JPH095013A - 定点目盛付きひずみゲージ - Google Patents
定点目盛付きひずみゲージInfo
- Publication number
- JPH095013A JPH095013A JP15612295A JP15612295A JPH095013A JP H095013 A JPH095013 A JP H095013A JP 15612295 A JP15612295 A JP 15612295A JP 15612295 A JP15612295 A JP 15612295A JP H095013 A JPH095013 A JP H095013A
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- JP
- Japan
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- fixed point
- strain
- strain gauge
- point scale
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- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 被計測物表面にひずみ計測位置を直接マーキ
ングすることなく、計測位置精度を向上させながら、抵
抗ひずみゲージの貼付位置を決定することができる定点
目盛付きひずみゲージを提供する。 【構成】 ひずみ受感素子２の中央位置３を表示してい
る記号４ａ，４ｂと、中央位置３からのオフセット量を
表示している定点目盛６ａ〜６ｂとを有する。
ングすることなく、計測位置精度を向上させながら、抵
抗ひずみゲージの貼付位置を決定することができる定点
目盛付きひずみゲージを提供する。 【構成】 ひずみ受感素子２の中央位置３を表示してい
る記号４ａ，４ｂと、中央位置３からのオフセット量を
表示している定点目盛６ａ〜６ｂとを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、抵抗ひずみゲージの貼
付位置決定の利便性を向上させた定点目盛付きひずみゲ
ージに関するものである。
付位置決定の利便性を向上させた定点目盛付きひずみゲ
ージに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、構造物等の応力状態を実験的
に把握する手段として、電気抵抗ひずみ計測が広く用い
られている。その従来の方法はひずみ計測位置に抵抗ひ
ずみゲージを貼付して行うものであり、その構造物等の
基準位置をもとに抵抗ひずみゲージ貼付位置を該構造物
等の表面にマーキングしてから行なうものである。
に把握する手段として、電気抵抗ひずみ計測が広く用い
られている。その従来の方法はひずみ計測位置に抵抗ひ
ずみゲージを貼付して行うものであり、その構造物等の
基準位置をもとに抵抗ひずみゲージ貼付位置を該構造物
等の表面にマーキングしてから行なうものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の技術においては、構造物等のひずみ計測部が複
雑形状である場合は、該構造物の基準位置をもとに抵抗
ひずみゲージ貼付位置を直接マーキングすることは困難
であり、計測位置精度が低下するという問題点があっ
た。また構造物等のひずみ計測部に抵抗ひずみゲージを
ずらして貼付することにより、ひずみ分布を把握する場
合は、ずらす量に応じて貼付位置を個々にマーキングす
る必要があり、経済的でないとともに計測位置精度が低
下するという問題点もあった。
た従来の技術においては、構造物等のひずみ計測部が複
雑形状である場合は、該構造物の基準位置をもとに抵抗
ひずみゲージ貼付位置を直接マーキングすることは困難
であり、計測位置精度が低下するという問題点があっ
た。また構造物等のひずみ計測部に抵抗ひずみゲージを
ずらして貼付することにより、ひずみ分布を把握する場
合は、ずらす量に応じて貼付位置を個々にマーキングす
る必要があり、経済的でないとともに計測位置精度が低
下するという問題点もあった。
【０００４】本発明は、上記のような問題点を解決しよ
うとするものである。すなわち、本発明は、被計測物表
面にひずみ計測位置を直接マーキングすることなく、計
測位置精度を向上させながら、抵抗ひずみゲージの貼付
位置を決定することができる定点目盛付きひずみゲージ
を提供することを目的とするものである。
うとするものである。すなわち、本発明は、被計測物表
面にひずみ計測位置を直接マーキングすることなく、計
測位置精度を向上させながら、抵抗ひずみゲージの貼付
位置を決定することができる定点目盛付きひずみゲージ
を提供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、ひずみ受感素子の中央位置を表示してい
る記号と、該中央位置からのオフセット量を表示してい
る定点目盛とを有するものとした。
め、本発明は、ひずみ受感素子の中央位置を表示してい
る記号と、該中央位置からのオフセット量を表示してい
る定点目盛とを有するものとした。
【０００６】
【作用】本発明によれば、ひずみ受感素子の中央位置を
表示している記号と、該中央位置からのオフセット量を
表示している定点目盛とを有するので、ひずみ計測部が
複雑形状である場合、その付近で比較的マーキングが容
易な場所を決め、抵抗ひずみゲージに計測位置との関係
に対応する定点目盛とひずみ受感素子を設定する。被計
測物のマーキングと抵抗ひずみゲージのマーキングと合
わせると、希望の位置に精度よく貼付できる。またひず
み計測部に抵抗ひずみゲージをずらして貼付し、ひずみ
分布を把握する場合、基準となるマーキングからずらし
量を定点目盛に合わせると、ずらし量に合わせて個々に
マーキングすることなく、希望の場所に精度よく貼付で
きる。
表示している記号と、該中央位置からのオフセット量を
表示している定点目盛とを有するので、ひずみ計測部が
複雑形状である場合、その付近で比較的マーキングが容
易な場所を決め、抵抗ひずみゲージに計測位置との関係
に対応する定点目盛とひずみ受感素子を設定する。被計
測物のマーキングと抵抗ひずみゲージのマーキングと合
わせると、希望の位置に精度よく貼付できる。またひず
み計測部に抵抗ひずみゲージをずらして貼付し、ひずみ
分布を把握する場合、基準となるマーキングからずらし
量を定点目盛に合わせると、ずらし量に合わせて個々に
マーキングすることなく、希望の場所に精度よく貼付で
きる。
【０００７】
【実施例】図１は本発明の第１実施例を示した拡大平面
図、図２は本発明の第２実施例を示した拡大平面図、図
３は本発明の第３実施例を示した拡大平面図である。各
図において、１は透明または半透明のプラスチックシー
トなどからなるベース、２はひずみ受感素子、３はその
素子２の中央位置、４ａ〜４ｄは中央位置表示記号、５
ａ，５ｂは端子、６ａ〜６ｆは定点目盛である。
図、図２は本発明の第２実施例を示した拡大平面図、図
３は本発明の第３実施例を示した拡大平面図である。各
図において、１は透明または半透明のプラスチックシー
トなどからなるベース、２はひずみ受感素子、３はその
素子２の中央位置、４ａ〜４ｄは中央位置表示記号、５
ａ，５ｂは端子、６ａ〜６ｆは定点目盛である。
【０００８】各実施例とも、定点目盛６ａ〜６ｆは横に
０．２ｍｍごと四角にしてある。すなわち、図１で寸法
Ｌ1 は０．２ｍｍ、Ｌ2 は０．４ｍｍ、Ｌ3 は０．８ｍ
ｍである。また各実施例とも、スプライン溝の応力につ
いてのひずみゲージであり、このうち、図１は左上がり
の、図２は右上がりのせん断用ひずみゲージ、図３は歯
曲げ用ひずみゲージである。
０．２ｍｍごと四角にしてある。すなわち、図１で寸法
Ｌ1 は０．２ｍｍ、Ｌ2 は０．４ｍｍ、Ｌ3 は０．８ｍ
ｍである。また各実施例とも、スプライン溝の応力につ
いてのひずみゲージであり、このうち、図１は左上がり
の、図２は右上がりのせん断用ひずみゲージ、図３は歯
曲げ用ひずみゲージである。
【０００９】ここで、図１について詳細に説明すると、
ひずみ被計測物であるスプライン溝のひずみ計測部が複
雑形状である場合に、その付近で比較的マーキングが容
易な場所を決め、計測位置との関係に対応するように、
抵抗ひずみゲージに定点目盛６ａ〜６ｆとひずみ受感素
子２を設定する。被計測物のマーキングと抵抗ひずみゲ
ージのマーキングを合わせると、希望の位置に精度よく
貼付できる。
ひずみ被計測物であるスプライン溝のひずみ計測部が複
雑形状である場合に、その付近で比較的マーキングが容
易な場所を決め、計測位置との関係に対応するように、
抵抗ひずみゲージに定点目盛６ａ〜６ｆとひずみ受感素
子２を設定する。被計測物のマーキングと抵抗ひずみゲ
ージのマーキングを合わせると、希望の位置に精度よく
貼付できる。
【００１０】またひずみ計測部に抵抗ひずみゲージをず
らして貼付し、ひずみ分布を把握する場合、基準となる
マーキングからのずらし量を定点目盛６ａ〜６ｆに合わ
せると、ずらし量に合わせて個々にマーキングすること
なく、希望の場所に精度よく貼付できる。図１で、歯底
から０．２ｍｍ右方へずらすと中央位置３がＬ1 だけ移
動し、０．４ｍｍずらすとＬ2 だけ移動し、０．８ｍｍ
ずらすとＬ3 だけ移動する。
らして貼付し、ひずみ分布を把握する場合、基準となる
マーキングからのずらし量を定点目盛６ａ〜６ｆに合わ
せると、ずらし量に合わせて個々にマーキングすること
なく、希望の場所に精度よく貼付できる。図１で、歯底
から０．２ｍｍ右方へずらすと中央位置３がＬ1 だけ移
動し、０．４ｍｍずらすとＬ2 だけ移動し、０．８ｍｍ
ずらすとＬ3 だけ移動する。
【００１１】なお図２と図３についても、同様である。
またこの定点目盛付き抵抗ひずみゲージは特定の分野に
限定されず、一般的なひずみ計測に広く適用が可能であ
る。
またこの定点目盛付き抵抗ひずみゲージは特定の分野に
限定されず、一般的なひずみ計測に広く適用が可能であ
る。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ひずみ受感素子の中央位置を表示している記号と、該中
央位置からのオフセット量を表示している定点目盛とを
有するので、ひずみ計測部が複雑形状で計測位置を直接
マーキングすることが困難な場合、定点目盛を用いて間
接的に貼付位置を決めると、マーキングが容易になると
ともに計測位置精度が向上する。またひずみ計測部に抵
抗ひずみゲージをずらして貼付し、ひずみ分布を把握す
る場合、定点目盛を用いてずらし量を設定すると、個々
にマーキングする必要がなくなるとともに計測位置精度
が向上する。
ひずみ受感素子の中央位置を表示している記号と、該中
央位置からのオフセット量を表示している定点目盛とを
有するので、ひずみ計測部が複雑形状で計測位置を直接
マーキングすることが困難な場合、定点目盛を用いて間
接的に貼付位置を決めると、マーキングが容易になると
ともに計測位置精度が向上する。またひずみ計測部に抵
抗ひずみゲージをずらして貼付し、ひずみ分布を把握す
る場合、定点目盛を用いてずらし量を設定すると、個々
にマーキングする必要がなくなるとともに計測位置精度
が向上する。
【図１】本発明の第１実施例を示した拡大平面図であ
る。
る。
【図２】本発明の第２実施例を示した拡大平面図であ
る。
る。
【図３】本発明の第３実施例を示した拡大平面図であ
る。
る。
１ ベース ２ ひずみ受感素子 ３ 中央位置 ４ａ〜４ｂ 中央位置表示記号 ５ａ，５ｂ 端子 ６ａ〜６ｆ 定点目盛り
Claims (1)
- 【請求項１】 ひずみ受感素子の中央位置を表示してい
る記号と、該中央位置からのオフセット量を表示してい
る定点目盛とを有することを特徴とする、定点目盛付き
ひずみゲージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15612295A JPH095013A (ja) | 1995-06-22 | 1995-06-22 | 定点目盛付きひずみゲージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15612295A JPH095013A (ja) | 1995-06-22 | 1995-06-22 | 定点目盛付きひずみゲージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH095013A true JPH095013A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15620809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15612295A Pending JPH095013A (ja) | 1995-06-22 | 1995-06-22 | 定点目盛付きひずみゲージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH095013A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010169616A (ja) * | 2009-01-26 | 2010-08-05 | A & D Co Ltd | 歪ゲージとロードセル。 |
| FR2949152A1 (fr) * | 2009-08-17 | 2011-02-18 | Eads Europ Aeronautic Defence | Jauge de deformation et systeme de localisation spatiale de telles jauges |
-
1995
- 1995-06-22 JP JP15612295A patent/JPH095013A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010169616A (ja) * | 2009-01-26 | 2010-08-05 | A & D Co Ltd | 歪ゲージとロードセル。 |
| FR2949152A1 (fr) * | 2009-08-17 | 2011-02-18 | Eads Europ Aeronautic Defence | Jauge de deformation et systeme de localisation spatiale de telles jauges |
| WO2011020968A1 (fr) * | 2009-08-17 | 2011-02-24 | European Aeronautic Defence And Space Company Eads France | Jauge de déformation et système de localisation spatiale de telles jauges |
| CN102549376A (zh) * | 2009-08-17 | 2012-07-04 | 欧洲宇航防务集团Eads法国公司 | 应变测量仪和用于对应变测量仪进行空间定位的系统 |
| US9200889B2 (en) | 2009-08-17 | 2015-12-01 | European Aeronautic Defence And Space Company Eads France | Strain gauge, and system for spatially locating such gauges |
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