JPH0983051A - レーザダイオード劣化検出回路 - Google Patents
レーザダイオード劣化検出回路Info
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- JPH0983051A JPH0983051A JP23991295A JP23991295A JPH0983051A JP H0983051 A JPH0983051 A JP H0983051A JP 23991295 A JP23991295 A JP 23991295A JP 23991295 A JP23991295 A JP 23991295A JP H0983051 A JPH0983051 A JP H0983051A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＬＤ出力一定制御でない場合でもＬＤ劣化の
検出ができるレーザダイオード劣化検出回路を提供す
る。 【解決手段】 ＬＤ電流検出回路１３によりＬＤ電流Ｉ
LD相当の電圧値を検出し、ＰＤ電流検出回路１４により
ＰＤ電流ＩPD相当の電圧値を検出する。ここで、初期状
態において、ＬＤ電流検出値に対してＰＤ電流検出値の
増加率が等しくなるように設定する。この状態で、差動
増幅器１５でＬＤ電流ＩLDと相対的な差をとれば、ＰＤ
出力は閾値電流Ｉthの相対値となってＬＤ電流ＩLDが増
減しても変わらない。この設定のもとで、ＬＤが劣化し
た場合は、閾値電流Ｉthが増加するので、差動増幅器１
５の出力が増加する。そこで、コンパレータ１６により
差動増幅器１５の出力が基準値を越えたことを検出する
ことで、ＬＤの劣化と判定し、アラームを発出するよう
にした。
検出ができるレーザダイオード劣化検出回路を提供す
る。 【解決手段】 ＬＤ電流検出回路１３によりＬＤ電流Ｉ
LD相当の電圧値を検出し、ＰＤ電流検出回路１４により
ＰＤ電流ＩPD相当の電圧値を検出する。ここで、初期状
態において、ＬＤ電流検出値に対してＰＤ電流検出値の
増加率が等しくなるように設定する。この状態で、差動
増幅器１５でＬＤ電流ＩLDと相対的な差をとれば、ＰＤ
出力は閾値電流Ｉthの相対値となってＬＤ電流ＩLDが増
減しても変わらない。この設定のもとで、ＬＤが劣化し
た場合は、閾値電流Ｉthが増加するので、差動増幅器１
５の出力が増加する。そこで、コンパレータ１６により
差動増幅器１５の出力が基準値を越えたことを検出する
ことで、ＬＤの劣化と判定し、アラームを発出するよう
にした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザダイオード
の経時劣化を検出するレーザダイオード劣化検出回路に
関する。
の経時劣化を検出するレーザダイオード劣化検出回路に
関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、レーザダイオード（以
下、ＬＤと記す）は、光通信用の光源として多く用いら
れているが、他の部品と比較して寿命が短いため、経時
劣化を検出してアラームを出し、故障前に交換する方法
をとることが一般的に行われている。
下、ＬＤと記す）は、光通信用の光源として多く用いら
れているが、他の部品と比較して寿命が短いため、経時
劣化を検出してアラームを出し、故障前に交換する方法
をとることが一般的に行われている。
【０００３】ＬＤは、通常、その出力をモニタするＰＤ
と一緒にパッケージ化したモジュールの形態で使用さ
れ、出力を一定に制御して使用されるが、このときＬＤ
の経時劣化の検出方法としては、ＬＤを駆動する電流を
検出し、その電流が初期設定値よりも一定量増加したと
きに劣化と判定する劣化検出方法がとられてきた。
と一緒にパッケージ化したモジュールの形態で使用さ
れ、出力を一定に制御して使用されるが、このときＬＤ
の経時劣化の検出方法としては、ＬＤを駆動する電流を
検出し、その電流が初期設定値よりも一定量増加したと
きに劣化と判定する劣化検出方法がとられてきた。
【０００４】ところで、昨今、エルビウム添加ファイバ
増幅器（ＥＤＦＡ）のように、信号光より短い波長の光
源で励起することによって信号光を増幅する光アンプが
実用化されてきている。図６にその光アンプの一例を示
す。
増幅器（ＥＤＦＡ）のように、信号光より短い波長の光
源で励起することによって信号光を増幅する光アンプが
実用化されてきている。図６にその光アンプの一例を示
す。
【０００５】図６において、光入力端子２１に入力され
た信号光は増幅用光ファイバ２２でＬＤ励起光源２３か
ら信号光より短い波長の励起光によって増幅されて光出
力端子２４に導かれる。増幅用光ファイバ２２の出力光
は光分岐カプラ２５によって一部分岐され、出力光検出
ＰＤ２６によって光電変換される。このＰＤ２６の出力
は出力モニタ信号として出力検出回路２７に供給され
る。
た信号光は増幅用光ファイバ２２でＬＤ励起光源２３か
ら信号光より短い波長の励起光によって増幅されて光出
力端子２４に導かれる。増幅用光ファイバ２２の出力光
は光分岐カプラ２５によって一部分岐され、出力光検出
ＰＤ２６によって光電変換される。このＰＤ２６の出力
は出力モニタ信号として出力検出回路２７に供給され
る。
【０００６】この出力検出回路２７はＰＤ２６からの出
力モニタ信号のモニタレベルから出力レベルを監視し、
そのレベル変動に応じてＬＤ駆動回路２８を制御する。
このＬＤ駆動回路２８は、ＬＤ励起光源２３のＬＤ電流
を増減することで、ＬＤ出力を増減する。
力モニタ信号のモニタレベルから出力レベルを監視し、
そのレベル変動に応じてＬＤ駆動回路２８を制御する。
このＬＤ駆動回路２８は、ＬＤ励起光源２３のＬＤ電流
を増減することで、ＬＤ出力を増減する。
【０００７】このようなＥＤＦＡの励起光源としてもＬ
Ｄモジュールが使用されているが、この場合のＬＤの駆
動方法としては、ＬＤ出力を一定にするのではなく、光
アンプの信号光出力を所定レベルにするようにＬＤ出力
を制御する方法をとる。
Ｄモジュールが使用されているが、この場合のＬＤの駆
動方法としては、ＬＤ出力を一定にするのではなく、光
アンプの信号光出力を所定レベルにするようにＬＤ出力
を制御する方法をとる。
【０００８】例えば、光アンプへの信号光入力が減少す
るときは励起ＬＤ電流を増やし、光アンプの利得を増大
させて信号光出力を一定に保つよう動作する。したがっ
て、励起ＬＤ電流の増加は、必ずしも励起ＬＤの劣化に
よるものではなく、他の要因、例えば光アンプ入力の減
少、光アンプの損失の増大によっても引き起こされる。
よって、ＬＤ電流の増加を検出しても、それをもってＬ
Ｄ劣化と判定することはできない。
るときは励起ＬＤ電流を増やし、光アンプの利得を増大
させて信号光出力を一定に保つよう動作する。したがっ
て、励起ＬＤ電流の増加は、必ずしも励起ＬＤの劣化に
よるものではなく、他の要因、例えば光アンプ入力の減
少、光アンプの損失の増大によっても引き起こされる。
よって、ＬＤ電流の増加を検出しても、それをもってＬ
Ｄ劣化と判定することはできない。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上述の如く、ＬＤの劣
化検出にＬＤ電流の増加を用いる従来のＬＤ劣化検出回
路では、ＬＤ電流の制御をＬＤ出力一定としない、光ア
ンプの励起ＬＤ駆動回路などの場合に、ＬＤの劣化の判
定ができないという問題があった。本発明の課題は、上
記の問題を解決し、ＬＤ出力一定制御でない場合でもＬ
Ｄ劣化の検出ができるレーザダイオード劣化検出回路を
提供することにある。
化検出にＬＤ電流の増加を用いる従来のＬＤ劣化検出回
路では、ＬＤ電流の制御をＬＤ出力一定としない、光ア
ンプの励起ＬＤ駆動回路などの場合に、ＬＤの劣化の判
定ができないという問題があった。本発明の課題は、上
記の問題を解決し、ＬＤ出力一定制御でない場合でもＬ
Ｄ劣化の検出ができるレーザダイオード劣化検出回路を
提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明に係るＬＤ劣化検出回路は、レーザダイオードの駆動
電流を検出するＬＤ電流検出回路と、前記レーザダイオ
ードの光出力をモニタするフォトダイオードのモニタ電
流を定数倍して検出するＰＤ電流検出回路と、前記ＬＤ
電流検出回路の出力電圧と前記ＰＤ電流検出回路の出力
電圧との差電圧を検出する差動増幅器と、この差動増幅
器で得られる両者の差電圧が基準値を越えたときにアラ
ームを発出するコンパレータと具備して構成される。
明に係るＬＤ劣化検出回路は、レーザダイオードの駆動
電流を検出するＬＤ電流検出回路と、前記レーザダイオ
ードの光出力をモニタするフォトダイオードのモニタ電
流を定数倍して検出するＰＤ電流検出回路と、前記ＬＤ
電流検出回路の出力電圧と前記ＰＤ電流検出回路の出力
電圧との差電圧を検出する差動増幅器と、この差動増幅
器で得られる両者の差電圧が基準値を越えたときにアラ
ームを発出するコンパレータと具備して構成される。
【００１１】すなわち、この構成によるＬＤ劣化検出回
路では、ＬＤに流れている電流と、ＬＤモジュール内で
ＬＤ出力をモニタしているＰＤ出力をそれぞれ検出し、
ＬＤ電流に対応する電圧とＰＤ出力×定数倍の電圧との
差を求め、その差が一定の基準値を越えたときにアラー
ムを発出するようにしている。
路では、ＬＤに流れている電流と、ＬＤモジュール内で
ＬＤ出力をモニタしているＰＤ出力をそれぞれ検出し、
ＬＤ電流に対応する電圧とＰＤ出力×定数倍の電圧との
差を求め、その差が一定の基準値を越えたときにアラー
ムを発出するようにしている。
【００１２】この場合、ＬＤに流れている電流とＬＤ出
力をモニタしているモニタＰＤ出力をそれぞれ検出して
いるが、ＬＤ電流とＬＤ出力の間には、ＬＤ電流が閾値
を越えると、ＬＤ出力はＬＤ電流に概そ比例して増加す
るという特性がある。モニタＰＤ出力はＬＤ出力に比例
するので、（ＬＤ電流値）−（モニタＰＤ出力）×定数
は、定数の値を適当に選ぶことによって、ＬＤ電流が変
化しても一定となる。ここで、ＬＤには、劣化すると閾
値電流が増加して効率が下がるという特性がある。この
ため、同一のＬＤ電流に対するモニタＰＤ出力はＬＤ劣
化に伴って小さくなり、（ＬＤ電流相当の電圧値）−
（モニタＰＤ出力電圧）×定数の値は増加する。よっ
て、その値を基準値と比較し、基準値を越えた場合にア
ラームを発生することができるようになる。
力をモニタしているモニタＰＤ出力をそれぞれ検出して
いるが、ＬＤ電流とＬＤ出力の間には、ＬＤ電流が閾値
を越えると、ＬＤ出力はＬＤ電流に概そ比例して増加す
るという特性がある。モニタＰＤ出力はＬＤ出力に比例
するので、（ＬＤ電流値）−（モニタＰＤ出力）×定数
は、定数の値を適当に選ぶことによって、ＬＤ電流が変
化しても一定となる。ここで、ＬＤには、劣化すると閾
値電流が増加して効率が下がるという特性がある。この
ため、同一のＬＤ電流に対するモニタＰＤ出力はＬＤ劣
化に伴って小さくなり、（ＬＤ電流相当の電圧値）−
（モニタＰＤ出力電圧）×定数の値は増加する。よっ
て、その値を基準値と比較し、基準値を越えた場合にア
ラームを発生することができるようになる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図１は本発明に係るＬＤ劣
化検出回路の構成を示すもので、１１はレーザダイオー
ドＬＤ及びモニタフォトダイオードＰＤをパッケージン
グしたＬＤモジュールである。レーザダイオードＬＤの
駆動電流はトランジスタＴｒによるＬＤ駆動回路１２に
よって制御される。この駆動電流はＬＤ電流検出回路１
３の抵抗Ｒ１によって電圧に変換され、オペアンプＯＰ
１及び抵抗Ｒ２〜Ｒ５による増幅回路によって平均化さ
れ増幅出力される。
施の形態を詳細に説明する。図１は本発明に係るＬＤ劣
化検出回路の構成を示すもので、１１はレーザダイオー
ドＬＤ及びモニタフォトダイオードＰＤをパッケージン
グしたＬＤモジュールである。レーザダイオードＬＤの
駆動電流はトランジスタＴｒによるＬＤ駆動回路１２に
よって制御される。この駆動電流はＬＤ電流検出回路１
３の抵抗Ｒ１によって電圧に変換され、オペアンプＯＰ
１及び抵抗Ｒ２〜Ｒ５による増幅回路によって平均化さ
れ増幅出力される。
【００１４】一方、ＬＤから発せられた光はＰＤによっ
てモニタ電流に変換される。このモニタ電流はＰＤ電流
検出回路１４に供給される。このＰＤ電流検出回路１４
は、オペアンプＯＰ２を用いてモニタＰＤに流れる電流
を電圧に変換するトランスインピーダンス・アンプで、
その増幅率は可変抵抗ＶＲの値によって決まる。
てモニタ電流に変換される。このモニタ電流はＰＤ電流
検出回路１４に供給される。このＰＤ電流検出回路１４
は、オペアンプＯＰ２を用いてモニタＰＤに流れる電流
を電圧に変換するトランスインピーダンス・アンプで、
その増幅率は可変抵抗ＶＲの値によって決まる。
【００１５】上記ＬＤ電流検出回路１３の検出出力及び
ＰＤ電流検出回路１４の検出出力は共に差動増幅器１５
に供給される。この差動増幅器１５は、オペアンプＯＰ
３及び抵抗Ｒ６〜Ｒ９によって構成され、両入力の差電
圧を検出出力する。この差電圧はコンパレータ１６に供
給される。このコンパレータ１６はオペアンプＯＰ４に
よって構成され、差動増幅器１５からの差電圧を基準値
Ｖref と比較し、差電圧が基準値Ｖref を越えるとき、
アラーム信号ＡＬＭを発生する。このアラーム信号ＡＬ
Ｍは出力端子１７から出力される。
ＰＤ電流検出回路１４の検出出力は共に差動増幅器１５
に供給される。この差動増幅器１５は、オペアンプＯＰ
３及び抵抗Ｒ６〜Ｒ９によって構成され、両入力の差電
圧を検出出力する。この差電圧はコンパレータ１６に供
給される。このコンパレータ１６はオペアンプＯＰ４に
よって構成され、差動増幅器１５からの差電圧を基準値
Ｖref と比較し、差電圧が基準値Ｖref を越えるとき、
アラーム信号ＡＬＭを発生する。このアラーム信号ＡＬ
Ｍは出力端子１７から出力される。
【００１６】すなわち、本実施形態によるＬＤ劣化検出
回路は、ＬＤに流れている電流と、ＬＤモジュール１１
内でＬＤ出力をモニタしているＰＤ出力をそれぞれ検出
し、ＬＤ電流とＰＤ出力×定数倍の差を出力させ、その
差が一定の基準値Ｖref を越えたときに、アラーム信号
ＡＬＭを発出するように構成したものである。
回路は、ＬＤに流れている電流と、ＬＤモジュール１１
内でＬＤ出力をモニタしているＰＤ出力をそれぞれ検出
し、ＬＤ電流とＰＤ出力×定数倍の差を出力させ、その
差が一定の基準値Ｖref を越えたときに、アラーム信号
ＡＬＭを発出するように構成したものである。
【００１７】この構成では、ＬＤに流れている電流とＬ
Ｄ出力をモニタしているモニタＰＤの出力電流をそれぞ
れ検出している。ここで、ＬＤ電流とＬＤ出力の間には
図２に示すような関係があり、ＬＤ電流が閾値Ｉthを越
えると、ＬＤ出力はＬＤ電流に概ね比例して増加する。
ＬＤの劣化が劣化すると、閾値Ｉthが増大し、かつ比例
定数が小さくなり、ＬＤ電流に対するＬＤ出力の増加率
が小さくなる。
Ｄ出力をモニタしているモニタＰＤの出力電流をそれぞ
れ検出している。ここで、ＬＤ電流とＬＤ出力の間には
図２に示すような関係があり、ＬＤ電流が閾値Ｉthを越
えると、ＬＤ出力はＬＤ電流に概ね比例して増加する。
ＬＤの劣化が劣化すると、閾値Ｉthが増大し、かつ比例
定数が小さくなり、ＬＤ電流に対するＬＤ出力の増加率
が小さくなる。
【００１８】一方、モニタＰＤ出力はＬＤ出力に比例す
るので、（ＬＤ電流値）−（モニタＰＤ出力）×定数
は、図３に示すように、定数の値を適当に選ぶことによ
って、ＬＤ電流が変化しても一定にすることができる。
ＬＤが劣化すると、閾値電流Ｉthが増加し、効率が下が
るために、同一のＬＤ電流に対するモニタＰＤ出力は小
さくなり、（ＬＤ電流値）−（モニタＰＤ出力）×定数
の値は増加する。
るので、（ＬＤ電流値）−（モニタＰＤ出力）×定数
は、図３に示すように、定数の値を適当に選ぶことによ
って、ＬＤ電流が変化しても一定にすることができる。
ＬＤが劣化すると、閾値電流Ｉthが増加し、効率が下が
るために、同一のＬＤ電流に対するモニタＰＤ出力は小
さくなり、（ＬＤ電流値）−（モニタＰＤ出力）×定数
の値は増加する。
【００１９】図１に示す構成に沿って説明する。まず、
ＬＤ電流検出回路１３では、ＬＤモジュール１１のＬＤ
に電流ＩLDを流すと、その電流ＩLDはトランジスタＴｒ
のエミッタから抵抗Ｒ１を通ってＶEEに流れるので、抵
抗Ｒ１での電圧降下をオペアンプＯＰ１によって増幅す
ることにより、ＬＤ電流ＩLDに比例した電圧値を得るこ
とができる。
ＬＤ電流検出回路１３では、ＬＤモジュール１１のＬＤ
に電流ＩLDを流すと、その電流ＩLDはトランジスタＴｒ
のエミッタから抵抗Ｒ１を通ってＶEEに流れるので、抵
抗Ｒ１での電圧降下をオペアンプＯＰ１によって増幅す
ることにより、ＬＤ電流ＩLDに比例した電圧値を得るこ
とができる。
【００２０】また、ＰＤ電流検出回路１４では、モニタ
ＰＤに流れる電流ＩPDをオペアンプＯＰ２によって電圧
に変換する。ここで、初期状態において、可変抵抗Ｒ２
によってその増幅率を調整し、ＬＤ電流検出値に対して
ＰＤ電流検出値の増加率が等しくなるように設定してお
く。
ＰＤに流れる電流ＩPDをオペアンプＯＰ２によって電圧
に変換する。ここで、初期状態において、可変抵抗Ｒ２
によってその増幅率を調整し、ＬＤ電流検出値に対して
ＰＤ電流検出値の増加率が等しくなるように設定してお
く。
【００２１】この状態で、可変抵抗ＶＲの抵抗値を変え
たときのオペアンプＯＰ２の出力（ＰＤ電流検出回路１
４の出力）は、図４に示すように可変抵抗ＶＲの抵抗値
が大きいと傾きが大きく、小さいと傾きが小さくなる。
したがって、可変抵抗ＶＲの抵抗値を調整することによ
り、ＰＤ電流検出回路１４の出力は（ＩLD−Ｉth）の電
圧変換値とすることができる。そこで、差動増幅器１５
でＬＤ電流ＩLDと相対的な差をとれば、ＰＤ出力は閾値
電流Ｉthの相対値となって、ＬＤ電流ＩLDが増減しても
変わらない。
たときのオペアンプＯＰ２の出力（ＰＤ電流検出回路１
４の出力）は、図４に示すように可変抵抗ＶＲの抵抗値
が大きいと傾きが大きく、小さいと傾きが小さくなる。
したがって、可変抵抗ＶＲの抵抗値を調整することによ
り、ＰＤ電流検出回路１４の出力は（ＩLD−Ｉth）の電
圧変換値とすることができる。そこで、差動増幅器１５
でＬＤ電流ＩLDと相対的な差をとれば、ＰＤ出力は閾値
電流Ｉthの相対値となって、ＬＤ電流ＩLDが増減しても
変わらない。
【００２２】上記設定のもとで、ＬＤが劣化した場合
は、閾値電流Ｉthが増加するので、差動増幅器１５の出
力が増加する。したがって、差動増幅器１５の出力から
ＬＤ閾値電流Ｉthの増加を検出することができる。そこ
で、コンパレータ１６により差動増幅器１５の出力が基
準値を越えたことを検出すれば、ＬＤの劣化と判定し、
アラームを発出することができる。
は、閾値電流Ｉthが増加するので、差動増幅器１５の出
力が増加する。したがって、差動増幅器１５の出力から
ＬＤ閾値電流Ｉthの増加を検出することができる。そこ
で、コンパレータ１６により差動増幅器１５の出力が基
準値を越えたことを検出すれば、ＬＤの劣化と判定し、
アラームを発出することができる。
【００２３】またＬＤの劣化により効率が下がる場合、
図５のように、同一のＬＤ出力を出すためのＬＤ電流が
増加しているので、差動増幅器１５の出力は初期レベル
Δ１からΔ２のレベルに増加する。よって、この場合も
コンパレータ１６により差動増幅器１５の出力が基準値
を越えたことを検出すれば、ＬＤの劣化と判定し、アラ
ームを発出することができる。
図５のように、同一のＬＤ出力を出すためのＬＤ電流が
増加しているので、差動増幅器１５の出力は初期レベル
Δ１からΔ２のレベルに増加する。よって、この場合も
コンパレータ１６により差動増幅器１５の出力が基準値
を越えたことを検出すれば、ＬＤの劣化と判定し、アラ
ームを発出することができる。
【００２４】したがって、上記構成によるＬＤ劣化検出
回路では、ＬＤから同一出力を出すためのＬＤ電流の増
加を監視し、それが基準値を超えたときに劣化アラーム
を出力するようにしているので、ＬＤの電流−出力特性
が変わらなけらば、他の要因によって、ＬＤ電流が変化
してもアラームを判定する出力は変わらず、ＬＤが劣化
して電流−出力特性が変化すると、そのときのＬＤ電流
によらずアラームを判定する出力が増加して、劣化を検
出することができる。
回路では、ＬＤから同一出力を出すためのＬＤ電流の増
加を監視し、それが基準値を超えたときに劣化アラーム
を出力するようにしているので、ＬＤの電流−出力特性
が変わらなけらば、他の要因によって、ＬＤ電流が変化
してもアラームを判定する出力は変わらず、ＬＤが劣化
して電流−出力特性が変化すると、そのときのＬＤ電流
によらずアラームを判定する出力が増加して、劣化を検
出することができる。
【００２５】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、ＬＤ
出力一定制御でない場合でもＬＤ劣化の検出ができるレ
ーザダイオード劣化検出回路を提供することができる。
出力一定制御でない場合でもＬＤ劣化の検出ができるレ
ーザダイオード劣化検出回路を提供することができる。
【図１】本発明に係るＬＤ劣化検出回路の一実施形態の
構成を示す回路図。
構成を示す回路図。
【図２】同実施形態のＬＤ電流−出力特性を示す特性
図。
図。
【図３】同実施形態のＬＤモジュールのモニタＰＤ出力
特性を示す特性図。
特性を示す特性図。
【図４】同実施形態のモニタ出力検出アンプの出力特性
を示す特性図。
を示す特性図。
【図５】同実施形態のＬＤが劣化した時のモニタ出力変
化を示す特性図。
化を示す特性図。
【図６】本発明が適用される光アンプの構成を示す回路
図。
図。
１１…ＬＤモジュール ＬＤ…レーザダイオード ＰＤ…モニタフォトダイオード １２…ＬＤ駆動回路 Ｔｒ…トランジスタ １３…ＬＤ電流検出回路 ＯＰ１…オペアンプ Ｒ１〜Ｒ５…抵抗 １４…ＰＤ電流検出回路 ＯＰ２…オペアンプ ＶＲ…可変抵抗 １５…差動増幅器 ＯＰ３…オペアンプ Ｒ６〜Ｒ９…抵抗 １６…コンパレータ ＯＰ４…オペアンプ １７…アラーム信号出力端子 ＡＬＭ…アラーム信号 ２１…光入力端子 ２２…増幅用光ファイバ ２３…ＬＤ励起光源 ２４…光出力端子 ２５…光分岐カプラ ２６…出力光検出ＰＤ ２７…出力検出回路 ２８…ＬＤ駆動回路
Claims (3)
- 【請求項１】レーザダイオードの駆動電流を検出するＬ
Ｄ（レーザダイオード）電流検出回路と、 前記レーザダイオードの光出力をモニタするフォトダイ
オードのモニタ電流を定数倍して検出するＰＤ（フォト
ダイオード）電流検出回路と、 前記ＬＤ電流検出回路の出力電圧と前記ＰＤ電流検出回
路の出力電圧との差電圧を検出する差動増幅器と、 この差動増幅器で得られる両者の差電圧が基準値を越え
たときにアラームを発出するコンパレータと具備する特
徴とするレーザダイオード劣化検出回路。 - 【請求項２】 前記ＰＤ電流検出回路は、その倍率がＰ
Ｄ出力検出回路の検出効率と前記ＬＤ電流検出回路の検
出効率とが等しくなるよう設定することを特徴とする請
求項１記載のレーザダイオード劣化検出回路。 - 【請求項３】 前記ＬＤ電流検出回路は電流の平均値検
出であることを特徴とする請求項２記載のレーザダイオ
ード劣化検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23991295A JPH0983051A (ja) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | レーザダイオード劣化検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23991295A JPH0983051A (ja) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | レーザダイオード劣化検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0983051A true JPH0983051A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=17051704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23991295A Pending JPH0983051A (ja) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | レーザダイオード劣化検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0983051A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007027322A (ja) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レーザ装置 |
| US8483250B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-07-09 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the same |
| CN108037390A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-05-15 | 武汉电信器件有限公司 | 一种筛选光模块退化的检测方法和装置 |
| CN120891260A (zh) * | 2025-09-30 | 2025-11-04 | 成都观岩科技有限公司 | 应用于激光驱动器芯片的光电二极管电流检测电路及方法 |
-
1995
- 1995-09-19 JP JP23991295A patent/JPH0983051A/ja active Pending
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