JPH0936237A - Verification method in LSI development - Google Patents
Verification method in LSI developmentInfo
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- JPH0936237A JPH0936237A JP7182628A JP18262895A JPH0936237A JP H0936237 A JPH0936237 A JP H0936237A JP 7182628 A JP7182628 A JP 7182628A JP 18262895 A JP18262895 A JP 18262895A JP H0936237 A JPH0936237 A JP H0936237A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 LSI開発における回路機能の検証作業の方
法に関し、EWSまたはCAD上で作成したLSIの回
路情報を基にしてハードシミュレーション用のブレッド
ボードの LSI回路を作成するが、其れを動作させる周辺
回路の作成には特に時間と費用とを掛けず、全体の検証
作業が自動的に行われるLSI開発の検証方法の提供を
目的とする。
【構成】 ソフトシミュレーションの検証結果のデータ
を、所定フォーマットに変換してROMに展開し、其の
ROMの出力をハードシミュレーション用のブレッドボ
ードの LSI回路のテストデータとし、其のハードの検証
結果をRAMに格納し、其れを読出した出力をソフトシ
ミュレーションのテストデータとしてハードシミュレー
ション用のブレッドボードの LSI回路の検証作業が閉ル
ープで自動的に行われるように構成する。
(57) [Abstract] [Purpose] Regarding the method of verifying the circuit function in LSI development, an LSI circuit of a breadboard for hard simulation is created based on the circuit information of the LSI created on EWS or CAD. It is an object of the present invention to provide a verification method for LSI development in which the entire verification work is automatically performed without particularly spending time and cost for creating a peripheral circuit for operating the peripheral circuit. [Configuration] The data of the verification result of the soft simulation is converted into a predetermined format and expanded in the ROM, and the output of the ROM is used as the test data of the LSI circuit of the breadboard for hardware simulation, and the verification result of the hardware is The output is stored in RAM, and the read output is used as test data for soft simulation, and the verification work of the LSI circuit of the breadboard for hard simulation is automatically performed in a closed loop.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、LSIの開発における
回路機能の検証の方法に関する。このLSI開発におけ
る回路機能の検証作業は、従来、相互に共通性を持たな
いソフトウェアによるシミュレーションとハードウェア
によるシミュレーションの2つの検証方法を並行に実施
する手法が採られているが、相互を関係付けることで、
シミュレーション全体の手番が短縮されて検証の効率が
良くなると同時に、検証漏れが無く検証の信頼性が高く
なることが望まれている。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for verifying circuit function in LSI development. Conventionally, the circuit function verification work in the LSI development employs a method of performing two verification methods in parallel, that is, software simulation and hardware simulation that have no commonality, but they are related to each other. By that,
It is desired that the turn of the simulation as a whole be shortened and the efficiency of verification be improved, and at the same time that there be no omission of verification and the reliability of verification be high.
【0002】[0002]
【従来の技術】LSI開発における回路機能の検証作業
は、ソフトシミュレーションだけではLSIの実動作的
な検証が出来ないので、ハードシミュレーションが必要
となる。そのソフトシミュレーションとハードシミュレ
ーションを並行に実施する従来の作業フローを以下に説
明する。ソフトシミュレーションの作業内容は、EWS
(Enginering Work Station)又はCAD(Computer Aid
ed Design)上で作成された回路情報により、ソフトウェ
ア上でテストデータを作成し、其のテストデータでソフ
トウェア上の回路モデルに対し論理動作の検証を行う。
ハードシミュレーションの作業の内容は、ソフトウェア
上では検証が不可能な論理回路の非同期動作の検証や動
作速度を変えた実動作的な検証を重点的に行なう為に、
前記の回路情報を基にして LSI回路のブレッドボードを
作成する。また、其の LSI回路を動作させる為の周辺回
路( LSI回路に対する入力信号発生部)も該ブレッドボ
ード内に用意する。そして此の作成されたブレッドボー
ド上で、LSIの論理動作や其の他の動作機能の検証を
行なっていた。2. Description of the Related Art The verification work of the circuit function in the development of an LSI requires a hard simulation because the actual operation of the LSI cannot be verified only by the soft simulation. A conventional work flow for executing the soft simulation and the hard simulation in parallel will be described below. The work content of the soft simulation is EWS
(Enginering Work Station) or CAD (Computer Aid)
ed Design) creates test data on the software based on the circuit information created on the ed design), and verifies the logical operation of the circuit model on the software with the test data.
The content of the work of the hard simulation is to focus on the verification of the asynchronous operation of the logic circuit that cannot be verified by software and the verification of the actual operation that changes the operation speed.
Create a breadboard of LSI circuits based on the above circuit information. In addition, a peripheral circuit (input signal generator for the LSI circuit) for operating the LSI circuit is also prepared in the breadboard. Then, the logic operation of the LSI and other operation functions were verified on the breadboard thus created.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】この従来方式は、上記
の如く、ソフトシミュレーションだけではLSIの全部
の動作の検証が出来ないので、ハードシミュレーション
が必要となる。しかし、ハードシミュレーションを行う
には、EWSまたはCAD上で作成された回路情報を基
にした LSI回路と其の LSI回路を動作させる周辺回路と
を、ブレッドボード内に作成する必要がある。其のブレ
ッドボードを作成するには、作成の時間と費用とが掛か
り、検証作業にも時間を要するという問題があった。本
発明の目的は、ハードシミュレーション用のブレッドボ
ードの LSI回路は作成するが其れを動作させる周辺回路
の作成には特に時間と費用とを掛けずに、該ハードシミ
ュレーションの LSI回路の検証作業が自動的に行われる
ようなLSI開発における検証方法を提供することにあ
る。As described above, this conventional method requires the hard simulation because it is not possible to verify the entire operation of the LSI by only the soft simulation. However, in order to perform a hard simulation, it is necessary to create an LSI circuit based on the circuit information created on the EWS or CAD and a peripheral circuit for operating the LSI circuit in the breadboard. There is a problem in that it takes time and cost to create the breadboard, and verification work also takes time. An object of the present invention is to create an LSI circuit of a breadboard for hard simulation, but it does not particularly take time and cost to create a peripheral circuit for operating the breadboard, and the verification work of the LSI circuit of the hard simulation can be performed. It is to provide a verification method in LSI development that is automatically performed.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】この目的達成のための本
発明のLSI開発の検証作業の方法は、図1の原理的な
作業フロー図を参照して、(1) EWS又はCAD上で作
成された回路情報から得た回路情報(FTDL)を基にして,
LSIの回路情報と等価な LSI回路部をブレッドボード
内に作成する。(2) 該ブレッドボード内の LSI回路部の
周辺回路として,先にソフトによるテストデータで検証
モデルに対し行った検証の結果を、ハードのテストデー
タとして格納する格納部としてのROMと、該ROMの
出力をテストデータとして行ったハードによる検証の結
果をソフトのテストデータとして格納する格納部として
のRAMとを具える。(3) ソフト上で作成されたシミュ
レーションのテストデータを用い検証モデルで検証した
検証結果のデータをフォーマット化して該ROMのデー
タとする。(4) 該シミュレーションのテストデータが期
待値(正常動作時の検証結果の値)付きの場合には、其
の期待値のみを別のROMデータとする。(5) 該ROM
のデータを読み出してブレッドボードを動作させる事に
より、該ROMから出力されるデータが前記(1) の LSI
回路部の入力のテストデータとする。(6) 該 LSI回路部
から出力された検証結果のデータを該RAMに取り込
む。(7) 該RAMデータをフォーマット変換し、正常動
作時の検証結果に対する期待値として前記ソフトシミュ
レーションのテストデータに付加する。(8) ブレッドボ
ードの作成には、現場でプログラム可能なゲートアレイ
FPGAを最大限に利用して、任意の読出し速度を設定
する速度設定部を設け、其の出力により駆動されるRO
Mを持つように構成する。The method of verification work of LSI development of the present invention for achieving the above object is as follows: (1) Created on EWS or CAD with reference to the principle work flow chart of FIG. Based on the circuit information (FTDL) obtained from the obtained circuit information,
Create an LSI circuit section equivalent to the LSI circuit information in the breadboard. (2) As a peripheral circuit of the LSI circuit section in the breadboard, a ROM as a storage section for storing the result of the verification previously performed on the verification model with the software test data as hardware test data, and the ROM And a RAM as a storage unit for storing the result of the verification by the hardware, which has been output as the test data, as the software test data. (3) The data of the verification result verified by the verification model using the test data of the simulation created on the software is formatted into the data of the ROM. (4) If the test data of the simulation has an expected value (value of the verification result at the time of normal operation), only that expected value is used as another ROM data. (5) The ROM
When the breadboard is operated by reading the data of the above, the data output from the ROM is the LSI of the above (1).
The test data is input to the circuit section. (6) The data of the verification result output from the LSI circuit unit is loaded into the RAM. (7) The RAM data is format-converted and added to the soft simulation test data as an expected value for the verification result during normal operation. (8) To create a breadboard, a speed setting unit that sets an arbitrary read speed is provided by making maximum use of the field programmable gate array FPGA, and the RO driven by its output is used.
Configure to have M.
【0005】[0005]
【作用】本発明では、ソフトシミュレーション用のテス
トデータの中に、正常動作時の検証結果の値である期待
値が存在する場合には、該テストデータと期待値とを、
ROMデータに変換することにより、ブレッドボードに
よるハードシミュレーションにて、該ROMの出力デー
タを LSI回路のテストデータとして検証を行い、其の検
証結果をRAMに書込み読み出してソフトシミュレーシ
ョン用のテストデータとする事により、ROMを使用し
た LSI回路の検証の作業が閉じたループとなって自動化
が可能となり、検証作業に特別の時間を要しなくなる。In the present invention, when the expected value which is the value of the verification result at the time of normal operation exists in the test data for soft simulation, the test data and the expected value are
By converting to ROM data, the output data of the ROM is verified as the test data of the LSI circuit in the hardware simulation by the breadboard, and the verification result is written to the RAM and read out to be the test data for the soft simulation. As a result, the work of verifying the LSI circuit using the ROM becomes a closed loop and can be automated, so that special time is not required for the verification work.
【0006】また、ハードシミュレーション用のブレッ
ドボード内の LSI回路部の作成と、其の周辺回路として
のROM,RAMの作成に際しては、現場でプログラム
可能なゲートアレイ(FPGA)を用いる事により、ブ
レッドボードの作成の規模と作成時間とを削減すること
が可能となり、また汎用性を持たすことが出来る。ソフ
トシミュレーションのテストデータの中に期待値が存在
しない場合には、ハードシミュレーションの結果を、そ
のままソフトシミュレーションの期待値として利用する
ことが可能となる。In addition, a programmable gate array (FPGA) is used in the field to create the LSI circuit section in the breadboard for hardware simulation and the ROM and RAM as its peripheral circuits. It is possible to reduce the scale of board creation and the time it takes to create it, and it is also possible to have versatility. When the expected value does not exist in the soft simulation test data, the result of the hard simulation can be directly used as the expected value of the soft simulation.
【0007】[0007]
【実施例】図2は本発明の実施例のブレッドボードの構
成図である。LSI開発のフローとして、先ず、EWS
やCAD上で作成した回路情報(例えば富士通の論理回
路の表現言語FLDL: Fusitsu Logic Description La
nguageによるもの)を基にして、LSIと等価な (1)L
SI回路部を、例えば標準IC等を用いて作成する。次
にソフトシミュレーションに用いたテストデータ(FT
DL: Fusitsu TestData Description Language)を、
テストデータ(FTDL)からROMデータへの変換プ
ログラムを用いて、ROMデータのフォーマット(例え
ば INTEL又はMOTOROLAフォーマット)に変換し、 (2)テ
ストデータ発生部(ROM)で用いる。該ROMからの
データ読出し速度が所要の速度と異なる場合には、別の
ROMに分けて用いて、読み出し速度を任意の速度に設
定可能とするために、FPGA(Field Programmable G
ate Array)を用いて、(3) 速度設定部を作成する。2 is a block diagram of a breadboard according to an embodiment of the present invention. As the flow of LSI development, first, EWS
And circuit information created on CAD (eg, Fujitsu's logic language FLDL: Fusitsu Logic Description La
(1) L equivalent to LSI based on
The SI circuit section is created using, for example, a standard IC. Next, the test data (FT
DL: Fusitsu TestData Description Language)
It is converted into a ROM data format (for example, INTEL or MOTOROLA format) by using a conversion program from test data (FTDL) to ROM data, and (2) it is used in the test data generation unit (ROM). When the data read speed from the ROM is different from the required speed, it is divided into different ROMs and used so that the read speed can be set to an arbitrary speed.
(3) Create the speed setting part using (ate Array).
【0008】ROMの出力データをテストデータとする
ハードシミュレーションの実行により、 (1)LSI回路
部より出力された検証結果のデータを (4)テストデータ
格納部のRAMに保存し、ソフトシミュレーションの期
待値を記憶するROMデータのフォーマットに変換した
ROMデータを有する (5)期待値データ発生部の出力デ
ータとの比較を、(6)結果比較部にて行う事により、開
発LSIの検証作業が閉じたループとなり自動化が実現
される。By executing the hard simulation using the output data of the ROM as the test data, (1) the verification result data output from the LSI circuit unit is stored in the RAM of the (4) test data storage unit and the soft simulation is expected. It has ROM data converted to the ROM data format for storing values. (5) Comparison with the output data of the expected value data generator is performed in (6) result comparison unit, closing the verification work of the development LSI. It becomes a loop and automation is realized.
【0009】ハードシミュレーションの結果を、ソフト
シミュレーションの期待値として利用する場合は、 (5)
期待値データ発生部のROMに予め格納されたROMデ
ータをテストデータFTDLに変換するデータ変換プロ
グラムを用いて、期待値付きのソフトシミュレーション
のテストデータを作成する。When the result of the hard simulation is used as the expected value of the soft simulation, (5)
Using a data conversion program that converts ROM data stored in advance in the ROM of the expected value data generation unit into test data FTDL, test data for soft simulation with expected values is created.
【0010】[0010]
【発明の効果】以上説明した如く、本発明によれば、通
常はソフトとハードの両方での検証を必要とするLSI
開発の検証作業が、ハードシミュレーションのLSI回
路部を動作させる為に必要となる入力信号発生部として
の周辺回路に、先のソフトシミュレーションで使用した
テストデータを書き込んだROMを用いる事が可能とな
る。またハードシミュレーションの結果を、RAMに書
き込み読み出してソフトシミュレーションのテストデー
タに用いる事も可能となる。更に、ハードシミュレーシ
ョン用のブレッドボードの作成に、現場でプログラム可
能なゲートアレイFPGAを有効に利用する事により、
汎用性を持ち、作成規模の削減や作成期間を短縮する効
果が得られる。As described above, according to the present invention, an LSI that normally requires verification in both software and hardware
It becomes possible for the verification work of development to use the ROM in which the test data used in the previous soft simulation has been written, in the peripheral circuit as the input signal generation unit required for operating the LSI circuit unit of the hard simulation. . It is also possible to write and read the result of the hard simulation into the RAM and use it as test data for the soft simulation. Furthermore, by effectively using a field-programmable gate array FPGA to create a breadboard for hard simulation,
It has versatility, and it has the effect of reducing the production scale and the production period.
【図1】 本発明のLSI開発における検証方式の基本
的なフローチャートFIG. 1 is a basic flowchart of a verification method in LSI development of the present invention.
【図2】 本発明の本発明の実施例のブレッドボードの
構成図FIG. 2 is a configuration diagram of a breadboard according to an embodiment of the present invention.
(1) はハードシミュレーション用のブレッドボード内の
LSI回路部、(2) はLSI回路部のテストデータ発生
部としてのROM、(3) はROMの読出し速度をFPG
Aを用いて任意に設定する速度設定部、(4) はLSI回
路部のテスト結果を記憶するRAMを内蔵し其の出力を
ソフトシミュレーションのテストデータとして格納する
テストデータ格納部、(5) はソフトシミュレーションの
テスト結果に対する期待値を予め記憶するROMを内蔵
する期待値データ発生部、(6) はテストデータ格納部4
の出力と期待値データ発生部5 の出力とを比較し其の比
較結果を結果判定部へ出力する結果比較部である。(1) is the LSI circuit section in the breadboard for hardware simulation, (2) is the ROM as the test data generation section of the LSI circuit section, and (3) is the read speed of the ROM.
A speed setting unit which is arbitrarily set using A, (4) is a test data storage unit which has a built-in RAM for storing the test results of the LSI circuit unit and stores its output as test data for soft simulation, (5) is An expected value data generator that has a built-in ROM that stores the expected value for the soft simulation test result in advance. (6) is the test data storage unit 4
Is a result comparing section that compares the output of the above-mentioned and the output of the expected value data generating section 5 and outputs the comparison result to the result judging section.
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 27/04 A Continuation of front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display location H01L 27/04 A
Claims (2)
報から得た回路情報(FTDL)を基にし,ハードシミュレー
ション用としてブレッドボード内に作成したLSIの回
路情報と等価なLSI回路部の動作の検証方式におい
て、前記回路情報を基にしたソフトシミュレーションの
テストデータによる検証モデルに対する検証結果のデー
タ(FTDL)を所定フォーマットに変換し予め書き込んだR
OMと、其のROMの読出しデータを前記ハードシミュ
レーション用として作成したLSI回路部のテストデー
タとして其の動作を検証し該LSI回路部の検証結果の
データを書込み読み出すRAMとを具え、其のRAMの
読出しデータを所定のフォーマットに変換し前記ソフト
シミュレーションのテストデータとする事により、前記
ハードシミュレーション用としてブレッドボード内に作
成したLSI回路部の動作の検証作業が前記ROMとR
AMとにより、閉じたループで自動的に行われるように
したことを特徴とするLSI開発における検証方式。1. Based on circuit information (FTDL) obtained from circuit information created on EWS or CAD, an operation of an LSI circuit unit equivalent to the circuit information of an LSI created in a breadboard for hardware simulation is performed. In the verification method, the verification result data (FTDL) for the verification model based on the test data of the soft simulation based on the circuit information is converted into a predetermined format and prewritten.
An OM, and a RAM that includes read data of the ROM as test data of the LSI circuit unit created for the hard simulation, and a RAM that verifies the operation and writes and reads the verification result data of the LSI circuit unit. The read data of the ROM is converted into a predetermined format to be used as the test data of the soft simulation, so that the operation of verifying the operation of the LSI circuit section created in the breadboard for the hard simulation can be performed by the ROM and the R.
A verification method in LSI development characterized by being automatically executed in a closed loop by AM.
でプログラム可能なゲートアレイ(FPGA)により任
意に設定する速度設定部を設け、該速度設定部の出力に
駆動された該ROMからの読出しデータをテストデータ
とする事により、前記ハードウェアとしてブレッドボー
ド内に作成したLSI回路部の動作速度が異なる場合の
非同期動作などの実動作時の検証を行うことを特徴とす
る請求項1記載のLSI開発における検証方式。2. A read data from the ROM driven by an output of the speed setting unit, which is provided with a speed setting unit for arbitrarily setting a data reading speed of the ROM by a field programmable gate array (FPGA). 2. The LSI according to claim 1, wherein the test data is used as a test data to verify an actual operation such as an asynchronous operation when an operation speed of an LSI circuit section created in the breadboard as the hardware is different. Verification method in development.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18262895A JP3603394B2 (en) | 1995-07-19 | 1995-07-19 | Verification method and verification method in LSI development |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18262895A JP3603394B2 (en) | 1995-07-19 | 1995-07-19 | Verification method and verification method in LSI development |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0936237A true JPH0936237A (en) | 1997-02-07 |
| JP3603394B2 JP3603394B2 (en) | 2004-12-22 |
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|---|---|---|---|
| JP18262895A Expired - Fee Related JP3603394B2 (en) | 1995-07-19 | 1995-07-19 | Verification method and verification method in LSI development |
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| JP (1) | JP3603394B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100421183C (en) * | 2004-01-17 | 2008-09-24 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | How to verify test ROM |
| JP2023534201A (en) * | 2020-07-09 | 2023-08-08 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | Indicate probing targets for manufactured electronic circuits |
| JP2023535138A (en) * | 2020-07-09 | 2023-08-16 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | Verification of electronic signals using transformed simulated waveforms |
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|---|---|---|---|---|
| WO2015099027A1 (en) | 2013-12-26 | 2015-07-02 | 日本ゼオン株式会社 | Method for producing polyether rubber |
-
1995
- 1995-07-19 JP JP18262895A patent/JP3603394B2/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
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