JPH09281134A - レーザ流速計 - Google Patents
レーザ流速計Info
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- JPH09281134A JPH09281134A JP8655996A JP8655996A JPH09281134A JP H09281134 A JPH09281134 A JP H09281134A JP 8655996 A JP8655996 A JP 8655996A JP 8655996 A JP8655996 A JP 8655996A JP H09281134 A JPH09281134 A JP H09281134A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】被測定流体の流速と流れの方向を簡単かつ正確
に測定できる小型でコンパクトな機動性に優れたレーザ
流速計を提供するにある。 【解決手段】レーザ流速計11は2つの半導体レーザ1
2a,12bと、各半導体レーザ12a,12bから出
力されるレーザ光la,lbを平行光束にするコリメー
タ13,13bと、出力レーザ光の少なくとも一方を分
割するビームスプリッタ14と、各レーザ光1a1 ,1
a2 ,1bを被測定流体3の測定領域3aに少なくとも
3つの焦点として集光させる集光手段15を走査光学系
16が有する。また、各焦点からの散乱レーザ光を受光
して電気信号を出力する光電変換手段20a,20bを
反射光学系21が有する。光電変換手段20a,20b
からの信号出力を処理して微粒子Pの流れの方向および
信号の時間間隔を測定し、測定された時間間隔と各焦点
間距離から微粒子Pの流速を求め、被測定流体3の流速
と流れ方向を算出している。
に測定できる小型でコンパクトな機動性に優れたレーザ
流速計を提供するにある。 【解決手段】レーザ流速計11は2つの半導体レーザ1
2a,12bと、各半導体レーザ12a,12bから出
力されるレーザ光la,lbを平行光束にするコリメー
タ13,13bと、出力レーザ光の少なくとも一方を分
割するビームスプリッタ14と、各レーザ光1a1 ,1
a2 ,1bを被測定流体3の測定領域3aに少なくとも
3つの焦点として集光させる集光手段15を走査光学系
16が有する。また、各焦点からの散乱レーザ光を受光
して電気信号を出力する光電変換手段20a,20bを
反射光学系21が有する。光電変換手段20a,20b
からの信号出力を処理して微粒子Pの流れの方向および
信号の時間間隔を測定し、測定された時間間隔と各焦点
間距離から微粒子Pの流速を求め、被測定流体3の流速
と流れ方向を算出している。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光を用いて
被測定流体の流速と流れの方向を測定するレーザ流速計
に係り、特に被測定流体の流速を正確に測定でき、機動
性に優れ、小型でコンパクトな半導体レーザ流速計等の
レーザ流速計に関する。
被測定流体の流速と流れの方向を測定するレーザ流速計
に係り、特に被測定流体の流速を正確に測定でき、機動
性に優れ、小型でコンパクトな半導体レーザ流速計等の
レーザ流速計に関する。
【0002】
【従来の技術】空気や水等の被測定流体の流速を測定す
る流速計として、ピトー管や熱線流速計が従来から用い
られている。最近では、ピトー管等に代わり、ガスレー
ザや半導体レーザのレーザ光を使用したレーザ流速計が
用いられるようになってきた。市販されているレーザ流
速計に、後方散乱方式のレーザドップラー流速計があ
る。
る流速計として、ピトー管や熱線流速計が従来から用い
られている。最近では、ピトー管等に代わり、ガスレー
ザや半導体レーザのレーザ光を使用したレーザ流速計が
用いられるようになってきた。市販されているレーザ流
速計に、後方散乱方式のレーザドップラー流速計があ
る。
【0003】従来のレーザ光ドップラー流速計は、レー
ザ装置として出力の大きなガスレーザのアルゴンイオン
レーザが使用されるために、レーザ装置が大型化する。
この流速計は装置全体として長さ1m以上となって大型
化し、重量が増大する。このため、従来のレーザ流速計
はハンディタイプとすることができず、被測定流体の流
速測定の機動性が欠けるという不具合があった。
ザ装置として出力の大きなガスレーザのアルゴンイオン
レーザが使用されるために、レーザ装置が大型化する。
この流速計は装置全体として長さ1m以上となって大型
化し、重量が増大する。このため、従来のレーザ流速計
はハンディタイプとすることができず、被測定流体の流
速測定の機動性が欠けるという不具合があった。
【0004】装置全体の大型化の問題を解決したレーザ
流速計として、特開平5−249129号公報に開示さ
れた半導体レーザ流速計がある。このレーザ流速計は、
図17に示すように構成され、レーザ装置として赤色半
導体レーザ1を用いて測定光学系2を構成し、被測定流
体3中に測定領域3aを設定した後方散乱方式のレーザ
流速計である。
流速計として、特開平5−249129号公報に開示さ
れた半導体レーザ流速計がある。このレーザ流速計は、
図17に示すように構成され、レーザ装置として赤色半
導体レーザ1を用いて測定光学系2を構成し、被測定流
体3中に測定領域3aを設定した後方散乱方式のレーザ
流速計である。
【0005】従来のレーザ流速計は、半導体レーザ1か
ら出力されるレーザ光lの光軸上にコリメータレンズ4
が設けられ、このコリメータレンズ4でレーザ光lの拡
がり角を小さくして平行光束を形成している。コリメー
タレンズ4の出力側にはレーザ光lを2つのレーザ光l
1 ,l2 に等強度に分割し、かつ偏光方向を変える偏光
プリズムとしてのウォラストンプリズム5が設けられ
る。このウォラストンプリズム5はビームスプリッタと
して機能する。
ら出力されるレーザ光lの光軸上にコリメータレンズ4
が設けられ、このコリメータレンズ4でレーザ光lの拡
がり角を小さくして平行光束を形成している。コリメー
タレンズ4の出力側にはレーザ光lを2つのレーザ光l
1 ,l2 に等強度に分割し、かつ偏光方向を変える偏光
プリズムとしてのウォラストンプリズム5が設けられ
る。このウォラストンプリズム5はビームスプリッタと
して機能する。
【0006】ウォラストンプリズム5の出力側には集光
手段である集光レンズ6が設けられ、この集光レンズ6
で被測定流体3の測定領域3aに分割された2つのレー
ザ光l1 ,l2 を2つの焦点として集光させている。測
定領域3aに集光されたレーザ光l1 ,l2 による2つ
の焦点近傍は図18に示すように表わされる。
手段である集光レンズ6が設けられ、この集光レンズ6
で被測定流体3の測定領域3aに分割された2つのレー
ザ光l1 ,l2 を2つの焦点として集光させている。測
定領域3aに集光されたレーザ光l1 ,l2 による2つ
の焦点近傍は図18に示すように表わされる。
【0007】図18に示すように、2つのレーザ光
l1 ,l2 は集光レンズ15によりレーザ光の直径が絞
られる。このレーザ光直径は測定領域3aの焦点位置で
最小直径まで絞られた後、また拡大する。測定領域3a
に形成される2焦点間の間隔は所定値に設定されてい
る。
l1 ,l2 は集光レンズ15によりレーザ光の直径が絞
られる。このレーザ光直径は測定領域3aの焦点位置で
最小直径まで絞られた後、また拡大する。測定領域3a
に形成される2焦点間の間隔は所定値に設定されてい
る。
【0008】そして、被測定流体3を測定領域3aに流
すことにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同
速度で測定領域3aを通過する。すなわち、2つの焦点
を通る。微粒子Pが2つの焦点を通過すると、レーザ光
を散乱させる。この散乱レーザ光は集光レンズ6で集束
されて平行レーザ光にされる。平行レーザ光は偏光角度
を90度相違させた偏向フィルタ7a,7bにより散乱
光の一方の光のみをそれぞれ選択し、レンズ8a,8b
により光電変換素子としての半導体受光素子9a,9b
に受光させる。半導体受光素子9a,9bは散乱光を入
力して電気信号を出力し、この信号出力を信号処理手段
としての信号処理器10に入力させる。信号処理器10
では入力信号を方形波に直して時間間隔を測定するとと
もに、測定領域3aの2つの焦点距離を測定された時間
間隔で割って微粒子Pの流速を演算しており、この微粒
子Pの流速を被測定流体3の流速として出力している。
すことにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同
速度で測定領域3aを通過する。すなわち、2つの焦点
を通る。微粒子Pが2つの焦点を通過すると、レーザ光
を散乱させる。この散乱レーザ光は集光レンズ6で集束
されて平行レーザ光にされる。平行レーザ光は偏光角度
を90度相違させた偏向フィルタ7a,7bにより散乱
光の一方の光のみをそれぞれ選択し、レンズ8a,8b
により光電変換素子としての半導体受光素子9a,9b
に受光させる。半導体受光素子9a,9bは散乱光を入
力して電気信号を出力し、この信号出力を信号処理手段
としての信号処理器10に入力させる。信号処理器10
では入力信号を方形波に直して時間間隔を測定するとと
もに、測定領域3aの2つの焦点距離を測定された時間
間隔で割って微粒子Pの流速を演算しており、この微粒
子Pの流速を被測定流体3の流速として出力している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来のレーザ流速計に
おいて、レーザ装置としてガスレーザを用いたものでは
装置全体が大型化し、レーザ流速計の小型・コンパクト
化を図ることができず、機動性に優れたハンディタイプ
のレーザ流速計を提供することが困難である。
おいて、レーザ装置としてガスレーザを用いたものでは
装置全体が大型化し、レーザ流速計の小型・コンパクト
化を図ることができず、機動性に優れたハンディタイプ
のレーザ流速計を提供することが困難である。
【0010】また、レーザ装置として小型の赤色半導体
レーザを用いたものでは、レーザ流速計の小型・コンパ
クト化が図れ、ハンディタイプの機動性に優れたものが
提供できるが、このレーザ流速計では、被測定流体の流
速しか測定できず、被測定流体の流れの方向に関する情
報が得られないという問題があり、正確な流速測定を行
なう上で支障があった。
レーザを用いたものでは、レーザ流速計の小型・コンパ
クト化が図れ、ハンディタイプの機動性に優れたものが
提供できるが、このレーザ流速計では、被測定流体の流
速しか測定できず、被測定流体の流れの方向に関する情
報が得られないという問題があり、正確な流速測定を行
なう上で支障があった。
【0011】本発明は、上述した事情を考慮してなされ
たもので、流れの方向を確認でき、被測定流体の流速を
簡単かつ正確に測定できるレーザ流速計を提供すること
を目的とする。
たもので、流れの方向を確認でき、被測定流体の流速を
簡単かつ正確に測定できるレーザ流速計を提供すること
を目的とする。
【0012】本発明本発明の他の目的は、散乱レーザ光
量を充分に確保し、被測定流体の流速を正確かつ容易に
行なうことができ、機動性に優れたハンディタイプのレ
ーザ流速計を提供するにある。
量を充分に確保し、被測定流体の流速を正確かつ容易に
行なうことができ、機動性に優れたハンディタイプのレ
ーザ流速計を提供するにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明に係るレーザ流速
計は、上述した課題を解決するために、請求項1に記載
したように、レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子速
度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度として出
力するレーザ流速計において、波長の異なるレーザ光を
出力する2つの半導体レーザと、上記半導体レーザから
出力されるレーザ光の拡がり角を小さくして平行光束の
レーザ光を形成するコリメータと、平行光束のレーザ光
の一方を2本のレーザ光に分割するビームスプリッタ
と、分割された2本のレーザ光と他方のレーザ光を、被
測定流体の測定領域に少なくとも3つの焦点として集光
させる集光手段と、前記測定領域の各焦点からの散乱レ
ーザ光を受光して電気信号を出力する光電変換手段と、
この光電変換手段からの信号出力に基づいて微粒子の流
れ方向および信号の時間間隔を測定し、測定された時間
間隔と前記各焦点間距離とから微粒子の流速を演算処理
する信号処理手段とを有し、上記信号処理手段で測定・
処理される微粒子の流れ方向と流速を被測定流体の流れ
方向および流速として設定したものである。
計は、上述した課題を解決するために、請求項1に記載
したように、レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子速
度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度として出
力するレーザ流速計において、波長の異なるレーザ光を
出力する2つの半導体レーザと、上記半導体レーザから
出力されるレーザ光の拡がり角を小さくして平行光束の
レーザ光を形成するコリメータと、平行光束のレーザ光
の一方を2本のレーザ光に分割するビームスプリッタ
と、分割された2本のレーザ光と他方のレーザ光を、被
測定流体の測定領域に少なくとも3つの焦点として集光
させる集光手段と、前記測定領域の各焦点からの散乱レ
ーザ光を受光して電気信号を出力する光電変換手段と、
この光電変換手段からの信号出力に基づいて微粒子の流
れ方向および信号の時間間隔を測定し、測定された時間
間隔と前記各焦点間距離とから微粒子の流速を演算処理
する信号処理手段とを有し、上記信号処理手段で測定・
処理される微粒子の流れ方向と流速を被測定流体の流れ
方向および流速として設定したものである。
【0014】また、上述した課題を解決するために、本
発明に係るレーザ流速計は、請求項2に記載したよう
に、ビームスプリッタは、半導体レーザから出力される
波長λ1 ,λ2 のレーザ光の一方を分割し、分割された
レーザ光と他方のレーザ光を集光手段で集束させ、被測
定流体の測定領域にλ1 ,λ1 ,λ2 または波長λ2 ,
λ2 ,λ1 の3つの焦点として集光させ、これら3つの
焦点からの散乱レーザ光を干渉フィルタを介して光電変
換手段に受光させたり;さらに、請求項3に記載したよ
うに、ビームスプリッタは、半導体レーザから出力され
る波長λ1 ,λ2のレーザ光の一方を分割し、分割され
たレーザ光と他方のレーザ光を集光手段で集束させ、被
測定流体の測定領域にλ1 ,λ2 ,λ1 または波長λ2
,λ1 ,λ2 の3つの焦点として集光させ、これら3
つの焦点からの散乱レーザ光を干渉フィルタを介して光
電変換手段に受光させたものである。
発明に係るレーザ流速計は、請求項2に記載したよう
に、ビームスプリッタは、半導体レーザから出力される
波長λ1 ,λ2 のレーザ光の一方を分割し、分割された
レーザ光と他方のレーザ光を集光手段で集束させ、被測
定流体の測定領域にλ1 ,λ1 ,λ2 または波長λ2 ,
λ2 ,λ1 の3つの焦点として集光させ、これら3つの
焦点からの散乱レーザ光を干渉フィルタを介して光電変
換手段に受光させたり;さらに、請求項3に記載したよ
うに、ビームスプリッタは、半導体レーザから出力され
る波長λ1 ,λ2のレーザ光の一方を分割し、分割され
たレーザ光と他方のレーザ光を集光手段で集束させ、被
測定流体の測定領域にλ1 ,λ2 ,λ1 または波長λ2
,λ1 ,λ2 の3つの焦点として集光させ、これら3
つの焦点からの散乱レーザ光を干渉フィルタを介して光
電変換手段に受光させたものである。
【0015】本発明に係るレーザ流速計は、上述した課
題を解決するために、請求項4に記載したように、レー
ザ光を用いて被測定流体中の微粒子速度を測定し、この
微粒子速度を被測定流体速度として出力するレーザ流速
計において、波長の異なるレーザ光を出力する2つの半
導体レーザと、上記半導体レーザから出力されるレーザ
光の拡がり角を小さくして平行光束のレーザ光を形成す
るコリメータと、平行光束の各レーザ光をそれぞれ2本
のレーザ光に分割するビームスプリッタと、分割された
4本のレーザ光を被測定流体の測定領域に4つの焦点と
して集光させる集光手段と、前記測定領域の4つの焦点
からの散乱レーザ光を受光して電気信号を出力する光電
変換手段と、この光電変換手段からの信号出力に基づい
て微粒子の流れの方向および信号の時間間隔を測定し、
測定された時間間隔と各焦点間距離とから微粒子の流速
を演算処理する信号処理手段とを備え、上記信号処理手
段で測定・処理される微粒子の流れ方向と流速を被測定
流体の流れ方向および流速として設定したものである。
題を解決するために、請求項4に記載したように、レー
ザ光を用いて被測定流体中の微粒子速度を測定し、この
微粒子速度を被測定流体速度として出力するレーザ流速
計において、波長の異なるレーザ光を出力する2つの半
導体レーザと、上記半導体レーザから出力されるレーザ
光の拡がり角を小さくして平行光束のレーザ光を形成す
るコリメータと、平行光束の各レーザ光をそれぞれ2本
のレーザ光に分割するビームスプリッタと、分割された
4本のレーザ光を被測定流体の測定領域に4つの焦点と
して集光させる集光手段と、前記測定領域の4つの焦点
からの散乱レーザ光を受光して電気信号を出力する光電
変換手段と、この光電変換手段からの信号出力に基づい
て微粒子の流れの方向および信号の時間間隔を測定し、
測定された時間間隔と各焦点間距離とから微粒子の流速
を演算処理する信号処理手段とを備え、上記信号処理手
段で測定・処理される微粒子の流れ方向と流速を被測定
流体の流れ方向および流速として設定したものである。
【0016】さらに、上述した課題を解決するために、
本発明に係るレーザ流速計は、請求項5に記載したよう
に、ビームスプリッタは、一方の半導体レーザから出力
される波長λ1 のレーザ光を分割する第1ビームスプリ
ッタと、他方の半導体レーザから出力される波長λ2 の
レーザ光を分割する第2ビームスプリッタとを有し、上
記ビームスプリッタで分割されたレーザ光を集光手段に
より、被測定流体の測定領域に波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,
λ2 または波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点と
して集光させ、これら4つの焦点からの散乱レーザ光を
干渉フィルタを介して波長λ1 ,波長λ2 の2つの光電
変換手段に受光させたものである。
本発明に係るレーザ流速計は、請求項5に記載したよう
に、ビームスプリッタは、一方の半導体レーザから出力
される波長λ1 のレーザ光を分割する第1ビームスプリ
ッタと、他方の半導体レーザから出力される波長λ2 の
レーザ光を分割する第2ビームスプリッタとを有し、上
記ビームスプリッタで分割されたレーザ光を集光手段に
より、被測定流体の測定領域に波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,
λ2 または波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点と
して集光させ、これら4つの焦点からの散乱レーザ光を
干渉フィルタを介して波長λ1 ,波長λ2 の2つの光電
変換手段に受光させたものである。
【0017】さらにまた、本発明に係るレーザ流速計
は、上述した課題を解決するために、請求項6に記載し
たように、レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子の速
度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度として出
力するレーザ流速計において、波長の異なる少なくとも
2本のレーザ光を出力するレーザ装置と、このレーザ装
置から出力されたレーザ光のうち、少なくとも一方のレ
ーザ光を2本のレーザ光に分割するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタで分割されたレーザ光および
他方のレーザ光を被測定流体の測定領域に少なくとも3
つの焦点として集光させる集光手段と、前記測定領域の
各焦点を通る微粒子からの散乱レーザ光を受光して電気
信号を出力する光電変換手段と、この光電変換手段から
の信号出力に基づいて微粒子の流れの方向および時間間
隔を測定し、測定された時間間隔と各焦点間の距離とか
ら微粒子の流速を演算処理する信号処理手段とを有し、
上記信号処理手段で測定・処理される微粒子の流れ方向
と流速を被測定流体の流れ方向と流速として設定したも
のである。
は、上述した課題を解決するために、請求項6に記載し
たように、レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子の速
度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度として出
力するレーザ流速計において、波長の異なる少なくとも
2本のレーザ光を出力するレーザ装置と、このレーザ装
置から出力されたレーザ光のうち、少なくとも一方のレ
ーザ光を2本のレーザ光に分割するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタで分割されたレーザ光および
他方のレーザ光を被測定流体の測定領域に少なくとも3
つの焦点として集光させる集光手段と、前記測定領域の
各焦点を通る微粒子からの散乱レーザ光を受光して電気
信号を出力する光電変換手段と、この光電変換手段から
の信号出力に基づいて微粒子の流れの方向および時間間
隔を測定し、測定された時間間隔と各焦点間の距離とか
ら微粒子の流速を演算処理する信号処理手段とを有し、
上記信号処理手段で測定・処理される微粒子の流れ方向
と流速を被測定流体の流れ方向と流速として設定したも
のである。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るレーザ流速計
の一実施の形態について添付図面を参照して説明する。
の一実施の形態について添付図面を参照して説明する。
【0019】図1は本発明に係るレーザ流速計の第1実
施形態を示すものである。このレーザ流速計11は、レ
ーザ装置として小型の半導体レーザ12a,12bを用
いた小型でコンパクトなハンディタイプのもので、装置
全体の寸法が例えば直径50mm,長さ150mm程度に製
作される。このレーザ流速計は、空気や水等の被測定流
体の流速のみならず、流れの方向も測定できるようにし
たものである。
施形態を示すものである。このレーザ流速計11は、レ
ーザ装置として小型の半導体レーザ12a,12bを用
いた小型でコンパクトなハンディタイプのもので、装置
全体の寸法が例えば直径50mm,長さ150mm程度に製
作される。このレーザ流速計は、空気や水等の被測定流
体の流速のみならず、流れの方向も測定できるようにし
たものである。
【0020】このレーザ流速計11は、レーザ装置とし
て波長λ1 のレーザ光laを出力する第1半導体レーザ
12aと波長λ2 のレーザ光lbを出力する第2半導体
レーザ12bとの2つの半導体レーザを備える。各半導
体レーザ12a,12bの光軸上にはコリメータとして
のコリメータレンズ13a,13bがそれぞれ設置さ
れ、各コリメータレンズ13a,13bでレーザ光の拡
がり角を小さくして平行光束を作り、平行な2本のレー
ザ光に成形している。
て波長λ1 のレーザ光laを出力する第1半導体レーザ
12aと波長λ2 のレーザ光lbを出力する第2半導体
レーザ12bとの2つの半導体レーザを備える。各半導
体レーザ12a,12bの光軸上にはコリメータとして
のコリメータレンズ13a,13bがそれぞれ設置さ
れ、各コリメータレンズ13a,13bでレーザ光の拡
がり角を小さくして平行光束を作り、平行な2本のレー
ザ光に成形している。
【0021】一方のコリメータレンズ13aの出力側に
は、レーザ光laを2本の等強度のレーザ光la1 ,l
a2 に分割するビームスプリッタ14が設けられる。こ
のビームスプリッタ14としては、プリズムの他にハー
フミラーやサバール板,フレネルゾーンプレート等を用
いてもよい。ビームスプリッタ14の出力側にはレーザ
光を集束させる集光手段として集光レンズ15が設置さ
れ、この集光レンズ15にて2本の波長λ1 の分割レー
ザ光la1 ,la2 と波長λ2 のレーザ光lbを空気や
水等の被測定流体3の測定領域3aに3つの焦点として
集光させている。
は、レーザ光laを2本の等強度のレーザ光la1 ,l
a2 に分割するビームスプリッタ14が設けられる。こ
のビームスプリッタ14としては、プリズムの他にハー
フミラーやサバール板,フレネルゾーンプレート等を用
いてもよい。ビームスプリッタ14の出力側にはレーザ
光を集束させる集光手段として集光レンズ15が設置さ
れ、この集光レンズ15にて2本の波長λ1 の分割レー
ザ光la1 ,la2 と波長λ2 のレーザ光lbを空気や
水等の被測定流体3の測定領域3aに3つの焦点として
集光させている。
【0022】このようにして、半導体レーザ12a,1
2bから集光レンズ15に至る光学系が一体的に組み立
てられて走査光学系16が構成され、この走査光学系1
6を通して2つの半導体レーザ12a,12bからの波
長λ1 ,λ2 のレーザ光la,lbは被測定流体3の測
定領域3aに3つの焦点を結ぶように走査される。
2bから集光レンズ15に至る光学系が一体的に組み立
てられて走査光学系16が構成され、この走査光学系1
6を通して2つの半導体レーザ12a,12bからの波
長λ1 ,λ2 のレーザ光la,lbは被測定流体3の測
定領域3aに3つの焦点を結ぶように走査される。
【0023】図2は、3つの焦点を形成した被測定流体
3の測定領域3a付近を示すものであり、測定領域3a
に形成される3つの焦点は焦点間距離が互いに等しく、
かつ所定の値となるように予め調整される。3つの焦点
は、レーザ光の波長λ1 ,λ1 ,λ2 毎に独立して形成
され、図2に示すように、焦点配置は波長λ1 ,λ1,
λ2 の順となる。被測定流体3の測定領域3aに照射さ
れる各レーザ光la1,la2 ,lbは、レーザ光直径
が集光レンズ15により集束され、測定領域3aで3つ
の焦点を形成するように最小直径まで絞られた後、また
拡大する。
3の測定領域3a付近を示すものであり、測定領域3a
に形成される3つの焦点は焦点間距離が互いに等しく、
かつ所定の値となるように予め調整される。3つの焦点
は、レーザ光の波長λ1 ,λ1 ,λ2 毎に独立して形成
され、図2に示すように、焦点配置は波長λ1 ,λ1,
λ2 の順となる。被測定流体3の測定領域3aに照射さ
れる各レーザ光la1,la2 ,lbは、レーザ光直径
が集光レンズ15により集束され、測定領域3aで3つ
の焦点を形成するように最小直径まで絞られた後、また
拡大する。
【0024】しかして、測定領域3aに空気等の被測定
流体3を流すことにより、被測定流体3中に存在する微
粒子Pも同速度で測定領域3を流れ、3つの焦点を順に
通過する。被測定流体3としては空気や水の他に種々の
流体が考えられ、被測定流体3中に存在する微粒子P
は、数μm〜数十μm程度の微小な異物粒子である。被
測定流体3に微粒子Pが存在しない場合には、図示しな
いアトマイザでオイル等の流体微粒子化を行ない、この
微粒子を被測定流体3中に噴霧させてもよい。
流体3を流すことにより、被測定流体3中に存在する微
粒子Pも同速度で測定領域3を流れ、3つの焦点を順に
通過する。被測定流体3としては空気や水の他に種々の
流体が考えられ、被測定流体3中に存在する微粒子P
は、数μm〜数十μm程度の微小な異物粒子である。被
測定流体3に微粒子Pが存在しない場合には、図示しな
いアトマイザでオイル等の流体微粒子化を行ない、この
微粒子を被測定流体3中に噴霧させてもよい。
【0025】被測定流体3中に存在する微粒子Pが測定
領域3aを通過し、3つの焦点を順次横切ると、測定領
域3aに照射されるレーザ光は微粒子Pによる散乱作用
を受けて反射する。3つの焦点位置で散乱した散乱(反
射)レーザ光は集光レンズ15に集められて平行光にさ
れる。この平行レーザ光が干渉フィルタ18a,18b
を通り、集光レンズ19a,19bにより集光されて光
電変換手段としての半導体受光素子20a,20bに受
光される。干渉フィルタ18a,18bは、散乱レーザ
光の特定波長を選択して透過させるようになっており、
一方の干渉フィルタ18aは波長λ1 の散乱レーザ光
を、他方の干渉フィルタ18bは波長λ2の散乱レーザ
光を、それぞれ透過させるようになっている。
領域3aを通過し、3つの焦点を順次横切ると、測定領
域3aに照射されるレーザ光は微粒子Pによる散乱作用
を受けて反射する。3つの焦点位置で散乱した散乱(反
射)レーザ光は集光レンズ15に集められて平行光にさ
れる。この平行レーザ光が干渉フィルタ18a,18b
を通り、集光レンズ19a,19bにより集光されて光
電変換手段としての半導体受光素子20a,20bに受
光される。干渉フィルタ18a,18bは、散乱レーザ
光の特定波長を選択して透過させるようになっており、
一方の干渉フィルタ18aは波長λ1 の散乱レーザ光
を、他方の干渉フィルタ18bは波長λ2の散乱レーザ
光を、それぞれ透過させるようになっている。
【0026】これらの集光レンズ15と干渉フィルタ1
8a,18b、集光レンズ19a,19bおよび半導体
受光素子20a,20bを一体的に組み合せて反射光学
系21が構成される。レーザ流速計11はこの反射光学
系21と走査光学系16とを組み合せて一体化され、小
型でコンパクトな測定光学系22が構成される。測定光
学系22は光軸調整不要でメメンテナンスフリーに構成
される。レーザ流速計11は被測定流体3中に測定領域
3aが形成される、いわゆる後方散乱方式の半導体レー
ザ流速計である。
8a,18b、集光レンズ19a,19bおよび半導体
受光素子20a,20bを一体的に組み合せて反射光学
系21が構成される。レーザ流速計11はこの反射光学
系21と走査光学系16とを組み合せて一体化され、小
型でコンパクトな測定光学系22が構成される。測定光
学系22は光軸調整不要でメメンテナンスフリーに構成
される。レーザ流速計11は被測定流体3中に測定領域
3aが形成される、いわゆる後方散乱方式の半導体レー
ザ流速計である。
【0027】また、半導体受光素子20a,20bに
は、例えばピンフォトダイオード,アンバランシェフォ
トダイオード等があり、小型の光電変換素子として用い
られる。半導体受光素子20a,20bに入力された散
乱レーザ光はパルス状の電気信号に変換されて信号処理
手段としての信号処理器23に入力される。信号処理器
23では、各半導体受光素子20a,20bからのパル
ス状信号出力に基づいて被測定流体3の流れの方向と各
焦点間を通過する微粒子Pの時間間隔を測定し、測定さ
れた時間間隔と各焦点間の距離とから微粒子Pの流速を
演算処理して求め、微粒子Pの流速を被測定流体3の流
速として出力している。
は、例えばピンフォトダイオード,アンバランシェフォ
トダイオード等があり、小型の光電変換素子として用い
られる。半導体受光素子20a,20bに入力された散
乱レーザ光はパルス状の電気信号に変換されて信号処理
手段としての信号処理器23に入力される。信号処理器
23では、各半導体受光素子20a,20bからのパル
ス状信号出力に基づいて被測定流体3の流れの方向と各
焦点間を通過する微粒子Pの時間間隔を測定し、測定さ
れた時間間隔と各焦点間の距離とから微粒子Pの流速を
演算処理して求め、微粒子Pの流速を被測定流体3の流
速として出力している。
【0028】具体的には、信号処理器23で微粒子Pが
第1焦点から第2焦点を通過する時間間隔と、この微粒
子Pが第2焦点から第3焦点を通過する時間間隔を測定
し、双方の時間間隔が等しいとき、焦点間距離を測定さ
れた時間間隔で割って微粒子の流速が求められる。この
場合、各焦点間距離は予め等しくなるように調整してあ
り、各焦点間距離は所要値に予め設定されている。
第1焦点から第2焦点を通過する時間間隔と、この微粒
子Pが第2焦点から第3焦点を通過する時間間隔を測定
し、双方の時間間隔が等しいとき、焦点間距離を測定さ
れた時間間隔で割って微粒子の流速が求められる。この
場合、各焦点間距離は予め等しくなるように調整してあ
り、各焦点間距離は所要値に予め設定されている。
【0029】一方、被測定流体3中に存在する微粒子P
が第1焦点から第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒
子が第2焦点から第3焦点を通過する時間間隔が等しく
ない場合、信号データにノイズが入ったとして取り扱
い、流速計算を中止する。この流速計算の中止により、
被測定流体の流速を正確に測定できる。
が第1焦点から第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒
子が第2焦点から第3焦点を通過する時間間隔が等しく
ない場合、信号データにノイズが入ったとして取り扱
い、流速計算を中止する。この流速計算の中止により、
被測定流体の流速を正確に測定できる。
【0030】また、半導体レーザ12a,12bからの
レーザ光は、走査光学系16により被測定流体3の測定
領域3aに波長λ1 ,λ1 ,λ2 の3つの焦点を独立し
て結ぶように走査され、測定領域3aに波長λ1 ,λ1
,λ2 のレーザ光による3つの焦点が形成される。
レーザ光は、走査光学系16により被測定流体3の測定
領域3aに波長λ1 ,λ1 ,λ2 の3つの焦点を独立し
て結ぶように走査され、測定領域3aに波長λ1 ,λ1
,λ2 のレーザ光による3つの焦点が形成される。
【0031】今、被測定流体3が測定領域3aを図2に
おいて下方から上方に流れたとすると、被測定流体3中
の微粒子Pにより、一方の半導体受光素子20bから電
気信号が1パルス出力した後、他方の半導体受光素子2
0aから2パルスの電気信号が出力される。
おいて下方から上方に流れたとすると、被測定流体3中
の微粒子Pにより、一方の半導体受光素子20bから電
気信号が1パルス出力した後、他方の半導体受光素子2
0aから2パルスの電気信号が出力される。
【0032】また、被測定流体3が図2において上方か
ら下方に流れたとすると、半導体受光素子20aから2
パルスの電気信号が出力された後、半導体受光素子20
bから1パルスの電気信号が出力される。したがって、
各半導体受光素子20a,20bから出力される電気信
号をカウントすれば、被測定流体3の流れの方向を正確
に判別することができる。
ら下方に流れたとすると、半導体受光素子20aから2
パルスの電気信号が出力された後、半導体受光素子20
bから1パルスの電気信号が出力される。したがって、
各半導体受光素子20a,20bから出力される電気信
号をカウントすれば、被測定流体3の流れの方向を正確
に判別することができる。
【0033】このレーザ流速計11においては、小形の
2つの半導体レーザ12a,12bからの出力レーザ光
la,lbを被測定流体3の測定領域3aを形成する3
つの焦点として集光させることにより、測定領域3aに
干渉縞を形成する従来のレーザドップラ流速計より多く
の反射レーザ光量が得られる。これにより、光電変換手
段として小型の光電変換素子である半導体受光素子20
a,20bを用いても、信号処理に充分なS/N比の電
気信号が得られる。
2つの半導体レーザ12a,12bからの出力レーザ光
la,lbを被測定流体3の測定領域3aを形成する3
つの焦点として集光させることにより、測定領域3aに
干渉縞を形成する従来のレーザドップラ流速計より多く
の反射レーザ光量が得られる。これにより、光電変換手
段として小型の光電変換素子である半導体受光素子20
a,20bを用いても、信号処理に充分なS/N比の電
気信号が得られる。
【0034】また、半導体レーザ12a,12bから半
導体受光素子20a,20bに至る測定光学系22を光
学的に一体に組み立てることができ、測定流体3の流速
測定に際して光軸調整が不要となり、長寿命で保守が容
易となる。しかも、測定光学系22は小形の半導体レー
ザ12a,12bや半導体受光素子20a,20bを採
用することにより、例えば直径50mm,長さ150mm程
度の小型でコンパクトなハンディタイプとすることがで
き、機動性が向上する。
導体受光素子20a,20bに至る測定光学系22を光
学的に一体に組み立てることができ、測定流体3の流速
測定に際して光軸調整が不要となり、長寿命で保守が容
易となる。しかも、測定光学系22は小形の半導体レー
ザ12a,12bや半導体受光素子20a,20bを採
用することにより、例えば直径50mm,長さ150mm程
度の小型でコンパクトなハンディタイプとすることがで
き、機動性が向上する。
【0035】さらに、レーザ流速計11を構成する測定
光学系22は小型でコンパクトに設計されるため、測定
場所への携帯や測定のための設定や他の機器への組付け
が容易となり、被測定流体3の流速のみならず、その流
れ方向も簡単にかつ正確に測定することができる。しか
も、被測定流体3の流れ方向が分かるので、流速の測定
を一層正確に行なうことができる。
光学系22は小型でコンパクトに設計されるため、測定
場所への携帯や測定のための設定や他の機器への組付け
が容易となり、被測定流体3の流速のみならず、その流
れ方向も簡単にかつ正確に測定することができる。しか
も、被測定流体3の流れ方向が分かるので、流速の測定
を一層正確に行なうことができる。
【0036】図3は本発明に係るレーザ流速計の第2実
施形態を示すものである。
施形態を示すものである。
【0037】このレーザ流速計11Aは、レーザ装置と
しての2つの半導体レーザ12a,12bの配置を除い
て、図1に示すレーザ流速計11と構成を基本的に同じ
くするので、同一部品には同じ符号を付して説明を省略
する。
しての2つの半導体レーザ12a,12bの配置を除い
て、図1に示すレーザ流速計11と構成を基本的に同じ
くするので、同一部品には同じ符号を付して説明を省略
する。
【0038】図3に示すレーザ流速計11Aは図1に示
されたレーザ流速計11とはレーザ装置を構成する波長
λ1 用の半導体レーザ12aと波長λ2 用の半導体レー
ザ12bの配置を交換し、入れ換えたものである。半導
体レーザ12a,12bを図1に示された半導体レーザ
と入れ換えることにより、半導体レーザ12a,12b
から出力されたレーザ光la,lbは一方のレーザ光l
bが2本のレーザ光lb1 ,lb2 に分割され、被測定
流体3の測定領域3aに図4に示すように、波長λ2 ,
λ2 ,λ1 の3つの焦点を等間隔をおいて持つように絞
られ、集光される。
されたレーザ流速計11とはレーザ装置を構成する波長
λ1 用の半導体レーザ12aと波長λ2 用の半導体レー
ザ12bの配置を交換し、入れ換えたものである。半導
体レーザ12a,12bを図1に示された半導体レーザ
と入れ換えることにより、半導体レーザ12a,12b
から出力されたレーザ光la,lbは一方のレーザ光l
bが2本のレーザ光lb1 ,lb2 に分割され、被測定
流体3の測定領域3aに図4に示すように、波長λ2 ,
λ2 ,λ1 の3つの焦点を等間隔をおいて持つように絞
られ、集光される。
【0039】この測定領域3aに被測定流体3を流すこ
とにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同速度
で測定領域3aを流れ、3つの焦点を順に通過する。
とにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同速度
で測定領域3aを流れ、3つの焦点を順に通過する。
【0040】微粒子Pが3つの焦点を通過するとき、照
射されるレーザ光lb1 ,lb2 ,laを散乱させる。
この散乱レーザ光は反射光学系21の集光レンズ15で
平行光にされる。この平行レーザ光は続いて干渉フィル
タ18a,18bにより透過レーザ光の波長λ1 ,λ2
が選択され、集光レンズ19a,19bに集光されて光
電変換手段としての半導体受光素子20a,20b上に
受光せしめられる。この半導体受光素子20a,20b
からの電気信号は信号処理手段としての信号処理器23
に入力され、この信号処理器23で信号処理される。
射されるレーザ光lb1 ,lb2 ,laを散乱させる。
この散乱レーザ光は反射光学系21の集光レンズ15で
平行光にされる。この平行レーザ光は続いて干渉フィル
タ18a,18bにより透過レーザ光の波長λ1 ,λ2
が選択され、集光レンズ19a,19bに集光されて光
電変換手段としての半導体受光素子20a,20b上に
受光せしめられる。この半導体受光素子20a,20b
からの電気信号は信号処理手段としての信号処理器23
に入力され、この信号処理器23で信号処理される。
【0041】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、微粒子Pが測定領域3aの第
1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが
第2焦点と第3焦点を通過する時間間隔を測定し、両時
間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で割っ
て流速を演算する。微粒子Pが第1焦点と第2焦点を通
過する時間間隔とこの微粒子Pが第2焦点と第3焦点を
通過する時間間隔が等しくない場合、信号データにノイ
ズが入ったとして流速計算を中止する。
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、微粒子Pが測定領域3aの第
1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが
第2焦点と第3焦点を通過する時間間隔を測定し、両時
間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で割っ
て流速を演算する。微粒子Pが第1焦点と第2焦点を通
過する時間間隔とこの微粒子Pが第2焦点と第3焦点を
通過する時間間隔が等しくない場合、信号データにノイ
ズが入ったとして流速計算を中止する。
【0042】また、レーザ流速計11Aは走査光学系1
6により被測定流体3の測定領域3aに図4に示すよう
に、波長λ2 ,λ2 ,λ1 の3つの焦点を順に独立して
形成しており、この波長λ2 ,λ2 ,λ1 の焦点配置に
より、被測定流体3が図4の下方から上方に流れたとす
ると、被測定流体3中に存在する微粒子Pにより半導体
受光素子20aが1パルス電気信号を出力後、半導体受
光素子20bが2パルス出力する。逆に、図4の上方よ
り下方に流れが生じたとすると、半導体受光素子20b
が2パルス出力後、半導体受光素子20aが1パルス出
力することになり、流れ方向が正確に分かる。
6により被測定流体3の測定領域3aに図4に示すよう
に、波長λ2 ,λ2 ,λ1 の3つの焦点を順に独立して
形成しており、この波長λ2 ,λ2 ,λ1 の焦点配置に
より、被測定流体3が図4の下方から上方に流れたとす
ると、被測定流体3中に存在する微粒子Pにより半導体
受光素子20aが1パルス電気信号を出力後、半導体受
光素子20bが2パルス出力する。逆に、図4の上方よ
り下方に流れが生じたとすると、半導体受光素子20b
が2パルス出力後、半導体受光素子20aが1パルス出
力することになり、流れ方向が正確に分かる。
【0043】図5は、本発明に係るレーザ流速計の第3
実施形態を示すものである。
実施形態を示すものである。
【0044】このレーザ流速計11Bは、図1に示した
レーザ流速計11とは走査光学系16Aの配置構造を異
にし、他の構成は異ならないので同一符号を付して説明
を省略する。
レーザ流速計11とは走査光学系16Aの配置構造を異
にし、他の構成は異ならないので同一符号を付して説明
を省略する。
【0045】図5に示すレーザ流速計11Bは、走査光
学系16Aにレーザ装置として2つの半導体レーザ12
a,12bを備えた点は、図1のレーザ流速計11と共
通する。しかし、図5のレーザ流速計11Bは波長λ1
用の半導体レーザ12aから出力されたレーザ光は、コ
リメータレンズ20aを経て平行光束に成形されてビー
ムスプリッタ14により2つの波長λ1 のレーザ光に等
強度に分割される。そして、分割された2本の波長λ1
のレーザ光la1 ,lb2 の間に、波長λ2 用半導体レ
ーザ12bから出力されたレーザ光lbがコリメータレ
ンズ20bを経て出力されるようになっている。各半導
体レーザ12a,12bから出力された3本のレーザ光
la1 ,la2 ,lbは、集光手段としての集光レンズ
15により集束され、被測定流体3の測定領域3aに独
立した3つの焦点を等間隔をおいて持つように集光され
る。3つの焦点は、波長λ1 ,λ2 ,λ1 の焦点配置と
なり、各レーザ光の直径は焦点で最小直径まで絞られた
後、また拡大するように走査される。
学系16Aにレーザ装置として2つの半導体レーザ12
a,12bを備えた点は、図1のレーザ流速計11と共
通する。しかし、図5のレーザ流速計11Bは波長λ1
用の半導体レーザ12aから出力されたレーザ光は、コ
リメータレンズ20aを経て平行光束に成形されてビー
ムスプリッタ14により2つの波長λ1 のレーザ光に等
強度に分割される。そして、分割された2本の波長λ1
のレーザ光la1 ,lb2 の間に、波長λ2 用半導体レ
ーザ12bから出力されたレーザ光lbがコリメータレ
ンズ20bを経て出力されるようになっている。各半導
体レーザ12a,12bから出力された3本のレーザ光
la1 ,la2 ,lbは、集光手段としての集光レンズ
15により集束され、被測定流体3の測定領域3aに独
立した3つの焦点を等間隔をおいて持つように集光され
る。3つの焦点は、波長λ1 ,λ2 ,λ1 の焦点配置と
なり、各レーザ光の直径は焦点で最小直径まで絞られた
後、また拡大するように走査される。
【0046】この測定領域3aに被測定流体3を流すこ
とにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同じ速
度で測定領域3aを流れ、3つの焦点を順次通過する。
微粒子Pが3つの焦点を通過すると、微粒子Pが照射レ
ーザ光la1 ,la2 ,lbを散乱させる。この散乱レ
ーザ光は反射光学系21の集光レンズ15で集光されて
平行光にされる。
とにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同じ速
度で測定領域3aを流れ、3つの焦点を順次通過する。
微粒子Pが3つの焦点を通過すると、微粒子Pが照射レ
ーザ光la1 ,la2 ,lbを散乱させる。この散乱レ
ーザ光は反射光学系21の集光レンズ15で集光されて
平行光にされる。
【0047】この平行レーザ光は干渉フィルタ18a,
18bにより透過レーザ光の波長λ1 ,λ2 が選択さ
れ、透過された波長λ1 ,λ2 のレーザ光は、集光レン
ズ19a,19bにてさらに集光され、光電変換手段と
しての半導体受光素子20a,20b上に受光される。
この半導体受光素子20a,20bからの電気信号は、
信号処理手段としての信号処理器23に入力され、この
信号処理器23で信号処理される。
18bにより透過レーザ光の波長λ1 ,λ2 が選択さ
れ、透過された波長λ1 ,λ2 のレーザ光は、集光レン
ズ19a,19bにてさらに集光され、光電変換手段と
しての半導体受光素子20a,20b上に受光される。
この半導体受光素子20a,20bからの電気信号は、
信号処理手段としての信号処理器23に入力され、この
信号処理器23で信号処理される。
【0048】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、入力された電気信
号から測定領域3aを通過する微粒子Pの速度とその流
れの方向を演算処理して求めている。具体的には、微粒
子Pが第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微
粒子Pが第2焦点と第3焦点を通過する時間間隔とを求
め、両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間
隔で割って微粒子の流速を演算する。微粒子Pが第1焦
点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第2
焦点と第3焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、
信号データにノイズが入ったとして流速計算を中止す
る。
するパルス状の電気信号が入力され、入力された電気信
号から測定領域3aを通過する微粒子Pの速度とその流
れの方向を演算処理して求めている。具体的には、微粒
子Pが第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微
粒子Pが第2焦点と第3焦点を通過する時間間隔とを求
め、両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間
隔で割って微粒子の流速を演算する。微粒子Pが第1焦
点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第2
焦点と第3焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、
信号データにノイズが入ったとして流速計算を中止す
る。
【0049】また、レーザ流速計11Bは走査光学系1
6Aにより被測定流体3の測定領域3aに図6に示すよ
うに、波長λ1 ,λ2 ,λ1 の3つの焦点を順に独立し
て形成している。この波長λ1 ,λ2 ,λ1 の焦点配置
により、被測定流体3が図6において下方から上方に流
れたとすると、被測定流体3中に存在する微粒子Pによ
り半導体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光
素子20bが1パルス出力し、さらに半導体受光素子2
0aが前回の1パルス出力より大きな1パルスを出力す
る。図6の上方より下方に流れが生じたとすると、半導
体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光素子2
0bが1パルス出力し、さらに半導体受光素子20aが
前回の1パルス出力より小さな1パルスを出力すること
になり、パルス出力を比較することにより流れ方向が分
かる。
6Aにより被測定流体3の測定領域3aに図6に示すよ
うに、波長λ1 ,λ2 ,λ1 の3つの焦点を順に独立し
て形成している。この波長λ1 ,λ2 ,λ1 の焦点配置
により、被測定流体3が図6において下方から上方に流
れたとすると、被測定流体3中に存在する微粒子Pによ
り半導体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光
素子20bが1パルス出力し、さらに半導体受光素子2
0aが前回の1パルス出力より大きな1パルスを出力す
る。図6の上方より下方に流れが生じたとすると、半導
体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光素子2
0bが1パルス出力し、さらに半導体受光素子20aが
前回の1パルス出力より小さな1パルスを出力すること
になり、パルス出力を比較することにより流れ方向が分
かる。
【0050】図7は、本発明に係るレーザ流速計の第4
実施形態を示すものである。
実施形態を示すものである。
【0051】この実施形態に示されたレーザ流速計11
Cは、レーザ装置を構成する2つの半導体レーザの配置
を除いて、図5に示したレーザ流速計11Bと構成を同
じくするので同一部品には同一符号を付して説明を省略
する。
Cは、レーザ装置を構成する2つの半導体レーザの配置
を除いて、図5に示したレーザ流速計11Bと構成を同
じくするので同一部品には同一符号を付して説明を省略
する。
【0052】図7に示すレーザ流速計11Cは、図5に
示されたレーザ流速計11Bとは波長λ1 用の半導体レ
ーザ12aと波長λ2 用の半導体レーザ12bの配置を
交換し、入れ換えたものである。半導体レーザ12a,
12bを図5に示された半導体レーザと入れ換えること
により、各半導体レーザ12a,12bから出力された
レーザ光la,lbのうち、一方のレーザ光lbが2本
のレーザ光lb1 ,lb2 に分割され、3本のレーザ光
1a,lb1 ,lb2 となって走査光学系16Bに走査
され、集光手段としての集光レンズ15より、被測定流
体3の測定領域3aに図8に示すように、波長λ2 ,λ
1 ,λ2 の3つの焦点を等間隔をおいて持つように絞ら
れ、集光される。
示されたレーザ流速計11Bとは波長λ1 用の半導体レ
ーザ12aと波長λ2 用の半導体レーザ12bの配置を
交換し、入れ換えたものである。半導体レーザ12a,
12bを図5に示された半導体レーザと入れ換えること
により、各半導体レーザ12a,12bから出力された
レーザ光la,lbのうち、一方のレーザ光lbが2本
のレーザ光lb1 ,lb2 に分割され、3本のレーザ光
1a,lb1 ,lb2 となって走査光学系16Bに走査
され、集光手段としての集光レンズ15より、被測定流
体3の測定領域3aに図8に示すように、波長λ2 ,λ
1 ,λ2 の3つの焦点を等間隔をおいて持つように絞ら
れ、集光される。
【0053】この測定領域3aに被測定流体3を流すこ
とにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同速度
で浮遊状態で測定領域3aを流れ、3つの焦点を順に通
過する。
とにより、被測定流体3中に存在する微粒子Pも同速度
で浮遊状態で測定領域3aを流れ、3つの焦点を順に通
過する。
【0054】微粒子Pが3つの焦点を順に通過すると
き、照射されるレーザ光lb1 ,1a,lb2 を順に散
乱させる。この散乱(反射)レーザ光は反射光学系21
の集光レンズ15で平行光にされる。この平行レーザ光
は続いて干渉フィルタ18a,18bにより透過レーザ
光の波長λ1 ,λ2 が選択され、集光レンズ19a,1
9bに集光されて光電変換手段としての半導体受光素子
20a,20b上に受光せしめられる。半導体受光素子
20a,20bからの電気信号は信号処理手段としての
信号処理器23に入力され、この信号処理器23で信号
処理される。
き、照射されるレーザ光lb1 ,1a,lb2 を順に散
乱させる。この散乱(反射)レーザ光は反射光学系21
の集光レンズ15で平行光にされる。この平行レーザ光
は続いて干渉フィルタ18a,18bにより透過レーザ
光の波長λ1 ,λ2 が選択され、集光レンズ19a,1
9bに集光されて光電変換手段としての半導体受光素子
20a,20b上に受光せしめられる。半導体受光素子
20a,20bからの電気信号は信号処理手段としての
信号処理器23に入力され、この信号処理器23で信号
処理される。
【0055】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、微粒子Pが測定領域3aの第
1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが
第2焦点と第3焦点を通過する時間間隔を測定し、両時
間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で割っ
て微粒子Pの流速を演算する。微粒子Pが第1焦点と第
2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第2焦点と
第3焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、信号デ
ータにノイズが入ったとして流速計算を中止する。
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、微粒子Pが測定領域3aの第
1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが
第2焦点と第3焦点を通過する時間間隔を測定し、両時
間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で割っ
て微粒子Pの流速を演算する。微粒子Pが第1焦点と第
2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第2焦点と
第3焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、信号デ
ータにノイズが入ったとして流速計算を中止する。
【0056】また、レーザ流速計11Cは走査光学系1
6Bにより被測定流体3の測定領域3aに図8に示すよ
うに、波長λ2 ,λ1 ,λ2 の3つの焦点を順に独立し
て形成している。この波長λ2 ,λ1 ,λ2 の焦点配置
により、被測定流体3が図8の下方より上方に流れたと
すると、被測定流体3中に存在する微粒子Pにより半導
体受光素子20bが1パルスの電気信号出力後、半導体
受光素子20aが1パルス出力し、さらに半導体受光素
子20bが前回の1パルス出力より小さな1パルスを出
力する。図8の上方より下方に流れが生じたとすると、
半導体受光素子20bが1パルス出力後、半導体受光素
子20aが1パルス出力し、さらに半導体受光素子20
bが前回の1パルス出力より大きな1パルスを出力する
ことになり、出力されたパルス信号の比較により流れの
方向が分かる。
6Bにより被測定流体3の測定領域3aに図8に示すよ
うに、波長λ2 ,λ1 ,λ2 の3つの焦点を順に独立し
て形成している。この波長λ2 ,λ1 ,λ2 の焦点配置
により、被測定流体3が図8の下方より上方に流れたと
すると、被測定流体3中に存在する微粒子Pにより半導
体受光素子20bが1パルスの電気信号出力後、半導体
受光素子20aが1パルス出力し、さらに半導体受光素
子20bが前回の1パルス出力より小さな1パルスを出
力する。図8の上方より下方に流れが生じたとすると、
半導体受光素子20bが1パルス出力後、半導体受光素
子20aが1パルス出力し、さらに半導体受光素子20
bが前回の1パルス出力より大きな1パルスを出力する
ことになり、出力されたパルス信号の比較により流れの
方向が分かる。
【0057】図9は、本発明に係るレーザ流速計の第5
実施形態を示すものである。
実施形態を示すものである。
【0058】この実施形態に示されたレーザ流速計11
Dは図1に示されたレーザ流速計11とは走査光学系1
6Cの配置構造を基本的に異にし、他の構成は実質的に
異ならないので同一符号を付して説明を省略する。
Dは図1に示されたレーザ流速計11とは走査光学系1
6Cの配置構造を基本的に異にし、他の構成は実質的に
異ならないので同一符号を付して説明を省略する。
【0059】図9に示すレーザ流速計11Dはレーザ装
置として波長の異なる2つの半導体レーザ12a,12
bを用意し、各半導体レーザ12a,12bから出力さ
れるレーザ光の光軸上にコリメータとしてのコリメータ
レンズ13a,13bを2個設けた構成は、図1に示す
レーザ流速計11と異ならない。図9のレーザ流速計1
1Dは各コリメータレンズ13a,13bの出力側にレ
ーザ光を2つのレーザ光に等強度に分割するビームスプ
リッタ14a,14bをそれぞれ設ける。各ビームスプ
リッタ14a,14bの出力側には分割された波長λ1
のレーザ光la1 ,1a2 と波長λ2 のレーザ光lb1
,1b2 を2本づつ被測定流体3の測定領域3aに集
光させる集光手段として集光レンズ15を設けて走査光
学系16Cを構成している。
置として波長の異なる2つの半導体レーザ12a,12
bを用意し、各半導体レーザ12a,12bから出力さ
れるレーザ光の光軸上にコリメータとしてのコリメータ
レンズ13a,13bを2個設けた構成は、図1に示す
レーザ流速計11と異ならない。図9のレーザ流速計1
1Dは各コリメータレンズ13a,13bの出力側にレ
ーザ光を2つのレーザ光に等強度に分割するビームスプ
リッタ14a,14bをそれぞれ設ける。各ビームスプ
リッタ14a,14bの出力側には分割された波長λ1
のレーザ光la1 ,1a2 と波長λ2 のレーザ光lb1
,1b2 を2本づつ被測定流体3の測定領域3aに集
光させる集光手段として集光レンズ15を設けて走査光
学系16Cを構成している。
【0060】波長λ1 と波長λ2 を2本づつ計4本のレ
ーザ光la1 ,la2 ,lb1 ,1b2 は走査光学系1
6Cの集光レンズ15により集束され、被測定流体3の
測定領域3aに4つの焦点を等間隔をおいて有するよう
に集光される。各焦点は図10に示すように、波長λ1
,λ1 ,λ2 ,λ2 の順に形成される焦点配置を有す
る。4本のレーザ光la1 ,la2 ,lb1 ,1b2 は
その直径が集光レンズ15によりレンズ焦点位置で最小
直径まで絞り込まれ、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4
つの焦点を形成した後、また次第に拡開されるようにな
っている。
ーザ光la1 ,la2 ,lb1 ,1b2 は走査光学系1
6Cの集光レンズ15により集束され、被測定流体3の
測定領域3aに4つの焦点を等間隔をおいて有するよう
に集光される。各焦点は図10に示すように、波長λ1
,λ1 ,λ2 ,λ2 の順に形成される焦点配置を有す
る。4本のレーザ光la1 ,la2 ,lb1 ,1b2 は
その直径が集光レンズ15によりレンズ焦点位置で最小
直径まで絞り込まれ、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4
つの焦点を形成した後、また次第に拡開されるようにな
っている。
【0061】測定領域3aに被測定流体3を流すことに
より、被測定流体3中に存在し、浮遊する微粒子Pも同
速度で流れ、4つの焦点を順次通過する。微粒子Pが4
つの焦点を通過するとき、照射レーザ光la1 ,la2
,lb1 ,1b2 を散乱させる。散乱レーザ光は続い
て反射光学系21の集光レンズ15に集められて平行光
にされる。この平行レーザ光は干渉フィルタ18a,1
8bの使用により透過光の波長λ1 ,λ2 が選択され、
一方の干渉フィルタ18aにより波長λ1 のレーザ光
が、他方の干渉フィルタ18bにより波長λ2 のレーザ
光が選択され、透過される。
より、被測定流体3中に存在し、浮遊する微粒子Pも同
速度で流れ、4つの焦点を順次通過する。微粒子Pが4
つの焦点を通過するとき、照射レーザ光la1 ,la2
,lb1 ,1b2 を散乱させる。散乱レーザ光は続い
て反射光学系21の集光レンズ15に集められて平行光
にされる。この平行レーザ光は干渉フィルタ18a,1
8bの使用により透過光の波長λ1 ,λ2 が選択され、
一方の干渉フィルタ18aにより波長λ1 のレーザ光
が、他方の干渉フィルタ18bにより波長λ2 のレーザ
光が選択され、透過される。
【0062】波長λ1 とλ2 の透過レーザ光は続いて集
光レンズ19a,19bにより集光され、光電変換手段
としての小形の半導体受光素子20a,20bに受光さ
れ、この半導体受光素子20a,20bで電気信号に変
換される。半導体受光素子20a,20bからの電気信
号は、信号処理手段としての信号処理器23に入力され
て信号処理される。
光レンズ19a,19bにより集光され、光電変換手段
としての小形の半導体受光素子20a,20bに受光さ
れ、この半導体受光素子20a,20bで電気信号に変
換される。半導体受光素子20a,20bからの電気信
号は、信号処理手段としての信号処理器23に入力され
て信号処理される。
【0063】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、入力された電気信
号から測定領域3aを通過する微粒子Pの速度とその流
れの方向を演算処理して求めている。具体的には、被測
定流体3中に存在する微粒子Pが第1焦点と第2焦点を
通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3焦点と第4焦点
を通過する時間間隔とを計測し、両時間間隔が等しい場
合、焦点間距離をこの時間間隔で割って微粒子Pの流速
を演算する。微粒子Pが第1焦点と第2焦点を通過する
時間間隔とこの微粒子Pが第3焦点と第4焦点を通過す
る時間間隔が等しくない場合、信号データにノイズが入
ったとして流速計算を中止する。
するパルス状の電気信号が入力され、入力された電気信
号から測定領域3aを通過する微粒子Pの速度とその流
れの方向を演算処理して求めている。具体的には、被測
定流体3中に存在する微粒子Pが第1焦点と第2焦点を
通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3焦点と第4焦点
を通過する時間間隔とを計測し、両時間間隔が等しい場
合、焦点間距離をこの時間間隔で割って微粒子Pの流速
を演算する。微粒子Pが第1焦点と第2焦点を通過する
時間間隔とこの微粒子Pが第3焦点と第4焦点を通過す
る時間間隔が等しくない場合、信号データにノイズが入
ったとして流速計算を中止する。
【0064】また、レーザ流速計11Dは走査光学系1
6Cにより被測定流体3の測定領域3aに図10に示す
ように、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して等間隔に形成している。この波長λ1 ,λ1
,λ2 ,λ2 の焦点配置により、被測定流体3が図1
0において下方から上方に流れるとすると、被測定流体
3中に存在する微粒子Pにより半導体受光素子20bが
2パルス出力後、半導体受光素子20aが2パルス出力
する。図10の上方より下方に流れが生じたとすると、
半導体受光素子20aが2パルス出力後、半導体受光素
子20bが2パルス出力することになり、被測定流体3
の流れ方向が分かる。
6Cにより被測定流体3の測定領域3aに図10に示す
ように、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して等間隔に形成している。この波長λ1 ,λ1
,λ2 ,λ2 の焦点配置により、被測定流体3が図1
0において下方から上方に流れるとすると、被測定流体
3中に存在する微粒子Pにより半導体受光素子20bが
2パルス出力後、半導体受光素子20aが2パルス出力
する。図10の上方より下方に流れが生じたとすると、
半導体受光素子20aが2パルス出力後、半導体受光素
子20bが2パルス出力することになり、被測定流体3
の流れ方向が分かる。
【0065】このレーザ流速計11Dにおいては、小形
の2つの半導体レーザ12a,12bからの出力レーザ
光la,lbをそれぞれ分割して被測定流体3の測定領
域3aを形成する4つの焦点として集光させることによ
り、測定領域に干渉縞を形成する従来のレーザドップラ
流速計より多くの反射レーザ光量が得られる。これによ
り、光電変換手段として小型の半導体受光素子20a,
20bを用いても、信号処理に充分なS/N比の電気信
号が得られる。
の2つの半導体レーザ12a,12bからの出力レーザ
光la,lbをそれぞれ分割して被測定流体3の測定領
域3aを形成する4つの焦点として集光させることによ
り、測定領域に干渉縞を形成する従来のレーザドップラ
流速計より多くの反射レーザ光量が得られる。これによ
り、光電変換手段として小型の半導体受光素子20a,
20bを用いても、信号処理に充分なS/N比の電気信
号が得られる。
【0066】また、半導体レーザ12a,12bから半
導体受光素子20a,20bに至る測定光学系22を光
学的に一体に組み立てることができ、測定流体3の流速
測定に際して光軸調整が不要となり、長寿命で保守が容
易となる。しかも、測定光学系22は小形の半導体レー
ザ12a,12bや半導体受光素子20a,20bを採
用することにより、例えば直径50mm,長さ150mm程
度の小型でコンパクトなハンディタイプとすることがで
き、機動性が向上する。
導体受光素子20a,20bに至る測定光学系22を光
学的に一体に組み立てることができ、測定流体3の流速
測定に際して光軸調整が不要となり、長寿命で保守が容
易となる。しかも、測定光学系22は小形の半導体レー
ザ12a,12bや半導体受光素子20a,20bを採
用することにより、例えば直径50mm,長さ150mm程
度の小型でコンパクトなハンディタイプとすることがで
き、機動性が向上する。
【0067】さらに、レーザ流速計11Dを構成する測
定光学系22は小型でコンパクトに設計されるため、測
定場所への携帯や測定のための設定や他の機器への組付
けが容易となり、被測定流体3の流速のみならず、その
流れ方向も簡単にかつ正確に測定することができる。し
かも、被測定流体3の流れ方向の測定により、流速をよ
り正確に測定できる。
定光学系22は小型でコンパクトに設計されるため、測
定場所への携帯や測定のための設定や他の機器への組付
けが容易となり、被測定流体3の流速のみならず、その
流れ方向も簡単にかつ正確に測定することができる。し
かも、被測定流体3の流れ方向の測定により、流速をよ
り正確に測定できる。
【0068】図11は、本発明に係るレーザ流速計の第
6実施形態を示すものである。
6実施形態を示すものである。
【0069】このレーザ流速計11Eは反射光学系21
Aの配置構成を図9に示されたレーザ流速計11Dと異
にし、他の構成は実質的に異ならないので、同一符号を
付して説明を省略する。図11に示されたレーザ流速計
11Eは、反射光学系21Aを構成する2つの干渉フィ
ルタ18a,18bを交換し、入れ換えたものである。
すなわち、波長λ1 のレーザ光を通す一方の干渉フィル
タ18aを集光レンズ19bを介して光電変換手段であ
る他方の半導体受光素子20bと組み合せ、波長λ2 用
の他方の干渉フィルタ18bを集光レンズ19aを介し
て一方の半導体受光素子20aと組み合せたものであ
る。
Aの配置構成を図9に示されたレーザ流速計11Dと異
にし、他の構成は実質的に異ならないので、同一符号を
付して説明を省略する。図11に示されたレーザ流速計
11Eは、反射光学系21Aを構成する2つの干渉フィ
ルタ18a,18bを交換し、入れ換えたものである。
すなわち、波長λ1 のレーザ光を通す一方の干渉フィル
タ18aを集光レンズ19bを介して光電変換手段であ
る他方の半導体受光素子20bと組み合せ、波長λ2 用
の他方の干渉フィルタ18bを集光レンズ19aを介し
て一方の半導体受光素子20aと組み合せたものであ
る。
【0070】このレーザ流速計11Eにおいて、測定領
域3aに被測定流体3を流すことにより、被測定流体3
中に存在する微粒子Pも同じ速度で測定領域3aを流
れ、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4つの焦点を順次通
過する。
域3aに被測定流体3を流すことにより、被測定流体3
中に存在する微粒子Pも同じ速度で測定領域3aを流
れ、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4つの焦点を順次通
過する。
【0071】微粒子Pが4つの焦点を通過するとき、照
射されるレーザ光la1 ,la2 ,lb1 ,lb2 を順
次散乱させる。この散乱レーザ光は反射光学系21Aの
集光レンズ15で平行光にされる。この平行レーザ光は
続いて2つの干渉フィルタ18a,18bにより透過レ
ーザ光の波長が選択される。一方の干渉フィルタ18
a,18bは波長λ1 のレーザ光を、他方の干渉フィル
タ18bは波長λ2 のレーザ光をそれぞれ選択して透過
させる。干渉フィルタ18a,18bにより波長が選択
されて透過されたレーザ光は集光レンズ19a,19b
により集光され、半導体受光素子20a,20b上に受
光せしめられる。この半導体受光素子20a,20bか
らの電気信号は信号処理手段としての信号処理器23に
入力されて信号処理される。
射されるレーザ光la1 ,la2 ,lb1 ,lb2 を順
次散乱させる。この散乱レーザ光は反射光学系21Aの
集光レンズ15で平行光にされる。この平行レーザ光は
続いて2つの干渉フィルタ18a,18bにより透過レ
ーザ光の波長が選択される。一方の干渉フィルタ18
a,18bは波長λ1 のレーザ光を、他方の干渉フィル
タ18bは波長λ2 のレーザ光をそれぞれ選択して透過
させる。干渉フィルタ18a,18bにより波長が選択
されて透過されたレーザ光は集光レンズ19a,19b
により集光され、半導体受光素子20a,20b上に受
光せしめられる。この半導体受光素子20a,20bか
らの電気信号は信号処理手段としての信号処理器23に
入力されて信号処理される。
【0072】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、測定領域3aを通る微粒子P
が第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子
Pが第3焦点と第4焦点を通過する時間間隔を測定し、
両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で
割って微粒子Pの流速を演算する。微粒子Pが第1焦点
と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3焦
点と第4焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、信
号データにノイズが入ったとして流速計算を中止する。
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、測定領域3aを通る微粒子P
が第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子
Pが第3焦点と第4焦点を通過する時間間隔を測定し、
両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で
割って微粒子Pの流速を演算する。微粒子Pが第1焦点
と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3焦
点と第4焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、信
号データにノイズが入ったとして流速計算を中止する。
【0073】また、レーザ流速計11Eは走査光学系2
1Aにより被測定流体3の測定領域3aに図12に示す
ように、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して形成している。波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2
の焦点配置により被測定流体3が図12の下方より上方
に流れたとすると、被測定流体3中の微粒子Pにより半
導体受光素子20aが2パルス出力後、半導体受光素子
20bが2パルス出力する。図12の上方より下方に流
れが生じたとすると、半導体受光素子20bが2パルス
出力後、半導体受光素子20aが2パルス出力すること
になり、微粒子Pの流れ方向、ひいては被測定流体3の
流れ方向が分かる。
1Aにより被測定流体3の測定領域3aに図12に示す
ように、波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して形成している。波長λ1 ,λ1 ,λ2 ,λ2
の焦点配置により被測定流体3が図12の下方より上方
に流れたとすると、被測定流体3中の微粒子Pにより半
導体受光素子20aが2パルス出力後、半導体受光素子
20bが2パルス出力する。図12の上方より下方に流
れが生じたとすると、半導体受光素子20bが2パルス
出力後、半導体受光素子20aが2パルス出力すること
になり、微粒子Pの流れ方向、ひいては被測定流体3の
流れ方向が分かる。
【0074】図13は、本発明に係るレーザ流速計の第
7実施形態を示したものである。
7実施形態を示したものである。
【0075】この実施形態に示されたレーザ流速計11
Fは、走査光学系16Dの2つのコリメータレンズ13
a,13bの出力側に2つのビームスプリッタ24a,
24bをそれぞれ配置し、各ビームスプリッタ24a,
24bで等強度に分割された各2本のレーザ光la1 ,
la2 ,lb1 ,lb2 の一方を互いに交差させ、集光
手段としての集光レンズ15により集光される4つの焦
点を波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の焦点配置としてい
る。他の構成は、図9に示されたレーザ流速計11Dと
異ならないので、同一符号を付して説明を省略する。
Fは、走査光学系16Dの2つのコリメータレンズ13
a,13bの出力側に2つのビームスプリッタ24a,
24bをそれぞれ配置し、各ビームスプリッタ24a,
24bで等強度に分割された各2本のレーザ光la1 ,
la2 ,lb1 ,lb2 の一方を互いに交差させ、集光
手段としての集光レンズ15により集光される4つの焦
点を波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の焦点配置としてい
る。他の構成は、図9に示されたレーザ流速計11Dと
異ならないので、同一符号を付して説明を省略する。
【0076】このレーザ流速計11Fは走査光学系16
Dを構成するビームスプリッタ24a,24bと集光レ
ンズ15とを組み合せて被測定流体3の測定領域3aに
4つの焦点を波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の順に形成し
ている。測定領域3aに形成される4つの焦点は図14
に示すように焦点距離が等しく、波長λ1 ,λ2 ,λ1
,λ2 の焦点配置とされ、照射レーザ光の直径は集光
レンズ15により4つの焦点で最小直径まで絞られた
後、再び拡大するようになっている。
Dを構成するビームスプリッタ24a,24bと集光レ
ンズ15とを組み合せて被測定流体3の測定領域3aに
4つの焦点を波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の順に形成し
ている。測定領域3aに形成される4つの焦点は図14
に示すように焦点距離が等しく、波長λ1 ,λ2 ,λ1
,λ2 の焦点配置とされ、照射レーザ光の直径は集光
レンズ15により4つの焦点で最小直径まで絞られた
後、再び拡大するようになっている。
【0077】この測定領域3aに被測定流体3を流すこ
とにより、測定流体3中に存在する微粒子Pも同じ速度
で測定領域3aを流れ、4つの焦点を順に通過する。微
粒子Pが4つの焦点通過すると、微粒子Pが照射レーザ
光la1 ,la2 ,lb1 ,lb2 を散乱させる。この
散乱レーザ光は反射光学系21の集光レンズ15で集光
されて平行光にされる。
とにより、測定流体3中に存在する微粒子Pも同じ速度
で測定領域3aを流れ、4つの焦点を順に通過する。微
粒子Pが4つの焦点通過すると、微粒子Pが照射レーザ
光la1 ,la2 ,lb1 ,lb2 を散乱させる。この
散乱レーザ光は反射光学系21の集光レンズ15で集光
されて平行光にされる。
【0078】この平行レーザ光は干渉フィルタ18a,
18bにより透過レーザ光の波長λ1 ,λ2 が選択さ
れ、透過された波長λ1 ,λ2 のレーザ光は、集光レン
ズ19a,19bにてさらに集光され、光電変換手段と
しての小型の半導体受光素子20a,20b上に受光さ
れる。この半導体受光素子20a,20bからの電気信
号は、信号処理手段としての信号処理器23に入力さ
れ、この信号処理器23で信号処理される。
18bにより透過レーザ光の波長λ1 ,λ2 が選択さ
れ、透過された波長λ1 ,λ2 のレーザ光は、集光レン
ズ19a,19bにてさらに集光され、光電変換手段と
しての小型の半導体受光素子20a,20b上に受光さ
れる。この半導体受光素子20a,20bからの電気信
号は、信号処理手段としての信号処理器23に入力さ
れ、この信号処理器23で信号処理される。
【0079】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、入力された電気信
号から測定領域3aを通過する微粒子Pの速度とその流
れの方向を演算処理して求めている。具体的には、微粒
子Pが第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微
粒子Pが第3焦点と第4焦点を通過する時間間隔とを求
め、両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間
隔で割って微粒子の流速を演算する。微粒子Pが第1焦
点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3
焦点と第4焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、
信号データにノイズが入ったとして流速計算を中止す
る。
するパルス状の電気信号が入力され、入力された電気信
号から測定領域3aを通過する微粒子Pの速度とその流
れの方向を演算処理して求めている。具体的には、微粒
子Pが第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微
粒子Pが第3焦点と第4焦点を通過する時間間隔とを求
め、両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間
隔で割って微粒子の流速を演算する。微粒子Pが第1焦
点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3
焦点と第4焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、
信号データにノイズが入ったとして流速計算を中止す
る。
【0080】また、レーザ流速計11Fは走査光学系1
6Dにより被測定流体3の測定領域3aに図14に示す
ように、波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して形成している。この波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,
λ2 の焦点配置により、被測定流体3が図14において
下方から上方に流れたとすると、被測定流体3中に存在
する微粒子Pにより半導体受光素子20bが1パルス出
力後、半導体受光素子20aが1パルス出力し、さらに
半導体受光素子20bが前回の半導体受光素子20bの
1パルス出力より小さい1パルス出力後、半導体受光素
子20aが前回の1パルス出力より大きい1パルスを出
する。図14の上方より下方に流れが生じたとすると、
半導体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光素
子20bが1パルス出力し、さらに半導体受光素子20
aが前回の1パルス出力より小さな1パルス出力後、半
導体受光素子20bが前回の1パルス出力より大きい1
パルス出力をすることになり、パルス出力を比較するこ
とにより流れ方向が分かる。
6Dにより被測定流体3の測定領域3aに図14に示す
ように、波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して形成している。この波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,
λ2 の焦点配置により、被測定流体3が図14において
下方から上方に流れたとすると、被測定流体3中に存在
する微粒子Pにより半導体受光素子20bが1パルス出
力後、半導体受光素子20aが1パルス出力し、さらに
半導体受光素子20bが前回の半導体受光素子20bの
1パルス出力より小さい1パルス出力後、半導体受光素
子20aが前回の1パルス出力より大きい1パルスを出
する。図14の上方より下方に流れが生じたとすると、
半導体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光素
子20bが1パルス出力し、さらに半導体受光素子20
aが前回の1パルス出力より小さな1パルス出力後、半
導体受光素子20bが前回の1パルス出力より大きい1
パルス出力をすることになり、パルス出力を比較するこ
とにより流れ方向が分かる。
【0081】図15は本発明に係るレーザ流速計の第8
実施形態を示すものである。
実施形態を示すものである。
【0082】この実施形態に示されたレーザ流速計11
Gは、反射光学系21Aの配置構成を図13に示された
配置構成と異にしたものである。他の構成は、図13に
示されたレーザ流速計11Fと異ならないので同一符号
を付して説明を省略する。図15に示されたレーザ流速
計11Gは反射光学系21Aを構成する2つの干渉フィ
ルタ18a,18bの配置を図13に示されたレーザ流
速計11Fと逆にし、2つの干渉フィルタ18a,18
bを入れ換えたものである。
Gは、反射光学系21Aの配置構成を図13に示された
配置構成と異にしたものである。他の構成は、図13に
示されたレーザ流速計11Fと異ならないので同一符号
を付して説明を省略する。図15に示されたレーザ流速
計11Gは反射光学系21Aを構成する2つの干渉フィ
ルタ18a,18bの配置を図13に示されたレーザ流
速計11Fと逆にし、2つの干渉フィルタ18a,18
bを入れ換えたものである。
【0083】すなわち、波長λ1 のレーザ光を通す一方
の干渉フィルタ18aは集光レンズ19bを介して他方
の半導体受光素子20bと組み合せ、波長λ2 用の他方
の干渉フィルタ18bは集光レンズ19aを介して一方
の半導体受光素子20aと組み合せたものである。
の干渉フィルタ18aは集光レンズ19bを介して他方
の半導体受光素子20bと組み合せ、波長λ2 用の他方
の干渉フィルタ18bは集光レンズ19aを介して一方
の半導体受光素子20aと組み合せたものである。
【0084】このレーザ流速計11Gは、測定領域3a
に被測定流体3を流すことにより、被測定流体3中に存
在する微粒子Pも同じ速度で測定領域3aを流れ、波長
λ1,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点を順次通過する。
に被測定流体3を流すことにより、被測定流体3中に存
在する微粒子Pも同じ速度で測定領域3aを流れ、波長
λ1,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点を順次通過する。
【0085】微粒子Pが4つの焦点を通過するとき、照
射されるレーザ光la1 ,lb1 ,la2 ,lb2 を順
次散乱させる。この散乱レーザ光は反射光学系21Aの
集光レンズ15で平行光にされる。この平行レーザ光は
続いて2つの干渉フィルタ18a,18bにより透過レ
ーザ光の波長が選択される。一方の干渉フィルタ18
a,18bは波長λ1 のレーザ光を、他方の干渉フィル
タ18bは波長λ2 のレーザ光をそれぞれ選択して透過
させる。干渉フィルタ18a,18bにより波長が選択
されて透過されたレーザ光は集光レンズ19a,19b
により集光され、半導体受光素子20a,20b上に受
光せしめられる。この半導体受光素子20a,20bか
らの電気信号は信号処理手段としての信号処理器23に
入力されて信号処理される。
射されるレーザ光la1 ,lb1 ,la2 ,lb2 を順
次散乱させる。この散乱レーザ光は反射光学系21Aの
集光レンズ15で平行光にされる。この平行レーザ光は
続いて2つの干渉フィルタ18a,18bにより透過レ
ーザ光の波長が選択される。一方の干渉フィルタ18
a,18bは波長λ1 のレーザ光を、他方の干渉フィル
タ18bは波長λ2 のレーザ光をそれぞれ選択して透過
させる。干渉フィルタ18a,18bにより波長が選択
されて透過されたレーザ光は集光レンズ19a,19b
により集光され、半導体受光素子20a,20b上に受
光せしめられる。この半導体受光素子20a,20bか
らの電気信号は信号処理手段としての信号処理器23に
入力されて信号処理される。
【0086】信号処理器23には、散乱レーザ光に対応
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、測定領域3aを通る微粒子P
が第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子
Pが第3焦点と第4焦点を通過する時間間隔を測定し、
両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で
割って微粒子Pの流速を演算する。微粒子Pが第1焦点
と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3焦
点と第4焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、信
号データにノイズが入ったとして流速計算を中止する。
するパルス状の電気信号が入力され、測定領域3aを通
過する微粒子Pの速度とその流れの方向を演算処理して
求めている。具体的には、測定領域3aを通る微粒子P
が第1焦点と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子
Pが第3焦点と第4焦点を通過する時間間隔を測定し、
両時間間隔が等しい場合、焦点間距離をこの時間間隔で
割って微粒子Pの流速を演算する。微粒子Pが第1焦点
と第2焦点を通過する時間間隔とこの微粒子Pが第3焦
点と第4焦点を通過する時間間隔が等しくない場合、信
号データにノイズが入ったとして流速計算を中止する。
【0087】また、レーザ流速計11Gは走査光学系1
6Dにより被測定流体3の測定領域3aに図16に示す
ように、波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して形成している。波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2
の焦点配置により被測定流体3が図16の下方より上方
に流れたとすると、被測定流体3中の微粒子Pにより半
導体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光素子
20bが1パルス出力し、さらに、半導体受光素子20
aが前回の1パルス出力より大きい1パルス出力後、半
導体受光素子20bが前回の1パルス出力より小さい1
パルスを出力する。図16の上方より下方に流れが生じ
たとすると、半導体受光素子20bが1パルス出力後、
半導体受光素子20aが1パルス出力し、さらに、半導
体受光素子20bが前回の1パルス出力より大きい1パ
ルス出力後、半導体受光素子20aが前回の1パルス出
力より小さい1パルスを出力することになり、微粒子P
の流れ方向、ひいては被測定流体3の流れ方向が分か
る。
6Dにより被測定流体3の測定領域3aに図16に示す
ように、波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の4つの焦点を順
に独立して形成している。波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2
の焦点配置により被測定流体3が図16の下方より上方
に流れたとすると、被測定流体3中の微粒子Pにより半
導体受光素子20aが1パルス出力後、半導体受光素子
20bが1パルス出力し、さらに、半導体受光素子20
aが前回の1パルス出力より大きい1パルス出力後、半
導体受光素子20bが前回の1パルス出力より小さい1
パルスを出力する。図16の上方より下方に流れが生じ
たとすると、半導体受光素子20bが1パルス出力後、
半導体受光素子20aが1パルス出力し、さらに、半導
体受光素子20bが前回の1パルス出力より大きい1パ
ルス出力後、半導体受光素子20aが前回の1パルス出
力より小さい1パルスを出力することになり、微粒子P
の流れ方向、ひいては被測定流体3の流れ方向が分か
る。
【0088】なお、本発明に係るレーザ流速計の各実施
形態においては、走査光学系のコリメータとして透過型
コリメータを用いた例を示したが、反射型コリメータを
採用してもよい。反射型コリメータを採用した場合に
は、この採用に応じて走査光学系のレイアウトの変更が
なされる。
形態においては、走査光学系のコリメータとして透過型
コリメータを用いた例を示したが、反射型コリメータを
採用してもよい。反射型コリメータを採用した場合に
は、この採用に応じて走査光学系のレイアウトの変更が
なされる。
【0089】また、本発明に係るレーザ流速計において
はレーザ光源として小形の半導体レーザを、光電変換手
段として小形の半導体受光素子を用いた例を示したが、
レーザ光源として半導体レーザ以外のガスレーザ等のレ
ーザ装置を使用し、また、光電変換手段として増幅率の
大きな光電子増倍管等の光電変換素子を用いてもよい。
半導体レーザ以外のレーザ装置や光電変換素子を用いた
場合には、測定光学系が大形化するが、レーザ装置に波
長の異なる2つのレーザ光を出力させ、この出力レーザ
光を図1ないし図16に示した測定光学系と同様な光学
系でレーザ光を走査し、信号処理することで、被測定流
体の流速だけでなく、流れの方向も測定することがで
き、流速の測定をより一層正確に行なうことができる。
はレーザ光源として小形の半導体レーザを、光電変換手
段として小形の半導体受光素子を用いた例を示したが、
レーザ光源として半導体レーザ以外のガスレーザ等のレ
ーザ装置を使用し、また、光電変換手段として増幅率の
大きな光電子増倍管等の光電変換素子を用いてもよい。
半導体レーザ以外のレーザ装置や光電変換素子を用いた
場合には、測定光学系が大形化するが、レーザ装置に波
長の異なる2つのレーザ光を出力させ、この出力レーザ
光を図1ないし図16に示した測定光学系と同様な光学
系でレーザ光を走査し、信号処理することで、被測定流
体の流速だけでなく、流れの方向も測定することがで
き、流速の測定をより一層正確に行なうことができる。
【0090】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明に係るレー
ザ流速計は、後方散乱方式を採用し、レーザ光源に波長
の異なる2つの半導体レーザを用い、半導体レーザから
出力されるレーザ光のうち少なくとも一方をビームスプ
リッタで分割し、集光手段により被測定流体の測定領域
に少なくとも3つの焦点として集光させ、少なくとも3
つの焦点からの散乱レーザ光を光電変換手段で受光して
電気信号を出力し、この電気信号を信号処理手段で信号
処理させたので、充分に多くの反射(散乱)光量が得ら
れ、被測定流体の流速測定が可能になると同時に、被測
定流体の流れの方向も測定することができ、流速測定の
正確性を向上させることができる。
ザ流速計は、後方散乱方式を採用し、レーザ光源に波長
の異なる2つの半導体レーザを用い、半導体レーザから
出力されるレーザ光のうち少なくとも一方をビームスプ
リッタで分割し、集光手段により被測定流体の測定領域
に少なくとも3つの焦点として集光させ、少なくとも3
つの焦点からの散乱レーザ光を光電変換手段で受光して
電気信号を出力し、この電気信号を信号処理手段で信号
処理させたので、充分に多くの反射(散乱)光量が得ら
れ、被測定流体の流速測定が可能になると同時に、被測
定流体の流れの方向も測定することができ、流速測定の
正確性を向上させることができる。
【0091】また、このレーザ流速計は小形の半導体レ
ーザを用い、半導体レーザから光電変換手段に至る測定
光学系を後方散乱方式に一体化することができ、測定に
際して光軸調整が不要となり、メンテナンスフリーで長
寿命化を図ることができる一方、小型・コンパクト化が
図れ、機動性が向上し、測定場所への携帯および測定の
ための設定、他の装置への組込みが容易となり、被測定
流体の流速測定やその流れ方向の測定を正確かつ容易に
行なうことができる。
ーザを用い、半導体レーザから光電変換手段に至る測定
光学系を後方散乱方式に一体化することができ、測定に
際して光軸調整が不要となり、メンテナンスフリーで長
寿命化を図ることができる一方、小型・コンパクト化が
図れ、機動性が向上し、測定場所への携帯および測定の
ための設定、他の装置への組込みが容易となり、被測定
流体の流速測定やその流れ方向の測定を正確かつ容易に
行なうことができる。
【0092】さらに、このレーザ光に半導体レーザ以外
のレーザ装置をレーザ光源として使用した場合には、レ
ーザ出力をアップさせてより多くの反射光量が得られ、
被測定流体の流速のみならず流れの方向を確実にかつ正
確に測定することができる。
のレーザ装置をレーザ光源として使用した場合には、レ
ーザ出力をアップさせてより多くの反射光量が得られ、
被測定流体の流速のみならず流れの方向を確実にかつ正
確に測定することができる。
【図1】本発明に係るレーザ流速計の第1実施形態を示
す測定光学系の概略構成図。
す測定光学系の概略構成図。
【図2】図1に示された被測定流体の測定領域を示す拡
大図。
大図。
【図3】本発明に係るレーザ流速計の第2実施形態を示
す測定光学系の概略構成図。
す測定光学系の概略構成図。
【図4】図3に示された被測定流体の測定領域を示す拡
大図。
大図。
【図5】本発明に係るレーザ流速計の第3実施形態を示
す測定光学系の概略構成図。
す測定光学系の概略構成図。
【図6】図5に示された被測定流体の測定領域を示す拡
大図。
大図。
【図7】本発明に係るレーザ流速計の第4実施形態を示
す測定光学系の概略構成図。
す測定光学系の概略構成図。
【図8】図7に示された被測定流体の測定領域を示す拡
大図。
大図。
【図9】本発明に係るレーザ流速計の第5実施形態を示
す測定光学系の概略構成図。
す測定光学系の概略構成図。
【図10】図9に示された被測定流体の測定領域を示す
拡大図。
拡大図。
【図11】本発明に係るレーザ流速計の第6実施形態を
示す測定光学系の概略構成図。
示す測定光学系の概略構成図。
【図12】図11に示された被測定流体の測定領域を示
す拡大図。
す拡大図。
【図13】本発明に係るレーザ流速計の第7実施形態を
示す測定光学系の概略構成図。
示す測定光学系の概略構成図。
【図14】図13に示された被測定流体の測定領域を示
す拡大図。
す拡大図。
【図15】本発明に係るレーザ流速計の第8実施形態を
示す測定光学系の概略構成図。
示す測定光学系の概略構成図。
【図16】図15に示された被測定流体の測定領域を示
す拡大図。
す拡大図。
【図17】従来のレーザ流速計を示す概略構成図。
【図18】従来のレーザ流速計における被測定流体の測
定領域を示す拡大図。
定領域を示す拡大図。
3 被測定流体 3a 測定領域 11,11A,11B,11C,11D,11E,11
F,11G レーザ流速計 12a,12b 半導体レーザ 13a,13b コリメータレンズ(コリメータ) 14,14a,14b,24a,24b ビームスプリ
ッタ 15 集光レンズ(集光手段) 16,16A,16B,16C,16D 走査光学系 18a,18b 干渉フィルタ 19a,19b 集光レンズ 20a,20b 半導体受光素子 21,21A 反射光学系 22 測定光学系 23 信号処理器(信号処理手段) P 微粒子
F,11G レーザ流速計 12a,12b 半導体レーザ 13a,13b コリメータレンズ(コリメータ) 14,14a,14b,24a,24b ビームスプリ
ッタ 15 集光レンズ(集光手段) 16,16A,16B,16C,16D 走査光学系 18a,18b 干渉フィルタ 19a,19b 集光レンズ 20a,20b 半導体受光素子 21,21A 反射光学系 22 測定光学系 23 信号処理器(信号処理手段) P 微粒子
Claims (6)
- 【請求項1】 レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子
速度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度として
出力するレーザ流速計において、波長の異なるレーザ光
を出力する2つの半導体レーザと、上記半導体レーザか
ら出力されるレーザ光の拡がり角を小さくして平行光束
のレーザ光を形成するコリメータと、平行光束のレーザ
光の一方を2本のレーザ光に分割するビームスプリッタ
と、分割された2本のレーザ光と他方のレーザ光を、被
測定流体の測定領域に少なくとも3つの焦点として集光
させる集光手段と、前記測定領域の各焦点からの散乱レ
ーザ光を受光して電気信号を出力する光電変換手段と、
この光電変換手段からの信号出力に基づいて微粒子の流
れ方向および信号の時間間隔を測定し、測定された時間
間隔と前記各焦点間距離とから微粒子の流速を演算処理
する信号処理手段とを有し、上記信号処理手段で測定・
処理される微粒子の流れ方向と流速を被測定流体の流れ
方向および流速として設定したことを特徴とするレーザ
流速計。 - 【請求項2】 ビームスプリッタは、半導体レーザから
出力される波長λ1,λ2 のレーザ光の一方を分割し、
分割されたレーザ光と他方のレーザ光を集光手段で集束
させ、被測定流体の測定領域にλ1 ,λ1 ,λ2 または
波長λ2 ,λ2 ,λ1 の3つの焦点として集光させ、こ
れら3つの焦点からの散乱レーザ光を干渉フィルタを介
して光電変換手段に受光させた請求項1に記載のレーザ
流速計。 - 【請求項3】 ビームスプリッタは、半導体レーザから
出力される波長λ1,λ2 のレーザ光の一方を分割し、
分割されたレーザ光と他方のレーザ光を集光手段で集束
させ、被測定流体の測定領域にλ1 ,λ2 ,λ1 または
波長λ2 ,λ1 ,λ2 の3つの焦点として集光させ、こ
れら3つの焦点からの散乱レーザ光を干渉フィルタを介
して光電変換手段に受光させた請求項1に記載のレーザ
流速計。 - 【請求項4】 レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子
速度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度として
出力するレーザ流速計において、波長の異なるレーザ光
を出力する2つの半導体レーザと、上記半導体レーザか
ら出力されるレーザ光の拡がり角を小さくして平行光束
のレーザ光を形成するコリメータと、平行光束の各レー
ザ光をそれぞれ2本のレーザ光に分割するビームスプリ
ッタと、分割された4本のレーザ光を被測定流体の測定
領域に4つの焦点として集光させる集光手段と、前記測
定領域の4つの焦点からの散乱レーザ光を受光して電気
信号を出力する光電変換手段と、この光電変換手段から
の信号出力に基づいて微粒子の流れの方向および信号の
時間間隔を測定し、測定された時間間隔と各焦点間距離
とから微粒子の流速を演算処理する信号処理手段とを備
え、上記信号処理手段で測定・処理される微粒子の流れ
方向と流速を被測定流体の流れ方向および流速として設
定したことを特徴とするレーザ流速計。 - 【請求項5】 ビームスプリッタは、一方の半導体レー
ザから出力される波長λ1 のレーザ光を分割する第1ビ
ームスプリッタと、他方の半導体レーザから出力される
波長λ2 のレーザ光を分割する第2ビームスプリッタと
を有し、上記両ビームスプリッタで分割されたレーザ光
を集光手段により、被測定流体の測定領域に波長λ1 ,
λ1 ,λ2 ,λ2 または波長λ1 ,λ2 ,λ1 ,λ2 の
4つの焦点として集光させ、これら4つの焦点からの散
乱レーザ光を干渉フィルタを介して波長λ1 ,波長λ2
の2つの光電変換手段に受光させた請求項4記載のレー
ザ流速計。 - 【請求項6】 レーザ光を用いて被測定流体中の微粒子
の速度を測定し、この微粒子速度を被測定流体速度とし
て出力するレーザ流速計において、波長の異なる少なく
とも2本のレーザ光を出力するレーザ装置と、このレー
ザ装置から出力されたレーザ光のうち、少なくとも一方
のレーザ光を2本のレーザ光に分割するビームスプリッ
タと、このビームスプリッタで分割されたレーザ光およ
び他方のレーザ光を被測定流体の測定領域に少なくとも
3つの焦点として集光させる集光手段と、前記測定領域
の各焦点を通る微粒子からの散乱レーザ光を受光して電
気信号を出力する光電変換手段と、この光電変換手段か
らの信号出力に基づいて微粒子の流れの方向および時間
間隔を測定し、測定された時間間隔と各焦点間の距離と
から微粒子の流速を演算処理する信号処理手段とを有
し、上記信号処理手段で測定・処理される微粒子の流れ
方向と流速を被測定流体の流れ方向と流速として設定し
たことを特徴とするレーザ流速計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8655996A JPH09281134A (ja) | 1996-04-09 | 1996-04-09 | レーザ流速計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8655996A JPH09281134A (ja) | 1996-04-09 | 1996-04-09 | レーザ流速計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09281134A true JPH09281134A (ja) | 1997-10-31 |
Family
ID=13890380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8655996A Pending JPH09281134A (ja) | 1996-04-09 | 1996-04-09 | レーザ流速計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09281134A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101244290B1 (ko) * | 2011-07-13 | 2013-03-18 | 주식회사 엘티에스 | 레이저를 이용한 프릿 실링장치 |
| JP2018503083A (ja) * | 2014-12-22 | 2018-02-01 | コリア ユニバーシティ リサーチ アンド ビジネス ファウンデーションKorea University Research And Business Foundation | 流体速度測定装置 |
| JP2018503816A (ja) * | 2014-12-22 | 2018-02-08 | コリア ユニバーシティ リサーチ アンド ビジネス ファウンデーションKorea University Research And Business Foundation | 流体速度測定装置 |
| CN111693730A (zh) * | 2020-07-02 | 2020-09-22 | 德州尧鼎光电科技有限公司 | 用于近壁流速测量的光电流速仪及测速方法 |
-
1996
- 1996-04-09 JP JP8655996A patent/JPH09281134A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| EP3239720A4 (en) * | 2014-12-22 | 2018-05-30 | Intekbio Co., Ltd | Apparatus for measuring fluid velocity |
| US10502754B2 (en) | 2014-12-22 | 2019-12-10 | Intekbio Co., Ltd. | Apparatus for measuring fluid speed |
| CN111693730A (zh) * | 2020-07-02 | 2020-09-22 | 德州尧鼎光电科技有限公司 | 用于近壁流速测量的光电流速仪及测速方法 |
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