JPH095830A

JPH095830A - カメラ用シャッタ装置

Info

Publication number: JPH095830A
Application number: JP7174241A
Authority: JP
Inventors: Masanori Hasuda; 雅徳蓮田
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1995-06-15
Filing date: 1995-06-15
Publication date: 1997-01-10

Abstract

(57)【要約】【目的】シャッタ走行状態検出系のＳＮ比を増加させ
て誤検出を防止する。【構成】シャッタ羽根（１７）と、シャッタ羽根と対
向する発光部（３８）および受光部（３９）を有し、シ
ャッタ羽根の走行状態を検出するシャッタ走行状態検出
手段（３７）とを具備し、シャッタ羽根の片面におい
て、発光部および受光部と対向する部分（Ｂ部）を低反
射率とし、他の部分（Ａ部）を高反射率とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、カメラ用シャッタ装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、カメラにおいては被写体から
の光束をレンズの絞りにて制限し、更にフィルムの露光
時間を機械的なシャッタで制限している。一眼レフカメ
ラに使用されているシャッタ装置は、基本的に先幕と後
幕による２枚の幕から成り、露光前にはいわゆる先幕が
フィルム画面を覆っている。

【０００３】このようなシャッタ装置では、シャッタボ
タンの押圧によってまず先幕が画面から退避して、フィ
ルム画面への露光が開始される。所定時間経過後に、後
幕がフィルム画面を覆うように作動する。各幕の走行は
機械的に付勢されたバネ力にて行われ、走行の開始は各
幕の係止を解除することで行われる。

【０００４】過去においては、これらの作動が純機械的
に制御されていたが、近年は電気的な制御が多く用いら
れるようになった。先幕および後幕の走行そのものは、
過去同様にバネ力が用いられているが、走行の開始は幕
を係止する電磁石への通電によって制御されている。

【０００５】一方、１／８０００秒などシャッタの高速
化が重要な仕様になりつつあると共に、ストロボの使用
が近年は多くなり、明るい環境での作画が可能なように
ストロボ同調速度の高速化が必要となっている。この目
的のためには、前述のバネ力を高めて各幕の走行速度
（幕速）を飛躍的に速くせざるを得ず、かつ先幕および
後幕の形成するスリット幅も狭くなるように制御しなく
てはならない。そのために１／８０００秒を超える高速
秒時の場合には、電磁石の通電タイミングを正確に制御
しても、電磁石に対する係止機構の離脱速度や、バネも
含めた機械走行系の有するばらつきなどのため、所望の
シャッタ秒時が得られない可能性がある。さらにこの様
な現象はフィルムを現像して初めて発見できるため、撮
影中あるいは直後に検出できるように、その作動状態を
検出する装置を設けたシャッタ装置が、例えば特開平６
−２５０２６１号公報で提案されている。

【０００６】このような作動状態検出装置は、発光部と
受光部を備えた検出素子と反射ミラーとを対向配置さ
せ、検出用の光線を発光部から発射して反射ミラーで反
射し、反射光が受光部に入射するように構成し、その間
に先幕および後幕を走行させて、その開閉状態を検出す
るように構成したものである。ここで反射ミラーの反射
率を高反射率（例えば７０％以上）、先幕および後幕の
反射率を低反射率（例えば２５％以下）とすることによ
って、検出素子が先幕あるいは後幕で覆われている時に
は、これらの幕からの反射光が低下して検出素子からの
出力値が低下する。一方、検出素子がこれらの幕で覆わ
れてなく開放されているときには、反射ミラーからの反
射光が増大して検出素子からの出力値が高くなるように
構成されている。この反射率の差は検出系のＳＮ比に相
当するため、その差が小さい場合には検出素子のばらつ
き等により、先幕あるいは後幕で検出素子を覆った状態
でも、検出素子からの出力値が高くなることがあるた
め、これらの反射率の差はより大きなことが望ましい。
このためには、先幕および後幕の反射率をより低下させ
ることが考えられる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、シャッ
タ幕面で反射した光を測光するタイプの測光装置を有す
る機種で、かつ上述した作動状態検出装置を備えたカメ
ラでは、シャッタ走行状態検出装置の検出系のＳＮ比を
増加させるためにシャッタ幕面の反射率を低下させるこ
とは、測光装置用の反射光が低下することを意味し、測
光装置のＳＮ比が低下することになる。このことは、シ
ャッタ走行状態検出装置の検出素子を、反射測光面と同
じ側（例えば被写体側）に配置した場合に問題となって
くる。

【０００８】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
もので、シャッタ走行状態検出系のＳＮ比を増加させて
誤検出を防止することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のカメラ用シャッタ装置は、シャッタ羽根
（１７）と、シャッタ羽根と対向する発光部（３８）お
よび受光部（３９）を有し、シャッタ羽根の走行状態を
検出するシャッタ走行状態検出手段（３７）とを具備
し、シャッタ羽根の片面において、発光部および受光部
と対向する部分（Ｂ部）を低反射率とし、他の部分（Ａ
部）を高反射率とするように構成されている。

【００１０】

【作用】上記構成のカメラ用シャッタ装置においては、
シャッタ羽根の発光部および受光部と対向する部分を低
反射率とし、他の部分を高反射率としたので、シャッタ
走行状態検出装置の検出系のＳＮ比を増加させて誤検出
を防止すると共に、測光装置のＳＮ比も最適値に維持す
ることができる。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。

【００１２】図１は、本発明によるカメラ用シャッタ装
置の一実施例を示す斜視図である。

【００１３】図１には、シャッタ羽根１７を組み込んだ
シャッタ８と、シャッタ８のシャッタ羽根１７の表面の
反射光を測光する測光素子１０の配置が示されている。
測光素子１０は、不図示のレンズを通した光のシャッタ
８のシャッタ羽根１７の表面で反射した光を測光するよ
うに、シャッタ羽根１７をにらむ位置に配置されてい
る。即ち、被写体光は、矢印Ｃ方向からシャッタ羽根１
７に照射され、シャッタ羽根１７での反射光が測光素子
１０に入射する。これにより、測光が行われる。測光素
子１０は、通常はカメラのミラーボックスの底面に配置
される。

【００１４】基板１３とカバー板１４は、不図示の軸な
どの部材によってほぼ平行にある間隔をもって配置され
ており、それらの間に羽根室１５が形成されている。な
お基板１３にはカメラ１のアパーチャ６とほぼ同等の位
置に、露光のための開口部１３ａがあけられており、ま
た不図示ではあるがカバー板１４にもほぼ同位置に開口
部１４ａがあけられている。

【００１５】シャッタ機構部１６は、シャッタ羽根１７
および２１のばねなどを含む駆動機構、電磁石などを含
む秒時制御のための制御機構、その他これらの機構をチ
ャージするためのチャージ機構などから構成される。ま
た開口部１３ａを挟んでシャッタ機構部１６と反対側に
は、シャッタ羽根１７および２１の走行状態を検出する
検出手段３７が基板１３上に取り付けられている。

【００１６】図２は図１のＤ−Ｄ断面図である。羽根室
１５には、公知のように先羽根群１７および後羽根群２
１が、開口部１３ａを覆う位置と開放する位置との間を
移動可能に配置されている。先羽根群１７はスリット形
成羽根１７ａと遮光羽根１７ｂ〜１７ｄの４枚の羽根か
ら構成され、後羽根群２１はスリット形成羽根２１ａと
遮光羽根２１ｂ〜２１ｄの４枚の羽根から構成されてい
る。図２は、先羽根群１７が展開されて開口部１３ａを
覆い、また後羽根群２１が開口部１３ａの上側に畳まれ
ている状態を示している。

【００１７】カバー板１４の凹部１４ｂには、反射板４
２が接着等の公知の方法により取り付けられている。反
射板４２の検出手段３７側の面には、反射面４２ａが形
成されており、反射面４２ａの反射率は高反射率かつ正
反射面に設定されている。一方、後羽根群２１の各羽根
２１ａ〜２１ｄの検出手段３７側の表面は、低反射率に
されている。先羽根群１７の各羽根１７ａ〜１７ｄの検
出手段３７側の表面の反射率については後述する。

【００１８】検出手段３７は、反射板４２に対向した位
置に配置され、また図２では不図示であるが後述するよ
うに発光ダイオード（ＬＥＤ）３８、フォトトランジス
タ（ＰＴＲ）３９を有する。ＬＥＤ３８およびＰＴＲ３
９は、検出手段３７の前面の基板１３に開けられた穴１
３ｂより、先羽根群１７および後羽根群２１を検出す
る。すなわちＬＥＤ３８からの光は、先羽根群１７ある
いは後羽根群２１がその位置に存在しない場合は、反射
板４２の反射面４２ａで反射する光を検出するが、反射
面４２ａの反射率が高反射率に設定されているので、反
射光が多くＰＴＲ３９に入射し、ＰＴＲ３９の出力は高
レベルとなる。一方、先羽根群１７あるいは後羽根群２
１が検出手段３７の位置に存在すると、ＬＥＤ３８から
の光はこれら低反射率の羽根表面で反射するので、ＰＴ
Ｒ３９に入射する光は弱くＰＴＲ３９の出力は低レベル
となる。以上の区別によって、先羽根群１７および後羽
根群２１の移動状態を検出することが可能である。

【００１９】図３は、先羽根群１７のうちスリット形成
羽根１７ａと遮光羽根１７ｂおよび１７ｃを示した正面
図であり、検出手段３７側から見た状態を示している。
図３は、各羽根の表面の反射率の設定について示してい
る。即ち、各羽根の表面の反射率はＡ部とＢ部の２領域
に分けられており、Ａ部は反射測光可能な反射率に、Ｂ
部は検出系のＳＮ比を上げるためにＡ部より低反射率に
なっている。ここでＡ部の反射率は７〜２２％、Ｂ部は
６％以下に設定されている。また遮光羽根１７ｄは、図
３では不図示であるが、その検出手段３７側の反射率は
反射測光のために７〜２２％に設定されており、検出手
段３７を覆わないため低反射部は設けられていない。一
方後羽根群２１の各羽根２１ａ〜２１ｄの検出手段３７
側の反射率は、反射測光をしないため６％以下に設定さ
れている。なお反射板４２の反射面４２ａの反射率は７
５％以上に設定されている。

【００２０】反射率を分けるための製造方法としては、
例えばまず羽根全面をＡ部の反射率に塗装した後、Ａ部
をマスキングしてＢ部を所望の反射率に塗装する方法が
ある。その逆の順序でも良い。また羽根の材料としてア
ルミニウム合金やチタンあるいは鉄鋼を用いた場合に
は、黒色酸化処理を行って羽根全面を黒色化（低反射
化）し、そしてＢ部をマスキングしてＡ部を所望の反射
率に塗装する方法も可能である。また羽根材料として炭
素繊維強化複合材を用いた場合には、これ自体黒色（低
反射）であるので、Ｂ部をマスキングしてＡ部を所望の
反射率に塗装する方法が可能である。

【００２１】図４は、先羽根群１７および後羽根群２１
と、検出手段３７との関係を示した正面図であり、チャ
ージ完了後レリ−ズ前で先羽根群１７が開口部１３ａを
覆い、後羽根群２１が開口部１３ａの上側に畳まれた状
態を示している。先羽根群１７の４枚の各羽根１７ａ〜
１７ｄは、公知のように主アーム１８ａおよび補助アー
ム１８ｂにピン１９で回転可能に取り付けられていて、
さらに主アーム１８ａおよび補助アーム１８ｂは、基板
１３に植設された軸２０にそれぞれ回転可能に取り付け
られている。そしていわゆる平行リンク運動を行い、各
羽根が水平を保ったまま開口部１３ａを覆った位置と開
放した位置との間を移動可能に構成されている。

【００２２】後羽根群２１の４枚の各羽根２１ａ〜２１
ｄも同様に、主アーム２２ａ、補助アーム２２ｂ、およ
び羽根をアームに取り付けるピン２３から構成され、基
板に植設された軸２４にそれぞれ主アーム２２ａおよび
補助アーム２２ｂが回転可能に取り付けられている。そ
して各羽根が水平を保ったまま開口部１３ａを覆った位
置と開放した位置との間を移動可能に構成されている。

【００２３】また主アーム１８ａに開けられた穴１８
ｃ、および主アーム２２ａに開けられた穴２２ｃは、駆
動機構１６（図１参照）と連結されていて、この駆動機
構１６により主アーム１８ａおよび２２ａをそれぞれ駆
動し、先羽根群１７および後羽根群２１が開口部１３ａ
を開放する位置と覆う位置との間を移動するように構成
されている。

【００２４】検出手段３７は前述したように、発光ダイ
オード（ＬＥＤ）３８とフォトトランジスタ（ＰＴＲ）
３９とを備えている。なおＬＥＤ３８とＰＴＲ３９は、
図２に示したように検出手段３７の反対側（図４の裏面
側）にある。

【００２５】また先羽根群１７のスリット形成羽根１７
ａ、遮光羽根１７ｂおよび１７ｃは、図３に示したよう
にピン１９と反対側の先端付近の一部（Ｂ部）が反射率
６％以下に設定されているが、このＢ部が各羽根の作動
にともなって検出手段３７を通過するように構成されて
いる。また低反射率のＢ部の面積は高反射率のＡ部の面
積より狭くなっている。したがって検出手段３７は先羽
根群１７に関しては常に反射率６％以下のＢ部で覆わ
れ、反射率７〜２２％のＡ部で覆われることはない。ま
た後羽根群２１に関しては、検出手段３７側の全面が６
％以下の反射率に設定されているので、常にこの面で覆
われる。その結果、先羽根群１７のスリット形成羽根１
７ａ、遮光羽根１７ｂおよび１７ｃの検出手段３７側の
反射率を全面７〜２２％とした場合よりも、検出系のＳ
Ｎ比を上げることができる。

【００２６】なお、先羽根群１７が開口部１３ａを覆っ
た状態で、そのスリット形成羽根１７ａのＢ部が、一部
開口部１３ａに出ているが、画面全体の面積に対してわ
ずかでありまた画面の隅部であるため、測光素子１０に
よる反射測光に関してほとんど影響がない。また先羽根
群１７の各羽根の形状や枚数あるいは検出手段３７の位
置を適当に設定することによって、スリット形成羽根１
７ａのＢ部を開口部１３ａに出ないようにすることが可
能である。例えばスリット形成羽根１７ａ、遮光羽根１
７ｂおよび１７ｃをピン１９と反対側に延長し、かつ検
出手段３７を各羽根を延長した長さだけ開口部１３ａか
ら離れる方向に位置をずらして配置させればよい。

【００２７】また、例えば特開平６−２５８６８８号に
記載された発明のように、チャージ完了状態で走行状態
検出装置の一部（ＬＥＤまたはＰＴＲ側）を覆うような
構成であっても同様に、チャージ完了状態や羽根の移動
状態で、羽根群が走行状態検出装置を覆う（対向する）
部分の反射率を低反射率化すれば良い。

【００２８】また、本発明はシャッタ羽根の走行状態検
出装置を備え、かつシャッタ羽根の表面で反射した光を
測光するためにシャッタ羽根の表面の反射率を高めた、
あらゆるシャッタに適用できる。またシャッタ羽根の低
反射率に設定する部分は、本発明で示した例に限定され
ず、シャッタ羽根の枚数、形状および検出手段の位置に
よって適宜変えることができる。

【００２９】

【発明の効果】以上のように、本発明のカメラ用シャッ
タ装置によれば、シャッタ羽根の発光部および受光部と
対向する部分を低反射率とし、他の部分を高反射率とし
たので、シャッタ走行状態検出装置の検出系のＳＮ比を
増加させて誤検出を防止すると共に、測光装置のＳＮ比
も最適値に維持することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるカメラ用シャッタ装置の一実施例
を示す斜視図である。

【図２】本発明によるカメラ用シャッタ装置の一実施例
を示す側断面図である。

【図３】本発明によるカメラ用シャッタ装置の一実施例
を示す正面図である。

【図４】本発明によるカメラ用シャッタ装置の一実施例
を示す正面図である。

【符号の説明】

１７先羽根群２１後羽根群３７検出素子Ａ高反射率部Ｂ低反射率部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】シャッタ羽根と、該シャッタ羽根と対向する発光部および受光部を有し、
前記シャッタ羽根の走行状態を検出するシャッタ走行状
態検出手段とを具備し、前記シャッタ羽根の片面において、前記発光部および受
光部と対向する部分を低反射率とし、他の部分を高反射
率としたことを特徴とするカメラ用シャッタ装置。
【請求項２】請求項１において、低反射率の部分の反射率を６％以下とし、高反射率の部
分の反射率を７〜２２％としたことを特徴とするカメラ
用シャッタ装置。
【請求項３】請求項１において、低反射率の部分は、前記シャッタ羽根の先端部であるこ
とを特徴とするカメラ用シャッタ装置。