JPH0972845A - 光散乱・吸収体の光学的測定装置 - Google Patents
光散乱・吸収体の光学的測定装置Info
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- JPH0972845A JPH0972845A JP7251892A JP25189295A JPH0972845A JP H0972845 A JPH0972845 A JP H0972845A JP 7251892 A JP7251892 A JP 7251892A JP 25189295 A JP25189295 A JP 25189295A JP H0972845 A JPH0972845 A JP H0972845A
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Abstract
るようにする。 【構成】 プローブ20では送受光部間ピッチが決まっ
ており、受光面積が距離aに影響を与えないほど小さい
場合には、μa・μs’を求める式中で未知数としての
装置定数はln(k1/k2)のみであるので、1種類のキャリ
ブレータ22にプローブ20を装着して測定を行ない、
装置定数ln(k1/k2)を ln(k1/k2)=(a1-a2)(3μa・μs’)1/2 - ln(S2/S1) -
ln(a2/a1)2 として求める。受光面積が距離aに影響を与えるほど大
きい場合や、距離aにずれがある場合には、未知数とし
ての装置定数は 1/(a2-a1)と{1/(a2-a1)}ln(k1a2 2/k2a1 2) の2つになるので、2種類の較正用キャリブレータを用
いて測定を行ない、連立方程式を解いて装置定数を決定
する。求められた装置定数は較正部を実現するCPUに
保持され、未知試料24にプローブ20を装着して測定
を行なう際に使用される。
Description
散乱・吸収体の光学的測定装置に関するものである。
入射し、その被検体の他の部分から出てくる光を検出
し、複数の波長で測定した吸光度変化量の重みつき一次
結合として目的成分の変化量を求めている。
ロビン、脱酸素化ヘモグロビンの濃度変化量をそれぞれ
Δ〔HbO2〕、Δ〔Hb〕とし、散乱成分等による平
行移動量をSと表し、波長λ1、λ2、λ3に対する酸素
化ヘモグロビンの分子吸光度をそれぞれe1,e2,
e3、脱酸素化ヘモグロビンの分子吸光度をそれぞれ
b1,b2,b3とすれば、波長λ1,λ2,λ3についてヘ
モグロビン濃度と吸光度の線形性を仮定して、対応する
吸光度変化ΔA1、ΔA2、ΔA3は ΔA1=e1Δ〔HbO2〕+b1Δ〔Hb〕+S ΔA2=e2Δ〔HbO2〕+b2Δ〔Hb〕+S ΔA3=e3Δ〔HbO2〕+b3Δ〔Hb〕+S ……(a) とかける。これをΔ〔HbO2〕、Δ〔Hb〕、Sを未
知数とする連立方程式として解けば、 Δ〔HbO2〕=k11ΔA1+k12ΔA2+k13ΔA3 Δ〔Hb〕 =k21ΔA1+k22ΔA2+k23ΔA3 ……(b) の形の解が得られる。また(a)式で散乱成分等による
平行移動量Sを考慮しない方法も可能であり、その場合
はS=0として解けば、未知数が2つで式が3つになる
ので、最小自乗法で解けばよく、解の形はやはり(b)
式になる。
係数μaと等価散乱係数μs’(=(1−g)μs;μ
sは散乱係数、gは非等方性パラメータ)の2つの光学
定数により記述することができる。図1に示されるよう
に、半無限体の一部に単位1のデルタ関数のパルス光を
時刻0に入射させ、その入射点からρmm離れた点の1
mm2から時刻tに出る光の強度R(ρ,t)は次の
(1)式で与えられる(APPLIED OPTICS, Vol.28, No.1
2, pp.2331-2336 (1989)参照)。
s’)、cは媒体中での光速、Z0=1/μs’であ
る。入射点から一定の距離だけ離れた受光点で光の強度
を時間分解法により測定し、(1)式にあてはめれば、
光学定数μaとμs’を個々に求めることができ、現在
その方向での検討が進められている。
測定は、測定開始点を零として、それからの変化量の測
定に限られており、絶対量の測定はなされていない。絶
対量を測定しようとすれば、現在のところ時間分解法に
より求める方法しか検討がなされていないが、時間分解
法は装置が大型となり、価格も高価となるので、簡易な
測定装置としては実現することができない。そのため、
定常光法で光学定数の絶対値を求めることが長らく求め
られてきたが、これまで有用な方法が見出されていな
い。
数の絶対測定を行なう装置を提供することである。ここ
で、絶対量とはその時点の量であればよく、それが単位
を持たない比の形であるか、特定の単位を有する本来の
絶対量であるかは問わない。特定の時刻からの変化分だ
けの測定量でなく、その時点の測定量を絶対量と称すこ
とにする。
ローブを用いた場合、入射点と受光点との距離のずれが
積μa・μs’の測定値に影響を与える。入射点が共通
で受光点が複数設けられている場合、受光面積が大きい
ときは受光面積もμa・μs’の測定値に影響を与える
し、複数の受光点の受光器間の感度の違いもμa・μ
s’の測定値に影響を与える。入射点が複数で受光点が
共通の場合には入射光量の違いもμa・μs’の測定値
に影響を与える。これらの入射光量、受光面積、受光器
の感度などは装置関数であり、出荷時に工場で個々の装
置について較正がなされるが、装置が経時変化して光源
の強度が変化したときや、受光器の感度が変化したとき
は再較正をしなければならない。そこで、本発明の第2
の目的は、そのような装置関数の較正手段を備えること
である。
ら被検体の吸収係数μaと等価散乱係数μs’の積μa
・μs’を一括した量として算出する演算部を備えた測
定装置である。被検体の1点に入射した光が入射点から
距離を離れた点から再放射される強さの理論式におい
て、積μa・μs’が常に一括して現れ、再放射される
光の強さを入射点からの距離の関数として測定すれば、
時間分解法を用いることなく積μa・μs’の絶対値を
求めることができる。さらに複数の波長で求められた、
複数個の(μa・μs’)の組の間の比を計算すれば、
被検体のμaの比率という意味での被検体の酸素化度の
絶対値(変化量ではないその時点の値)を算出すること
ができる。これは後述するようにμs’の波長依存性が
各検体についてほぼ等しいので、複数波長の(μa・μ
s’)の組の間の比によりμs’が消去されμaだけが
残るという理由による。
一部に測定光を入射し、その被検体上で前記測定光の入
射点から離れた受光点で測定光を受光するとともに、入
射点と受光点との距離を複数種類に異ならせるように入
射点と受光点のうちの一方が複数個設けられているプロ
ーブを備えた測定光学系と、受光点と入射点の1つの組
における受光点と入射点との距離をa1、その組の受光
点での受光強度をI1、そのときの受光器の出力信号を
S1とし、受光点と入射点の他の組における受光点と入
射点との距離をa2、その組の受光点での受光強度を
I2、そのときの受光器の出力信号をS2としたとき、プ
ローブの入射点が共通で受光点が複数のとき、S1=k1
I1(k1は入射点からの距離a1にある受光点の受光器
の定数)、S2=k2I2(k2は入射点からの距離a2に
ある受光点の受光器の定数)として、
数で受光点が共通のとき、受光点からの距離a1にある
入射点への入射光強度をIo1、受光点からの距離a2に
ある入射点への入射光強度をIo2とし、S1=kI1、S
2=kI2(kは受光点の受光器の定数)として、
る。装置定数の較正を行なうために、μaとμs’のそ
れぞれ又はその積μa・μs’が既知のキャリブレータ
を用いて入射点と受光点との距離の異なる複数の光出力
を測定することにより、上記式中の装置定数を決定する
較正部をさらに備えている。
として扱えば、定常光による絶対測定が可能であること
を示す。定常光の扱いは(1)式を時間積分すればよ
く、その結果は次の(2)式になる。
s’)において、μaはμs’の約1/100であるの
で、μaは無視することができ、D=1/3μs’とし
ても全く差し支えがない。これを、(2)式に代入し、
またa=(ρ2+Z0 2)1/2とおけば、次の(3)式とな
る。
の形で一緒に現れていることが注目される。このこと
は、定常光方式ではμaとμs’は区別できず、常に一
括して扱わざるを得ないことを意味している。しかし、
(μa・μs’)を1つの光学定数と考えると、(3)
式の光学定数はただ1つになるので、計算で求めること
が容易になる。なお、測定を多波長で行なえば、(μa
・μs’)は各波長ごとに求まるので、後述するように
各波長での(μa・μs’)の比を求める演算につなげ
ることができる。
る。
り、十分に大きいと考えることができるので、(4)式
の最終項の1/aは0又は小さい定数と近似することが
できる。その結果、(4)式のln(2πa2R)をf(a)と
おけば、図2に示されるように、(4)式はaの一次式
となる。そこで、2種類の距離a1,a2で出射率Rを測
定し、そこからf(a1),f(a2)を求めれば、(4)
式の直線の傾きは
できる。
出射光強度、Io:入射光強度)であり、出射光は受光
器での出力信号S(=kI,k:定数)で与えられる。
受光点と入射点の1つの組における受光点と入射点との
距離をa1、その組の受光点での受光強度をI1、そのと
きの受光器の出力信号をS1とし、受光点と入射点の他
の組における受光点と入射点との距離をa2、その組の
受光点での受光強度をI2、そのときの受光器の出力信
号をS2とする。プローブの入射点が共通で受光点が複
数のとき、S1=k1I1、S2=k2I2とすれば、(5)
式は次の(6a)式となる。
共通のとき、受光点からの距離a1にある入射点への入
射光強度をIo1、受光点からの距離a2にある入射点へ
の入射光強度をIo2とし、S1=kI1、S2=kI2(k
は受光点の受光器の定数)とすれば、(5)式は次の
(6b)式となる。
に、μa・μs’の利用法と有用性について説明する。
μa・μs’をμas’と表わす。 μas’=μa・μs’……(7) これが各波長、例えばλ1,λ2,λ3で求められ、各時
刻tで求められているとする。すなわち μas'(λi,t) (i=1,2,3) である。
る利点は、μs’は短波長側でやや大きくなるものの、
波長依存性は小さいと考えられており、かつ波長依存性
f(λ)と試料依存性とに分離できることである。そこ
で、 μas’=f(λi)・s(t) ……(8) と表わす。f(λi)は波長依存項、s(t)は個別の検体
と時間tによる項で、波長によらない項である。
め、それらの比をとると、s(t)が消え、次のようにな
る。 m1=μas'(λ1)/μas'(λ3) =(f(λ1)/f(λ3))(μa(λ1)/μa(λ3)) =f13・(μa(λ1)/μa(λ3)) m2=μas'(λ2)/μas'(λ3) =(f(λ2)/f(λ3))(μa(λ2)/μa(λ3)) =f23・(μa(λ2)/μa(λ3)) 故に、 μa(λ1)=μa(λ3)×(m1/f13) μa(λ2)=μa(λ3)×(m2/f23) ……(9) が得られる。これから吸収係数の比が求まる。すなわ
ち、 μa(λ1):μa(λ2):μa(λ3) (m1/f13):(m2/f23):1 ……(10)
μa(λ3)μaがそれぞれ酸素化ヘモグロビン量[Hb
O2]、ヘモグロビン量[Hb]及びチトクロムオキシ
ダーゼ量[Cyt]のみからきたものであるとすれば、
上記3波長の比からこれらの成分の量比が求まることに
なり、従来は変化量Δ[HbO2]、Δ[Hb]及びΔ
[Cyt]の比しか求められなかった状態から、絶対値
の比が求められるところまで進歩したことになる。すな
わち、変化量ではなく、比としてのその時点の量が求め
られる。
の情報である。一方、血液量の情報はμaの絶対値と
(8)式のs(t)の方に含まれているので、(10)式
の比によっては評価することはできない。しかし、等吸
収点(λ=805nm)におけるμas’=μa(80
5)×μs'(805)が血液量の情報を与える。
レーザダイオードなどの1個の光源Lと、光源Lから距
離a1,a2の位置にそれぞれ受光器D1,D2が設けられ
ており、光源Lと受光器D1,D2が被検体2に接触させ
られて使用され。受光器D1,D2の検出信号がそれぞれ
S1,S2となる。μa・μs’演算部14はCPUによ
り実現され、(6a)式に基づいてμa・μs’を算出
する。μa・μs’は各波長ごとに算出され、それらは
表示部16に表示される。酸素化度、血液量演算部18
では、(10)式に与えられるような吸収係数の比を算
出したり、等吸収点でのμa・μs’から血液量を算出
する。複数の波長で測定を行なうことがでる装置とする
には、光源Lに代えてレーザ装置から複数波長のレーザ
光λ1,λ2,λ3が切り換えて発信され、送光ファイバ
を介して被検体に送られるようにすればよい。
入射点の光源Lが共通で、受光点の受光器が複数個(D
1,D2)設けられているプローブ20の一例を表わした
ものである。プローブ20では送受光部間ピッチが決ま
っており、受光面積が距離aに影響を与えないほど小さ
い場合には、(6a)式中で未知数としての装置定数は
ln(k1/k2)のみであるので、μaとμs’のそれぞれ又
はその積μa・μs’が既知の較正用キャリブレータは
1つでよい。
プローブ20を装着して測定を行なえば、装置定数ln(k
1/k2)は ln(k1/k2)=(a1-a2)(3μa・μs’)1/2 - ln(S2/S1) -
ln(a2/a1)2 として求めることができる。
い場合や、距離aにずれがある場合には、(6a)式中
で未知数としての装置定数は 1/(a2-a1)と{1/(a2-a1)}ln(k1a2 2/k2a1 2) の2つになるので、2種類の較正用キャリブレータを用
いて測定を行ない、連立方程式を解いて装置定数を決定
する。
受光器が共通になっている場合も同様に較正を行なうこ
とができる。ただし、この場合は、受光面積が距離aに
影響を与えないほど小さい場合には、(6b)式中で未
知数としての装置定数はln(Io1/Io2)のみとなり、1
種類のキャリブレータを用いて、 ln(Io1/Io2)=(a1-a2)(3μa・μs’)1/2 - ln(S2/
S1) - ln(a2/a1)2 として求めることができる。
ど大きい場合や、距離aにずれがある場合には、(6
b)式中で未知数としての装置定数は 1/(a2-a1)と{1/(a2-a1)}ln(Io1a2 2/Io2a1 2) の2つになるので、2種類の較正用キャリブレータを用
いて測定を行ない、連立方程式を解いて装置定数を決定
する。求められた装置定数は較正部を実現するCPUに
保持され、図4(C)のように未知試料24にプローブ
20を装着して測定を行なう際に使用される。較正の精
度を上げるために、さらに多くのキャリブレータを用い
てもよい。
光の入射点から異なる距離だけ離れた複数の受光点で測
定光を受光することにより、吸収係数μaと等価散乱係
数μs’との積μa・μs’の絶対値を求めることがで
き、従来不可能であった定常光法による光学定数の絶対
測定が可能になる。従来は時間分解法であれば光学定数
の絶対測定の可能性はあるが、定常光法で絶対測定を行
なうものはない。その結果、本発明によれば、光学定数
の絶対測定を安価な定常光方式の装置で実現できる。さ
らに、本発明では従来からの懸案であった濃度の絶対値
を比例係数を除いて簡単な方法で得ることができる。キ
ャリブレータを用いて装置定数を較正することにより、
複数の受光器のゲインや受光面積に関係なく、複数の受
光器の感度のドリフトを含め、装置全体を一括して較正
することができ、正確にμa・μs’を測定することが
できる。したがって、例えばヘモグロビン量の絶対測定
において、正確さを向上させることができる。装置にキ
ャリブレータを付属品として装備しておくことにより、
必要に応じて簡単に較正を行なうことができるようにな
り、出荷時だけの較正の限界を越えることができる。
示す図である。
ある。
演算部をブロック図で示す図である。
はプローブの断面図、(B)は較正動作を示す断面図、
(C)は未知試料の測定動作を示す断面図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 光散乱・吸収体である被検体の一部に測
定光を入射し、その被検体上で前記測定光の入射点から
離れた受光点で測定光を受光するとともに、入射点と受
光点との距離を複数種類に異ならせるように入射点と受
光点のうちの一方が複数個設けられているプローブを備
えた測定光学系と、 受光点と入射点の1つの組における受光点と入射点との
距離をa1、その組の受光点での受光強度をI1、そのと
きの受光器の出力信号をS1とし、受光点と入射点の他
の組における受光点と入射点との距離をa2、その組の
受光点での受光強度をI2、そのときの受光器の出力信
号をS2としたとき、 前記プローブの入射点が共通で受光点が複数のとき、S
1=k1I1(k1は入射点からの距離a1にある受光点の
受光器の定数)、S2=k2I2(k2は入射点からの距離
a2にある受光点の受光器の定数)として、 【数1】 に基づいてμa・μs’を求め、 前記プローブの入射点が複数で受光点が共通のとき、受
光点からの距離a1にある入射点への入射光強度をI
o1、受光点からの距離a2にある入射点への入射光強度
をIo2とし、S1=kI1、S2=kI2(kは受光点の受
光器の定数)として、 【数2】 に基づいてμa・μs’を求める演算部と、を備えたこ
とを特徴とする光学的測定装置。 ただし、μa;吸収係数 μs’=(1−g)μs; μs;散乱係数 g;散乱の非等方性パラメータ - 【請求項2】 μaとμs’のそれぞれ又はその積μa
・μs’が既知のキャリブレータを用いて入射点と受光
点との距離の異なる複数の光出力を測定することによ
り、上記式中の装置定数を決定する較正部をさらに備え
ている請求項1に記載の光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7251892A JPH0972845A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 光散乱・吸収体の光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7251892A JPH0972845A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 光散乱・吸収体の光学的測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0972845A true JPH0972845A (ja) | 1997-03-18 |
Family
ID=17229508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7251892A Pending JPH0972845A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 光散乱・吸収体の光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0972845A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002139420A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-17 | Hamamatsu Photonics Kk | 散乱吸収体計測装置の校正方法、及びそれを用いた散乱吸収体計測装置 |
-
1995
- 1995-09-04 JP JP7251892A patent/JPH0972845A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002139420A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-17 | Hamamatsu Photonics Kk | 散乱吸収体計測装置の校正方法、及びそれを用いた散乱吸収体計測装置 |
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