JPH0946109A - 高周波回路調整方法および調整支援装置 - Google Patents
高周波回路調整方法および調整支援装置Info
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- JPH0946109A JPH0946109A JP19173295A JP19173295A JPH0946109A JP H0946109 A JPH0946109 A JP H0946109A JP 19173295 A JP19173295 A JP 19173295A JP 19173295 A JP19173295 A JP 19173295A JP H0946109 A JPH0946109 A JP H0946109A
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- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
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- Feedback Control In General (AREA)
- Filters That Use Time-Delay Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高周波回路の調整を支援し調整効率を向上さ
せる。 【構成】 高周波回路の出力を測定し測定データを獲得
する（Ｓ１０１）。測定データに基づいてエキスパート
システムＡによる調整量を示す結論Ａを導く（Ｓ１０
２）。同様に前述の測定データに基づいてエキスパート
システムＢによる結論Ｂを導く（Ｓ１０３）。次に、結
論ＡをエキスパートシステムＢで評価しその評価値を評
価Ａとする（Ｓ１０４）。同様に結論Ｂをエキスパート
システムＡで評価しその評価値を評価Ｂとしステップ１
０６に進む（Ｓ１０５）。ステップＳ１０６では評価Ａ
と評価Ｂを比較し評価Ａが評価Ｂよりも高い評価が得ら
れた場合はステップＳ１０７に進み、評価Ｂが評価Ａよ
りも高い評価が得られた場合はステップＳ１０８に進
む。ステップＳ１０７では最終的な結論として結論Ａを
結論とする。ステップＳ１０８では、結論Ｂを結論とす
る。
せる。 【構成】 高周波回路の出力を測定し測定データを獲得
する（Ｓ１０１）。測定データに基づいてエキスパート
システムＡによる調整量を示す結論Ａを導く（Ｓ１０
２）。同様に前述の測定データに基づいてエキスパート
システムＢによる結論Ｂを導く（Ｓ１０３）。次に、結
論ＡをエキスパートシステムＢで評価しその評価値を評
価Ａとする（Ｓ１０４）。同様に結論Ｂをエキスパート
システムＡで評価しその評価値を評価Ｂとしステップ１
０６に進む（Ｓ１０５）。ステップＳ１０６では評価Ａ
と評価Ｂを比較し評価Ａが評価Ｂよりも高い評価が得ら
れた場合はステップＳ１０７に進み、評価Ｂが評価Ａよ
りも高い評価が得られた場合はステップＳ１０８に進
む。ステップＳ１０７では最終的な結論として結論Ａを
結論とする。ステップＳ１０８では、結論Ｂを結論とす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高周波回路調整方法、お
よび高周波回路の調整支援装置に関する。
よび高周波回路の調整支援装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】エキスパートシステムを利用した高周波
回路の調整技術には、例えば、特開平４−２３６５０５
号公報に示される装置がある。これは高周波フィルタの
自動調整装置であり、マイクロ波帯でバンドパスフィル
タとして用いられる誘電体共振子を利用したものが、被
調整回路となっている。
回路の調整技術には、例えば、特開平４−２３６５０５
号公報に示される装置がある。これは高周波フィルタの
自動調整装置であり、マイクロ波帯でバンドパスフィル
タとして用いられる誘電体共振子を利用したものが、被
調整回路となっている。
【０００３】図３は従来の一例を示すブロック図であ
る。図３に示す自動調整装置は、被調整回路３０２に入
力高周波信号３７１を供給しこの被調整回路３０２から
出力される出力高周波信号３７２を受け取る測定部３０
４と、測定部３０４の測定データを受け取る測定データ
処理部３３５と、測定データ処理部３３５からデータ認
識結果信号３７４を受け取る知識処理部３３２と、知識
処理部３３２から出力される機構制御指示信号３７５を
受け取る機構制御部３３１と、機構制御部３３１から出
力されるモータ駆動信号３７６を受け取るモータ部３０
５と、モータ部３０５によって回転し被調整回路３０２
に設けられ電気的特性を調整するための複数個のビスを
選択し回転させるドライバ部３０６とを含んで構成され
る。
る。図３に示す自動調整装置は、被調整回路３０２に入
力高周波信号３７１を供給しこの被調整回路３０２から
出力される出力高周波信号３７２を受け取る測定部３０
４と、測定部３０４の測定データを受け取る測定データ
処理部３３５と、測定データ処理部３３５からデータ認
識結果信号３７４を受け取る知識処理部３３２と、知識
処理部３３２から出力される機構制御指示信号３７５を
受け取る機構制御部３３１と、機構制御部３３１から出
力されるモータ駆動信号３７６を受け取るモータ部３０
５と、モータ部３０５によって回転し被調整回路３０２
に設けられ電気的特性を調整するための複数個のビスを
選択し回転させるドライバ部３０６とを含んで構成され
る。
【０００４】知識処理部３３２は、調整知識を有する知
識ベース部３３４と、知識ベース部３３４の知識にもと
づいて推論を行なう推論部３３３とを含んで構成され
る。
識ベース部３３４と、知識ベース部３３４の知識にもと
づいて推論を行なう推論部３３３とを含んで構成され
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術
は、図４に示すような高周波回路の６のマイクロストリ
ップライン１１〜１４に微小銅板を半田付けし、マイク
ロストリップラインに１１〜１４の特性インピーダンス
を変更させてＭＩＣ１５、ＦＥＴ１６、１７の入出力イ
ンピーダンスを整合する場合等に適用せんとすると、調
整知識を有する知識ベースを熟練調整者のみの知識で構
成すると、調整の手順が多くなり調整時間が長くなると
いう問題点があった。調整熟練者のみの知識で知識ベー
スを構成した場合、設計者の意図する調整箇所、つまり
特性に敏感に影響を及ぼすところを調整せずに、あまり
影響のない部分の調整を多く行う場合がある。逆に設計
者の知識だけで知識ベースを構成した場合には、設計時
に把握できない部分の調整は不可能になる場合がある。
は、図４に示すような高周波回路の６のマイクロストリ
ップライン１１〜１４に微小銅板を半田付けし、マイク
ロストリップラインに１１〜１４の特性インピーダンス
を変更させてＭＩＣ１５、ＦＥＴ１６、１７の入出力イ
ンピーダンスを整合する場合等に適用せんとすると、調
整知識を有する知識ベースを熟練調整者のみの知識で構
成すると、調整の手順が多くなり調整時間が長くなると
いう問題点があった。調整熟練者のみの知識で知識ベー
スを構成した場合、設計者の意図する調整箇所、つまり
特性に敏感に影響を及ぼすところを調整せずに、あまり
影響のない部分の調整を多く行う場合がある。逆に設計
者の知識だけで知識ベースを構成した場合には、設計時
に把握できない部分の調整は不可能になる場合がある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の発明の高周波回路
調整方法は、調整の対象となっている高周波回路の測定
データを獲得し、測定データに基づいてエキスパートシ
ステムＡによる調整量を示す結論Ａを導き、同様に前記
測定データに基づいてエキスパートシステムＢによる結
論Ｂを導き、前記結論ＡをエキスパートシステムＢで評
価しその評価値を評価Ａとし、前記結論Ｂをエキスパー
トシステムＡで評価しその評価値を評価Ｂとし、評価Ａ
と評価Ｂを比較し評価Ａが評価Ｂよりも高い評価が得ら
れた場合結論Ａを最終結論とし、評価Ｂが評価Ａよりも
高い評価が得られた場合結論Ｂを最終結論とし、前記最
終結論に基づいて高周波回路の調整量を示す処理を備え
て構成される。
調整方法は、調整の対象となっている高周波回路の測定
データを獲得し、測定データに基づいてエキスパートシ
ステムＡによる調整量を示す結論Ａを導き、同様に前記
測定データに基づいてエキスパートシステムＢによる結
論Ｂを導き、前記結論ＡをエキスパートシステムＢで評
価しその評価値を評価Ａとし、前記結論Ｂをエキスパー
トシステムＡで評価しその評価値を評価Ｂとし、評価Ａ
と評価Ｂを比較し評価Ａが評価Ｂよりも高い評価が得ら
れた場合結論Ａを最終結論とし、評価Ｂが評価Ａよりも
高い評価が得られた場合結論Ｂを最終結論とし、前記最
終結論に基づいて高周波回路の調整量を示す処理を備え
て構成される。
【０００７】第２の発明の高周波回路調整支援装置は、
高周波回路（６）の特性を測定する測定器（５）から得
られる測定データから高周波回路（６）の調整を行うた
めの調整量である結論Ａを指示することができ、ある調
整量にたいしてその調整量が有効かどうかの評価として
評価値を算出することができる設計者の知識をもとにし
たエキスパートシステムＡ（１）と、前記測定データか
ら高周波回路（６）の調整量である結論Ｂを指示するこ
とができ、ある調整量にたいしてその調整量が有効かど
うかの評価として評価値を算出することができる熟練者
の持っているノウハウから構成されたエキスパートシス
テムＢ（２）と、エキスパートシステムＢ（２）から得
られる結論ＢをエキスパートシステムＡ（１）で評価し
た評価ＢとエキスパートシステムＡ（１）から得られる
結論ＡをエキスパートシステムＢ（２）で評価した評価
Ａを比較し、評価Ａが評価Ｂよりも高いならば結論Ａを
採用し、評価Ｂが評価Ａよりも高いならば結論Ｂを採用
して最終的な結論を導く評価部（３）と、最終的な結論
を調整者に表示する表示部（４）とを含んで構成され
る。
高周波回路（６）の特性を測定する測定器（５）から得
られる測定データから高周波回路（６）の調整を行うた
めの調整量である結論Ａを指示することができ、ある調
整量にたいしてその調整量が有効かどうかの評価として
評価値を算出することができる設計者の知識をもとにし
たエキスパートシステムＡ（１）と、前記測定データか
ら高周波回路（６）の調整量である結論Ｂを指示するこ
とができ、ある調整量にたいしてその調整量が有効かど
うかの評価として評価値を算出することができる熟練者
の持っているノウハウから構成されたエキスパートシス
テムＢ（２）と、エキスパートシステムＢ（２）から得
られる結論ＢをエキスパートシステムＡ（１）で評価し
た評価ＢとエキスパートシステムＡ（１）から得られる
結論ＡをエキスパートシステムＢ（２）で評価した評価
Ａを比較し、評価Ａが評価Ｂよりも高いならば結論Ａを
採用し、評価Ｂが評価Ａよりも高いならば結論Ｂを採用
して最終的な結論を導く評価部（３）と、最終的な結論
を調整者に表示する表示部（４）とを含んで構成され
る。
【０００８】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例を示すフローチ
ャートである。図１に示す高周波回路調整手法は、調整
の対象となっている高周波回路６の回路出力２１を測定
器５で測定し測定データ２２を獲得する（ステップ１０
１、以下Ｓ１０１）。測定データ２２に基づいてエキス
パートシステムＡ１による調整量を示す結論Ａ２３を導
く（Ｓ１０２）。同様に前記測定データ２２に基づいて
エキスパートシステムＢ２による結論Ｂ２４を導く（Ｓ
１０３）。次に、結論Ａ２３をエキスパートシステムＢ
２で評価しその評価値を評価Ａ２６とする（Ｓ１０
４）。同様に結論Ｂ２４をエキスパートシステムＡ１で
評価しその評価値を評価Ｂ２５とする（Ｓ１０５）。ス
テップＳ１０６では評価Ａ２６と評価Ｂ２５を比較し評
価Ａ２６が評価Ｂ２５よりも高い評価が得られた場合は
ステップＳ１０７に進み、評価Ｂ２５が評価Ａ２６より
も高い評価が得られた場合はステップＳ１０８に進む。
ステップＳ１０７では最終的な結論として結論Ａ２３を
結論２７とする。ステップＳ１０８では、結論Ｂ２４を
結論２７とする。
ャートである。図１に示す高周波回路調整手法は、調整
の対象となっている高周波回路６の回路出力２１を測定
器５で測定し測定データ２２を獲得する（ステップ１０
１、以下Ｓ１０１）。測定データ２２に基づいてエキス
パートシステムＡ１による調整量を示す結論Ａ２３を導
く（Ｓ１０２）。同様に前記測定データ２２に基づいて
エキスパートシステムＢ２による結論Ｂ２４を導く（Ｓ
１０３）。次に、結論Ａ２３をエキスパートシステムＢ
２で評価しその評価値を評価Ａ２６とする（Ｓ１０
４）。同様に結論Ｂ２４をエキスパートシステムＡ１で
評価しその評価値を評価Ｂ２５とする（Ｓ１０５）。ス
テップＳ１０６では評価Ａ２６と評価Ｂ２５を比較し評
価Ａ２６が評価Ｂ２５よりも高い評価が得られた場合は
ステップＳ１０７に進み、評価Ｂ２５が評価Ａ２６より
も高い評価が得られた場合はステップＳ１０８に進む。
ステップＳ１０７では最終的な結論として結論Ａ２３を
結論２７とする。ステップＳ１０８では、結論Ｂ２４を
結論２７とする。
【０００９】図２は本発明の第２の実施例を示すブロッ
ク図である。調整支援装置１０は、高周波回路６の特性
を測定する測定器６から得られる測定データ２２から高
周波回路６の調整を行うための調整量である結論Ａ２３
を指示することができ、ある調整量に対してその調整量
が有効かどうかの評価として評価値を算出することがで
きる設計者の知識をもとにしたエキスパートシステムＡ
１と、前記測定データ２２から高周波回路６の調整量で
ある結論Ｂ２４を指示することができ、ある調整量にた
いしてその調整量が有効かどうかの評価として評価値を
算出することができる熟練者の持っているノウハウから
構成されたエキスパートシステムＢ２と、エキスパート
システムＢ２から得られる結論Ｂ２４をエキスパートシ
ステムＡ１で評価した評価Ｂ２５とエキスパートシステ
ムＡ１から得られる結論Ａ２３をエキスパートシステム
Ｂ２で評価した評価Ａ２６を比較し、評価Ａ２６が評価
Ｂ２５よりも高いならば結論Ａ２３を採用し、評価Ｂ２
５が評価Ａ２６よりも高いならば結論Ｂ２４を採用して
最終的な結論２７を導く評価部３と、最終的な結論２７
を表示する表示部４から構成される。
ク図である。調整支援装置１０は、高周波回路６の特性
を測定する測定器６から得られる測定データ２２から高
周波回路６の調整を行うための調整量である結論Ａ２３
を指示することができ、ある調整量に対してその調整量
が有効かどうかの評価として評価値を算出することがで
きる設計者の知識をもとにしたエキスパートシステムＡ
１と、前記測定データ２２から高周波回路６の調整量で
ある結論Ｂ２４を指示することができ、ある調整量にた
いしてその調整量が有効かどうかの評価として評価値を
算出することができる熟練者の持っているノウハウから
構成されたエキスパートシステムＢ２と、エキスパート
システムＢ２から得られる結論Ｂ２４をエキスパートシ
ステムＡ１で評価した評価Ｂ２５とエキスパートシステ
ムＡ１から得られる結論Ａ２３をエキスパートシステム
Ｂ２で評価した評価Ａ２６を比較し、評価Ａ２６が評価
Ｂ２５よりも高いならば結論Ａ２３を採用し、評価Ｂ２
５が評価Ａ２６よりも高いならば結論Ｂ２４を採用して
最終的な結論２７を導く評価部３と、最終的な結論２７
を表示する表示部４から構成される。
【００１０】図４は対象としている高周波回路の一例を
示している。高周波回路６は入力ｘをモノリシックＩＣ
（ＭＩＣ）１５と電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）１
６，１７によって、出力ｙへと増幅される。また、ＭＩ
Ｃ１５とＦＥＴ１６，１７を接続しているのはマイクロ
ストリップラインと呼ばれる高周波の伝送線路である。
この高周波回路を調整する場合は、マイクロストリップ
ラインに微小銅板をはんだ付けしマイクロストリップラ
インの特性インピーダンスを変更させて、各素子（ＭＩ
Ｃ１５，ＦＥＴ１６，１７）の入出力インピーダンスを
整合させることにより実現できる。
示している。高周波回路６は入力ｘをモノリシックＩＣ
（ＭＩＣ）１５と電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）１
６，１７によって、出力ｙへと増幅される。また、ＭＩ
Ｃ１５とＦＥＴ１６，１７を接続しているのはマイクロ
ストリップラインと呼ばれる高周波の伝送線路である。
この高周波回路を調整する場合は、マイクロストリップ
ラインに微小銅板をはんだ付けしマイクロストリップラ
インの特性インピーダンスを変更させて、各素子（ＭＩ
Ｃ１５，ＦＥＴ１６，１７）の入出力インピーダンスを
整合させることにより実現できる。
【００１１】次に、エキスパートシステムＡ１、エキス
パートシステムＢ２ついて述べる。エキスパートシステ
ムＡ１は、設計時において調整に関してわかる事例をル
ールで記述したものである。例えば、設計時にわかる知
識の例として、“最小振幅において、全体的に出力波形
のゲインが少ない場合は最初のＭＩＣ１５の出力に近い
ところに微小銅板をつけた方がよい”、“飽和領域にお
いて周波数が高いところでゲインが小さい場合は最終段
のＦＥＴ１７の入力のマイクロストリップラインの中間
に微小銅板を付けた方がよい”といったものがある。こ
れらの知識は、理論的に基づいたものもしくは設計ノウ
ハウから得る。これらの知識をまとめてエキスパートシ
ステムを構築する。また、この時に、ルールとして、
“飽和領域において周波数が高いところでゲインが小さ
い場合”などの個々の条件に対して調整の可能性のある
複数個の結論を用意しておく。
パートシステムＢ２ついて述べる。エキスパートシステ
ムＡ１は、設計時において調整に関してわかる事例をル
ールで記述したものである。例えば、設計時にわかる知
識の例として、“最小振幅において、全体的に出力波形
のゲインが少ない場合は最初のＭＩＣ１５の出力に近い
ところに微小銅板をつけた方がよい”、“飽和領域にお
いて周波数が高いところでゲインが小さい場合は最終段
のＦＥＴ１７の入力のマイクロストリップラインの中間
に微小銅板を付けた方がよい”といったものがある。こ
れらの知識は、理論的に基づいたものもしくは設計ノウ
ハウから得る。これらの知識をまとめてエキスパートシ
ステムを構築する。また、この時に、ルールとして、
“飽和領域において周波数が高いところでゲインが小さ
い場合”などの個々の条件に対して調整の可能性のある
複数個の結論を用意しておく。
【００１２】同様に、エキスパートシステムＢ２は高周
波回路６を調整した経験のある熟練者から、調整に関す
る知識を基にエキスパートシステムを構築する。例え
ば、熟練者の知識として“最小振幅において、全体的に
出力波形のゲインが大きい場合は最初のＦＥＴ１６の入
力に近いところに微小銅板をつけた方がよい”、“飽和
領域において周波数が高いところでゲインが小さい場合
はマイクロストリップラインのＦＥＴ１７に近いところ
に微小銅板を付けた方がよい”といったものがある。こ
の知識に対しても、個々の条件に対して調整の可能性の
ある複数個の結論を用意しておく。
波回路６を調整した経験のある熟練者から、調整に関す
る知識を基にエキスパートシステムを構築する。例え
ば、熟練者の知識として“最小振幅において、全体的に
出力波形のゲインが大きい場合は最初のＦＥＴ１６の入
力に近いところに微小銅板をつけた方がよい”、“飽和
領域において周波数が高いところでゲインが小さい場合
はマイクロストリップラインのＦＥＴ１７に近いところ
に微小銅板を付けた方がよい”といったものがある。こ
の知識に対しても、個々の条件に対して調整の可能性の
ある複数個の結論を用意しておく。
【００１３】エキスパートシステムＡ１、エキスパート
システムＢ２にはそれぞれの出した結論の各評価をステ
ップＳ１０４，Ｓ１０５において行わなければならな
い。この評価のために、個々の条件に対して用意した複
数の結論のそれぞれに対して評価値を付る。この評価値
は、評価部４において、ステップＳ１０１から出す評価
ＡとステップＳ１０２から出す評価Ｂを算出可能にす
る。例えば、ある測定データ２２が得られたとき、エキ
スパートシステムＡ１において導かれる結論Ａに対して
エキスパートシステムＢ１どのくらい評価できるかとい
う指標となる。これらのことを利用してある測定データ
２２が得られたときのある結論に対しての評価を算出す
ることができる。
システムＢ２にはそれぞれの出した結論の各評価をステ
ップＳ１０４，Ｓ１０５において行わなければならな
い。この評価のために、個々の条件に対して用意した複
数の結論のそれぞれに対して評価値を付る。この評価値
は、評価部４において、ステップＳ１０１から出す評価
ＡとステップＳ１０２から出す評価Ｂを算出可能にす
る。例えば、ある測定データ２２が得られたとき、エキ
スパートシステムＡ１において導かれる結論Ａに対して
エキスパートシステムＢ１どのくらい評価できるかとい
う指標となる。これらのことを利用してある測定データ
２２が得られたときのある結論に対しての評価を算出す
ることができる。
【００１４】この高周波回路調整手法を利用することに
よって、設計側の設計ノウハウと熟練者の調整知識を組
み合わせたエキスパートシステムが構築できる。このた
めに、各々の知識のみでは獲得できない知識を補い合う
ためにどちらか一方を利用したエキスパートシステムよ
りも有効な結論を導くことができる。
よって、設計側の設計ノウハウと熟練者の調整知識を組
み合わせたエキスパートシステムが構築できる。このた
めに、各々の知識のみでは獲得できない知識を補い合う
ためにどちらか一方を利用したエキスパートシステムよ
りも有効な結論を導くことができる。
【００１５】
【発明の効果】本発明は、高周波回路の調整において、
設計時に把握できる知識と、熟練者が行う調整ノウハウ
を組み合わせることにより、それぞれの知識のみを用い
た場合よりも的確な調整指示が導けるので、調整時間を
短縮できる。また、高度な熟練を要せず調整が行えるの
で熟練者でなくても調整が行えるという利点がある。
設計時に把握できる知識と、熟練者が行う調整ノウハウ
を組み合わせることにより、それぞれの知識のみを用い
た場合よりも的確な調整指示が導けるので、調整時間を
短縮できる。また、高度な熟練を要せず調整が行えるの
で熟練者でなくても調整が行えるという利点がある。
【００１６】互いに調整知識を補完しあい、設計知識の
み、または熟練知識のみを用いたものよりもより的確な
指示が出せる。
み、または熟練知識のみを用いたものよりもより的確な
指示が出せる。
【図１】本発明の第１の実施例を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図２】本発明の第２の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】従来の一例を示すブロック図である。
【図４】被調整回路の一例を示す回路図である。
１ エキスパートシステムＡ ２ エキスパートシステムＢ ３ 評価部 ４ 表示部 ５ 測定器 ６ 高周波回路 １０ 調整支援装置 １１，１２，１３，１４ マイクロストリップライン １５ モノリシックＩＣ（ＭＩＣ） １６，１７ 電界効果トランジスタ（ＦＥＴ） ２１ 回路出力 ２２ 測定データ ２３ 結論Ａ ２４ 結論Ｂ ２５ 評価Ｂ ２６ 評価Ａ ２７ 結論
Claims (2)
- 【請求項１】 調整の対象となっている高周波回路の測
定データを獲得し、測定データに基づいてエキスパート
システムＡによる調整量を示す結論Ａを導き、同様に前
記測定データに基づいてエキスパートシステムＢによる
結論Ｂを導き、前記結論ＡをエキスパートシステムＢで
評価しその評価値を評価Ａとし、前記結論Ｂをエキスパ
ートシステムＡで評価しその評価値を評価Ｂとし、評価
Ａと評価Ｂを比較し評価Ａが評価Ｂよりも高い評価が得
られた場合結論Ａを最終結論とし、評価Ｂが評価Ａより
も高い評価が得られた場合結論Ｂを最終結論とし、前記
最終結論に基づいて高周波回路の調整量を示す処理とを
備えて構成されることを特徴とする高周波回路調整方
法。 - 【請求項２】 高周波回路（６）の特性を測定する測定
器（５）から得られる測定データから高周波回路（６）
の調整を行うための調整量である結論Ａを指示すること
ができ、ある調整量にたいしてその調整量が有効かどう
かの評価として評価値を算出することができる設計者の
知識をもとにしたエキスパートシステムＡ（１）と、前
記測定データから高周波回路（６）の調整量である結論
Ｂを指示することができ、ある調整量にたいしてその調
整量が有効かどうかの評価として評価値を算出すること
ができる熟練者の持っているノウハウから構成されたエ
キスパートシステムＢ（２）と、エキスパートシステム
Ｂ（２）から得られる結論ＢをエキスパートシステムＡ
（１）で評価した評価ＢとエキスパートシステムＡ
（１）から得られる結論ＡをエキスパートシステムＢ
（２）で評価した評価Ａを比較し、評価Ａが評価Ｂより
も高いならば結論Ａを採用し、評価Ｂが評価Ａよりも高
いならば結論Ｂを採用して最終的な結論を導く評価部
（３）と、最終的な結論を調整者に表示する表示部
（４）から構成されることを特徴とする高周波回路調整
支援装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19173295A JPH0946109A (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | 高周波回路調整方法および調整支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19173295A JPH0946109A (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | 高周波回路調整方法および調整支援装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0946109A true JPH0946109A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16279578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19173295A Pending JPH0946109A (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | 高周波回路調整方法および調整支援装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0946109A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0535481A (ja) * | 1991-07-26 | 1993-02-12 | Ricoh Co Ltd | 問題解決方法 |
| JPH05174000A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-13 | Toshiba Corp | 交渉問題解決装置 |
| JPH06131008A (ja) * | 1992-09-04 | 1994-05-13 | Hitachi Ltd | 推論方法およびその応用方法 |
-
1995
- 1995-07-27 JP JP19173295A patent/JPH0946109A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0535481A (ja) * | 1991-07-26 | 1993-02-12 | Ricoh Co Ltd | 問題解決方法 |
| JPH05174000A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-13 | Toshiba Corp | 交渉問題解決装置 |
| JPH06131008A (ja) * | 1992-09-04 | 1994-05-13 | Hitachi Ltd | 推論方法およびその応用方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990126 |