JPH09281538A

JPH09281538A - 補正光学装置、防振装置及び防振カメラ

Info

Publication number: JPH09281538A
Application number: JP8113011A
Authority: JP
Inventors: Koichi Washisu; 晃一鷲巣
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1996-04-11
Filing date: 1996-04-11
Publication date: 1997-10-31

Abstract

(57)【要約】【課題】装置を小型化したり、組立てを容易にして信
頼性を向上させる。【解決手段】補正光学系７４，７５の位置を検出する
位置検出手段を、フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙと該
フォトリフレクタと対向して配置される反射板１１ｐ，
１１ｙとにより構成すると共に、前記反射板を、その反
射面が前記補正光学系の移動方向と平行に配置し、前記
反射面に、前記フォトリフレクタの投射光を複数の反射
率で反射するパターン１１ｐａ，１１ｐｂ、１１ｙａ，
１１ａｙを形成した構成にしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、振れを補正する補
正光学系，該補正光学系を光軸と略垂直な方向に移動さ
せる駆動手段，前記補正光学系の位置を検出する位置検
出手段を有する補正手段を備えた補正光学装置や、該補
正光学装置を具備した防振装置や、沈胴機能を具備した
防振カメラの改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合せ等
の撮影にとって重要な作業は全て自動化されているた
め、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起す可能性は
非常に少なくなっている。

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影失敗を誘
発する要因は殆ど無くなってきている。

【０００４】ここで、手振れを防ぐシステムについて簡
単に説明する。

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタのレ
リーズ時点においてこのような手振れを起していても像
振れの無い写真を撮影可能とする為の基本的な考えとし
て、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検出
値に応じて補正レンズを変位させてやらなければならな
い。従って、カメラの振れが生じても像振れを生じない
写真を撮影できることを達成するためには、第１にカメ
ラの振動を正確に検出し、第２に手振れによる光軸変化
を補正することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度，角速度，角変位等を検出する振動
検出手段と、該センサの出力信号を電気的或は機械的に
積分して角変位を出力するカメラ振れ検出手段とをカメ
ラに搭載することによって行うことができる。そして、
この検出情報に基づいて撮影光軸を偏心させる補正光学
装置を駆動させることにより、像振れ抑制が可能とな
る。

【０００７】ここで、振動検出手段を用いた防振システ
ムについて、図２０を用いてその概要を説明する。

【０００８】図２０の例は、図示矢印８１方向のカメラ
縦振れ８１ｐ及び横振れ８１ｙに由来する像振れを抑制
するシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ振動、カメラ横振れ振動を検出す
る振動検出手段で、それぞれの振動検出方向を８４ｐ，
８４ｙで示してある。８５は補正光学装置（８６ｐ，８
６ｙは各々補正光学装置８５に推力を与えるコイル、８
６ｐ，８６ｙは補正手段８５の位置を検出する位置検出
素子）であり、該補正光学装置８５には後述する位置制
御ループを設けており、振動検出手段８３ｐ，８３ｙの
出力を目標値として駆動され、像面８８での安定を確保
する。

【００１０】図２１はかかる目的に好的に用いられる補
正光学装置（詳細は後述するが、補正手段や該補正手段
を支持したり、係止したりする手段より成る）の構造を
示す分解斜視図であり、以下図２２〜図３０を参照しつ
つ、この構造について説明する。

【００１１】地板７１（図２４に拡大図あり）の背面突
出耳７１ａ（３ケ所（１ケ所は隠れて見えない））は不
図示の鏡筒に嵌合し、公知の鏡筒コロ等が孔７１ｂにネ
ジ止めされ、鏡筒に固定される。

【００１２】磁性体であり光択メッキが施された第２ヨ
ーク７２は、孔７２ａを貫通するネジで地板７１の孔７
１ｃにネジ止めされる。又、第２ヨーク７２にはネオジ
ウムマグネット等の永久磁石（シフト用マグネット）７
３が磁気的に吸着されている。なお、各永久磁石７３の
磁化方向は図２０に図示した矢印７３ａの方向である。

【００１３】補正レンズ７４がＣリング等で固定された
支持枠７５（図２５に拡大図あり）にはコイル７６ｐ，
７６ｙ（シフト用コイル）がパッチン接着（強引に押し
込まれて接合された状態を意味する）され（図２５は未
接着）、又、ＩＲＥＤ等の投光素子７７ｐ，７７ｙも支
持枠７５の背面に接着され、スリット７５ａｐ，７５ａ
ｙを通してその射出光が後述するＰＳＤ等の位置検出素
子７８ｐ，７８ｙに入射する。

【００１４】支持枠７５の孔７５ｂ（３ケ所）にはＰＯ
Ｍ（ポリアセタール樹脂）等の先端球状の支持球７９
ａ，７９ｂ及びチャージバネ７１０が挿入され（図２２
及び図２４も参照）、支持球７９ａが支持枠７５に熱カ
シメされ固定される（支持球７９ｂはチャージバネ７１
０のバネ力に逆らって孔７５ｂの延出方向に摺動可能で
ある）。

【００１５】上記図２１は補正光学装置の組立後の横断
面図であり、支持枠７５の孔７５ｂに矢印７９ｃ方向に
支持球７９ｂ，チャージしたチャージバネ７１０，支持
球７９ａの順に挿入してゆき（支持球７９ａ，７９ｂは
同形状の部品）、最後に孔７５ｂの周端部７５ｃを熱カ
シメして支持球７９ａの抜け止めを行う。

【００１６】孔７５ｂの図２４と直交する方向の断面図
を図２３（ａ）に示し、又図２３（ａ）の断面図を矢印
７９ｃ方向より見た平面図を図２３（ｂ）に示してお
り、図２３（ｂ）の符合Ａ〜Ｄに示す範囲の深さを図２
３（ａ）のＡ〜Ｄに示す。

【００１７】ここで、支持球７９ａの羽根部７９ａａの
後端部は深さＡ面の範囲で受けられ規制される為、周端
部７５ａを熱カシメする事で支持球７９ａは支持枠７５
に固定される。

【００１８】支持球７９ｂの羽根部７９ｂａの先端部は
深さＢ面の範囲で受けられる為に、該支持球７９ｂがチ
ャージバネ７１０のチャージバネ力で孔７５ｂより矢印
７９ｃの方向に抜けてしまう事はない。

【００１９】勿論補正光学装置の組立が終了すると支持
球７９ｂは図２１に示す様に第２ヨーク７２に受けられ
る為、支持枠７５より抜け出る事はなくなるが、組立性
を考慮して抜け止め範囲Ｂ面を設けている。

【００２０】図２２及び図２３に示す支持枠７５の孔７
５ｂの形状は、該支持枠７５を成形で作る場合において
も複雑な内径スライド型を必要とせず、矢印７９ｃと反
対側に型を抜く単純な２分割型で成形可能な為、その分
寸法精度を厳しく設定出来る。

【００２１】この様に、支持球７９ａ，７９ｂが同一部
品となっている為に部品コストが下がるばかりでなく、
組立ミスが無く、部品管理上も有利である。

【００２２】上記支持枠７５の軸受部７５ｄには例えば
フッソ系のグリスを塗布し、ここにＬ字形の軸７１１
（非磁性のステンレス材）を挿入し（図２１参照）、Ｌ
字軸７１１の他端は地板７１に形成された軸受部７１ｄ
（同様にグリスを塗布し）に挿入し、３カ所の支持球７
９ｂを共に第２ヨーク７２に乗せて支持枠７５を地板７
１内に収める。

【００２３】次に、図２１に示す第１ヨーク７１２の位
置決め孔７１２ａ（３ケ所）を地板７１の図２３に示す
ピン７１ｆ（３ケ所）に嵌合させ、同じく図２４に示す
受け面７１ｅ（５ケ所）にて第１ヨーク７１２を受けて
地板７１に対し磁気的に結合する（永久磁石７３の磁力
により）。

【００２４】これにより、第１ヨーク７１２の背面が支
持球７９ａと当接し、図２２に示す様に支持枠７５は第
１ヨーク７１２と第２ヨーク７２にて挟持され、光軸方
向の位置決めが為される。

【００２５】支持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１
２，第２ヨーク７２の互いの当接面にもフッソ系グリス
が塗布してあり、支持枠７５は地板７１に対して光軸と
直交する平面内にて自由に摺動可能である。

【００２６】上記Ｌ字軸７１１は支持枠７５が地板７１
に対し矢印７１３ｐ，７１３ｙ方向にのみ摺動可能に支
持していることになり、これにより支持枠７５の地板７
１に対する光軸回りの相対的回転（ローリング）を規制
している。

【００２７】尚、前記Ｌ字軸７１１と軸受部７１ｄ，７
５ｄの嵌合ガタは光軸方向には大きく設定しており、支
持球７９ａ，７９ｂと第１ヨーク７１２，第２ヨーク７
２の挾持による光軸方向規制と重複嵌合してしまうこと
を防いでいる。

【００２８】前記第１ヨーク７１２の表面には絶縁用シ
ート７１４が被せられ、その上に複数のＩＣを有するハ
ード基板７１５（位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、出力増
幅用ＩＣ，コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用ＩＣ等）が位置
決め孔７１５ａ（２ケ所）を地板７１の図２５に示すピ
ン７１ｈ（２ケ所）に嵌合され、孔７１５ｂ，第１ヨー
ク７１２の孔７１２ｂとともに地板７１の孔７１ｇにネ
ジ結合される。

【００２９】ここで、ハード基板７１５には位置検出素
子７８ｐ，７８ｙが工具にて位置決めされて半田付けさ
れ、又信号伝達用のフレキシブル基板７１６も面７１６
ａがハード基板７１５の背面に破線で囲む範囲７１５ｃ
（図２１参照）に熱により圧着される。

【００３０】前記フレキシブル基板７１６から光軸と直
交する平面方向に一対の腕７１６ｂｐ，７１６ｂｙが延
出しており、各々支持枠７５の引っ掛け部７５ｅｐ，７
５ｅｙ（図２５参照）に引っ掛けられ、投光素子７７
ｐ，７７ｙの端子及びコイル７６ｐ，７６ｙの端子が半
田付けされる。

【００３１】これにより、ＩＲＥＤ等の投光素子７７
ｐ，７７ｙ、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動はハード基板
７１５よりフレキシブル基板７１６を介在して行われる
ことになる。

【００３２】前記フレキシブル基板７１６の腕部７１６
ｂｐ，７１６ｂｙ（図２５参照）には各々屈折部７１６
ｃｐ，７１６ｃｙを有しており、この屈折部の弾性によ
り支持枠７５が光軸と直交する平面内に動き回る事に対
する該腕部７１６ｂｐ，７１６ｂｙの負荷を低減してい
る。

【００３３】前記第１ヨーク７１２は型抜きによる突出
面７１２ｃを有し、該突出面７１２ｃは絶縁シート７１
４の孔７１４ａを通り、ハード基板７１５と直接接触し
ている。この接触面のハード基板７１５側にはアース
（ＧＮＤ：グランド）パターンが形成されており、ハー
ド基板７１５を地板にネジ結合する事で第１ヨーク７１
２はアースされ、アンテナになってハード基板７１５に
ノイズを与える事を無くしている。

【００３４】図２０に示すマスク７１７は地板７１のピ
ン７１ｈに位置決めされ、前記ハード基板７１５上に両
面テープにて固定される。

【００３５】前記地板７１には永久磁石貫通孔７１ｉ
（図２１，図２４参照）が開けられており、ここから第
２ヨーク７２の背面が露出している。そして、この貫通
孔７１ｉに永久磁石７１８（ロック用マグネット）が組
み込まれ、第２ヨーク７２と磁気結合している（図２２
参照）。

【００３６】ロックリング７１９（図２１，図２２，図
２６参照）にはコイル７２０（ロック用コイル）が接着
され、又ロックリング７１９の耳部７１９ａの背面には
軸受７１９ｂ（図２７参照）があり、アマーチュアピン
７２１（図２１参照）にアマーチュアゴム７２２を通
し、該アマーチュアピン７２１を軸受７１９ｂに通した
後、該アマーチュアピン７２１にアマーチュアバネ７２
３を通し、アマーチュア７２４に嵌入してカシメ固定す
る。

【００３７】従って、アマーチュア７２４はアマーチュ
アバネ７２３のチャージ力に逆らってロックリング７１
９に対し矢印７２５方向に摺動出来る。

【００３８】図２７は組立終了後の補正光学装置を、図
２１の背面方向から見た平面図であり、この図におい
て、ロックリング７１９の外径切り欠き部７１９ｃ（３
ケ所）を地板７１の内径突起７１ｊ（３ケ所）に合せて
ロックリング７１９を地板７１に押し込み、その後ロッ
クリングを時計方向に回して抜け止めを行う公知のバヨ
ネット結合により、ロックリング７１９は地板７１に取
り付いている。

【００３９】従って、ロックリング７１９は地板７１に
対し光軸回りに回転可能である。しかし、ロックリング
７１９が回転して再びその切り欠き７１９ｃが突起７１
ｊと同位相になり、バヨネット結合が外れてしまうのを
防ぐ為にロックゴム７２６（図２１，図２７参照）を地
板７１に圧入して、該ロックリング７１９がロックゴム
７２６に規制される切り欠き部７１９ｄの角度θ（図２
７参照）しか回転出来ない様に回転規制している。

【００４０】磁性体のロック用ヨーク７２７（図２１参
照）にも永久磁石７１８（ロック用マグネット）が取り
付けられ、その孔７２７ａ（２ケ所）を地板７１のピン
７１ｋ（図２７参照）に嵌合して嵌め込み、孔７２７ｂ
（２ケ所）と７１ｎ（２ケ所）によりねじ結合してい
る。

【００４１】地板７１側の永久磁石７１８とロック用ヨ
ーク７２７側の永久磁石７１８、及び、第２のヨーク７
２，ロック用ヨーク７２７により、公知の閉磁路を形成
している。

【００４２】又、前記ロックゴム７２６はロック用ヨー
ク７２７がネジ結合される事で抜け止めされる。尚、図
２７においては上記の説明の為にロックヨーク７２７は
省いて図示している。

【００４３】前記ロックリング７１９のフック７１９ｅ
と地板７１のフック７１ｍ間（図２７参照）にはロック
バネ７２８が掛けられており、ロックリング７１９を時
計まわりに付勢している。吸着ヨーク７２９（図２１，
図２７参照）には吸着コイル７３０が差し込まれ、地板
７１の孔７２９ａによりネジ結合される。

【００４４】コイル７２０の端子及び吸着コイル７３０
の端子は、例えば４本縒り線のテトロン被覆線のツイス
トペア構成にしてフレキシブル基板７１６の幹部７１６
ｄに半田付けされる。

【００４５】以上説明した補正光学装置の機構部は大別
すると、光軸を偏心させる補正手段と、該補正手段を支
持する支持手段と、前記補正手段を係止する係止手段の
３つの要素で構成されている。

【００４６】前記補正手段は、レンズ７４、支持枠７
５、コイル７６ｐ，７６ｙ、ＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ、
位置検出素子７８ｐ，７８ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１
ｙ、支持球７９ａ，７９ｙ、チャージバネ７１０、支持
軸７１１で組み立てられている。また、支持手段は、地
板７１、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７
１２で組み立てられている。又係止手段は、永久磁石７
１８、ロックリング７１９、コイル７２０、アーマチュ
ア軸７２１、アーマチュアゴム７２２、アーマチュアバ
ネ７２３、アーマチュア７２４、ロックゴム７２６、ヨ
ーク７２７、ロックバネ７２８、吸着ヨーク７２９、吸
着コイル７３０で組み立てられている。

【００４７】また、前記補正手段を構成するうちの、レ
ンズ７４、支持枠７５により補正光学系を成し、ＰＳＤ
７８ｐ，７９ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ、ＩＲＥＤ７
７ｐ，７７ｙが位置検出手段を成し、コイル７６ｐ，７
６ｙ、第２ヨーク７２、永久磁石７３、第１ヨーク７１
２が駆動手段を成す。つまり、補正手段は、補正光学
系，位置検出手段，前記補正光学系を駆動する駆動手段
を主たる構成要素として成るものである。

【００４８】そして、前記補正光学装置と振動検出手段
（図２０参照）等により、防振システム（防振装置）が
構成される。

【００４９】前記ハード基板７１５上のＩＣ７３１ｐ，
７３１ｙは各々位置検出端子７８ｐ，７８ｙの出力増幅
用のＩＣであるが、その内部構成は図２３の様になって
いる（ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは同構成の為、ここでは
７３１ｐのみ示す）。

【００５０】図１３において、電流−電圧変換アンプ７
３１ａｐ，７３１ｂｐは投光素子７７ｐにより位置検出
素子７８ｐ（抵抗Ｒ１，Ｒ２より成る）に生じる光電流
７８ｉ１ｐ，７８ｉ２ｐを電圧に変換し、差動アンプ７
３１ｃｐは各電流−電圧変換アンプ７３１ａｐ，７３１
ｂｐの差出力を求め増幅している。

【００５１】投光素子７７ｐ，７７ｙの射出光は、前述
した通り、スリット７５ａｐ，７５ａｙを経由して位置
検出素子７８ｐ，７８ｙ上に入射するが、支持枠７５が
光軸と垂直な平面内で移動すると位置検出素子７８ｐ，
７８ｙへの入射位置が変化する。

【００５２】前記位置検出素子７８ｐは矢印７８ａｐ方
向（図２１参照）に感度を持っており、又スリット７５
ａｐは矢印７８ａｐとは直交する方向（７８ａｙ方向）
に光束が拡がり、矢印７８ａｐ方向には光束が絞られる
形状をしている為、支持枠７５が矢印７１３ｐ方向に動
いた時のみ該位置検出素子７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，
７８ｉ₂ ｐのバランスは変化し、差動アンプ７３１ｃｐ
は支持枠７５の矢印７１３ｐ方向に応じた出力をする。

【００５３】又位置検出素子７８ｙは矢印７８ａｙ方向
（図２１参照）に検出感度を持ち、スリット７５ａｙは
矢印７８ａｙとは直交する方向（７８ａｐ方向）に延出
する形状の為に、支持枠７５が矢印７１３ｙ方向に動い
た時のみ該位置検出素子７８ｙは出力を変化させる。

【００５４】加算アンプ７３１ｄｐは電流−電圧変換ア
ンプ７３１ａｐ，７３１ｂｐの出力の和（位置検出素子
７８ｐの受光量総和）を求め、この信号を受ける駆動ア
ンプ７３１ｅｐはこれに従って投光素子７７ｐを駆動す
る。

【００５５】上記投光素子７７ｐは温度等に極めて不安
定にその投光量が変化する為、それに伴い位置検出素子
７８ｐの光電流７８ｉ₁ ｐ，７８ｉ₁ ｐの絶対量（７８
ｉ₁ｐ＋７８ｉ₂ ｐ）が変化する。その為、支持枠７５
の位置を示す（７８ｉ₁ ｐ−７８ｉ₂ ｐ）である差動ア
ンプ７３１ｃｐの出力も変化してしまう。

【００５６】しかし、上記の様に受光量の総和が一定と
なる様に前述の駆動回路によって投光素子７７ｐを制御
すれば、差動アンプ７３１ｃｐの出力変化が無くなる。

【００５７】図２１に示すコイル７６ｐ，７６ｙは永久
磁石７３，第１のヨーク７１２，第２のヨーク７２で形
成される閉磁路内に位置し、コイル７６ｐに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｐ方向に駆動され（公知の
フレミングの左手の法則）、コイル７６ｙに電流を流す
事で支持枠７５は矢印７１３ｙ方向に駆動される。

【００５８】一般に位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙで増幅し、その出力でコイル
７６ｐ，７６ｙを駆動すると、支持枠７５が駆動されて
位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が変化する構成とな
る。

【００５９】ここで、コイル７６ｐ，７６ｙの駆動方向
（極性）を位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力が小さく
なる方向に設定すると（負帰還）、該コイル７６ｐ，７
６ｙの駆動力により位置検出素子７８ｐ，７８ｙの出力
がほぼ零になる位置で支持枠７５は安定する。

【００６０】この様に位置検出出力を負帰還して駆動を
行う手法を位置制御手法と云い、例えば外部から目標値
（例えば手振れ角度信号）をＩＣ７３１ｐ，７３１ｙに
混合させると、支持枠７５は目標値に従って極めて忠実
に駆動される。

【００６１】実際には差動アンプ７３１ｃｐ，７３１ｃ
ｙの出力はフレキシブル基板７１６を経由して不図示の
メイン基板に送られ、そこでアナログ−ディジタル変換
（Ａ／Ｄ変換）が行われ、マイコンに取り込まれる。

【００６２】マイコン内では適宜目標値（手振れ角度信
号）と比較増幅され、公知のディジタルフィルタ手法に
よる位相進み補償（位置制御をより安定させる為）が行
われた後、再びフレキシブル基板７１６を通り、ＩＣ７
３２（コイル７６ｐ，７６ｙ駆動用）に入力する。ＩＣ
７３２は入力される信号を基に前記コイル７６ｐ，７６
ｙを公知のＰＷＭ（パルス幅変調）駆動を行い、支持枠
７５を駆動する。

【００６３】支持枠７５は前述した様に矢印７１３ｐ，
７１３ｙ方向に摺動可能であり、上述した位置制御手法
により位置を安定させている訳であるが、カメラ等の民
生用光学機器においては電源消耗防止の観点からも常に
該支持枠７５を制御しておく事は出来ない。

【００６４】また、支持枠７５は非制御状態時には光軸
と直交する平面内にて自由に動き回る事が出来る様にな
る為、その時のストローク端での衝突の音発生や損傷に
対しても対策しておく必要がある。

【００６５】図２５及び図２７に示す様に支持枠７５の
背面には３ケ所の放射状に突出した突起７５ｆを設けて
あり、図２７に示す様に突起７５ｆの先端がロックリン
グ７１９の内周面７１９ｇに嵌合している。従って、支
持枠７５は地板７１に対して全ての方向に拘束されてい
る。

【００６６】図２９（ａ），（ｂ）はロックリング７１
９と支持枠７５の動作の関係を示す平面図であり、図２
７の平面図から要部のみ抜出した図である。尚、説明を
解り易くする為に実際の組立状態とは若干レイアウトを
変化させている。又、図２８（ａ）のカム部７１９ｆ
（３ケ所）は、図２２，図２６に示す通り、ロックリン
グ７１９の円筒の母線方向全域に渡って設けられている
訳ではないので図２９の方向からは実際には見えない
が、説明の為に図示している。

【００６７】図２２に示した通り、コイル７２０（７２
０ａは図示しないフレキシブル基板等でロックリング７
１９の外周を通り、端子７１９ｈよりフレキシブル基板
７１６の幹部７１６ｄ上の端子７１６ｅに接続される４
本縒り線の引き出し線）は永久磁石７１８で挟まれた閉
磁路内に入っており、コイル７２０に電流を流す事でロ
ックリング７１９を光軸回りに回転させるトルクを発生
する。

【００６８】このコイル７２０の駆動も不図示のマイコ
ンからフレキシブル基板７１６を介してハード基板７１
５上の駆動用ＩＣ７３３に入力する指令信号で制御さ
れ、ＩＣ７３３はコイル７２０をＰＷＭ駆動する。

【００６９】図２７（ａ）において、コイル７２０に通
電するとロックリング７１９に反時計回りのトルクが発
生する様にコイル７２０の巻き方向が設定されており、
これによりロックリング７１９はロックバネ７２８のバ
ネ力に逆らって反時計方向に回転する。

【００７０】尚、ロックリング７１９は、コイル７２０
に通電前はロックバネ７２８の力によりロックゴム７２
６に当接して安定している。

【００７１】ロックリング７１９が回転すると、アマー
チュア７２４が吸着ヨーク７２９に当接してアマーチュ
アバネ７２３を縮め、吸着ヨーク７２９とアマーチュア
７２４の位置関係をイコライズしてロックリング７１９
は図２９（ｂ）の様に回転を止める。

【００７２】図３０はロックリング駆動のタイミングチ
ャートである。

【００７３】図３０の矢印７１９ｉでコイル７２０に通
電（７２０ｂに示すＰＷＭ駆動）すると同時に吸着マグ
ネット７３０にも通電（７３０ａ）する。その為、吸着
ヨーク７２９にアマーチュア７２４が当接し、イコライ
ズされた時点でアマーチュア７２４は吸着ヨーク７２９
に吸着される。

【００７４】次に、図３０の７２０ｃに示す時点でコイ
ル７２０への通電を止めると、ロックリング７１９はロ
ックバネ７２８の力で時計回りに回転しようとするが、
上述した様にアマーチュア７２４が吸着ヨーク７２９に
吸着されている為、回転は規制される。この時、支持枠
７５の突起７５ｆはカム部７１９ｆと対向する位置に在
る（カム部７１９ｆが回転して来る）為、支持枠７５は
突起７５ｆとカム部７１９ｆの間のクリアランス分だけ
動ける様になる。

【００７５】この為、重力Ｇ（図２９（ｂ）参照）の方
向に支持枠７５が落下する事になるが、図３０の矢印７
１９ｉの時点で支持枠７５も制御状態にする為、落下す
る事は無い。

【００７６】支持枠７５は非制御時はロックリング７１
９の内周で拘束されているが、実際には突起７５ｆと内
周壁７１９ｇの嵌合ガタ分だけガタを有する。即ち、こ
のガタ分だけ支持枠７５は重力Ｇ方向に落ちており、支
持枠７５の中心と地板７１の中心がずれている事にな
る。

【００７７】その為、矢印７１９ｉの時点から例えば１
秒費やしてゆっくり地板７１の中心（光軸の中心）に移
動させる制御をしている。

【００７８】これは急激に中心に移動させると補正レン
ズ７４を通して像の揺れを撮影者が感じて不快である為
であり、この間に露光が行われても、支持枠７５の移動
による像劣化が生じない様にする為である。（例えば１
／８秒で支持枠を５μｍ移動させる）詳しくは、図３０の矢印７１９ｉ時点での位置検出素子
７８ｐ，７８ｙの出力を記憶し、その値を目標値として
支持枠７５の制御を始め、その後１秒間費やしてあらか
じめ設定した光軸中心の時の目標値に移動してゆく（図
３０の７５ｇ参照）。

【００７９】ロックリング７１９が回転され（アンロッ
ク状態）た後、振動検出手段からの目標値を基にして
（前述した支持枠７５の中心位置移動動作に重なって）
支持枠７５が駆動され、防振が始まる事になる。

【００８０】ここで、防振を終わる為に矢印７１９ｊの
時点で防振オフにすると、振動検出手段からの目標値が
補正手段を駆動する補正駆動手段に入力されなくなり、
支持枠７５は中心位置に制御されて止まる。この時に吸
着コイル７３０への通電を止める（７３０ｂ）。する
と、吸着ヨーク７２９によるアマーチュア７２４の吸着
力が無くなり、ロックリング７１９はロックバネ７２８
により時計回りに回転され、図２９（ａ）の状態に戻
る。この時、ロックリング７１９はロックゴム７２６に
当接して回転規制される為に回転終了時の該ロックリン
グ７１９の衝突音は小さく抑えられる。

【００８１】その後（例えば２０ｍｓｅｃ後）、補正駆
動手段への制御を断ち、図３０のタイミングチャートは
終了する。

【００８２】図３１及び図３２は防振システムの概要を
示すブロック図である。

【００８３】これらの図において、９１は図３０の振動
検出手段８３ｐ，８３ｙに相当する振動検出手段であ
り、振動ジャイロ等の角速度を検出する振れ検出センサ
と該振れ検出センサ出力のＤＣ成分をカットした後に積
分して角変位を得るセンサ出力演算手段より構成され
る。

【００８４】この振動検出手段９１からの角変位信号は
目標値設定手段９２に入力される。この目標値設定手段
９２は、図３１に示す様に、可変差動増幅器９２ａとサ
ンプルホールド回路９２ｂより構成されており、サンプ
ルホールド回路９２ｂは常にサンプル中の為に可変差動
増幅器９２ａに入力される両信号は常に等しく、その出
力はゼロである。しかし、後述する遅延手段９３からの
出力にて前記サンプルホールド回路９２ｂがホールド状
態になると、可変差動増幅器９２ａはその時点をゼロと
して連続的に出力を始める。

【００８５】可変差動増幅器９２ａの増幅率は防振敏感
度設定手段９４の出力により可変になっている。何故な
らば、目標値設定手段９２の目標値信号は補正手段９１
０を追従させる目標値（指令信号）であるが、該補正手
段９１０の駆動量に対する像面の補正量（防振敏感度）
はズーム，フォーカス等の焦点変化に基づく光学特性に
より変化するために、その防振敏感度変化を補う為であ
る。

【００８６】従って、防振敏感度設定手段９４は、図３
１に示す様に、ズーム情報出力手段９５からのズーム焦
点距離情報と露光準備手段９６の測距情報に基づくフォ
ーカス焦点距離情報が入力されており、その情報を基に
防振敏感度を演算あるいはその情報を基にあらかじめ設
定した防振敏感度情報を引き出して、目標値設定手段９
２内の可変差動増幅器９２ａの増幅率を変更させる。

【００８７】補正駆動手段９７は、図２１のハード基板
７１５上に実装されたＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ，７３２
に相当し、目標値設定手段９２からの目標値が指令信号
として入力される。

【００８８】補正起動手段９８は、図２１のハード基板
７１５上のＩＣ７３２と補正手段９１０に具備されたコ
イル７６ｐ，７６ｙの接続を制御するスイッチであり、
図３２に示す様に、通常時はスイッチ９８ａを端子９８
ｃに接続させておく事でコイル７６ｐ，７６ｙの各々の
両端を短絡しておき、論理積手段９９の信号が入力され
るとスイッチ９８ａを端子９８ｂに接続し、補正手段９
１０を制御状態（未だ振れ補正は行わないが、コイル７
６ｐ，７６ｙに電力を供給し、位置検出素子７８ｐ，７
８ｙの信号がほぼゼロになる位置に補正手段９１０を安
定させておく）にする。又この時同時に論理積手段９９
の出力信号は係止手段９１４にも入力され、これにより
係止手段９１４は補正手段９１０の係止を解除する。

【００８９】尚、補正手段９１０はその位置検出素子７
８ｐ，７８ｙの位置信号を補正駆動手段９７に入力し、
前述した様に位置制御を行っている。

【００９０】論理積手段９９はレリーズ手段９１１のレ
リーズ半押しＳＷ１信号と防振切換手段９１２の出力信
号の両信号が入力された時に、その構成要素であるアン
ドゲード９９ａ（図３１参照）が信号を出力する。つま
り、図３１に示す様に、防振切換手段９１２の防振スイ
ッチを撮影者が操作し、且つレリーズ手段９１１でレリ
ーズ半押しを行った時に補正手段９１０は係止解除さ
れ、制御状態になる。

【００９１】レリーズ手段９１１のＳＷ１信号は、図３
１に示す様に、露光準備手段９６に入力され、これによ
り測光，測距，レンズ合焦駆動が行われ、ここで得られ
たフォーカス情報が防振敏感度設定手段９４に入力され
る。

【００９２】遅延手段９３は論理積手段９９の出力信号
を受けて、例えば１秒後に出力して前述した様に目標値
設定手段９２より目標値信号を出力させる。

【００９３】図示していないが、レリーズ手段９１１の
ＳＷ１信号に同期して振動検出手段９１も起動を始め
る。そして、前述した様に積分器等、大時定回路を含む
センサ出力演算は起動から出力が安定する迄に、ある程
度の時間を要する。

【００９４】前記遅延手段９３は前記振動検出手段９１
の出力が安定する迄待機した後に、補正手段９１０へ目
標値信号を出力させる役割を演じ、振動検出手段９１の
出力が安定してから防振を始める構成にしている。

【００９５】露光手段９１３はレリーズ手段９１１のレ
リーズ押切りＳＷ２信号入力によりミラーアップを行
い、露光準備手段９６の測光値を基に求められたシャッ
タスピードでシャッタを開閉して露光を行い、ミラーダ
ウンして撮影を終了する。

【００９６】撮影終了後、撮影者がレリーズ手段９１１
から手を離し、ＳＷ１信号をオフにすると、論理積手段
９９は出力を止め、目標値設定手段９２のサンプルホー
ルド回路９２ｂはサンプリング状態になり、可変差動増
幅器９２ａの出力はゼロになる。従って、補正手段９１
０は補正駆動を止めた制御状態に戻る。

【００９７】論理積手段９９の出力がオフになった事に
より、係止手段９１４は補正手段９１０を係止し、その
後に補正起動手段９８のスイッチ９８ａは端子９８ｃに
接続され、補正手段９１０は制御されなくなる。

【００９８】振動検出手段９１は、不図示のタイマによ
り、レリーズ手段９１１の操作が停止された後も一定時
間（例えば５秒）は動作を継続し、その後に停止する。
これは、撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き続き
レリーズ操作を行う事は頻繁にあるわけで、その様な時
に毎回振動検出手段９１を起動するのを防ぎ、その出力
安定迄の待機時間を短くする為であり、振動検出手段９
１が既に起動している時には該振動検出手段９１は起動
既信号を遅延手段９３に送り、その遅延時間を短くして
いる。

【００９９】図３３は、上記の動作をマイクロコンピュ
ータにより処理した場合の一連の動作を示すフローチャ
ートであり、以下これに従って簡単に説明する。

【０１００】カメラに電源が投入されると、マイクロコ
ンピュータは、まず防振スイッチの状態を調べ、オンで
あれば次にレリーズ半押し信号ＳＷ１が発生しているか
否かを判別する（＃５００１→＃５００２）。レリーズ
半押し信号ＳＷ１が発生していれば、内部タイマをスタ
ートさせ（＃５００３）、次に測光，測距動作、振れ検
出の開始、更には補正手段９１０による防振制御を可能
にする為にその係止解除を行う（＃５００４）。

【０１０１】次に、上記タイマでの計時内容が所定の時
間ｔ１に達したか否かを調べ、達していなければ達する
までこのステップに留まる（＃５００５）。これは、前
述した様にセンサ出力が安定するまでの時間待機する為
の処理である。その後、所定の時間ｔ１が経過すると、
目標値信号に基づいて補正手段９１０を駆動し、防振制
御を開始する（＃５００６）。

【０１０２】次に、レリーズ押切り信号ＳＷ２が発生し
ているか否かを調べ（＃５００７）、発生していなけれ
ば再びレリーズ半押し信号ＳＷ１が発生しているか否か
の判別を行い、もしレリーズ半押し信号も発生していな
ければ（＃５００８のＮＯ）、防振制御を停止すると共
に、補正手段９１０を所定の位置に係止する（＃５０１
１→＃５０１２）。

【０１０３】また、レリーズ押切り信号ＳＷ２は発生し
ていないが、レリーズ半押し信号は発生していれば、ス
テップ＃５００７→＃５００８→＃５００７……の動作
を繰り返す。この状態時にレリーズ押切り信号ＳＷ２が
発生すると（＃５００７のＹＥＳ）、フィルムへの露光
動作を行う（＃５００９）。そして、レリーズ半押し信
号ＳＷ１の状態を調べ（＃５０１０）、該信号が発生し
なくなったら防振制御を停止すると共に、補正手段９１
０を所定の位置に係止する（＃５０１１→＃５０１
２）。

【０１０４】以上の動作を終了すると、次に上記タイマ
を一旦リセットして再度スタートさせ（＃５０１３）、
再びレリーズ半押し信号ＳＷ１が所定時間内（ここでは
５秒以内）に発生するかどうかの判別を行う（＃５０１
４→＃５０１５→＃５０１４……）。もし防振を停止し
てから５秒以内に再度レリーズ半押し信号ＳＷ１が発生
したならば（＃５０１５のＹＥＳ）、測光，測距動作及
び補正手段９１０の係止解除を行い（＃５０１６）、振
れ検出はそのまま継続されているので、直ちに目標値信
号に基づいて補正手段９１０の駆動制御を行い（＃５０
０６）、以下前述と同様の動作を繰り返す。

【０１０５】つまり、この様な処理をすることにより、
前述した様に撮影者がレリーズ操作を停止した後に引き
続きレリーズ操作をした際に、その度に振動検出手段９
１を起動してその出力安定迄待機するといった不都合を
無くすことが可能になる。

【０１０６】一方、防振を停止してから５秒以内にレリ
ーズ半押し信号ＳＷ１が発生しなかった場合は（＃５０
１４のＹＥＳ）、振れ検出を停止（振動検出手段９１の
駆動を停止）する（＃５０１７）。その後はステップ＃
５００１に戻り、防振スイッチのオン待機の状態に入
る。

【０１０７】

【発明が解決しようとする課題】以上説明した防振シス
テムにおいて、補正光学装置の機構は複雑で、組立ても
煩雑であり、コンパクトになり難い要素である。

【０１０８】その１つの原因は、補正光学系、つまりは
補正手段の位置を検出する位置検出手段の構成にある。
つまり、この位置検出手段は、前述した様にハード基板
７１５に取り付けられるＰＳＤ等の位置検出素子７８
ｐ，７８ｙ、ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙ及び支持枠７５に
取り付けられる投光素子であるＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ
で構成されており、これら位置検出素子７８ｐ，７８ｙ
及びＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは大型である為、ハード基
板７１５が大型になってしまう事、又、ＩＲＥＤ７７
ｐ，７７ｙを取り付ける為に支持枠７５も大きくする必
要がある事、そしてＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙへの給電の
為にフレキシブル基板腕部７１６ｐ，７１６ｙも太くす
る必要がある事、更に位置検出素子７８ｐ，７８ｙとＩ
ＲＥＤ７７ｐ，７７ｙが別の部材に取り付けられている
為に一度に半田付け出来ない事が原因になって、コンパ
クトに出来ず、防振システムを使い難くしている。又、
組立てが煩雑な為に信頼性を低くしている。

【０１０９】（発明の目的）本発明の第１の目的は、該
装置を小型化したり、組立てを容易にして信頼性を向上
させることのできる補正光学装置を提供することにあ
る。

【０１１０】本発明の第２の目的は、常に防振性能を高
精度に維持することのできる補正光学装置、防振装置及
び防振カメラを提供することにある。

【０１１１】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、請求項１記載の本発明は、振れを補正する補
正光学系，該補正光学系を光軸と略垂直な方向に移動さ
せる駆動手段，前記補正光学系の位置を検出する位置検
出手段を有する補正手段を備えた補正光学装置におい
て、前記位置検出手段を、フォトリフレクタと該フォト
リフレクタと対向して配置される反射板とにより構成す
ると共に、前記反射板を、その反射面が前記補正光学系
の移動方向と平行に配置し、前記反射面に、前記フォト
リフレクタの投射光を複数の反射率で反射するパターン
を形成した構成にしている。

【０１１２】更に詳述すると、位置検出手段を、小型で
あり且つ投光阻止を内蔵しているフォトリフレクタと、
反射面が位置検出方向（補正光学系の移動方向と平行な
方向）となるように配置された反射板とにより構成し、
大型化を招く位置検出手段を小型にしている。

【０１１３】同じく上記第１の目的を達成するために、
請求項８記載の本発明は、反射板を、駆動手段上に配置
し、反射板を配置する為の新たなスペースを不要にし、
大型化を招く位置検出手段を小型にしている。

【０１１４】また、上記第２の目的を達成するために、
請求項２〜５記載の本発明は、フォトリフレクタの投射
光を複数の反射率で反射するパターンを、少なくとも三
つの反射率を有する濃淡色パターンとしたり、濃と淡の
境界部に中間色パターンを形成したり、濃と淡の境界部
をぼかしたり、ドットの大きさにより濃淡を形成したド
ットパターンとしている。

【０１１５】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項６及び７記載の本発明は、フォトリフレクタの投
射光を複数の反射率で反射するパターンの境界面を、補
正光学系の移動方向と略直交する方向としたり、反射板
の反射面を、補正光学系の移動方向と直交する方向を長
手方向して、補正光学系の移動方向の干渉を防ぐように
している。

【０１１６】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項９記載の本発明は、温度検出手段と、位置検出手
段の出力感度を、前記温度検出手段の出力に基づいて補
償する温度補償手段とを設け、温度により出力変動の大
きいフォトリフレクタの出力精度を向上させるようにし
ている。

【０１１７】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項１０〜１４記載の本発明は、該防振装置もしくは
該防振装置が搭載される光学機器の周囲温度に応じて、
防振特性を変更する特性変更手段を設け、前記特性変更
手段を、該防振装置の周波数特性を変更する手段、詳し
くは、周囲温度が高い場合は、該防振装置の振れ補正周
波数帯域を高域側に延ばす手段としたり、又、該防振装
置の振れ抑圧比を変更する手段、詳しくは、周囲温度が
高い場合は、該防振装置の振れ抑圧比を最適値より高く
する手段として、温度による位置検出手段の感度変化や
手振れ特性の変化に伴う補正光学装置の性能劣化を防ぐ
ようにしている。

【０１１８】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項１５及び１６記載の本発明は、特性変更手段によ
る該防振装置の特性切換えを、複数段階に分けて行う応
答緩衝手段を設けたり、特性変更手段による該防振装置
の特性切換えを、防振動作前に行う出力ホールド手段を
設けたりして、急激な特性切換えによる像変化を目立た
なくするようにしている。

【０１１９】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項１７記載の本発明は、特性変更手段による該防振
装置の特性切換えを、該防振装置が搭載される撮影装置
の撮影中には禁止する特性切換禁止手段を設け、特性切
換えによる像劣化が撮影に影響をしないようにしてい
る。

【０１２０】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項１８記載の本発明は、振れを補正する補正手段
と、該補正手段を所定の位置に係止する係止手段とを備
えた防振装置であって、前記係止手段による前記補正手
段の係止状態より、該補正手段の振れ補正時の駆動中心
を算出する中心値算出手段を設け、環境により変化し易
い位置検出手段を用いた時でも、その出力変動を補正し
て、防振を行うようにしている。

【０１２１】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項１９記載の本発明は、中心値算出手段を、補正手
段の振れ補正開始前に動作する手段とし、振れが中心値
算出に影響してしまうことを防ぎ、精度良い中心値を求
めるようにしている。

【０１２２】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項２０記載の本発明は、補正手段を、係止手段によ
り係止された状態においてその係止ガタ範囲内で駆動
し、中心値算出手段を、前記係止ガタ範囲内での駆動時
における前記補正手段の位置を検出する位置検出手段の
複数の出力の所望混合比により、振れ補正時の駆動中心
を算出する手段とし、係止ガタのある係止手段でも、精
度の良い中心値を求めるようにしている。

【０１２３】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項２１記載の本発明は、中心値算出手段を、補正手
段の振れ補正動作より前に、該補正手段の係止，非係止
の状態に拘わらず該補正手段の係止方向に係止手段を駆
動し、振れ補正時の駆動中心を算出する手段とし、補正
手段が係止されていないまま、中心値を算出してしまう
ことを防ぐようにしている。

【０１２４】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項２２記載の本発明は、補正光学系の補正範囲を制
限する制限手段と、前記補正光学系を前記制限手段によ
り制限される補正範囲全域に渡り駆動させ、その時の前
記位置検出手段の出力状態より該位置検出手段の検出感
度を算出する感度算出手段とを設け、位置検出手段の感
度較正を行い、その感度変化を補正して防振を行うよう
にして防振精度を高めている。

【０１２５】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項２３記載の本発明は、制限手段の制限範囲は可変
であり、少なくとも感度算出手段の動作時と振れ補正時
の制限範囲を異ならせ、位置検出手段の感度直線性の高
い範囲でのみ感度算出を行い、正確な感度較正を行うよ
うにしている。

【０１２６】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項２４〜２６記載の本発明は、位置検出手段の起動
開始からの出力変動量を求める出力変動設定手段と、該
出力変動手段の出力を基に位置検出手段の出力を補正す
る出力補正手段とを設け、前記出力変動設定手段を、前
記位置検出手段の起動開始からの出力変動を予め記録し
た手段としたり、位置検出手段の起動開始から一定期間
の間の前記位置検出手段の出力状態を基に出力変動量を
予測する手段とし、起動直後の出力うねりを有する位置
検出手段の出力を補正して、防振を行うようにしてい
る。

【０１２７】同じく上記第２の目的を達成するために、
請求項２７記載の本発明は、振れを補正する補正手段
と、該補正手段を所定の位置に係止する係止手段とを備
え、メインスイッチのオンで鏡筒部を繰り出し、前記メ
インスイッチのオフ或いは非操作状態が一定期間継続す
ることで前記鏡筒部を繰り込む沈胴機構を持つ防振カメ
ラであって、前記係止手段を前記沈胴機構に連結して、
前記沈胴部の繰り込み時に前記補正手段を係止する連結
機構と、前記鏡筒部の繰り込み時或いは繰り出し完了前
の前記位置検出手段の出力状態より、前記補正手段の制
御状態を補正する制御補正手段とを設け、単純な機構で
補正手段の動作の誤差分を補正するようにしている。

【０１２８】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【０１２９】図１は本発明の実施の第１の形態に係る補
正手段の斜視図であり、この補正手段を含む補正光学装
置の構成は、図２０等で説明した従来の補正光学装置と
基本的には変わりは無いので、その図示は省略する。

【０１３０】但し、従来例のＰＳＤ等の位置検出素子７
８ｐ，７８ｙ、投光素子であるＩＲＥＤ７７ｐ，７７ｙ
及び位置検出素子出力増幅用ＩＣ７３１ｐ，７３１ｙは
省いている。そして、代りにコイル７６ｐ，７６ｙのほ
ぼ中央に反射板１１ｐ，１１ｙを設け、その反射面に対
向してフォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙを不図示のハー
ド基板７１５上に設けた構成にしている。尚、図１では
解り易くする為に、反射板１１ｐ，１１ｙとフォトリフ
レクタ１２ｐ，１２ｙの対向ギャップは広くしてある
が、実際にはこのギャップは例えば0.5 ｍｍ位に狭くし
てあり、装置の大型化を防いでいる。

【０１３１】前記反射板１１ｐ，１１ｙの反射面には暗
パターン１１ｐａ，１１ｙａと明パターン１１ｐｂ，１
１ｙｂが矢印７３１ｐ，７３１ｙの方向と直交する境界
線を設けて印刷されており、フォトリフレクタ１２ｐ，
１２ｙより投射された光はこのいずれかのパターンで反
射され、再びフォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙに入射さ
れる。そして、この入射光は上記明暗パターンの反射率
の違いにより強弱の差となって表れ、これによりフォト
リフレクタ１２ｐ，１２ｙの出力が変化する。反射板１
１ｐ，１１ｙはコイル７６ｐ，７６ｙ上に取り付けられ
ている為、補正光学系（レンズ７４及び支持枠７５より
成る）の振れ補正駆動に応じて矢印７３１ｐ，７３１ｙ
の方向に移動する。フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙの
出力はこの反射板１１ｐ，１１ｙの移動方向に伴って変
化する為、この出力は補正光学系、つまりは補正手段の
位置を検出している事になる。

【０１３２】従って、従来の位置検出素子ＰＳＤ７８
ｐ，７８ｙの代わりにフォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙ
を用いても、補正手段を駆動制御する事が可能である。

【０１３３】ここで、反射板１１ｐ，１１ｙの平面（反
射面）を矢印７３１ｐ，７３１ｙの方向と平行にし、反
射面に暗パターン１１ｐａ，１１ｙａ及び明パターン１
１ｐｂ，１１ｙｂを配して位置検出を行っている理由を
説明する。

【０１３４】フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙを利用し
て反射光の変化を連続的に検出して位置を求める場合、
該フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙと対向する反射板１
１ｐ，１１ｙの間のギャップ変化を検出する方式が一般
的である。

【０１３５】図２に示す様に、コイル７６ｐ，７６ｙ上
に反射板１１ｐ´，１１ｙ´を設け（反射板１１ｐ´の
反射面は矢印７３１ｐの方向と垂直、反射板１１ｙ´の
反射面は矢印７３１ｙの方向と垂直となる）、対向する
フォトリフレクタ１２ｐ´，１２ｙ´との対向ギャップ
の変化による（補正手段が振れ補正駆動される事によ
る）反射光の強度の変化を該フォトリフレクタ１２ｐ
´，１２ｙ´が検出する事でも位置検出は行える。しか
し、この様な構成にした場合、二つの問題点がある。

【０１３６】第一は、大きさである。図３は図１と図２
の構成の比較する為に一つの図に対を成す反射板とフォ
トリフレクタを示した図であり、図２の様な反射板１１
ｐ´とフォトリフレクタ１２ｐ´の構成では、図３に示
す様に両者の対向ギャップ１３´は補正手段の振れ補正
ストローク以上としなければならない。この為に大型化
してしまう（図１の構成では、ギャップ１３は補正手段
の振れ補正駆動では変化せず、故にギャップ１３を狭く
でき、コンパクトにまとめられる）。

【０１３７】第二に、図２の構成の場合、フォトリフレ
クタ１２ｐ´，１２ｙ´と反射板１１ｐ´，１１ｙ´の
対向ギャップの変化に対する該フォトリフレクタ１２ｐ
´，１２ｙ´の出力は比例関係が無い（出力に直線性が
ない）為、補正手段の位置を知る為にはフォトリフレク
タ１２ｐ´，１２ｙ´の出力を複雑な回路で補正して行
かなければならない。これに対し図１の構成では、明暗
パターンの境界上で、その境界線の矢印７３１ｐ，７３
１ｙの方向の移動に対するフォトリフレクタ１２ｐ，１
２ｙの出力は比例領域が得られる。

【０１３８】従って、位置検出精度を要求され、且つ、
小型化していかなければならない補正手段の位置検出手
段としては、図１の方式が適している。

【０１３９】尚、上記した様に図１の構成でも、フォト
リフレクタ１２ｐ，１２ｙの出力変化は明暗パターンの
境界線近傍でしか得られない。図４（ａ）はこの出力状
態を示しており、中央部の狭い範囲でしか出力変化は無
く、他の領域は飽和してしまう。よって、位置検出精度
は高くても、検出ストロークが広く得られない。

【０１４０】そこで、反射板１１ｐ，１１ｙの明暗パタ
ーンとしては、図５（ａ）の様な２色分割の明暗パター
ンではなく、その境界線を一定範囲ぼかしたり、図５
（ｂ）に示す様に、境界線に複数の中間反射率ゾーンを
設けたり、或は、図５（ｃ）に示す様に、反射板１１
ｐ，１１ｙに多数のドット印刷を行い、ドットの大きさ
を変化させる。

【０１４１】この様な明暗パターンにて反射面を作る
と、図４（ｂ）に示す様に、位置検出ストローク範囲を
広げる事が出来る。尚、反射面のパターンの構成を操作
する事で、フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙの出力状態
（位置と出力の関係）をコントロールする事が出来るメ
リットもある。

【０１４２】反射板１１ｐ，１１ｙの反射面は共に矢印
７３１ｐ，７３１ｙの方向と直交する方向を長手方向に
している。これは、例えば反射板１１ｐは矢印７３１ｐ
方向の位置検出に用いられる訳であるが、補正手段の矢
印７３１ｙの移動によりこの方向にも動く。この時、フ
ォトリフレクタ１２ｐの出力が変化しない様に明暗パタ
ーンの境界線の長さを矢印７３１ｙのストロークより長
くする必要があり、且つ、この時矢印７３１ｙ方向のス
トローク端でも出力が変化しない様にする為には、境界
線の長さは矢印７３１ｙのストロークより十分長くして
おく方が好ましい。よって、反射板１１ｐ，１１ｙはこ
の方向を長手方向としている。

【０１４３】また、フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙを
位置検出手段として用いる時、従来必要としていた投光
素子としてのＩＲＥＤが不要になる。その為、その取り
付けに伴う組立て性の悪化や、取り付け精度のバラツキ
による位置検出精度の変化を無くす事が出来ると共に、
支持枠７５にＩＲＥＤを取り付ける必要がない為に、位
置検出を行う場所の自由度が増し、図１の様に、コイル
７６ｐ，７６ｙ上で位置検出を行える（ＩＲＥＤはコイ
ル７６ｐ，７６ｙ上には設置出来ない）。

【０１４４】この為、位置検出手段による寸法増加を抑
える事ができ（コイル７６ｐ，７６ｙと同位置に配置で
きる為）、補正手段、さらには補正光学装置をコンパク
トにまとめる事ができる。

【０１４５】更に、コイル７６ｐ，７６ｙの中央（推力
中心）で位置検出を行えると云う事は、位置検出部と駆
動部が極めて近い為、両者間の剛性が高くなる。これは
従来例で説明した補正手段の位置制御寸法の安定性を高
くする事ができるものであり、補正手段の信頼性も高く
する事ができる。

【０１４６】ここで、以上の構成における効果をまとめ
ると、以下の様になる。

【０１４７】補正手段の駆動方向（図１の矢印７３１
ｐ，７３１ｙの方向）に平行な反射面を有する反射板１
１ｐ，１１ｙを設け、その反射面に矢印７３１ｐ，７３
１ｙの方向と直交する境界線を有する明暗パターンを形
成し、その境界線に対する矢印７３１ｐ，７３１ｙの方
向の移動をフォトリフレクタ１１ｐ，１１ｙで検出する
構成にしている為、コンパクト、且つ、組み易い位置検
出手段が得られる。

【０１４８】また、上記境界線はぼかした、或は、中間
色パターン部である構成にしている為、位置検出ストロ
ークを容易に広げることができる。更に、上記反射面は
矢印７３１ｐ，７３１ｙの方向と直交方向を長手方向と
している為、二つの方向に移動可能な補正手段の位置を
各々精度良く検出できる。そして、反射板１１ｐ，１１
ｙは補正手段の駆動部上に設けられる為、全体をコンパ
クトにまとめられると共に、駆動制御の信頼性を高める
ことができる。

【０１４９】次に、上記構成の補正光学装置を具備した
防振システムの電気的構成を、図６及び図７に示すブロ
ック図を用いて説明する。尚、従来の防振システムの構
成を示した図３０及び図３１と同じ部分は同一符号を付
し、その説明は省略する。

【０１５０】図３０及び図３１と異なるのは、図７に示
す様に、温度検出手段２１，応答緩衝手段２２，特性切
換禁止手段２３，感度変更手段２４、及び、防振敏感度
変更手段２５を付加している点である。

【０１５１】前記温度検出手段２１は防振システムの周
囲温度を検出し、その温度に応じた信号２１ａを応答緩
衝手段２２に出力する。応答緩衝手段２２はローパスフ
ィルタの役割をしており、前記温度検出手段２１からの
信号２１ａの変化が無い時はそのまま信号２２ａとして
出力する。また、信号２１ａにステップ状の変化（急激
に温度変化）があったときは、この変化を鈍らして一定
時間をかけて変化後の信号２１ａに近づく様な信号２２
ａとする。周囲の温度変化に応じて防振システムの特性
を変更していくとき、この特性変更が急激に行われる
と、この変化が撮影者に観察され、不快感を感じる事も
ある。該応答緩衝手段２２はこの急激な特性切換えを防
ぐ働きを持つ。

【０１５２】前記応答緩衝手段２２より出力された信号
２２ａは、特性切換禁止手段２３のサンプルホールド回
路２３ａに入力する。サンプルホールド回路２３ａは通
常はサンプル中の為、信号２２ａはそのまま信号２３ｂ
として出力する。但し、露光手段９１３からの露光信号
９１３ａがサンプルホールド回路２３ａに入力される
と、この間サンプルホールド回路２３ａはその出力をホ
ールドする。即ち、露光期間中は温度による防振システ
ムの特性切換えを禁止し、特性切換え中の補正手段の過
渡応答がフィルム上に写り込まない様にしている。

【０１５３】前記特性切換禁止手段２３のサンプルホー
ルド回路２３ａより出力された信号２３ｂは、感度変更
手段２４と防振敏感度変更手段２５に入力する。感度変
更手段２４は、補正手段９１０の位置検出センサ（図１
等に示したフォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙに相当す
る）からの信号９１０ａの感度を、前記信号２３ｂの入
力に応じて変更する。フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙ
の出力感度は温度にほぼ比例して変化する傾向をもち、
この変化の勾配は個体差が少ない。その為、この感度変
化勾配を記憶しておく事で、フォトリフレクタ１２ｐ，
１２ｙの出力感度の温度変化を容易に補正できる。

【０１５４】そして、補正後の位置検出信号２４ａを、
図６に示す補正駆動手段９７に入力して補正手段９１０
を駆動制御すれば、該補正手段９１０は温度に依らずに
精度良く駆動される。

【０１５５】前記防振敏感度変更手段２５は、図６に示
す防振敏感度設定手段９４の敏感度信号９４ａを温度に
よって変更し、信号２５ａとして目標値設定手段９２に
入力する。即ち、温度によって防振の効果を変えてい
る。

【０１５６】通常の使用温度、例えば２０。Ｃの時に
は、防振の敏感度を最適値よりやや高め（例えば１０
％）に設定している。手振れの中での高周波成分である
５〜７Ｈｚの振れは十分に補正されないと、補正残りが
目立つ帯域である。

【０１５７】そして、この様な帯域の振れは主に腕の震
えによるものであるが、その振れ量はより低周波の振れ
に比べて小さい。また、この小さい振れを補正する為の
補正手段９１０の振れ補正駆動量も小さいのであるが、
振れ補正駆動量が小さくなると、割合として駆動摩擦の
影響が大きくなってしまい、十分な振れ補正が行えな
い。その影響を小さくする為に適正よりも振れ補正量を
大きくして（過補正）、上記帯域の振れに対して振れ補
正駆動量を多くしている。

【０１５８】ところが、低温になってくると撮影者の腕
の震えの量が増し、更に同じ帯域に体の震えも重畳して
くる事がある。その為、この帯域の振れ量が多くなり、
補正手段９１０の振れ補正駆動量が増える為に相対的に
駆動摩擦の影響が少なくなってゆく。その為、敏感度を
変更しないと低温時では振れを過補正する事による船酔
い現象（手でレンズを振った方向と逆方向に過補正分に
像が流れる事による違和感をいう。振れ補正が足りない
時は手でレンズを振った方向と同じ方向に補正が足りな
い分像が流れる為、違和感はない）が生じ好ましくなく
なる。この為、低温下においては、防振敏感度を最適値
に戻す（平温より１０％下げる）ようにしている。

【０１５９】以上により、温度の変化による位置検出手
段の感度を補正しているので、常に精度良い防振を行え
ると共に、全ての使用温度領域に渡って好ましい防振効
果が得られる。また、この温度による特性切換えをゆっ
くり行う為に、急激な特性切換えによる不快感（像の揺
れや音の発生）を抑えることができる。更に、露光中は
特性切換えを禁止する為に、特性切換えによる補正手段
９１０の過渡応答が像面に写り込むことが無くなる。

【０１６０】（実施の第２の形態）図８及び図９は本発
明の実施の第２の形態に係る補正光学装置を具備した防
振システムの電気的構成を示すブロック図であり、上記
図６及び図７と同じ部分は同一符号を付し、その説明は
省略する。

【０１６１】上記の実施の第１の形態と異なるのは、上
記図７に示した防振敏感度変更手段２５の代わりに周波
数特性変更手段２６を、特性切換禁止手段２３の代わり
に出力ホールド手段３１を、それぞれ設けると共に、出
力変動記憶手段２８を新たに付加した点である。

【０１６２】上記実施の第１の形態では、低温時は、防
振敏感度を防振帯域の全てに渡って適正値に戻していた
（高温時には、防振帯域の全てに渡って防振敏感度を適
正値より大きくしていた）。しかしながら、上述した様
に補正残りの出やすい帯域は５〜７Ｈｚであり、この帯
域より低い周波数の振れに対しては（振れ幅が大きい
為）補正光学装置の追従性が良い為に防振敏感度を大き
めにする必要がない（却って防振効果が低くなる）。

【０１６３】そこで、高温時に、上記５〜７Ｈｚの防振
敏感度のみ大きくする様に、周波数特性変更手段２６に
より目標値設定手段９２の目標値信号９２ａをフィルタ
リングしてこの出力を信号２６ａとし、補正駆動手段９
７に入力している。周波数特性変更手段２６には温度検
出手段２１からの信号２１ａが出力ホールド手段３１を
介した信号３１ａとして入力しており、低温時には、上
述のフィルタリングはしない（５〜７Ｈｚの振れが大き
い為）。従って、温度変化にも依らず、全ての防振帯域
において防振効果を十分得られる。

【０１６４】上記実施の第１の形態では、温度変化によ
る防振特性の切換えを、応答緩衝手段２２を介して比較
的ゆっくり行う事で、特性切換え前後の不連続性に伴う
不快感（音，振動）を無くしていた。又、露光中は特性
切換を禁止していた。

【０１６５】この実施の第２の形態においては、特性切
換えのタイミングをより単純化して回路をコンパクトに
している。

【０１６６】出力ホールド手段３１のサンプルホールド
回路３１ａへのホールド信号は論理積手段９９の信号９
９ａとなっている。よって、防振を始めると遅延手段９
３からの起動指令信号９３ａ（振れ補正開始）が出力す
る前に温度検出手段２１の信号２１ａはホールドされ、
一定値となってこの時点で防振特性切換えは行われる
が、その後、信号９９ａの出力が停止される迄、即ち、
振れ補正が停止されるまでは特性切換えは行わない。こ
の為、防振中にその特性を切換える事による不快感は無
くなる。

【０１６７】出力変動記憶手段２８には位置検出センサ
（フォトリフレクタ１２ｐ，１２ｙ）の電源オンからの
立ち上り過渡応答の逆極性が記憶されている。フォトリ
フレクタは電源オンしてから一定期間において出力が変
動する（図１０参照）が。これは電流が流れる事による
発熱等が原因となっているが、この過渡応答期間では防
振精度が低くなる事になる。

【０１６８】出力変動記憶手段２８の信号２８ａ、即ち
フォトリフレクタの出力過渡応答の反対特性変動は、防
振切換手段９１２の防振スイッチオン信号９１２ａで開
始する（この時、フォトリフレクタにも通電が開始され
る）。この信号２８ａは加算手段２７によって信号２４
ａ（温度による感度補正後のフォトリフレクタの出力）
に加算される。

【０１６９】よって、信号２７ａは電源オンからの出力
変動の無い信号になって補正駆動手段９７に入力される
為に、この出力変動期間での防振精度の低下は生じな
い。

【０１７０】尚、出力変動記憶手段２８の図１０に示し
た出力変動記憶値は複数の周囲温度毎に記憶され、出力
ホールド手段３１からの温度信号３１ａに応じて記憶値
を選択して出力している。これはフォトリフレクタの立
ち上り出力変動が周囲温度によっても異なってくる為
に、その補正を行う為である。

【０１７１】なお、この実施の形態では、出力の立ち上
り変動を周囲温度毎に記憶していたが、フォトリフレク
タの出力変動の初期状態を観察し、そのデータより以降
の出力変動値を求める方式にしてもよい。

【０１７２】（実施の第３の形態）図１１及び図１２は
本発明の実施の第３の形態に係る補正光学装置を具備し
た防振システムの電気的構成を示すブロック図であり、
上記図６〜図９と同じ部分は同一符号を付し、その説明
は省略する。

【０１７３】図１２における出力変動算出手段２９に
は、温度検出手段２１からの信号２１ａの出力ホールド
手段２３を介するホールド信号３１ａの代わりに、位置
検出センサからの信号２４ａが入力している。

【０１７４】そして、防振スイッチオン信号９１２ａ
（この時、フォトリフレクタに電源投入される）と同期
して一定期間、その出力（図１３参照）を観察し、その
出力変動より以降の出力変動値を算出（例えば、観察期
間中の出力変動の勾配を延長する）して、加算手段２７
に信号２９ａとして出力する。この出力観察期間中は振
れ信号が目標値として入力されない（防振メインスイッ
チをオンにしてもレリーズ手段９１１を半押ししなけれ
ば振れ補正は開始しない、又、レリーズ半押ししても遅
延手段９３の遅延時間中は振れ補正しない為）。よっ
て、この期間は純粋にフォトリフレクタの出力変動が観
察できる為に、以降の出力変動を精度良く抑える事が可
能である。

【０１７５】（実施の第４の形態）図１４及び図１５は
本発明の実施の第４の形態に係る補正光学装置を具備し
た防振システムの電気的構成を示すブロック図であり、
上記図６，図７等と同じ部分は同一符号を付し、その説
明は省略する。

【０１７６】前述した様にフォトリフレクタの感度は温
度により変化し、前述の実施の第１〜第３の形態におい
ては、温度検出手段２１を設け、それによる感度補正を
行っていた。この実施の第４の形態においては、温度検
出手段を用いずに感度を補正しようとするものである。

【０１７７】演算駆動指令手段５１には、レリーズ手段
９１１からのレリーズ半押し信号９１１ａと防振切換手
段９１２からの防振スイッチオン信号９１２ａがそれぞ
れ入力されており、信号９１１ａは反転され、共にアン
ドゲート５１ａに入力されている。よって、アンドゲー
ト５１ａは防振スイッチオン、且つ、レリーズボタンを
半押ししていない時に出力し、この信号をトリガにして
演算駆動指令手段５１は一定期間（例えば１００ｍｓｅ
ｃ）信号５１ｂを出力する。そして、この信号５１ｂは
演算駆動手段５２，中心値算出手段５３，感度算出手段
５４及び補正起動手段９８に入力される。よって、この
時点で補正手段９１０は駆動制御を開始する。

【０１７８】演算駆動手段５２は前記信号５１ｂの入力
により信号５２ｂを出力し、係止手段９１４を係止方向
に駆動する（元々係止状態にあるが、再度係止駆動して
係止確実性を高める）。又、演算駆動手段５２は交番目
標値信号５２ａを出力し、目標値として補正起動手段９
８に入力する。その為、この時点から補正手段９１０
は、従来例で説明した様なロックガタ内で、その制限ス
トローク一杯で交番駆動される。

【０１７９】この制御ストロークは、図１６に示す様
な、ロックリング内周壁７１９ｇと支持枠７５の突起７
５ｆの嵌合ガタ５５ｐａ，５５ｐｂ，５５ｙａ，５５ｙ
ｂ分であり、この量はメカニカルに決定される（温度等
に影響されない一定量）。即ち、この時のフォトリフレ
クタの出力の最大値と最小値を監視すれば、該フォトリ
フレクタの検出感度が求まることになる。

【０１８０】感度算出手段５４は信号５２ａの入力と同
期して位置検出センサ（フォトリフレクタ）からの信号
９１０ａを監視し、その検出感度を算出する。そして、
得られた感度により感度変更手段２４は信号９１０ａの
出力を増減幅して補正し、補正駆動手段９７に送る。中
心値算出手段５３も信号５１ｂに同期してフォトリフレ
クタからの信号９１０ａの出力を入力し、その最大値，
最小値を適切に分配して中心位置を求め、補正駆動手段
９７の中心位置を書き換える。フォトリフレクタの出力
は温度による感度の変化と共にその絶対値も変動（ＤＣ
バイアスが変動）する為、それに伴い補正手段９１０の
中心制御位置が変化してしまうが、上述した様に補正手
段９１０を制限ストローク内にて駆動し、その出力によ
り中心位置を書き換える事で、その変動による影響を小
さくできる。

【０１８１】尚、上述したメカニカルな制限ストローク
は少ない為に、そのストローク内のどの位置を中心にし
ても差し支えない時は中心値は演算で求めないで、係止
状態におけるフォトリフレクタの出力を記憶するだけで
も良い。

【０１８２】ここで、感度を算出する時に補正手段９１
０を係止ガタ内と云う狭いストローク範囲でのみ駆動し
ている理由を述べる。

【０１８３】第一に、フォトリフレクタの出力の直線性
は端にゆくほど失われてゆく。その為、駆動できるスト
ロークを狭くして感度を求めた方が正確に感度が求ま
る。第二に、係止解除状態で感度算出の為に補正手段９
１０をストローク一杯駆動した場合、それによる像変化
を撮影者が知覚できる為に不快である。

【０１８４】よって、中心値及び感度算出時には、係止
手段９１４を作用させる事により駆動範囲を狭くしてい
る。

【０１８５】本構成においては、係止手段９１４をその
まま駆動ストロークを制限する手段として用いたが、こ
れに限られるものではなく、中心値及び感度演算用の専
用の制限手段を設け、振れ補正時にはこれを退避させる
構成にしても良い。

【０１８６】（実施の第５の形態）図１７及び図１８は
本発明の実施の第５の形態に係る補正光学装置を具備し
た防振システムの電気的構成を示すブロック図であり、
上記図１４，図１５等と同じ部分は同一符号を付し、そ
の説明は省略する。

【０１８７】この実施の第５の形態は、上記実施の第４
の形態とは係止手段９１４の構成が異なる。

【０１８８】上記実施の第４の形態迄の係止手段は、従
来の補正光学装置の係止手段で説明した様に、コイル７
２０に通電して電磁駆動を行っていた。

【０１８９】この実施の第５の形態では、使用しない時
には鏡筒が沈胴する構成のカメラに組み入れられる防振
システムについて説明してあり、その構造は、図１９の
様に、撮影時に繰り出し、使用しない時に繰り込む鏡筒
６９（カメラのメインスイッチ操作部６１ａに連動し
て）内に補正光学装置が組み込まれ、支持枠７５にはテ
ーパー部６３が設けられている。レンズ６５も鏡筒６９
に吊られているが、沈胴による光軸の位置変化は殆どな
い。そして、レンズ６５の保持枠にも逆テーパー部６４
が設けられている。

【０１９０】従って、沈胴時にはレンズ６５と補正レン
ズ７４が接近し、テーパー部６５と逆テーパー部６４が
噛み合って補正手段９１０は係止される。

【０１９１】尚、図１９において、カメラ本体６１０内
のモータ６６はピニオン６７によりカム筒６８を回転
し、鏡筒６９の繰り込み、繰り出し（沈胴）を行ってお
り、カメラ使用時にメインスイッチ操作部６１ａをオン
にする事で、前記モータ６６が鏡筒６９を繰り出し方向
に回転し、メインスイッチ操作部６１ａをオフする、或
は、カメラの操作が一定期間行わなかった時は鏡筒６９
を沈胴方向に前記モータ６６が回転する。ここで、前記
モータ６６の鏡筒組み出し回転については、カメラのメ
インスイッチ操作部６１ａにダイレクトに応答している
訳では無い。

【０１９２】図１７に示すカメラメインスイッチ手段６
１の出力信号６１ｂはカメラメインスイッチ操作部６１
ａのオン操作で発生するが、その信号は沈胴駆動手段６
２であるモータ６６にはダイレクトに入力されず、図１
７に示す演算駆動指令手段５１に入力される。それに応
答して該演算駆動指令手段５１は一定期間信号５１ｂを
出力する。

【０１９３】その為、上記実施の第４の形態で説明した
様に、補正手段９１０は係止ガタ内で駆動され、感度と
中心値を求める。演算駆動指令手段５１の指令信号５１
ｂが出力を止める（演算終了し、感度，中心値が算出終
了）のに同期して演算駆動指令手段５１は信号５１ｃを
発生し、この信号５１ｃは沈胴駆動手段６２に入力し、
初めて鏡筒６９は繰り出され、補正手段９１０の係止は
解除される。

【０１９４】従って、その後補正手段９１０は非係止状
態になってしまうが、レリーズ手段９１１の半押し信号
９１１ａは直接補正起動手段９８に入力している為、防
振オン，オフにかかわらずレリーズ半押し以降（露光時
も含む）、レリーズボタン半押し解除迄は補正手段９１
０は駆動制御され、略中心位置に安定している（防振オ
フ時）、又はその中心値より振れ補正している（防振オ
ン時）。

【０１９５】沈胴時もレリーズボタンが押されていない
と、補正手段９１０は中心からズレた所に位置している
が、係止部がテーパー状になっている為に、沈胴につれ
て補正手段９１０は略中心に移動させられて係止され
る。

【０１９６】尚、沈胴時、カメラメインスイッチ操作部
６１ａをオフすると、カメラメインスイッチ手段６１か
ら信号６１ｃが出力され、直接沈胴駆動手段６２に入力
する為、モータ６６は鏡筒６９を沈胴させる方向に回転
する。又、沈胴駆動手段６２は鏡筒６９繰り出し時にカ
メラの操作が一定期間行われなかった事を検出しても、
モータ６６を鏡筒６９沈胴方向に回転させる。

【０１９７】以上、沈胴を行うカメラにおいて、沈胴に
連動して補正手段９１０の係止を行う事で、係止手段９
１４のコンパクト化，省電力化を図った防振システムに
おいて、カメラ繰り出し前にフォトリフレクタのキャリ
ブレーション（感度，中心値を較正する演算）を行う構
成にして、フォトリフレクタの出力精度を簡単に高める
事ができ、コンパクト、且つ、高精度な防振システムを
構築できる。

【０１９８】（発明と実施の形態の対応）上記実施の各
形態において、反射板１１ｐ，１１ｙが本発明の反射板
に相当し、温度検出手段２１，感度変更手段２４が本発
明の温度補償手段に相当し、防振敏感度変更手段２５，
周波数特性変更手段２６が本発明の特性変更手段に相当
し、係止手段９１４が本発明の制限手段に相当し、出力
変動記憶手段２８，出力変動詐取津手段２９が本発明の
出力変動設定手段に相当し、加算手段２７が本発明の出
力補正手段に相当する。

【０１９９】以上が実施の形態の各構成と本発明の各構
成の対応関係であるが、本発明は、これら実施の形態の
構成に限定されるものではなく、請求項で示した機能、
又は実施の形態がもつ機能が達成できる構成であればど
のようなものであってもよいことは言うまでもない。

【０２００】（変形例）本発明は、一眼レフカメラに適
用した例を述べているが、ビデオカメラや電子スチルカ
メラ等の撮影装置にも適用可能である。更には、防振機
能を必要とする種々の光学機器や他の装置、更には構成
ユニットとしても適用することができるものである。

【０２０１】また、本発明は、以上の実施の各形態、又
はそれらの技術を適当に組み合わせた構成にしてもよ
い。

【０２０２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
小型化、及び、その組立てを容易になものして信頼性を
向上させた補正光学装置とすることができるものであ
る。

【０２０３】また、本発明によれば、常に防振性能を高
精度に保持できる補正光学装置、防振装置及び防振カメ
ラとするものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の第１の形態に係る補正手段の構
成を示す斜視図である。

【図２】図１とは異なる位置に反射板及びフォトリフレ
クタを配置した構成の補正手段を示す斜視図である。

【図３】図１と図２の各々の反射板とフォトリフレクタ
の配置における利点と欠点について説明する為の図であ
る。

【図４】図１のフォトリフレクタの出力特性について説
明する為の図である。

【図５】図１の反射板の平面形状（明暗パターン形状）
について説明する為の図である。

【図６】本発明の実施の第１の形態に係るカメラの構成
の一部を示すブロック図である。

【図７】本発明の実施の第１の形態に係るカメラの構成
の残りの部分を示すブロック図である。

【図８】本発明の実施の第２の形態に係るカメラの構成
の一部を示すブロック図である。

【図９】本発明の実施の第２の形態に係るカメラの構成
の残りの部分を示すブロック図である。

【図１０】図９の位置検出センサの初期立ち上がり特性
を示す図である。

【図１１】本発明の実施の第３の形態に係るカメラの構
成の一部を示すブロック図である。

【図１２】本発明の実施の第３の形態に係るカメラの構
成の残りの部分を示すブロック図である。

【図１３】図１２の位置検出センサの電源投入後の一定
期間の出力状態を示す図である。

【図１４】本発明の実施の第４の形態に係るカメラの構
成の一部を示すブロック図である。

【図１５】本発明の実施の第４の形態に係るカメラの構
成の残りの部分を示すブロック図である。

【図１６】本発明の実施の第４の形態に係るカメラにお
いて位置検出センサの感度補正について説明する為の図
である。

【図１７】本発明の実施の第５の形態に係るカメラの構
成の一部を示すブロック図である。

【図１８】本発明の実施の第５の形態に係るカメラの構
成の残りの部分を示すブロック図である。

【図１９】本発明の実施の第５の形態に係るカメラの要
部構成を示す断面図である。

【図２０】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図
である。

【図２１】図２０の補正光学装置の構造を示す分解斜視
図である。

【図２２】図２１の挟持手段が挿入される支持枠の孔の
形状を説明する為の図である。

【図２３】図２１の地板に支持枠を組み込んだ時の様子
を示す断面図である。

【図２４】図２１に示す地板を示す斜視図である。

【図２５】図２１に示す支持枠を示す斜視図である。

【図２６】図２１に示すロックリングを示す斜視図であ
る。

【図２７】図２１の支持枠等を示す正面図である。

【図２８】図２１の位置検出素子の出力を増幅するＩＣ
の構成を示す回路図である。

【図２９】図２１のロックリングが駆動される時の様子
を示す図である。

【図３０】図２９のロックリング駆動時における信号波
形を示す図である。

【図３１】防振システムが搭載されたカメラの防振系の
回路構成の一部を示すブロック図である。

【図３２】防振システムが搭載されたカメラの防振系の
回路構成の残りの部分を示すブロック図である。

【図３３】図３１及び図３２の回路構成におけるカメラ
の概略動作を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１１ｐ，１１ｙ反射板１１ｐａ，１１ｐｂ明パターン１１ｙａ，１１ｙｂ暗パターン１２ｐ，１２ｙフォトリフレクタ７４レンズ７５支持枠７６ｐ，７６ｙコイル２１温度検出手段２２応答緩衝手段２３特性切換変更手段２４感度変更手段２５防振敏感度変更手段２６周波数特性変更手段２７加算手段２８出力変動記録手段２９出力変動算出手段３１出力ホールド手段５２演算駆動手段５３中心値算出手段６２沈胴駆動手段９１０補正手段９１１レリーズ手段９１４係止手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】振れを補正する補正光学系，該補正光学
系を光軸と略垂直な方向に移動させる駆動手段，前記補
正光学系の位置を検出する位置検出手段を有する補正手
段を備えた補正光学装置において、前記位置検出手段は、フォトリフレクタと該フォトリフ
レクタと対向して配置される反射板とにより構成され、
前記反射板は、その反射面が前記補正光学系の移動方向
と平行に配置され、前記反射面には、前記フォトリフレ
クタの投射光を複数の反射率で反射するパターンが形成
されていることを特徴とする補正光学装置。
【請求項２】前記パターンは、少なくとも三つの反射
率を有する濃淡色パターンであることを特徴とする請求
項１記載の補正光学装置。
【請求項３】前記パターンは、濃と淡の境界部に中間
色パターンを有することを特徴とする請求項２記載の補
正光学装置。
【請求項４】前記パターンは、濃と淡の境界部をぼか
してあることを特徴とする請求項２記載の補正光学装
置。
【請求項５】前記パターンは、ドットの大きさにより
濃淡が形成されたドットパターンであることを特徴とす
る請求項２記載の補正光学装置。
【請求項６】前記複数の反射率で反射するパターンの
境界面は、前記補正光学系の移動方向と略直交すること
を特徴とする請求項１，２，３，４又は５記載の補正光
学装置。
【請求項７】前記反射板の反射面は、前記補正光学系
の移動方向と直交する方向を長手方向とすることを特徴
とする請求項１，２，３，４，５又は６記載の補正光学
装置。
【請求項８】前記反射板は、前記駆動手段上に配置さ
れることを特徴とする請求項１，２，３，４，５，６又
は７記載の補正光学装置。
【請求項９】温度検出手段と、前記位置検出手段の出
力感度を、前記温度検出手段の出力に基づいて補償する
温度補償手段とを具備したことを特徴とする請求項１，
２，３，４，５，６，７又は８記載の補正光学装置。
【請求項１０】該防振装置もしくは該防振装置が搭載
される光学機器の周囲温度に応じて、防振特性を変更す
る特性変更手段を設けたことを特徴とする防振装置。
【請求項１１】前記特性変更手段は、該防振装置の周
波数特性を変更する手段であることを特徴とする請求項
１０記載の防振装置。
【請求項１２】前記特性変更手段は、周囲温度が高い
場合は、該防振装置の振れ補正周波数帯域を高域側に延
ばす手段であることを特徴とする請求項１１記載の防振
装置。
【請求項１３】前記特性変更手段は、該防振装置の振
れ抑圧比を変更する手段であることを特徴とする請求項
１０記載の防振装置。
【請求項１４】前記特性変更手段は、周囲温度が高い
場合は、該防振装置の振れ抑圧比を最適値より高くする
手段であることを特徴とする請求項１３記載の防振装
置。
【請求項１５】前記特性変更手段による該防振装置の
特性切換えを、複数段階に分けて行う応答緩衝手段を設
けたことを特徴とする請求項１０記載の防振装置。
【請求項１６】前記特性変更手段による該防振装置の
特性切換えを、防振動作前に行う出力ホールド手段を設
けたことを特徴とする請求項１０記載の防振装置。
【請求項１７】前記特性変更手段による該防振装置の
特性切換えを、該防振装置が搭載される撮影装置の撮影
中には禁止する特性切換禁止手段を設けたことを特徴と
する請求項１０記載の防振装置。
【請求項１８】振れを補正する補正手段と、該補正手
段を所定の位置に係止する係止手段とを備えた防振装置
であって、前記係止手段による前記補正手段の係止状態より、該補
正手段の振れ補正時の駆動中心を算出する中心値算出手
段を設けたことを特徴とする防振装置。
【請求項１９】前記中心値算出手段は、前記補正手段
の振れ補正開始前に動作する手段であることを特徴とす
る請求項１８記載の防振装置。
【請求項２０】前記補正手段は、前記係止手段により
係止された状態においてその係止ガタ範囲内で駆動さ
れ、前記中心値算出手段は、前記係止ガタ範囲内での駆
動時における前記補正手段の位置を検出する位置検出手
段の複数の出力の所望混合比により、振れ補正時の駆動
中心を算出する手段であることを特徴とする請求項１８
記載の防振装置。
【請求項２１】前記中心値算出手段は、前記補正手段
の振れ補正動作より前に、前記補正手段の係止，非係止
の状態に拘わらず該補正手段の係止方向に前記係止手段
を駆動し、振れ補正時の駆動中心を算出する手段である
ことを特徴とする請求項１８記載の防振装置。
【請求項２２】前記補正光学系の補正範囲を制限する
制限手段と、前記補正光学系を前記制限手段により制限
される補正範囲全域に渡り駆動させ、その時の前記位置
検出手段の出力状態より該位置検出手段の検出感度を算
出する感度算出手段とを設けたことを特徴とする補正光
学装置。
【請求項２３】前記制限手段の制限範囲は可変であ
り、少なくとも前記感度算出手段の動作時と振れ補正時
の制限範囲が異なることを特徴とする請求項２２記載の
補正光学装置。
【請求項２４】前記位置検出手段の起動開始からの出
力変動量を求める出力変動設定手段と、該出力変動手段
の出力を基に前記位置検出手段の出力を補正する出力補
正手段とを設けたことを特徴とする補正光学装置。
【請求項２５】前記出力変動設定手段は、前記位置検
出手段の起動開始からの出力変動を予め記録した手段で
あることを特徴とする請求項２４記載の補正光学装置。
【請求項２６】前記出力変動設定手段は、前記位置検
出手段の起動開始から一定期間の間の前記位置検出手段
の出力状態を基に出力変動量を予測する手段であること
を特徴とする請求項２４記載の補正光学装置。
【請求項２７】振れを補正する補正手段と、該補正手
段を所定の位置に係止する係止手段とを備え、メインス
イッチのオンで鏡筒部を繰り出し、前記メインスイッチ
のオフ或いは非操作状態が一定期間継続することで前記
鏡筒部を繰り込む沈胴機構を持つ防振カメラであって、前記係止手段を前記沈胴機構に連結して、前記沈胴部の
繰り込み時に前記補正手段を係止する連結機構と、前記
鏡筒部の繰り込み時或いは繰り出し完了前の前記位置検
出手段の出力状態より、前記補正手段の制御状態を補正
する制御補正手段とを設けたことを特徴とする防振カメ
ラ。