JPH0963141A - Optical pickup - Google Patents
Optical pickupInfo
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- JPH0963141A JPH0963141A JP23621195A JP23621195A JPH0963141A JP H0963141 A JPH0963141 A JP H0963141A JP 23621195 A JP23621195 A JP 23621195A JP 23621195 A JP23621195 A JP 23621195A JP H0963141 A JPH0963141 A JP H0963141A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 小型に構成でき、しかも製造の簡略化,信頼
性の向上,さらに光検出器への戻り光の入射光量の増大
により、光検出器の検出出力の増大,発光部の低パワー
化そして消費電力の低減化を図るようにした、光学ピッ
クアップを提供すること。
【解決手段】 発光部21と、この発光部から出射され
た光ビームを光磁気記録媒体の信号記録面上に集光させ
る対物レンズ13と、前記発光部と対物レンズとの間に
配設され、前記入射光を0次光及びプラスマイナス1次
光に分離する偏光性ホログラム素子12と、前記偏光性
ホログラム素子により分離された戻り光ビームの0次光
及びプラスマイナス1次光を共焦点近傍で受光する第一
及び第二の光検出器23,24とを含む光学ピックアッ
プ10。
(57) 【Abstract】 PROBLEM TO BE SOLVED: To increase the detection output and light emission of a photodetector due to a compact structure, simplification of manufacturing, improvement of reliability, and increase of the incident light amount of return light to the photodetector. To provide an optical pickup designed to reduce power consumption and power consumption of a unit. A light emitting unit, an objective lens for condensing a light beam emitted from the light emitting unit on a signal recording surface of a magneto-optical recording medium, and a light emitting unit are disposed between the light emitting unit and the objective lens. , A polarization hologram element 12 for separating the incident light into 0th order light and plus or minus 1st order light, and a 0th order light and plus or minus 1st order light of the return light beam separated by the polarization hologram element near the confocal point An optical pickup 10 including first and second photodetectors 23 and 24 that receive light at.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光学ピックアップ
に関し、特に光磁気ディスク(MO)等の光磁気ディス
ク状記録媒体に記憶情報を記録及び/または再生を行な
うための光学ピックアップに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup, and more particularly to an optical pickup for recording and / or reproducing stored information on a magneto-optical disk recording medium such as a magneto-optical disk (MO).
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、このような光磁気ディスクの記録
/再生を行なうための光学ピックアップは、図8に示す
ように構成されている。図において、光学ピックアップ
1は、半導体レーザ素子2,回折格子3,ビームスプリ
ッタ4,コリメータレンズ5,対物レンズ6,ウォラス
トンプリズム7,マルチレンズ8及び光検出器9を備え
ており、これらの各光学部品が個別にマウントされてい
る。2. Description of the Related Art Conventionally, an optical pickup for recording / reproducing on / from such a magneto-optical disk is constructed as shown in FIG. In the figure, an optical pickup 1 is provided with a semiconductor laser element 2, a diffraction grating 3, a beam splitter 4, a collimator lens 5, an objective lens 6, a Wollaston prism 7, a multi-lens 8 and a photodetector 9, and each of these is provided. The optics are mounted individually.
【0003】このような構成の光学ピックアップ1によ
れば、半導体レーザ素子2から出射された光ビームは、
回折格子3を透過して、ビームスプリッタ4に入射し、
ビームスプリッタ4で半導体レーザ素子2から出射され
た光ビームと光磁気ディスクMOからの戻り光ビームと
が分離される。ここで、ビームスプリッタ4は、一般
に、一対の光学プリズムとこれら一対の光学プリズムの
間に蒸着,スパッタリング等により形成された多層誘電
体層から成る反射面4aから構成されている。According to the optical pickup 1 having such a configuration, the light beam emitted from the semiconductor laser element 2 is
After passing through the diffraction grating 3 and entering the beam splitter 4,
The beam splitter 4 separates the light beam emitted from the semiconductor laser element 2 and the return light beam from the magneto-optical disk MO. Here, the beam splitter 4 is generally composed of a pair of optical prisms and a reflecting surface 4a composed of a multilayer dielectric layer formed by vapor deposition, sputtering or the like between the pair of optical prisms.
【0004】上記ビームスプリッタ4により分離され透
過した半導体レーザ素子2からの例えばP偏光成分の光
ビームは、コリメータレンズ5に入射し、コリメータレ
ンズ5によって平行光に変換された後、対物レンズ6に
入射する。対物レンズ6は、入射光を光磁気ディスクM
Oの信号記録面のある一点に収束して照射すると共に、
図示しない駆動手段によって、フォーカス方向及びトラ
ッキング方向に駆動されるようになっている。The light beam of, for example, the P-polarized component from the semiconductor laser element 2 which is separated and transmitted by the beam splitter 4 enters a collimator lens 5, is converted into parallel light by the collimator lens 5, and then is incident on an objective lens 6. Incident. The objective lens 6 receives the incident light from the magneto-optical disk M.
While converging and irradiating on a certain point on the O signal recording surface,
It is adapted to be driven in the focus direction and the tracking direction by a driving means (not shown).
【0005】光磁気ディスクMOの信号記録面で反射さ
れると共にカー効果によって偏光面が回転されてS偏光
成分のMO信号(光磁気信号)を含む戻り光ビームは、
再び対物レンズ6及びコリメータレンズ5を介して、ビ
ームスプリッタ4に入射する。ここで、戻り光ビーム
は、ビームスプリッタ4の反射面4aにより、S偏光成
分が反射される。The return light beam containing the MO signal (magneto-optical signal) of the S-polarized component, which is reflected by the signal recording surface of the magneto-optical disk MO and whose polarization plane is rotated by the Kerr effect,
It again enters the beam splitter 4 via the objective lens 6 and the collimator lens 5. Here, the S-polarized component of the return light beam is reflected by the reflecting surface 4a of the beam splitter 4.
【0006】ビームスプリッタ4の反射面4aにより反
射されたS偏光成分は、ウォラストンプリズム7によ
り、複数本(例えば3本)の光ビームに分離され、各光
ビームがそれぞれマルチレンズ7に入射する。マルチレ
ンズ8に入射した各光ビームは、フォーカスエラー検出
のために、非点収差が付与されると共に、光検出器9ま
での戻り光ビームの光路長を短縮するようになってい
る。光検出器9は、マルチレンズ8を介して入射される
各光ビームを受光するために、その受光面が、複数個の
受光部に分割されている。これにより、光検出器9の各
受光部からの検出信号に基づいて、差動法等によって、
MO信号と、フォーカスエラー信号,トラッキングエラ
ー信号等のエラー信号が検出される。The S-polarized component reflected by the reflecting surface 4a of the beam splitter 4 is separated by the Wollaston prism 7 into a plurality of (for example, three) light beams, and each light beam is incident on the multi-lens 7. . Astigmatism is imparted to each light beam incident on the multi-lens 8 for detecting a focus error, and the optical path length of the return light beam to the photodetector 9 is shortened. The photodetector 9 has a light-receiving surface divided into a plurality of light-receiving portions in order to receive each light beam incident through the multilens 8. As a result, based on the detection signal from each light receiving unit of the photodetector 9, by the differential method or the like,
MO signals and error signals such as focus error signals and tracking error signals are detected.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに構成された光学ピックアップ1においては、光磁気
ディスクMOからの戻り光ビームを、ビームスプリッタ
4により分離して、ウォラストンプリズム7により分割
することにより、各分割ビームを検出することにより、
MO信号が得られるようになっている。ウォラストンプ
リズム7は、比較的高価であるために、光学ピックアッ
プ1全体のコストが高くなってしまうと共に、ウォラス
トンプリズム7は、MO信号(光磁気信号)の分離角が
制限されることから、比較的大型になってしまうという
問題があった。さらに、ウォラストンプリズム7による
光ビームの分割は、非点収差及びコマ収差が不可避であ
ることから、分割されたサイドビームの歪みが比較的大
きくなってしまうと共に、分割されたビーム同士が重な
ってしまうことがあるという問題があった。However, in the optical pickup 1 thus constructed, the return light beam from the magneto-optical disk MO is split by the beam splitter 4 and split by the Wollaston prism 7. By detecting each split beam,
The MO signal can be obtained. Since the Wollaston prism 7 is relatively expensive, the cost of the optical pickup 1 as a whole increases, and the Wollaston prism 7 limits the separation angle of the MO signal (magneto-optical signal). There was a problem that it became relatively large. Further, since the astigmatism and the coma aberration are inevitable in the division of the light beam by the Wollaston prism 7, distortion of the divided side beams becomes relatively large, and the divided beams overlap each other. There was a problem that it might end up.
【0008】また、回折格子3,ビームスプリッタ4,
ウォラストンプリズム7,マルチレンズ8等の多数の光
学部品が個別に組み立てられることから、装置全体の構
成が複雑になるので、装置が大型化し、コストが高くな
ってしまうと共に、光学的な配置設定が煩雑で、量産性
の点で問題があった。Further, the diffraction grating 3, the beam splitter 4,
Since a large number of optical components such as the Wollaston prism 7 and the multi-lens 8 are individually assembled, the configuration of the entire apparatus becomes complicated, resulting in an increase in size and cost of the apparatus and an optical arrangement setting. However, there was a problem in terms of mass productivity.
【0009】さらには、上述した従来の光学ピックアッ
プ1においては、光磁気ディスクMOからの戻り光ビー
ムが、ビームスプリッタ4により光源である半導体レー
ザ素子2に向かう光路から分離されるので、ビームスプ
リッタ4の反射率に基づいて、光量低下が発生し、光検
出器9への入射光量が低下するという問題があった。Furthermore, in the above-mentioned conventional optical pickup 1, the return light beam from the magneto-optical disk MO is separated from the optical path toward the semiconductor laser element 2 which is the light source by the beam splitter 4, so the beam splitter 4 There is a problem in that the amount of light is reduced based on the reflectance of No. 1 and the amount of light incident on the photodetector 9 is reduced.
【0010】また、光学ピックアップを構成する光学素
子を基板上にマウントして取り付けて、一体型の受発光
素子を構成することも考えられる。しかし、発光部,受
光部を別基板上に設けると、受光効率が低下し、また、
各光学素子を取り付けるにあたっての位置決めも煩雑
で、厳格なアライメント精度が必要になり、コストが高
くなってしまう。It is also conceivable to mount an optical element forming an optical pickup on a substrate and attach it to form an integrated light emitting / receiving element. However, if the light emitting part and the light receiving part are provided on different substrates, the light receiving efficiency decreases, and
Positioning for mounting each optical element is complicated, and strict alignment accuracy is required, resulting in high cost.
【0011】本発明は、以上の点に鑑み、小型に構成で
き、しかも製造の簡略化,信頼性の向上,さらに光検出
器への戻り光の入射光量の増大により、光検出器の検出
出力の増大,発光部の低パワー化そして消費電力の低減
化を図るようにした、光学ピックアップを提供すること
を目的としている。In view of the above points, the present invention can be constructed in a small size, simplifies manufacturing, improves reliability, and increases the amount of incident light returning to the photodetector. It is an object of the present invention to provide an optical pickup which is designed to increase the power consumption, reduce the power of the light emitting section, and reduce the power consumption.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する発光部と、この発光部から出
射された光ビームを光磁気記録媒体の信号記録面上に集
光するように照射する対物レンズと、前記発光部と対物
レンズとの間に配設され、前記発光部からの光ビームを
0次光とプラスマイナス1次光とに分離すると共に、光
磁気記録媒体からの戻り光ビームを常光と異常光とし
て、それぞれ0次光とプラスマイナス1次光とに分離す
る偏光性ホログラム素子と、前記偏光性ホログラム素子
により分離された戻り光ビームの0次光を共焦点近傍で
受光する第一の光検出器と、前記偏光性ホログラム素子
により分離された戻り光ビームのプラスマイナス1次光
を共焦点近傍で受光する第二の光検出器とを備えてい
る、光学ピックアップにより、達成される。According to the present invention, the above object is to provide a light emitting portion for emitting a light beam and a light beam emitted from the light emitting portion for focusing on a signal recording surface of a magneto-optical recording medium. Is disposed between the light-emitting unit and the objective lens, and separates the light beam from the light-emitting unit into 0th-order light and plus / minus 1st-order light, and a magneto-optical recording medium. The return light beam from is regarded as ordinary light and extraordinary light, and a polarization hologram element for separating it into 0th order light and plus / minus 1st order light respectively, and a 0th order light of the return light beam separated by the polarization hologram element A first photodetector for receiving near the focal point and a second photodetector for receiving plus / minus primary light of the return light beam separated by the polarization hologram element near the confocal point, Optical pickup More, it is achieved.
【0013】上記構成によれば、発光部から出射された
光ビームは、偏光性ホログラム素子によって3つの光ビ
ーム即ち0次光及びプラスマイナス1次光に分離された
後、0次光が対物レンズを介して光磁気記録媒体の信号
記録面に照射される。光磁気記録媒体の信号記録面によ
り反射されると共にカー効果によって偏光面が回転され
た光磁気信号を含む戻り光ビームは、再び対物レンズを
介して偏光性ホログラム素子に入射する。そして、戻り
光ビームは、偏光性ホログラム素子によって、3つの光
ビーム即ち0次光とプラスマイナス1次光に分離され
る。According to the above structure, the light beam emitted from the light emitting portion is separated into three light beams, that is, the 0th order light and the plus / minus 1st order light by the polarization hologram element, and then the 0th order light is the objective lens. Is irradiated onto the signal recording surface of the magneto-optical recording medium via. The return light beam containing the magneto-optical signal, which is reflected by the signal recording surface of the magneto-optical recording medium and whose polarization plane is rotated by the Kerr effect, again enters the polarizing hologram element via the objective lens. Then, the return light beam is separated into three light beams, that is, the 0th order light and the plus / minus 1st order light by the polarization hologram element.
【0014】従って、0次光ビームが、第一の光検出器
に入射すると共に、プラスマイナス1次光ビームが、第
二の光検出器に入射することになる。かくして、第一の
光検出器の0次光が入射する分割受光面の各出力信号に
基づいて、フォーカシングエラー信号及びトラッキング
エラー信号が検出されると共に、第一の光検出器及び第
二の光検出器の検出信号に基づいて、光磁気信号あるい
は再生信号が検出されることになる。Therefore, the 0th-order light beam is incident on the first photodetector, and the plus / minus 1st-order light beam is incident on the second photodetector. Thus, the focusing error signal and the tracking error signal are detected based on each output signal of the divided light receiving surface on which the 0th order light of the first photodetector is incident, and the first photodetector and the second light are detected. A magneto-optical signal or a reproduction signal will be detected based on the detection signal of the detector.
【0015】上記発光部及び第一及び第二の光検出器
が、一つの基板上に一体に形成されていると共に、上記
発光部が、水平共振器を有する半導体レーザと反射鏡と
を有しており、上記光検出器が、フォトダイオードから
構成されていて、上記フォトダイオードの受光面の少な
くとも一部が戻り光の回折限界内に配設されている場合
には、発光部及び第一及び第二の光検出器が、共通の基
板上に一体化した構造となる。このため、組立の際の発
光部及び光検出器の相互の位置決めすることなく、製造
時のマスクの精度による位置決め精度が得られることに
なり、光学ピックアップの組立が容易に行われる。ま
た、組立コストが低減されると共に、発光部に向かって
進む戻り光が直接に第一の光検出器に入射することにな
り、且つ第一の光検出器が共焦点近傍に配設されている
ことにより、受光効率が高められることになる。The light emitting section and the first and second photodetectors are integrally formed on one substrate, and the light emitting section has a semiconductor laser having a horizontal resonator and a reflecting mirror. In the case where the photodetector is composed of a photodiode and at least a part of the light-receiving surface of the photodiode is arranged within the diffraction limit of return light, the light-emitting portion and the first and The second photodetector has a structure integrated on a common substrate. For this reason, the positioning accuracy due to the accuracy of the mask at the time of manufacturing can be obtained without the mutual positioning of the light emitting part and the photodetector at the time of assembly, and the optical pickup can be easily assembled. In addition, the assembly cost is reduced, the return light traveling toward the light emitting unit is directly incident on the first photodetector, and the first photodetector is disposed near the confocal point. As a result, the light receiving efficiency is improved.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図1乃至図7を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. still,
The embodiments described below are preferable specific examples of the present invention, and therefore, various technically preferable limitations are given,
The scope of the present invention is not limited to these embodiments unless otherwise specified in the following description.
【0017】図1は、本発明による光学ピックアップの
一実施形態を示しており、この場合、光学ピックアップ
10は、往復透過型の光学ピックアップである。図1に
おいて、光学ピックアップ10は、受発光素子11,偏
光性ホログラム素子12及び対物レンズ13含んでい
る。FIG. 1 shows an embodiment of an optical pickup according to the present invention. In this case, the optical pickup 10 is a reciprocating transmission type optical pickup. In FIG. 1, an optical pickup 10 includes a light emitting / receiving element 11, a polarizing hologram element 12, and an objective lens 13.
【0018】上記受発光素子11は、図示のように、一
つの半導体基板20上に一体に構成されている。即ち、
受発光素子11は、発光部が、半導体基板20上に形成
された半導体レーザ素子21と、半導体基板20の表面
から斜めに傾斜するように形成された反射鏡22とを備
え、また光検出器が、半導体基板20上に形成されたフ
ォトダイオードから成る第一の光検出器23及び第二の
光検出器24とから構成されている。半導体レーザ素子
21は、半導体の再結合発光を利用した発光素子であ
り、図示の場合には、水平共振器を有する構成であっ
て、発光部として使用される。半導体レーザ素子21か
ら水平方向に出射した光ビームは、反射鏡22に導かれ
る。The light emitting / receiving element 11 is integrally formed on one semiconductor substrate 20, as shown in the figure. That is,
The light emitting / receiving element 11 includes a semiconductor laser element 21 having a light emitting portion formed on the semiconductor substrate 20, and a reflecting mirror 22 formed so as to be inclined from the surface of the semiconductor substrate 20, and a photodetector. Is composed of a first photodetector 23 and a second photodetector 24 which are photodiodes formed on the semiconductor substrate 20. The semiconductor laser device 21 is a light emitting device utilizing recombination light emission of a semiconductor, and in the case shown in the figure, has a configuration having a horizontal resonator and is used as a light emitting portion. The light beam emitted in the horizontal direction from the semiconductor laser device 21 is guided to the reflecting mirror 22.
【0019】反射鏡22は、例えば45度の傾斜角を有
するように、半導体基板20に設けられた斜面に対し
て、例えば金属膜や誘電体多層膜等から成る反射膜を形
成することにより、構成されている。これにより、反射
鏡22は、半導体レーザ素子21からの光ビームの例え
ばS偏光成分を、図面にて上方に全反射するようになっ
ている。上方に全反射されたレーザ光は、上述のよう
に、偏光性ホログラム素子12及び対物レンズ13を介
して、光磁気記録媒体としての光磁気ディスクMOの信
号記録面に収束され、光磁気ディスクMOの信号記録面
に照射されたレーザ光は、光磁気ディスクMO上で反射
される際に、カー効果を受けて、偏光面が回転されたP
成分(光磁気信号を含む成分)となる。このP成分を含
む光磁気ディスクMOからの戻り光は、再び、対物レン
ズ13及び偏光性ホログラム素子12を介して、受発光
素子11の第一の光検出器23及び第二の光検出器24
に入射するようになっている。The reflecting mirror 22 has a tilt angle of, for example, 45 degrees, and by forming a reflecting film made of, for example, a metal film or a dielectric multilayer film on the inclined surface provided on the semiconductor substrate 20, It is configured. Thereby, the reflecting mirror 22 is adapted to totally reflect, for example, the S-polarized component of the light beam from the semiconductor laser element 21 upward in the drawing. As described above, the laser beam totally reflected upward is converged on the signal recording surface of the magneto-optical disk MO as the magneto-optical recording medium via the polarization hologram element 12 and the objective lens 13, and the magneto-optical disk MO is thus recorded. The laser light applied to the signal recording surface of P is subjected to the Kerr effect when reflected on the magneto-optical disk MO, and the polarization plane is rotated P
It becomes a component (a component including a magneto-optical signal). The return light from the magneto-optical disc MO containing the P component again passes through the objective lens 13 and the polarization hologram element 12, and the first photodetector 23 and the second photodetector 24 of the light receiving and emitting element 11 are returned.
To be incident on.
【0020】上記偏光性ホログラム素子12は、常光を
透過させ且つ異常光を回折するように構成されている。
これにより、偏光性ホログラム素子12は、光磁気ディ
スクMOの信号記録面からの戻り光を0次光及びプラス
マイナス1次回折光に分離するようになっている。The polarizing hologram element 12 is constructed so as to transmit ordinary light and diffract extraordinary light.
Thereby, the polarization hologram element 12 separates the return light from the signal recording surface of the magneto-optical disc MO into 0th-order light and plus / minus 1st-order diffracted light.
【0021】この偏光性ホログラム素子12は、例えば
図2に示すように、複屈折回折格子型素子として構成さ
れており、ニオブ酸リチウムから成る基板12aと、こ
の基板12aの入射側に、例えば安息香酸によるプロト
ン交換法により形成された格子12bとから構成されて
いる。これにより、この格子12bの領域にて、常光に
対する屈折率は、0.13程度増大し、また異常光に対
する屈折率は、0.04程度減少する。As shown in FIG. 2, for example, the polarizing hologram element 12 is constructed as a birefringence diffraction grating type element, and includes a substrate 12a made of lithium niobate and an incident side of the substrate 12a, for example, benzoin. And a lattice 12b formed by a proton exchange method with an acid. As a result, in the region of the grating 12b, the refractive index for ordinary light is increased by about 0.13, and the refractive index for extraordinary light is decreased by about 0.04.
【0022】さらに、偏光性ホログラム素子12は、上
記プロトン交換による格子12bの上に、透過する常光
線が受ける位相差をキャンセルするように選定された厚
さの誘電体から成る位相補償膜12cが設けられてい
る。これにより、見かけ上、異常光線に対してのみプロ
トン交換による屈折率変化が生ずるように、観察される
ことになる。Further, in the polarization hologram element 12, a phase compensation film 12c made of a dielectric material having a thickness selected so as to cancel the phase difference received by the transmitting ordinary ray is provided on the grating 12b formed by the proton exchange. It is provided. Thereby, it is apparent that the extraordinary ray is observed so that the refractive index change due to the proton exchange occurs.
【0023】ここで、偏光性ホログラム素子は、図3に
示すようにして、製造される。即ち、図5において、偏
光性ホログラム素子30は、先づニオブ酸リチウム等の
一軸性結晶から成る基板30aに対して、その両面にア
ルミニウム薄膜30bがコーティングされる。その後、
この基板30aの一面に、アルミニウム薄膜30bの上
から、レジスト膜30cがコーティングされる。このレ
ジスト膜30cに対して、格子状のパターンマスクが載
置され露光されることにより、レジスト膜30cのパタ
ーニングが行なわれる。続いて、エッチング等により、
アルミニウム薄膜30bのパターニングが行なわれた
後、レジスト膜30cが除去される。Here, the polarizing hologram element is manufactured as shown in FIG. That is, in FIG. 5, the polarizing hologram element 30 is formed by first coating a substrate 30a made of a uniaxial crystal such as lithium niobate with aluminum thin films 30b on both surfaces thereof. afterwards,
A resist film 30c is coated on one surface of the substrate 30a from above the aluminum thin film 30b. The resist film 30c is patterned by placing a grid pattern mask on the resist film 30c and exposing the resist film 30c. Then, by etching etc.
After patterning the aluminum thin film 30b, the resist film 30c is removed.
【0024】そして、アルミニウム薄膜30bが除去さ
れた格子状の部分に関して、例えば安息香酸によるプロ
トン交換が行なわれて、プロトン交換層30dが形成さ
れる。続いて、表面全体に亘って、ニオブ酸Nb2 O5
等の誘電体から成る位相補償膜30eのコーティングが
行なわれた後、リフトオフにより、アルミニウム薄膜3
0bが除去される。最後に、表面全体に亘って、SiO
2 層30fがスパッタリングにより形成される。これに
より、基板30aの一面(上面)に、偏光性ホログラム
素子30が形成されることになる。尚、上記の製造工程
及び構成材料は、例示したものであり、他の工程や材料
が使用されることは明らかである。Then, the lattice-shaped portion from which the aluminum thin film 30b has been removed is subjected to proton exchange with, for example, benzoic acid to form a proton exchange layer 30d. Then, over the entire surface, niobate Nb 2 O 5
After the phase compensation film 30e made of a dielectric material such as is coated, the aluminum thin film 3 is lifted off.
0b is removed. Finally, over the entire surface, SiO
Two layers 30f are formed by sputtering. As a result, the polarizing hologram element 30 is formed on one surface (upper surface) of the substrate 30a. It should be noted that the above manufacturing steps and constituent materials are just examples, and it is obvious that other steps and materials are used.
【0025】かくして、偏光性ホログラム素子12は、
図2に示すように、入射光を、光学軸Xの方向に関し
て、垂直な方向の常光と平行な方向の異常光に分割する
ことになる。即ち、入射する戻り光ビームは、図示のよ
うに、常光が0次光として透過すると共に、異常光がプ
ラスマイナス1次光として、回折されることになる。こ
れに対して、前述した第一の光検出器23及び第二の光
検出器24は、それぞれ偏光性ホログラム素子12によ
り分割された0次光とプラスマイナス1次光が入射し得
るように、共焦点近傍に配設されている。尚、第二の光
検出器24は、−1次光に対しては焦点位置の前側に、
また+1次光に対しては焦点位置の後側に配設されてい
る。Thus, the polarizing hologram element 12 is
As shown in FIG. 2, with respect to the direction of the optical axis X, the incident light is split into normal light in a direction perpendicular to the normal light and extraordinary light in a direction parallel to the normal light. That is, in the incident return light beam, the ordinary light is transmitted as the 0th-order light and the extraordinary light is diffracted as the plus / minus 1st-order light, as shown in the figure. On the other hand, the first photodetector 23 and the second photodetector 24 described above are configured so that the 0th-order light and the plus / minus 1st-order light split by the polarization hologram element 12 can enter, respectively. It is arranged near the confocal point. The second photodetector 24 is located at the front side of the focus position for the −1st order light.
Further, it is arranged on the rear side of the focus position for + 1st order light.
【0026】さらに、偏光性ホログラム素子12は、そ
の光学軸が、入射光の偏光方向に対して45度傾斜する
ように配設されている。Further, the polarization hologram element 12 is arranged so that its optical axis is inclined by 45 degrees with respect to the polarization direction of the incident light.
【0027】対物レンズ13は、凸レンズであって、偏
光性ホログラム素子12からの光ビームを、回転駆動さ
れる光磁気ディスクMOの記録面の所望のトラック上に
集光させる。The objective lens 13 is a convex lens and focuses the light beam from the polarization hologram element 12 on a desired track on the recording surface of the magneto-optical disk MO which is rotationally driven.
【0028】前記第一の光検出器23と第二の光検出器
24は、図4に示すように、それぞれ分割されて形成さ
れている。すなわち、第一の光検出器23は、4つのセ
ンサ部a,b,c,dに分割されており、第二の光検出
器24は、それぞれ3つのセンサ部e,f,gとh,
i,jに分割されている。The first photodetector 23 and the second photodetector 24 are formed separately as shown in FIG. That is, the first photodetector 23 is divided into four sensor parts a, b, c, d, and the second photodetector 24 is divided into three sensor parts e, f, g and h, respectively.
It is divided into i and j.
【0029】そして、第一及び第二の光検出器23,2
4の各センサ部a乃至jの検出信号は、図示しない処理
回路において、それぞれヘッドアンプにより増幅された
後、出力信号Sa,Sb,Sc,Sd,Se,Sf,S
g,Sh,Si,Sjとなり、さらに演算回路によっ
て、それぞれ光磁気(MO)信号そしてフォーカスエラ
ー信号及びトラッキングエラー信号が演算されるように
なっている。尚、第一の光検出器23は、その受光面の
少なくとも一部が、半導体レーザ素子21から光ビーム
の波長をλ,対物レンズ14の開口数をNAとすると
き、この受光面の配置基準面を横切る光ビームの光軸か
らの距離が、例えば1.22λ/開口数(NA)以内の
位置に設けられている。Then, the first and second photodetectors 23, 2
The detection signals of the sensor units a to j of No. 4 are amplified by head amplifiers in a processing circuit (not shown) and then output signals Sa, Sb, Sc, Sd, Se, Sf, S.
g, Sh, Si, Sj, and the arithmetic circuit calculates the magneto-optical (MO) signal, the focus error signal, and the tracking error signal, respectively. When the wavelength of the light beam from the semiconductor laser element 21 is λ and the numerical aperture of the objective lens 14 is NA, at least a part of the light receiving surface of the first photodetector 23 is the arrangement reference of this light receiving surface. The distance from the optical axis of the light beam that traverses the surface is provided at a position within 1.22λ / numerical aperture (NA), for example.
【0030】本実施形態による光学ピックアップ10は
以上のように構成されており、半導体レーザ素子21か
ら出射されたP偏光の光ビームは、半導体基板20上の
反射鏡22により反射され、偏光性ホログラム素子12
に入射する。ここで、偏光性ホログラム素子12は、入
射光のうち、常光は透過させ、異常光のみを回折させ
る。即ち、入射する光ビームの常光成分をIo:(1−
X),異常光成分Ie:Xとし、また異常光線に対する
回折効率を(1−η)とすると、図5に示すように、半
導体レーザ素子21からの光ビームは、偏光性ホログラ
ム素子12を通過後に、その0次光は、常光成分Io
0:(1−X),異常光成分Ie0:X×ηとなり、プ
ラスマイナス1次光は、常光成分Io1:0,異常光成
分Ie1:X×(1−η)/2となる。The optical pickup 10 according to the present embodiment is configured as described above, and the P-polarized light beam emitted from the semiconductor laser device 21 is reflected by the reflecting mirror 22 on the semiconductor substrate 20, and the polarization hologram is obtained. Element 12
Incident on. Here, the polarization hologram element 12 transmits ordinary light of incident light and diffracts only extraordinary light. That is, the ordinary component of the incident light beam is Io: (1-
X), the extraordinary light component Ie: X, and the diffraction efficiency for the extraordinary ray is (1-η), the light beam from the semiconductor laser element 21 passes through the polarization hologram element 12, as shown in FIG. Later, the zero-order light is the ordinary light component Io.
0: (1−X), extraordinary light component Ie0: X × η, and plus / minus primary light becomes ordinary light component Io1: 0 and extraordinary light component Ie1: X × (1−η) / 2.
【0031】この場合、偏光性ホログラム素子12は、
矩形断面構造を有する薄い位相格子を有していることか
ら、その0次回折効率ηは、一般にIn this case, the polarizing hologram element 12 is
Since it has a thin phase grating with a rectangular cross-sectional structure, its zero-order diffraction efficiency η is generally
【数1】 で表わされ、γは格子を形成する二つの領域を透過する
光の位相差である。従って、偏光性ホログラム素子12
を透過した0次光の常光成分Io0と異常光成分Ie0
の間には、γなる位相差が生ずることになる。[Equation 1] Where γ is the phase difference of the light transmitted through the two regions forming the grating. Therefore, the polarization hologram element 12
Ordinary component Io0 and extraordinary component Ie0 of the zero-order light transmitted through
Between them, a phase difference of γ will occur.
【0032】かくして、偏光性ホログラム素子12を透
過した0次光の偏光状態は、図6に示すように、入射偏
光方向に対して45度傾いた方位角の楕円偏光となる。
ここで、偏光性ホログラム素子12は、その光学軸が、
入射偏光に対して−45度傾いているので、位相差γ
は、Thus, the polarization state of the 0th-order light transmitted through the polarization hologram element 12 becomes elliptically polarized light having an azimuth angle inclined by 45 degrees with respect to the incident polarization direction, as shown in FIG.
Here, the polarization hologram element 12 has an optical axis
Since it is tilted by -45 degrees with respect to the incident polarized light, the phase difference γ
Is
【数2】 となっている。これにより、偏光性ホログラム素子12
を透過した出射偏光は、入射偏光に対して、位相ずれを
生ずることがない。このようにして偏光ホログラム素子
12により分割された0次光ビームは、対物レンズ13
を介して、光磁気ディスクMOの信号記録面に収束され
る。[Equation 2] It has become. Thereby, the polarization hologram element 12
The outgoing polarized light that has passed through does not cause a phase shift with respect to the incident polarized light. The 0th-order light beam divided by the polarization hologram element 12 in this way is the objective lens 13
Is focused on the signal recording surface of the magneto-optical disc MO.
【0033】光磁気ディスクMOの信号記録面で反射さ
れると共にカー効果によって偏光面が回転されてS偏光
成分のMO信号(光磁気信号)を含む戻り光ビームは、
対物レンズ13を透過して、再び偏光性ホログラム素子
12に入射する。この場合、偏光性ホログラム素子12
に入射する戻り光ビームは、偏光性ホログラム素子12
により、常光の0次光が透過すると共に、異常光のプラ
スマイナス1次回折光が、それぞれ回折されることにな
る。The return light beam including the MO signal (magneto-optical signal) of the S-polarized component, which is reflected by the signal recording surface of the magneto-optical disk MO and whose polarization plane is rotated by the Kerr effect,
The light passes through the objective lens 13 and enters the polarizing hologram element 12 again. In this case, the polarizing hologram element 12
The return light beam incident on the polarization hologram element 12
Thus, the ordinary 0th-order light is transmitted and the extraordinary plus / minus 1st-order diffracted light is diffracted.
【0034】即ち、入射する光ビームの常光成分をIo
0:(1−X),異常光成分Ie0:X×ηとすると、
図7に示すように、光磁気ディスクMOからの戻り光
は、偏光性ホログラム素子12を通過後に、その0次光
は、常光成分Io00:(1−X),異常光成分Ie0
0:X×η2 となり、プラスマイナス1次光は、常光成
分Io01:0,異常光成分Ie01:X×(1−η)
・η/2となる。ところで、偏光性ホログラム素子12
への入射光が、Io:0.5,Ie:0.5であるよう
にした場合、0次光の常光成分Io00:0.5,異常
光成分Ie00:0.5×η2 となり、プラスマイナス
1次光の常光成分Io01:0,異常光成分Ie01:
0.25×(1−η)・ηとなり、Ie01の最大値を
与えるのは、η=50%のときである。That is, the ordinary component of the incident light beam is Io
0: (1−X), extraordinary light component Ie0: X × η,
As shown in FIG. 7, the return light from the magneto-optical disk MO passes through the polarization hologram element 12, and its 0th-order light is an ordinary light component Io00: (1-X) and an extraordinary light component Ie0.
0: X × η 2 , and the plus / minus primary light has an ordinary light component Io01: 0 and an extraordinary light component Ie01: X × (1-η).
・ It becomes η / 2. By the way, the polarizing hologram element 12
When the incident light on Io: 0.5 and Ie: 0.5 is set, the ordinary light component Io00: 0.5 and the extraordinary light component Ie00: 0.5 × η 2 of the 0th-order light become positive. The ordinary light component Io01: 0 of the minus first-order light and the extraordinary light component Ie01:
0.25 × (1−η) · η, and the maximum value of Ie01 is given when η = 50%.
【0035】また、0次光は、反射鏡22が存在するこ
とから、第一の光検出器23での全入射光に対する検出
可能光量が30%であるとすると、第一の光検出器23
における光量の総和と第二の光検出器24における光量
の総和の間には、第二の光検出器25における電気的増
幅率をAとすると、Further, since the 0th-order light has the reflecting mirror 22, the amount of light that can be detected by the first photodetector 23 with respect to the total incident light is 30%.
When the electrical amplification factor in the second photodetector 25 is A between the sum of the light amounts in the second photodetector 24 and the sum of the light amounts in the second photodetector 24,
【数3】 から、A=1.5が決まる。かくして、以上の条件の場
合には、光磁気信号MOは、図4にて、(Equation 3) From this, A = 1.5 is determined. Thus, under the above conditions, the magneto-optical signal MO is as shown in FIG.
【数4】 により検出される。また、トラッキングエラー信号TR
Kは、(Equation 4) Is detected by In addition, the tracking error signal TR
K is
【数5】 により検出される。(Equation 5) Is detected by
【0036】さらに、フォーカスエラー信号FCSは、
偏光性ホログラム素子12がレンズ効果を有しているこ
とから、+1次光は光検出器の前側に、また−1次光は
光検出器の後側に焦点を結ぶようになっていることか
ら、Further, the focus error signal FCS is
Since the polarization hologram element 12 has a lens effect, the + 1st-order light is focused on the front side of the photodetector, and the -1st-order light is focused on the rear side of the photodetector. ,
【数6】 により検出される。(Equation 6) Is detected by
【0037】ここで、図1の実施形態においては、上記
発光部である半導体レーザ素子21及び反射鏡22と、
第一及び第二の光検出器23,24が、一つの半導体基
板20上に一体に形成されているので、相互の位置決め
が不要となり、半導体基板20の製造時のマスクの精度
による位置決め精度が得られることになり、光学ピック
アップ10の組立が容易に行われる。また、第一及び第
二の光検出器23,24が、偏光性ホログラム素子12
による戻り光の回折限界内に亘って配設されていること
により、発光部に向かって進む戻り光Lrが直接に第一
の光検出器23に入射することになると共に、第一の光
検出器23が共焦点近傍に配設されていることにより、
受光効率が高められることになる。Here, in the embodiment of FIG. 1, the semiconductor laser element 21 and the reflecting mirror 22 which are the above-mentioned light emitting parts,
Since the first and second photodetectors 23 and 24 are integrally formed on one semiconductor substrate 20, mutual positioning is not necessary, and the positioning accuracy due to the accuracy of the mask when manufacturing the semiconductor substrate 20 is improved. As a result, the optical pickup 10 can be easily assembled. In addition, the first and second photodetectors 23 and 24 are
Since the return light Lr traveling toward the light emitting portion is directly incident on the first photodetector 23 by being disposed within the diffraction limit of the return light by the first photodetector 23 Since the container 23 is arranged near the confocal point,
The light receiving efficiency can be improved.
【0038】上述した実施形態においては、偏光性ホロ
グラム素子12は、複屈折回折格子型素子として構成さ
れているが、これに限らず、他の構成の偏光性ホログラ
ムとして構成されていてもよいことは明らかである。ま
た、上述した実施形態においては、偏光性ホログラム素
子12が、異常光に対してのみ、入射光を回折させるよ
うに構成されているが、これに限らず、常光に対しての
み入射光を回折させるような構成の偏光性ホログラム素
子も使用されることは明らかである。In the above-mentioned embodiment, the polarization hologram element 12 is constructed as a birefringence diffraction grating type element, but the invention is not limited to this, and it may be constructed as a polarization hologram of another construction. Is clear. Further, in the above-described embodiment, the polarization hologram element 12 is configured to diffract the incident light only with respect to the extraordinary light, but is not limited to this, and diffracts the incident light only with respect to the ordinary light. Obviously, a polarizing hologram element having such a structure is also used.
【0039】[0039]
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、小
型に構成でき、しかも製造の簡略化,信頼性の向上,さ
らに光検出器への戻り光の入射光量の増大により、光検
出器の検出出力の増大,発光部の低パワー化そして消費
電力の低減化を図るようにした、光学ピックアップを提
供することができる。As described above, according to the present invention, it is possible to reduce the size of a photodetector because of its compact structure, simplification of manufacturing, improvement in reliability, and increase in the amount of incident light returning to the photodetector. It is possible to provide an optical pickup in which the detection output of the container is increased, the power of the light emitting unit is reduced, and the power consumption is reduced.
【図1】本発明による光学ピックアップの一実施形態の
全体構成を示す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an overall configuration of an embodiment of an optical pickup according to the present invention.
【図2】図1の光学ピックアップにおける偏光性ホログ
ラム素子の構成例と入射光線の偏光方向を示す概略斜視
図である。2 is a schematic perspective view showing a configuration example of a polarizing hologram element in the optical pickup of FIG. 1 and a polarization direction of an incident light beam.
【図3】図1の光学ピックアップにおける偏光性ホログ
ラム素子の製造工程の一例を順次に示す工程図である。3A to 3D are process diagrams sequentially showing an example of a manufacturing process of a polarizing hologram element in the optical pickup of FIG.
【図4】図1の光学ピックアップにおける各光検出器の
構成を示す拡大平面図である。4 is an enlarged plan view showing the configuration of each photodetector in the optical pickup of FIG.
【図5】図4の偏光性ホログラム素子の往路の回折状態
を示す断面図である。5 is a cross-sectional view showing a diffraction state in the outward path of the polarization hologram element of FIG.
【図6】偏光性ホログラム素子による光ビームの偏光状
態の変化を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing changes in the polarization state of a light beam by a polarizing hologram element.
【図7】図4の偏光性ホログラム素子の複路の回折状態
を示す断面図である。7 is a cross-sectional view showing a diffracted state of multiple paths of the polarization hologram element of FIG.
【図8】従来の光学ピックアップの一例の構成を示す概
略図である。FIG. 8 is a schematic diagram showing a configuration of an example of a conventional optical pickup.
10 光学ピックアップ 11 受発光素子 12 偏光性ホログラム素子 13 対物レンズ 20 半導体基板 21 半導体レーザ素子 22 反射鏡 23 第一の光検出器 24 第二の光検出器 10 Optical Pickup 11 Light Receiving / Emitting Element 12 Polarizing Hologram Element 13 Objective Lens 20 Semiconductor Substrate 21 Semiconductor Laser Element 22 Reflecting Mirror 23 First Photodetector 24 Second Photodetector
Claims (9)
信号記録面上に集光するように照射する対物レンズと、 前記発光部と対物レンズとの間に配設され、前記発光部
からの光ビームを0次光とプラスマイナス1次光とに分
離すると共に、光磁気記録媒体からの戻り光ビームを常
光と異常光として、それぞれ0次光とプラスマイナス1
次光とに分離する偏光性ホログラム素子と、 前記偏光性ホログラム素子により分離された戻り光ビー
ムの0次光を共焦点近傍で受光する第一の光検出器と、 前記偏光性ホログラム素子により分離された戻り光ビー
ムのプラスマイナス1次光を共焦点近傍で受光する第二
の光検出器とを備えている、光学ピックアップ。1. A light emitting unit for emitting a light beam, an objective lens for irradiating the light beam emitted from the light emitting unit so as to focus the signal beam on a signal recording surface of a magneto-optical recording medium, the light emitting unit and the objective. It is arranged between the lens and the light beam from the light emitting portion to separate it into 0th order light and plus / minus 1st order light, and returns the returning light beam from the magneto-optical recording medium as ordinary light and extraordinary light, respectively. Next light and plus or minus 1
A polarization hologram element for separating the secondary light, a first photodetector for receiving the 0th order light of the return light beam separated by the polarization hologram element in the vicinity of the confocal point, and a polarization hologram element for separation And a second photodetector for receiving plus or minus primary light of the returned return light beam in the vicinity of the confocal point.
効率が、第二の光検出器にてプラスマイナス1次回折光
量が最大となるように選定されていることを特徴とする
請求項1に記載の光学ピックアップ。2. The polarizing hologram element according to claim 1, wherein the diffraction efficiency of the polarizing hologram element is selected so that the amount of plus / minus first-order diffracted light is maximized by the second photodetector. The optical pickup described.
のプラスマイナス1次回折光が、任意の焦点距離を有す
ることを特徴とする請求項1に記載の光学ピックアッ
プ。3. The optical pickup according to claim 1, wherein the plus / minus first-order diffracted light of the return light from the polarizing hologram element has an arbitrary focal length.
軸が入射光の偏光方向に対して任意の角度だけ傾いて形
成されていることを特徴とする請求項1に記載の光学ピ
ックアップ。4. The optical pickup according to claim 1, wherein the polarizing hologram element is formed such that its optical axis is inclined by an arbitrary angle with respect to the polarization direction of incident light.
軸が入射光の偏光方向に対して45度だけ傾いて形成さ
れていることを特徴とする請求項1に記載の光学ピック
アップ。5. The optical pickup according to claim 1, wherein the polarizing hologram element is formed such that its optical axis is inclined by 45 degrees with respect to the polarization direction of incident light.
器が、一つの基板上に一体に形成されていると共に、 前記発光部が、水平共振器を有する半導体レーザと反射
鏡とを有しており、 前記第一及び第二の光検出器が、フォトダイオードから
構成されていて、 前記フォトダイオードの受光面の少なくとも一部が戻り
光の回折限界内に配設されていることを特徴とする請求
項1に記載の光学ピックアップ。6. The light emitting section and the first and second photodetectors are integrally formed on one substrate, and the light emitting section includes a semiconductor laser having a horizontal resonator and a reflecting mirror. And the first and second photodetectors are composed of photodiodes, and at least a part of the light-receiving surface of the photodiodes is arranged within the diffraction limit of return light. The optical pickup according to claim 1, wherein:
れ少なくとも三分割されていることを特徴とする請求項
1に記載の光学ピックアップ。7. The optical pickup according to claim 1, wherein the first and second photodetectors are each divided into at least three parts.
と、第二の光検出器の出力信号の総和から、光磁気信号
が検出されることを特徴とする請求項7に記載の光学ピ
ックアップ。8. The magneto-optical signal is detected from the sum of output signals of the first photodetector and the sum of output signals of the second photodetector. Optical pickup.
器及び第二の光検出器の出力信号に基づいて、トラッキ
ングエラー信号が検出されると共に、 前記第二の光検出器の出力信号の差に基づいて、フォー
カスエラー信号が検出されることを特徴とする請求項7
に記載の光学ピックアップ。9. A tracking error signal is detected based on the output signals of the first photodetector or the first photodetector and the second photodetector, and the tracking error signal of the second photodetector is detected. 8. The focus error signal is detected based on the difference between the output signals.
An optical pickup according to item 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23621195A JPH0963141A (en) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | Optical pickup |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23621195A JPH0963141A (en) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | Optical pickup |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0963141A true JPH0963141A (en) | 1997-03-07 |
Family
ID=16997429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23621195A Pending JPH0963141A (en) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | Optical pickup |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0963141A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7369467B2 (en) | 2003-06-02 | 2008-05-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup including polarization holographic optical element and photodetector |
-
1995
- 1995-08-22 JP JP23621195A patent/JPH0963141A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7369467B2 (en) | 2003-06-02 | 2008-05-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup including polarization holographic optical element and photodetector |
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