JPH09511892A - 広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン - Google Patents

広い電源範囲に亘って動作するのに適した低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン

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JPH09511892A JP8519626A JP51962696A JPH09511892A JP H09511892 A JPH09511892 A JP H09511892A JP 8519626 A JP8519626 A JP 8519626A JP 51962696 A JP51962696 A JP 51962696A JP H09511892 A JPH09511892 A JP H09511892A
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Abstract

(57)【要約】 BiCMOSデジタル遅延チェーンが、入力端子と出力端子との間に結合された2つの信号路を有する。第1信号路は直列結合された2つのCMOSインバータを有し、第2信号路は、BiNMOSインバータに結合された1つのCMOSインバータを有し、前記BiNMOSインバータはBiCMOSプルダウン回路に結合されている。遅延チェーンの入力端子及び出力端子間に2つの信号路を設けることにより、電源感度が一方の切換方向において他方の切換方向におけるよりも高くなる、スタティックパワー零の低電圧回路が得られる。この特徴により、電源電位の全範囲に亘る動作を可能にするとともに、集積回路の動作変化を最少にする。

Description

【発明の詳細な説明】 広い電源範囲に亘って動作するのに適した 低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーン発明の分野 本発明はデジタル回路の分野、特に広い電源範囲に亘って動作するのに適した 低電圧BiCMOSデジタル遅延チェーンに関するものであるが、これに限定さ れるものではない。発明の背景 多くの低電圧デジタル回路は、約2.3ボルトから約3.6ボルトまでのよう な比較的広い範囲の電源電位に亘って動作させる必要がある。デジタル集積回路 をこれらの低電圧分野に適合するように設計するのは困難である。その理由は、 集積回路の動作が電源電位に応じて可成り変化する為である。特に、スタティッ クパワーが零の簡単な低電圧デジタル回路を形成するのが困難である為、設計補 正技術が必要となる。このような技術の1つでは、電源電位が低くなった際の速 度の損失を補償するために、電源電位が低くなると“オン”状態に一層長く保つ 単安定マルチバイブレータ、すなわち“ワンショット”を用いている。しかし、 電源電位が低くなった際に、最大繰返し周波数を比較的一定に保って可成り長い パルスを発生する“ワンショット”を設計するのには問題がある。発明の目的 本発明の目的は、電源電圧変動により最大切換周波数が殆ど影響されないかほ んのわずかしか影響されない論理回路を提供せんとするにある。本発明の他の目 的は、処理パラメータの広がりに対するよりも電源電圧変動に感応しない論理回 路を提供せんとするにある。発明の概要 この目的のために、本発明は、論理回路を有する電子回路において、前記論理 回路は、第1論理状態から第2論理状態に切換わっている間電源電位感度を高く し、第2論理状態から第1論理状態に切換わっている間電源電位感度を低くし、 従って電源電位が変化した際に最大切換周波数がほぼ一定に保たれるようになっ ていることを特徴とする電子回路を提供する。 本発明は、高レベルから低レベルへの又は低レベルから高レベルへの遷移の少 なくとも1つを実行するのに要する時間が電源電圧レベルの変動に感応しなけれ ば、伝搬遅延を平均で一定に保つことができるという認識を基に成したものであ る。例えば本発明によるデジタル遅延チェーンでは、電源電位変動に対する感度 が一方向での切換時において他方向での切換時におけるよりも高くなる。その結 果、電源電位の変動による集積回路動作の変化が補償され、最大繰返しすなわち 切換周波数は電源電位が降下しても殆ど減少しなくなる。 本発明によれば、電源電位の変動に対する感度が処理パラメータの変動に対す る感度よりも可成り大きくなったBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する のが好ましい。 本発明によれば、論理回路が、2進入力信号を受ける入力端子と、2進出力信 号を生じる出力端子とを有する。第1及び第2信号路は入力端子と出力端子との 間に並列に配置する。第1信号路は直列接続のPFET及びNFETを有する非 対称の第ICMOS論理ゲートを有する。PFETはNFETよりも可成り大型 とし、出力端子にはPFETとNFETとの共通ノードが接続される。第2信号 路は、第1バイポーラトランジスタを有するBiCMOSプルダウン回路を具え 、この第1バイポーラトランジスタの主電流通路は出力端子に接続され、この第 1バイポーラトランジスタのベース電極には制御電流が供給される。プルダウン 回路は入力信号に応答して第1バイポーラトランジスタのベース電極に制御電流 を供給するよう動作する。制御電流は、電子回路の電源ノードにおける電源電圧 (VCC)が低くなるにつれて低くなる。 本発明の電子回路は遅延チェーンとして用いるのが好ましい。本発明のBiC MOSデジタル遅延チェーンを低電圧集積回路分野に用いると、変動する電源電 位に対する集積回路動作の一貫性を可成り高める。最適には、前記の他方向では なく前記の一方向に切換えた際に電源電位感度を高くして、電源電位の変動時に 最大繰返し周波数がほぼ一定に維持されるようにしたデジタル遅延チェーンを形 成するのが望ましい。更に、デジタル遅延チェーンは、製造処理パラメータの変 動に対するよりも電源電位の変動に対して大きな遅延感度を程するようにする必 要がある。図面の簡単な説明 図面と関連する以下の詳細な説明を読むことにより本発明を更に完全に理解し うるであろう。図面中、 図1Aは、従来のデジタル遅延チェーンを示し、 図1Bは、図1Aのデジタル遅延チェーンに用いるのに適した従来のCMOS インバータを示し、 図2は、本発明によるBiCMOSデジタル遅延チェーンの第1実施例を示す 線図であり、 図3は、本発明によるBiCMOSデジタル遅延チェーンの第2実施例を示し 、 図4は、本発明によるBiCMOSデジタル遅延チェーンの第3実施例を示す 。好適実施例の説明 一般的な形態のデジタル遅延回路は図1Aに示すように、簡単なCMOSイン バータのチェーンを以って構成しうる。図1Aにおいては、2つのCMOSイン バータU1及びU2が入力端子IN及び出力端子OUT間に直列に接続されてい る。一例として2つのインバータを示してあるが、所望の遅延量や反転出力信号 を望むか非反転出力信号を望むかに応じて用いるインバータの個数を異ならせる ことができること明らかである。 従来及び本発明の双方のデジタル遅延チエーンに用いるのに適した簡単な従来 のCMOSインバータ段を図1Bに示す。他の図で用いるインバータU1〜U5 に相当するCMOSインバータは、電源端子VCCと大地との間に直列に接続さ れたNFETトランジスタNO及びPFETトランジスタPOを有する。これら 2つのFETのゲートは互いに且つ入力端子INに接続され、直列路中のこれら 2つのFETの共通接続点はインバータ出力端子OUTとして機能する。 図1Aに示すCMOSデジタル遅延チェーンでは、インバータU1,U2への 電源電位が低下すると、信号がこのデジタル遅延チェーンを経て伝搬する時間が 増大する。これらインバータのしきい値が互いに等しいものとすると、高レベル 信号の伝搬時間は低レベル信号の伝搬時間にほぼ等しくなり、これら双方の伝搬 遅延は電源電位の変動に応じてほぼ等しく増大したり減少したりする。 しかし、広い範囲の電源電位に亘って動作するように設計した低電圧適用分野 の場合、電源感度をできるだけ高めるのが望ましい。これを達成するのは、図1 Aに示す従来のCMOSインバータのデジタル遅延チェーンによっては困難であ る。その理由は、電源感度を高めると処理感度が同等に(且つ不所望に)高まる 為である。 広い電源電位範囲に亘って動作するのに適した本発明による低電圧BiCMO Sデジタル遅延チェーン10の第1実施例を図2に示す。この回路は、入力端子 (IN)と出力端子(OUT)との間に結合された第1及び第2信号路を有し、 第1信号路が直列接続の2つのインバータU1及びU2より成っている。第2信 号路は1つのCMOSインバータU3を有し、その入力端が入力端子INに結合 され、その出力端がバイポーラトランジスタQ1のベースに結合されている。バ イポーラトランジスタQ1、この場合NPNトランジスタの主電流通路がNFE TトランジスタN1と直列に結合されてBiNMOSインバータ回路を形成して おり、トランジスタN1のゲートが入力端子INに接続されている。トランジス タQ1及びN1間の共通接続点における、BiNMOSインバータの出力端子は NFETトランジスタN2のゲートに接続され、このトランジスタN2は、NF ETトランジスタN3及びNPNバイポーラトランジスタQ2と相俟ってBiC MOSプルダウン回路を構成する。トランジスタN2の主電流路はトランジスタ N3の電流路と直列に接続され、これらの共通接続点がトランジスタQ2のベー スに結合されている。トランジスタQ2のコレクタにおけるBiCMOSプルダ ウン回路の出力端はトランジスタN3のゲート及びトランジスタN2のドレイン に接続され、この共通接続点が出力端子OUTに結合されている。トランジスタ N1及びN3のソースとトランジスタQ2のエミッタとは接地され、トランジス タQ1のコレクタは電源端子VCCに接続されている。図2に示す回路の、重要 度の低い細部は本発明の精神及び範囲を逸脱することなく変更することができ、 例えばトランジスタN3のゲートを図示の代りにトランジスタN1のゲートに接 続することができ、さもなければトランジスタN3を簡単な抵抗と置き代えるこ ともできる。 図2に示す回路は、処理感度を著しく高めることなく電源感度を高くしうると ともに、一方向に切換わる際の電源感度を他方向におけるよりも著しく高くし、 これにより電源電位が減少した際の繰返し周波数を比較的高く維持しうるように したBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。図1Aの2インバータチェ ーンU1,U2は、インバータU2のしきい値が極めて高くなるように変更して (この変更は例えば図1BにおけるNFETトランジスタNOをPFETトラン ジスタPOよりも小型にすることにより達成される)、第1信号路中に用いられ ている。 動作中、入力端子INへの入力が高レベルから低レベルに遷移すると、入力信 号は双方の並列信号路を経て伝搬する。電源電位が比較的高い(例えば代表的な 低電圧適用分野で3.6ボルトである)場合、BiNMOS回路はトランジスタ N2のゲートをそのゲート−ソース電圧が比較的大きくなるように充分高い電位 に引き上げ、これにより第2信号路におけるトランジスタN2がトランジスタQ 2のベースに充分な電流を供給して出力端子OUTにおいて迅速な高レベル−低 レベル遷移が得られるようにする。電源電位が、代表的な低電圧適用分野で約2 .3ボルトまで減少すると、トランジスタQ1はもはやトランジスタN2のゲー トを充分高い電位に引き上げることができず、従ってこのトランジスタN2は、 トランジスタQ2の動作による迅速な高レベル−低レベル遷移を生ぜしめるのに 充分な電流をこのトランジスタQ2のベースに供給することができない。この場 合、低電圧状態での高レベル−低レベル遷移は第1信号路中のCMOSインバー タU2のNFETトランジスタNOによって行なわれる。トランジスタNOは比 較的小型の装置である為、回路がその電源電位範囲の低電位側で動作している場 合には出力端子における高レベル−低レベル遷移は長くかかる。一方、低レベル −高レベル遷移は電源電圧の低電位側及び高電位側の双方でCMOSインバータ U2の比較的大型のPFETトランジスタPOにより行なわれ、従って電源電圧 の変動にそれほど感応しない。従って、本発明の回路は、その出力端子における 高レベル−低レベル遷移中電源電圧変動に著しく感応するとともに低レベル−高 レベル遷移中電源電位の変動に実質的に感応しないBiCMOSデジタル遅延チ ェーンを提供する。更に、本発明の回路の処理感度は図1Aに示す簡単なデジタ ル遅延チェーンに比べて実質的に生じない。 本発明の他の回路構成を図3及び4に示す。図3におけるBiCMOSデジタ ル遅延チェーン12の構成は図2に示す回路のものに類似しているも、インバー タU2の入力端がトランジスタQ1のベース−エミッタ通路を経てインバータU 3の出力端に結合されている。従って、第1信号路には図2におけるように2つ の信号反転が導入されるも、インバータU3が第1及び第2信号路の双方に対す る第1インバータとして作用し、従って図2におけるような別のインバータU1 の必要性を無くし、これにより、得られる回路を簡単化する。他のあらゆる点に おいて、図3の回路は図2の回路と同じである。図面に示す主題に関する変更は 可能であり、例えば図2のインバータU1がインバータU2及びトランジスタQ 1のベースの双方を制御するようにした場合には、図2のインバータU3を省略 しうる。 図4は、BiCMOSデジタル遅延チェーン14が、追加のインバータ段と直 列に接続された図2に示すような回路を有する実施例を示す。従って、本例の入 力端子INはCMOSインバータU4の入力端に接続され、このインバータU4 の出力端がCMOSインバータU1及びU3の入力端に接続され、インバータU 2の出力端とトランジスタQ2のコレクタとがCMOSインバータU5の入力端 に接続され、このインバータU5の出力端が出力端子OUTに接続されている。 反転出力を得るか或いは非反転出力を得るかに応じて、又、遅延量を所望のもの にするために、回路の入力端子及び出力端子の双方におけるインバータの個数を 他の個数にすることができることに注意すべきである。例えば、インバータU4 又はU5のいずれか1つのみを用いることにより、或いは他のいずれかの奇数個 のインバータを用いることにより、出力信号を反転形態にしたり、入力信号の遅 延変更を行なったりする。更に、インバータU4の出力端とインバータU5の入 力端との間の図4の回路部分を、図示のように図2の回路とせずに、図3の回路 を以って構成することができる。 本発明によれば、電源電位の変動による集積回路の動作の変更を補償したり、 電源電位が降下した際に最大繰返し周波数が著しく減少しないようにするために 、電源電位変動に対する感度を、一方向に切換わる場合の方が他方向に切換わる 場合よりも大きくするBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。更に本発 明によれば、電源電位の変動に対する感度が処理パラメータの変動に対する感度 よりも可成り大きくなったBiCMOSデジタル遅延チェーンを提供する。 図示の回路は特に遅延チェーンとして用いるのが適しているも、これに限定さ れるものではないことに注意すべきである。 本発明を特にその数個の好適実施例につき図示し、説明したが、形態及び細部 の種々の変更を本発明の精神及び範囲を逸脱することなく行なうことができるこ と当業者にとって明らかである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.論理回路を有する電子回路において、前記論理回路は、第1論理状態から第 2論理状態に切換わっている間電源電位感度を高くし、第2論理状態から第1論 理状態に切換わっている間電源電位感度を低くし、従って電源電位が変化した際 に最大切換周波数がほぼ一定に保たれるようになっていることを特徴とする電子 回路。 2.請求の範囲1に記載の電子回路において、前記論理回路が、 −2進入力信号を受ける入力端子(IN)と、 −2進出力信号を生じる出力端子(OUT)と、 −前記入力端子及び出力端子間に並列に配置された第1及び第2信号路と を具え、 −前記第1信号路が、直列接続のPFET(PO)及びNFET(NO)とを 有する非対称の第1CMOS論理ゲート(U2)を具え、PFETがNFETよ りも可成り大型であり、PFET及びNFETの共通ノードが出力端に接続され ており、 −前記第2信号路が、第1バイポーラトランジスタ(Q2)を有するBiCM OSプルダウン回路(U3,Q1,N1,N2,N3,Q2)を具え、前記第1 バイポーラトランジスタの主電流通路は前記出力端子に接続され、この第1バイ ポーラトランジスタのベース電極は制御電流を受け、前記プルダウン回路が入力 信号に応答してこの第1バイポーラトランジスタのベース電極に制御電流を供給 するよう動作し、この制御電流は、電子回路の電源ノードにおける電源電圧(V CC)が低くなるにつれて小さくなるようになっていることを特徴とする電子回 路。 3.請求の範囲2に記載の電子回路において、前記BiCMOSプルダウン回路 が、 −前記入力端子にゲート入力端が接続されている第2CMOS論理ゲート(U 3)と、 −他のバイポーラトランジスタ(Q1)であって、そのベース電極が前記第2C MOS論理ゲートのゲート出力端に接続され、この他のバイポーラトランジスタ の主電流通路が前記電源ノードに接続されている当該他のバイポーラトランジス タ(Q1)と、 −第2NFET(N1)であって、その制御電極に入力信号が供給され、この 第2NFETの主電流通路が前記他のバイポーラトランジスタの主電流通路と直 列に接続されている当該第2NFET(N1)と、 −第3NFET(N2)であって、その制御電極が前記他のバイポーラトラン ジスタ及び前記第2NFETの主電流通路間の共通ノードに接続されており、こ の第3NFETの主電流通路が前記出力端子と前記第1バイポーラトランジスタ のベース電極との間に接続されている当該第3NFET(N2)と を具えていることを特徴とする電子回路。 4.請求の範囲3に記載の電子回路において、前記第1CMOS論理ゲートの入 力端が前記他のバイポーラトランジスタ及び前記第2NFETの主電流通路間の 共通ノードに接続されていることを特徴とする電子回路。 5.請求の範囲3に記載の電子回路において、前記入力端子と前記第1CMOS 論理ゲートのゲート入力端との間に第3CMOS論理ゲート(U1)が配置され ていることを特徴とする電子回路。 6.請求の範囲3に記載の電子回路において、前記第1CMOS論理ゲートのゲ ート入力端が前記第2CMOS論理ゲートのゲート出力端に接続されていること を特徴とする電子回路。 7.請求の範囲2に記載の電子回路において、前記入力端子又は前記出力端子に 少なくとも1つの他のCMOS論理ゲートが接続されていることを特徴とする電 子回路。 8.遅延チェーンとして動作する請求の範囲1〜7のいずれか一項に記載の電子 回路。
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