JPH09321005A - スピン洗浄処理ユニット - Google Patents
スピン洗浄処理ユニットInfo
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- JPH09321005A JPH09321005A JP13649896A JP13649896A JPH09321005A JP H09321005 A JPH09321005 A JP H09321005A JP 13649896 A JP13649896 A JP 13649896A JP 13649896 A JP13649896 A JP 13649896A JP H09321005 A JPH09321005 A JP H09321005A
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- Japan
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- cleaning
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- semiconductor wafer
- rotary table
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 この発明は回転テ−ブル上で半導体ウエハを
反転させてその両面を洗浄することができるスピン洗浄
処理ユニットを提供することにある。 【解決手段】 半導体ウエハ13を回転させながら洗浄
処理するスピン洗浄処理ユニットにおいて、上面側に上
記半導体ウエハを保持して回転駆動される回転テ−ブル
11と、この回転テ−ブルに保持された半導体ウエハの
上面を洗浄する洗浄手段と、上記回転テ−ブルの近傍に
配置され上面が洗浄された上記半導体ウエハを上下面が
逆になるよう反転させる反転機構31とを具備したこと
を特徴とする。
反転させてその両面を洗浄することができるスピン洗浄
処理ユニットを提供することにある。 【解決手段】 半導体ウエハ13を回転させながら洗浄
処理するスピン洗浄処理ユニットにおいて、上面側に上
記半導体ウエハを保持して回転駆動される回転テ−ブル
11と、この回転テ−ブルに保持された半導体ウエハの
上面を洗浄する洗浄手段と、上記回転テ−ブルの近傍に
配置され上面が洗浄された上記半導体ウエハを上下面が
逆になるよう反転させる反転機構31とを具備したこと
を特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体ウエハなど
のワ−クを洗浄処理するためのスピン洗浄処理装置に関
する。
のワ−クを洗浄処理するためのスピン洗浄処理装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、半導体装置や液晶表示装置の
製造過程においては、ワ−クとしての半導体ウエハや矩
形状のガラス製の基板に回路パタ−ンを形成するための
成膜プロセスやフォトプロセスがある。これらのプロセ
スでは、上記ワ−クの処理と洗浄とが繰り返し行われ
る。
製造過程においては、ワ−クとしての半導体ウエハや矩
形状のガラス製の基板に回路パタ−ンを形成するための
成膜プロセスやフォトプロセスがある。これらのプロセ
スでは、上記ワ−クの処理と洗浄とが繰り返し行われ
る。
【0003】上記ワ−クを洗浄するためには、このワ−
クを回転テ−ブルに保持し、この回転テ−ブルを高速回
転させながら、上記ワ−クに洗浄液を噴射して洗浄する
という、いわゆるスピン洗浄処理装置が用いられてい
る。
クを回転テ−ブルに保持し、この回転テ−ブルを高速回
転させながら、上記ワ−クに洗浄液を噴射して洗浄する
という、いわゆるスピン洗浄処理装置が用いられてい
る。
【0004】上記ワ−クは上面だけでなく、裏面も汚染
される。ワ−クの裏面が汚染された状態にあると、洗浄
されたワ−クをストッカなどに積層収容した際、その裏
面に付着した塵埃などの汚れが他のワ−クに転移すると
いうことがある。そのため、回転テ−ブルに保持された
ワ−クは上面だけでなく、下面の洗浄が要求されること
がある。
される。ワ−クの裏面が汚染された状態にあると、洗浄
されたワ−クをストッカなどに積層収容した際、その裏
面に付着した塵埃などの汚れが他のワ−クに転移すると
いうことがある。そのため、回転テ−ブルに保持された
ワ−クは上面だけでなく、下面の洗浄が要求されること
がある。
【0005】通常、上記スピン洗浄装置は回転テ−ブル
を有し、この回転テ−ブルにワ−クを保持して高速回転
させるとともに、回転テ−ブルの上面側に配置された洗
浄ノズルから上記ワ−クに向けて洗浄液を噴射すること
で、上記ワ−クの上面を洗浄するようにしている。
を有し、この回転テ−ブルにワ−クを保持して高速回転
させるとともに、回転テ−ブルの上面側に配置された洗
浄ノズルから上記ワ−クに向けて洗浄液を噴射すること
で、上記ワ−クの上面を洗浄するようにしている。
【0006】上記回転テ−ブルの下面側にも洗浄ノズル
を配置し、洗浄液を上記ワ−クの上面側だけでなく、下
面側にも同時に噴射すれば、ワ−クの上下両面を同時に
洗浄することができる。
を配置し、洗浄液を上記ワ−クの上面側だけでなく、下
面側にも同時に噴射すれば、ワ−クの上下両面を同時に
洗浄することができる。
【0007】しかしながら、洗浄ノズルを回転テ−ブル
の下面側に配置してワ−クの下面に洗浄液を噴射するよ
うにすると、その洗浄ノズルから噴射された洗浄液の大
半は高速回転する回転テ−ブルによって遮られ、ワ−ク
の下面にはほとんど到達しないから、その下面を確実か
つ効率よく洗浄できないということがある。
の下面側に配置してワ−クの下面に洗浄液を噴射するよ
うにすると、その洗浄ノズルから噴射された洗浄液の大
半は高速回転する回転テ−ブルによって遮られ、ワ−ク
の下面にはほとんど到達しないから、その下面を確実か
つ効率よく洗浄できないということがある。
【0008】とくに、上記ワ−クの洗浄を洗浄ブラシや
超音波洗浄するような場合、それら洗浄ブラシや超音波
洗浄ノズルなどを上記ワ−クの下面側に配置することは
スペ−ス的な制限を受けて難しいため、そのことによっ
てもワ−クの上下両面を同時に洗浄するということがで
きなかった。
超音波洗浄するような場合、それら洗浄ブラシや超音波
洗浄ノズルなどを上記ワ−クの下面側に配置することは
スペ−ス的な制限を受けて難しいため、そのことによっ
てもワ−クの上下両面を同時に洗浄するということがで
きなかった。
【0009】そこで、上記ワ−クの上下両面を洗浄する
場合、従来は2つの洗浄装置を用いて行われていた。つ
まり、最初に一方の洗浄装置の回転テ−ブルに第1のロ
ボットによってワ−クを供給し、このワ−クの上面側の
一方の面を洗浄する。ついで、そのワ−クを上記第1の
ロボットによって上記回転テ−ブルから取り出して反転
機構に受け渡し、この反転機構で上記ワ−クの上下面を
反転させる。
場合、従来は2つの洗浄装置を用いて行われていた。つ
まり、最初に一方の洗浄装置の回転テ−ブルに第1のロ
ボットによってワ−クを供給し、このワ−クの上面側の
一方の面を洗浄する。ついで、そのワ−クを上記第1の
ロボットによって上記回転テ−ブルから取り出して反転
機構に受け渡し、この反転機構で上記ワ−クの上下面を
反転させる。
【0010】ワ−クの上下面を反転させたなら、第2の
ロボットによって反転されたワ−クを受けとり、この第
2のロボットによってそのワ−クを他方の洗浄装置の回
転テ−ブルに供給し、その未洗浄の他方の面を洗浄する
ということが行われていた。
ロボットによって反転されたワ−クを受けとり、この第
2のロボットによってそのワ−クを他方の洗浄装置の回
転テ−ブルに供給し、その未洗浄の他方の面を洗浄する
ということが行われていた。
【0011】しかしながら、このようにしてワ−クの上
下両面を洗浄する構成であると、2つの洗浄装置が必要
となるから、装置全体が大型化するということがあった
り、ワ−クを一方の洗浄装置から他方の洗浄装置へ搬送
しなければならないから、その搬送に時間が掛かるとい
うことがあった。しかも、搬送に時間が掛かると、一方
の面を洗浄した洗浄液が乾燥処理される前に乾くことが
あり、その場合、乾燥した部分が染みとなってしまうと
いうことがある。
下両面を洗浄する構成であると、2つの洗浄装置が必要
となるから、装置全体が大型化するということがあった
り、ワ−クを一方の洗浄装置から他方の洗浄装置へ搬送
しなければならないから、その搬送に時間が掛かるとい
うことがあった。しかも、搬送に時間が掛かると、一方
の面を洗浄した洗浄液が乾燥処理される前に乾くことが
あり、その場合、乾燥した部分が染みとなってしまうと
いうことがある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来は、
ワ−クの上下両面を洗浄する場合、洗浄装置を2つ用
い、一方の洗浄装置で上面が洗浄されたワ−クを反転さ
せて他方の洗浄装置に供給するということが行われてい
たので、全体構成の大型化を招いたり、ワ−クを一方の
装置から他方の装置へ搬送するのに時間が掛かるなどの
ことがあった。
ワ−クの上下両面を洗浄する場合、洗浄装置を2つ用
い、一方の洗浄装置で上面が洗浄されたワ−クを反転さ
せて他方の洗浄装置に供給するということが行われてい
たので、全体構成の大型化を招いたり、ワ−クを一方の
装置から他方の装置へ搬送するのに時間が掛かるなどの
ことがあった。
【0013】この発明は上記事情に基づきなされたもの
で、その目的とするところは、ワ−クを搬送することな
くその上下両面を洗浄できるようにしたスピン洗浄処理
ユニットを提供することにある。
で、その目的とするところは、ワ−クを搬送することな
くその上下両面を洗浄できるようにしたスピン洗浄処理
ユニットを提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、ワ−
クを回転させながら洗浄処理するスピン洗浄処理ユニッ
トにおいて、上面側に上記ワ−クを保持して回転駆動さ
れる回転テ−ブルと、この回転テ−ブルに保持されたワ
−クの上面を洗浄する洗浄手段と、上記回転テ−ブルの
近傍に配置され上面が洗浄された上記ワ−クを上下面が
逆になるよう反転させる反転機構とを具備したことを特
徴とする。
クを回転させながら洗浄処理するスピン洗浄処理ユニッ
トにおいて、上面側に上記ワ−クを保持して回転駆動さ
れる回転テ−ブルと、この回転テ−ブルに保持されたワ
−クの上面を洗浄する洗浄手段と、上記回転テ−ブルの
近傍に配置され上面が洗浄された上記ワ−クを上下面が
逆になるよう反転させる反転機構とを具備したことを特
徴とする。
【0015】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、上記反転機構は、一対のハンドを開閉駆動する第1
の駆動部と、この第1の駆動部を回転駆動する第2の駆
動部と、この第2の駆動部を上下駆動する第3の駆動部
とからなることを特徴とする。
て、上記反転機構は、一対のハンドを開閉駆動する第1
の駆動部と、この第1の駆動部を回転駆動する第2の駆
動部と、この第2の駆動部を上下駆動する第3の駆動部
とからなることを特徴とする。
【0016】請求項3の発明は、請求項1の発明におい
て、上記回転テ−ブル、洗浄手段および反転機構は洗浄
チャンバ内に配置されていることを特徴とする。請求項
1の発明によれば、ワ−クを保持して回転させる回転テ
−ブルの近傍に、上記回転テ−ブルに保持されたワ−ク
の上下面を反転させる反転機構を配置したので、同一の
回転テ−ブル上でワ−クの上下両面を順次洗浄すること
ができる。
て、上記回転テ−ブル、洗浄手段および反転機構は洗浄
チャンバ内に配置されていることを特徴とする。請求項
1の発明によれば、ワ−クを保持して回転させる回転テ
−ブルの近傍に、上記回転テ−ブルに保持されたワ−ク
の上下面を反転させる反転機構を配置したので、同一の
回転テ−ブル上でワ−クの上下両面を順次洗浄すること
ができる。
【0017】請求項2の発明によれば、ワ−クの上下面
を反転させる反転機構が簡単な構成とし、しかも動きを
単純化できる。請求項3の発明によれば、回転テ−ブ
ル、洗浄手段および反転機構を洗浄チャンバ内に配置す
ることでこれらをユニット化できるから、全体構成の小
型化や取扱いの容易化が計れる。
を反転させる反転機構が簡単な構成とし、しかも動きを
単純化できる。請求項3の発明によれば、回転テ−ブ
ル、洗浄手段および反転機構を洗浄チャンバ内に配置す
ることでこれらをユニット化できるから、全体構成の小
型化や取扱いの容易化が計れる。
【0018】
【発明の実施形態】以下、この発明の一実施形態を図面
を参照して説明する。図1に示すこの発明のスピン洗浄
処理ユニットは洗浄チャンバ1を有する。この洗浄チャ
ンバ1の一側面にはシャッタ2によって開閉される開口
部3が形成されている。
を参照して説明する。図1に示すこの発明のスピン洗浄
処理ユニットは洗浄チャンバ1を有する。この洗浄チャ
ンバ1の一側面にはシャッタ2によって開閉される開口
部3が形成されている。
【0019】上記洗浄チャンバ1内には洗浄装置4が設
けられている。この洗浄装置4は上記洗浄チャンバ1内
にほぼ水平に架設されたベ−ス板5を有する。このベ−
ス板5には軸線をほぼ垂直にした軸受6が設けられ、こ
の軸受6には回転軸7が回転自在に支持されている。こ
の回転軸7の上部は処理容器を形成する下カップ8と上
カップ9の内部空間に突出し、その上端には回転テ−ブ
ル11が取り付けられている。
けられている。この洗浄装置4は上記洗浄チャンバ1内
にほぼ水平に架設されたベ−ス板5を有する。このベ−
ス板5には軸線をほぼ垂直にした軸受6が設けられ、こ
の軸受6には回転軸7が回転自在に支持されている。こ
の回転軸7の上部は処理容器を形成する下カップ8と上
カップ9の内部空間に突出し、その上端には回転テ−ブ
ル11が取り付けられている。
【0020】なお、上記回転軸7の下端部は上記軸受6
の下面側から突出し、その端部には図示しない従動プ−
リが設けられ、この従動プ−リを介して上記回転軸7は
同じく図示しない駆動モ−タによって高速回転されるよ
うになっている。
の下面側から突出し、その端部には図示しない従動プ−
リが設けられ、この従動プ−リを介して上記回転軸7は
同じく図示しない駆動モ−タによって高速回転されるよ
うになっている。
【0021】上記回転テ−ブル11の上面の周辺部に
は、たとえば周方向に90度間隔で6本の保持部材12
が立設されている。各保持部材12の上端にはワ−クと
してのたとえば半導体ウエハ13の周辺部が着脱自在の
保持されている。
は、たとえば周方向に90度間隔で6本の保持部材12
が立設されている。各保持部材12の上端にはワ−クと
してのたとえば半導体ウエハ13の周辺部が着脱自在の
保持されている。
【0022】上記上カップ9は上面が開口しているとと
もに、下カップ8に対して上下動自在に設けられてい
る。上記半導体ウエハ13を洗浄するときには上昇位置
に保持されて上記半導体ウエハ13の周囲を覆ってお
り、洗浄後に上記半導体ウエハ13を後述するごとく反
転させたり、搬出するときには上記半導体ウエハ13よ
りも低い位置まで下降されるようになっている。
もに、下カップ8に対して上下動自在に設けられてい
る。上記半導体ウエハ13を洗浄するときには上昇位置
に保持されて上記半導体ウエハ13の周囲を覆ってお
り、洗浄後に上記半導体ウエハ13を後述するごとく反
転させたり、搬出するときには上記半導体ウエハ13よ
りも低い位置まで下降されるようになっている。
【0023】上記洗浄チャンバ1内の一側部には第1の
洗浄ア−ム15が水平に配置され、他側には第2の洗浄
ア−ム16が同じく水平に配置されている。各ア−ム1
5、16の一端部はそれぞれ軸線を垂直にして配置され
た回転軸17a、17bの上端に連結されている。各回
転軸17a、17bの下端部は軸受18a、18bに回
転自在に支持されている。各軸受18a、18bはそれ
ぞれ支持板19の上面に取り付けられ、その支持板19
の下面側に突出した下端には従動プ−リ21が嵌着され
ている。
洗浄ア−ム15が水平に配置され、他側には第2の洗浄
ア−ム16が同じく水平に配置されている。各ア−ム1
5、16の一端部はそれぞれ軸線を垂直にして配置され
た回転軸17a、17bの上端に連結されている。各回
転軸17a、17bの下端部は軸受18a、18bに回
転自在に支持されている。各軸受18a、18bはそれ
ぞれ支持板19の上面に取り付けられ、その支持板19
の下面側に突出した下端には従動プ−リ21が嵌着され
ている。
【0024】各支持板19にはモ−タ22が配置され、
各モ−タ22の駆動軸23は支持板19の下面側に突出
し、その突出端には駆動プ−リ24が嵌着されている。
駆動プ−リ24と従動プ−リ21とにはベルト25が張
設され、それによって、上記各回転軸17a、17bは
回動駆動されるようになっている。
各モ−タ22の駆動軸23は支持板19の下面側に突出
し、その突出端には駆動プ−リ24が嵌着されている。
駆動プ−リ24と従動プ−リ21とにはベルト25が張
設され、それによって、上記各回転軸17a、17bは
回動駆動されるようになっている。
【0025】第1の洗浄ア−ム15の先端(自由端)に
はモ−タ26によって回転駆動される洗浄ブラシ27が
回転軸線を垂直にして設けられ、第2の洗浄ア−ム16
の先端には図示しない超音波振動子を内蔵した超音波ノ
ズル28が設けられている。この超音波ノズル28には
洗浄液が供給されて超音波振動が付与される。超音波振
動が付与された洗浄液は上記超音波ノズル28から上記
回転テ−ブル11に保持された半導体ウエハ13に向か
って噴射される。
はモ−タ26によって回転駆動される洗浄ブラシ27が
回転軸線を垂直にして設けられ、第2の洗浄ア−ム16
の先端には図示しない超音波振動子を内蔵した超音波ノ
ズル28が設けられている。この超音波ノズル28には
洗浄液が供給されて超音波振動が付与される。超音波振
動が付与された洗浄液は上記超音波ノズル28から上記
回転テ−ブル11に保持された半導体ウエハ13に向か
って噴射される。
【0026】したがって、上記第1の洗浄ア−ム15を
図1に矢印Aで示す方向に回動させれば、回転駆動され
る洗浄ブラシ27によって回転テ−ブル11に保持され
た半導体ウエハ13の上面全体をブラシ洗浄することが
でき、第2の洗浄ア−ム16を矢印Bで示す方向に回動
させれば、上記半導体ウエハ13の上面全体を超音波洗
浄できるようになっている。
図1に矢印Aで示す方向に回動させれば、回転駆動され
る洗浄ブラシ27によって回転テ−ブル11に保持され
た半導体ウエハ13の上面全体をブラシ洗浄することが
でき、第2の洗浄ア−ム16を矢印Bで示す方向に回動
させれば、上記半導体ウエハ13の上面全体を超音波洗
浄できるようになっている。
【0027】さらに、上記洗浄チャンバ1内には、この
チャンバ1内で回転テ−ブル11に保持された半導体ウ
エハ13の上下面を180度反転させる反転機構31が
配置されている。この反転機構31は図3に示すように
第1の駆動部32によって開閉駆動される一対のハンド
33を有する。
チャンバ1内で回転テ−ブル11に保持された半導体ウ
エハ13の上下面を180度反転させる反転機構31が
配置されている。この反転機構31は図3に示すように
第1の駆動部32によって開閉駆動される一対のハンド
33を有する。
【0028】上記ハンド33はL字状に形成されてい
て、その先端部の内面にはそれぞれ半導体ウエハ13の
外周部に係合する係合溝34aが形成された保持部材3
4が設けられている。したがって、一対のハンド33が
上記第1の駆動部32によって回転テ−ブル11に保持
された半導体ウエハ13と同じ高さで開閉させること
で、上記一対の保持部材34の係合溝34aを半導体ウ
エハ13の周辺部に係脱させることができるようになっ
ている。
て、その先端部の内面にはそれぞれ半導体ウエハ13の
外周部に係合する係合溝34aが形成された保持部材3
4が設けられている。したがって、一対のハンド33が
上記第1の駆動部32によって回転テ−ブル11に保持
された半導体ウエハ13と同じ高さで開閉させること
で、上記一対の保持部材34の係合溝34aを半導体ウ
エハ13の周辺部に係脱させることができるようになっ
ている。
【0029】上記第1の駆動部32は軸線を水平にした
反転軸35を介して第2の駆動部36に取り付けられて
いる。この第2の駆動部36は上記反転軸35を介して
上記第1の駆動部32を180度反転させることができ
るようになっている。したがって、上記一対のハンド3
3が半導体ウエハ13を保持した状態で上記第1の駆動
部32を180度回動させれば、上記ハンド33に保持
された半導体ウエハ13の上下面を反転させることがで
きる。
反転軸35を介して第2の駆動部36に取り付けられて
いる。この第2の駆動部36は上記反転軸35を介して
上記第1の駆動部32を180度反転させることができ
るようになっている。したがって、上記一対のハンド3
3が半導体ウエハ13を保持した状態で上記第1の駆動
部32を180度回動させれば、上記ハンド33に保持
された半導体ウエハ13の上下面を反転させることがで
きる。
【0030】上記第2の駆動部36は支柱41の上端に
設けられている。この支柱41は図示しないリニアガイ
ドによって上下方向にスライド自在に保持され、第3の
駆動部42で上下方向に駆動されるようになっている。
設けられている。この支柱41は図示しないリニアガイ
ドによって上下方向にスライド自在に保持され、第3の
駆動部42で上下方向に駆動されるようになっている。
【0031】つまり、上記一対のハンド33は第1の駆
動部32により開閉され、第2の駆動部36によって回
動されるとともに第3の駆動部42によって上下動され
るようになっている。
動部32により開閉され、第2の駆動部36によって回
動されるとともに第3の駆動部42によって上下動され
るようになっている。
【0032】それによって、上記一対のハンド33は、
回転テ−ブル11に保持された半導体ウエハ13と同じ
高さで開状態から閉状態へ駆動されることで上記半導体
ウエハ13を保持する。半導体ウエハ13を保持した一
対のハンド33は所定高さまで上昇して180度回転さ
れることで上記半導体ウエハ13の上下面を反転させ
る。ついで下降して開状態となることで、上記半導体ウ
エハ13を回転テ−ブル11へ戻す。つまり、半導体ウ
エハ13は、反転機構31によって洗浄チャンバ1内で
上下面を反転させられるようになっている。
回転テ−ブル11に保持された半導体ウエハ13と同じ
高さで開状態から閉状態へ駆動されることで上記半導体
ウエハ13を保持する。半導体ウエハ13を保持した一
対のハンド33は所定高さまで上昇して180度回転さ
れることで上記半導体ウエハ13の上下面を反転させ
る。ついで下降して開状態となることで、上記半導体ウ
エハ13を回転テ−ブル11へ戻す。つまり、半導体ウ
エハ13は、反転機構31によって洗浄チャンバ1内で
上下面を反転させられるようになっている。
【0033】上記洗浄チャンバ1の開口部3が形成され
た一側と対向する外部には、上記洗浄チャンバ1の回転
テ−ブル11に対して半導体ウエハ13を供給排出する
給排機構としてのスカラロボット45が設けられてい
る。このスカラロボット45はハンド46を有する。こ
のハンド46は駆動源47によって回動駆動される複数
のア−ム48を有し、これらア−ム48によって水平方
向に駆動されるようになっている。
た一側と対向する外部には、上記洗浄チャンバ1の回転
テ−ブル11に対して半導体ウエハ13を供給排出する
給排機構としてのスカラロボット45が設けられてい
る。このスカラロボット45はハンド46を有する。こ
のハンド46は駆動源47によって回動駆動される複数
のア−ム48を有し、これらア−ム48によって水平方
向に駆動されるようになっている。
【0034】上記スカラロボット45の側方には第1の
カセットステ−ジ51が設けられ、この第1のカセット
ステ−ジ51から周方向に90度ずれた側方には第2の
カセットステ−ジ52が設けられている。第1のカセッ
トステ−ジ51には未洗浄の半導体ウエハ13が積層収
容された第1のカセット53aが供給され、第2のカセ
ットステ−ジ52には上記洗浄チャンバ1で洗浄された
半導体ウエハ13が回収される第2のカセット53bが
供給される。
カセットステ−ジ51が設けられ、この第1のカセット
ステ−ジ51から周方向に90度ずれた側方には第2の
カセットステ−ジ52が設けられている。第1のカセッ
トステ−ジ51には未洗浄の半導体ウエハ13が積層収
容された第1のカセット53aが供給され、第2のカセ
ットステ−ジ52には上記洗浄チャンバ1で洗浄された
半導体ウエハ13が回収される第2のカセット53bが
供給される。
【0035】したがって、上記スカラロボット45はそ
のハンド46により、未洗浄の半導体ウエハ13を上記
第1のカセット53aから取り出し、洗浄チャンバ1内
の回転テ−ブル11に供給するとともに、この洗浄チャ
ンバ1内で洗浄された半導体ウエハ13を取り出して第
2のカセット53bに収納できるようになっている。
のハンド46により、未洗浄の半導体ウエハ13を上記
第1のカセット53aから取り出し、洗浄チャンバ1内
の回転テ−ブル11に供給するとともに、この洗浄チャ
ンバ1内で洗浄された半導体ウエハ13を取り出して第
2のカセット53bに収納できるようになっている。
【0036】つぎに、上記構成の洗浄処理ユニットを用
いて半導体ウエハ13を洗浄する動作について説明す
る。まず、スカラロボット45が作動して第1のカセッ
ト53aから未洗浄の半導体ウエハ13を取り出し、そ
の半導体ウエハ13が洗浄チャンバ1の開口部3から回
転テ−ブル11に供給される。このとき、反転機構31
のハンド33は上記スカラロボット45のハンド46に
干渉することがないよう、回転テ−ブル11の上方に待
機している。
いて半導体ウエハ13を洗浄する動作について説明す
る。まず、スカラロボット45が作動して第1のカセッ
ト53aから未洗浄の半導体ウエハ13を取り出し、そ
の半導体ウエハ13が洗浄チャンバ1の開口部3から回
転テ−ブル11に供給される。このとき、反転機構31
のハンド33は上記スカラロボット45のハンド46に
干渉することがないよう、回転テ−ブル11の上方に待
機している。
【0037】未洗浄の半導体ウエハ13が回転テ−ブル
11に供給されると、この回転テ−ブル11が高速度で
回転されるとともに、まず第1の洗浄ア−ム15が矢印
A方向に回動されてその先端に設けられた洗浄ブラシ2
7によって半導体ウエハ13の上面がブラシ洗浄され
る。
11に供給されると、この回転テ−ブル11が高速度で
回転されるとともに、まず第1の洗浄ア−ム15が矢印
A方向に回動されてその先端に設けられた洗浄ブラシ2
7によって半導体ウエハ13の上面がブラシ洗浄され
る。
【0038】ついで、第2の洗浄ア−ムウ16が矢印B
方向に回動させられる。それによって、超音波ノズル2
8から噴射される超音波が付与された洗浄液によって上
記半導体ウエハ13の上面全体が超音波洗浄される。
方向に回動させられる。それによって、超音波ノズル2
8から噴射される超音波が付与された洗浄液によって上
記半導体ウエハ13の上面全体が超音波洗浄される。
【0039】なお、半導体ウエハ13は要求される洗浄
度合になどに応じてブラシ洗浄あるいは超音波洗浄のい
ずれか一方だけを行うようにしてもよい。上記半導体ウ
エハ13の上面側の一方の面の洗浄が終了すると、反転
機構31の一対のハンド33が開状態で半導体ウエハ1
3と同じ高さまで下降し、その第1の駆動部32によっ
て上記ハンド33が閉方向に駆動される。それによっ
て、上記ハンド33が半導体ウエハ13を挟持する。つ
いで、第3の駆動部42が作動してハンド33が所定高
さまで上昇させられると、第2の駆動部36が作動して
上記ハンド33を180度回転させる。それによって、
半導体ウエハ13は洗浄された上面が下面となり、未洗
浄の下面が上面となるよう反転される。
度合になどに応じてブラシ洗浄あるいは超音波洗浄のい
ずれか一方だけを行うようにしてもよい。上記半導体ウ
エハ13の上面側の一方の面の洗浄が終了すると、反転
機構31の一対のハンド33が開状態で半導体ウエハ1
3と同じ高さまで下降し、その第1の駆動部32によっ
て上記ハンド33が閉方向に駆動される。それによっ
て、上記ハンド33が半導体ウエハ13を挟持する。つ
いで、第3の駆動部42が作動してハンド33が所定高
さまで上昇させられると、第2の駆動部36が作動して
上記ハンド33を180度回転させる。それによって、
半導体ウエハ13は洗浄された上面が下面となり、未洗
浄の下面が上面となるよう反転される。
【0040】半導体ウエハ13を反転させると、上記ハ
ンド33が第3駆動部42によって下降され、ついで第
1の駆動部32が作動して開方向に駆動されることで、
反転された半導体ウエハ13が回転テ−ブル11に戻さ
れる。この状態で、半導体ウエハ13の未洗浄の上面側
の他方の面(もとの下面)がブラシ洗浄あるいは超音波
洗浄の少なくともいずれか一方によって洗浄される。つ
まり、半導体ウエハ13は上下両面が洗浄されることに
なる。
ンド33が第3駆動部42によって下降され、ついで第
1の駆動部32が作動して開方向に駆動されることで、
反転された半導体ウエハ13が回転テ−ブル11に戻さ
れる。この状態で、半導体ウエハ13の未洗浄の上面側
の他方の面(もとの下面)がブラシ洗浄あるいは超音波
洗浄の少なくともいずれか一方によって洗浄される。つ
まり、半導体ウエハ13は上下両面が洗浄されることに
なる。
【0041】このように、半導体ウエハ13の上下両面
の洗浄が終了すると、スカラロボット45のハンド46
が洗浄チャンバ1内に進入して上記半導体ウエハ13を
受け、ついで後退してその半導体ウエハ13を第2のカ
セット53bに収納する。
の洗浄が終了すると、スカラロボット45のハンド46
が洗浄チャンバ1内に進入して上記半導体ウエハ13を
受け、ついで後退してその半導体ウエハ13を第2のカ
セット53bに収納する。
【0042】このように、上記構成によれば、洗浄チャ
ンバ1内で上面(一方の面)が洗浄された半導体ウエハ
13を、その洗浄チャンバ1内に設けられた反転機構3
1で上下面を反転させ、最初に下面であった他方の面を
洗浄することができる。
ンバ1内で上面(一方の面)が洗浄された半導体ウエハ
13を、その洗浄チャンバ1内に設けられた反転機構3
1で上下面を反転させ、最初に下面であった他方の面を
洗浄することができる。
【0043】そのため、半導体ウエハ13の上下両面の
洗浄を1つの洗浄チャンバ1内で行えるから、一方の面
を洗浄したならば、その面が乾燥しないうちに他方の面
を洗浄することができる。
洗浄を1つの洗浄チャンバ1内で行えるから、一方の面
を洗浄したならば、その面が乾燥しないうちに他方の面
を洗浄することができる。
【0044】つまり、従来のように半導体ウエハ13を
1つの洗浄装置から他の洗浄装置へ搬送するということ
をせずにその両面を洗浄できるから、その洗浄を能率よ
く、しかも最初に洗浄した一方の面に乾き染みを生じさ
せることなく行える。
1つの洗浄装置から他の洗浄装置へ搬送するということ
をせずにその両面を洗浄できるから、その洗浄を能率よ
く、しかも最初に洗浄した一方の面に乾き染みを生じさ
せることなく行える。
【0045】
【発明の効果】以上述べたように請求項1の発明によれ
ば、ワ−クを保持して回転させる回転テ−ブルの近傍
に、上記回転テ−ブルに保持されたワ−クの上下面を反
転させる反転機構を配置したので、同一の回転テ−ブル
上でワ−クの上下両面を順次洗浄することができる。
ば、ワ−クを保持して回転させる回転テ−ブルの近傍
に、上記回転テ−ブルに保持されたワ−クの上下面を反
転させる反転機構を配置したので、同一の回転テ−ブル
上でワ−クの上下両面を順次洗浄することができる。
【0046】つまり、1つの洗浄装置でワ−クの上下両
面を洗浄できるから、従来のように2つの洗浄装置を用
意し、一方の洗浄装置でワ−クの一方の面を洗浄したな
らば、そのワ−クを外部に搬出して反転させ、他方の洗
浄装置へ搬送して他方の面を洗浄するということをせず
にすむ。それによって、構成の簡略化や洗浄作業の能率
向上さらには搬送途中でワ−クに乾き染みができるのが
防止されるなどの利点がある。
面を洗浄できるから、従来のように2つの洗浄装置を用
意し、一方の洗浄装置でワ−クの一方の面を洗浄したな
らば、そのワ−クを外部に搬出して反転させ、他方の洗
浄装置へ搬送して他方の面を洗浄するということをせず
にすむ。それによって、構成の簡略化や洗浄作業の能率
向上さらには搬送途中でワ−クに乾き染みができるのが
防止されるなどの利点がある。
【0047】請求項2の発明によれば、ワ−クを反転さ
せるための反転機構を、一対のハンドを開閉駆動する第
1の駆動部と、この第1の駆動部を回転駆動する第2の
駆動部と、この第2の駆動部を上下駆動する第3の駆動
部とから構成したから、その構成や動きを簡略化するこ
とができる。
せるための反転機構を、一対のハンドを開閉駆動する第
1の駆動部と、この第1の駆動部を回転駆動する第2の
駆動部と、この第2の駆動部を上下駆動する第3の駆動
部とから構成したから、その構成や動きを簡略化するこ
とができる。
【0048】請求項3の発明によれば、回転テ−ブル、
洗浄手段および反転機構を洗浄チャンバ内に配置してこ
れらをユニット化したから、全体構成の小型化や取扱い
の容易化が計れる。
洗浄手段および反転機構を洗浄チャンバ内に配置してこ
れらをユニット化したから、全体構成の小型化や取扱い
の容易化が計れる。
【図1】この発明の一実施形態の全体構成を示す平面
図。
図。
【図2】同じく洗浄チャンバに収容された洗浄装置の側
面図。
面図。
【図3】同じく反転機構の斜視図。
11…回転テ−ブル 13…半導体ウエハ(ワ−ク) 15…第1の洗浄ア−ム(洗浄手段) 16…第2の洗浄ア−ム(洗浄手段) 27…洗浄ブラシ(洗浄手段) 28…超音波ノズル(洗浄手段) 31…反転機構
Claims (3)
- 【請求項1】 ワ−クを回転させながら洗浄処理するス
ピン洗浄処理ユニットにおいて、 上面側に上記ワ−クを保持して回転駆動される回転テ−
ブルと、 この回転テ−ブルに保持されたワ−クの上面を洗浄する
洗浄手段と、 上記回転テ−ブルの近傍に配置され上面が洗浄された上
記ワ−クを上下面が逆になるよう反転させる反転機構と
を具備したことを特徴とするスピン洗浄処理ユニット。 - 【請求項2】 上記反転機構は、一対のハンドを開閉駆
動する第1の駆動部と、この第1の駆動部を回転駆動す
る第2の駆動部と、この第2の駆動部を上下駆動する第
3の駆動部とからなることを特徴とする請求項1記載の
スピン洗浄処理装置。 - 【請求項3】 上記回転テ−ブル、洗浄手段および反転
機構は洗浄チャンバ内に配置されていることを特徴とす
る請求項1記載のスピン洗浄処理ユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13649896A JP2909432B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | スピン洗浄処理ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13649896A JP2909432B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | スピン洗浄処理ユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09321005A true JPH09321005A (ja) | 1997-12-12 |
| JP2909432B2 JP2909432B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=15176579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13649896A Expired - Lifetime JP2909432B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | スピン洗浄処理ユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2909432B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100317313B1 (ko) * | 1998-12-14 | 2002-01-12 | 김영환 | 반도체 제조공정중 웨이퍼 회전장치 |
| US7322787B2 (en) * | 2004-06-22 | 2008-01-29 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Devices and methods for reversing, transporting, and processing substrates |
| JP2012156264A (ja) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置および液処理方法 |
| JP2014159020A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | 洗浄装置および洗浄装置を備えた加工装置 |
| US20150090295A1 (en) * | 2013-09-28 | 2015-04-02 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and methods for a mask inverter |
| EP3540790A1 (en) * | 2018-03-14 | 2019-09-18 | Beijing Juntai Innovation Technology Co., Ltd | Turnover mechanism and coating production line |
| CN114141652A (zh) * | 2020-09-03 | 2022-03-04 | 中国科学院微电子研究所 | 清洗装置以及清洗装置的控制方法 |
-
1996
- 1996-05-30 JP JP13649896A patent/JP2909432B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100317313B1 (ko) * | 1998-12-14 | 2002-01-12 | 김영환 | 반도체 제조공정중 웨이퍼 회전장치 |
| US7322787B2 (en) * | 2004-06-22 | 2008-01-29 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Devices and methods for reversing, transporting, and processing substrates |
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| JP2014159020A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | 洗浄装置および洗浄装置を備えた加工装置 |
| US20150090295A1 (en) * | 2013-09-28 | 2015-04-02 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and methods for a mask inverter |
| US10199256B2 (en) | 2013-09-28 | 2019-02-05 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems for improved mask processing |
| EP3540790A1 (en) * | 2018-03-14 | 2019-09-18 | Beijing Juntai Innovation Technology Co., Ltd | Turnover mechanism and coating production line |
| CN114141652A (zh) * | 2020-09-03 | 2022-03-04 | 中国科学院微电子研究所 | 清洗装置以及清洗装置的控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2909432B2 (ja) | 1999-06-23 |
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