰電極層17の全てを覆い、引き出し
電極層21の一部(引き出し電極層21の基板11上に
ある部分)は露出するような封止層31を具えた有機E
L素子33(実施例6の有機EL素子)を構成する。こ
の場合の封止層31はエポキシ系の紫外線硬化型樹脂を
硬化させたもので構成してある。
【0030】この実施例6の有機EL素子33を、発光
領域15aの電流密度が1mA/cm2 となるような定
電流駆動条件で3000時間発光させた。この駆動が終
了した後、引き出し電極層21における、有機EL層表
面と基板の表面との境界近傍の基板部分上に位置する部
分21xでの剥離の有無を観察したが、剥離は観察され
なかった。
領域15aの電流密度が1mA/cm2 となるような定
電流駆動条件で3000時間発光させた。この駆動が終
了した後、引き出し電極層21における、有機EL層表
面と基板の表面との境界近傍の基板部分上に位置する部
分21xでの剥離の有無を観察したが、剥離は観察され
なかった。
【0031】この発明によれば、長時間の駆動に耐え得
る実用的なかつ信頼性の高い有機EL素子が実現できる
ことが分かる。
る実用的なかつ信頼性の高い有機EL素子が実現できる
ことが分かる。
【0032】5.実施例7 実施例1〜実施例6ではそれぞれの素子を製造する際、
引き出し電極層の形成と陰電極層の形成とを真空蒸着装
置の成膜室の真空破壊をすることなく行った。これに対
しこの実施例7では、引き出し電極層の形成を終えた後
に、蒸着装置の成膜室を一度大気に開放し、そして蒸着
マスクを陰電極層形成用のものに交換し、そして、再び
成膜室を所定真空度に引いた後、陰電極層を形成して有
機EL素子を形成してみた。なお、それ以外の条件は上
述の実施例1の条件と同じとしている。
引き出し電極層の形成と陰電極層の形成とを真空蒸着装
置の成膜室の真空破壊をすることなく行った。これに対
しこの実施例7では、引き出し電極層の形成を終えた後
に、蒸着装置の成膜室を一度大気に開放し、そして蒸着
マスクを陰電極層形成用のものに交換し、そして、再び
成膜室を所定真空度に引いた後、陰電極層を形成して有
機EL素子を形成してみた。なお、それ以外の条件は上
述の実施例1の条件と同じとしている。
【0033】この実施例7の有機EL素子では、陽電極
層および陰電極層間の印加電圧を7Vとした時から発光
を開始、そして印加電圧が16Vにおいて、実施例1の
印加電圧14V時と同程度の輝度が得られることが分か
った。すなわち、実施例7の素子の場合、実施例1と同
じ発光特性を得るには、実施例1に比べ高い印加電圧が
必要なことが分かった。
層および陰電極層間の印加電圧を7Vとした時から発光
を開始、そして印加電圧が16Vにおいて、実施例1の
印加電圧14V時と同程度の輝度が得られることが分か
った。すなわち、実施例7の素子の場合、実施例1と同
じ発光特性を得るには、実施例1に比べ高い印加電圧が
必要なことが分かった。
【0034】しかし、大気中の1ケ月の保管試験後で
は、問題視している個所(図1中の境界近傍部分21
x)での剥離は観察されず、実施例1と同様な特性を示
すことが分かった。
は、問題視している個所(図1中の境界近傍部分21
x)での剥離は観察されず、実施例1と同様な特性を示
すことが分かった。
【0035】なお、この実施例7の素子が実施例1の素
子に比べ発光開始電圧が高くなったり、実施例1の素子
と同じ輝度を得るための印加電圧が実施例1より高くな
ったのは、引き出し電極層であるAl層の形成後に成膜
室を大気開放したためAl層表面に酸化膜が形成され、
これが原因で陰電極層とのコンタクトが実施例1に比べ
不十分になったためと考えられる。この問題を軽減若し
くは実質無視できるようにするには、大気放置しても上
記問題が生じにくい材料例えばAgやAuやPtなどに
より引き出し電極層を構成するのが良い。
子に比べ発光開始電圧が高くなったり、実施例1の素子
と同じ輝度を得るための印加電圧が実施例1より高くな
ったのは、引き出し電極層であるAl層の形成後に成膜
室を大気開放したためAl層表面に酸化膜が形成され、
これが原因で陰電極層とのコンタクトが実施例1に比べ
不十分になったためと考えられる。この問題を軽減若し
くは実質無視できるようにするには、大気放置しても上
記問題が生じにくい材料例えばAgやAuやPtなどに
より引き出し電極層を構成するのが良い。
【0036】6.実施例8〜13 引き出し電極層21と陰電極層17との接続部分におけ
るこれら層の上下関係を上記の各実施例とは逆としたこ
と以外は、実施例1と同様にして実施例8の素子を構成
し、実施例2と同様にして実施例9の素子を構成し、実
施例3と同様にして実施例10の素子を構成し、実施例
4と同様にして実施例11の素子を構成し、実施例5と
同様にして実施例12の素子を構成し、実施例6同様に
して実施例13の素子を構成する。この積層順序の相違
点について、図4を参照して説明する。この図4は図1
に対応する図である。
るこれら層の上下関係を上記の各実施例とは逆としたこ
と以外は、実施例1と同様にして実施例8の素子を構成
し、実施例2と同様にして実施例9の素子を構成し、実
施例3と同様にして実施例10の素子を構成し、実施例
4と同様にして実施例11の素子を構成し、実施例5と
同様にして実施例12の素子を構成し、実施例6同様に
して実施例13の素子を構成する。この積層順序の相違
点について、図4を参照して説明する。この図4は図1
に対応する図である。
【0037】実施例8〜13の有機EL素子は、基板1
1と、この基板11の一部分上に設けられた陽電極層1
3と、この陽電極層13上から基板11上に至るように
設けられた有機EL層15とを実施例1と同様に具え
る。また、陰電極層17は、有機EL層15の少なくと
も発光領域15aを覆いかつそこから発光領域15a以
外の有機EL層上に至るように設けてある。引き出し電
極層21は、陰電極層17の一部分上(図4の例では発
光領域15a上ではない陰電極層部分上)から、この有
機EL層15の発光領域15a以外の部分上を経由して
基板11上に至るように設けてある。したがって、この
実施例8〜13の有機EL素子は、引き出し電極21と
陰電極層17とが、有機EL層15の発光領域15aか
ら離れた部分上においてしかも引き出し電極層21の一
部が陰電極層17に対し上層となった状態で接続された
構造を有した素子となっている。
1と、この基板11の一部分上に設けられた陽電極層1
3と、この陽電極層13上から基板11上に至るように
設けられた有機EL層15とを実施例1と同様に具え
る。また、陰電極層17は、有機EL層15の少なくと
も発光領域15aを覆いかつそこから発光領域15a以
外の有機EL層上に至るように設けてある。引き出し電
極層21は、陰電極層17の一部分上(図4の例では発
光領域15a上ではない陰電極層部分上)から、この有
機EL層15の発光領域15a以外の部分上を経由して
基板11上に至るように設けてある。したがって、この
実施例8〜13の有機EL素子は、引き出し電極21と
陰電極層17とが、有機EL層15の発光領域15aか
ら離れた部分上においてしかも引き出し電極層21の一
部が陰電極層17に対し上層となった状態で接続された
構造を有した素子となっている。
【0038】実施例8〜12の各有機EL素子いずれ
も、実施例1の素子と同様な発光特性を示し、また、大
気中での1ケ月放置した後においても、境界近傍部分2
1xでの剥離も生じないものであることが分かった。ま
た、実施例13の有機EL素子は実施例6の素子と同様
に長期間の発光が可能なものであり、かつ、そのように
駆動した後での境界近傍部分21xでの剥離は生じない
ものであることが分かった。
も、実施例1の素子と同様な発光特性を示し、また、大
気中での1ケ月放置した後においても、境界近傍部分2
1xでの剥離も生じないものであることが分かった。ま
た、実施例13の有機EL素子は実施例6の素子と同様
に長期間の発光が可能なものであり、かつ、そのように
駆動した後での境界近傍部分21xでの剥離は生じない
ものであることが分かった。
【0039】
【発明の効果】上述した説明から明らかなように、この
発明によれば、基板と、該基板の一部分上に設けられた
陽電極層と、該陽電極層上から前記基板上に至るように
設けられ単数あるいは複数層で構成された有機EL層
と、該有機EL層の少なくとも発光領域とされる部分上
に設けられた陰電極層とを具える有機EL素子におい
て、前記陰電極層に所定関係で接続されかつ所定状態で
基板上にまで至っていてかつ所定材料で構成された引き
出し電極層をさらに具えている。このため、有機EL層
の表面と基板の表面との境界近傍の基板部分上で電極層
が剥離し易いという問題がなくなる。また、陰電極側と
外部信号源との接続は、引き出し電極層の基板上に至っ
ている部分において行なえるから、陰電極層は例えばそ
の形成後の早い時期に封止できる。これらのことから、
この発明によれば、従来に比べ信頼性に優れた実用的な
有機EL素子を提供できる。
発明によれば、基板と、該基板の一部分上に設けられた
陽電極層と、該陽電極層上から前記基板上に至るように
設けられ単数あるいは複数層で構成された有機EL層
と、該有機EL層の少なくとも発光領域とされる部分上
に設けられた陰電極層とを具える有機EL素子におい
て、前記陰電極層に所定関係で接続されかつ所定状態で
基板上にまで至っていてかつ所定材料で構成された引き
出し電極層をさらに具えている。このため、有機EL層
の表面と基板の表面との境界近傍の基板部分上で電極層
が剥離し易いという問題がなくなる。また、陰電極側と
外部信号源との接続は、引き出し電極層の基板上に至っ
ている部分において行なえるから、陰電極層は例えばそ
の形成後の早い時期に封止できる。これらのことから、
この発明によれば、従来に比べ信頼性に優れた実用的な
有機EL素子を提供できる。
【図1】実施例1の有機EL素子の要部説明に供する断
面図である。
面図である。
【図2】比較例の説明図であり、陰電極層における剥離
が生じた部分の顕微鏡観察写真を模写した図である。
が生じた部分の顕微鏡観察写真を模写した図である。
【図3】実施例6の有機EL素子の要部説明に供する断
面図である。
面図である。
【図4】実施例8〜13の有機EL素子の要部説明に供
する断面図である。
する断面図である。
【図5】(A)および(B)は従来技術および課題の説
明図である。
明図である。
11:基板 13:陽電極層 15:有機EL層 15x:発光領域 17:陰電極層 19:外部信号源 20:実施例1の有機EL素子 21:引き出し電極層 21x:境界近傍部分(引き出し電極層の、基板とEL
層との境界近傍にある部分) 31:封止層 33:実施例6の有機EL素子
層との境界近傍にある部分) 31:封止層 33:実施例6の有機EL素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上川 真弘 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 基板と、該基板の一部分上に設けられた
陽電極層と、該陽電極層上から前記基板上に至るように
設けられ単数あるいは複数層で構成された有機EL層
と、該有機EL層の少なくとも発光領域とされる部分上
に設けられた陰電極層と、を具える有機EL素子におい
て、 前記有機EL層の発光領域とされる部分には接しない状
態で前記陰電極層に一部が接続され、前記有機EL層の
発光領域とされる部分を除いた部分上を経由して前記基
板上に至るように設けられ、しかも、前記陰電極層の材
料に比べ化学的に安定でかつ前記有機EL層および基板
に対する密着性が良い材料で構成された引き出し電極層
を具えたことを特徴とする有機EL素子。 - 【請求項2】 請求項1に記載の有機EL素子におい
て、 前記引き出し電極層を、前記有機EL層の前記発光領域
以外の部分上から前記基板上に至るように設けてあり、 前記陰電極層を、前記有機EL層の前記発光領域上から
該引き出し電極層上に至るように設けてあることを特徴
とする有機EL素子。 - 【請求項3】 請求項1に記載の有機EL素子におい
て、 前記陰電極層をMg(マグネシウム)またはMgを主成
分とする合金で構成してあることを特徴とする有機EL
素子。 - 【請求項4】 請求項3に記載の有機EL素子におい
て、 前記引き出し電極層をAl(アルミニウム)、Ag
(銀)、Au(金)、Ni(ニッケル)またはMo(モ
リブデン)で構成してあることを特徴とする有機EL素
子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8083614A JPH09274988A (ja) | 1996-04-05 | 1996-04-05 | 有機el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8083614A JPH09274988A (ja) | 1996-04-05 | 1996-04-05 | 有機el素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09274988A true JPH09274988A (ja) | 1997-10-21 |
Family
ID=13807373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8083614A Withdrawn JPH09274988A (ja) | 1996-04-05 | 1996-04-05 | 有機el素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09274988A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6091196A (en) * | 1997-02-10 | 2000-07-18 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent display device and method of manufacture thereof |
| JP2019197669A (ja) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | パイオニア株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
-
1996
- 1996-04-05 JP JP8083614A patent/JPH09274988A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6091196A (en) * | 1997-02-10 | 2000-07-18 | Tdk Corporation | Organic electroluminescent display device and method of manufacture thereof |
| JP2019197669A (ja) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | パイオニア株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030701 |