JPH0961120A - 寸法測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 水平軸回りの傾斜角度を測定し、補正処理を
施すことで正確な寸法測定を行うことができる寸法測定
器を提供する。 【構成】 被測定面２０Ｂからの反射光が２次元ＣＣＤ
センサ３４により受光され被測定面２０Ｂ上の輝点の軌
跡を表すデジタル信号が演算装置３８により受信される
と、演算装置３８はデジタル信号に基づき被測定面２０
Ｂに形成された深さ寸法を演算する。また、角度測定機
構５８により、水平軸回りの傾斜角度を測定し、これと
演算された深さ寸法とを用いて補正処理を施すことによ
り、正確な所望の部位の寸法を測定し、液晶ディスプレ
イ１８に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の被測定
面にスリット光を照射し、その反射光を受光することに
よって被測定物の所望の部位の寸法を測定する寸法測定
器に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、被測定物に対する所望の部位の寸
法を測定する場合には、測定装置に設けられている光源
から被測定面に向かってスリット状の光ビーム（以下、
これをスリット光という）を所定の角度で照射し、照射
したスリット光の被測定面上に映った線（以下、光切断
線という）をＴＶカメラを用いて撮影し、これより出力
されるビデオ信号に基づいて演算処理を施すことで、光
切断線に沿った３次元の被測定物の表面各点における座
標測定を行っていた。また、照射したスリット光の反射
光を受光して、その受光位置（水平光切断位置、垂直光
切断位置）を求める三角測量装置を用いることにより、
被測定面上の反射した点の３次元座標値を測定すること
ができる測定装置（特開昭６４−７８１０９号参照）な
どが提案されている。

【０００３】しかし、上記の測定装置においては、測定
を行う度にスリット光が照射される被測定物と測定ヘッ
ド（ＴＶカメラ）との相対位置が変化すると測定誤差が
生じる。例えば、測定ヘッドをオペレータが手持ちの状
態で測定した場合には測定ヘッドの姿勢が測定の度に変
化し、前記相対位置が変化し測定誤差が生じていた。

【０００４】これに関して、測定する際にスリット光の
光束面が被測定物に対して略垂直となるように指示する
インジケータを持つ装置が本出願人から提案されている
（特願平６−２６０６７４号参照）が、この場合には測
定器の調整が煩雑で、測定作業に時間がかかるという問
題があった。なお、オペレータが手持ち状態で測定ヘッ
ドを被測定物に対してセットする場合、垂直軸回り、す
なわち左右の向きは比較的精度よく対向させることがで
きる反面、水平軸方向、すなわち上下の向きはその変位
量が大きいことが実験的に知られている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記事実を考
慮し、少なくとも手持ちの状態で傾斜しやすい水平軸回
りの傾きを自動的に検出して、寸法測定値を補正するこ
とにより被測定面の寸法を正確に得ることのできる寸法
測定器を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、スリット光を射出する射出手段と、スリット光の反
射光を受光し、スリット光を反射した被測定物上の輝点
の軌跡を表す信号を出力する信号出力手段と、被測定物
に対向させたときの少なくとも水平軸回りの傾きを自動
的に検出する角度測定手段と、前記信号出力手段から出
力された被測定物上の輝点の軌跡を表す信号と前記角度
測定手段により測定された角度に基づいて、輝点の軌跡
を構成する線分の各々に対応する被測定物の所望の部位
の寸法を演算する演算手段と、前記演算手段による演算
結果を出力する出力手段と、を有し、これらが収納され
たケーシングを把持した状態でスリット光を被測定物の
被測定面に照射して、所望の部位の寸法を測定すること
を特徴としている。

【０００７】請求項１に記載の発明によれば、射出手段
により射出されたスリット光が被測定物に照射されるよ
うにオペレータがケーシングを保持すると、信号出力手
段はこのスリット光の反射光を受光し、スリット光を反
射した被測定物上の輝点の軌跡を表す信号を出力する。
また、角度測定手段が設けられており、これにより被測
定物に対して測定装置が傾いている場合にでも、少なく
とも水平軸回りの角度を測定することができる。なお、
垂直軸回りの傾きは、公差の範囲内として無視できる。
そして、演算手段において信号出力手段から出力された
被測定物上の輝点の軌跡を表す信号と角度測定手段によ
って求められた角度に基づいて、輝点の軌跡を構成する
線分の各々の寸法を演算し、所望の部位の寸法を測定す
ることができる。

【０００８】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の発明において前記角度測定手段が水平軸回りの傾斜角
度の測定に加えて、垂直軸回りの傾きを検出することを
特徴としている。

【０００９】請求項２に記載の発明によれば、寸法測定
器を手持ちの状態で被測定物の所望の部位の寸法を測定
する場合に、水平軸回りの傾斜角度を測定するのに加
え、垂直軸回りの傾斜角度を測定するため、寸法測定器
の測定精度の向上をはかることができる。但し、請求項
１に記載の寸法測定器と比較して、演算処理時間が長く
なることは否めない。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態に係る
寸法測定器１０について述べる。

【００１１】なお、以下の発明の実施の形態において
は、図１に示すように側面に深さが一定の矩形状の溝部
２０Ａが形成されている被測定物２０を対象としてい
る。この被測定物２０内の溝部２０Ａに存在する深さ寸
法Ｌ及び幅寸法Ｑのうち、深さ寸法Ｌを測定する場合を
例にとり、説明する。

【００１２】また、本発明の寸法測定器１０はオペレー
タが手持ちの状態で寸法測定器１０を被測定物２０に対
向させ、寸法測定器１０の垂直軸回り、すなわち左右の
傾きがないことを前提として測定するようになってい
る。寸法測定器１０の垂直軸回りの傾きについてはこれ
を判断する手段がなくても傾きをゼロに近づけることは
オペレータの判断でほぼ正確に行うことができるが、水
平軸回りの傾きに関してはオペレータによって、かなり
の誤差がでてくる可能性があるため、本発明の寸法測定
器１０では水平軸回り（図１における回転軸１−１線）
の傾斜角度を測定する。

【００１３】図１には、本発明の実施の形態に係る寸法
測定器１０が示されている。寸法測定器１０は、略直方
体であるケーシング１２によって被覆されており、この
ケーシング１２にはスリット光１４を射出する投光装置
２２と被測定面２０Ｂに照射したスリット光１４の照射
位置を撮像する受光装置３０とが同一の面に備えられて
いる。また、被測定物２０の被測定面２０Ｂに対して、
スリット光１４が垂直に照射されない場合があることを
考慮し、ケーシング１２内には、寸法測定器１０の水平
軸回りの傾斜角度を測定する角度測定機構５８が設けら
れている。寸法測定器１０のスリット光１４出力／入力
面と反対側の面には、液晶ディスプレイ１８が設けら
れ、測定結果等の数値が表示されるようになっている。

【００１４】図２には、被測定物２０に対して寸法測定
器１０が傾斜角度をもって設定されている状態が示され
ている。図２（Ａ）は、図１に示す矢印２Ａの方向、す
なわち上方から被測定物２０と寸法測定器１０を見た状
態を示し、図２（Ｂ）は、同様に図１における矢印２Ｂ
の方向から被測定物２０と寸法測定器１０を見た側面図
を示している。図２（Ｂ）のθが寸法測定器１０の傾斜
角度である。

【００１５】以下、図３を用いて本発明の実施の形態に
係る寸法測定器１０の詳細構造を説明する。

【００１６】投光装置２２は、スリット光１４を照射す
るために必要な光源としての半導体レーザー２４、ビー
ムを収束させるために球面レンズで構成されたコリメー
タレンズ２６、及び収束されたビームを一方向に発散さ
せるロッドレンズ２８を有している。また、受光装置３
０には、受光レンズ３２及び２次元ＣＣＤセンサ３４が
備えられている。さらに、演算装置３８には本発明の実
施の形態に係る寸法測定器１０を用いて測定を行う際の
開始または停止を指示するためのスイッチ４０が接続さ
れている。

【００１７】この寸法測定器１０によれば、投光装置２
２内に設けられているロッドレンズ２８から射出された
スリット光１４が被測定物２０の被測定面２０Ｂに照射
されると、被測定面２０Ｂ上には輝点の軌跡１６（以
下、これを輝線という）が生じる。被測定面２０Ｂに照
射されたスリット光１４は、受光レンズ３２を通過し
て、２次元ＣＣＤセンサ３４の受光面に結像される。こ
れより、２次元ＣＣＤセンサ３２の受光面には、被測定
面２０Ｂ上の輝線の像３６（以下、スリット像という）
が結像されることになる。また、２次元ＣＣＤセンサ３
４は、スリット像３６の位置や光強度に応じた電気信号
を引き続いて処理が行われる演算装置３８に出力するよ
うになっている。

【００１８】図４（Ｃ）に示されるように、被測定物２
０の被測定面２０Ｂに投光部２２から射出されるスリッ
ト光１４が垂直に照射された場合には、図４（Ｄ）に示
すように本来求めるべき深さ寸法と同一の寸法でスリッ
ト像３６を得ることができる。しかし、図４（Ａ）また
は図４（Ｅ）に示されるように、被測定物２０の被測定
面２０Ｂに対して、オペレータが寸法測定器１０を傾け
た状態で保持し、スリット光１４が被測定面２０Ｂに対
して斜めに照射された場合には、図４（Ｂ）または図４
（Ｆ）のように受光面に結像されたスリット像３６の深
さ寸法は本来の深さ寸法よりも長く、受光面に結像され
ることになる。

【００１９】従って、このように寸法測定器１０からス
リット光１４が傾いて照射されるような場合があること
を考慮すると、寸法測定器１０と被測定物２０との傾斜
角度を測定する必要性がある。そこで角度測定機構５８
を設け、これにより求めた角度を用いて補正処理を施
し、所望の部位（本発明の実施の形態においては深さ寸
法Ｌ）の寸法を得るようにしている。なお、角度測定機
構５８については後述する。

【００２０】演算装置３８は、増幅回路（ＡＭＰ）４
２、アナログデジタル変換器４４（以下、Ａ／Ｄ変換器
と示す）及びマイクロコンピュータ４６（マイコン）を
備えている。増幅回路４２の入力端は２次元ＣＣＤセン
サ３４に接続されており、ここから出力された信号を所
定の増幅率で増幅して出力する。また、増幅回路４２の
出力端は、Ａ／Ｄ変換器４４の入力端に接続されている
ため、増幅回路４２で出力されたデータは、このＡ／Ｄ
変換器４４に入力されることになる。さらに、Ａ／Ｄ変
換器４４の出力端は、マイコン４６に接続されており、
ここで測定及び誤差補正のための演算が行われる。マイ
コンには、ＣＰＵ５０、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ５４、及び
外部の装置との入出力を行う入出力ポート４８が備えら
れており、これらはすべてバス５６によって接続され、
データ及びコマンドのやりとりを相互に行うことができ
るようになっている。さらに、入出力ポート４８にはス
リット光１４の射出を開始または停止させるためのスイ
ッチ４０、傾斜角度を測定する角度測定機構５８及び液
晶ディスプレイ１８も接続されている。

【００２１】本発明の実施の形態における角度測定機構
５８としては、ロータリーエンコーダを用いる（図８参
照）。

【００２２】図８に示されるように、ロータリーエンコ
ーダの円板スリット６２には、鉛直方向（重力方向）に
重り６８が取り付けられている。この重り６８は、寸法
測定器１０が水平軸に対して傾斜している場合に円板ス
リット６２をその他の部材に対して相対回転させ、常に
真下に位置させる作用を有している。従って、モータ６
０が駆動され、円板スリット６２を回転させることによ
って生成されるパルスを検出し、これをカウントしてセ
ンサ７０により、重り６８の真下にあるスリット６４を
検出する。検出が終了した後、駆動させていたモータ６
０を停止させ、カウント数と単位パルス角度から傾斜角
度θを求めることができる。

【００２３】以下に本発明の実施の形態に係る寸法測定
器１０の作用として、被測定物２０Ｂに形成された溝部
２０Ａの深さ寸法Ｌの寸法を測定する場合について説明
する。

【００２４】図１に示すように寸法測定器１０のケーシ
ング１２の投光装置２２及び受光装置３０が存在してい
る面をこれから測定しようとする被測定物２０の被測定
面２０Ｂに向けて、オペレータが手持ちの状態で保持す
る。さらに、寸法測定器１０の垂直軸回りの傾きは、ほ
ぼゼロに等しいとする。これは、垂直軸回りの傾きはオ
ペレータの手作業によって傾きをほぼゼロに近い状態に
設定することができるためである。

【００２５】所定の部位の測定を開始する際には、寸法
測定器１０に設けられているスイッチ４０をオンにす
る。スイッチ４０をオンにすると、光源である投光装置
２２からスリット光１４が射出され、被測定物２０の被
測定面２０Ｂに照射される。これによって、被測定面２
０Ｂ上には輝線１６が現れることになる。被測定面２０
Ｂで反射されたスリット光１４は、受光レンズ３２を通
過して２次元ＣＣＤセンサ３４の受光面に、被測定面２
０Ｂ上の凹凸に応じて変化する輝線１６の像（スリット
像３６）が結像される。さらに、２次元ＣＣＤセンサ３
４は、このスリット像３６の位置及び光強度に応じた電
気信号を演算装置３８に出力する。

【００２６】演算装置３８に入力されたスリット像３６
の電気信号は、まず、増幅回路４２によって所定の増幅
率で増幅されてＡ／Ｄ変換器４４に入力される。続いて
Ａ／Ｄ変換器４４によって所定時間毎にサンプリングさ
れ、デジタル信号に変換された後にマイコン４６に出力
される。

【００２７】デジタル信号がマイコン４６に入力される
と、これをＣＰＵ５０が検出することになっており、こ
の検出が終了すると図６に示すようなＣＰＵ５０による
制御ルーチンが開始される。

【００２８】以下、この制御ルーチンの流れを説明す
る。まず、ステップ１００において２次元ＣＣＤセンサ
３４によって出力されたスリット像３６の位置及び光強
度に応じた電気信号（検出信号）を演算装置３８内で増
幅、及びアナログデジタル変換した信号を取り込む。

【００２９】続いて、ステップ１０２では、スリット像
３６に基づいて深さ寸法を測定する演算を行う。これに
ついて、以下に詳しく説明する。

【００３０】２次元ＣＣＤセンサ３４の受光面に結像さ
れたスリット像３６は、図５（Ａ）に示すように被測定
面２０Ｂの中央部に形成された凹部に対応して、Ｙ軸方
向に沿った中央部のみＺ軸の負方向に変位した像とな
る。さらに、そのＺ軸の負方向の変位量は上記の凹部の
深さ寸法の大きさと相関があることがわかっている。

【００３１】一方、受光面のＺ軸方向に対応する任意の
走査線３７Ａ、３７Ｂの出力信号は、図５（Ｂ）、
（Ｃ）に示したようになる。２次元ＣＣＤセンサ３４
は、このような信号を演算装置３８に出力する。この出
力信号の振幅の大きい部位が走査線上のスリット部分、
すなわちスリット像３６の位置になる。

【００３２】従って、入力された信号に基づいて演算装
置３８により受光面上のすべての走査線上のスリット像
３６の位置を求め、その求めた位置からスリット像３６
におけるＺ軸の負方向の変位量と上記の凹部の深さ寸法
との相関関係に基づいて、被測定面２０Ｂの深さ寸法を
求めることができる。ここで測定された深さ寸法を仮に
Ｍとする。

【００３３】続いて、ステップ１０４において、ケーシ
ング１２内に設けられている角度測定機構５８によって
寸法測定器１０の水平方向に対する傾斜角度を測定す
る。水平軸回りの角度のみを測定するのは前述のとお
り、垂直軸回りの傾斜角度をゼロに近づけるのはオペレ
ータの手作業によって容易に行うことができるためであ
る。この傾斜角度の測定を行うために、図７に示す測定
ルーチンが実行される。

【００３４】まず、ステップ２００において、カウント
数Ｎをゼロに初期設定する。引き続き、ステップ２０２
においては、この角度測定機構５８に設けられているモ
ータ６０が駆動され、ステップ２０４において、円板ス
リット６２が回転することによって生成されるパルスを
検出する。ここでパルスが検出されるとステップ２０６
にうつり、カウント数Ｎを１ずつ加算していく。さら
に、ステップ２０８では、センサ７０により重り６８の
真下にあるスリット６４を検出する。ここで、上記ステ
ップ２０４、２０６の処理をセンサ７０がスリット６４
を検出するまで実行される。この検出が終了すると、ス
テップ２１０において、モータの駆動が停止され、ステ
ップ２１２において、前記処理によって得られたカウン
ト数Ｎと単位パルス角度から求めるべき傾斜角度θを得
ることになっている。

【００３５】また、傾斜角度θは水平軸を０°とした場
合、−９０°〜９０°の範囲内に収まると考えられる。
この範囲外である場合は、スリット光１４が被測定物２
０の被測定面２０Ｂに全く照射されていないことになる
ので除外する。

【００３６】以上のような測定ルーチンの実行が終了す
ると、制御ルーチンのステップ１０６に戻り、ステップ
１０４、すなわち測定ルーチンにおいて測定された角度
θとステップ１０２で測定された深さ寸法を利用して下
に示す式に代入して最適な深さ寸法を求める。

【００３７】Ｌ＝Ｍ×ｃｏｓθ ・・・（１） Ｌ ： 求めるべき深さ寸法 Ｍ ： 深さ寸法の測定値 θ ： 寸法測定器の傾斜角度 ここで、寸法測定器１０の傾斜角度がゼロ、すなわち傾
斜していなかった場合には、補正処理を施さなくても制
御ルーチンのステップ１０２において測定された値が本
来求めるべき深さ寸法Ｌの寸法として得られるわけであ
るが、この場合、測定ルーチンにおいて、傾斜角度θが
ゼロと測定されることになり、このゼロを上記式に代入
して補正処理を施すことになるが、ゼロを代入したとし
てもステップ１０２において測定された値と同様の結果
を得ることができるので、寸法測定器１０が傾斜してい
るか否かにかかわらず、制御ルーチン及び測定ルーチン
を実行させる。

【００３８】上記の式を用いて補正処理を施すことによ
って、求めるべき深さ寸法Ｌの正確な測定値を得ること
ができる。続いて、寸法測定器１０に備えられているス
イッチ４０をオフにする。すると、制御ルーチンの実行
が停止されると同時に、投光装置２２内の半導体レーザ
ー２４からのレーザービームの射出も停止される。以上
の処理によって所望の部位（本発明の実施の形態におい
ては深さ寸法Ｌ）を測定した演算結果は出力手段である
液晶ディスプレイ１８に表示され、所望の部位の寸法測
定処理が終了したことになる。

【００３９】また、寸法測定器１０の垂直軸回りの傾斜
角度はオペレータの手作業によって、ほぼゼロにあわせ
ることができるが、より精度の高い寸法測定器を得るた
めに水平軸回りの傾斜角度を測定する角度測定機構５８
に加えて、垂直軸（図９における回転軸２−２線）回り
の傾斜を調整する傾斜調整指示部１９が設けられていて
もよい。

【００４０】これは、図９に示すように投光装置２２及
び受光装置３０が備えられている面と反対側の面、すな
わち液晶ディスプレイ１８が設置されているのと同一の
面に設けられている。この傾斜調整指示部１９は、ケー
シング１２の姿勢を右方向へ調整するように指示する右
ランプ１９Ａ、ケーシング１２の姿勢を現状のまま維持
するように指示する中央ランプ１９Ｂ、ケーシング１２
の姿勢を左方向へ調整するように指示する左ランプ１９
Ｃを備えている。

【００４１】従って、垂直軸回りの傾斜をなくすために
は傾斜調整指示部１９の中央ランプ１９Ｂが点灯するよ
うに調整すればよい。この調整作業を測定開始を指示す
るスイッチ４０をオンにした直後に行い、これに続いて
前述の処理を進めていくことにする。これにより、垂
直、水平の両軸回りの傾斜角度を補正することができる
ので、より正確な寸法測定を行うことができる。

【００４２】以上説明したように本発明の実施の形態に
係る寸法測定器１０は、スリット光１４の光束面が被測
定物１０の被測定物２０Ｂに対して垂直であるかを判定
する必要がなく、垂直であるか否かにかかわらず、寸法
測定器１０の水平軸回りの傾斜角度θを求め、これを用
いて補正処理を施すことができるので、従来、生じてい
た問題点を解消し、正確な寸法を測定することができ
る。しかし、これは、被測定物２０が平面に対して垂直
に置かれており、寸法測定器１０のみが傾いている場合
であって、被測定物２０と寸法測定器１０の両方が互い
に傾いていた場合には被測定物２０の重心方向（水平軸
回り）に対する傾斜角度のデータを予め、マイコン４６
に登録しておく必要がある。

【００４３】なお、本発明の実施の形態では被測定面の
深さ寸法を測定する例を示したが、本発明の寸法測定器
１０はこれ以外の局部的な部位の寸法等を測定すること
もできる。

【００４４】本発明の実施の形態では、ロッドレンズを
利用することでスリット状の光を得る例について説明し
たが、スリット状の光を得る素子としてシリンドリカル
レンズ、シリンドリカルミラー等を用いることもでき、
回転多面鏡等のレーザービームをスキャンすることによ
りスリット状の光を得ることもできる。

【００４５】また、本発明の実施の形態では受光素子と
して２次元ＣＣＤセンサを用いた場合について説明した
が、２次元ＣＣＤセンサに限定されるものではなく、１
次元ＣＣＤセンサや撮像管を用いたテレビジョンシステ
ムによる位置検出方法を用いてセンサ上で２次元の位置
を出力することのできる素子を利用してもよい。

【００４６】さらに、本発明の実施の形態においては、
角度測定手段としてロータリーエンコーダに重りをつけ
て角度を測定する方法を例にとり説明したが、ロータリ
ーエンコーダーを用いるのではなく、これに代わって光
ファイバー式ジャイロセンサを用いて測定する方法があ
る。この光ファイバ式ジャイロセンサとは、例として位
相変調方式の場合には、角速度をωとするとＳＩＮ関数
となる出力が得られる。これより、角速度ωがゼロ付近
の感度が向上し、回転方向を求めることができるもので
あり、本発明の寸法測定器１０内の角度測定機構として
これを用いて、測定に必要な角度を求めることも可能で
ある。また、寸法測定器のスリット光が射出される投光
装置が設けられている面と反対側の面にダイヤルを設け
てオペレータがこれを回すことによって角度を測定する
方法も考えられる。

【００４７】また、深さ寸法の出力手段として、本発明
の実施の形態においては液晶ディスプレイを用いる場合
を例にとり説明したが、液晶ディスプレイに限定される
ものではなく、これ以外にもプリンタ等により紙等の記
憶媒体に印刷することによって測定値を出力する方法
や、スピーカー等の音声出力装置によって測定値を音声
出力する方法なども考えられる。

【００４８】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る寸法測
定器は、これを保持しているオペレータの手振れが原因
で所望の部位の寸法を正確に測定することができないと
いう問題を解消するとともに、測定する際にオペレータ
がスリット光の光束面を被測定物に対して垂直とするた
めの煩雑な調整作業などを行う必要がなく、寸法測定器
が傾斜して配置されている場合にも、その傾斜角度を利
用して補正処理を施すことで所望の部位の正確な測定値
を得ることができる。

【００４９】また、水平軸回りの傾斜角度測定に加え
て、垂直軸回りの傾斜がなくなるように調整すること
で、より精度の高い寸法測定を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る寸法測定器の外観を
示す斜視図である。

【図２】（Ａ）は図１における矢印２Ａの方向からみた
状態を、（Ｂ）は図１における矢印２Ｂの方向からみた
被測定物と寸法測定器の側面図である。

【図３】本発明の実施の形態に係る寸法測定器の概略構
成を示すブロック図である。

【図４】（Ａ）及び（Ｅ）はスリット光が被測定物の被
測定面に対して傾いている状態を、（Ｃ）はスリット光
が被測定物の被測定面に対して垂直である状態を示す模
式図であり、（Ｂ）、（Ｄ）、（Ｆ）はそれぞれ
（Ａ）、（Ｃ）、（Ｅ）の場合の２次元ＣＣＤセンサの
受光面における反射光の照射状態を示す線図である。

【図５】（Ａ）は２次元ＣＣＤセンサの受光面において
レーザービームが照射されたときの状態を、（Ｂ）及び
（Ｃ）は２次元ＣＣＤセンサからの出力信号を示す線図
である。

【図６】マイクロコンピュータによる制御ルーチンを示
すフローチャートである。

【図７】角度測定機構による測定ルーチンを示すフロー
チャートである。

【図８】角度測定機構の一例として、ロータリーエンコ
ーダに重りをつけて用いた場合の側面図である。

【図９】傾斜調整指示部として、インジケータを設けた
寸法測定器の外観を示す斜視図である。

【符号の簡単な説明】

１０ 寸法測定器 １２ ケーシング １４ スリット光 １６ 輝点の軌跡（輝線） １８ 液晶ディスプレイ（出力手段） １９ 傾斜調整指示部（指示手段） ２０ 被測定物 ２２ 投光部（投光装置）（射出手段） ３０ 受光部（受光装置） ３４ ２次元ＣＣＤセンサ（信号出力手段） ３６ スリット像 ３８ 演算装置 ４０ スイッチ ４６ マイクロコンピュータ ５８ 角度測定機構（角度測定手段） ６０ モータ ６２ 円板スリット ６４ スリット ６８ 重り ７０ センサ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 スリット光を射出する射出手段と、 スリット光の反射光を受光し、スリット光を反射した被
   測定物上の輝点の軌跡を表す信号を出力する信号出力手
   段と、 被測定物に対向させたときの少なくとも水平軸回りの傾
   きを自動的に検出する角度測定手段と、 前記信号出力手段から出力された被測定物上の輝点の軌
   跡を表す信号と前記角度測定手段により測定された角度
   に基づいて、輝点の軌跡を構成する線分の各々に対応す
   る被測定物の所望の部位の寸法を演算する演算手段と、 前記演算手段による演算結果を出力する出力手段と、 を有し、これらが収納されたケーシングを把持した状態
   でスリット光を被測定物の被測定面に照射して、所望の
   部位の寸法を測定する寸法測定器。
2. 【請求項２】 前記角度測定手段が水平軸回りの傾斜角
   度の測定に加えて、垂直軸回りの傾きを検出することを
   特徴とする請求項１に記載の寸法測定器。