JPH0945855A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH0945855A
JPH0945855A JP7193507A JP19350795A JPH0945855A JP H0945855 A JPH0945855 A JP H0945855A JP 7193507 A JP7193507 A JP 7193507A JP 19350795 A JP19350795 A JP 19350795A JP H0945855 A JPH0945855 A JP H0945855A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pad
circuit
wiring
power supply
electromagnetic noise
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7193507A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Araya
祐宏 荒谷
Toshio Ikuta
敏雄 生田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP7193507A priority Critical patent/JPH0945855A/ja
Priority to DE19630150A priority patent/DE19630150B4/de
Priority to US08/687,681 priority patent/US5789797A/en
Publication of JPH0945855A publication Critical patent/JPH0945855A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/06Means for preventing overload or deleterious influence of the measured medium on the measuring device or vice versa
    • G01L19/069Protection against electromagnetic or electrostatic interferences

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】オンチップタイプの電磁ノイズ対策用フィルタ
に関する配線をより好ましいものにする。 【解決手段】センサチップ3内に、回路9,10とグラ
ンドパッド13と電源パッド11と出力パッド12とが
設けられている。センサチップ3内に電源パッド11ま
たは出力パッド12と回路9,10との間に抵抗とコン
デンサにて構成される電磁ノイズ対策用ローパスフィル
タ14,15が配置されている。電源パッド11または
出力パッド12とフィルタ14,15とを結ぶアルミ配
線43,44の長さは、グランドパッド13とフィルタ
14,15とを結ぶアルミ配線45,46の長さよりも
短い。電源パッド11または出力パッド12とフィルタ
14,15とを結ぶアルミ配線43,44は他の線路と
交差していないアンクロスド配線となっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電磁ノイズ対策
を施した半導体装置に係り、特に、車載電子装置に好適
なものである。
【0002】
【従来の技術】近年、自動車においてエレクトロニクス
化の進歩は著しく、例えば、エンジンでの最適な燃焼を
行わせるべくマイクロコンピュータを用いてエンジンの
運転状態を検知し、エンジンの運転状態に応じた燃料噴
射量および点火時期を演算してインジェクタからの燃料
量および点火時期を制御している。この電子制御システ
ムを構築する際にはマイクロコンピュータや入出力回路
等を電子制御ユニットとしてパッケージし、この電子制
御ユニットに対しセンサ群とアクチュエータ群とをワイ
ヤーハーネスにて接続する。アクチュエータ群としては
前述のインジェクタやイグナイタ等を指し、センサ群と
しては、エンジン回転センサや水温センサや吸入空気量
センサや吸気圧センサ等を指す。そして、吸気圧センサ
においても半導体圧力センサが用いられており、この半
導体圧力センサは、ダイヤフラムを有するシリコンチッ
プに不純物拡散層よりなる歪みゲージ(ピエゾ抵抗素
子)を複数配置しブリッジ接続するとともに、シリコン
チップでのダイヤフラムの周辺部に信号処理回路(集積
回路)を形成し、圧力の作用によるダイヤフラムの変形
を歪みゲージの抵抗変化としてブリッジ回路から取り出
し、信号処理回路において増幅等を行う。この増幅され
た信号はワイヤーハーネスを通して電子制御ユニットに
送られ、燃料噴射量や点火時期に反映される。
【0003】このようにエレクトロニクス化が進む中、
車載電子機器の電磁ノイズ対策(EMI対策)が重要な
ものとなってきている。電磁ノイズ対策でのラインノイ
ズの低減のために、一般的に貫通コンデンサが用いられ
ている。これは、前述の吸気圧センサを例にとれば、セ
ンサチップをカンパッケージしたステムにはリードピン
(電源ライン用、検出信号出力ライン用)が貫通してお
り、アースしたステムにおけるリードピンの貫通孔に貫
通コンデンサを設け、ワイヤーハーネスを通ってセンサ
チップの信号処理回路に到るノイズ伝搬路において貫通
コンデンサにてノイズを遮断あるいは減衰させ、信号処
理回路が誤動作しないようにするものである。
【0004】しかし、貫通コンデンサの部品代および組
付け費が高いものとなっておりコストダウンが困難であ
った。そこで、本願出願人は、特願平6−270836
号にて、センサチップ内における回路とパッドとの間に
おいて抵抗とコンデンサにて構成されるローパスフィル
タを設けることを提案している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この場合、チ
ップ上においてフィルタに関する配線をどのように行え
ば最適化できるかについての技術が確立していなかっ
た。
【0006】そこで、この発明の目的は、オンチップタ
イプの電磁ノイズ対策用フィルタに関する配線をより好
ましいものにすることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、半導体チップ内に、回路と、グランドパッドと、電
源パッドまたは出力パッドと、が設けられ、同じく半導
体チップ内において、抵抗とコンデンサにて構成され、
かつ、前記電源パッドまたは出力パッドと前記回路との
間に介在される電磁ノイズ対策用フィルタを配置した半
導体装置であって、前記電源パッドまたは出力パッドと
電磁ノイズ対策用フィルタとを結ぶ配線の長さを、グラ
ンドパッドと電磁ノイズ対策用フィルタとを結ぶ配線の
長さよりも短くした半導体装置をその要旨とする。
【0008】請求項2に記載の発明は、半導体チップ内
に、回路と、グランドパッドと、電源パッドまたは出力
パッドと、が設けられ、同じく半導体チップ内におい
て、抵抗とコンデンサにて構成され、かつ、前記電源パ
ッドまたは出力パッドと前記回路との間に介在される電
磁ノイズ対策用フィルタを配置した半導体装置であっ
て、前記電源パッドまたは出力パッドと電磁ノイズ対策
用フィルタとを結ぶ配線を、他の線路と交差させないア
ンクロスド配線とした半導体装置をその要旨とする。 (作用)請求項1に記載の発明によれば、電磁ノイズ
が、パッドから配線および電磁ノイズ対策用フィルタを
通して回路に伝播してくるが、前記配線での共振周波数
はインダクタンス成分(L成分)に反比例する。この
際、パッドと電磁ノイズ対策用フィルタとを結ぶ配線の
長さを短くすることにより、L成分が小さくなり前記共
振周波数が高周波側にシフトする。通常、電磁ノイズは
高周波側にシフトさせるとノイズレベルが低くなる。よ
って、シフトした共振周波数におけるノイズのレベルは
低いものとなり、回路にとっては誤動作しにくくなる。
【0009】請求項2に記載の発明によれば、電磁ノイ
ズが、パッドから配線および電磁ノイズ対策用フィルタ
を通して回路に伝播してくるが、前記配線での共振周波
数はキャパシタンス成分(C成分)に反比例する。この
際、パッドと電磁ノイズ対策用フィルタとを結ぶ配線を
他の線路と交差させないので、配線と線路との間に形成
されるC成分が小さくなり、前記共振周波数が高周波側
にシフトする。通常、電磁ノイズは高周波側にシフトさ
せるとノイズレベルが低くなる。よって、シフトした共
振周波数におけるノイズのレベルは低いものとなり、回
路にとっては誤動作しにくくなる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に従って説明する。本形態においては自動車に搭載さ
れる半導体吸気圧センサに具体化している。
【0011】図2は半導体吸気圧センサの全体構成を示
し、ステム1の上面中央部にはパイレックスガラスより
なる台座2が接着され、台座2の上面には半導体チップ
としてのセンサチップ(シリコンチップ)3が接合され
ている。ステム1の外周部には蓋材(カン)4が気密状
態で接合されている。ステム1には圧力導入パイプ5が
取付けられ、この圧力導入パイプ5によりエンジンの吸
気圧がステム1に形成した貫通孔6および台座2に形成
した貫通孔7を通してセンサチップ3の下面に導かれ
る。
【0012】図3には、センサチップ3の斜視図を示
し、図1にはセンサチップ3の平面図を示す。センサチ
ップ3には、中央部にダイヤフラム8が形成されてい
る。このダイヤフラム8の下面に前述のエンジン吸気圧
が印加される。又、ダイヤフラム8には不純物拡散層よ
りなる歪みゲージ(ピエゾ抵抗素子)22,23,2
4,25が形成され、ダイヤフラム8の変形に伴い抵抗
値が変化するようになっている。センサチップ3におけ
るダイヤフラム8の周辺には圧力検出回路部としての第
1回路9および第2回路10が集積化して形成され、ダ
イヤフラム8の変形に伴う歪みゲージ22〜25の抵抗
値変化を電気信号に変換するとともに増幅処理するよう
になっている。又、センサチップ3におけるダイヤフラ
ム8の周辺には電源パッド11、出力パッド12、グラ
ンドパット13、電磁ノイズ対策用フィルタとしてのロ
ーパスフィルタ14,15が形成されている。電源パッ
ド11はローパスフィルタ14を介して第2回路10と
電気的に接続されている。又、出力パッド12はローパ
スフィルタ15を介して第2回路10と電気的に接続さ
れている。さらに、第1回路9と第2回路10とは電気
的に接続されている。
【0013】このセンサチップ3への電源ライン、接地
線、出力線は、図2に示すように、ボンディングワイヤ
16,17およびリードピン18,19を介して外部に
導出される。尚、ボンディングワイヤ16,17および
リードピン18,19は図2ではそれぞれ2本示されて
いるが実際にはそれぞれの配線に対応して3本設けられ
ている。
【0014】さらに、リードピン18,19はワイヤー
ハーネス20を介してエンジン制御ユニット(以下、E
CUという)21と接続されている。ECU21はマイ
クロコンピュータを中心に構成され、センサチップ3か
らの信号により吸気圧を検知する。さらに、ECU21
は吸気圧を含めたエンジンの運転状態を検知し、エンジ
ンの運転状態に応じた燃料噴射量および点火時期を演算
してインジェクタからの燃料量および点火時期を制御し
ている。尚、図2においてはアクチュエータ群としての
インジェクタやイグナイタ等、および、センサ群として
のエンジン回転センサや水温センサや吸入空気量センサ
等の図示は省略した。
【0015】次に、センサチップ3に形成される圧力検
出回路部の回路構成について図4を用いて説明する。ダ
イヤフラム8に形成された歪みゲージ(ピエゾ抵抗素
子)22,23,24,25は、フルブリッジ接続され
ている。このブリッジ回路において、一方の対角位置の
ゲージ23,24は圧力の上昇に応じて抵抗が増加し、
他の対角位置のゲージ22,25は圧力の上昇に応じて
抵抗が減少する。
【0016】このブリッジ回路へは抵抗26,27,2
8およびオペアンプ29等より構成される定電流回路3
0から定電流が供給される。即ち、抵抗26,27によ
り電源電圧を分圧した基準電圧と電源電圧との差の電圧
を抵抗28の抵抗値で割った電流がブリッジ回路に供給
される。ブリッジ回路は、その定電流の供給を受けてダ
イヤフラム8への印加圧力に応じた電圧V1,V2を出
力する。
【0017】この電圧V1,V2は差動増幅されて出力
される。つまり、オペアンプ31,32,33、トラン
ジスタ34,35、抵抗36〜38等よりなる差動増幅
回路にて処理される。具体的には、オペアンプ32の非
反転入力端子にはブリッジ回路からの電圧V1が印加さ
れ、またその反転入力端子にはブリッジ回路からの電圧
V2が、バッファとして機能するオペアンプ31および
抵抗36を介して印加されており、両入力電圧がオペア
ンプ32により差動増幅され、その出力によりトランジ
スタ34,35が制御される。この作動により、ブリッ
ジ回路の出力電圧(V1−V2)が電流出力に変換され
る。この電流変換された電流出力は、オペアンプ33等
により増幅され、圧力検出信号を出力パッド12に対し
出力する。このオペアンプ33と抵抗38により図1に
示す第2回路10が構成されている。
【0018】オペアンプ33の出力端子と出力パッド1
2との間には、EMI対策のための出力系ローパスフィ
ルタ15が設けられている。より詳しくは、出力パッド
12と回路10との間には、1次CRフィルタ39と2
次CRフィルタ40とが直列に配置されている。出力系
の1次フィルタ39は抵抗R1とコンデンサC1とによ
り構成されている。又、出力系の2次フィルタ40は抵
抗R2とコンデンサC2とにより構成されている。
【0019】又、電源パッド11にはEMI対策のため
の電源系ローパスフィルタ14が接続され、このローパ
スフィルタ14を通した電源がオペアンプ33,32,
31,29等に供給される。より詳しくは、電源パッド
11と回路10との間には、1次CRフィルタ41と2
次CRフィルタ42とが直列に配置されている。電源系
の1次フィルタ41は抵抗R3とコンデンサC3とによ
り構成されている。又、電源系の2次フィルタ42は、
抵抗R4とコンデンサC4とにより構成されている。
【0020】図1に示すように、電源パッド11はロー
パスフィルタ14とアルミ配線43により接続されてい
る。又、出力パッド12はローパスフィルタ15とアル
ミ配線44により接続されている。さらに、グランドパ
ッド13はローパスフィルタ14とアルミ配線45によ
り、又、ローパスフィルタ15とアルミ配線46により
接続されている。
【0021】ここで、図5の等価回路を用いて、ライン
ノイズの伝播経路を説明する。ECU21にはワイヤー
ハーネス20を介してパッド11(12)が接続され、
パッド11(12)にはアルミ配線43(44)を介し
てローパスフィルタ14(15)が接続され、さらに、
ローパスフィルタ14(15)に回路10が接続されて
いる。この際、パッド11(12)とローパスフィルタ
14(15)との間には、アルミ配線43(44)によ
るCR回路が形成されていると仮想できる。即ち、LC
成分とCR 成分を有する回路が形成されている。
【0022】そして、パッド11(12)にはワイヤー
ハーネス20のLW 成分を介して電磁ノイズが入ってく
ると考えられる。そして、電磁ノイズが外部から注入さ
れると、フィルタ前においてその伝播経路での固有値で
共振するポイントが存在する。この共振周波数は次式で
表される。
【0023】
【数1】 ・・・(1) (1)式から、LC とCR が小さくなると、共振周波数
fが高周波側にシフトすることが分かる。つまり、図6
に示すように、チップ内のL成分とC成分を小さくする
ことにより電界強度(ノイズ特性)を高周波数側にシフ
トできる。ここで、電磁ノイズの電界強度は200MH
zを境にしてそれよりも低いと高レベル域、高いと低レ
ベル域となっている。具体的には、センサにおける電界
強度耐量としては、例えば、23〜50MHzでは50
V/m、88〜144MHzでは100V/mが要求さ
れる。23〜50MHzはアメリカにおける陸上移動無
線の使用範囲であり、88〜144MHzはFM放送お
よび日本における陸上移動無線の使用範囲である。
【0024】そこで、本実施の形態においては、図1に
示すように、パッド11,12とローパスフィルタ1
4,15との間のアルミ配線43,44の長さを極力短
くしている。具体的には、アルミ配線43,44の長さ
をアルミ配線45,46の長さよりも短くしている。
【0025】図7,8には、パッド11,12とローパ
スフィルタ14,15との配線長さに関する電界強度の
測定結果を示す。この測定は、TEMセル(電磁波発生
槽)試験にて行ったものである。図7はアルミ配線長さ
を1.5mmとした場合であり、図8はアルミ配線長さ
を限りなく「0」に近づけた場合を示す。又、図7,8
において、横軸には周波数をとり、縦軸には電界強度を
とっている。図7と図8の実験結果を得るために使用し
たセンサは電源ラインにおけるパッドとローパスフィル
タとのアルミ配線の長さ以外は全て同じもの(同じフィ
ルタ定数等)を用いている。
【0026】この図7,8から、図7の場合には140
MHzにて回路に誤動作が確認され、図8の場合には2
60MHzにて回路に誤動作が確認された。このよう
に、アルミ配線の長さを短くすることにより200MH
z以上の余り使用されていない帯域(強力な電波の存在
しない領域)に共振周波数をシフトさせることができ
る。尚、図7においては145MHz以上には電界強度
を上げていない。これは、回路が破壊したため測定不能
となったためである。
【0027】又、本実施の形態においては、図1に示し
たように、第2回路10と第1回路9との電気的接続を
アルミ配線47により行い、このアルミ配線47におい
ては他の配線とクロスしないようにしている。このよう
にすることにより以下なる効果を生む。
【0028】図9に示すように、第2回路10と第1回
路9とを結線するための配線47と電源パッド11とロ
ーパスフィルタ14とを結線するための配線48がクロ
スすると、その交差部A,Bにおいては図10に示すよ
うに不純物拡散層とアルミ配線とにより交差させること
となる。つまり、図10においてはN型シリコン基板4
9の表層部にP型層50を延設し、N型シリコン基板4
9の上にシリコン酸化膜51を配置し、その上にアルミ
配線52を延設する。
【0029】図9,10に示すように、線路をクロスさ
せると、当該クロス部におけるシリコン酸化膜51の厚
さが薄くなり、図5におけるパッド11(12)とロー
パスフィルタ14(15)との間の配線でのキャパシタ
ンス成分CR が大きくなる。その結果、前述の(1)式
でのCR が大きくなると、共振周波数fが低周波側にな
る。よって、図6において200MHz以下の高レベル
域に入ってしまい回路において誤動作する可能性が大き
くなってしまう。
【0030】これに対し、本例においては、線路をクロ
スさせていないので、配線中のキャパシタンス成分CR
を小さくして共振周波数fを高周波側にシフトさせ、図
6において200MHz以上の低レベル域に移行させ回
路において誤動作するのを未然に防止することができ
る。
【0031】さらに線路のクロスについて言及すれば、
図11に示すように、ローパスフィルタと回路との間に
おけるアルミ配線に対して拡散配線がクロスした場合に
は、交差部がローパスフィルタの下流側であり、減衰し
たノイズがC結合しても減衰後のノイズであるため回路
に侵入しても問題はない。これに対し、図12に示すよ
うに、パッドとローパスフィルタとの間におけるアルミ
配線に対して拡散配線がクロスした場合には、交差部が
ローパスフィルタの上流側であり、減衰されていないノ
イズがC結合して回路に侵入してしまう。つまり、共振
周波数に寄与する配線でのキャパシタンス成分CR が大
となる。よって、本例では、図12に示すパッドとロー
パスフィルタとの間におけるアルミ配線に対してクロス
配線をしないようにしている。
【0032】又、本実施形態においては、次のような工
夫を行っている。グランドパッド13を含めたローパス
フィルタ14,15の等価回路を図13に示す。同図に
示すように、出力パッド12と回路10との間に、R
1,C1よりなる一次フィルタ39とR2,C3よりな
る二次フィルタ40とが直列に接続され、又、電源パッ
ド11と回路10との間に、R3,C3よりなる一次フ
ィルタ41とR4,C4よりなる二次フィルタ42とが
直列に接続され、さらに、各フィルタ39〜42におけ
るコンデンサC1,C2,C3,C4に対しグランドパ
ッド13がそれぞれ接続されている。この際、コンデン
サC1,C2,C3,C4とグランドパッド13との配
線途中には抵抗成分R11,R21,R31,R41が存在する
こととなる。このR成分を小さくすべく配線長さ(図1
におけるアルミ配線45,46の長さ)を極力短くして
いる。
【0033】つまり、ローパスフィルタにおけるカット
オフ周波数fc は、 fc ∝1/(Rx +Rx1) ただし、x=1,2,3,4 であるので、R成分を小さくすることによりカットオフ
周波数fc を低周波側にシフトさせ耐EMI性能を向上
させている。
【0034】このように本実施の形態によれば、オンチ
ップタイプの電磁ノイズ対策用ローパスフィルタ14,
15を備えた半導体センサにおいて、電源パッド11ま
たは出力パッド12とローパスフィルタ14,15とを
結ぶアルミ配線43,44の長さを、グランドパッド1
3とローパスフィルタ14,15(より詳しくは、コン
デンサC1〜C4)とを結ぶアルミ配線45,46の長
さよりも短くした。よって、電磁ノイズが、パッド1
1,12からアルミ配線43,44およびローパスフィ
ルタ14,15を通して回路9,10に伝播してくる
が、(1)式に示したようにアルミ配線43,44での
共振周波数fはL成分に反比例するので、パッド11,
12とローパスフィルタ14,15とを結ぶアルミ配線
43,44を短くすることにより、L成分が小さくなり
前記共振周波数fが高周波側にシフトする。又、通常、
電磁ノイズは図6に示したように高周波側にシフトさせ
るとノイズレベルが低くなる。その結果、シフトした共
振周波数におけるノイズのレベルは低いものとなり、回
路9,10が誤動作しにくくなる。
【0035】又、電源パッド11または出力パッド12
とローパスフィルタ14,15とを結ぶアルミ配線4
3,44を、他の線路と交差させないアンクロスド配線
とした。よって、電磁ノイズが、パッド11,12から
アルミ配線43,44およびローパスフィルタ14,1
5を通して回路9,10に伝播してくるが、(1)式に
示したようにアルミ配線43,44での共振周波数fは
C成分に反比例するので、アンクロスド配線とすること
により、アルミ配線43,44と線路との間に形成され
るC成分が小さくなり、共振周波数fが高周波側にシフ
トする。又、通常、電磁ノイズは図6に示したように高
周波側にシフトさせるとノイズレベルが低くなる。その
結果、シフトした共振周波数におけるノイズのレベルは
低いものとなり、回路9,10が誤動作しにくくなる。
【0036】このようなチップ上に形成したノイズフィ
ルタに関する配線技術を駆使することにより、配線の最
適化を図ることができる。これまでの説明においては、
半導体圧力センサについて述べたが、この発明はこれに
限定されるものでなく、ワイヤにて接続されラインノイ
ズが伝播する、いわゆるスタンドアローンの電子部品
(より詳しくは、チップ内に回路部が形成された電子部
品)に適用できる。
【0037】又、上述した例においては、線路がクロス
する場合として、アルミ配線と不純物配線とのクロスに
ついて述べたが、これに限ることはなく、他にも、絶縁
膜を介した薄膜配線を立体的に配置した場合等も含み、
要は、立体的に線路が交差する場合に適用できる。ここ
で、線路とは配線材料により形成されるものばかりでな
く、抵抗等の電気が流れコンデンサ成分が形成される線
路全般を指す。
【0038】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1,2に記
載の発明によれば、オンチップタイプの電磁ノイズ対策
用フィルタに関する配線をより好ましいものにすること
ができる優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態におけるセンサチップの平面図。
【図2】センサの全体構成を示す断面図
【図3】センサチップを示す斜視図。
【図4】圧力検出回路部の回路構成図。
【図5】ラインノイズの伝播経路を説明するための等価
回路図。
【図6】周波数と電界強度との関係を示す図。
【図7】電界強度の測定結果を示す図。
【図8】電界強度の測定結果を示す図。
【図9】比較のためのセンサチップの平面図。
【図10】(a)はクロス配線を説明するためのセンサ
チップの平面図、(b)は(a)のI−I断面図。
【図11】アルミ配線と拡散配線とのクロスを説明する
ための図。
【図12】アルミ配線と拡散配線とのクロスを説明する
ための図。
【図13】グランドパッドを含めたローパスフィルタの
等価回路図。
【符号の説明】
3…半導体チップとしてのセンサチップ、9…第1回
路、10…第2回路、11…電源パッド、12…出力パ
ッド、13…グランドパッド、14…電磁ノイズ対策用
フィルタとしてのローパスフィルタ、15…電磁ノイズ
対策用フィルタとしてのローパスフィルタ、R1,R
2,R3,R4…抵抗、C1,C2,C3,C4…コン
デンサ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップ内に、回路と、グランドパ
    ッドと、電源パッドまたは出力パッドと、が設けられ、
    同じく半導体チップ内において、抵抗とコンデンサにて
    構成され、かつ、前記電源パッドまたは出力パッドと前
    記回路との間に介在される電磁ノイズ対策用フィルタを
    配置した半導体装置であって、 前記電源パッドまたは出力パッドと電磁ノイズ対策用フ
    ィルタとを結ぶ配線の長さを、グランドパッドと電磁ノ
    イズ対策用フィルタとを結ぶ配線の長さよりも短くした
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 半導体チップ内に、回路と、グランドパ
    ッドと、電源パッドまたは出力パッドと、が設けられ、
    同じく半導体チップ内において、抵抗とコンデンサにて
    構成され、かつ、前記電源パッドまたは出力パッドと前
    記回路との間に介在される電磁ノイズ対策用フィルタを
    配置した半導体装置であって、 前記電源パッドまたは出力パッドと電磁ノイズ対策用フ
    ィルタとを結ぶ配線を、他の線路と交差させないアンク
    ロスド配線としたことを特徴とする半導体装置。
JP7193507A 1995-07-28 1995-07-28 半導体装置 Pending JPH0945855A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7193507A JPH0945855A (ja) 1995-07-28 1995-07-28 半導体装置
DE19630150A DE19630150B4 (de) 1995-07-28 1996-07-25 Verfahren zum Entwerfen einer Halbleitervorrichtung
US08/687,681 US5789797A (en) 1995-07-28 1996-07-26 Semiconductor device that suppresses electromagnetic noise

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7193507A JPH0945855A (ja) 1995-07-28 1995-07-28 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0945855A true JPH0945855A (ja) 1997-02-14

Family

ID=16309211

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7193507A Pending JPH0945855A (ja) 1995-07-28 1995-07-28 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0945855A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100323452B1 (ko) * 1999-12-30 2002-02-06 박종섭 전자기효과 방지회로
JP2002313933A (ja) * 2001-04-12 2002-10-25 Fuji Electric Co Ltd 半導体集積回路のレイアウト構造
JP2003110367A (ja) * 2001-09-28 2003-04-11 Denso Corp センサ用半導体集積回路装置
US6718829B2 (en) 2001-02-19 2004-04-13 Denso Corporation Semiconductor pressure sensor and an exhaust system including the same
US6774714B2 (en) 2000-10-13 2004-08-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device provided with noise cut filter
WO2007138710A1 (ja) * 2006-06-01 2007-12-06 Mitsubishi Electric Corporation 半導体装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100323452B1 (ko) * 1999-12-30 2002-02-06 박종섭 전자기효과 방지회로
US6774714B2 (en) 2000-10-13 2004-08-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device provided with noise cut filter
US6718829B2 (en) 2001-02-19 2004-04-13 Denso Corporation Semiconductor pressure sensor and an exhaust system including the same
JP2002313933A (ja) * 2001-04-12 2002-10-25 Fuji Electric Co Ltd 半導体集積回路のレイアウト構造
JP2003110367A (ja) * 2001-09-28 2003-04-11 Denso Corp センサ用半導体集積回路装置
WO2007138710A1 (ja) * 2006-06-01 2007-12-06 Mitsubishi Electric Corporation 半導体装置
JPWO2007138710A1 (ja) * 2006-06-01 2009-10-01 三菱電機株式会社 半導体装置
JP4598125B2 (ja) * 2006-06-01 2010-12-15 三菱電機株式会社 半導体装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2458359B1 (en) Semiconductor pressure sensor, pressure sensor device, electronic apparatus, and method for manufacturing semiconductor pressure sensor
US7213462B2 (en) Humidity sensor and composite sensor having humidity detecting function
US7036383B2 (en) Pressure sensor having sensor chip and signal processing circuit mounted on a common stem
JP4356238B2 (ja) 圧力センサ
KR20060124537A (ko) 반도체 압력 센서
JP2008008762A (ja) 圧力センサ
US5789797A (en) Semiconductor device that suppresses electromagnetic noise
JPH0945855A (ja) 半導体装置
KR100393699B1 (ko) 압전센서 및 방법
JP3427594B2 (ja) センサ装置
JP2010127710A (ja) 半導体素子
JPH0945512A (ja) 電磁ノイズ対策用フィルタ
JP6589810B2 (ja) 圧力センサ
JPH01211986A (ja) 半導体圧力センサ
CN102741663A (zh) 具有机械过滤特性的基体材料及用于制造基体材料的方法
JP2002039891A (ja) 圧力検出装置
JP2004317268A (ja) 車載電子装置,熱式流量計及び電子回路基板
JP5935333B2 (ja) 半導体センサ
TWI888883B (zh) 超聲波感測元件總成及超聲波感測元件
JPH036461A (ja) 加速度センサ
Hood Automotive semiconductor pressure sensors
JP4428222B2 (ja) 半導体物理量センサ装置
CN119555248A (zh) 压力传感器
JP2017223600A (ja) 圧力センサ
CN119509753A (zh) 压力传感器