JPH0933387A - マーキング機能を有する検査装置および方法 - Google Patents
マーキング機能を有する検査装置および方法Info
- Publication number
- JPH0933387A JPH0933387A JP20839995A JP20839995A JPH0933387A JP H0933387 A JPH0933387 A JP H0933387A JP 20839995 A JP20839995 A JP 20839995A JP 20839995 A JP20839995 A JP 20839995A JP H0933387 A JPH0933387 A JP H0933387A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- marking
- inspected
- lens
- photographing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 検査時のレンズ位置とマーキング時のレンズ
位置とが同一であるため、検査、判定、マーキングの３
つの処理が全て終了するまで次のレンズを検査すること
ができず、複数のレンズを連続して検査／マークする場
合には処理にかかる時間が長いという問題がある。 【解決手段】 検査とマーキングとを異なる位置で実行
するようにしたことを特徴とする。具体的には、被検レ
ンズ１のそれぞれを撮影位置、マーキング位置の順に連
続的に送る部品供給装置６０と、撮影位置に供給された
光学部材を撮影するＣＣＤカメラ３０ａ，３０ｂと、入
力画像に基づいて光学部材の良否を判定する判定手段４
２と、マーキング位置に配置された光学部材の判定結果
に基づいて被検レンズ１にマークを付するマーキング装
置２００，２１０とを備えることを特徴とする。
位置とが同一であるため、検査、判定、マーキングの３
つの処理が全て終了するまで次のレンズを検査すること
ができず、複数のレンズを連続して検査／マークする場
合には処理にかかる時間が長いという問題がある。 【解決手段】 検査とマーキングとを異なる位置で実行
するようにしたことを特徴とする。具体的には、被検レ
ンズ１のそれぞれを撮影位置、マーキング位置の順に連
続的に送る部品供給装置６０と、撮影位置に供給された
光学部材を撮影するＣＣＤカメラ３０ａ，３０ｂと、入
力画像に基づいて光学部材の良否を判定する判定手段４
２と、マーキング位置に配置された光学部材の判定結果
に基づいて被検レンズ１にマークを付するマーキング装
置２００，２１０とを備えることを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば光学部材
等の被検物が所定の性能を満たすか否かを判定し、必要
に応じて判定結果を被検物にマークするマーキング機能
を有する検査装置に関する。
等の被検物が所定の性能を満たすか否かを判定し、必要
に応じて判定結果を被検物にマークするマーキング機能
を有する検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の検査装置は、例えば成形されたプ
ラスチックレンズの光学的性能を検査する検査手段と、
検査結果に基づいて所定の性能を満たさない不良品にマ
ークするマーキング手段とを備える。被検物であるレン
ズは、所定の検査位置に配置されて検査手段による検査
を受けた後、判定が不良であるとその検査位置でマーキ
ング手段により不良品のマークが付される。
ラスチックレンズの光学的性能を検査する検査手段と、
検査結果に基づいて所定の性能を満たさない不良品にマ
ークするマーキング手段とを備える。被検物であるレン
ズは、所定の検査位置に配置されて検査手段による検査
を受けた後、判定が不良であるとその検査位置でマーキ
ング手段により不良品のマークが付される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
検査装置は、検査時のレンズ位置とマーキング時のレン
ズ位置とが同一であるため、検査、判定、マーキングの
３つの処理が全て終了するまで次のレンズを検査するこ
とができず、複数のレンズを連続して検査／マークする
場合には処理にかかる時間が長いという問題がある。
検査装置は、検査時のレンズ位置とマーキング時のレン
ズ位置とが同一であるため、検査、判定、マーキングの
３つの処理が全て終了するまで次のレンズを検査するこ
とができず、複数のレンズを連続して検査／マークする
場合には処理にかかる時間が長いという問題がある。
【０００４】この発明は、上述した従来技術の課題に鑑
みてなされたものであり、複数の被検物を連続して検査
する際に、処理にかかる時間を短縮することができる検
査装置の提供を目的とする。
みてなされたものであり、複数の被検物を連続して検査
する際に、処理にかかる時間を短縮することができる検
査装置の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明にかかるマーキ
ング機能を有する検査装置は、上記の目的を達成させる
ため、検査とマーキングとを異なる位置で実行するよう
にしたことを特徴とする。具体的には、この発明にかか
るマーキング機能を有する検査装置は、被検物である複
数の光学部材のそれぞれを撮影位置、マーキング位置の
順に連続的に送る部品供給手段と、撮影位置に供給され
た光学部材を撮影する画像入力手段と、画像入力手段の
入力画像に基づいて光学部材の良否を判定する判定手段
と、撮影位置での撮影後にマーキング位置に送られた光
学部材に、判定手段の判定結果に基づいてマークを付す
るマーキング手段とを備えることを特徴とする。
ング機能を有する検査装置は、上記の目的を達成させる
ため、検査とマーキングとを異なる位置で実行するよう
にしたことを特徴とする。具体的には、この発明にかか
るマーキング機能を有する検査装置は、被検物である複
数の光学部材のそれぞれを撮影位置、マーキング位置の
順に連続的に送る部品供給手段と、撮影位置に供給され
た光学部材を撮影する画像入力手段と、画像入力手段の
入力画像に基づいて光学部材の良否を判定する判定手段
と、撮影位置での撮影後にマーキング位置に送られた光
学部材に、判定手段の判定結果に基づいてマークを付す
るマーキング手段とを備えることを特徴とする。
【０００６】また、この発明にかかる検査／マーキング
方法は、検査位置で被検物の性能を検査する検査ステッ
プと、検査位置とは異なるマーキング位置で検査段階で
の検査結果に基づいて被検物にマークをするマーキング
ステップとから構成され、検査済みの被検物を検査位置
からマーキング位置に移動させると同時に、未検査の被
検物を検査位置に送り、検査済みの被検物のマーキング
と、未検査の被検物の検査とを並列して実行することを
特徴とする。
方法は、検査位置で被検物の性能を検査する検査ステッ
プと、検査位置とは異なるマーキング位置で検査段階で
の検査結果に基づいて被検物にマークをするマーキング
ステップとから構成され、検査済みの被検物を検査位置
からマーキング位置に移動させると同時に、未検査の被
検物を検査位置に送り、検査済みの被検物のマーキング
と、未検査の被検物の検査とを並列して実行することを
特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、この発明にかかるマーキン
グ機能を有する検査装置の実施の形態を説明する。ま
ず、図１にしたがって装置の概略構成を説明する。
グ機能を有する検査装置の実施の形態を説明する。ま
ず、図１にしたがって装置の概略構成を説明する。
【０００８】検査装置は、撮影位置に配置された被検物
である被検レンズ１，１の画像を入力する画像入力手段
である２つのＣＣＤカメラ３０ａ，３０ｂと、撮影位置
とは異なるマーキング位置に配置された被検レンズ１に
マークを付する２つのマーキング装置２００，２１０
と、複数の被検レンズ１のそれぞれを撮影位置、マーキ
ング位置の順に連続的に送る部品供給装置６０とを備え
る。
である被検レンズ１，１の画像を入力する画像入力手段
である２つのＣＣＤカメラ３０ａ，３０ｂと、撮影位置
とは異なるマーキング位置に配置された被検レンズ１に
マークを付する２つのマーキング装置２００，２１０
と、複数の被検レンズ１のそれぞれを撮影位置、マーキ
ング位置の順に連続的に送る部品供給装置６０とを備え
る。
【０００９】なお、画像入力位置に配置された被検レン
ズ１を挟んで各ＣＣＤカメラに対向する位置には、それ
ぞれ光源１０ａ，１０ｂと拡散手段２０ａ，２０ｂとか
ら構成される光源装置１２０ａ，１２０ｂが設けられて
いる。この光源装置、あるいはＣＣＤカメラの設定によ
り、検査項目を特定することができる。
ズ１を挟んで各ＣＣＤカメラに対向する位置には、それ
ぞれ光源１０ａ，１０ｂと拡散手段２０ａ，２０ｂとか
ら構成される光源装置１２０ａ，１２０ｂが設けられて
いる。この光源装置、あるいはＣＣＤカメラの設定によ
り、検査項目を特定することができる。
【００１０】ＣＣＤカメラ３０ａ，３０ｂにより撮影さ
れた被検レンズ１，１の画像は、入力切換手段４１によ
り一方づつ画像処理装置４０に入力される。画像処理装
置４０は、被検レンズ１に含まれる欠陥等の情報を検出
して判定手段４２へ出力する。判定手段４２は、この情
報に基づいて各検査項目毎に検出される欠陥が所定の基
準値以上であるか否かを判定し、判定結果をモニタディ
スプレイ５０に表示させる。
れた被検レンズ１，１の画像は、入力切換手段４１によ
り一方づつ画像処理装置４０に入力される。画像処理装
置４０は、被検レンズ１に含まれる欠陥等の情報を検出
して判定手段４２へ出力する。判定手段４２は、この情
報に基づいて各検査項目毎に検出される欠陥が所定の基
準値以上であるか否かを判定し、判定結果をモニタディ
スプレイ５０に表示させる。
【００１１】制御手段４３は、検査位置、マーク位置の
順に被検レンズ１が送られるよう部品供給装置６０を制
御すると共に、検査により欠陥が検出された被検レンズ
がマーキング位置に送られた際に、該当する位置のマー
キング装置２００，２１０を制御して被検レンズに不良
品であることを示すマークを刻印する。
順に被検レンズ１が送られるよう部品供給装置６０を制
御すると共に、検査により欠陥が検出された被検レンズ
がマーキング位置に送られた際に、該当する位置のマー
キング装置２００，２１０を制御して被検レンズに不良
品であることを示すマークを刻印する。
【００１２】この例では、２つの画像入力手段の信号に
基づいてそれぞれ異なる項目を検査し、第１のＣＣＤカ
メラ３０ａの出力に基づく検査結果が不良であった場合
には第１のマーキング装置２１０により、第２のＣＣＤ
カメラ３０ｂの出力に基づく検査結果が不良であった場
合には第２のマーキング装置２１０によりマークが刻印
される。
基づいてそれぞれ異なる項目を検査し、第１のＣＣＤカ
メラ３０ａの出力に基づく検査結果が不良であった場合
には第１のマーキング装置２１０により、第２のＣＣＤ
カメラ３０ｂの出力に基づく検査結果が不良であった場
合には第２のマーキング装置２１０によりマークが刻印
される。
【００１３】上記の構成によれば、被検レンズを順に送
ることにより、第１、第２のＣＣＤカメラ３０ａ，３０
ｂの出力に基づいて欠陥の有無を判定し、判定結果に基
づいてマーキング装置によりマーキングをする間に次の
被検レンズを検査することができる。
ることにより、第１、第２のＣＣＤカメラ３０ａ，３０
ｂの出力に基づいて欠陥の有無を判定し、判定結果に基
づいてマーキング装置によりマーキングをする間に次の
被検レンズを検査することができる。
【００１４】図２は、上記の装置における各手段の具体
的な配置を示す斜視図である。検査対象となる被検レン
ズ１は、この例では図３に示すように４個取り金型で成
形され、スプルＳpおよびランナＲに接続されたままの
状態で検査される。被検レンズ１は、スプルＳpを中心
としてそれぞれ９０°おきに設けられている。
的な配置を示す斜視図である。検査対象となる被検レン
ズ１は、この例では図３に示すように４個取り金型で成
形され、スプルＳpおよびランナＲに接続されたままの
状態で検査される。被検レンズ１は、スプルＳpを中心
としてそれぞれ９０°おきに設けられている。
【００１５】ＣＣＤカメラ３０ａ，３０ｂの撮影位置に
は、１８０°離れた位置の２つの被検レンズ１が配置さ
れる。マーキング装置２００，２１０のマーキング位置
には、各撮影位置とはそれぞれ９０°異なる位置の２つ
の被検レンズ１が配置される。
は、１８０°離れた位置の２つの被検レンズ１が配置さ
れる。マーキング装置２００，２１０のマーキング位置
には、各撮影位置とはそれぞれ９０°異なる位置の２つ
の被検レンズ１が配置される。
【００１６】部品供給装置６０は、この例ではスプルＳ
pを中心に被検レンズを９０°づつ一体に回転させるこ
とにより、各被検レンズを撮影位置、マーキング位置に
交互に送る。スプルが３６０°回転して各レンズが４つ
の位置を通過すると、４つの被検レンズの検査は終了
し、別のセットの被検レンズが検査対象とされる。
pを中心に被検レンズを９０°づつ一体に回転させるこ
とにより、各被検レンズを撮影位置、マーキング位置に
交互に送る。スプルが３６０°回転して各レンズが４つ
の位置を通過すると、４つの被検レンズの検査は終了
し、別のセットの被検レンズが検査対象とされる。
【００１７】続いて、図４に基づいて各ＣＣＤカメラに
より撮影される画像を形成するための光学系の構成につ
いて説明する。光学系の構成は共通であるため、ここで
は共通の符号を付して説明する。
より撮影される画像を形成するための光学系の構成につ
いて説明する。光学系の構成は共通であるため、ここで
は共通の符号を付して説明する。
【００１８】装置の光学系は、光源１０(１０ａ，１０
ｂ)と、この光源１０から発した光束を拡散させる第
１、第２の拡散板２１，２２から構成される拡散手段２
０(２０ａ，２０ｂ)と、拡散手段２０を透過して被検レ
ンズ１を透過した光束、および被検レンズ１の周囲を通
過した光束を取り込んで撮影するＣＣＤカメラ３０(３
０ａ，３０ｂ)とを備える。
ｂ)と、この光源１０から発した光束を拡散させる第
１、第２の拡散板２１，２２から構成される拡散手段２
０(２０ａ，２０ｂ)と、拡散手段２０を透過して被検レ
ンズ１を透過した光束、および被検レンズ１の周囲を通
過した光束を取り込んで撮影するＣＣＤカメラ３０(３
０ａ，３０ｂ)とを備える。
【００１９】光源１０および被検レンズ１は、ＣＣＤカ
メラ３０の光軸上に配置されている。ＣＣＤカメラ３０
は、撮影レンズ３１とＣＣＤセンサ３２とから構成さ
れ、被検レンズ１の厚さ方向の中心付近をピント面Ｐと
するよう調整されている。すなわち、ピント面ＰとＣＣ
Ｄセンサ３２の受像面とは撮影レンズ３１を介して光学
的に共役であり、ピント面Ｐ上の被検レンズ１の像は、
ＣＣＤセンサ上の符号Ｏで示す範囲に形成される。
メラ３０の光軸上に配置されている。ＣＣＤカメラ３０
は、撮影レンズ３１とＣＣＤセンサ３２とから構成さ
れ、被検レンズ１の厚さ方向の中心付近をピント面Ｐと
するよう調整されている。すなわち、ピント面ＰとＣＣ
Ｄセンサ３２の受像面とは撮影レンズ３１を介して光学
的に共役であり、ピント面Ｐ上の被検レンズ１の像は、
ＣＣＤセンサ上の符号Ｏで示す範囲に形成される。
【００２０】第１、第２の拡散板２１，２２は、共に被
検レンズ１の平面形状とほぼ相似形状であり、第２の拡
散板２２の方が第１の拡散板２１より面積が小さい。こ
れらの拡散板２１，２２は、光軸がそれぞれの中心を通
るように、光軸に対して垂直に設けられている。また、
これらの拡散板は、同一、あるいは互いに異なる拡散透
過率を有しており、したがって拡散手段２０を全体とし
て考えると、第１、第２の拡散板が重なる中心領域は拡
散透過率が低く、重ならない周辺領域は拡散透過率が相
対的に高くなる。
検レンズ１の平面形状とほぼ相似形状であり、第２の拡
散板２２の方が第１の拡散板２１より面積が小さい。こ
れらの拡散板２１，２２は、光軸がそれぞれの中心を通
るように、光軸に対して垂直に設けられている。また、
これらの拡散板は、同一、あるいは互いに異なる拡散透
過率を有しており、したがって拡散手段２０を全体とし
て考えると、第１、第２の拡散板が重なる中心領域は拡
散透過率が低く、重ならない周辺領域は拡散透過率が相
対的に高くなる。
【００２１】第２の拡散板２２のサイズは、第２の拡散
板２２から垂直に射出する光の範囲が被検レンズ１にほ
ぼ一致するよう定められている。これにより、中心領域
からの垂直射出成分は全て被検レンズ１に入射し、第１
の拡散板２１を垂直に透過して第２の拡散板２２を通ら
ない成分、すなわち周辺領域からの垂直射出成分は被検
レンズ１に入射しない。また、第１拡散板２１の平面形
状を被検物の形状と相似に形成するのは、周辺領域から
の斜射出成分を被検物にあらゆる方向から均一に入射さ
せるためである。
板２２から垂直に射出する光の範囲が被検レンズ１にほ
ぼ一致するよう定められている。これにより、中心領域
からの垂直射出成分は全て被検レンズ１に入射し、第１
の拡散板２１を垂直に透過して第２の拡散板２２を通ら
ない成分、すなわち周辺領域からの垂直射出成分は被検
レンズ１に入射しない。また、第１拡散板２１の平面形
状を被検物の形状と相似に形成するのは、周辺領域から
の斜射出成分を被検物にあらゆる方向から均一に入射さ
せるためである。
【００２２】図５は、被検レンズと拡散板２１，２２と
の平面形状の例を示す。図５(A-1)に示されるように被
検レンズが平面形状が矩形であるファインダー用レンズ
１ａである場合には、第１、第２の拡散板２１，２２の
平面形状は図５(A-2)に示す通りの矩形とすることが望
ましい。また、図５(B-1)に示されるように被検レンズ
が一般的な円形レンズ１ｂである場合には、各拡散板２
１，２２の平面形状は図５(B-2)に示される通りの円形
とすることが望ましい。被検レンズとランナＲとの間
は、ゲートＧにより連結されている。
の平面形状の例を示す。図５(A-1)に示されるように被
検レンズが平面形状が矩形であるファインダー用レンズ
１ａである場合には、第１、第２の拡散板２１，２２の
平面形状は図５(A-2)に示す通りの矩形とすることが望
ましい。また、図５(B-1)に示されるように被検レンズ
が一般的な円形レンズ１ｂである場合には、各拡散板２
１，２２の平面形状は図５(B-2)に示される通りの円形
とすることが望ましい。被検レンズとランナＲとの間
は、ゲートＧにより連結されている。
【００２３】撮影された画像には、図６に示されるよう
に、第２の拡散板２２を透過せずに達する周辺領域の輝
度の高い成分により主として形成される高輝度の背景領
域Ｂと、２つの拡散板を透過した中心領域の輝度の低い
成分により主として形成される被検レンズの像(部品領
域)Ｓとが含まれる。
に、第２の拡散板２２を透過せずに達する周辺領域の輝
度の高い成分により主として形成される高輝度の背景領
域Ｂと、２つの拡散板を透過した中心領域の輝度の低い
成分により主として形成される被検レンズの像(部品領
域)Ｓとが含まれる。
【００２４】第２の拡散板２２の形状を被検レンズ１の
平面形状とを相似形とすることにより、上記のように画
像内で被検レンズが配置された部品領域と背景領域とを
明瞭に区分することができ、後述の画像処理における対
象領域の分離処理がきわめて容易となる。
平面形状とを相似形とすることにより、上記のように画
像内で被検レンズが配置された部品領域と背景領域とを
明瞭に区分することができ、後述の画像処理における対
象領域の分離処理がきわめて容易となる。
【００２５】ここで、被検レンズ１の表面または内部に
光を吸収する欠陥、例えば光学部材中に含まれる黒いゴ
ミが存在すると、レンズ像を形成する中心領域からの透
過光の一部が吸収されてＣＣＤセンサ３２に光が達しな
いため、図７に示されるように中間輝度の部品領域Ｓ内
に部品領域より輝度が低い欠陥像ＤLが発生する。
光を吸収する欠陥、例えば光学部材中に含まれる黒いゴ
ミが存在すると、レンズ像を形成する中心領域からの透
過光の一部が吸収されてＣＣＤセンサ３２に光が達しな
いため、図７に示されるように中間輝度の部品領域Ｓ内
に部品領域より輝度が低い欠陥像ＤLが発生する。
【００２６】また、被検レンズ１の表面に光を散乱させ
る欠陥、例えば光学部材の表面に白いゴミやキズが存在
すると、この欠陥により光が散乱し、欠陥がなければＣ
ＣＤセンサ３２上のレンズ像の範囲Ｏに達しない周辺領
域からの高輝度の斜射出成分の一部がレンズ像の範囲Ｏ
に達し、図８に示されるように中間輝度の部品領域Ｓ内
に部品領域より輝度が高い欠陥像ＤHが発生する。
る欠陥、例えば光学部材の表面に白いゴミやキズが存在
すると、この欠陥により光が散乱し、欠陥がなければＣ
ＣＤセンサ３２上のレンズ像の範囲Ｏに達しない周辺領
域からの高輝度の斜射出成分の一部がレンズ像の範囲Ｏ
に達し、図８に示されるように中間輝度の部品領域Ｓ内
に部品領域より輝度が高い欠陥像ＤHが発生する。
【００２７】例えば、あるＸ軸方向の走査線上に吸収性
の欠陥に基づく低輝度像ＤLと散乱性の欠陥に基づく高
輝度像ＤHとが存在する場合、この走査線に沿った画素
列の出力は図９(A)に示すとおりとなる。画像処理装置
４０は、２つの閾値ＳＨ1，ＳＨ2を用いて２値化するこ
とにより、図９(B)(C)に示されるように性状の異なる２
種類の欠陥をそれぞれ独立して抽出することができる。
の欠陥に基づく低輝度像ＤLと散乱性の欠陥に基づく高
輝度像ＤHとが存在する場合、この走査線に沿った画素
列の出力は図９(A)に示すとおりとなる。画像処理装置
４０は、２つの閾値ＳＨ1，ＳＨ2を用いて２値化するこ
とにより、図９(B)(C)に示されるように性状の異なる２
種類の欠陥をそれぞれ独立して抽出することができる。
【００２８】検査装置は、上記のように抽出された図形
が欠陥に相当するか否かを所定の判定基準に基づいて判
定し、欠陥と判定された場合にはマーキング装置が被検
レンズに不良品のマークを刻印する。検査後の工程で
は、マークが付されていないレンズのみを良品として選
別して使用する。
が欠陥に相当するか否かを所定の判定基準に基づいて判
定し、欠陥と判定された場合にはマーキング装置が被検
レンズに不良品のマークを刻印する。検査後の工程で
は、マークが付されていないレンズのみを良品として選
別して使用する。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、検査とマーキングとを異なる位置で並列して実行す
ることにより、検査、マーキングを同一位置で実行する
場合と比較すると、それぞれの処理にかかる時間が同一
であったとしても処理速度を向上させることができる。
ば、検査とマーキングとを異なる位置で並列して実行す
ることにより、検査、マーキングを同一位置で実行する
場合と比較すると、それぞれの処理にかかる時間が同一
であったとしても処理速度を向上させることができる。
【図１】 この発明の実施の形態である光学部材検査装
置の処理系を示すブロック図である。
置の処理系を示すブロック図である。
【図２】 この発明の実施の形態である光学部材検査装
置の各手段の具体的な配置を示す斜視図である。
置の各手段の具体的な配置を示す斜視図である。
【図３】 被検物の例として４個取り金型により成形さ
れた正レンズのランナにより接続された状態を示す斜視
図である。
れた正レンズのランナにより接続された状態を示す斜視
図である。
【図４】 この発明の実施の形態である光学部材検査装
置の光学系を示す説明図である。
置の光学系を示す説明図である。
【図５】 図４の装置における被検物の形状と拡散手段
の形状とを対比して示す説明図である。
の形状とを対比して示す説明図である。
【図６】 図４の装置により撮影される被検レンズに欠
陥がない場合の画像を示す説明図である。
陥がない場合の画像を示す説明図である。
【図７】 図４の装置により撮影される被検レンズに吸
収性の欠陥がある場合の画像を示す説明図である。
収性の欠陥がある場合の画像を示す説明図である。
【図８】 図４の装置により撮影される被検レンズに散
乱性の欠陥がある場合の画像を示す説明図である。
乱性の欠陥がある場合の画像を示す説明図である。
【図９】 図４の装置により撮影された画像の１走査線
上の輝度分布の例を示し、(A)が原画像の信号、(B)が低
輝度成分を２値化した信号、(C)が高輝度成分を２値化
した信号である。
上の輝度分布の例を示し、(A)が原画像の信号、(B)が低
輝度成分を２値化した信号、(C)が高輝度成分を２値化
した信号である。
１ 被検レンズ １０(１０ａ，１０ｂ) 光源 １２０ａ，１２０ｂ 光源装置 ２０(２０ａ，２０ｂ) 拡散手段 ２００，２１０ マーキング装置 ３０(３０ａ，３０ｂ) ＣＣＤカメラ ４０ 画像処理装置 ４１ 入力切換手段 ４２ 判定手段 ４３ 制御手段 ５０ モニタディスプレイ ６０ 部品供給装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木田 敦 東京都板橋区前野町２丁目36番９号 旭光 学工業株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】被検物である複数の光学部材のそれぞれを
撮影位置、マーキング位置の順に連続的に送る部品供給
手段と、 前記撮影位置に供給された光学部材を撮影する画像入力
手段と、 前記画像入力手段の入力画像に基づいて前記光学部材の
良否を判定する判定手段と、 前記撮影位置での撮影後に前記マーキング位置に送られ
た光学部材に、前記判定手段における判定結果に基づい
てマークを付するマーキング手段とを備え、 検査済みの被検物を前記検査位置から前記マーキング位
置に移動させると同時に、未検査の被検物を前記検査位
置に送り、検査済みの被検物のマーキングと、未検査の
被検物の検査とを並列して実行することを特徴とするマ
ーキング機能を有する検査装置。 - 【請求項２】前記マーキング手段は、前記被検物が所定
の性能を満たさない不良品である場合にのみマークをす
ることを特徴とする請求項１に記載のマーキング機能を
有する検査装置。 - 【請求項３】前記部品供給手段は、複数の光学部材を一
体に回転させることにより該光学部材を前記撮影位置、
前記マーキング位置に順に送ることを特徴とする請求項
１に記載のマーキング機能を有する検査装置。 - 【請求項４】被検物の性能を検査すると共に、検査結果
に基づいて前記被検物にマークをする検査／マーキング
方法において、 前記被検物に対する検査、マーキングの各処理を異なる
位置で並列して実行することを特徴とする検査／マーキ
ング方法。 - 【請求項５】検査位置で被検物の性能を検査する検査ス
テップと、 前記検査位置とは異なるマーキング位置で前記検査段階
での検査結果に基づいて前記被検物にマークをするマー
キングステップとから構成され、 検査済みの被検物を前記検査位置から前記マーキング位
置に移動させると同時に、未検査の被検物を前記検査位
置に送り、検査済みの被検物のマーキングと、未検査の
被検物の検査とを並列して実行することを特徴とする検
査／マーキング方法。
Priority Applications (16)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20839995A JPH0933387A (ja) | 1995-07-24 | 1995-07-24 | マーキング機能を有する検査装置および方法 |
| US08/658,549 US6148097A (en) | 1995-06-07 | 1996-06-05 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,363 US6477264B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,661 US6363165B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,045 US6430310B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/579,804 US6434263B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,044 US6351554B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/583,230 US6697513B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,659 US6535627B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,746 US6314200B1 (en) | 1995-03-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,479 US6476909B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,003 US6427023B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,010 US6349145B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/580,278 US6804386B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/579,706 US6636625B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
| US09/579,622 US6788804B1 (en) | 1995-06-07 | 2000-05-26 | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20839995A JPH0933387A (ja) | 1995-07-24 | 1995-07-24 | マーキング機能を有する検査装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0933387A true JPH0933387A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16555615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20839995A Withdrawn JPH0933387A (ja) | 1995-03-07 | 1995-07-24 | マーキング機能を有する検査装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0933387A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021145471A1 (ko) * | 2020-01-14 | 2021-07-22 | 엘지전자 주식회사 | 렌즈 측정 장치 |
-
1995
- 1995-07-24 JP JP20839995A patent/JPH0933387A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021145471A1 (ko) * | 2020-01-14 | 2021-07-22 | 엘지전자 주식회사 | 렌즈 측정 장치 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6804386B1 (en) | Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof | |
| US6201600B1 (en) | Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive objects having a lens portion | |
| CN100347584C (zh) | 共轴小角度暗场光照 | |
| US6011620A (en) | Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects | |
| TWI773032B (zh) | 一種拱形照明裝置、具有其之成像系統及成像方法 | |
| JPH11337504A (ja) | ガラス板の欠陥識別検査方法および装置 | |
| JP2022145349A (ja) | 光学系及び光学テスト装置 | |
| JP3231582B2 (ja) | 光学部材検査装置 | |
| JPH0949805A (ja) | 光学部材検査方法および検査装置 | |
| JP3222727B2 (ja) | 光学部材検査装置 | |
| JPH0933387A (ja) | マーキング機能を有する検査装置および方法 | |
| JP3149338B2 (ja) | 光学部材検査方法 | |
| JPH0933342A (ja) | 照明輝度管理方法および光学部材検査装置 | |
| KR102528464B1 (ko) | 비전 검사 장치 | |
| JP3149336B2 (ja) | 光学部材検査装置 | |
| JP3149339B2 (ja) | 刻印分離方法および光学部材検査装置 | |
| JP3222729B2 (ja) | 倍率調整機能を備えた光学部材検査装置 | |
| JP3523411B2 (ja) | 光学部材検査装置および検査方法 | |
| JP3435260B2 (ja) | 光学部材検査装置 | |
| JPH04236344A (ja) | 視覚検査装置 | |
| JPH09292348A (ja) | 印刷面検査装置 | |
| JPH11258171A (ja) | 透明板状物体の欠陥検査方法および装置並及び表示装置製造方法及び表示装置 | |
| JPH0933388A (ja) | 光学部材検査装置および検査方法 | |
| JPH05209733A (ja) | 表面状態検査装置 | |
| JPH1196365A (ja) | 印刷物検査方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20031205 |