JPH0980460A - 液晶表示装置及びその検査方法 - Google Patents
液晶表示装置及びその検査方法Info
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- JPH0980460A JPH0980460A JP7230252A JP23025295A JPH0980460A JP H0980460 A JPH0980460 A JP H0980460A JP 7230252 A JP7230252 A JP 7230252A JP 23025295 A JP23025295 A JP 23025295A JP H0980460 A JPH0980460 A JP H0980460A
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- terminals
- crystal display
- display device
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-
- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安価な液晶表示装置及び液晶パネルの安価な
検査方法を提供する。 【解決手段】 液晶表示パターン部を構成する透明電極
につながり、液晶ドライバＩＣを接続する接続端子を千
鳥状にし、半導体チップ中心方向に延長する。検査は、
接続端子の千鳥状のパターンにベタ電極を接続して行
う。
検査方法を提供する。 【解決手段】 液晶表示パターン部を構成する透明電極
につながり、液晶ドライバＩＣを接続する接続端子を千
鳥状にし、半導体チップ中心方向に延長する。検査は、
接続端子の千鳥状のパターンにベタ電極を接続して行
う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ラップトップ，ノ
ートブックパソコンまた、携帯機器等に使用されている
液晶表示装置に関する。
ートブックパソコンまた、携帯機器等に使用されている
液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の単純マトリクス液晶表示パネル
は、ＴＣＰやヒートシールと接続するための端子に導電
ゴム等によってコンタクトし、全ＯＮ表示により画面の
検査を行っていた。または、プローブによって端子の各
電極にコンタクトして画質検査を行った。また、単純マ
トリクス液晶表示パネルのＣＯＧ（チップ オン グラ
ス）実装構造では、接続端子部は、画素から引き回され
た透明電極であって、液晶ドライバＩＣのバンプと接続
する端子と、その液晶ドライバＩＣに信号を供給する入
力端子により構成されており、その液晶ドライバＩＣの
バンプと接続する端子と入力端子にプローブをコンタク
トし、パターニング不良などによるショート検査及び全
ＯＮ表示による画質検査を行った後、液晶ドライバＩＣ
を接続していた。
は、ＴＣＰやヒートシールと接続するための端子に導電
ゴム等によってコンタクトし、全ＯＮ表示により画面の
検査を行っていた。または、プローブによって端子の各
電極にコンタクトして画質検査を行った。また、単純マ
トリクス液晶表示パネルのＣＯＧ（チップ オン グラ
ス）実装構造では、接続端子部は、画素から引き回され
た透明電極であって、液晶ドライバＩＣのバンプと接続
する端子と、その液晶ドライバＩＣに信号を供給する入
力端子により構成されており、その液晶ドライバＩＣの
バンプと接続する端子と入力端子にプローブをコンタク
トし、パターニング不良などによるショート検査及び全
ＯＮ表示による画質検査を行った後、液晶ドライバＩＣ
を接続していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】単純マトリクス液晶表
示装置では、全ＯＮ表示により画質検査は可能である
が、ショート検査を行うためには、くし歯状に透明電極
を対向する２辺に引き出している液晶表示装置を除い
て、プローブでコンタクトしなければならない。また、
セル組立後接続端子部にニッケル等の無電界メッキを行
った場合、ガラスの縁に触媒がたまり、その部分がパタ
ーンの有無に関わらずメッキされ、複数のパターンが在
った場合ショートする。または、２枚のガラスの間にあ
るシール剤の外周にメッキクズが入り込み電極間をショ
ートする事がある。このような不良検査を行う場合にも
プローブによりコンタクトするが、プローブは３００〜
３６０ミクロンピッチで並べるのが限界であるため、９
０ミクロンピッチの接続端子では４段千鳥にしてコンタ
クトするのがやっとであった。また、ＣＯＧ実装構造で
は液晶ドライバＩＣの縦寸法がスリム化し、接続ピッチ
が微細になれば、コンタクト部が取れないため検査がで
きないこともある。更に、この検査に使用するプローブ
は１ピンあたり３０００円〜４０００円と高価であり、
電極数により検査費用が増した。また、プローブによる
検査は、位置合わせ工程に手間がかかるため、液晶表示
装置のコストダウンが困難であった。
示装置では、全ＯＮ表示により画質検査は可能である
が、ショート検査を行うためには、くし歯状に透明電極
を対向する２辺に引き出している液晶表示装置を除い
て、プローブでコンタクトしなければならない。また、
セル組立後接続端子部にニッケル等の無電界メッキを行
った場合、ガラスの縁に触媒がたまり、その部分がパタ
ーンの有無に関わらずメッキされ、複数のパターンが在
った場合ショートする。または、２枚のガラスの間にあ
るシール剤の外周にメッキクズが入り込み電極間をショ
ートする事がある。このような不良検査を行う場合にも
プローブによりコンタクトするが、プローブは３００〜
３６０ミクロンピッチで並べるのが限界であるため、９
０ミクロンピッチの接続端子では４段千鳥にしてコンタ
クトするのがやっとであった。また、ＣＯＧ実装構造で
は液晶ドライバＩＣの縦寸法がスリム化し、接続ピッチ
が微細になれば、コンタクト部が取れないため検査がで
きないこともある。更に、この検査に使用するプローブ
は１ピンあたり３０００円〜４０００円と高価であり、
電極数により検査費用が増した。また、プローブによる
検査は、位置合わせ工程に手間がかかるため、液晶表示
装置のコストダウンが困難であった。
【０００４】くし歯状に対向する辺に透明電極を引き出
した場合、液晶表示装置の外形サイズが大きくなること
や、液晶表示装置のマザーガラスからの取り個数が減り
コストアップになることや、デュアルスキャン方式の液
晶表示装置には対応できないなどの問題点があった。
した場合、液晶表示装置の外形サイズが大きくなること
や、液晶表示装置のマザーガラスからの取り個数が減り
コストアップになることや、デュアルスキャン方式の液
晶表示装置には対応できないなどの問題点があった。
【０００５】そこで、本発明の目的は、接続ピッチ及び
寸法によらず、また現状のサイズのままで、容易に、確
実に、全ＯＮ表示を可能としたまま、ショート不良を安
価に検査できる液晶表示装置とその検査方法を提供する
ことである。
寸法によらず、また現状のサイズのままで、容易に、確
実に、全ＯＮ表示を可能としたまま、ショート不良を安
価に検査できる液晶表示装置とその検査方法を提供する
ことである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本問題を解決するため
に、少なくとも表面に複数の透明電極を形成した２枚の
透明基板がマトリクス状に電極面を対向し、その間に液
晶を挟んで周囲をシール剤で囲んで保持し、該マトリク
ス状に対向した複数の透明電極により画素を構成する構
造の液晶表示装置において、少なくとも一方の透明基板
には、該複数の透明電極に回路を接続するための接続端
子を２段の千鳥状に形成する事によって、その端子に検
査電極を接触または接続することで全ＯＮができるま
ま、１ラインおきの表示によりショート検査が可能とな
る。
に、少なくとも表面に複数の透明電極を形成した２枚の
透明基板がマトリクス状に電極面を対向し、その間に液
晶を挟んで周囲をシール剤で囲んで保持し、該マトリク
ス状に対向した複数の透明電極により画素を構成する構
造の液晶表示装置において、少なくとも一方の透明基板
には、該複数の透明電極に回路を接続するための接続端
子を２段の千鳥状に形成する事によって、その端子に検
査電極を接触または接続することで全ＯＮができるま
ま、１ラインおきの表示によりショート検査が可能とな
る。
【０００７】特に、ＣＯＧ実装構造の液晶表示装置は、
接続端子と半導体チップを接続するパット部があり２段
の千鳥状に端子を該半導体チップとの接続するパット部
より延長して形成することで検査が可能となる。また、
透明電極上に無電界メッキ法など金属からなる電極を積
層した後のショート検査でも使用可能である。
接続端子と半導体チップを接続するパット部があり２段
の千鳥状に端子を該半導体チップとの接続するパット部
より延長して形成することで検査が可能となる。また、
透明電極上に無電界メッキ法など金属からなる電極を積
層した後のショート検査でも使用可能である。
【０００８】検査方法としては該千鳥状の端子に、フイ
ルム基板にＡｕメッキした電極を例えば弾性力のある支
持体で押し当てるか、もしくは剥離可能な導電ペースト
をディスペンサーにより線引きし焼成した後、その導電
部に液晶駆動信号を供給する。ショートがなければ１ラ
インおきに表示するがショートしておれば、３ライン以
上連続で表示する。これによってショート検査が可能と
なる。
ルム基板にＡｕメッキした電極を例えば弾性力のある支
持体で押し当てるか、もしくは剥離可能な導電ペースト
をディスペンサーにより線引きし焼成した後、その導電
部に液晶駆動信号を供給する。ショートがなければ１ラ
インおきに表示するがショートしておれば、３ライン以
上連続で表示する。これによってショート検査が可能と
なる。
【０００９】上記のように構成された液晶表示装置は、
パターニング不良によるショート検査が外形サイズを変
更せずに可能となり、デュアルスキャン方式の液晶表示
装置にもプローブを使用せずに検査可能となった。ま
た、透明電極上に金属膜を形成した後の電極間ショート
不良、及びガラス基板間に入り込んだ金属ゴミによるシ
ョート不良も安価に検査可能とし、また、プローブでは
困難であった接続端子の形状や微細電極ピッチでも対応
できる範囲が広がった。
パターニング不良によるショート検査が外形サイズを変
更せずに可能となり、デュアルスキャン方式の液晶表示
装置にもプローブを使用せずに検査可能となった。ま
た、透明電極上に金属膜を形成した後の電極間ショート
不良、及びガラス基板間に入り込んだ金属ゴミによるシ
ョート不良も安価に検査可能とし、また、プローブでは
困難であった接続端子の形状や微細電極ピッチでも対応
できる範囲が広がった。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。
づいて説明する。
【００１１】
［実施例１］図１は本発明の実施例１の正面図である。
ガラス製の透明基板１−１，１−２の表面にそれぞれＩ
ＴＯで形成したパターン３がマトリクス状に重なる部分
により画面を構成し、その各パターンに信号を供給する
液晶ドライバＩＣを接続するために、接続端子が形成し
てある。接続端子は、液晶ドライバＩＣの信号入力端子
２と、そしてパターン３に信号を供給する端子からな
り、パターン３に信号を供給する端子は連続に２段の千
鳥配列状に形成してある。一点鎖線ａ上では、パターン
３に信号を供給する端子が一本置きになっており、二点
鎖線ｂ上では、パターン３に信号を供給する端子がすべ
て存在している。
ガラス製の透明基板１−１，１−２の表面にそれぞれＩ
ＴＯで形成したパターン３がマトリクス状に重なる部分
により画面を構成し、その各パターンに信号を供給する
液晶ドライバＩＣを接続するために、接続端子が形成し
てある。接続端子は、液晶ドライバＩＣの信号入力端子
２と、そしてパターン３に信号を供給する端子からな
り、パターン３に信号を供給する端子は連続に２段の千
鳥配列状に形成してある。一点鎖線ａ上では、パターン
３に信号を供給する端子が一本置きになっており、二点
鎖線ｂ上では、パターン３に信号を供給する端子がすべ
て存在している。
【００１２】図２に示すように、図１の一点鎖線ａ上
に、ポリイミドフイルムに銅箔を張り付け、金メッキし
たフイルム基板の金メッキ面を、表面にラバーコートし
たステンレスからなる支持体で加圧し接続する。対向す
る透明基板１−２は、図３に示すように、図１の一点鎖
線ｂ上の位置に，金メッキ面を同様に加圧し接続する。
そして、液晶駆動信号を各基板に接続したフイルム基板
の電極に供給して、表示画面により良品、不良品を判断
する。このときの画面を図４と図５に示す。図４は、良
品であり１ライン毎に表示が点灯している。図５は不良
品であり、３ライン連続点灯している。この方法では、
基板毎の検査であり、２回行う必要がある。
に、ポリイミドフイルムに銅箔を張り付け、金メッキし
たフイルム基板の金メッキ面を、表面にラバーコートし
たステンレスからなる支持体で加圧し接続する。対向す
る透明基板１−２は、図３に示すように、図１の一点鎖
線ｂ上の位置に，金メッキ面を同様に加圧し接続する。
そして、液晶駆動信号を各基板に接続したフイルム基板
の電極に供給して、表示画面により良品、不良品を判断
する。このときの画面を図４と図５に示す。図４は、良
品であり１ライン毎に表示が点灯している。図５は不良
品であり、３ライン連続点灯している。この方法では、
基板毎の検査であり、２回行う必要がある。
【００１３】または、各基板とも図１の一点鎖線ａ上
に、フイルム基板を加圧し接続する。そのときの画面を
図６と図７に示す。図６は、良品であり１ライン毎に各
基板とも表示が点灯している。図７は不良品であり、３
ライン連続点灯している。この方法では、各基板同時に
検査が可能である。
に、フイルム基板を加圧し接続する。そのときの画面を
図６と図７に示す。図６は、良品であり１ライン毎に各
基板とも表示が点灯している。図７は不良品であり、３
ライン連続点灯している。この方法では、各基板同時に
検査が可能である。
【００１４】検査用のフイルム基板は、ロールで供給す
ることで、フイルム基板４の接触状態が悪くなった場合
は、巻き取りを行うことで接触部を移動でき、新しい金
メッキ部を連続で供給する事も可能である。液晶表示装
置の接続端子に金属膜を形成した場合のショート検査
も、同様な方法で検査できる。
ることで、フイルム基板４の接触状態が悪くなった場合
は、巻き取りを行うことで接触部を移動でき、新しい金
メッキ部を連続で供給する事も可能である。液晶表示装
置の接続端子に金属膜を形成した場合のショート検査
も、同様な方法で検査できる。
【００１５】［実施例２］図８と図９は、本発明の実施
例２であり、端子との接続法を導電ペーストで行った場
合の実施例である。図８は、導電ペースト６を、図１の
一点鎖線ａ上の位置に、ディスペンサーで塗布した状態
で、図９は、図１の一点鎖線ｂ上の位置に、ディスペン
サーで塗布した状態である。導電ペースト６を焼成後
に、液晶駆動信号を供給する。検査方法は、実施例１と
同様である。
例２であり、端子との接続法を導電ペーストで行った場
合の実施例である。図８は、導電ペースト６を、図１の
一点鎖線ａ上の位置に、ディスペンサーで塗布した状態
で、図９は、図１の一点鎖線ｂ上の位置に、ディスペン
サーで塗布した状態である。導電ペースト６を焼成後
に、液晶駆動信号を供給する。検査方法は、実施例１と
同様である。
【００１６】以上の検査で合格した液晶パネルには、図
１０のように液晶ドライバＩＣ７を接続して、更にはフ
イルム基板を入力端子２に接続して完成する。
１０のように液晶ドライバＩＣ７を接続して、更にはフ
イルム基板を入力端子２に接続して完成する。
【００１７】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、外形サ
イズを大きくする必要がなく、容易に検査ができ、デュ
アルスキャン方式にも対応が可能である。また、無電界
メッキ等による微細ピッチ接続部の金属膜のショートも
しくは、透明基板間に入り込んだ金属クズによるショー
ト等を安価にかつ容易に検査を可能とするものである。
この検査によって、良品のみを次工程に流動できるた
め、液晶ドライバＩＣの接続後の不良品率が低減し、安
価な液晶表示装置を提供できるようになった。特に少量
生産品においては、プローブ等の検査イニシャル費がか
からないため、より安価な液晶表示装置を提供できるよ
うになった。また、この検査は、無電界メッキだけでは
なく、銀ペーストをラビングにより透明導電膜上に形成
した後の検査にも有効な方法である。今回の実施例で
は、スリム形状の液晶ドライバＩＣを使用したが、正方
形や長方形形状の液晶ドライバＩＣでも液晶表示パネル
のパターンをＩＣ中心方向に千鳥状に接続部より延長し
て形成することで、導電ペーストをコの字状に塗布する
などで対応する事ができる。もちろんフイルム基板で接
続する場合も、支持体の形状を変更する事で様々な液晶
ドライバＩＣに対応する事ができる。
イズを大きくする必要がなく、容易に検査ができ、デュ
アルスキャン方式にも対応が可能である。また、無電界
メッキ等による微細ピッチ接続部の金属膜のショートも
しくは、透明基板間に入り込んだ金属クズによるショー
ト等を安価にかつ容易に検査を可能とするものである。
この検査によって、良品のみを次工程に流動できるた
め、液晶ドライバＩＣの接続後の不良品率が低減し、安
価な液晶表示装置を提供できるようになった。特に少量
生産品においては、プローブ等の検査イニシャル費がか
からないため、より安価な液晶表示装置を提供できるよ
うになった。また、この検査は、無電界メッキだけでは
なく、銀ペーストをラビングにより透明導電膜上に形成
した後の検査にも有効な方法である。今回の実施例で
は、スリム形状の液晶ドライバＩＣを使用したが、正方
形や長方形形状の液晶ドライバＩＣでも液晶表示パネル
のパターンをＩＣ中心方向に千鳥状に接続部より延長し
て形成することで、導電ペーストをコの字状に塗布する
などで対応する事ができる。もちろんフイルム基板で接
続する場合も、支持体の形状を変更する事で様々な液晶
ドライバＩＣに対応する事ができる。
【図１】本発明による液晶表示装置の正面図
【図２】本発明によるフイルム基板と液晶パネルの接続
状態を示す側面図
状態を示す側面図
【図３】本発明によるフイルム基板と液晶パネルの接続
状態を示す側面図
状態を示す側面図
【図４】本発明による液晶パネルの検査表示画面
【図５】本発明による液晶パネルの検査表示画面
【図６】本発明による液晶パネルの検査表示画面
【図７】本発明による液晶パネルの検査表示画面
【図８】本発明による液晶パネル上に導電ペースト塗布
状態を示す側面図
状態を示す側面図
【図９】本発明による液晶パネル上に導電ペースト塗布
状態を示す側面図
状態を示す側面図
【図１０】本発明による液晶表示装置
【図１１】従来技術による４段千鳥配列のプローブレイ
アウトの上面図
アウトの上面図
【図１２】従来技術の接続端子の上面図
【図１３】従来技術のプローブと接続端子の接触状態を
示す側面図
示す側面図
１−１，１−２ 透明基板 ２ 信号入力端子 ３ パターン ４ フイルム基板 ５ 支持体 ６ 導電ペースト ７ 液晶ドライバＩＣ ８ プローブ ９ 接続端子
Claims (4)
- 【請求項１】 少なくとも表面に複数の透明電極を形成
した２枚の透明基板がマトリクス状に電極面を対向し、
その間に液晶を挟んで周囲をシール剤で囲んで保持し、
該マトリクス状に対向した複数の透明電極により画素を
構成する構造の液晶表示装置において、 少なくとも一方の透明基板には、該複数の透明電極に回
路を接続するための接続端子を形成してあり、該接続端
子は２段千鳥形状であることを特徴とする液晶表示装
置。 - 【請求項２】 該接続端子は該透明電極上に金属を形成
し、積層構造であることを特徴とする請求項１記載の液
晶表示装置。 - 【請求項３】 該接続端子には半導体チップが接続され
ており、該接続端子は端子を、該半導体チップとの接続
部より半導体チップ中心方向に、千鳥状に延長している
ことを特徴とする請求項１記載の液晶表示装置。 - 【請求項４】 ２段千鳥状に形成された接続端子に、検
査用電極を接続もしくは、接触して液晶駆動信号を印加
することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7230252A JPH0980460A (ja) | 1995-09-07 | 1995-09-07 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
| EP96306406A EP0762137A3 (en) | 1995-09-07 | 1996-09-04 | Liquid crystal display and testing method thereof |
| TW085110915A TW436654B (en) | 1995-09-07 | 1996-09-06 | Testing method for testing liquid crystal display |
| KR1019960038629A KR970016659A (ko) | 1995-09-07 | 1996-09-06 | 액정표시장치 및 그 테스트방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7230252A JPH0980460A (ja) | 1995-09-07 | 1995-09-07 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0980460A true JPH0980460A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=16904904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7230252A Pending JPH0980460A (ja) | 1995-09-07 | 1995-09-07 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0762137A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0980460A (ja) |
| KR (1) | KR970016659A (ja) |
| TW (1) | TW436654B (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10227332A1 (de) * | 2002-06-19 | 2004-01-15 | Akt Electron Beam Technology Gmbh | Ansteuervorrichtung mit verbesserten Testeneigenschaften |
| US6833717B1 (en) | 2004-02-12 | 2004-12-21 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system with integrated substrate transfer module |
| US7319335B2 (en) | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
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