JPH0465683A - コイル試験方法とその方法に用いる装置 - Google Patents
コイル試験方法とその方法に用いる装置Info
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- JPH0465683A JPH0465683A JP2178200A JP17820090A JPH0465683A JP H0465683 A JPH0465683 A JP H0465683A JP 2178200 A JP2178200 A JP 2178200A JP 17820090 A JP17820090 A JP 17820090A JP H0465683 A JPH0465683 A JP H0465683A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 4
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、コイルの電気的特性をインパルス電圧を加え
ることにより非破壊にて測定または試験するコイル試験
方法と装置に関する。
ることにより非破壊にて測定または試験するコイル試験
方法と装置に関する。
従来の、コイルの電気的特性をインパルス電圧を加える
ことにより非破壊にて測定または試験するコイル試験器
としては、コイルに単発の高圧インパルス電圧を印加し
、コイルにおいて発生した自己減衰振動波形を取り出し
て解析し、当該コイルの特性を知るように構成したコイ
ル試験方法があった。 この場合、特性の確認された一つのコイルを基準コイル
として、測定対象のコイルに高圧インパルス電圧を印加
して発生させた減衰振動電圧波形と前記基準コイルに高
圧インパルス電圧を印加して発生させた減衰振動電圧波
形とを比較することにより、前記被測定コイルの良否を
判断していた。
ことにより非破壊にて測定または試験するコイル試験器
としては、コイルに単発の高圧インパルス電圧を印加し
、コイルにおいて発生した自己減衰振動波形を取り出し
て解析し、当該コイルの特性を知るように構成したコイ
ル試験方法があった。 この場合、特性の確認された一つのコイルを基準コイル
として、測定対象のコイルに高圧インパルス電圧を印加
して発生させた減衰振動電圧波形と前記基準コイルに高
圧インパルス電圧を印加して発生させた減衰振動電圧波
形とを比較することにより、前記被測定コイルの良否を
判断していた。
しかし、従来の方法では、基準コイルは、多数のコイル
を順次試験する度に高圧インパルス電圧が印加されるの
で劣化しやすくなり、多数の被測定コイルの検査の途中
で基準コイルの特性が変化して正確な測定ができないと
いう問題がある。 加えて、劣化した基準コイルを新たな別の基準コイルに
取り替えると、いくら特性の近い別のコイルを基準コイ
ルとして選定しても若干の相違があるので、同一仕様の
コイルの測定に異なる特性の基準コイルを使用すること
になり、正確な測定ができないという問題がある。 その他、基準コイルの選定作業や基準範囲のデータ設定
作業等煩雑な作業を要していた。 また、−旦基準コイルを選定して基準データを読み込ま
せると、製品の個々の特性のバラツキやロットによる特
性の違い等があると、不良品として判断してしまうこと
もあるので、精密な試験は不可能であった。 特に、完成品のモータにおいては、回転子の位置によっ
ては良品であっても、減衰振動電圧波形が全く異なり良
否判断は不可能であった。
を順次試験する度に高圧インパルス電圧が印加されるの
で劣化しやすくなり、多数の被測定コイルの検査の途中
で基準コイルの特性が変化して正確な測定ができないと
いう問題がある。 加えて、劣化した基準コイルを新たな別の基準コイルに
取り替えると、いくら特性の近い別のコイルを基準コイ
ルとして選定しても若干の相違があるので、同一仕様の
コイルの測定に異なる特性の基準コイルを使用すること
になり、正確な測定ができないという問題がある。 その他、基準コイルの選定作業や基準範囲のデータ設定
作業等煩雑な作業を要していた。 また、−旦基準コイルを選定して基準データを読み込ま
せると、製品の個々の特性のバラツキやロットによる特
性の違い等があると、不良品として判断してしまうこと
もあるので、精密な試験は不可能であった。 特に、完成品のモータにおいては、回転子の位置によっ
ては良品であっても、減衰振動電圧波形が全く異なり良
否判断は不可能であった。
そこで、°本発明では、被測定コイルに高圧インパルス
電圧を印加して発生させた減衰振動電圧波形に基づいて
、当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法に
おいて、被測定コイルに低圧のインパルス電圧を印加し
て発生させた減衰振動電圧波形と、高圧のインパルス電
圧を印加して発生させた減衰振動電圧波形とを、振幅軸
方向に拡大もしくは縮小することによって振幅を整合さ
せて比較して当該被測定コイルの良否を判断するように
した。 そして、本発明にかかるコイル試験装置では、高圧イン
パルス電圧を発生する手段と、低圧インパルス電圧を発
生する手段と、高低いづれかのインパルス電圧を切り換
えて被測定コイルに印加する切り換え手段と、被測定コ
イルに発生する減衰振動電圧波形を検出する波形検出手
段と、高圧インパルス電圧を印加した場合の減衰振動電
圧波形と低圧インパルス電圧を印加した場合の減衰振動
電圧波形とを振幅方向に拡大もしくは縮小することによ
って両波形の振幅を整合させる振幅整合手段とを備える
という手段を講じた。
電圧を印加して発生させた減衰振動電圧波形に基づいて
、当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法に
おいて、被測定コイルに低圧のインパルス電圧を印加し
て発生させた減衰振動電圧波形と、高圧のインパルス電
圧を印加して発生させた減衰振動電圧波形とを、振幅軸
方向に拡大もしくは縮小することによって振幅を整合さ
せて比較して当該被測定コイルの良否を判断するように
した。 そして、本発明にかかるコイル試験装置では、高圧イン
パルス電圧を発生する手段と、低圧インパルス電圧を発
生する手段と、高低いづれかのインパルス電圧を切り換
えて被測定コイルに印加する切り換え手段と、被測定コ
イルに発生する減衰振動電圧波形を検出する波形検出手
段と、高圧インパルス電圧を印加した場合の減衰振動電
圧波形と低圧インパルス電圧を印加した場合の減衰振動
電圧波形とを振幅方向に拡大もしくは縮小することによ
って両波形の振幅を整合させる振幅整合手段とを備える
という手段を講じた。
本発明は、良好なコイルにおいては、そのコイルから得
られる減衰振動電圧波形は、印加したインパルス電圧の
高低によらず振幅方向に拡大／縮小すれば一致するが、
耐圧や絶縁の不良がある不良品のコイルにおいては、低
圧のインパルス電圧を印加させた場合の減衰振動電圧波
形と高圧のインパルス電圧を印加させた場合の減衰振動
電圧波形とはコロナ放電やレアショート等の欠陥により
異なる形状の波形となるという現象を利用することによ
って、基準コイルなしにコイルの良否を判断するのであ
る。 即ち、まず始めに、被測定コイルに低圧のインパルス電
圧を加えて発生させた減衰振動電圧波形を基準の波形と
して、次に、当該被測定コイルに高圧のインパルス電圧
を加えて発生させた減衰振動電圧波形を測定波形として
、次に、前記基準波形と前記測定波形との振幅方向を拡
大／縮小して振幅を一致させることにより、両波形を比
較するので、レアショートやコロナ放電による波形の乱
れを発見することができるのである。 そして、本発明によるコイル試験装置によれば、上述し
たように基準コイルなしに、低圧インパルス電圧を加え
て発生させた減衰振動電圧波形と高圧インパルス電圧を
加えて発生させた減衰振動電圧波形とを拡大／縮小して
両波形の振幅を整合させるので、両波形の相違を容易に
発見することができるのである。
られる減衰振動電圧波形は、印加したインパルス電圧の
高低によらず振幅方向に拡大／縮小すれば一致するが、
耐圧や絶縁の不良がある不良品のコイルにおいては、低
圧のインパルス電圧を印加させた場合の減衰振動電圧波
形と高圧のインパルス電圧を印加させた場合の減衰振動
電圧波形とはコロナ放電やレアショート等の欠陥により
異なる形状の波形となるという現象を利用することによ
って、基準コイルなしにコイルの良否を判断するのであ
る。 即ち、まず始めに、被測定コイルに低圧のインパルス電
圧を加えて発生させた減衰振動電圧波形を基準の波形と
して、次に、当該被測定コイルに高圧のインパルス電圧
を加えて発生させた減衰振動電圧波形を測定波形として
、次に、前記基準波形と前記測定波形との振幅方向を拡
大／縮小して振幅を一致させることにより、両波形を比
較するので、レアショートやコロナ放電による波形の乱
れを発見することができるのである。 そして、本発明によるコイル試験装置によれば、上述し
たように基準コイルなしに、低圧インパルス電圧を加え
て発生させた減衰振動電圧波形と高圧インパルス電圧を
加えて発生させた減衰振動電圧波形とを拡大／縮小して
両波形の振幅を整合させるので、両波形の相違を容易に
発見することができるのである。
以下に本発明にかかるコイル試験方法とその方法に用い
る装置の好適な実施例を図面に基づいて詳説する。 第１図は本発明のコイル試験装置の実施例のブロック構
成図である。 図面において、 ｌはインパルス電圧発生回路、２は被測定コイル、３は
Ａ／Ｄ変換器、４は切り換えスイッチ、５は波形データ
メモリ、６は振幅整合回路、７は波形表示装置、８は制
御部である。 前記インパルス電圧発生回路ｌは、制御部８からのタイ
ミング信号に基づいて低圧インパルス電圧もしくは高圧
インパルス電圧を発生させ、被測定コイル２に印加する
。被測定コイル２で発生した減衰振動電圧波形はＡ／Ｄ
変換器３でデジタル信号に変換される。低圧インパルス
電圧が印加されるときは、切り換えスイッチ４は波形デ
ータメモリ５が接続されている４Ｂ側へ切り換えられて
、低圧波形データＳ１が波形データメモリ５に記憶され
る。 そして、高圧インパルス電圧が印加されるときは、切り
換えスイッチ４は４Ａ側へ切り換えられ高圧波形データ
Ｓ２が振幅整合回路６へ直接入力される。このとき、波
形データメモリ５に記憶されていた低圧波形データＳｌ
を高圧インパルス電圧と同期させて読みだし振幅整合回
路６へ入力する。 振幅整合回路６においては、前記低圧波形データＳ１の
振幅に所定の拡大率を乗じて補正データとし、これを前
記高圧波形データＳ２と比較する。 当然ながら、高圧波形データＳ２の方を縮小しても良い
。 この比較は、デジタルデータの状態で行っても良い。前
記補正データををＤ／Ａ変換した波形ｆと、前記高圧波
形データををＤ／Ａ変換した波形ｅとをＣＲ７表示装置
７に同時に表示して両波形の相違を視認しやすくすると
よい。このとき、前記波形ｆを所定幅で上下にシフトさ
せて所定幅のウィンドウを発生させ、このウィンドウの
中に前記波形ｅが納まっているか否かを確認するように
してもよい。 このとき、被測定コイル２に高圧インパルス電圧を印加
した時の減衰振動電圧波形にコロナ放電やレアショート
が発生すれば、低圧のときの波形ｆと高圧のときの波形
ｅとは一致しなくなるので、当該被測定コイル２が不良
品であることが判断できる。 更に、この装置に併せて抵抗測定装置を加えれば完璧な
コイル総合試験装置を提供できる。
る装置の好適な実施例を図面に基づいて詳説する。 第１図は本発明のコイル試験装置の実施例のブロック構
成図である。 図面において、 ｌはインパルス電圧発生回路、２は被測定コイル、３は
Ａ／Ｄ変換器、４は切り換えスイッチ、５は波形データ
メモリ、６は振幅整合回路、７は波形表示装置、８は制
御部である。 前記インパルス電圧発生回路ｌは、制御部８からのタイ
ミング信号に基づいて低圧インパルス電圧もしくは高圧
インパルス電圧を発生させ、被測定コイル２に印加する
。被測定コイル２で発生した減衰振動電圧波形はＡ／Ｄ
変換器３でデジタル信号に変換される。低圧インパルス
電圧が印加されるときは、切り換えスイッチ４は波形デ
ータメモリ５が接続されている４Ｂ側へ切り換えられて
、低圧波形データＳ１が波形データメモリ５に記憶され
る。 そして、高圧インパルス電圧が印加されるときは、切り
換えスイッチ４は４Ａ側へ切り換えられ高圧波形データ
Ｓ２が振幅整合回路６へ直接入力される。このとき、波
形データメモリ５に記憶されていた低圧波形データＳｌ
を高圧インパルス電圧と同期させて読みだし振幅整合回
路６へ入力する。 振幅整合回路６においては、前記低圧波形データＳ１の
振幅に所定の拡大率を乗じて補正データとし、これを前
記高圧波形データＳ２と比較する。 当然ながら、高圧波形データＳ２の方を縮小しても良い
。 この比較は、デジタルデータの状態で行っても良い。前
記補正データををＤ／Ａ変換した波形ｆと、前記高圧波
形データををＤ／Ａ変換した波形ｅとをＣＲ７表示装置
７に同時に表示して両波形の相違を視認しやすくすると
よい。このとき、前記波形ｆを所定幅で上下にシフトさ
せて所定幅のウィンドウを発生させ、このウィンドウの
中に前記波形ｅが納まっているか否かを確認するように
してもよい。 このとき、被測定コイル２に高圧インパルス電圧を印加
した時の減衰振動電圧波形にコロナ放電やレアショート
が発生すれば、低圧のときの波形ｆと高圧のときの波形
ｅとは一致しなくなるので、当該被測定コイル２が不良
品であることが判断できる。 更に、この装置に併せて抵抗測定装置を加えれば完璧な
コイル総合試験装置を提供できる。
【 効果 】
本発明にかかるコイル試験方法によれば、被測定コイル
自身に低圧インパルス電圧をかけて基準波形を得るので
、基準コイルが不要となり、基準コイルの劣化や交換に
よる測定が不正確になることを防止できるとともに、イ
ンパルス電圧を高低切り換えるだけでよいので、シンプ
ルな工程でコイルの耐圧特性や絶縁特性を検査すること
が可能となる。 また、良品として判断すべき基準波形からの偏差を設定
する必要がないので、スムースな測定が可能となる。 また、基準コイルとするべき特性のコイルを選定する必
要がなくなる。 また、被測定コイルの個々の特性の若干のバラツキによ
る測定誤差は生じないので精密な試験ができる。 また、基準コイルが不要であるので、一つしがないコイ
ルから多数のコイルまで、全く同様の方法で試験をする
ことが可能となる。 特に、従来の技術では精密な試験が不可能であった完成
品のモータの高圧インパルス試験が可能となった。 また、このコイル試験装置によれば、基準コイルが不要
となるので、上記効果が得られるとともに、検査装置を
シンプル且つ小型にでき、信頼性が向上し、試験装置の
コストを低くできるという効果も得られる。
自身に低圧インパルス電圧をかけて基準波形を得るので
、基準コイルが不要となり、基準コイルの劣化や交換に
よる測定が不正確になることを防止できるとともに、イ
ンパルス電圧を高低切り換えるだけでよいので、シンプ
ルな工程でコイルの耐圧特性や絶縁特性を検査すること
が可能となる。 また、良品として判断すべき基準波形からの偏差を設定
する必要がないので、スムースな測定が可能となる。 また、基準コイルとするべき特性のコイルを選定する必
要がなくなる。 また、被測定コイルの個々の特性の若干のバラツキによ
る測定誤差は生じないので精密な試験ができる。 また、基準コイルが不要であるので、一つしがないコイ
ルから多数のコイルまで、全く同様の方法で試験をする
ことが可能となる。 特に、従来の技術では精密な試験が不可能であった完成
品のモータの高圧インパルス試験が可能となった。 また、このコイル試験装置によれば、基準コイルが不要
となるので、上記効果が得られるとともに、検査装置を
シンプル且つ小型にでき、信頼性が向上し、試験装置の
コストを低くできるという効果も得られる。
第１図は本発明のコイル試験装置の実施例のブロック構
成図である。 １・・・インパルス発生回路（高圧インパルス電圧発生
芋段／低圧インパルス電圧発生手段）、２・・・被測定
コイル、２１・・・コンデンサ（波形検出手段）、４・
・・切り換えスイッチ（切り換え手段）、５・・・波形
データメモリ ６・・・振幅整合回路。
成図である。 １・・・インパルス発生回路（高圧インパルス電圧発生
芋段／低圧インパルス電圧発生手段）、２・・・被測定
コイル、２１・・・コンデンサ（波形検出手段）、４・
・・切り換えスイッチ（切り換え手段）、５・・・波形
データメモリ ６・・・振幅整合回路。
Claims (2)
- （１）被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して発
生させた減衰振動電圧波形に基づいて、当該被測定コイ
ルの良否を判断するコイル試験方法において、 被測定コイルに低圧のインパルス電圧を印加して発生さ
せた減衰振動電圧波形と、 高圧のインパルス電圧を印加して発生させた減衰振動電
圧波形とを、振幅軸方向に拡大もしくは縮小することに
よって振幅を整合させて比較して当該被測定コイルの良
否を判断することを特徴とするコイル試験方法。 - （２）高圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧イン
パルス電圧を発生する手段と、 高低いづれかのインパルス電圧を切り換えて被測定コイ
ルに印加する切り換え手段と、 被測定コイルに発生する減衰振動電圧波形を検出する波
形検出手段と、 高圧インパルス電圧を印加した場合の減衰振動電圧波形
と低圧インパルス電圧を印加した場合の減衰振動電圧波
形とを振幅方向に拡大もしくは縮小することによって両
波形の振幅を整合させる振幅整合手段と を備えていることを特徴とするコイル試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2178200A JPH0465683A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2178200A JPH0465683A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0465683A true JPH0465683A (ja) | 1992-03-02 |
Family
ID=16044332
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2178200A Pending JPH0465683A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0465683A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005227271A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電動機用コイル試験方法および装置 |
| JP2010096739A (ja) * | 2008-10-15 | 2010-04-30 | Test Research Inc | 検査装置およびその検査方法 |
| JP2014021024A (ja) * | 2012-07-20 | 2014-02-03 | Onsoku Electric Corp | コイルを含む電気回路の導通状態検査装置、および導通状態検査方法 |
| JP2017040629A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | 学校法人 芝浦工業大学 | 電子部品試験装置、電子部品試験方法 |
-
1990
- 1990-07-04 JP JP2178200A patent/JPH0465683A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005227271A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電動機用コイル試験方法および装置 |
| JP2010096739A (ja) * | 2008-10-15 | 2010-04-30 | Test Research Inc | 検査装置およびその検査方法 |
| US8179143B2 (en) | 2008-10-15 | 2012-05-15 | Test Research, Inc. | Apparatus for testing printed circuit and method therefor |
| JP2014021024A (ja) * | 2012-07-20 | 2014-02-03 | Onsoku Electric Corp | コイルを含む電気回路の導通状態検査装置、および導通状態検査方法 |
| JP2017040629A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | 学校法人 芝浦工業大学 | 電子部品試験装置、電子部品試験方法 |
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