JPH095158A - 光量測定装置 - Google Patents
光量測定装置Info
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- JPH095158A JPH095158A JP17820095A JP17820095A JPH095158A JP H095158 A JPH095158 A JP H095158A JP 17820095 A JP17820095 A JP 17820095A JP 17820095 A JP17820095 A JP 17820095A JP H095158 A JPH095158 A JP H095158A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 信頼性が高く、回路構成が簡単で、小型化、
低価格化が容易な、補正機能を備えた光量測定装置を提
供する。 【構成】 光量測定装置は、被測定物に光を照射する発
光部ＬＥＤと、被測定物からの光を受光する受光部ＰＤ
と、受光部ＬＥＤに入射する被測定物からの光の光量に
応じた周波数信号（Ｆ0 ）を出力する光量周波数変換手
段１０と、光量周波数変換手段１０から出力される周波
数信号（Ｆ0 ）を演算し、光量に対応する表示値信号
（Ｐ0 ）を出力する演算制御手段２０と、を有する。演
算制御手段２０は、表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なう。
低価格化が容易な、補正機能を備えた光量測定装置を提
供する。 【構成】 光量測定装置は、被測定物に光を照射する発
光部ＬＥＤと、被測定物からの光を受光する受光部ＰＤ
と、受光部ＬＥＤに入射する被測定物からの光の光量に
応じた周波数信号（Ｆ0 ）を出力する光量周波数変換手
段１０と、光量周波数変換手段１０から出力される周波
数信号（Ｆ0 ）を演算し、光量に対応する表示値信号
（Ｐ0 ）を出力する演算制御手段２０と、を有する。演
算制御手段２０は、表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なう。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的には光量周波数
変換方式の電子的測光装置に関し、特に、補正機能を備
えた、回路構成の簡単な、高信頼性かつ小型の光量測定
装置に関するものである。
変換方式の電子的測光装置に関し、特に、補正機能を備
えた、回路構成の簡単な、高信頼性かつ小型の光量測定
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、自動車のエンジンオイル或は自
動変速機用オイル等の潤滑油は汚れ或は劣化が進むと光
の透過率が減少する。このため、潤滑油の一部を光透過
性の特定のセル中に収容し或はセル中を流し、これにＬ
ＥＤ（発光ダイオード）などの光源から光を照射し、そ
の透過光をフォトダイオードなどの光検出素子で受光し
て透過光量を検出し、この検出結果から潤滑油の汚れ或
は劣化の度合を判別することが提案されている。
動変速機用オイル等の潤滑油は汚れ或は劣化が進むと光
の透過率が減少する。このため、潤滑油の一部を光透過
性の特定のセル中に収容し或はセル中を流し、これにＬ
ＥＤ（発光ダイオード）などの光源から光を照射し、そ
の透過光をフォトダイオードなどの光検出素子で受光し
て透過光量を検出し、この検出結果から潤滑油の汚れ或
は劣化の度合を判別することが提案されている。
【０００３】本発明者らは、例えば特願平４−２１６５
１１号にてこのような目的のために使用し得る光量測定
装置を提案した。この光量測定装置は、図５に概略示す
ように、透明ガラス管などとされる測定セル１に保持さ
れた被測定物である潤滑油２に発光ダイオードＬＥＤに
て光を照射し、測定セル１からの透過光がフォトダイオ
ードＰＤにて受光される。フォトダイオードＰＤからの
信号は、光量周波数変換回路１０に送信される。この光
量周波数変換回路１０は、フォトダイオードＰＤに入射
する光の光量に応じた周波数信号Ｆ0 を出力する。この
周波数信号のパルス数は、マイクロコンピュータ２０に
て計数され、そして演算処理されて、測定された潤滑油
の劣化度が算出され、その表示値Ｐ0 がディスプレー装
置３０にて表示される。
１１号にてこのような目的のために使用し得る光量測定
装置を提案した。この光量測定装置は、図５に概略示す
ように、透明ガラス管などとされる測定セル１に保持さ
れた被測定物である潤滑油２に発光ダイオードＬＥＤに
て光を照射し、測定セル１からの透過光がフォトダイオ
ードＰＤにて受光される。フォトダイオードＰＤからの
信号は、光量周波数変換回路１０に送信される。この光
量周波数変換回路１０は、フォトダイオードＰＤに入射
する光の光量に応じた周波数信号Ｆ0 を出力する。この
周波数信号のパルス数は、マイクロコンピュータ２０に
て計数され、そして演算処理されて、測定された潤滑油
の劣化度が算出され、その表示値Ｐ0 がディスプレー装
置３０にて表示される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記構成の光量測定装
置は、回路構成が簡単で、信頼性が高く且つ小型である
といった特長を有してはいるが、発光素子である発光ダ
イオードＬＥＤ、受光素子であるフォトダイオードＰＤ
などの各素子の特性が装置毎にばらつくことは避けられ
ない。又、装置の製造時の組み立て誤差などにより発生
する発光ダイオードＬＥＤ、測定セル１及びフォトダイ
オードＰＤからなる光学系の特性のばらつき、或は光量
周波数変換回路などの電子回路の特性のばらつきも発生
する。これら諸特性のばらつきは、結局は測定精度に影
響を与えることとなる。
置は、回路構成が簡単で、信頼性が高く且つ小型である
といった特長を有してはいるが、発光素子である発光ダ
イオードＬＥＤ、受光素子であるフォトダイオードＰＤ
などの各素子の特性が装置毎にばらつくことは避けられ
ない。又、装置の製造時の組み立て誤差などにより発生
する発光ダイオードＬＥＤ、測定セル１及びフォトダイ
オードＰＤからなる光学系の特性のばらつき、或は光量
周波数変換回路などの電子回路の特性のばらつきも発生
する。これら諸特性のばらつきは、結局は測定精度に影
響を与えることとなる。
【０００５】これら諸特性のばらつきをなくすべく、こ
れら諸特性をそれぞれ補正することは極めて煩雑であ
り、実際的ではない。又、電子回路にこのような補正を
なすための補正回路を設けることは困難であり、仮に実
現したとしても回路構成が非常に複雑となってしまう。
れら諸特性をそれぞれ補正することは極めて煩雑であ
り、実際的ではない。又、電子回路にこのような補正を
なすための補正回路を設けることは困難であり、仮に実
現したとしても回路構成が非常に複雑となってしまう。
【０００６】従って、本発明の目的は、信頼性が高く、
回路構成が簡単で、小型化、低価格化が容易な、補正機
能を備えた光量測定装置を提供することである。
回路構成が簡単で、小型化、低価格化が容易な、補正機
能を備えた光量測定装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的は本発明に係る
光量測定装置によって達成される。要約すれば、本発明
は、被測定物に光を照射する発光部と、被測定物からの
光を受光する受光部と、前記受光部に入射する前記被測
定物からの光の光量に応じた周波数信号（Ｆ0）を出力
する光量周波数変換手段と、前記光量周波数変換手段か
ら出力される周波数信号（Ｆ0 ）を演算し、光量に対応
する表示値信号（Ｐ0 ）を出力する演算制御手段と、を
有する光量測定装置において、前記演算制御手段は、前
記表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式（１）、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ （１） ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なうこと
を特徴とする光量測定装置である。
光量測定装置によって達成される。要約すれば、本発明
は、被測定物に光を照射する発光部と、被測定物からの
光を受光する受光部と、前記受光部に入射する前記被測
定物からの光の光量に応じた周波数信号（Ｆ0）を出力
する光量周波数変換手段と、前記光量周波数変換手段か
ら出力される周波数信号（Ｆ0 ）を演算し、光量に対応
する表示値信号（Ｐ0 ）を出力する演算制御手段と、を
有する光量測定装置において、前記演算制御手段は、前
記表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式（１）、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ （１） ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なうこと
を特徴とする光量測定装置である。
【０００８】本発明の好ましい実施態様によると、出力
する周波数Ｆα及びＦβが可変とされる第１及び第２の
発振手段を設け、この可変周波数Ｆα及びＦβと前記補
正量Ｇ及びＦが、Ｆ＝Ｋ1 ・Ｆα（Ｋ1 は定数）及びＧ
＝Ｋ2 ・Ｆβ（Ｋ2 は定数）となるように設定し、この
出力周波数信号Ｆα、Ｆβを調整することによって上記
演算式（１）中の前記補正量Ｆ及びＧを設定し、装置の
初期補正を行なう。好ましくは、前記第１及び第２の発
振手段は、インバータ素子と、このインバータ素子の帰
還回路に接続された可変抵抗器と、この可変抵抗器の電
気抵抗値との間でＣＲ発振回路を形成する静電容量素子
とを有し、それぞれ周波数Ｆα及びＦβを出力し、前記
可変抵抗器を操作することにより前記周波数Ｆα及びＦ
βを調整する。
する周波数Ｆα及びＦβが可変とされる第１及び第２の
発振手段を設け、この可変周波数Ｆα及びＦβと前記補
正量Ｇ及びＦが、Ｆ＝Ｋ1 ・Ｆα（Ｋ1 は定数）及びＧ
＝Ｋ2 ・Ｆβ（Ｋ2 は定数）となるように設定し、この
出力周波数信号Ｆα、Ｆβを調整することによって上記
演算式（１）中の前記補正量Ｆ及びＧを設定し、装置の
初期補正を行なう。好ましくは、前記第１及び第２の発
振手段は、インバータ素子と、このインバータ素子の帰
還回路に接続された可変抵抗器と、この可変抵抗器の電
気抵抗値との間でＣＲ発振回路を形成する静電容量素子
とを有し、それぞれ周波数Ｆα及びＦβを出力し、前記
可変抵抗器を操作することにより前記周波数Ｆα及びＦ
βを調整する。
【０００９】又、好ましくは、前記光量周波数変換手段
は、前記受光部を構成するフォトダイオードからの出力
電流によって充電されるコンデンサ、スイッチとして機
能するダイオード及びＣ−ＭＯＳ型のシュミットインバ
ータを有し、前記フォトダイオードと前記コンデンサは
電圧源と接地間に直列に接続され、前記フォトダイオー
ドとコンデンサとの接続点に前記シュミットインバータ
の入力が接続され、前記ダイオードは、前記シュミット
インバータの出力と入力間に前記フォトダイオードとは
逆極性で、抵抗を介して接続されて構成され、前記フォ
トダイオードに入射する前記被測定物からの光の光量に
応じた周波数信号を出力する。
は、前記受光部を構成するフォトダイオードからの出力
電流によって充電されるコンデンサ、スイッチとして機
能するダイオード及びＣ−ＭＯＳ型のシュミットインバ
ータを有し、前記フォトダイオードと前記コンデンサは
電圧源と接地間に直列に接続され、前記フォトダイオー
ドとコンデンサとの接続点に前記シュミットインバータ
の入力が接続され、前記ダイオードは、前記シュミット
インバータの出力と入力間に前記フォトダイオードとは
逆極性で、抵抗を介して接続されて構成され、前記フォ
トダイオードに入射する前記被測定物からの光の光量に
応じた周波数信号を出力する。
【００１０】
【実施例】以下、本発明に係る光量測定装置を実施例に
則して更に詳しく説明する。
則して更に詳しく説明する。
【００１１】図１に本発明の光量測定装置の一実施例を
示す。この光量測定装置は、図５を参照して説明したと
同様に、測定セル１の両側に対向配置して発光部ＬＥＤ
と受光部ＰＤが設置される。測定セル１に保持された被
測定物である潤滑油２には、発光部ＬＥＤからの光が照
射され、測定セル１からの透過光が受光部ＰＤにて受光
される。フォトダイオードＰＤからの信号Ｉp は、光量
周波数変換回路１０に送信され、この光量周波数変換回
路１０は、受光部ＰＤに入射する光量に応じた周波数信
号Ｆ0 を出力する。この周波数信号Ｆ0 のパルス数は、
演算制御手段であるマイクロコンピュータ２０にて計数
され、そして演算処理されて、測定された潤滑油の劣化
度が算出され、その表示値Ｐ0 がディスプレー装置３０
にて表示される。
示す。この光量測定装置は、図５を参照して説明したと
同様に、測定セル１の両側に対向配置して発光部ＬＥＤ
と受光部ＰＤが設置される。測定セル１に保持された被
測定物である潤滑油２には、発光部ＬＥＤからの光が照
射され、測定セル１からの透過光が受光部ＰＤにて受光
される。フォトダイオードＰＤからの信号Ｉp は、光量
周波数変換回路１０に送信され、この光量周波数変換回
路１０は、受光部ＰＤに入射する光量に応じた周波数信
号Ｆ0 を出力する。この周波数信号Ｆ0 のパルス数は、
演算制御手段であるマイクロコンピュータ２０にて計数
され、そして演算処理されて、測定された潤滑油の劣化
度が算出され、その表示値Ｐ0 がディスプレー装置３０
にて表示される。
【００１２】図２及び図３を参照して、更に説明する
と、本発明の光量測定装置は、受光部を構成する光検出
素子であるフォトダイオードＰＤと静電容量型の負荷で
ある静電容量素子（コンデンサ）Ｃとスイッチとして機
能するダイオードＤ１とインバータ素子、即ち、Ｃ−Ｍ
ＯＳ型の第１のシュミットインバータ１１とで光量周波
数変換回路１０を構成しており、ダイオードＤ１は、第
１のシュミットインバータ１１の出力と入力間にフォト
ダイオードＰＤとは逆極性で、抵抗Ｒ１を介して接続さ
れ、また、フォトダイオードＰＤとコンデンサＣは所定
の電圧源と接地間に直列に接続され、それらの接続点が
第１のシュミットインバータ１１の入力に接続されてい
る。
と、本発明の光量測定装置は、受光部を構成する光検出
素子であるフォトダイオードＰＤと静電容量型の負荷で
ある静電容量素子（コンデンサ）Ｃとスイッチとして機
能するダイオードＤ１とインバータ素子、即ち、Ｃ−Ｍ
ＯＳ型の第１のシュミットインバータ１１とで光量周波
数変換回路１０を構成しており、ダイオードＤ１は、第
１のシュミットインバータ１１の出力と入力間にフォト
ダイオードＰＤとは逆極性で、抵抗Ｒ１を介して接続さ
れ、また、フォトダイオードＰＤとコンデンサＣは所定
の電圧源と接地間に直列に接続され、それらの接続点が
第１のシュミットインバータ１１の入力に接続されてい
る。
【００１３】一方、光源としての発光ダイオード（ＬＥ
Ｄ）１３は所定の電圧源と接地間にスイッチングトラン
ジスタ１４を直列に介して接続されており、このトラン
ジスタ１４がオンのときに発光して光透過性のセル１５
内に存在する潤滑油のような被測定物１６に光を照射す
る。この被測定物１６を透過した光はフォトダイオード
ＰＤに入射し、従って、入射光の照度又は光量に比例し
た電流ＩP がフォトダイオードＰＤに流れる。
Ｄ）１３は所定の電圧源と接地間にスイッチングトラン
ジスタ１４を直列に介して接続されており、このトラン
ジスタ１４がオンのときに発光して光透過性のセル１５
内に存在する潤滑油のような被測定物１６に光を照射す
る。この被測定物１６を透過した光はフォトダイオード
ＰＤに入射し、従って、入射光の照度又は光量に比例し
た電流ＩP がフォトダイオードＰＤに流れる。
【００１４】フォトダイオードＰＤを流れる電流ＩP は
コンデンサＣに蓄積され、電圧ＶCに変換される。この
コンデンサＣに蓄積される電圧ＶC は第１のシュミット
インバータ１１でパルス信号に変換される。第１のシュ
ミットインバータ１１は高レベルのスレッショルド電圧
ＶTHと低レベルのスレッショルド電圧ＶTLの２つのスレ
ッショルド電圧を有し、入力電圧が高レベルのスレッシ
ョルド電圧ＶTHより低いときには高レベルの出力電圧Ｖ
H を発生し、また、入力電圧が高レベルのスレッショル
ド電圧ＶTHに達すると出力電圧が高レベルＶH から低レ
ベルＶL に切換わり、そして入力電圧が低レベルのスレ
ッショルド電圧ＶTLに降下するまで低レベルの出力電圧
ＶL を保持し、入力電圧が低レベルのスレッショルド電
圧ＶTLに降下したときに出力電圧が低レベルＶL から高
レベルＶH に切換わるように動作する。従って、フォト
ダイオードＰＤに光が入射せず、電流ＩP が流れないと
きには、即ち、コンデンサＣに電荷が蓄積されないとき
には、その出力電圧は高レベルＶH であり、また、コン
デンサＣの充電電圧ＶC が高レベルのスレッショルド電
圧ＶTHに等しくなると、シュミットインバータ１１の出
力電圧は高レベルから低レベルＶL に切換わる。さら
に、コンデンサＣの蓄積電荷が放電によりシュミットイ
ンバータ１１の低レベルのスレッショルド電圧ＶTLにま
で低下すると、シュミットインバータ１１の出力電圧は
低レベルＶL から高レベルＶH に切換わる。従って、第
１のシュミットインバータ１１からはコンデンサＣの充
放電に対応した周期のパルス電圧が出力され、かくして
フォトダイオードＰＤに入射する光の光量（照度）が周
波数信号に変換されることになる。
コンデンサＣに蓄積され、電圧ＶCに変換される。この
コンデンサＣに蓄積される電圧ＶC は第１のシュミット
インバータ１１でパルス信号に変換される。第１のシュ
ミットインバータ１１は高レベルのスレッショルド電圧
ＶTHと低レベルのスレッショルド電圧ＶTLの２つのスレ
ッショルド電圧を有し、入力電圧が高レベルのスレッシ
ョルド電圧ＶTHより低いときには高レベルの出力電圧Ｖ
H を発生し、また、入力電圧が高レベルのスレッショル
ド電圧ＶTHに達すると出力電圧が高レベルＶH から低レ
ベルＶL に切換わり、そして入力電圧が低レベルのスレ
ッショルド電圧ＶTLに降下するまで低レベルの出力電圧
ＶL を保持し、入力電圧が低レベルのスレッショルド電
圧ＶTLに降下したときに出力電圧が低レベルＶL から高
レベルＶH に切換わるように動作する。従って、フォト
ダイオードＰＤに光が入射せず、電流ＩP が流れないと
きには、即ち、コンデンサＣに電荷が蓄積されないとき
には、その出力電圧は高レベルＶH であり、また、コン
デンサＣの充電電圧ＶC が高レベルのスレッショルド電
圧ＶTHに等しくなると、シュミットインバータ１１の出
力電圧は高レベルから低レベルＶL に切換わる。さら
に、コンデンサＣの蓄積電荷が放電によりシュミットイ
ンバータ１１の低レベルのスレッショルド電圧ＶTLにま
で低下すると、シュミットインバータ１１の出力電圧は
低レベルＶL から高レベルＶH に切換わる。従って、第
１のシュミットインバータ１１からはコンデンサＣの充
放電に対応した周期のパルス電圧が出力され、かくして
フォトダイオードＰＤに入射する光の光量（照度）が周
波数信号に変換されることになる。
【００１５】上記構成において、フォトダイオードＰＤ
に電流が流れず、従って、コンデンサＣに電荷が蓄積さ
れない初期状態においては、第１のシュミットインバー
タ１１の出力電圧は高レベルＶH にあるから、ダイオー
ドＤ１は逆方向にバイアスされ、スイッチオフと同じ機
能をなす。それ故、抵抗Ｒ１には電流が流れず、コンデ
ンサＣは充電可能状態にある。光量の測定が開始され、
フォトダイオードＰＤに被測定光が入射すると、この入
射光の照度又は光量に比例した電流ＩP がフォトダイオ
ードＰＤに流れる。この電流ＩP はコンデンサＣに蓄積
され、電圧ＶCに変換される。このコンデンサＣの充電
電圧ＶC が第１のシュミットインバータ１１の高レベル
のスレッショルド電圧ＶTHに達すると、このシュミット
インバータ１１の出力電圧は高レベルＶH から低レベル
ＶL に切換わる。これによってダイオードＤ１は順方向
にバイアスされ、スイッチオンと同じ機能をなすから、
コンデンサＣの充電電圧ＶC 及びフォトダイオードＰＤ
の出力電流ＩP は抵抗Ｒ１及びダイオードＤ１を介して
流れ、コンデンサＣの充電電圧は放電される。放電によ
ってコンデンサＣの充電電圧ＶC がシュミットインバー
タ１１の低レベルスレッショルド電圧ＶTLにまで降下す
ると、シュミットインバータ１１の出力電圧は低レベル
ＶL から高レベルＶH に切換わる。これによってダイオ
ードＤ１は再び逆バイアスされてオフ状態となるから、
コンデンサＣに充電電流が流れる。以下、同様の動作が
繰り返される結果、第１のシュミットインバータ１１の
出力電圧、即ち、光量周波数変換回路１０からの出力電
圧Ｖ1 は、図３に示すように、コンデンサＣの充放電周
期に対応する周波数のパルス波形となる。
に電流が流れず、従って、コンデンサＣに電荷が蓄積さ
れない初期状態においては、第１のシュミットインバー
タ１１の出力電圧は高レベルＶH にあるから、ダイオー
ドＤ１は逆方向にバイアスされ、スイッチオフと同じ機
能をなす。それ故、抵抗Ｒ１には電流が流れず、コンデ
ンサＣは充電可能状態にある。光量の測定が開始され、
フォトダイオードＰＤに被測定光が入射すると、この入
射光の照度又は光量に比例した電流ＩP がフォトダイオ
ードＰＤに流れる。この電流ＩP はコンデンサＣに蓄積
され、電圧ＶCに変換される。このコンデンサＣの充電
電圧ＶC が第１のシュミットインバータ１１の高レベル
のスレッショルド電圧ＶTHに達すると、このシュミット
インバータ１１の出力電圧は高レベルＶH から低レベル
ＶL に切換わる。これによってダイオードＤ１は順方向
にバイアスされ、スイッチオンと同じ機能をなすから、
コンデンサＣの充電電圧ＶC 及びフォトダイオードＰＤ
の出力電流ＩP は抵抗Ｒ１及びダイオードＤ１を介して
流れ、コンデンサＣの充電電圧は放電される。放電によ
ってコンデンサＣの充電電圧ＶC がシュミットインバー
タ１１の低レベルスレッショルド電圧ＶTLにまで降下す
ると、シュミットインバータ１１の出力電圧は低レベル
ＶL から高レベルＶH に切換わる。これによってダイオ
ードＤ１は再び逆バイアスされてオフ状態となるから、
コンデンサＣに充電電流が流れる。以下、同様の動作が
繰り返される結果、第１のシュミットインバータ１１の
出力電圧、即ち、光量周波数変換回路１０からの出力電
圧Ｖ1 は、図３に示すように、コンデンサＣの充放電周
期に対応する周波数のパルス波形となる。
【００１６】この第１のシュミットインバータ１１の出
力電圧Ｖ1 は、本実施例では、第１のシュミットインバ
ータ１１と同じＣ−ＭＯＳ型の第２のシュミットインバ
ータ１２に供給される。この第２のシュミットインバー
タ１２も高レベルのスレッショルド電圧ＶTHと低レベル
のスレッショルド電圧ＶTLの２つのスレッショルド電圧
を有し、同様に動作する。即ち、第１のシュミットイン
バータ１１から高レベルの電圧信号ＶH が入力されてい
るときには低レベルの電圧出力ＶL を発生し、低レベル
の電圧信号ＶL が入力されているときには高レベルの電
圧出力ＶH を発生する。従って、第２のシュミットイン
バータ１２からは第１のシュミットインバータ１１のパ
ルス波形を反転した同じ周波数Ｆ0 の出力電圧が発生さ
れ、演算制御手段であるマイクロコンピュータ２０に供
給される。
力電圧Ｖ1 は、本実施例では、第１のシュミットインバ
ータ１１と同じＣ−ＭＯＳ型の第２のシュミットインバ
ータ１２に供給される。この第２のシュミットインバー
タ１２も高レベルのスレッショルド電圧ＶTHと低レベル
のスレッショルド電圧ＶTLの２つのスレッショルド電圧
を有し、同様に動作する。即ち、第１のシュミットイン
バータ１１から高レベルの電圧信号ＶH が入力されてい
るときには低レベルの電圧出力ＶL を発生し、低レベル
の電圧信号ＶL が入力されているときには高レベルの電
圧出力ＶH を発生する。従って、第２のシュミットイン
バータ１２からは第１のシュミットインバータ１１のパ
ルス波形を反転した同じ周波数Ｆ0 の出力電圧が発生さ
れ、演算制御手段であるマイクロコンピュータ２０に供
給される。
【００１７】マイクロコンピュータ２０は光量周波数変
換回路１０から第２のシュミットインバータ１２を通じ
て入力される周波数信号Ｆ0 のパルス数を計数するカウ
ンタ部２１と、フォトダイオードＰＤ及び変換回路の入
出力特性の演算処理プログラムを記憶しているＲＯＭ
（リード・オンリー・メモリ）を含む記憶部２２と、カ
ウンタ部２１で計数された一定時間内のパルス数から、
記憶部２２のプログラムに従ってフォトダイオードＰＤ
の出力電流の大きさを検出し、照度又は光量を算出する
演算処理部２３とから構成されており、かくして、フォ
トダイオードＰＤに入射する光の照度又は光量を求め、
潤滑油の劣化度表示値Ｐ0 として出力され、ディスプレ
ー装置３０にて表示される。
換回路１０から第２のシュミットインバータ１２を通じ
て入力される周波数信号Ｆ0 のパルス数を計数するカウ
ンタ部２１と、フォトダイオードＰＤ及び変換回路の入
出力特性の演算処理プログラムを記憶しているＲＯＭ
（リード・オンリー・メモリ）を含む記憶部２２と、カ
ウンタ部２１で計数された一定時間内のパルス数から、
記憶部２２のプログラムに従ってフォトダイオードＰＤ
の出力電流の大きさを検出し、照度又は光量を算出する
演算処理部２３とから構成されており、かくして、フォ
トダイオードＰＤに入射する光の照度又は光量を求め、
潤滑油の劣化度表示値Ｐ0 として出力され、ディスプレ
ー装置３０にて表示される。
【００１８】更に、本発明に従えば、上記マイクロコン
ピュータ２０には補正機能が設けられ、補正回路５０か
らマイクロコンピュータ２０へと補正量Ｆα、Ｆβが入
力される。この補正量Ｆα、Ｆβを出力する補正回路５
０については、後で詳しく説明する。
ピュータ２０には補正機能が設けられ、補正回路５０か
らマイクロコンピュータ２０へと補正量Ｆα、Ｆβが入
力される。この補正量Ｆα、Ｆβを出力する補正回路５
０については、後で詳しく説明する。
【００１９】今、発光ダイオードＬＥＤの光の強度（放
射照度）をＬ0 とし、フォトダイオードに入射する光の
強度（受光照度）をＬとすると、測定セル１に保持され
た潤滑油２による吸光度は、 吸光度＝ｌｏｇ（Ｌ／Ｌ0 ）＝−ｋｃｄ （１） で定義される。ここで、ｋは吸光係数であり、ｃは油の
劣化度であり、ｄは発光部ＬＥＤから受光部ＰＤに至る
光の通路における測定セル１内の距離、即ち、光路長で
ある。
射照度）をＬ0 とし、フォトダイオードに入射する光の
強度（受光照度）をＬとすると、測定セル１に保持され
た潤滑油２による吸光度は、 吸光度＝ｌｏｇ（Ｌ／Ｌ0 ）＝−ｋｃｄ （１） で定義される。ここで、ｋは吸光係数であり、ｃは油の
劣化度であり、ｄは発光部ＬＥＤから受光部ＰＤに至る
光の通路における測定セル１内の距離、即ち、光路長で
ある。
【００２０】又、このときフォトダイオードＰＤに出力
電流Ｉp が流れたとすると、 ｌｏｇＬ＝ＡｌｏｇＩp ＋Ｂ （２） で表され、Ａ、Ｂは定数である。
電流Ｉp が流れたとすると、 ｌｏｇＬ＝ＡｌｏｇＩp ＋Ｂ （２） で表され、Ａ、Ｂは定数である。
【００２１】更に、光量周波数変換回路１０から出力さ
れる周波数Ｆ0 と、前記電流Ｉp との関係は、 ｌｏｇＩp ＝ＣｌｏｇＦ0 ＋Ｄ （３） で表され、Ｃ、Ｄは定数である。
れる周波数Ｆ0 と、前記電流Ｉp との関係は、 ｌｏｇＩp ＝ＣｌｏｇＦ0 ＋Ｄ （３） で表され、Ｃ、Ｄは定数である。
【００２２】従って、上記式（１）、（２）、（３）か
ら、油の劣化度ｃと出力周波数Ｆ0との間には、 ｃ＝αｌｏｇＦ0 ＋β （４） が成り立つことが分かる。 ここで、α＝−ＡＣ／ｋｄ β＝（ｌｏｇＬ0 −ＡＤ−Ｂ）／ｋｄ である。
ら、油の劣化度ｃと出力周波数Ｆ0との間には、 ｃ＝αｌｏｇＦ0 ＋β （４） が成り立つことが分かる。 ここで、α＝−ＡＣ／ｋｄ β＝（ｌｏｇＬ0 −ＡＤ−Ｂ）／ｋｄ である。
【００２３】上記各式にて、前記定数Ａ、Ｂは受光素子
ＰＤの特性を規定しており、素子毎にばらつく。又、定
数Ｃ、Ｄは光量周波数変換回路１０の特性を規定してお
り、同様に、各回路毎に異なる。更に、Ｌ0 は発光素子
ＬＥＤの特性を、ｋ、ｄは光学系の特性を規定し、これ
らの値もばらつく。
ＰＤの特性を規定しており、素子毎にばらつく。又、定
数Ｃ、Ｄは光量周波数変換回路１０の特性を規定してお
り、同様に、各回路毎に異なる。更に、Ｌ0 は発光素子
ＬＥＤの特性を、ｋ、ｄは光学系の特性を規定し、これ
らの値もばらつく。
【００２４】上記各定数のばらつきに対してそれぞれ補
正することは実際上極めて困難であるので、式（４）の
定数α、βに対して一括の補正を行なう。
正することは実際上極めて困難であるので、式（４）の
定数α、βに対して一括の補正を行なう。
【００２５】即ち、ばらつきを△α、△βとし、補正量
を△αｃ、△βｃとすると、劣化度ｃと出力周波数Ｆ0
との関係は、 ｃ＝（α＋△α−△αｃ）ｌｏｇＦ0 ＋（β＋△β−△βｃ）（５） となる。
を△αｃ、△βｃとすると、劣化度ｃと出力周波数Ｆ0
との関係は、 ｃ＝（α＋△α−△αｃ）ｌｏｇＦ0 ＋（β＋△β−△βｃ）（５） となる。
【００２６】従って、補正量△αｃ、△βｃを調整する
ことによって、 △αｃ＝△α △βｃ＝△β とすると、上記式（５）は式（４）と等しくなり、ばら
つきのない特性が得られる。本発明は斯かる原理に基づ
くものである。
ことによって、 △αｃ＝△α △βｃ＝△β とすると、上記式（５）は式（４）と等しくなり、ばら
つきのない特性が得られる。本発明は斯かる原理に基づ
くものである。
【００２７】しかしながら、現実として、光量周波数変
換回路１０にこのような補正回路を設けることは困難で
ある。仮に実現したとしても、回路構成が非常に複雑と
なってしまう。
換回路１０にこのような補正回路を設けることは困難で
ある。仮に実現したとしても、回路構成が非常に複雑と
なってしまう。
【００２８】本発明者らは、本発明の上記構成とされる
光量測定装置を潤滑油の劣化検出装置として使用した場
合に、潤滑油の劣化度と吸光度との関係を調べた。その
結果が図４に示される。
光量測定装置を潤滑油の劣化検出装置として使用した場
合に、潤滑油の劣化度と吸光度との関係を調べた。その
結果が図４に示される。
【００２９】図４から理解されるように、例えば発光ダ
イオードＬＥＤの波長が４００〜５７０ｎｍの範囲のも
ので、測定セル５の光路長ｄが１〜５ｍｍとされる構成
の光学系を使用した場合には、例えば、吸光度が０．５
〜２．５の範囲においては、吸光度と劣化度との間に実
質的に直線関係が成立することを見出した。
イオードＬＥＤの波長が４００〜５７０ｎｍの範囲のも
ので、測定セル５の光路長ｄが１〜５ｍｍとされる構成
の光学系を使用した場合には、例えば、吸光度が０．５
〜２．５の範囲においては、吸光度と劣化度との間に実
質的に直線関係が成立することを見出した。
【００３０】従って、本実施例では、図４に示すよう
に、上記構成の光量測定装置にて、吸光度０．８で表示
値（Ｐ0 ）１３０、吸光度１．７で表示値（Ｐ0 ）２０
０を表示するように設定した。
に、上記構成の光量測定装置にて、吸光度０．８で表示
値（Ｐ0 ）１３０、吸光度１．７で表示値（Ｐ0 ）２０
０を表示するように設定した。
【００３１】しかしながら、上述したように、諸々の要
因により、吸光度と劣化度との関係を示す特性曲線は、
装置毎にその傾斜が異なる。従って、本実施例では、各
装置の特性曲線を、上述のように、吸光度０．８で表示
値（Ｐ0 ）１３０を、且つ吸光度１．７で表示値（Ｐ
0 ）２００を通るような傾斜へと調整する必要がある。
因により、吸光度と劣化度との関係を示す特性曲線は、
装置毎にその傾斜が異なる。従って、本実施例では、各
装置の特性曲線を、上述のように、吸光度０．８で表示
値（Ｐ0 ）１３０を、且つ吸光度１．７で表示値（Ｐ
0 ）２００を通るような傾斜へと調整する必要がある。
【００３２】そこで、本発明によれば、周波数信号Ｆ0
を基にマイクロコンピュータ２０にて計数し、演算処理
され、ディスプレー装置３０にて表示される潤滑油の劣
化度を示す表示値Ｐ0 を、次の演算を行なうことによっ
て補正することとした。
を基にマイクロコンピュータ２０にて計数し、演算処理
され、ディスプレー装置３０にて表示される潤滑油の劣
化度を示す表示値Ｐ0 を、次の演算を行なうことによっ
て補正することとした。
【００３３】 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ （６） ここで、Ｘ、Ｙは、使用目的の装置の種類によって決ま
る定数であり、潤滑油の劣化度を測定する本実施例の光
量測定装置では、Ｘは４０、Ｙは１３０とした。即ち、
式（６）は、次のように表される。
る定数であり、潤滑油の劣化度を測定する本実施例の光
量測定装置では、Ｘは４０、Ｙは１３０とした。即ち、
式（６）は、次のように表される。
【００３４】 Ｐ0 ＝Ｇ（４０ｌｏｇＦ0 −Ｆ−１３０）＋１３０ （７） 又、上記Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値である。
で、Ｆはオフセット調整値である。
【００３５】つまり、補正をなすに際しては、先ず、吸
光度の低い方の標準油、例えば吸光度０．８の油を測定
セル１内に導入し、ＬＣＤディスプレイ装置３０の表示
値Ｐ0 が１３０となるように、補正量Ｆを設定する。こ
れにより、例えば、図４の特性曲線１を特性曲線２のよ
うに平行移動させる（オフセット調整）。
光度の低い方の標準油、例えば吸光度０．８の油を測定
セル１内に導入し、ＬＣＤディスプレイ装置３０の表示
値Ｐ0 が１３０となるように、補正量Ｆを設定する。こ
れにより、例えば、図４の特性曲線１を特性曲線２のよ
うに平行移動させる（オフセット調整）。
【００３６】次に、吸光度の高い方の標準油、例えば吸
光度１．７の油を測定セル１内に導入し、ＬＣＤディス
プレイ装置３０の表示値Ｐ0 が２００となるように、補
正量Ｇを設定する。これにより、例えば、図４の特性曲
線２を特性曲線３のように回転させる（ゲイン調整）。
光度１．７の油を測定セル１内に導入し、ＬＣＤディス
プレイ装置３０の表示値Ｐ0 が２００となるように、補
正量Ｇを設定する。これにより、例えば、図４の特性曲
線２を特性曲線３のように回転させる（ゲイン調整）。
【００３７】このような操作を交互に数回行なうことに
よって、最初の特性曲線１が、所望の特性曲線となるよ
うに、つまり、吸光度０．８で表示値１３０、吸光度
１．７で表示値２００を表示するように校正することが
できる。
よって、最初の特性曲線１が、所望の特性曲線となるよ
うに、つまり、吸光度０．８で表示値１３０、吸光度
１．７で表示値２００を表示するように校正することが
できる。
【００３８】本発明によれば、このような補正を行なう
ために、図１に示すように、補正回路５０が設けられ
る。
ために、図１に示すように、補正回路５０が設けられ
る。
【００３９】本実施例で補正回路５０は、発振回路５０
Ａ、５０Ｂにて構成される。発振回路５０Ａ、５０Ｂは
同様の構成とされ、Ｃ−ＭＯＳシュミットインバータの
ようなインバータ素子５１Ａ、５１Ｂと、このインバー
タ素子５１Ａ、５１Ｂの帰還回路に接続された可変抵抗
器（ボリューム）５２Ａ、５２Ｂと、この可変抵抗器５
２Ａ、５２Ｂの電気抵抗値との間でＣＲ時定数回路即ち
ＣＲ発振回路を形成するコンデンサ５３Ａ、５３Ｂとに
て構成され、それぞれ周波数Ｆα、Ｆβを出力する。こ
のＣＲ発振回路５０Ａ、５０Ｂの作動は先に説明した光
量周波数変換回路１０と同様である。周波数Ｆα、Ｆβ
は、ボリューム５２Ａ、５２Ｂにより種々に変えること
ができる。この出力信号Ｆα、Ｆβが、マイクロコンピ
ュータ２０の演算部の上記式（６）、本実施例では式
（７）に入力される。ここで、 Ｆ＝Ｋ1 ・Ｆα Ｇ＝Ｋ2 ・Ｆβ と設定される。Ｋ1 、Ｋ2 は定数である。
Ａ、５０Ｂにて構成される。発振回路５０Ａ、５０Ｂは
同様の構成とされ、Ｃ−ＭＯＳシュミットインバータの
ようなインバータ素子５１Ａ、５１Ｂと、このインバー
タ素子５１Ａ、５１Ｂの帰還回路に接続された可変抵抗
器（ボリューム）５２Ａ、５２Ｂと、この可変抵抗器５
２Ａ、５２Ｂの電気抵抗値との間でＣＲ時定数回路即ち
ＣＲ発振回路を形成するコンデンサ５３Ａ、５３Ｂとに
て構成され、それぞれ周波数Ｆα、Ｆβを出力する。こ
のＣＲ発振回路５０Ａ、５０Ｂの作動は先に説明した光
量周波数変換回路１０と同様である。周波数Ｆα、Ｆβ
は、ボリューム５２Ａ、５２Ｂにより種々に変えること
ができる。この出力信号Ｆα、Ｆβが、マイクロコンピ
ュータ２０の演算部の上記式（６）、本実施例では式
（７）に入力される。ここで、 Ｆ＝Ｋ1 ・Ｆα Ｇ＝Ｋ2 ・Ｆβ と設定される。Ｋ1 、Ｋ2 は定数である。
【００４０】つまり、本発明では、単に補正回路５０の
２つのボリューム５２Ａ、５２Ｂを交互に操作すること
によって、測定開始に際してのオフセット調整及びゲイ
ン調整を行なって、光量測定装置に使用された各素子、
電子回路などに起因したばらつきを補正することがで
き、高精度にて、例えば潤滑油の劣化度などを検出する
ことができる。
２つのボリューム５２Ａ、５２Ｂを交互に操作すること
によって、測定開始に際してのオフセット調整及びゲイ
ン調整を行なって、光量測定装置に使用された各素子、
電子回路などに起因したばらつきを補正することがで
き、高精度にて、例えば潤滑油の劣化度などを検出する
ことができる。
【００４１】上記実施例では本発明による光量測定装置
を自動車のエンジンオイル或は自動変速機用オイル等の
潤滑油の汚れ或は劣化を計測する場合に適用したが、光
源からの光を透過する種々のオイルの汚れ或は劣化やオ
イル以外の光が透過し得る液体、気体等の汚れ或は劣化
を計測する場合にも本発明が適用できるし、また、光源
からの光を反射する被測定物からの反射光の光量を計測
する場合にも本発明は適用できるものである。
を自動車のエンジンオイル或は自動変速機用オイル等の
潤滑油の汚れ或は劣化を計測する場合に適用したが、光
源からの光を透過する種々のオイルの汚れ或は劣化やオ
イル以外の光が透過し得る液体、気体等の汚れ或は劣化
を計測する場合にも本発明が適用できるし、また、光源
からの光を反射する被測定物からの反射光の光量を計測
する場合にも本発明は適用できるものである。
【００４２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による光量
測定装置は、被測定物に光を照射する発光部と、被測定
物からの光を受光する受光部と、前記受光部に入射する
前記被測定物からの光の光量に応じた周波数信号（Ｆ
0 ）を出力する光量周波数変換手段と、前記光量周波数
変換手段から出力される周波数信号（Ｆ0 ）を演算し、
光量に対応する表示値信号（Ｐ0 ）を出力する演算制御
手段と、を有する光量測定装置であって、特に、前記演
算制御手段は、前記表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式
（１）、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ （１） ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なう構成
とされるために、信頼性が高く、回路構成が簡単で、小
型化、低価格化が容易であるという特長を有する。
測定装置は、被測定物に光を照射する発光部と、被測定
物からの光を受光する受光部と、前記受光部に入射する
前記被測定物からの光の光量に応じた周波数信号（Ｆ
0 ）を出力する光量周波数変換手段と、前記光量周波数
変換手段から出力される周波数信号（Ｆ0 ）を演算し、
光量に対応する表示値信号（Ｐ0 ）を出力する演算制御
手段と、を有する光量測定装置であって、特に、前記演
算制御手段は、前記表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式
（１）、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ （１） ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なう構成
とされるために、信頼性が高く、回路構成が簡単で、小
型化、低価格化が容易であるという特長を有する。
【図１】本発明による光量測定装置の概略構成図であ
る。
る。
【図２】本発明による光量測定装置に使用される一実施
例の回路構成図である。
例の回路構成図である。
【図３】図２の光量測定装置に使用されているシュミッ
トインバータの電圧出力を示す波形図である。
トインバータの電圧出力を示す波形図である。
【図４】本発明の光量測定装置にて実施される補正操作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図５】従来の光量測定装置の一例を示す構成図であ
る。
る。
１ 測定セル ２ 被測定物（潤滑油） １０ 光量周波数変換回路 １１、１２ シュミットインバータ １３ ＬＥＤ（発光ダイオード） １４ スイッチングトランジスタ １５ 光透過性セル １６ 被測定物 ２０ マイクロコンピュータ ２１ カウンタ部 ２２ 記憶部 ２３ 演算処理部 ３０ ディスプレ装置 ５０ 補正回路 ５０Ａ、５０Ｂ ＣＲ発振回路 ５１Ａ、５１Ｂ インバータ素子（Ｃ−ＭＯＳシュミ
ットインバータ） ５２Ａ、５２Ｂ 可変抵抗器（ボリューム） ５３Ａ、５３Ｂ コンデンサ
ットインバータ） ５２Ａ、５２Ｂ 可変抵抗器（ボリューム） ５３Ａ、５３Ｂ コンデンサ
Claims (4)
- 【請求項１】 被測定物に光を照射する発光部と、被測
定物からの光を受光する受光部と、前記受光部に入射す
る前記被測定物からの光の光量に応じた周波数信号（Ｆ
0 ）を出力する光量周波数変換手段と、前記光量周波数
変換手段から出力される周波数信号（Ｆ0 ）を演算し、
光量に対応する表示値信号（Ｐ0 ）を出力する演算制御
手段と、を有する光量測定装置において、前記演算制御
手段は、前記表示値信号（Ｐ0 ）を、次の式（１）、 Ｐ0 ＝Ｇ（ＸｌｏｇＦ0 −Ｆ−Ｙ）＋Ｙ （１） ここで、Ｇ、Ｆは補正量であって、Ｇはゲイン調整値
で、Ｆはオフセット調整値、Ｘ、Ｙは装置によって決ま
る定数、に基づき演算し、装置の初期補正を行なうこと
を特徴とする光量測定装置。 - 【請求項２】 出力する周波数Ｆα及びＦβが可変とさ
れる第１及び第２の発振手段を設け、この可変周波数Ｆ
α及びＦβと前記補正量Ｇ及びＦが、Ｆ＝Ｋ1 ・Ｆα
（Ｋ1 は定数）及びＧ＝Ｋ2 ・Ｆβ（Ｋ2 は定数）とな
るように設定し、この出力周波数信号Ｆα、Ｆβを調整
することによって上記演算式（１）中の前記補正量Ｆ及
びＧを設定し、装置の初期補正を行なうことを特徴とす
る請求項１の光量測定装置。 - 【請求項３】 前記第１及び第２の発振手段は、インバ
ータ素子と、このインバータ素子の帰還回路に接続され
た可変抵抗器と、この可変抵抗器の電気抵抗値との間で
ＣＲ発振回路を形成する静電容量素子とを有し、それぞ
れ周波数Ｆα及びＦβを出力し、前記可変抵抗器を操作
することにより前記周波数Ｆα及びＦβを調整とする請
求項２の光量測定装置。 - 【請求項４】 前記光量周波数変換手段は、前記受光部
を構成するフォトダイオードからの出力電流によって充
電されるコンデンサ、スイッチとして機能するダイオー
ド及びＣ−ＭＯＳ型のシュミットインバータを有し、前
記フォトダイオードと前記コンデンサは電圧源と接地間
に直列に接続され、前記フォトダイオードとコンデンサ
との接続点に前記シュミットインバータの入力が接続さ
れ、前記ダイオードは、前記シュミットインバータの出
力と入力間に前記フォトダイオードとは逆極性で、抵抗
を介して接続されて構成され、前記フォトダイオードに
入射する前記被測定物からの光の光量に応じた周波数信
号を出力することを特徴とする請求項１、２又は３の光
量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17820095A JPH095158A (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 光量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17820095A JPH095158A (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 光量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH095158A true JPH095158A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=16044337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17820095A Pending JPH095158A (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 光量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH095158A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104779325A (zh) * | 2014-01-10 | 2015-07-15 | 先进科技新加坡有限公司 | Led测试流程和为此的修正方法 |
-
1995
- 1995-06-21 JP JP17820095A patent/JPH095158A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104779325A (zh) * | 2014-01-10 | 2015-07-15 | 先进科技新加坡有限公司 | Led测试流程和为此的修正方法 |
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