JPH0954070A - 超音波映像装置の映像作成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 副走査方向の最適な送りピッチの設定を容易
に行い、適切な精度を有する測定映像を得、映像作成時
間を短縮する。 【解決手段】 プローブ11を主走査方向と副走査方向に
交互に送り、エコー信号に基づいて主走査方向での測定
データを取得し、初期状態では副走査方向の送りピッチ
を主走査方向のサンプリングピッチに対し大きく設定し
て映像を作成・表示し、次に初期映像の精度が所定条件
を満たすか否かを判断し、初期映像の精度が条件を満た
さない場合には、送りピッチを初期送りピッチよりも小
さく設定して次の走査動作を行い次の映像を作成・表示
する。その後前記条件を満たすまで送りピッチを漸次小
さくしてさらなる次の走査動作および映像の表示を繰り
返す。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は超音波映像装置の映
像作成方法に関し、特に、プローブの走査動作で副走査
方向の送りピッチの設定を容易化し、かつ高精度の映像
を短時間で作成できる超音波映像装置の映像作成方法に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の機械走査式超音波映像装置では、
一般的に図７に示すように、例えば平板形状の被検体７
１の上で、矩形の観察領域を形成するようにプローブ
（超音波探触子）７２が走査動作（二次元走査や円筒面
的走査）を行うことにより、観察領域の映像を作成する
ためのデータを集める。プローブ７２の先部からは超音
波７３が出射され、また被検体７１の観察領域から反射
されたエコー超音波がプローブ７２の先部に入射され
る。図７で、７４はプローブ７２から出射された集束ビ
ーム状態の超音波７３の照射点の走査軌跡を示す。プロ
ーブ７２は、図示しない走査機構によって走査動作を行
う。プローブ７２による走査動作は、走査軌跡７４から
明らかなように、方向Ａで示す主走査方向の動き（主走
査動作）と、方向Ｂで示す副走査方向の動き（副走査動
作）とからなる。主走査方向Ａの動きでは所定のサンプ
リングピッチでプローブ７２を動かして一定の間隔で測
定データを取得し（サンプリング動作）、副走査方向Ｂ
の動きでは予め設定された送りピッチでプローブ７２を
送る。かかる主走査方向Ａの動きと副走査方向Ｂの動き
が交互に行われることにより、ジグザグの走査軌跡７４
が形成され、全体として矩形の観察領域が形成される。

【０００３】映像を作成するデータを得るための上記走
査動作において、主走査動作の１ライン中のサンプリン
グ数は映像作成に要する時間（映像化時間）にほとんど
影響を与えない。これに対して、主走査動作のライン
数、すなわち副走査動作の送りピッチの大きさは映像化
時間に大きな影響を与える。そこで従来では、短時間
で、かつ或る程度解像度の高い映像を得るため、主走査
動作のサンプリングピッチを細かくし、副走査動作の送
りピッチを粗くすることにより各走査ラインに関して走
査を行い、測定した走査ラインの間の部分の映像化する
ためのデータは補間演算によって求め、これを補間表示
するという構成が提案されている（特開平３−１７００
４８号）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の機械走査式超音
波映像装置に関し、映像分解能の面から言えば、主走査
動作のサンプリングピッチや副走査方向の送りピッチ
は、プローブ７２から出射される超音波７３の集束ビー
ム径からほぼ決めることができる。

【０００５】しかしながら、被検体７１の内部を映像化
しようとする場合には、被検体における音速や内部の深
さ等に起因する集束ビーム径自体の変化、検出対象（例
えば欠陥等）の大きさ、測定者が評価対象の微細な形状
の測定まで意図しない場合など、様々な要因によって実
際の各ピッチが決定される。映像化時間が各ピッチに依
存せず一定であれば、ピッチを細かく設定できる。しか
し実際には、副走査方向の送りピッチについては、当該
ピッチの細かさと映像化時間とがトレードオフの関係に
あるため、最適な送りピッチを見い出すことが重要とな
る。

【０００６】また前述した従来例でも、解像度は或る程
度維持しつつ、全体像を短時間で映像化することを実現
できるが、被検体内の欠陥等の検出のために最終的に必
要とされるプローブ７２の移動距離として副走査方向の
送りピッチが重要となる。何故なら、間引いた走査ライ
ンをその前後の走査ラインから演算により表示しても、
実際に間引いた部分に存在すべき欠陥等のデータが表示
されるわけではないからである。

【０００７】以上のことから、超音波映像装置で最適な
送りピッチに関する測定条件を見い出すためには、ほと
んどの場合カット・アンド・トライが必要となる。また
前述の従来技術では、送りピッチを変えて再走査を行っ
て測定する際、その前の測定データは捨てられるので、
せっかく一度サンプリングした部分についても再走査を
行うという不具合を有する。そのため、最終的に望まし
い送りピッチを見い出すまで時間がかかるという不具合
を有する。

【０００８】本発明の目的は、上記の問題を解決するた
め、副走査方向の最適な送りピッチの設定を容易に行う
ことができ、かつ必要に応じて適切な精度を有する測定
映像を得ることができ、全体として映像作成時間を短縮
できる超音波映像装置の映像作成方法を提供することに
ある。

【０００９】

【課題を解決するための手段および作用】第１の本発明
（請求項１に対応）に係る超音波映像装置の映像作成方
法は、被検体に対して超音波を発射し当該被検体からの
エコー（反射された超音波）を入射するプローブを、主
走査方向および副走査方向に交互に送って走査動作さ
せ、前記エコーに係る信号に基づいて主走査方向での測
定データを取得して映像を作成する方法であり、主走査
方向の動作ではサンプリングピッチが設定され、このサ
ンプリングピッチに基づいて上記測定データを得るため
のサンプリング動作が行われ、副走査方向の動作では送
りピッチが設定され、これにより副走査方向に送り動作
が行われる。上記において、初期の状態では、副走査方
向の送りピッチを、主走査方向のサンプリングピッチに
対して大きく設定し、これによって主走査方向の走査ラ
インを間引いて走査動作を行い、初期の映像を作成して
表示する（第１ステップ）。次に、初期の映像の精度が
所定の条件を満たすか否かを判断する（第２ステッ
プ）。この判断は、測定者がディスプレイに表示された
映像を見ることにより行われ、上記の所定条件は測定者
の主観によって与えられる。初期の映像の精度が前記条
件を満たさない場合には、送りピッチを初期の送りピッ
チよりも小さく設定し、初期の走査動作で間引かれた走
査ラインを実際に測定するように次の走査動作を行い、
それによって次の映像を作成して表示する（第３ステッ
プ）。再び上記第２ステップが行われる。その後、前記
条件を満たすまで、送りピッチを漸次小さくして、さら
なる次の走査動作および映像の表示が繰り返される。走
査動作と映像表示の繰り返しは、測定者の判断に基づい
て必要に応じて行われる。

【００１０】上記第１の本発明では、測定を開始する初
期に送りピッチを適当に定めることができ、これによっ
て間引き平面走査を行うことができ、短時間で測定を行
うことができる。かかる初期の測定、映像化で、望むと
ころの映像が得られれば、測定は終了する。ディスプレ
イに表示された映像が条件を満たさないものであれば、
副走査方向の送りピッチを小さくして次の平面走査（こ
の平面走査でも通常は間引き平面走査が行われる）を行
い、初期の測定（平面走査）で間引かれた主走査ライン
に関して実際のサンプリングデータを得る。こうして、
次の映像の作成・表示では、サンプリングデータを追加
することによって、初期の映像よりもより精度の高い映
像を作成することが可能となる。必要に応じて、送りピ
ッチをさらに小さくして上記の測定、映像の作成・表示
を繰り返す。

【００１１】第２の本発明（請求項２に対応）に係る超
音波映像装置の映像作成方法は、上記第１の発明におい
て、前述の次の映像の表示では、それ以前に行われた平
面走査で得られたすべてのサンプリングデータを用いて
映像の表示が行われる。

【００１２】第３の本発明（請求項３に対応）に係る超
音波映像装置の映像作成方法は、上記第１または第２の
発明において、間引かれた走査ラインについては補間演
算でデータを求め、このデータと、測定で得たサンプリ
ングデータを用いて映像表示が行われる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の好ましい実施形
態を添付図面に基づいて説明する。

【００１４】図１は、本発明による映像作成方法を実施
する超音波映像装置のシステム構成を示す。プローブ
（超音波探触子）１１は、走査機構１２に取り付けられ
る。走査機構１２は、ＸＹＺ移動機構を内蔵し、プロー
ブ１１を三次元的に動作させる働きを有する。プローブ
１１は、走査機構１２によって被検体１３の観察領域を
二次元的に走査する。走査機構１２は走査制御装置１４
により制御され、さらに走査制御装置１４は画像処理装
置１５によって制御される。より詳しくは、後述される
ように、画像処理装置１５内のマイクロプロセッサ（Ｍ
ＰＵ）１８が、メモリ２０に備えた平面走査プログラ
ム、間引き走査プログラム、補間処理プログラムを読出
して実行することにより、走査制御装置１４、走査機構
１２を通して、プローブ１１の動作に関して必要な制御
が行われる。

【００１５】またプローブ１１は、超音波探傷器１６に
電気的に関連付けられる。超音波探傷器１６は、パル
サ、レシーバ、ピーク値検出回路等を内蔵し、プローブ
１１に対して所定の測定周期でパルス信号を送る。プロ
ーブ１１は、超音波探傷器１６から与えられたパルス信
号に基づいて超音波を発生し、これを被検体１３に対し
て出射し、被検体１３での反射で生じたエコー（超音
波）を入射し、パルス信号に対応するエコー信号を生成
し、超音波探傷器１６に対し出力する。被検体１３は、
走査機構１２に設けられた水槽内に設置される。超音波
探傷器１６は、出力したパルス信号に対応するエコー信
号を受信し、それを増幅し、その中から必要なピーク値
を検出して、Ａ／Ｄ変換装置１７に送出する。Ａ／Ｄ変
換装置１７は、得られたピーク値のアナログ信号を高い
周波数でサンプリングしてそのアナログ値を、例えば、
８ビット、２５６段階でディジタル値に変換し、画像処
理装置１５のマイクロプロセッサ１８が処理できる入力
データ値にしてバス１９に送出する。

【００１６】バス１９には、マイクロプロセッサ１８の
他に、キーボード（図示せず）、各種プログラムやデー
タを記憶したメモリ２０、画像メモリ２１、操作パネル
２２が接続される。メモリ２０の内部には、平面走査プ
ログラム２３、間引き走査プログラム２４、補間処理プ
ログラム２５が格納され、さらにパラメータ記憶領域２
６が設けられる。画像メモリ２１は、画像処理装置１５
の外部に設けられたディスプレイ２７に接続され、内部
に格納した画像データをディスプレイ２７に供給して表
示動作を行わせる。上記操作パネル２２は、視野、サン
プリングピッチ、送りピッチ等の走査測定に必要なパラ
メータを、測定者が入力するためのインターフェースで
ある。上記の平面走査プログラム２３、間引き走査プロ
グラム２４、補間処理プログラム２５の各内容は、以下
の動作説明の中で明らかにされる。

【００１７】図２〜図６を参照して本発明に係る映像作
成方法の実施形態を説明する。この映像作成方法では、
特にデータ取得のための測定時のプローブの副走査方向
の送りピッチの設定の仕方に特徴がある。図２はプロー
ブを走査動作させる際の制御の仕方のフローチャートを
示し、図３〜図６は走査動作を行うプローブの動きを示
している。

【００１８】被検体１３の或る領域を測定する場合、プ
ローブ１１は、その先端が当該領域に対向するように配
置され、図７に示されるように上記領域を好ましくは矩
形の形状にて平面走査する。プローブ１１の平面走査
は、上記の平面走査プログラム２３を実行することによ
って行われる。プローブ１１で被検体１３を平面走査し
超音波によって形状等の測定を行うにあたって、測定者
は、操作パネル２２を使用して焦点合せ、走査範囲（測
定視野）等の各種パラメータの設定を行う（ステップＳ
１１）。なお主走査方向のサンプリングピッチ（測定を
行うための一定間隔）は、通常、マイクロプロセッサ１
８によって装置の仕様から決まる最も細かい値が自動的
に設定される。また測定者が、当該サンプリングピッチ
を設定することもできる。こうして、平面走査プログラ
ム２３と、上記のごとく設定された各種パラメータを用
いてプローブ１１の走査動作が制御される。

【００１９】さらに本実施形態の走査方法では、上記の
間引き走査プログラム２４を実行することによって間引
き走査が行われる。間引き走査とは、副走査方向の移動
に関してすべての主走査ラインが選択されるのではな
く、任意に設定される本数の主走査ラインが間引かれて
走査動作が行われることをいう。ステップＳ１２では、
マイクロプロセッサ１８によって、設定されたサンプリ
ングピッチを元に間引きレベル「ｍ」（＝１，２，３
…）が自動的に設定される。なお測定者が間引きレベル
「ｍ」を設定することもできる。本実施形態ではｍ＝４
とする。

【００２０】ステップＳ１３では、マイクロプロセッサ
１８によって平面走査プログラム２３を起動し、走査機
構１２を駆動して、被検体１３の上でプローブ１１を平
面走査させる。ステップＳ１３による平面走査は形式的
には最初（第１回目）の平面走査となっているが、本実
施形態の場合、最初の平面走査は２回目以降の平面走査
とは、測定を行う主走査ラインのライン番号を決定する
ための式が異なり、特殊な取扱いになっている。映像を
作成しディスプレイ２７に当該映像を表示してその精細
さの程度を判断するための平面走査という意味では、２
回目の平面走査が最初の平面走査になる。なお１回目の
平面走査においても、表示の精細さの判断を行うべく、
表示を行うようにすることもできる。

【００２１】第１回目の平面走査では、マイクロプロセ
ッサ１８によって起動された間引き走査プログラム２４
で、ステップＳ１２で設定された「ｍ」すなわち４によ
って、副走査方向の送りピッチは、主走査方向のサンプ
リングピッチの２^m-1 倍、すなわち８（＝２³ ）倍とな
る。つまり、例えば、実際に走査される最初と２番目の
主走査ラインの間において７本の主走査ラインが間引か
れる。

【００２２】図３にｍ＝４のときの第１回目の平面走査
の様子を示す。図３でＡは主走査方向、Ｂは副走査方向
であり、実線で示された部分（実線の円）が実際に走査
を行ってサンプリングを行う箇所（実サンプルデータ）
を示し、破線で示された部分（破線の円の部分で、図３
中では一部を示す）が補間処理プログラム２５による補
間演算で表示用に作成されるデータの箇所を示す。この
平面走査では、０番目の走査ライン（主走査ライン番号
０、機械走査するライン番号２³ ×０）、８番目の走査
ライン（主走査ライン番号８、機械走査するライン番号
２³ ×１）、１６番目の走査ライン（主走査ライン番号
１６、機械走査するライン番号２³ ×２）、…となるよ
うに、７本の主走査ラインを間引いてライン番号２^m-1
×ｉ（ｉ＝０，１，２，…）で平面走査が行われる。１
画面分の第１回の平面走査を終了すると、次のステップ
Ｓ１４でｍの数値が１であるか否かが判定される。ｍ＝
１は、本実施形態の場合では、間引き走査を行わない平
面走査の場合、すなわち、副走査方向Ｂの送りピッチが
主走査方向Ａのサンプリングピッチの２倍である平面走
査の場合である。ｍ＝１の場合には、間引きが最も少な
い映像であり、本実施形態では、それ以上細かく走査す
る必要がないので、ステップＳ１８に移る。ｍが１以外
の場合には、ステップＳ１５へ進む。

【００２３】ステップＳ１３による平面走査測定が終了
すると、実際に測定されたサンプリングデータと、補間
演算で作成されたデータとを用いて、画像メモリ２１を
介してディスプレイ２７に測定内容の表示が行うことが
可能となる。また実際には、各主走査方向１ライン分の
走査が終了するたびに測定内容の表示を行う方がリアル
タイム表示として望ましいので、１ライン主走査終了ご
とに、必要な回数の補間演算と、ディスプレイ２７での
表示とを行うようにすることもできる。補間演算でデー
タを作成するのは、映像の縦横比が１：１になるように
するためである。本実施形態の場合、第１回目の平面走
査では、通常、ディスプレイ２７での表示を行うことな
くステップＳ１６に移るようにしている。なお、ステッ
プＳ１３による平面走査測定について、ディスプレイ２
７での表示を行うことができるのは勿論であり、この方
が現実的である。

【００２４】ステップＳ１５では、ディスプレイ２７に
表示された映像を測定者が見て、さらに送りピッチを細
かくして映像化を行う必要があるかどうかの判断が行わ
れる。現在ディスプレイ２７に表示されている映像で十
分と判断すれば、測定のループを抜け、ステップＳ１８
ヘ進む。さらに細かい映像を作成する必要があると判断
した場合は、ステップＳ１６へ進む。本実施形態の場
合、ステップＳ１３で実行される最初の平面走査による
表示は特別に扱われるものであり、通常、ステップＳ１
６に移る。

【００２５】ステップＳ１６ではマイクロプロセッサ１
８がｍを１だけ減算し、次のステップＳ１７へ移る。こ
のときｍは３となる。ステップＳ１７では、ステップＳ
１３の場合とは若干異なり、ライン番号２^m ×ｉ＋２^m
／２（ｉ＝０，１，２，…）の主走査ラインで平面走査
が行われる。かかる平面走査の状態は図４のようにな
り、７本の主走査ラインが間引かれる。図４に示した平
面走査における走査ラインは、図２で示した第１回目の
平面走査の走査ラインの中間に位置するラインで、図４
中実線で示されたものであり、４番目、１２番目、２０
番目等の主走査ラインが走査される。また主走査方向Ａ
の走査ラインで破線で示されたものは、第１回目の平面
走査で測定された測定済の主走査ラインである。測定済
みの主走査ラインのサンプリング点が細い実線で示され
ている。実線で示された走査ライン以外の部分は、破線
で示すように、補間演算プログラム２５による補間演算
で求められる。

【００２６】上記のようにして、ステップＳ１７での第
２回目の平面走査が終了すると、第１回目の平面走査で
測定済みのサンプリングデータと、第２回目の平面走査
で実際に測定されたサンプリングデータと、第２回目の
平面走査での補間演算で作成されたデータとを用いて、
画像メモリ２１を介してディスプレイ２７に測定内容の
表示が行われる。また実際には、各主走査方向１ライン
分の走査が終了するたびに測定内容の表示を行う方がリ
アルタイム表示として望ましいので、１ライン主走査終
了ごとに、必要な回数の補間演算と、ディスプレイ２７
での表示とを行うようにすることもできる。

【００２７】その後ステップＳ１４に戻ってｍ（＝３）
が１であるか否かが判定され、ステップＳ１５で測定者
がディスプレイ２７に表示された映像を見て、さらに送
りピッチを細かくして映像化を行う必要があるかどうか
の判断が行われる。判断ステップＳ１５で、測定者がデ
ィスプレイ２７に表示された内容で精度的に満足すると
きには、ステップＳ１８に移る。さらに高い精度で再度
映像化を試みる必要があると考える場合には、ステップ
Ｓ１６に移って、ｍを１だけ減算して、第３回目の平面
走査のためのステップＳ１７を実行する。ｍ＝２の場合
の平面走査の状態を図５に示す。

【００２８】図５において、実線の部分が実際に走査が
行われる主走査ラインで、２番目、６番目、１０番目等
の主走査ラインが走査される。第３回目の平面走査で
は、形式上３本の主走査ラインが間引かれるが、そのう
ち０番目、４番目、８番目等の主走査ラインは第１回目
および第２回目の平面走査ですでに測定済みの主走査ラ
インである。図５中、太い実線で描かれた円は、第３回
目の平面走査における実サンプルデータを意味する。破
線で示した主走査ラインは、すでに第１回目および第２
回目の平面走査で走査が済んだ主走査ラインであり、ま
た細い実線で示された円は、前述の通り第１回目および
第２回目の平面走査で得られた実サンプルデータを意味
する。また破線で示された円（一部のみを示す）は、第
３回目の平面走査での補間演算で求められたデータであ
る。

【００２９】上記のようにして、ステップＳ１７での第
３回目の平面走査が終了すると、すでに測定済みのデー
タ、第３回目の平面走査で実際に測定されたサンプリン
グデータと、第３回目の平面走査での補間演算で作成さ
れたデータとを用いて、画像メモリ２１を介してディス
プレイ２７に測定内容（映像）の表示が行われる。

【００３０】その後ステップＳ１４に戻ってｍ（＝２）
が１であるか否かが判定され、ステップＳ１５で測定者
がディスプレイ２７に表示された映像を見て、さらに送
りピッチを細かくして映像化を行う必要があるか否かの
判断が行われる。判断ステップＳ１５で、測定者がディ
スプレイ２７に表示された内容で満足するときには、ス
テップＳ１８に移る。再度映像化を試みる必要があると
考える場合には、ステップＳ１６に移って、ｍを１だけ
減算して、第４回目の平面走査を行うためのステップＳ
１７を実行する。ｍ＝１の場合の、平面走査の状態を図
６に示す。

【００３１】図６に示した平面走査では、１番目、３番
目、５番目等の主走査ラインが実際に走査され、太い実
線の円で示されるようにサンプリングデータが得られ
る。破線で示した主走査ラインは、すでに測定済のライ
ンを示している。この平面走査では、１本の主走査ライ
ンが間引かれる。他の箇所のデータは、すべて、すでに
測定済である。こうして、ステップＳ１７での第４回目
の平面走査が終了すると、測定済みのデータ、第４回目
の平面走査で実際に測定されたサンプリングデータを用
いて、画像メモリ２１を介してディスプレイ２７に測定
内容の表示が行われる。表示された内容は、結果的に、
主走査方向Ａのサンプリングピッチと副走査方向Ｂの送
りピッチが一致するようにして平面走査が行われた結果
得られる映像と同じ内容であり、最も精度の高い最終的
な測定内容を表す映像である。

【００３２】その後、ステップＳ１４に戻るが、ｍ＝１
であるので、測定のための処理ループを抜けてステップ
Ｓ１８に移り、ここで他の処理が必要である場合には、
他の処理ステップＳ１９に移り、他の処理がない場合に
は終了する。

【００３３】以上のように、本実施形態の映像作成方法
では、映像作成に使用される主走査方向のサンプリング
データ取得のための測定ループにおいて、最初に適当に
間引きを行えるように間引きレベルのパラメータ（ｍ）
を適当に設定し（ステップＳ１２）、さらに、当該送り
ピッチ（パラメータｍによって決まる）と予め設定され
た所定の式（ステップＳ１３，Ｓ１６，Ｓ１７）に基づ
いて、実際に測定すべき主走査ライン（または間引きす
べき主走査ライン）を設定し、副走査方向に関して適宜
に間引いて走査動作を行い、映像を作成し、表示する。
その後、ステップＳ１５で、測定者が、作成された映像
の精細度をチェックし、必要に応じて間引きの程度を変
更し、さらに高い精細度で映像を作成すべく、走査動作
を実行することになる。作成される映像の状況に対応し
て、必要に応じてｍ＝１となるまで測定ループを繰り返
すと、最終的には、図６に示すように副走査方向Ｂの送
りピッチが主走査方向Ａのサンプリングピッチの２倍と
なり、このサンプリングデータと、それまでの平面走査
によって測定済みの実サンプルデータとを利用して映像
化を行うと、最精細な映像を得ることができる。ここま
で処理を行っても、主走査の全体の回数は、最初から最
精細に平面測定したときと同数である。副走査方向の動
作距離だけが長くなるが、それもせいぜい処理ループ回
数倍程度に抑えられる。また、通常は最精細映像に至る
まで測定ループを繰り返さなくとも、その途中の段階で
所望の条件を十分に満たす映像が得られることが多いの
で、最適な送りピッチを見い出すための作業時間を大幅
に短縮することができる。

【００３４】また測定者の欲する映像が得られた後、ス
テップＳ１９で映像の記録やデータ処理を行ったり、別
の被検体の走査測定を行うか、あるいは終了するかの選
択が測定者によって行われる。

【００３５】上記の実施形態では、簡単化のため、平面
形状試料について説明を行ったが、機械走査式で主走査
と副走査により最終的には２次元データ列を得る走査で
あれば、円柱側面（稜線方向を主走査、回転を送りとす
る場合、回転を主走査、稜線方向を送りとする場合のい
ずれも含む）、円盤状試料走査（回転を主走査、中心方
向あるいは逆方向への移動を送りとする）、蒲鉾状走
査、円錐面走査等のすべてに適用することができる。

【００３６】また前記実施形態では現実的に妥当な補間
数列の例を示したが、当然のことながら他の補間数列を
用いることもできる。

【００３７】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように本発明によ
れば、副走査方向における最適な送りピッチを見出すた
めの作業の時間を短縮することができ、また、平面走査
を行う測定ループを繰り返すに従って表示される映像が
次第に高精細化され、測定者はディスプレイに表示され
た映像を見ながら平面走査における副走査方向の送りピ
ッチの最適値を選ぶようにしたため、最初に最適値の見
当をつけて設定する必要がなく、送りピッチの自動設定
が可能である。これにより操作、設定が容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の映像作成方法が実施される超音波映像
装置のシステム構成を示す構成図である。

【図２】本発明に係る映像作成方法の代表的実施形態を
示すフローチャートである。

【図３】最初の平面走査の状態を示すプローブの移動軌
跡の図である。

【図４】第２回目の平面走査の状態を示すプローブの移
動軌跡の図である。

【図５】第３回目の平面走査の状態を示すプローブの移
動軌跡の図である。

【図６】第４回目の平面走査の状態を示すプローブの移
動軌跡の図である。

【図７】従来の超音波映像装置で実施される平面走査の
状態を示す斜視図である。

【符号の説明】

１１ プローブ １２ 走査機構 １３ 被検体 １５ 画像処理装置 １６ 超音波探傷器 １８ マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検体に対して超音波を発射し前記被検
   体からのエコーを入射するプローブを主走査方向と副走
   査方向に交互に送って走査動作させ、前記主走査方向に
   おけるサンプリング動作で得られた前記エコーに係る信
   号に基づいて前記主走査方向での測定データを取得して
   映像を作成する超音波映像装置の映像作成方法であり、 前記副走査方向の送りピッチを、前記主走査方向のサン
   プリングピッチに対して大きく設定し、前記主走査方向
   の走査ラインを間引いて走査動作を行い、それによって
   初期の映像を表示し、 前記初期の映像の精度が条件を満たすか否かを判断し、 前記初期の映像の精度が前記条件を満たさないときに
   は、前記送りピッチをより小さく設定し、間引かれた前
   記走査ラインを実際に測定するように次の走査動作を行
   い、それによって次の映像を表示し、 前記条件を満たすまで、前記送りピッチを漸次小さくし
   て、さらなる次の走査動作および次の映像表示を繰り返
   すことを特徴とする超音波映像装置の映像作成方法。
2. 【請求項２】 前記次の映像の表示では、その前に行わ
   れた走査で得られたすべての測定データを用いて映像の
   表示が行われることを特徴とする請求項１記載の超音波
   映像装置の映像作成方法。
3. 【請求項３】 間引かれた前記走査ラインについては補
   間演算でデータを求め、前記映像の表示が行われること
   を特徴とする請求項１または２記載の超音波映像装置の
   映像作成方法。