JPH09288841A - 回折素子及び光学式ピックアップ装置 - Google Patents
回折素子及び光学式ピックアップ装置Info
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- JPH09288841A JPH09288841A JP8100269A JP10026996A JPH09288841A JP H09288841 A JPH09288841 A JP H09288841A JP 8100269 A JP8100269 A JP 8100269A JP 10026996 A JP10026996 A JP 10026996A JP H09288841 A JPH09288841 A JP H09288841A
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- light splitting
- splitting
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光学式ピックアップ装置用の発光素子、受光
素子、回折素子を一体化たモジュール等を組み立てる場
合に、その組立精度及び組立歩留の向上に適し、位置合
わせマークの認識が容易な回折素子を提供する。 【解決手段】 入射光を主ビームと副ビームとに分割す
る1又は2以上の光分割部2が形成された面と同一面内
で、光分割部2が形成された領域以外の平面部3に回折
格子により形成されたパターン認識用の位置合わせマー
ク4を形成し、適度な明るさの照明光で回折素子1の表
面を照明し、平面部3に比較して暗い光分割部2及び位
置合わせマーク4の外形を良好に認識する。
素子、回折素子を一体化たモジュール等を組み立てる場
合に、その組立精度及び組立歩留の向上に適し、位置合
わせマークの認識が容易な回折素子を提供する。 【解決手段】 入射光を主ビームと副ビームとに分割す
る1又は2以上の光分割部2が形成された面と同一面内
で、光分割部2が形成された領域以外の平面部3に回折
格子により形成されたパターン認識用の位置合わせマー
ク4を形成し、適度な明るさの照明光で回折素子1の表
面を照明し、平面部3に比較して暗い光分割部2及び位
置合わせマーク4の外形を良好に認識する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の情
報記録媒体に対する情報の記録及び再生に用いられる回
折素子及びそれを用いた光学式ピックアップ装置に関す
る。
報記録媒体に対する情報の記録及び再生に用いられる回
折素子及びそれを用いた光学式ピックアップ装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】光ディスク等の情報記録媒体に対して情
報を記録し再生する際に用いられる光学式ピックアップ
装置では、光源からの出射光を主ビームと副ビームに分
割したり、光ディスク上に記録された情報により変調を
受けた反射光を出射光の光路から分離分割して受光素子
上に導く場合に、回折素子が広く用いられている。
報を記録し再生する際に用いられる光学式ピックアップ
装置では、光源からの出射光を主ビームと副ビームに分
割したり、光ディスク上に記録された情報により変調を
受けた反射光を出射光の光路から分離分割して受光素子
上に導く場合に、回折素子が広く用いられている。
【0003】また、光学式ピックアップ装置の小型化、
低コスト化、信頼性向上を目的として、光源、受光素子
及び回折素子を一体化してモジュール化する傾向にあ
る。モジュール化された素子を用いた光学式ピックアッ
プ装置では、主に光源、受光素子及び回折素子の相対位
置精度により、その性能が決定される。従って、光源、
受光素子及び回折素子をモジュールの筐体上に一定の精
度で組み立てることが重要である。そのため、例えば受
光素子及び回折素子上に位置合わせマークを内蔵させ、
この位置合わせマークを認識装置を用いて認識しつつ組
立を行う方法が用いられる。
低コスト化、信頼性向上を目的として、光源、受光素子
及び回折素子を一体化してモジュール化する傾向にあ
る。モジュール化された素子を用いた光学式ピックアッ
プ装置では、主に光源、受光素子及び回折素子の相対位
置精度により、その性能が決定される。従って、光源、
受光素子及び回折素子をモジュールの筐体上に一定の精
度で組み立てることが重要である。そのため、例えば受
光素子及び回折素子上に位置合わせマークを内蔵させ、
この位置合わせマークを認識装置を用いて認識しつつ組
立を行う方法が用いられる。
【0004】従来の回折素子を図8に示す。図8におい
て、31は回折素子、32は回折格子で構成された光分
割部、33は平面部、34は回折素子を光学式ピックア
ップ装置に装着する際の位置合わせマークである。光学
式ピックアップ装置における受光素子等を回路基板上に
実装する際の位置合わせマーク(図示せず)について
は、通常の半導体プロセスであるフォトリソグラフィー
及びエッチングにより容易に形成することが可能であ
り、受光素子上の位置合わせマークと受光部との相対位
置を高精度なものとすることができる。位置合わせマー
クの材料として金属や絶縁物等の種々の材料を用いるこ
とができる。さらに、位置合わせマークの周囲を工夫す
ることにより、認識性を十分に高くすることができる。
て、31は回折素子、32は回折格子で構成された光分
割部、33は平面部、34は回折素子を光学式ピックア
ップ装置に装着する際の位置合わせマークである。光学
式ピックアップ装置における受光素子等を回路基板上に
実装する際の位置合わせマーク(図示せず)について
は、通常の半導体プロセスであるフォトリソグラフィー
及びエッチングにより容易に形成することが可能であ
り、受光素子上の位置合わせマークと受光部との相対位
置を高精度なものとすることができる。位置合わせマー
クの材料として金属や絶縁物等の種々の材料を用いるこ
とができる。さらに、位置合わせマークの周囲を工夫す
ることにより、認識性を十分に高くすることができる。
【0005】一方、回折素子1は、通常、イオンミリン
グや反応性イオンエッチング等のドライエッチング方法
を用いて光学ガラスを直接加工することにより製造され
る。または、ドライエッチングにより製造したガラス製
回折素子上にニッケル鍍金を施してパターンを転写し、
これを一旦金型に加工し、その金型を用いて樹脂材料を
成形することにより回折素子1を製造してもよい。何れ
の製造方法においても、位置合わせマーク34と光分割
部32との相対位置は、回折格子パターンと位置合わせ
マークパターンを同時に形成したフォトマスクを用いて
非常に高精度なものとすることができる。
グや反応性イオンエッチング等のドライエッチング方法
を用いて光学ガラスを直接加工することにより製造され
る。または、ドライエッチングにより製造したガラス製
回折素子上にニッケル鍍金を施してパターンを転写し、
これを一旦金型に加工し、その金型を用いて樹脂材料を
成形することにより回折素子1を製造してもよい。何れ
の製造方法においても、位置合わせマーク34と光分割
部32との相対位置は、回折格子パターンと位置合わせ
マークパターンを同時に形成したフォトマスクを用いて
非常に高精度なものとすることができる。
【0006】
【解決しようとする課題】ところが、従来の回折素子3
1においては、光学ガラスを直接ドライエッチングする
方法によっても、金型を用いて樹脂成形する方法によっ
ても、位置合わせマーク34は、平面部33から所定の
深さ分引っ込んだ(または突き出た)段差として構成さ
れる。そのため、図8に示すように、位置合わせマーク
34の周囲は透明であり、位置合わせマーク34の大部
分も透明である。このため、この回折素子31の表面を
認識装置で観察した場合、図9に示すように、位置合わ
せマーク34においてライン状の段差部34a部分のみ
が僅かに暗くなるだけである。そのため、認識時の基
点、例えば35a,35bの認識精度が低く、基点35
a,35bの誤認識を生ずる場合がある。従って、せっ
かく回折素子の回折格子パターンと位置合せマークパタ
ーンを高精度に作製したにもかかわらず、光ピックアッ
プ装置の組立精度不良が発生する頻度が高いという問題
点を有していた。
1においては、光学ガラスを直接ドライエッチングする
方法によっても、金型を用いて樹脂成形する方法によっ
ても、位置合わせマーク34は、平面部33から所定の
深さ分引っ込んだ(または突き出た)段差として構成さ
れる。そのため、図8に示すように、位置合わせマーク
34の周囲は透明であり、位置合わせマーク34の大部
分も透明である。このため、この回折素子31の表面を
認識装置で観察した場合、図9に示すように、位置合わ
せマーク34においてライン状の段差部34a部分のみ
が僅かに暗くなるだけである。そのため、認識時の基
点、例えば35a,35bの認識精度が低く、基点35
a,35bの誤認識を生ずる場合がある。従って、せっ
かく回折素子の回折格子パターンと位置合せマークパタ
ーンを高精度に作製したにもかかわらず、光ピックアッ
プ装置の組立精度不良が発生する頻度が高いという問題
点を有していた。
【0007】本発明は上記従来例の問題点を解決するた
めになされたものであり、位置合わせマークを確実に認
識することができる回折素子及びそれを用いた組み立て
精度が高い光学式ピックアップ装置を提供することを目
的としている。
めになされたものであり、位置合わせマークを確実に認
識することができる回折素子及びそれを用いた組み立て
精度が高い光学式ピックアップ装置を提供することを目
的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の回折素子は、入射光を主ビームと副ビーム
とに分割する1又は2以上の光分割手段と、前記光分割
手段が形成された面と同一面内で前記光分割手段が形成
された領域以外の平面部に回折格子により形成されたパ
ターン認識用の位置合わせマークとを有する。
め、本発明の回折素子は、入射光を主ビームと副ビーム
とに分割する1又は2以上の光分割手段と、前記光分割
手段が形成された面と同一面内で前記光分割手段が形成
された領域以外の平面部に回折格子により形成されたパ
ターン認識用の位置合わせマークとを有する。
【0009】また、本発明の別の回折素子は、入射光を
主ビームと副ビームとに分割する1又は2以上の光分割
手段を有し、前記光分割手段の形成された領域の近傍は
平面部で構成され、前記光分割手段の形成された領域の
外形の少なくとも一部分がパターン認識用の位置合わせ
マークを兼ねる。
主ビームと副ビームとに分割する1又は2以上の光分割
手段を有し、前記光分割手段の形成された領域の近傍は
平面部で構成され、前記光分割手段の形成された領域の
外形の少なくとも一部分がパターン認識用の位置合わせ
マークを兼ねる。
【0010】一方、本発明の光学式ピックアップ装置
は、発光手段と、前記発光手段から出力された光束を情
報記録媒体上に集光する集光手段と、前記情報記録媒体
により反射され前記集光手段を透過した光束を所定方向
に回折させる回折手段と、前記回折手段により回折され
た光束を受光する受光手段とを具備し、前記回折手段と
して上記いずれかの構成を有する回折素子を用いる。
は、発光手段と、前記発光手段から出力された光束を情
報記録媒体上に集光する集光手段と、前記情報記録媒体
により反射され前記集光手段を透過した光束を所定方向
に回折させる回折手段と、前記回折手段により回折され
た光束を受光する受光手段とを具備し、前記回折手段と
して上記いずれかの構成を有する回折素子を用いる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明者らは、適度な明るさの照
明光で回折素子を照明し認識装置等で観察すると、回折
格子が形成されていない他の平面部が明の状態になるの
に対して、回折格子の形成された領域は暗の状態とな
り、良好にその外形を認識できるという現象を見いだし
た。本発明は、この知見に基づいてなされたものであ
る。以下本発明の回折素子及びそれを用いた光学式ピッ
クアップ装置の具体的実施形態について説明する。
明光で回折素子を照明し認識装置等で観察すると、回折
格子が形成されていない他の平面部が明の状態になるの
に対して、回折格子の形成された領域は暗の状態とな
り、良好にその外形を認識できるという現象を見いだし
た。本発明は、この知見に基づいてなされたものであ
る。以下本発明の回折素子及びそれを用いた光学式ピッ
クアップ装置の具体的実施形態について説明する。
【0012】(第1の実施形態)本発明の回折素子及び
それを用いた光学式ピックアップ装置の第1の実施形態
について図面を参照しながら説明する。図1は第1の実
施形態に係る回折素子の構成を示す平面図である。ガラ
ス製の回折素子1の片面に、光を主ビームと副ビームと
に分割する回折格子で構成された光分割部2が形成さ
れ、この面内で光分割部2が形成された領域以外の平面
部3に回折格子で構成された略「山」字形の位置合わせ
マーク4が形成されている。本実施形態の場合、位置合
わせマーク4を構成する回折格子のピッチ及びデューテ
ィ比は、それぞれ5μm、0.5であり、回折格子の深
さは、光分割部2を構成する回折格子の深さと同じ40
0nmである。なお、位置合わせマーク4については、
この回折素子1が使用される目的、例えば、光学式ピッ
クアップ装置のフォーカスサーボ用の信号等の各種信号
に影響を及ぼさない位置もしくは回折方向等の配慮がな
されている。
それを用いた光学式ピックアップ装置の第1の実施形態
について図面を参照しながら説明する。図1は第1の実
施形態に係る回折素子の構成を示す平面図である。ガラ
ス製の回折素子1の片面に、光を主ビームと副ビームと
に分割する回折格子で構成された光分割部2が形成さ
れ、この面内で光分割部2が形成された領域以外の平面
部3に回折格子で構成された略「山」字形の位置合わせ
マーク4が形成されている。本実施形態の場合、位置合
わせマーク4を構成する回折格子のピッチ及びデューテ
ィ比は、それぞれ5μm、0.5であり、回折格子の深
さは、光分割部2を構成する回折格子の深さと同じ40
0nmである。なお、位置合わせマーク4については、
この回折素子1が使用される目的、例えば、光学式ピッ
クアップ装置のフォーカスサーボ用の信号等の各種信号
に影響を及ぼさない位置もしくは回折方向等の配慮がな
されている。
【0013】適度な明るさの照明光で回折素子1の表面
を照明し、認識装置により観察したその明暗の状態を黒
白に2値化した場合の状態を図2に示す。明るい平面部
3が白、平面部3に比較して暗い光分割部2及び位置合
わせマーク4が黒(斜線部)となる。その結果、位置合
わせマーク4の外形を良好に認識することができる。こ
の状態で、位置合わせマーク4の2つの基点、例えば5
a,5bから、認識装置上の座標である(x,y)及び
角度θを認識する。
を照明し、認識装置により観察したその明暗の状態を黒
白に2値化した場合の状態を図2に示す。明るい平面部
3が白、平面部3に比較して暗い光分割部2及び位置合
わせマーク4が黒(斜線部)となる。その結果、位置合
わせマーク4の外形を良好に認識することができる。こ
の状態で、位置合わせマーク4の2つの基点、例えば5
a,5bから、認識装置上の座標である(x,y)及び
角度θを認識する。
【0014】次に、上記回折素子1を用いた光学式ピッ
クアップ装置を図3に示す。図3において、発光素子1
2、受光素子13及び回路基板11等と共に、回折素子
1が筐体10に固定され、モジュールとして一体化され
ている。発光素子12から出力され、光分割部2を透過
した光束は、対物レンズ14により情報記録媒体15上
に集光される。情報記録媒体15により反射された光束
は、再度対物レンズ14を透過し、光分割部2により所
定方向に回折される。回折された光束は受光素子13に
入射し、電気信号に変換され、情報記録媒体15に記録
された情報が再生される。
クアップ装置を図3に示す。図3において、発光素子1
2、受光素子13及び回路基板11等と共に、回折素子
1が筐体10に固定され、モジュールとして一体化され
ている。発光素子12から出力され、光分割部2を透過
した光束は、対物レンズ14により情報記録媒体15上
に集光される。情報記録媒体15により反射された光束
は、再度対物レンズ14を透過し、光分割部2により所
定方向に回折される。回折された光束は受光素子13に
入射し、電気信号に変換され、情報記録媒体15に記録
された情報が再生される。
【0015】上記光学的ピックアップ装置を組み立てる
場合、認識装置(図示せず)により受光素子13上に形
成された位置合わせマーク16を検出し、又は回路基板
11上の配線パターン等の特徴的なパターンを認識し、
受光素子13の位置を特定する。次に、筐体10上に回
折素子1を載置し、回折素子1上に形成された位置合わ
せマーク4を認識装置により認識する。その結果、回折
素子1と受光素子13の相対的な位置関係がわかる。次
に、回折素子1の位置を調節し、光分割部2により回折
された光束が入射する位置と受光素子13の位置とを一
致させる。その状態で回折素子1を筐体10に固定し、
モジュールが完成する。なお、発光素子12の位置検出
については、発光素子を発光させてその発光点を認識し
たり、外形を認識する方法等を用いてもよい。また、本
実施形態において、光分割部2と位置合わせマーク4と
を平面部3により分離させているが、光分割部2と位置
合わせマーク4とが接するような構造としてもよい。
場合、認識装置(図示せず)により受光素子13上に形
成された位置合わせマーク16を検出し、又は回路基板
11上の配線パターン等の特徴的なパターンを認識し、
受光素子13の位置を特定する。次に、筐体10上に回
折素子1を載置し、回折素子1上に形成された位置合わ
せマーク4を認識装置により認識する。その結果、回折
素子1と受光素子13の相対的な位置関係がわかる。次
に、回折素子1の位置を調節し、光分割部2により回折
された光束が入射する位置と受光素子13の位置とを一
致させる。その状態で回折素子1を筐体10に固定し、
モジュールが完成する。なお、発光素子12の位置検出
については、発光素子を発光させてその発光点を認識し
たり、外形を認識する方法等を用いてもよい。また、本
実施形態において、光分割部2と位置合わせマーク4と
を平面部3により分離させているが、光分割部2と位置
合わせマーク4とが接するような構造としてもよい。
【0016】(第2の実施形態)次に、本発明の回折素
子の第2の実施形態について、図4及び図5を用いて説
明する。図4は第2の実施形態に係る回折素子の構成を
示す平面図である。ガラス製の回折素子21の片面に、
入射光を主ビームと副ビームとに分割する光分割部22
が形成され、光分割部22が形成された領域以外の領域
すべてが平面部23で構成されている。さらに、光分割
部22の外形の一部分が略「山」字形となっており、こ
の部分が位置合わせマーク24を兼ねる。本実施形態の
場合、光分割部22を構成する回折格子のピッチ、デュ
ーティ比及び深さは、それぞれ3μm、0.5、400
nmである。なお、位置合わせマーク24については、
この回折素子21が使用される目的、例えば、光学式ピ
ックアップ装置のフォーカスサーボ用の信号等の各種信
号に影響を及ぼさない位置等の配慮がなされている。
子の第2の実施形態について、図4及び図5を用いて説
明する。図4は第2の実施形態に係る回折素子の構成を
示す平面図である。ガラス製の回折素子21の片面に、
入射光を主ビームと副ビームとに分割する光分割部22
が形成され、光分割部22が形成された領域以外の領域
すべてが平面部23で構成されている。さらに、光分割
部22の外形の一部分が略「山」字形となっており、こ
の部分が位置合わせマーク24を兼ねる。本実施形態の
場合、光分割部22を構成する回折格子のピッチ、デュ
ーティ比及び深さは、それぞれ3μm、0.5、400
nmである。なお、位置合わせマーク24については、
この回折素子21が使用される目的、例えば、光学式ピ
ックアップ装置のフォーカスサーボ用の信号等の各種信
号に影響を及ぼさない位置等の配慮がなされている。
【0017】適度な明るさの照明光で回折素子21の表
面を照明し、認識装置により観察したその明暗の状態を
黒白に2値化した場合の状態を図5に示す。明るい平面
部23が白、平面部23に比較して暗い光分割部22が
黒(斜線部)となる。その結果、位置合わせマーク24
の外形を良好に認識することができる。この状態で、位
置合わせマーク24の2つの基点、例えば25a,25
bから、認識装置上の座標である(x,y)及び角度θ
を認識する。
面を照明し、認識装置により観察したその明暗の状態を
黒白に2値化した場合の状態を図5に示す。明るい平面
部23が白、平面部23に比較して暗い光分割部22が
黒(斜線部)となる。その結果、位置合わせマーク24
の外形を良好に認識することができる。この状態で、位
置合わせマーク24の2つの基点、例えば25a,25
bから、認識装置上の座標である(x,y)及び角度θ
を認識する。
【0018】図4に示すように第2の実施形態に係る回
折素子21に関しては、位置合わせマークの形状として
略「山」字形を選んだが、これに限定されるものではな
く、例えば図6に示すように、光分割部22の形状を矩
形とし、その角を2つの基点25a,25bとしてもよ
い。あるいは、図7に示すように、光分割部22の一部
分に回折格子が形成されていない部分26を形成しても
よい。
折素子21に関しては、位置合わせマークの形状として
略「山」字形を選んだが、これに限定されるものではな
く、例えば図6に示すように、光分割部22の形状を矩
形とし、その角を2つの基点25a,25bとしてもよ
い。あるいは、図7に示すように、光分割部22の一部
分に回折格子が形成されていない部分26を形成しても
よい。
【0019】なお、上記各実施形態において、回折素子
1,21の構成材料としてガラスを用いたが、金型を用
いて樹脂材料を射出成形した場合であっても同様の効果
を奏することは言うまでもない。また、各回折素子1,
21にそれぞれ1つの光分割部2,22を形成されてい
たが、回折素子1,21が使用される目的に応じて、光
分割部2,22を2つ以上形成してもよい。その場合、
光分割部2,22を回折素子の同一の面に形成してもよ
く、また異なる複数の面にそれぞれ形成してもよい。さ
らに、第1の実施形態において、光分割部2が形成され
た面ごとに位置合わせマーク4を形成してもよく、特定
の面のみに位置合わせマーク4を形成してもよい。ま
た、第2の実施形態において、すべての光分割部22の
外形が位置合わせマーク24を兼ねた構造としてもよ
く、あるいは1つの光分割部22の外形だけが位置合わ
せマーク24を兼ねた構造としてもよい。また、特定の
面のみに形成された光分割部22の外形だけが位置合わ
せマーク24を兼ねた構造としてもよい。
1,21の構成材料としてガラスを用いたが、金型を用
いて樹脂材料を射出成形した場合であっても同様の効果
を奏することは言うまでもない。また、各回折素子1,
21にそれぞれ1つの光分割部2,22を形成されてい
たが、回折素子1,21が使用される目的に応じて、光
分割部2,22を2つ以上形成してもよい。その場合、
光分割部2,22を回折素子の同一の面に形成してもよ
く、また異なる複数の面にそれぞれ形成してもよい。さ
らに、第1の実施形態において、光分割部2が形成され
た面ごとに位置合わせマーク4を形成してもよく、特定
の面のみに位置合わせマーク4を形成してもよい。ま
た、第2の実施形態において、すべての光分割部22の
外形が位置合わせマーク24を兼ねた構造としてもよ
く、あるいは1つの光分割部22の外形だけが位置合わ
せマーク24を兼ねた構造としてもよい。また、特定の
面のみに形成された光分割部22の外形だけが位置合わ
せマーク24を兼ねた構造としてもよい。
【0020】また、上記各実施形態において、位置合わ
せマーク4,24の形状として略「山」字形を選んだ
が、この形状に限定されるものではなく、これ以外の形
状を用いても同様の効果を奏することは言うまでもな
い。さらに、位置合わせマーク4,24を構成する回折
格子のピッチ、デューティ比及び深さをそれぞれ5μ
m、0.5、400nmとしたが、これらの数値に限定
されるものではなく、これら以外の数値であっても同様
の効果を奏する。但し、回折格子のピッチに関しては、
ピッチを小さくすればするほど、位置合わせマーク4,
24と周囲の平坦部3,23との明暗の差が増大し、認
識装置による基点5a,5b,25a,25bの識別精
度が向上する。そのため、使用する認識装置の性能を考
慮して、ピッチを設定することが望ましい。また、深さ
に関しては、光分割部2を構成する回折格子の深さと同
じ深さにする必要はないが、同じ深さにすることによ
り、1回のフォトリソグラフィ工程で光分割部2,22
及び位置合わせマーク4,24を形成することができ、
低コスト化に有効である。
せマーク4,24の形状として略「山」字形を選んだ
が、この形状に限定されるものではなく、これ以外の形
状を用いても同様の効果を奏することは言うまでもな
い。さらに、位置合わせマーク4,24を構成する回折
格子のピッチ、デューティ比及び深さをそれぞれ5μ
m、0.5、400nmとしたが、これらの数値に限定
されるものではなく、これら以外の数値であっても同様
の効果を奏する。但し、回折格子のピッチに関しては、
ピッチを小さくすればするほど、位置合わせマーク4,
24と周囲の平坦部3,23との明暗の差が増大し、認
識装置による基点5a,5b,25a,25bの識別精
度が向上する。そのため、使用する認識装置の性能を考
慮して、ピッチを設定することが望ましい。また、深さ
に関しては、光分割部2を構成する回折格子の深さと同
じ深さにする必要はないが、同じ深さにすることによ
り、1回のフォトリソグラフィ工程で光分割部2,22
及び位置合わせマーク4,24を形成することができ、
低コスト化に有効である。
【0021】さらに、上記各実施形態においては、各回
折素子1、21にそれぞれ1つの位置合わせマーク4,
24を形成したが、複数の位置合わせマークを形成して
もよい。また、光分割部2,22及び位置合わせマーク
4,24の形成された面において、光分割部2,22及
び位置合わせマーク4,24の形成された領域以外はす
べて平面部3,23で構成したが、平面部3,23は位
置合わせマーク4,24が良好に認識できる面積があれ
ば十分であり、位置合わせマーク4,24の近傍にのみ
に形成してもよい。
折素子1、21にそれぞれ1つの位置合わせマーク4,
24を形成したが、複数の位置合わせマークを形成して
もよい。また、光分割部2,22及び位置合わせマーク
4,24の形成された面において、光分割部2,22及
び位置合わせマーク4,24の形成された領域以外はす
べて平面部3,23で構成したが、平面部3,23は位
置合わせマーク4,24が良好に認識できる面積があれ
ば十分であり、位置合わせマーク4,24の近傍にのみ
に形成してもよい。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1の回
折素子によれば、入射光を主ビームと副ビームとに分割
する1又は2以上の光分割手段と、光分割手段が形成さ
れた面と同一面内で光分割手段が形成された領域以外の
平面部に回折格子により形成されたパターン認識用の位
置合わせマークとを有するので、適度な明るさの照明光
で回折素子の表面を照明し、認識装置により観察する
と、平面部が明るく、光分割手段及び位置合わせマーク
が平面部に比較して暗くなる。その結果、位置合わせマ
ークの外形を良好に認識することができる。
折素子によれば、入射光を主ビームと副ビームとに分割
する1又は2以上の光分割手段と、光分割手段が形成さ
れた面と同一面内で光分割手段が形成された領域以外の
平面部に回折格子により形成されたパターン認識用の位
置合わせマークとを有するので、適度な明るさの照明光
で回折素子の表面を照明し、認識装置により観察する
と、平面部が明るく、光分割手段及び位置合わせマーク
が平面部に比較して暗くなる。その結果、位置合わせマ
ークの外形を良好に認識することができる。
【0023】また、本発明の別の回折素子によれば、入
射光を主ビームと副ビームとに分割する1又は2以上の
光分割手段を有し、光分割手段の形成された領域の近傍
は平面部で構成され、光分割手段の形成された領域の外
形の少なくとも一部分がパターン認識用の位置合わせマ
ークを兼ねるので、適度な明るさの照明光で回折素子の
表面を照明し、認識装置により観察すると、平面部が明
るく、光分割手段が平面部に比較して暗くなる。その結
果、位置合わせマークの外形を良好に認識することがで
きる。
射光を主ビームと副ビームとに分割する1又は2以上の
光分割手段を有し、光分割手段の形成された領域の近傍
は平面部で構成され、光分割手段の形成された領域の外
形の少なくとも一部分がパターン認識用の位置合わせマ
ークを兼ねるので、適度な明るさの照明光で回折素子の
表面を照明し、認識装置により観察すると、平面部が明
るく、光分割手段が平面部に比較して暗くなる。その結
果、位置合わせマークの外形を良好に認識することがで
きる。
【0024】一方、本発明の光学式ピックアップ装置
は、発光手段と、発光手段から出力された光束を情報記
録媒体上に集光する集光手段と、情報記録媒体により反
射され前記集光手段を透過した光束を所定方向に回折さ
せる回折手段と、回折手段により回折された光束を受光
する受光手段とを具備し、回折手段として上記いずれか
の構成を有する回折素子を用いるので、認識装置により
受光素子上に形成された位置合わせマーク等及び回折素
子上に形成された位置合わせマークをそれぞれ認識し、
回折素子と受光素子の相対的な位置関係を調節すること
ができる。その結果、組み立て精度が高い光学式ピック
アップ装置を得ることができる。
は、発光手段と、発光手段から出力された光束を情報記
録媒体上に集光する集光手段と、情報記録媒体により反
射され前記集光手段を透過した光束を所定方向に回折さ
せる回折手段と、回折手段により回折された光束を受光
する受光手段とを具備し、回折手段として上記いずれか
の構成を有する回折素子を用いるので、認識装置により
受光素子上に形成された位置合わせマーク等及び回折素
子上に形成された位置合わせマークをそれぞれ認識し、
回折素子と受光素子の相対的な位置関係を調節すること
ができる。その結果、組み立て精度が高い光学式ピック
アップ装置を得ることができる。
【図1】本発明の回折素子の第1の実施形態の一構成例
を示す平面図
を示す平面図
【図2】図1に示す回折素子の表面を認識装置で観察し
た場合における明暗状態を表す図
た場合における明暗状態を表す図
【図3】本発明の回折素子を用いた光学式ピックアップ
装置の一構成例を示す断面図
装置の一構成例を示す断面図
【図4】本発明の回折素子の第2の実施形態の一構成例
を示す平面図
を示す平面図
【図5】図4に示す回折素子の表面を認識装置で観察し
た場合における明暗状態を表す図
た場合における明暗状態を表す図
【図6】本発明の回折素子の第2の実施形態の別の構成
例を示す平面図
例を示す平面図
【図7】本発明の回折素子の第2の実施形態のさらに別
の構成例を示す平面図
の構成例を示す平面図
【図8】従来の回折素子の構成を示す平面図
【図9】図8に示す従来の回折素子の表面を認識装置で
観察した場合における明暗状態を表す図
観察した場合における明暗状態を表す図
1 :回折素子 2 :光分割部(回折格子) 3 :平面部 4 :位置合わせマーク 5a:基点 5b:基点 10 :筐体 11 :回路基板 12 :発光素子 13 :受光素子 14 :対物レンズ 15 :情報記録媒体 16 :位置合わせマーク 21 :回折素子 22 :光分割部(回折格子) 23 :平面部 24 :位置合わせマーク 25a:基点 25b:基点 26 :回折格子が形成されていない部分
Claims (3)
- 【請求項1】 入射光を主ビームと副ビームとに分割す
る1又は2以上の光分割手段と、前記光分割手段が形成
された面と同一面内で前記光分割手段が形成された領域
以外の平面部に回折格子により形成されたパターン認識
用の位置合わせマークとを有する回折素子。 - 【請求項2】 入射光を主ビームと副ビームとに分割す
る1又は2以上の光分割手段を有し、前記光分割手段の
形成された領域の近傍は平面部で構成され、前記光分割
手段の形成された領域の外形の少なくとも一部分がパタ
ーン認識用の位置合わせマークを兼ねた回折素子。 - 【請求項3】 発光手段と、前記発光手段から出力され
た光束を情報記録媒体上に集光する集光手段と、前記情
報記録媒体により反射され前記集光手段を透過した光束
を所定方向に回折させる回折手段と、前記回折手段によ
り回折された光束を受光する受光手段とを具備し、前記
回折手段として請求項1又は2に記載した回折素子を用
いた光学式ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8100269A JPH09288841A (ja) | 1996-04-22 | 1996-04-22 | 回折素子及び光学式ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8100269A JPH09288841A (ja) | 1996-04-22 | 1996-04-22 | 回折素子及び光学式ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09288841A true JPH09288841A (ja) | 1997-11-04 |
Family
ID=14269493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8100269A Pending JPH09288841A (ja) | 1996-04-22 | 1996-04-22 | 回折素子及び光学式ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09288841A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009187599A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-20 | Sharp Corp | 光ピックアップ装置の調整方法および光ピックアップ装置 |
| KR100971708B1 (ko) * | 2010-03-11 | 2010-07-22 | 주식회사 엘엠에스 | 광 픽업용 회절소자 및 상기 회절소자가 구비된 광학 모듈 |
-
1996
- 1996-04-22 JP JP8100269A patent/JPH09288841A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009187599A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-20 | Sharp Corp | 光ピックアップ装置の調整方法および光ピックアップ装置 |
| KR100971708B1 (ko) * | 2010-03-11 | 2010-07-22 | 주식회사 엘엠에스 | 광 픽업용 회절소자 및 상기 회절소자가 구비된 광학 모듈 |
| JP2011192372A (ja) * | 2010-03-11 | 2011-09-29 | Lms Co Ltd | 光ピックアップ用回折素子及びこの回折素子を備えた光学モジュール |
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