JPH0980410A - 液晶表示体基板の検査装置 - Google Patents

液晶表示体基板の検査装置

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JPH0980410A
JPH0980410A JP7255674A JP25567495A JPH0980410A JP H0980410 A JPH0980410 A JP H0980410A JP 7255674 A JP7255674 A JP 7255674A JP 25567495 A JP25567495 A JP 25567495A JP H0980410 A JPH0980410 A JP H0980410A
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substrate
inspection
cassette
liquid crystal
crystal display
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JP7255674A
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English (en)
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Itaru Iida
到 飯田
Satoshi Sano
聡 佐野
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TERU ENG KK
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
TERU ENG KK
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 液晶表示体基板をその検査結果に応じて複数
に分類してカセットに収納できるLCD基板Sの検査装
置を提供する。 【構成】 本検査装置1は、複数のLCD基板Sが収納
されたカセットCを載置するカセット載置部4と、この
カセット載置部4のカセットCとLCD基板Sの電気的
検査を行うプローバ部3との間でLCD基板Sを搬送す
る基板搬送機構5と、この基板搬送機構5を駆動制御す
るローダコントローラ8とを備え、上記ローダコントロ
ーラ8は、プローバ部3での検査結果に基づいて検査後
のLCD基板Sの品質を判別する判別手段と、この判別
手段の判別結果に基づいて基板搬送機構5による検査後
のLCD基板Sの搬送場所を指定する搬送場所指定手段
とを備えたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利分野】本発明は、液晶表示体基板(以下、
必要に応じて「LCD基板」と称す。)の電気的特性や
点灯検査を行う検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばTFT型LCD基板には、LCD
の画素をON、OFF駆動する電気回路がガラス基板上
にマトリックス状に形成されている。そして、例えばL
CD基板の2辺の電気回路の接点となる電極パッドが多
数配列されている。また、電気的検査を行なう場合に
は、LCD用基板を正確に位置決めした後行なう必要が
あるため、LCD用基板上のコーナー部には例えばクロ
スマークなどからなるアライメントマークが形成されて
いる。
【0003】LCD基板の電気的検査を行う検査装置
は、一般に、LCD基板をロード、アンロードするロー
ダ部と、このローダ部から受け取ったLCD基板の電気
的検査を行なうプローバ部とを備えている。ローダ部は
カセット内に例えば25枚収納されたLCD基板を1枚
ずつロード、アンロードするように構成されている。こ
のローダ部は、例えばカセットを載置するカセット載置
部と、このカセット載置部に載置されたカセット内のL
CD基板を1枚ずつ取り出してプローバ部へ搬送する基
板搬送機構と、この基板搬送機構による搬送過程でLC
D基板を予め所定方向へ位置決めするプリアライメント
機構とを備えている。
【0004】また、プローバ部は、ローダ部の基板搬送
機構から受け取ったLCD基板を保持する検査用載置台
と、この検査用載置台上に載置されたLCD基板の各電
極パッドと電気的に接触するプローブを有するプローブ
ボードとを備えている。検査用載置台は、X方向、Y方
向、Z方向及びθ方向で移動可能で、ローダ部から受け
取ったLCD基板をアライメントした後プローブボード
の下方へ移動させ、LCD基板の各電極パッドをそれぞ
れに対応したプローブボードの各プローブに電気的に接
触させて電気的検査を行なうように構成されている。
【0005】また、LCD基板の点灯検査を行う検査装
置の場合には、検査用載置台に照明装置が内蔵され、こ
の照明装置により検査用載置台上のLCD基板を裏面か
ら照明すると共に、検査用載置台を移動させてLCD基
板の各電極パッドをプローブに電気的に接触させ、LC
D基板の各表示画素が正常に表示されるか否かを検査す
るようにしてある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種の検査装置の場合には、LCD基板の電気回路に
欠陥があるか否かを検査し、良品と不良品とを分類して
それぞれのカセットに収納し、修理可能なものまで不良
品として分類されているため、修理可能なものを後工程
で欠陥のレベルに応じて再分類しなくてはならないとい
う課題があった。また、LCD基板検査の検査項目は一
定している反面、カセットと検査部間におけるLCD基
板の搬送形態は一様ではなく、比較的変更されることが
多いにも拘らず、従来の検査装置の場合には、ローダ部
と検査部が一体的に構成されているため、検査装置が所
定の仕様に従って完成すると、その後の仕様変更が難し
く、種々の搬送形態に対応しきれないという課題があっ
た。また、従来の検査装置の場合には、LCD基板が収
納されたカセットをカセット載置部へ一旦供給すると、
全てのLCD基板の検査が終了するまでLCD基板がい
かなる工程にあるかを把握することが難しいという課題
があった。
【0007】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、液晶表示体基板をその検査結果に応じて複
数に分類してカセットに収納できる液晶表示体基板の検
査装置を提供することを目的としている。また、検査工
程のいかなる段階に液晶表示体基板が存在するかを把握
できる液晶表示体基板の検査装置を提供することを目的
としている。更に、液晶表示体基板の種々の搬送形態に
応じてローダ部を変更できる液晶表示体基板の検査装置
を提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の液晶表示体基板の検査装置は、複数の液晶表示体基板
が収納されたカセットを載置するカセット載置部と、こ
のカセット載置部のカセットと液晶表示体基板の電気的
検査を行う検査部との間で液晶表示体基板を搬送する基
板搬送機構と、この基板搬送機構を駆動制御する制御機
構とを備えた検査装置において、上記制御機構は、上記
検査部での検査結果に基づいて検査後の液晶表示体基板
の品質を判別する判別手段と、この判別手段の判別結果
に基づいて上記基板搬送機構による検査後の液晶表示体
基板の搬送場所を指定する搬送場所指定手段とを備えた
ことを特徴とするものである。
【0009】また、本発明の請求項2に記載の液晶表示
体基板の検査装置は、複数の液晶表示体基板が収納され
たカセットを載置するカセット載置部と、上記液晶表示
体基板の電気的検査を行う検査部と、上記カセット載置
部のカセットと上記検査部との間で液晶表示体基板を授
受する基板搬送機構とを備えた検査装置において、上記
液晶表示体基板の現在位置を表示する表示手段を設けた
ことを特徴とするものである。
【0010】また、本発明の請求項3に記載の液晶表示
体基板の検査装置は、複数の液晶表示体基板が収納され
たカセットを載置するカセット載置部と、このカセット
載置部のカセットと液晶表示体基板の電気的検査を行う
検査部との間で液晶表示体基板を搬送する基板搬送機構
と、この基板搬送機構を駆動制御する制御機構とを備え
た検査装置において、上記カセット載置部及び上記基板
搬送機構は、上記検査部に対して分離可能で且つ変更可
能にに構成されたことを特徴とするものである。
【0011】
【作用】本発明の請求項1に記載の発明によれば、基板
搬送機構がカセット載置部のカセット内から検査部へ液
晶表示体基板を搬送し、検査部において液晶表示体基板
の検査を行うと、制御機構の判別択手段が検査結果に基
づいて検査後の液晶表示体基板の品質(例えば欠陥の有
無及び欠陥の程度)を判別し、この判別結果に基づいて
搬送場所指定手段が基板搬送機構による検査後の液晶表
示体基板の搬送場所を指定すると、基板搬送機構は検査
部から受け取った検査後の液晶表示体基板をその品質に
即した方向へ搬送して該当するカセットへ収納すること
ができる。
【0012】また、本発明の請求項2に記載の発明によ
れば、基板搬送機構がカセット載置部のカセット内から
検査部へ液晶表示体基板を搬送し、検査部において液晶
表示体基板の検査を行う際に、表示手段に液晶表示体基
板の現在位置を表示し、検査装置内における液晶表示体
基板の所在を表示手段を介して知ることができ、検査の
進捗状況を把握することができる。
【0013】また、本発明の請求項3に記載の発明によ
れば、基板搬送機構がカセット載置部のカセット内から
検査部へ液晶表示体基板を搬送し、検査部において液晶
表示体基板の検査を行い、例えば、検査部の検査結果に
基づいて分類する品質数が増減する場合には、その品質
の増減に応じてローダ部及び基板搬送機構を検査部から
分離し、ローダ部及び基板搬送機構に変更して液晶表示
体基板の品質に即して分類、収納することができる。
【0014】
【実施例】以下、図1〜図6に示す実施例に基づいて本
発明を説明する。本実施例の検査装置1はLCD基板S
の点灯検査を行うように構成されている。この検査装置
1は、図1、図2の(a)に示すように、LCD基板S
のローダ部2と、このローダ部2から引き渡されたLC
D基板Sの点灯検査を行うプローバ部3とを備えて構成
されている。
【0015】上記ローダ部2は、例えば25枚単位でカ
セットC内に収納されたLCD基板Sを載置するカセッ
ト載置部4と、このカセット載置部4のカセットCから
未検査のLCD基板Sを取り出し、検査後のLCD基板
Sを収納する基板搬送機構5とを備えている。そして、
カセット載置部4には図1に示すように横方向に所定間
隔を空けて複数個例えば5個のカセットCを載置するよ
うに形成されている。5個のカセットのうち、例えば、
図1の上から2番目までのカセットC1、C2はそれぞ
れ検査前のLCD基板Sを収納し、他の3個のカセット
Cは検査後のLCD基板Sを品質に即して分類し、収納
するようにしてある。検査後のLCD基板Sは、例え
ば、良品、やや良品、不良品の3階級に分類され、この
順序で図1の上から3番目のカセットC3、4番目のカ
セットC4、5番目のカセットC5へそれぞれ収納され
るようにしてある。また、このカセット載置部4には異
物の侵入を検出したり、カセットC内のLCD基板Sの
種類を読み取ったりする各種のセンサが取り付けられ、
各種のセンサを利用して自動搬送車のカセットCをカセ
ット載置部4において自動的且つ安全に搬入、搬出でき
るようにしてある。また、上記基板搬送機構5は、図1
に示すように、搬送アーム6と、この搬送アーム6を駆
動させるローダ駆動部7と、このローダ駆動部7を駆動
制御するローダコントローラ8とを備え、上記搬送アー
ム6は後述するように上下2枚の搬送アーム6A、6B
からなっている。
【0016】一方、上記ローダコントローラ8は、LC
D基板Sの検査結果に基づいてそのLCD基板Sの品質
を判別する判別回路と、この判別回路の判別結果に基づ
いて基板搬送機構5の搬送場所を指定する搬送場所指定
回路とを備え、これら両回路は所定のプログラムに従っ
て機能するようにしてある。即ち、LCD基板Sは、多
数の画素と、これらの画素をON、OFF駆動する電気
回路を有しているが、中には僅かではあるが各画素間の
仕切に欠陥があったり、電気回路の一部に断線箇所があ
ったりして、一部の画素に滲みがあったり、部分的に表
示できない画素などがある。そして、欠陥の程度も一様
ではなく、修理可能なものあれば、修理不可能なものも
ある。そこで、本実施例では、例えば、品質に応じて、
前述のように良品と、欠陥があっても修理可能なやや良
品と、修理不可能な不良品に分類するようにしてある。
そして、この品質はテストシステム17からの信号に基
づいてローダコントローラ8の判別回路により判別する
ようにしてある。判別回路において品質を判別すると、
搬送場所指定回路が判別回路からの信号に基づいてロー
ダ駆動部7を制御し、その品質に即したカセットCへ搬
送アーム6を搬送して収納するようにしてある。
【0017】また、上記ローダコントローラ8には図1
に示すように表示装置9が電気配線を介して接続されて
いる。この表示装置9はローダ部2を操作するタッチパ
ネルの機能を有し、タッチパネルに表示された操作項目
に触れることで、ローダコントローラ8との間で信号を
授受し該当する操作を行うようにしてある。また、表示
装置9はパネル操作によりその表示内容を切り替えるこ
とができ、この切り替えにより表示装置9の画面にロー
ダ部2の各構成機器をグラフィック表示すると共に、後
述するようにローダ部2内におけるLCD基板Sの現在
位置をグラフィック表示するようにしてある。従って、
表示装置9の画面を見ることでプローバ部2内における
LCD基板Sの現在位置を確認できるようにしてある。
【0018】一方、上記プローバ部3は、図2の(a)
に示すように、LCD基板Sの点灯検査を行う検査領域
3Aと、この検査領域3AのY方向両側に形成されたア
ライメント領域3B、3Cの3つの領域に区画されてい
る。そして、プローバ部3は、アライメント領域3B、
3C内にそれぞれ配設され且つこれらの領域で基板搬送
機構5との間でLCD基板Sを授受する2台の検査用載
置台10、10と、各検査用載置台10をX、Y、Z及
びθ方向へ駆動させるプローバ駆動部11(ボールネジ
111、Xレール112等から構成されている)と、こ
のプローバ駆動部11を駆動制御するプローバコントロ
ーラ12と、このプローバコントローラ12の制御下で
検査用載置台10上のLCD基板Sの電極パッドに電気
的に接触するプローブを有するプローブカード13とを
備えている。また、上記検査領域3Aの上方には撮像手
段としてのCCDカメラ14(図2の(a)では図示せ
ず)が配設されている。このCCDカメラ14は画像処
理装置15を介して表示装置16に接続され、点灯検査
時のLCD基板Sを撮像し、LCD基板Sを構成する画
素をカラー表示し、検査状況を画面において観察するよ
うにしてある。
【0019】上記プローバコントローラ12及びプロー
ブカード13には図1に示すようにテストシステム17
が接続されている。そして、テストシステム17は、プ
ローブカード13を介してLCD基板Sの電気回路へ点
灯検査に必要な信号を送信して点灯検査を行うと共に、
検査結果に基づいてLCD基板Sの品質に即した信号を
プローバコントローラ12を介してローダコントローラ
8へ送信するようにしてある。尚、表示装置16はロー
ダ部2の表示装置9と同様にタッチパネルを兼ね、表示
装置9と共に検査装置1の正面に配設され、両者を監視
し易いようにしてある。
【0020】更に、上記基板搬送機構5の搬送アーム6
A、6Bには表面には複数の吸引用孔6C(図5参照)
が形成され、この吸引用孔6Cを介してLCD用基板S
を真空吸着するようにしてある。これらの吸引用孔6C
には圧力センサ(図示せず)が配設され、搬送アーム6
A、6B上にLCD基板Sが載置されている時にはその
減圧状態を介してLCD基板Sの存在を検出し、その検
出信号s1をローダコントローラ8へ送信するようにし
てある。そして、ローダコントローラ8は検出信号s1
に基づいた信号を表示装置9へ送信し、その画面上にグ
ラフィック表示された搬送アームにLCD基板Sの存在
を表すマークを表示し、ローダ部2におけるLCD基板
Sの現在位置を表示するようにしてある。また、圧力セ
ンサが上述の減圧状態よりも高い圧力を検出した時には
LCD基板Sが存在しないことを検出し、信号を送信し
ないようにしてある。このような吸引用孔は後述するよ
うに上記検査用載置台10にも複数形成されている。そ
して、この吸引用孔にも上述した圧力センサが配設さ
れ、LCD基板Sの存在を検出し、その検出信号s2
プ ローバコントローラ12へ送信するようにしてあ
る。ローダコントローラ12は検出信号s2に基づいて
表示装置16の画面上にグラフィック表示された検査用
載置台にLCD基板Sの存在を表すマークを表示する
ようにしてある。
【0021】また、上記ローダ部2の枠体18と上記プ
ローバ部3の枠体19は、例えば図2の(b)で部分的
に示すように、ボルト20、ナット21により複数箇所
で連結され、ローダ部2とプローバ部3とが必要に応じ
て分離可能で且つ変更可能に構成されている。そして、
各枠体18、19の間にはプラスチックゴム等からなる
弾性体22が介在している。このような連結構造によ
り、ローダ駆動部7が駆動し、ローダ部2が振動するよ
うなことがあっても、その振動が弾性体22で吸収さ
れ、プローバ部3へ伝達されないようにしてある。ま
た、ローダ部2及びプローバ部3はいずれもキャスタ
(図示せず)を介して移動可能に構成されている。従っ
て、プローバ部2は必要に応じて交換できるようにして
ある。
【0022】次に、上記基板搬送機構5について図3〜
図5を参照しながら更に詳述する。この基板搬送機構5
の搬送アーム6A、6Bは図3に示すように支持台23
上で支持されている。この支持台23上には長手方向
(図2では左右方向)全長に亘って2対のガイドレール
23A、23B(図3参照)が互いに平行に配設され、
各ガイドレール23A、23Bに取付部材24A、24
Bを介して搬送アーム6A、6Bが連結されている。
尚、以下で説明する基板搬送機構5の複数の駆動部は上
記ローダ駆動部7に相当するものである。
【0023】そして、上記取付部材24A、24Bの下
端部にはガイドレール23A、23Bに沿って配設され
た無端状ベルト25A、25Bにそれぞれ連結されてい
る。各無端状ベルト25A、25Bはいずれも図示しな
いモータで回転するようにしてある。その結果、各搬送
アーム6A、6Bは、無端状ベルト25A、25Bの回
転で取付部材24A、24Bを介してガイドレール23
A、23Bに従って支持台23上を個別に移動できるよ
うにしてある。そして、下段の搬送アーム6Aがカセッ
トCからLCD基板Sを取り出し、プローバ部3へLC
D基板Sをロードするローダアームとして構成され、上
段の搬送アーム6Bがプローバ部3からアンロードした
LCD基板SをカセットC内へ収納するアンローダアー
ムとして構成されている。従って、以下の説明では必要
に応じて下段の搬送アームをローダアーム6A、上段の
搬送アームをアンローダアーム6Bとして説明する。更
に、LCDS各搬送アーム6A、6Bの前方には後述の
方向転換機構の載置台が抜ける大きさの孔6Dが形成さ
れている。
【0024】また、この支持台23の裏面にはボールネ
ジ26が回転自在に上端で連結され、図示しないモータ
等の駆動機構から回転力を得て回転駆動するようにして
ある。更に、支持台23の裏面にはボールネジ26を三
方向から囲むレール27が上端で連結されている。そし
て、ボールネジ26及び各レール27は、下方の回転体
28をそれぞれ貫通し、ボールネジ26は回転体28に
固定されたナット部材(図示せず)に螺合している。こ
れによりボールネジ26が駆動機構によりナット部材を
介して正逆回転し、もって支持台23が上下方向(Z方
向)で移動するようにしてある。
【0025】上記回転体28は、図3に示すように、Y
テーブル29上に配設されている。このYテーブル29
の下方には基台30が配設され、この基台30上面には
Yテーブル29をY方向へ往復移動させる一対のボール
ネジ31及びガイドレール32が配設され、ボールネジ
31は一方(図3では右側)のガイドレール32の外側
に位置している。そして、ボールネジ31にはYテーブ
ル29の裏面に取り付けられたナット部材33が螺合
し、一対のガイドレール32にはYテーブル29の裏面
に取り付けられた係合部材34が係合し、ボールネジ3
1に連結されたモータ35により、Yテーブル29がカ
セット載置部4に沿ってY方向で往復移動するようにし
てある。
【0026】また、上記回転体28は例えばベルト(図
示せず)を介してモータ(図示せず)に連結され、この
モータにより回転体28が図3の矢印で示すようにθ方
向で回転するようにしてある。この回転体28の周縁近
傍には回転可能に構成された方向転換機構36配設され
ている。この方向転換機構36は、θ方向で正逆回転す
る載置台36Aと、この載置台36Aを昇降させるエア
シリンダなどからなる昇降機構(図示せず)とを有し、
必要に応じて基板搬送機構5から受け取ったLCD基板
Sをプローバ部3へ引き渡す前に検査に必要な向きに修
正するようにしてある。また、この方向転換機構36の
載置台36Aには真空吸着用の孔(図示せず)が形成さ
れ、この孔によりLCD用基板Sを真空吸着するように
してある。そして、この真空吸着用の孔には圧力センサ
が配設され、この圧力センサの検出信号に基づいてLC
D基板Sの存在を前述したように表示装置9の画面上へ
表示するようにしてある。
【0027】また、上記基板搬送機構5には、図3〜図
5に示すように、プリアライメント機構37が配設され
ている。このプリアライメント機構37は、カセットC
から取り出したLCD基板Sの向きを方向転換機構36
で方向修正する前に、LCD基板Sの中心を方向転換機
構36の載置台36Aの中心に位置決めするものであ
る。
【0028】上記プリアライメント機構37は、LCD
基板Sの各隅角部を2辺から挟むように対をなして互い
に直交方向に配置された回転自在な位置決めローラ37
A、37Bと、両ローラ37A、37Bで位置決めされ
たLCD基板Sを支持する支持ローラ37Cと、これら
のローラ37A、37B、37Cを支持台23の左右両
側で支持する左右一対の細長形状のフラットバー37D
と、各フラットバー37Dを介して各ローラを一体的に
昇降する第2昇降機構として例えばエアシリンダ37E
とを備えている。エアシリンダ37Eは支持台23にそ
の下方から昇降可能に連結された側面コ字形状の枠部材
37F上に前後一対固定されている。そして、枠部材3
7F上には前後のエアシリンダ37E間で略等間隔を空
けたガイド部材37Gが配設されている。従って、エア
シリンダ37Eによりフラットバー37Dを介して位置
決めローラ37A、37B及び支持ローラ37Bが昇降
するようにしてある。更に、この枠部材37Fの垂直枠
にはバネ37Hが弾装され、このバネ37Hにより枠部
材37Fを常時下方へ付勢するようにしてある。この枠
部材37Fには回転体28上に立設されたストッパー3
7Iが下方から接触している。
【0029】従って、プリアライメント機構37は、ボ
ールネジ26の駆動で支持台23を介して搬送アーム7
が下降するとストッパー37Iの作用で枠部材37Fが
バネ37Hの弾力に抗して支持台23から持ち上げら
れ、しかもエアシリンダ37Eの作動で位置決めローラ
37A、37B及び支持ローラ37Cが更に上昇するよ
うにしてある。
【0030】また、上述した前後左右の各位置決めロー
ラ37A、37Bの軸心の高さは、各支持ローラ37C
で支持されるLCD基板Sの前後の両辺の高さと略一致
している。従って、図5に示すように、前後の位置決め
ローラ37A、37A間で最も距離の近い位置でLCD
基板Sの前後を挟み、左右の位置決めローラ37B、3
7B間で最も距離の近い位置でLCD基板Sの左右を挟
み、LCD基板Sを前後左右の位置決めし、位置決めロ
ーラ37A、37Bの最も高い位置より内側、即ち、図
5(a)の一点鎖線で示した長方形の受領領域A内でL
CD基板Sを受領するようにしてある。この受領領域A
内でLCD基板Sを受け取れば、LCD基板Sを各位置
決めローラ37A、37Bの回転で支持ローラ37Cへ
落とし込んで自動的に位置決するようにしてある。
【0031】ところで、このプリアライメント機構37
でLCD基板Sを位置決めする時には、ローダアーム6
AからLCD基板Sを受領領域A内へ引き渡す必要があ
る。そのためにはカセットC内のLCD基板Sを受領領
域A内に入るように取り出さなくてはならない。その対
策として、図5の(a)に示すようにローダアーム6A
の孔6Dのやや後方にはLCD基板Sの前後方向の位置
を決める位置決め部材6Eが取り付けられている。この
位置決め部材6Eは、搬送アーム6AによりカセットC
からLCD基板Sを取り出す際に、仮にカセットC内か
らそのLCD基板Sが突出していたとしても、そのLC
D基板Sを一旦カセットC内の正規の収納位置へ押し込
み、前後の位置を矯正し、受領領域AからLCD基板S
が外れないように位置決めするものである。尚、LCD
基板Sの横方向の位置ズレはカセットCによって規制さ
れるため、受領領域Aから外れるほどの位置ズレはな
い。
【0032】一方、プローバ部3の上記検査用載置台1
0は例えばアルミニウムによって形成されている。そし
て、この検査用載置台10の表面には艶消し処理として
アルミニウムの陽極酸化により黒色アルマイト処理が施
されている。この検査用載置台10は、図6に示すよう
に、全体として矩形のボックス形状に形成され、プロー
バ駆動部11によってX方向及びY方向で往復移動する
ようにしてある。ボックス状の検査用載置台10は、L
CD基板Sを載置する載置体101と、この載置体10
1を昇降させるボールネジ等を有する昇降機構(図示せ
ず)と、この昇降機構により載置体101の昇降を案内
するように載置体101裏面の4箇所の隅角部に取り付
けられたガイドポスト102とを備えている。
【0033】上記載置体101は、その載置面において
昇降して搬送アーム6A、6Bとの間でLCD基板Sの
受け渡しを行う受け渡し機構103と、この受け渡し機
構103の内側に配置されこの機構で受け取ったLCD
基板Sをその点灯検査に備えて載置面上に固定する固定
機構104と、この固定機構104で固定されたLCD
基板Sを裏面から照明するように検査用載置台10に内
蔵された照明装置105とを備えている。尚、図6にお
いて、101Aはプローブを撮像し、そのプローブを電
極パッドに対して位置決めする時に用いられるCCDカ
メラ等からなる撮像手段である。
【0034】上記受け渡し機構103は、図6に示すよ
うに、LCD基板Sを左右両側縁部の前後で支持する一
対の位置決めフレーム103A、103Aと、各位置決
めフレーム103Aの裏面から垂下し下側のθテーブル
106及び支持基板107を貫通するロッド103B
と、このロッド103Bの真下にこれとは離隔するよう
に上記Xテーブル261に立設されたストッパー103
Cと、上記ロッド103Bを挟むように各位置決めフレ
ーム103Aから垂下するガイドロッド103Dとを備
えている。そして、受け渡し機構103は、昇降機構に
より検査用載置台10が所定距離だけ下降した時にロッ
ド103Bがストッパー103Cに接触して載置面から
浮上するように構成されている。
【0035】また、上記固定機構104は、図7の
(a)で示すように、矩形状の枠体として形成され、そ
の内側縁部でLCD基板Sの画素形成部分以外の外側縁
部を支持するように構成されている。この固定機構10
4は、LCD基板Sの直交する2辺には電極パッドが配
列され、他の2辺には電極パッド部よりも更に幅の狭い
LCD基板Sの取付部が形成され、これらの内側全面に
微細な画素が形成されている。そのため、固定機構10
4は、同図(a)で示すように、LCD基板Sの電極パ
ッドの部分を支持する第1支持部104Aと、電極パッ
ドの部分以外の部分を支持する第2支持部104Bとを
有している。そして、幅の広い第1支持部104Aには
同図(a)、(b)で示すように真空吸着用の細長形状
の凹陥部104Cが所定間隔を空けて複数個配列され、
更に、各凹陥部104Cの底面に同図(b)で示すよう
な真空排気用の排気孔104Dが形成されている。そし
て、この排気孔104Dに上述したものと同様の機能を
有する圧力センサが配設されている。ところが、第2支
持部104Bは第1支持部104Aよりも狭いため、真
空吸着用の凹陥部を設けられていない。
【0036】また、図7の(a)、(c)で示すように
第1、第2支持部104A、104Bには上記位置決め
フレーム103Aの第1、第2突起部(図示せず)が嵌
入する第1、第2嵌入溝104E、104Fが形成され
ている。各嵌入溝104E、104Fの深さは、いずれ
もLCD基板Sが第1、第2支持部104A、104B
上で支持された時に、第1、第2突起部103E、10
3Fを完全に収納し得る深さに形成されている。
【0037】次に動作について説明する。LCD基板S
の点灯検査を行う場合には、図1、図2の(a)で示す
ようにカセット載置部4上に載置されたカセットC1ま
たはC2からLCD基板Sを取り出すが、それにはまず
基板搬送機構5のモータ35が駆動してYテーブル29
を介して基板搬送機構5を所定のカセットCの前方へ移
動させると共に、回転体28が回転して搬送アーム7の
先端を図2に示すようにカセットCの方へ向けた状態で
基板搬送機構5がカセットCと対向する。
【0038】次いで、駆動機構によりボールネジ26が
正逆回転し、ローダアーム6Aを取り出すべきLCD基
板Sの高さに合わせる。すると、ローダアーム6Aの駆
動機構が駆動し、無端状ベルト10A及び取付部材9A
を介してローダアーム6AがカセットCに向けて進出
し、図3の二点鎖線で示すようにカセットC内へ侵入す
る。この時、そのLCD基板SがカセットCから突出し
ていると、そのLCD基板Sに位置決め部材6Eが当接
してLCD基板Sを押し込み、それを略正規の位置へ位
置合わせする。そして、ボールネジ26が僅かに駆動し
てローダアーム6Aを上昇させてLCD基板Sをローダ
アーム6Aに載せると同時にそれを真空吸着する。次い
で、無端状ベルト10Aが逆方向へ回転してローダアー
ム6Aが後退してカセットCからLCD基板Sを取り出
す。そして、回転体28の回転により搬送アーム7が向
きを180°変えて先端をプローバ部3に向ける。
【0039】ローダアーム6Aがプリアライメント機構
37の上方に来ると、ボールネジ26が駆動してローダ
アーム6Aが下降すると同時にアライメント機構37の
エアシリンダ37Eが駆動して位置決めローラ37A、
37B及び支持ローラ37Cをローダアーム6Aに向け
て持ち上げる。この時、プリアライメント機構37の枠
部材37Fにストッパー37Iが接触しているため、こ
のストッパー37Iがプリアライメント機構37をバネ
37Eの弾力に抗して持ち上げる。その結果、ストッパ
ー37Iによるプリアライメント機構の持ち上げ動作と
エアシリンダ37Eによる位置決めローラ37A、37
B及び支持ローラ37Cの持ち上げ動作が相乗的に働い
てローダアーム6Aは迅速に位置決めローラ37A、3
7Bへ接近する。そして、4箇所の位置決めローラ37
A、37Bが下方からLCD基板Sの4隅に接触し、こ
れらのローラ上にLCD基板Sを載せると、ローダアー
ム6Aはこれらのローラ上にLCD基板Sを残したまま
左右のフラットバー37D、37Dの間を通り抜け、フ
ラットバーのやや下方に来た時点でボールネジ26及び
エアシリンダ37Eの双方が停止する。尚、LCD基板
Sを引き渡す時には、ローダアーム6Aの真空吸着作用
は解除されている。
【0040】ここでプリアライメント機構37による位
置決め動作について説明する。ロードアーム6Aからプ
リアライメント機構37へLCD基板Sの引き渡し時に
は、LCD基板SはカセットC及びローダアーム6A上
の位置決め部材6Eによって既に前後左右の位置ズレは
ある程度矯正され、LCD基板Sはプリアライメント機
構37の受領領域A(図4参照)内に入っている。その
ため、LCD基板Sが位置決めローラ37A、37B上
に載ると、LCD基板Sはその受領領域A内で多少位置
ズレがあっても、LCD基板Sは各位置決めローラ37
A、37Bの内側へ湾曲する周面に接触する。ところ
が、各位置決めローラ37A、37Bはいずれも回転自
在になっており、それぞれの周面にLCD基板Sの摩擦
力が作用した状態でLCD基板Sが自重落下しようとす
ると、各位置決めローラ37A、37BはLCD基板S
との摩擦力により円滑に回転し、LCD基板Sを支持ロ
ーラ37Cへ衝撃力を伴うことなく落とし込む。支持ロ
ーラ37CでLCD基板Sを支持すると、4隅の位置決
めローラ37A、37BがそのLCD基板Sをその4隅
から挟持した状態で正確且つ自動的に位置決めする。こ
の位置決め後、再びボールネジ26及びエアシリンダ3
7Eが駆動してローダアーム6Aが迅速に支持ローラ3
7Cに近づき、フラットバー37D、37Dの間を通り
抜け、その間に位置決め後のLCD基板Sを支持ローラ
37Cから受け取り、それを真空吸着し、基板搬送機構
5におけるLCD基板Sにプリアライメントを終了す
る。
【0041】この時、ロードアーム6Aでは吸引用孔の
圧力センサがLCD基板Sの検出信号s1をローダコン
トローラ8へ送信する。ローダコントローラ8は検出信
号s1に基づいた信号を表示装置9へ送信すると、表示
装置9のが面上ではローダアーム6A上にLCD基板S
が存在している旨の表示を行い、画面上でLCD基板S
の現在位置を確認することができる。ローダアーム6A
上にLCD基板Sが存在する間はその旨が画面上に表示
されている。
【0042】上述のようにして基板搬送機構5でのプリ
アライメントが終了すると、基板搬送機構5ではボール
ネジ26及び無端状ベルト10Aの動作によりロードア
ーム6Aがプローバ部3に向けて進出すると共に、例え
ばプローバ部3のアライメント領域3Bの検査用載置台
10へのLCD基板Sの引き渡し高さになる。この動作
と並行して検査用載置台10がX方向及びY方向で移動
してLCD基板Sを受け取る位置へ到達する。このよう
にして基板搬送機構のローダアーム6A及び検査用載置
台10によるLCD基板Sの移載準備が完了する。即
ち、ローダアーム6Aによる移載位置がプローバ部3に
おけるLCD基板Sの搬出入口になる。
【0043】ここでLCD基板Sの移載動作について説
明する。移載位置に到達した検査用載置台10では図示
しない昇降機構のボールネジが回転して載置体101が
下降する。すると、受け渡し機構103のロッド103
Bが下方のストッパー103Cに接触し、更に載置体1
01が下降すると、左右一対の位置決めフレーム103
A、103Aが固定機構104から浮上し、固定機構1
04との間に隙間を作る。この時既に、ローダアーム6
Aはその隙間に侵入する位置にある。そこで、ローダア
ーム6Aの無端状ベルト10Aが回転し、ローダアーム
6Aが隙間に進出し、その進出端においてLCD基板S
を固定機構104及び照明装置105の真上に持ってく
る。次いで、ローダアーム6Aがボールネジ26を介し
てやや下降し、LCDS基板Sを各位置決めフレーム1
03A、103Aへ引き渡し、各位置決めフレーム10
3A、103AではLCD基板Sを位置決めして固定機
構104へ引き渡す。固定機構104では各排気孔10
4Dから真空排気して凹陥部104Cを真空状態にし、
LCD基板Sの2辺を真空吸着して固定する。一方、こ
の時にはローダアーム6Aは無端状ベルト10Aの作用
で載置体101から後退し次の動作に移っている。
【0044】この時、固定機構104では排気孔104
Dの圧力センサがLCD基板Sの検出信号s2をプロー
バコントローラ12へ送信する。プローバコントローラ
12は検出信号s2に基づいた信号を表示装置16へ送
信すると、表示装置16のが面上では検査用載置台10
上にLCD基板Sが存在している旨の表示を行い、画面
上でLCD基板Sの現在位置を確認することができる。
検査用載置台10上にLCD基板Sが存在する間はその
旨が画面上に表示されている。
【0045】次いで、アライメント領域3Bで検査用載
置台10をボールネジ264等によりアライメントす
る。その後、検査用載置台10が検査領域3Aへ移動
し、検査領域3AではCCDカメラ101Aを介してL
CD基板Sの電極パッドをプローブに位置合わせする。
そして、ボールネジを介して載置体101がガイドポス
ト102に案内されながら水平を保持して上昇し、LC
D基板Sの2辺に形成された電極パッドがプローブに電
気的に接触し、更にオーバドライブをかけてより確実に
両者の接触を図る。そして、このような接触下でプロー
ブに所定の信号を送ると共に照明装置105からLCD
基板Sを裏面から照明すると、LCD基板Sに形成され
た画素の良否が現れ、これを検査領域3Aの上方に配置
された撮像手段により撮像し、この画像データをテスト
システム17に取り込み、解析することによりLCD基
板Sの良否を検査する。そして、検査後には検査用載置
台10がプリアライメント領域3Bへ移動する。ここで
既に待機しているアンローダアーム6Bが検査用載置台
10から検査後のLCD基板Sを受け取る。
【0046】一方、テストシステム17は検査結果の良
否を前述したように良品、やや良品、不良品の3階級に
分類し、それぞれの品質に即した信号をプローバコント
ローラ12を介してローダコントローラ8へ送信する。
すると、ローダコントローラ8の判別回路が例えばテス
トシステム17からの信号を良品に即した信号であると
判別すると、搬送場所指定回路は判別回路からの受信信
号に基づいて搬送場所をカセットC3と指定し、ローダ
駆動部7を制御する。ローダ駆動部7はローダコントロ
ーラ8の指令に従って基板搬送機構5を制御すると、ア
ンローダアーム6Bが移動してカセットCと対峙した後
前方へ進出し、検査後のLCD基板Sを良品としてカセ
ットC3内へ収納する。また、検査後のLCD基板Sが
やや良品であれば、判定回路がその旨判断し、搬送場所
指定回路が該当するカセットC4を指定する。これによ
りローダ駆動部7を介してアンローダアーム6Bが移動
してカセットC4内へ検査後のLCD基板Sをやや良品
として収納する。検査後のLCD基板Sが不良品であれ
ば、同様にしてアンローダアーム6Bを介してカセット
C5内へそのLCD基板Sを収納する。そして、これら
のLCD基板Sの移動過程は全て表示装置16、9の画
面上に表示される。
【0047】また、修理可能なLCD基板Sを更に細か
く分類する場合には現在のローダ部2では対応できな
い。その場合にはローダ部2とプローバ部3を連結する
ボルト20、ナット21を取り外し、ローダ部2をプロ
ーバ部3から切り離してカセットCの載置台数に対応し
たローダ部に変更する。カセット載置台数が増加した新
たなローダ部は弾性体22を介在させてボルト20、ナ
ット21によって連結する。また、基板搬送機構5を別
仕様のものに取り替える場合にも同様に対処できる。
【0048】以上説明したように本実施例によれば、ロ
ーダコントローラ8は、プローバ部3での検査結果に基
づいて検査後のLCD基板Sの品質を判別する判別回路
と、この判別回路の判別結果に基づいて基板搬送機構5
によるLCD基板Sの搬送場所を指定する搬送場所指定
回路とを備えているため、LCD基板Sをその検査結
果、即ち品質に応じて良品、修理可能なやや良品及び不
良品に分類してそれぞれの対応するカセットC3、C
4、C5内に収納することができ、修理可能なLCD基
板Sをそのまま修理工程へ搬送し、持ち運ぶことで修理
に対して迅速に対応することができる。また、本実施例
によれば、LCD基板Sの現在位置を表示する表示装置
9、16を設けたため、検査工程のいかなる段階にLC
D基板Sが存在するかを把握でき、検査の進捗状況を表
示装置9、12によって監視することができる。更に、
本実施例によれば、ローダ部3(カセット載置部4及び
基板搬送機構5を含む)は、プローバ部3に対して分離
可能で且つ変更可能に構成されているため、LCD基板
Sの種々の搬送形態(本実施例では検査後のLCD基板
Sの分類数)に応じてローダ部2を変更することができ
る。
【0049】尚、上記実施例では、表示装置9、16に
LCD基板Sの現在位置を表示するために、圧力センサ
を用いてLCD基板Sを検出しているが、LCD基板S
を検出できるセンサであれば他の種類のセンサを用いて
も良い。また、ローダ部2をプローバ部3に切り離し可
能に連結する構造はボルト、ナットに制限されるもので
はない。
【0050】
【発明の効果】本発明の請求項1に記載の発明によれ
ば、液晶表示体基板をその検査結果に応じて複数に分類
してカセットに収納できる液晶表示体基板の検査装置を
提供することができる。
【0051】また、本発明の請求項2に記載の発明によ
れば、検査工程のいかなる段階に液晶表示体基板が存在
するかを把握できる液晶表示体基板の検査装置を提供す
ることができる。
【0052】また、本発明の請求項3に記載の発明によ
れば、液晶表示体基板の種々の搬送形態に応じてローダ
部を変更できる液晶表示体基板の検査装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の液晶表示体基板の検査装置の一実施例
の制御系を示す説明図である。
【図2】同図(a)は図1に示す液晶表示体基板の検査
装置の全体斜視図、同図(b)はローダ部とプローバ部
の接合部部分の断面図である。
【図3】図2の(a)に示す検査装置に適用された基板
搬送機構を示す側面図である。
【図4】図3に示す基板搬送装置の要部を示す正面図で
ある。
【図5】図2、図3に示す基板搬送装置の要部を示す平
面図である。
【図6】図1に示す検査用載置台の要部を示す斜視図で
ある。
【図7】図6に示す検査用載置台の固定機構を示す図
で、同図(a)はその平面図、同図(b)は同図(a)
の真空吸着用の凹陥部を拡大して示す部分斜視図、同図
(c)は同図(a)の断面図である。
【符号の説明】
1 検査装置 2 ローダ部 3 プローバ部(検査部) 4 カセット載置部 5 基板搬送機構 6 搬送アーム 8 ローダコントローラ(制御機構) 9 表示装置 C カセット S LCD基板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の液晶表示体基板が収納されたカセ
    ットを載置するカセット載置部と、このカセット載置部
    のカセットと液晶表示体基板の電気的検査を行う検査部
    との間で液晶表示体基板を搬送する基板搬送機構と、こ
    の基板搬送機構を駆動制御する制御機構とを備えた検査
    装置において、上記制御機構は、上記検査部での検査結
    果に基づいて検査後の液晶表示体基板の品質を判別する
    判別手段と、この判別手段の判別結果に基づいて上記基
    板搬送機構による検査後の液晶表示体基板の搬送場所を
    指定する搬送場所指定手段とを備えたことを特徴とする
    液晶表示体基板の検査装置。
  2. 【請求項2】 複数の液晶表示体基板が収納されたカセ
    ットを載置するカセット載置部と、上記液晶表示体基板
    の電気的検査を行う検査部と、上記カセット載置部のカ
    セットと上記検査部との間で液晶表示体基板を授受する
    基板搬送機構とを備えた検査装置において、上記液晶表
    示体基板の現在位置を表示する表示手段を設けたことを
    特徴とする液晶表示体基板の検査装置。
  3. 【請求項3】 複数の液晶表示体基板が収納されたカセ
    ットを載置するカセット載置部と、このカセット載置部
    のカセットと液晶表示体基板の電気的検査を行う検査部
    との間で液晶表示体基板を搬送する基板搬送機構と、こ
    の基板搬送機構を駆動制御する制御機構とを備えた検査
    装置において、上記カセット載置部及び上記基板搬送機
    構は、上記検査部に対して分離可能で且つ変更可能に構
    成されたことを特徴とする液晶表示体基板の検査装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003015543A (ja) * 2001-06-29 2003-01-17 Micronics Japan Co Ltd 表示用基板の検査装置
KR100388805B1 (ko) * 2000-11-18 2003-07-02 권혁우 진공 형광 표시관의 페이스 글라스 저항값 측정기
JP2008118009A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Toppan Printing Co Ltd ガラス基板の移載装置
JP2008122893A (ja) * 2006-11-13 2008-05-29 Au Optronics Corp 液晶ディスプレイ薄膜トランジスターアレイ基板の検査設備とその検査方法
WO2011145877A3 (ko) * 2010-05-19 2012-03-08 Woo Gwan-Je 터치 센서용 검사장치

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