JPH09287932A - レーザ変位計 - Google Patents
レーザ変位計Info
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- JPH09287932A JPH09287932A JP9976196A JP9976196A JPH09287932A JP H09287932 A JPH09287932 A JP H09287932A JP 9976196 A JP9976196 A JP 9976196A JP 9976196 A JP9976196 A JP 9976196A JP H09287932 A JPH09287932 A JP H09287932A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 上下方向に計測できる測定レンジを広くする
ことができ、且つ、横断方向の凹凸の計測できる箇所を
増やして、精密な計測が可能なレーザ変位計を提供する
ことを目的とする。 【解決手段】 被計測面に対して、複数のスリット光を
それぞれ斜めに照射する一方、前記被計測面の上方から
ラインセンサカメラ３により前記スリット光を計測し
て、三角測量の原理により前記被計測面の凹凸を求める
レーザ変位計において、前記複数のスリット光は、交互
に異なる波長の単色光であり、且つ、前記ラインセンサ
カメラ３として、前記波長の異なる単色光を分離して計
測できる複数のものを用いることを特徴とする。
ことができ、且つ、横断方向の凹凸の計測できる箇所を
増やして、精密な計測が可能なレーザ変位計を提供する
ことを目的とする。 【解決手段】 被計測面に対して、複数のスリット光を
それぞれ斜めに照射する一方、前記被計測面の上方から
ラインセンサカメラ３により前記スリット光を計測し
て、三角測量の原理により前記被計測面の凹凸を求める
レーザ変位計において、前記複数のスリット光は、交互
に異なる波長の単色光であり、且つ、前記ラインセンサ
カメラ３として、前記波長の異なる単色光を分離して計
測できる複数のものを用いることを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ変位計に関
する。例えば、路面形状計測等に適用されるものであ
る。
する。例えば、路面形状計測等に適用されるものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の路面形状計測車の一例を図２に示
す。この路面形状計測車１の一つの機能は、路面評価の
対象の一つである路面の“わだち掘れ”、つまり、横断
方向の凹凸を多点非接触計測方式により計測するもので
ある。即ち、路面形状計測車１のフロントバンパーには
多数のスリット投光器２が取り付けられると共にその客
室前方には二台のラインセンサカメラ３が取り付けられ
ている。スリット投光器２は、レーザー光であるスリッ
ト光を路面に対して斜めに照射し、スリット光の数は５
４本、その幅は１〜２ｍｍである。
す。この路面形状計測車１の一つの機能は、路面評価の
対象の一つである路面の“わだち掘れ”、つまり、横断
方向の凹凸を多点非接触計測方式により計測するもので
ある。即ち、路面形状計測車１のフロントバンパーには
多数のスリット投光器２が取り付けられると共にその客
室前方には二台のラインセンサカメラ３が取り付けられ
ている。スリット投光器２は、レーザー光であるスリッ
ト光を路面に対して斜めに照射し、スリット光の数は５
４本、その幅は１〜２ｍｍである。
【０００３】ラインセンサカメラ３は、路面上に形成さ
れたスリット光を観測するものであり、二台設けたの
は、計測できる横幅を拡大するためである。従って、理
論的には、１台のラインセンサカメラ３を用いることが
できる。ラインセンサカメラ３としては、一般的に、一
次元に配置されたＣＣＤ（固体撮像素子）カメラが用い
られる。路面の横断方向の凹凸としては、三角測量の原
理に基づいて、下式（１）（２）に従いスリット光座標
（Ｘs，Ｙs）が計算される。
れたスリット光を観測するものであり、二台設けたの
は、計測できる横幅を拡大するためである。従って、理
論的には、１台のラインセンサカメラ３を用いることが
できる。ラインセンサカメラ３としては、一般的に、一
次元に配置されたＣＣＤ（固体撮像素子）カメラが用い
られる。路面の横断方向の凹凸としては、三角測量の原
理に基づいて、下式（１）（２）に従いスリット光座標
（Ｘs，Ｙs）が計算される。
【０００４】
【数１】
【０００５】但し、図３に示すように、（Ｘc，Ｙc）は
ラインセンサカメラ３のレンズ中心座標、（Ｘl，Ｙl）
はスリット投光器２の投光中心座標である。原点は、車
両中心で基準路面（スリット投光器２より１１００ｍｍ
下方に想定した平らな路面）高さとする。座標軸は、助
手席側を＋Ｘ、鉛直上向きを＋Ｙとする。更に、θmは
ラインセンサカメラ３の観測線の観測角、θlはスリッ
ト投光器２の投光線の投光角である。角度は鉛直下向き
を０°とし、反時計回りを正とする。観測角θmは、次
式（３）により計算される。
ラインセンサカメラ３のレンズ中心座標、（Ｘl，Ｙl）
はスリット投光器２の投光中心座標である。原点は、車
両中心で基準路面（スリット投光器２より１１００ｍｍ
下方に想定した平らな路面）高さとする。座標軸は、助
手席側を＋Ｘ、鉛直上向きを＋Ｙとする。更に、θmは
ラインセンサカメラ３の観測線の観測角、θlはスリッ
ト投光器２の投光線の投光角である。角度は鉛直下向き
を０°とし、反時計回りを正とする。観測角θmは、次
式（３）により計算される。
【０００６】
【数２】
【０００７】但し、図４（ｂ）に示すように、ｌcはラ
インセンサカメラ３の写像位置、Ｈcはラインセンサカ
メラ３とそのレンズ４との間の距離である。写像位置ｌ
cは、次式（４）により計算される。
インセンサカメラ３の写像位置、Ｈcはラインセンサカ
メラ３とそのレンズ４との間の距離である。写像位置ｌ
cは、次式（４）により計算される。
【０００８】
【数３】
【０００９】但し、図４（ａ）に示すように、Ｎpはラ
インセンサカメラ３の画素総数、Ｌcはラインセンサカ
メラ３の長さ、写像位置ｌcにおける画素アドレスであ
る。
インセンサカメラ３の画素総数、Ｌcはラインセンサカ
メラ３の長さ、写像位置ｌcにおける画素アドレスであ
る。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の路面形
状計測車においては、ラインセンサカメラ３のレンズ中
心座標（Ｘc，Ｙc）、スリット投光器２の投光線の投光
角θlは固定で既知のため、ラインセンサカメラ３の観
測線の観測角θmを計測すれば、三角測量の原理に基づ
いて、上記式（１）〜（４）によりスリット光座標（Ｘ
s，Ｙs）である横断方向の凹凸が求められる。
状計測車においては、ラインセンサカメラ３のレンズ中
心座標（Ｘc，Ｙc）、スリット投光器２の投光線の投光
角θlは固定で既知のため、ラインセンサカメラ３の観
測線の観測角θmを計測すれば、三角測量の原理に基づ
いて、上記式（１）〜（４）によりスリット光座標（Ｘ
s，Ｙs）である横断方向の凹凸が求められる。
【００１１】ここで、図１１（ａ）（ｂ）に示すよう
に、横断方向の凹凸として上下方向に計測できる測定レ
ンジは、スリット投光器２の配置される間隔によって、
制限を受ける。即ち、スリット投光器２の配置される間
隔を短くすればするほど、路面に斜めに照射される間隔
が短くなるため、上下方向に計測できる測定レンジは狭
くなる傾向にある。
に、横断方向の凹凸として上下方向に計測できる測定レ
ンジは、スリット投光器２の配置される間隔によって、
制限を受ける。即ち、スリット投光器２の配置される間
隔を短くすればするほど、路面に斜めに照射される間隔
が短くなるため、上下方向に計測できる測定レンジは狭
くなる傾向にある。
【００１２】一方、上下方向に計測できる測定レンジを
広くしようとして、スリット投光器２の配置される間隔
を長くすると、横方向における測定ピッチが荒くなり、
横断方向の凹凸の計測できる箇所が減少することとな
る。つまり、上下方向に計測できる測定レンジを広くす
ると、横断方向の凹凸の計測できる箇所が減少すること
となり精密な計測ができず、逆に、横断方向の凹凸の計
測できる箇所を増やして精密な計測をしようとすれば、
上下方向に計測できる測定レンジが狭くなり計測不能と
なる虞もある。本発明は、上記従来技術に鑑みてなされ
たものであり、上下方向に計測できる測定レンジを広く
することができ、且つ、横断方向の凹凸の計測できる箇
所を増やして、精密な計測が可能なレーザ変位計を提供
することを目的とする。
広くしようとして、スリット投光器２の配置される間隔
を長くすると、横方向における測定ピッチが荒くなり、
横断方向の凹凸の計測できる箇所が減少することとな
る。つまり、上下方向に計測できる測定レンジを広くす
ると、横断方向の凹凸の計測できる箇所が減少すること
となり精密な計測ができず、逆に、横断方向の凹凸の計
測できる箇所を増やして精密な計測をしようとすれば、
上下方向に計測できる測定レンジが狭くなり計測不能と
なる虞もある。本発明は、上記従来技術に鑑みてなされ
たものであり、上下方向に計測できる測定レンジを広く
することができ、且つ、横断方向の凹凸の計測できる箇
所を増やして、精密な計測が可能なレーザ変位計を提供
することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】斯かる目的を達成する本
発明は、被計測面に対して、複数のスリット光をそれぞ
れ斜めに照射する一方、前記被計測面の上方からライン
センサカメラにより前記スリット光を計測して、三角測
量の原理により前記被計測面の凹凸を求めるレーザ変位
計において、前記複数のスリット光は、交互に異なる波
長の単色光であり、且つ、前記ラインセンサカメラとし
て、前記波長の異なる単色光を分離して計測できる複数
のものを用いることを特徴とする。ここで、前記ライン
センサカメラには、各波長の光を分離するための光学フ
ィルタが装着されることを特徴とする。
発明は、被計測面に対して、複数のスリット光をそれぞ
れ斜めに照射する一方、前記被計測面の上方からライン
センサカメラにより前記スリット光を計測して、三角測
量の原理により前記被計測面の凹凸を求めるレーザ変位
計において、前記複数のスリット光は、交互に異なる波
長の単色光であり、且つ、前記ラインセンサカメラとし
て、前記波長の異なる単色光を分離して計測できる複数
のものを用いることを特徴とする。ここで、前記ライン
センサカメラには、各波長の光を分離するための光学フ
ィルタが装着されることを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１に示すように、異なる波長の
単色光を照射することのできる二種類のスリット投光器
２′，２″を交互に配置して、被計側面に対して、図中
破線及び実線で示すよう波長の光を斜めに照射する一
方、被計測面の上方から、光学フィルタ５を装着した二
つのラインセンサカメラ３′、３″により、被計測面上
のスリット光を計測する。光学フィルタ５は、二種類の
スリット投光器２′，２″より照射される異なる波長の
単色光を分離して計測するためのものである。
単色光を照射することのできる二種類のスリット投光器
２′，２″を交互に配置して、被計側面に対して、図中
破線及び実線で示すよう波長の光を斜めに照射する一
方、被計測面の上方から、光学フィルタ５を装着した二
つのラインセンサカメラ３′、３″により、被計測面上
のスリット光を計測する。光学フィルタ５は、二種類の
スリット投光器２′，２″より照射される異なる波長の
単色光を分離して計測するためのものである。
【００１５】従って、ラインセンサカメラ３′により、
図中実線で示される単色光のスリットが観測されるとす
ると、ラインセンサカメラ３′に関して、スリット光を
投光するスリット投光器はスリット投光器２′のみであ
り、スリット投光器２″は無関係となる。逆に、ライン
センサカメラ３″により、図中破線で示される単色光の
スリットが観測されるとすると、ラインセンサカメラ
３″に関して、スリット光を投光するスリット投光器は
スリット投光器２″のみであり、スリット投光器２′は
無関係となる。
図中実線で示される単色光のスリットが観測されるとす
ると、ラインセンサカメラ３′に関して、スリット光を
投光するスリット投光器はスリット投光器２′のみであ
り、スリット投光器２″は無関係となる。逆に、ライン
センサカメラ３″により、図中破線で示される単色光の
スリットが観測されるとすると、ラインセンサカメラ
３″に関して、スリット光を投光するスリット投光器は
スリット投光器２″のみであり、スリット投光器２′は
無関係となる。
【００１６】つまり、本発明では、波長の異なるスリッ
ト光を交互に照射して、各波長毎をラインセンサカメラ
３′，３″で分離して独立して計測するするため、上下
方向に計測できる測定レンジを広くすることができ、且
つ、各波長毎の計測される横方向の凹凸を組み合わせる
ことができるため、結果として、横断方向の凹凸の計測
できる箇所を増やして、精密な計測が可能なレーザ変位
計を提供することが可能となる。
ト光を交互に照射して、各波長毎をラインセンサカメラ
３′，３″で分離して独立して計測するするため、上下
方向に計測できる測定レンジを広くすることができ、且
つ、各波長毎の計測される横方向の凹凸を組み合わせる
ことができるため、結果として、横断方向の凹凸の計測
できる箇所を増やして、精密な計測が可能なレーザ変位
計を提供することが可能となる。
【００１７】
【実施例】以下、本発明について、図面に示す実施例を
参照して詳細に説明する。図５〜図９に本発明の一実施
例に係るレーザ変位計を示す。本実施例は、図２に示す
路面形状計測車１に適用されるものでる。同図に示すよ
うに、基準路面より１１００ｍｍの高さには、多数のス
リット投光器２が基準路面に対して傾斜して取り付けら
れている。
参照して詳細に説明する。図５〜図９に本発明の一実施
例に係るレーザ変位計を示す。本実施例は、図２に示す
路面形状計測車１に適用されるものでる。同図に示すよ
うに、基準路面より１１００ｍｍの高さには、多数のス
リット投光器２が基準路面に対して傾斜して取り付けら
れている。
【００１８】スリット投光器２は、図中実線で示す可視
光を照射するもの、図中破線で示す赤外光を照射するも
のとが交互に配列している。スリット投光器２は、図
７、図８に示すように、路面に対する傾斜角は４５°の
ものが４４個、路面に対する傾斜角が５５．５°のもの
が１０個であり、また、スリット投光器２は中央部分で
は２列に配列し、外側部分では３列に配列している。
光を照射するもの、図中破線で示す赤外光を照射するも
のとが交互に配列している。スリット投光器２は、図
７、図８に示すように、路面に対する傾斜角は４５°の
ものが４４個、路面に対する傾斜角が５５．５°のもの
が１０個であり、また、スリット投光器２は中央部分で
は２列に配列し、外側部分では３列に配列している。
【００１９】更に、基準路面より２５８８ｍｍの高さに
は、２箇所に２台のラインセンサカメラ３が配設されて
いる。つまり、本実施例では、合計４台のラインセンサ
カメラ３が配置されている。そして、各箇所におけるラ
インセンサカメラ３には可視光用のフィルタと、赤外光
用のフィルタがそれぞれ取り付けられている。
は、２箇所に２台のラインセンサカメラ３が配設されて
いる。つまり、本実施例では、合計４台のラインセンサ
カメラ３が配置されている。そして、各箇所におけるラ
インセンサカメラ３には可視光用のフィルタと、赤外光
用のフィルタがそれぞれ取り付けられている。
【００２０】従って、選択波長の異なるフィルタを取り
付けられたラインセンサカメラ３は、スリット投光器２
より照射されたスリット光のうち赤外光又は可視光の何
れかを分離して選択的に観測することとなる。従って、
一方のラインセンサカメラ３により、赤外光のスリット
光のみが観測されるとすると、一方のラインセンサカメ
ラ３に関して、スリット光は一つおきに存在することに
なり、同様に、他方のラインセンサカメラ３により、可
視光のスリット光のみが観測されるとすると、他方のラ
インセンサカメラ３に関しても、スリット光は一つおき
に存在することになる。
付けられたラインセンサカメラ３は、スリット投光器２
より照射されたスリット光のうち赤外光又は可視光の何
れかを分離して選択的に観測することとなる。従って、
一方のラインセンサカメラ３により、赤外光のスリット
光のみが観測されるとすると、一方のラインセンサカメ
ラ３に関して、スリット光は一つおきに存在することに
なり、同様に、他方のラインセンサカメラ３により、可
視光のスリット光のみが観測されるとすると、他方のラ
インセンサカメラ３に関しても、スリット光は一つおき
に存在することになる。
【００２１】つまり、異なる波長のスリット光毎に、ス
リット投光器２の配置される間隔を考えれば、実効的
に、スリット投光器２の配置される間隔が長くなり、上
下方向に計測できる測定レンジが広くなる。しかも、実
際には、スリット投光器２の配置される間隔は、波長の
種類を考えなければ、スリット投光器２の配置される間
隔が長くなるわけではないから、横断方向の凹凸の計測
できる箇所が減少するわけではない。
リット投光器２の配置される間隔を考えれば、実効的
に、スリット投光器２の配置される間隔が長くなり、上
下方向に計測できる測定レンジが広くなる。しかも、実
際には、スリット投光器２の配置される間隔は、波長の
種類を考えなければ、スリット投光器２の配置される間
隔が長くなるわけではないから、横断方向の凹凸の計測
できる箇所が減少するわけではない。
【００２２】このように、本実施例では、赤外光又は可
視光のみを照射することのできる二種類のスリット投光
器２を交互に配置して、路面に対して、異なる単色光を
斜めに照射する一方、路面の上方から、光学フィルタを
装着した二つのラインセンサカメラ３により、波長毎に
分離して路面上のスリット光を計測するすることによ
り、横方向の測定ピッチを細かく保ちながら、高さ方向
の計測レンジを拡大することができる利点がある。
視光のみを照射することのできる二種類のスリット投光
器２を交互に配置して、路面に対して、異なる単色光を
斜めに照射する一方、路面の上方から、光学フィルタを
装着した二つのラインセンサカメラ３により、波長毎に
分離して路面上のスリット光を計測するすることによ
り、横方向の測定ピッチを細かく保ちながら、高さ方向
の計測レンジを拡大することができる利点がある。
【００２３】各ラインセンサカメラ３には、図９に示す
ように、その前面にレンズ４が取り付けられており、そ
のレンズ４には一般に光学的歪が伴う。そのため、図１
０に示すように、レンズ４の光学的歪により、ラインセ
ンサカメラ３の観測角θmがずれてθm′として観測さ
れ、ラインセンサカメラの写像位置ｌcもずれ、その写
像位置ｌcを示す画素アドレスＮも、次式（５）のよう
に、理論値Ｎtから実測値Ｎmへと誤差ΔＮを生じること
となる。
ように、その前面にレンズ４が取り付けられており、そ
のレンズ４には一般に光学的歪が伴う。そのため、図１
０に示すように、レンズ４の光学的歪により、ラインセ
ンサカメラ３の観測角θmがずれてθm′として観測さ
れ、ラインセンサカメラの写像位置ｌcもずれ、その写
像位置ｌcを示す画素アドレスＮも、次式（５）のよう
に、理論値Ｎtから実測値Ｎmへと誤差ΔＮを生じること
となる。
【００２４】ΔＮ＝Ｎt−Ｎm …（５） そこで、本実施例では、図６に示すように、４台のライ
ンセンサカメラ３1，３2，３3，３4について、画素アド
レス補正値ΔＮを各々予め求めた。この画素アドレス補
正値ΔＮは、図６に示すように０レベルで校正すること
により、レンズ４の光学的歪を除去することが可能であ
る。また、この画素アドレス補正値は、図６に示すよう
に、中央部と周辺部とでは一様ではなく、画素アドレス
に応じて変化するものであり、しかも、各ラインセンサ
カメラ３毎に異なる値となることが判る。１画素の長さ
は０．６４ｍｍである。
ンセンサカメラ３1，３2，３3，３4について、画素アド
レス補正値ΔＮを各々予め求めた。この画素アドレス補
正値ΔＮは、図６に示すように０レベルで校正すること
により、レンズ４の光学的歪を除去することが可能であ
る。また、この画素アドレス補正値は、図６に示すよう
に、中央部と周辺部とでは一様ではなく、画素アドレス
に応じて変化するものであり、しかも、各ラインセンサ
カメラ３毎に異なる値となることが判る。１画素の長さ
は０．６４ｍｍである。
【００２５】従って、図１２に示すように、この画素ア
ドレス補正値ΔＮを補正テーブル５として予め各ライン
センサカメラ３0，３1，３2，３3毎に記憶し、各画素位
置Ｎに対応した補正値ΔＮを、実測値Ｎmに加えて理論
値Ｎt（＝ΔＮ＋Ｎm）とし、この理論値Ｎtを上記
（４）式の画素アドレスＮとして代入することにより、
レンズの光学的歪を除去して、正確なtanθmを求めるこ
とができる。このようにして求めたtanθmを、上記
（１）（２）式に代入することにより、レンズの光学的
歪を除去して、正確なスリット光座標（Ｘs，Ｙs）を求
めることができる。
ドレス補正値ΔＮを補正テーブル５として予め各ライン
センサカメラ３0，３1，３2，３3毎に記憶し、各画素位
置Ｎに対応した補正値ΔＮを、実測値Ｎmに加えて理論
値Ｎt（＝ΔＮ＋Ｎm）とし、この理論値Ｎtを上記
（４）式の画素アドレスＮとして代入することにより、
レンズの光学的歪を除去して、正確なtanθmを求めるこ
とができる。このようにして求めたtanθmを、上記
（１）（２）式に代入することにより、レンズの光学的
歪を除去して、正確なスリット光座標（Ｘs，Ｙs）を求
めることができる。
【００２６】このように本実施例では、４台のラインセ
ンサカメラ３0，３1，３2，３3毎に、光学レンズに対す
る四つの補正テーブル５を用意したが、各ラインセンサ
カメラ３についての光学的歪がほぼ同様である場合に
は、近似的に一つの補正テーブル５を共用することも可
能である。尚、このような補正テーブル５は必ずしも必
要ではない。例えば、各ラインセンサカメラ３0，３1，
３2，３3の光学レンズとして、複数のレンズを組み合わ
せて、光学的歪を相殺するようにしても良し、光学的歪
が無視できる程度に小さい光学レンズを選択しても良
い。
ンサカメラ３0，３1，３2，３3毎に、光学レンズに対す
る四つの補正テーブル５を用意したが、各ラインセンサ
カメラ３についての光学的歪がほぼ同様である場合に
は、近似的に一つの補正テーブル５を共用することも可
能である。尚、このような補正テーブル５は必ずしも必
要ではない。例えば、各ラインセンサカメラ３0，３1，
３2，３3の光学レンズとして、複数のレンズを組み合わ
せて、光学的歪を相殺するようにしても良し、光学的歪
が無視できる程度に小さい光学レンズを選択しても良
い。
【００２７】
【発明の効果】以上、実施例に基づいて具体的に説明し
たように、本発明では、波長の異なるスリット光を交互
に照射して、各波長毎をラインセンサカメラで分離して
独立して計測するするため、上下方向に計測できる測定
レンジを広くすることができ、且つ、各波長毎の計測さ
れる横方向の凹凸を組み合わせることができるため、結
果として、横断方向の凹凸の計測できる箇所を増やし
て、精密な計測が可能なレーザ変位計を提供することが
可能となる。
たように、本発明では、波長の異なるスリット光を交互
に照射して、各波長毎をラインセンサカメラで分離して
独立して計測するするため、上下方向に計測できる測定
レンジを広くすることができ、且つ、各波長毎の計測さ
れる横方向の凹凸を組み合わせることができるため、結
果として、横断方向の凹凸の計測できる箇所を増やし
て、精密な計測が可能なレーザ変位計を提供することが
可能となる。
【図１】本発明のレーザ変位計における実施形態を示す
説明図である。
説明図である。
【図２】路面形状計測車の斜視図である。
【図３】三角測量法によるわだち掘れの測定原理を示す
説明図てある。
説明図てある。
【図４】ラインセンサカメラの構造図である。
【図５】スリット投光器及びラインセンサカメラのレイ
アウトを示す説明図である。
アウトを示す説明図である。
【図６】画素アドレス補正値を示すグラフである。
【図７】スリット投光器の配列を示す説明図である。
【図８】スリット投光器を示す説明図である。
【図９】ラインセンサカメラを示す説明図である。
【図１０】レンズの光学的歪の影響を示す説明図であ
る。
る。
【図１１】スリット投光器の配置と測定レンジとの関係
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図１２】補正テーブルを示す説明図である。
１ 路面形状計測車 ２，２′，２″ スリット投光器 ３，３′，３″ ラインセンサカメラ ４ レンズ ５ 光学フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大貫 薫 東京都文京区湯島三丁目一番三号 東京道 路エンジニア株式会社内 (72)発明者 小野 義道 東京都文京区湯島三丁目一番三号 東京道 路エンジニア株式会社内 (72)発明者 幸田 信則 東京都文京区湯島三丁目一番三号 東京道 路エンジニア株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 被計測面に対して、複数のスリット光を
それぞれ斜めに照射する一方、前記被計測面の上方から
ラインセンサカメラにより前記スリット光を計測して、
三角測量の原理により前記被計測面の凹凸を求めるレー
ザ変位計において、前記複数のスリット光は、交互に異
なる波長の単色光であり、且つ、前記ラインセンサカメ
ラとして、前記波長の異なる単色光を分離して計測でき
る複数のものを用いることを特徴とするレーザ変位計。 - 【請求項２】 前記ラインセンサカメラには、各波長の
光を分離するための光学フィルタが装着されることを特
徴とする請求項１記載のレーザ変位計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9976196A JPH09287932A (ja) | 1996-04-22 | 1996-04-22 | レーザ変位計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9976196A JPH09287932A (ja) | 1996-04-22 | 1996-04-22 | レーザ変位計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09287932A true JPH09287932A (ja) | 1997-11-04 |
Family
ID=14255969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9976196A Pending JPH09287932A (ja) | 1996-04-22 | 1996-04-22 | レーザ変位計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09287932A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2929393A1 (fr) * | 2008-04-01 | 2009-10-02 | Nodbox | Procede de determination de valeur de rugosite. |
| JP2009270918A (ja) * | 2008-05-07 | 2009-11-19 | Stanley Electric Co Ltd | 車高センサ |
| GB2460892A (en) * | 2008-06-17 | 2009-12-23 | Wdm Ltd | Apparatus for measuring carriageway surface properties |
| CN102322788A (zh) * | 2011-09-16 | 2012-01-18 | 武汉武大卓越科技有限责任公司 | 激光测速仪平行度精确测量装置及测量方法 |
| JP2015031616A (ja) * | 2013-08-05 | 2015-02-16 | 大成ロテック株式会社 | 路面性状測定装置及び路面性状測定方法 |
| CN109084706A (zh) * | 2018-06-25 | 2018-12-25 | 天津大学 | 测量机器人运动场地全域平整度自动检测方法及装置 |
-
1996
- 1996-04-22 JP JP9976196A patent/JPH09287932A/ja active Pending
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| US8159679B2 (en) | 2008-06-17 | 2012-04-17 | W.D.M. Limited | Apparatus for measuring carriageway surface properties |
| GB2460892B (en) * | 2008-06-17 | 2012-12-19 | Wdm Ltd | Apparatus for measuring carriageway surface properties |
| CN102322788A (zh) * | 2011-09-16 | 2012-01-18 | 武汉武大卓越科技有限责任公司 | 激光测速仪平行度精确测量装置及测量方法 |
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| CN109084706A (zh) * | 2018-06-25 | 2018-12-25 | 天津大学 | 测量机器人运动场地全域平整度自动检测方法及装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030225 |