JPH0989521A - Calibration method in laser distance measuring device - Google Patents

Calibration method in laser distance measuring device

Info

Publication number
JPH0989521A
JPH0989521A JP24225595A JP24225595A JPH0989521A JP H0989521 A JPH0989521 A JP H0989521A JP 24225595 A JP24225595 A JP 24225595A JP 24225595 A JP24225595 A JP 24225595A JP H0989521 A JPH0989521 A JP H0989521A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
distance
image sensor
lens
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24225595A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Takitani
俊夫 滝谷
Hideki Endo
英樹 遠藤
Yukihiro Terada
幸博 寺田
Masao Kinoshita
正生 木下
Seiichi Maeda
誠一 前田
Haruhiko Yoshida
晴彦 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanadevia Corp
Original Assignee
Hitachi Zosen Corp
Hitachi Shipbuilding and Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Zosen Corp, Hitachi Shipbuilding and Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Zosen Corp
Priority to JP24225595A priority Critical patent/JPH0989521A/en
Publication of JPH0989521A publication Critical patent/JPH0989521A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Complex Calculations (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被測定物の変位量を簡単にかつ広範囲に亘っ
て測定できるレーザ距離測定装置における校正方法を提
供する。 【解決手段】 レーザ光線4を被測定物3に照射して、
その反射光線5をレンズ6を介してCCDイメージセン
サ7にて受光し、この受光位置を所定の演算式に入力し
て被測定物の距離を測定する際に、上記演算式中に含ま
れるパラメータを校正する方法であって、校正用測定物
3Aに複数個の既知の変位量を与えるとともに、この変
位量に応じて測定データを取得し、そしてこれらの測定
データを用いて、上記各パラメータを最小二乗法により
推定する方法である。
(57) Abstract: A calibration method in a laser distance measuring device capable of easily measuring a displacement amount of an object to be measured over a wide range. SOLUTION: The object to be measured 3 is irradiated with a laser beam 4,
When the reflected light beam 5 is received by the CCD image sensor 7 through the lens 6 and this light receiving position is input to a predetermined arithmetic expression to measure the distance of the object to be measured, the parameters included in the above arithmetic expression Is a method of calibrating a plurality of known displacement amounts to the calibration measurement object 3A, obtains measurement data according to the displacement amounts, and uses these measurement data to set the above-mentioned respective parameters. This is a method of estimation by the least squares method.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ距離測定装
置における校正方法に関し、詳細には、レーザ距離測定
装置により被測定物までの距離を測定する際に使用する
演算式のパラメータの校正を行う方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a calibration method in a laser distance measuring device, and more specifically, it calibrates parameters of an arithmetic expression used when measuring a distance to an object to be measured by the laser distance measuring device. Regarding the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】物体の寸法を、非接触で測定するものと
して、レーザ光線を利用したレーザ距離測定装置があ
る。このレーザ距離測定装置の中には、三角測距法に基
づくものがある。
2. Description of the Related Art There is a laser distance measuring device utilizing a laser beam for measuring the size of an object in a non-contact manner. Some of the laser distance measuring devices are based on the triangulation method.

【0003】この三角測距法を利用したレーザ距離測定
装置においては、図2に示すように、レーザ光線の照射
器51から被測定物52にレーザ光線53を照射し、そ
の反射したレーザ光線54をレンズ55を介してCCD
リニアイメージセンサ56にて受光し、このイメージセ
ンサ56での受光位置(実際には、イメージセンサ中心
から受光地点までの距離)Δxを検出することにより、
イメージセンサ56の中心位置に相当する基準位置aか
ら被測定物52までの距離Δdが求められる。
In the laser distance measuring device using the triangulation method, as shown in FIG. 2, a laser beam 53 is irradiated from a laser beam irradiator 51 to an object 52 to be measured, and the reflected laser beam 54 is emitted. Through lens 55 to CCD
By receiving light at the linear image sensor 56 and detecting the light receiving position (actually, the distance from the center of the image sensor to the light receiving point) Δx at the image sensor 56,
The distance Δd from the reference position a corresponding to the center position of the image sensor 56 to the object to be measured 52 is obtained.

【0004】すなわち、基準位置aから被測定物52ま
での距離(変位量)Δdとイメージセンサ56上におけ
る受光位置までの距離Δxとの間には一定の関係があ
り、このことを利用して、被測定物52までの距離(変
位量)Δdが測定されていた。
That is, there is a fixed relationship between the distance (displacement amount) Δd from the reference position a to the object to be measured 52 and the distance Δx to the light receiving position on the image sensor 56. The distance (displacement amount) Δd to the object to be measured 52 was measured.

【0005】そして、上述した一定の関係については、
従来、2次曲線または3次曲線を仮定し、回帰直線で近
似して求められていた。
And, regarding the above-mentioned certain relationship,
Conventionally, it has been obtained by assuming a quadratic curve or a cubic curve and approximating with a regression line.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の回帰直
線により近似する場合、その近似できる測定範囲が限ら
れており、広範囲で測定する場合には、所定区間毎に回
帰直線を変更する、いわゆるスプライン曲線で、その全
体を近似する必要があり、したがって非常に面倒な演算
を必要とするとともに、距離そのもの、すなわち距離全
体を測定することができないという欠点があった。
However, when approximating with the above regression line, the range of measurement that can be approximated is limited, and when measuring in a wide range, the regression line is changed for each predetermined section. The spline curve needs to be approximated in its entirety, and therefore requires a very troublesome calculation, and has a drawback that the distance itself, that is, the entire distance cannot be measured.

【0007】そこで、本発明は上記課題を解消し得るレ
ーザ距離測定装置における校正方法を提供することを目
的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a calibration method in a laser distance measuring device that can solve the above problems.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のレーザ変位計における校正方法は、レーザ
光線の照射器と、この照射器から被測定物に照射された
レーザ光線の反射光線を、レンズを介して受光するイメ
ージセンサと、このイメージセンサにおける受光位置を
検出して、基準位置から被測定物までの距離を、被測定
物からレンズまでの距離、レンズからイメージセンサま
での距離およびレーザ光線の照射光軸とその反射光軸と
のなす角度をパラメータとする演算式に基づき求める演
算処理部とを有するレーザ距離測定装置における上記演
算式のパラメータを校正する方法であって、校正用測定
物に複数個の既知の変位量を与えるとともに、この変位
量に応じて測定データを取得し、これらの測定データを
用いて、上記各パラメータを、最小二乗法により推定す
る方法である。
In order to solve the above-mentioned problems, a calibration method for a laser displacement meter of the present invention comprises a laser beam irradiator and a reflected beam of a laser beam radiated from the irradiator to an object to be measured. The image sensor that receives light through the lens and the light receiving position of this image sensor are detected, and the distance from the reference position to the object to be measured is the distance from the object to be measured to the lens, or the distance from the lens to the image sensor. And a method of calibrating the parameters of the above-mentioned arithmetic expression in a laser distance measuring device having an arithmetic processing unit that obtains based on an arithmetic expression having an irradiation optical axis of a laser beam and its reflected optical axis as a parameter. A plurality of known displacements are given to the measuring object for measurement, and the measurement data is acquired according to the displacements, and these measurement data are used to determine the parameters described above. The chromatography data, a method of estimating by the least square method.

【0009】上記の構成によると、基準位置から被測定
物までの距離を、演算式により求める際に、その演算式
に含まれているパラメータを、校正用測定物を変位させ
るとともに、これら変位の測定データを使用して最小二
乗法を適用することにより、誤差が非常に少ない値に校
正することができ、したがって被測定物の変位量を広範
囲に亘って測定できるとともに、被測定物までの距離も
広範囲に亘って求めることができる。
According to the above construction, when the distance from the reference position to the object to be measured is calculated by an arithmetic expression, the parameter contained in the arithmetic expression is used to displace the calibration measuring object and to calculate these displacements. By applying the least squares method using the measured data, it is possible to calibrate to a value with very few errors, and therefore it is possible to measure the displacement amount of the DUT over a wide range and to measure the distance to the DUT. Can also be obtained over a wide range.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態におけ
るレーザ距離測定装置における校正方法を、図1に基づ
き説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A calibration method for a laser distance measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

【0011】まず、本発明に係る校正方法が適用される
レーザ距離測定装置について説明する。図1に示すよう
に、レーザ距離測定装置1は、レーザ光線の照射器2
と、この照射器2から被測定物3に照射されたレーザ光
線4の反射光線5を、レンズ6を介して受光するCCD
イメージセンサ7と、このイメージセンサ7における受
光位置を検出して、所定の基準位置Aから被測定物3ま
での距離Δdを、被測定物3からレンズ6までの距離
S、レンズ6からイメージセンサ7までの距離fおよび
レーザ光線4の照射光軸と基準位置Aからの反射光軸
(イメージセンサ7の中心位置を通る反射光線の光軸)
とのなす角度Kをパラメータとする下記の(1) 式に示す
演算式に基づき求めるコンピュータ装置(演算処理部)
8とを有し、さらにこれら各パラメータの値を校正する
ための校正用補助機器9が具備されている。
First, a laser distance measuring device to which the calibration method according to the present invention is applied will be described. As shown in FIG. 1, a laser distance measuring device 1 includes a laser beam irradiator 2
And a CCD for receiving a reflected beam 5 of a laser beam 4 emitted from the irradiator 2 onto the DUT 3 through a lens 6.
The image sensor 7 and the light receiving position of the image sensor 7 are detected, and the distance Δd from the predetermined reference position A to the DUT 3, the distance S from the DUT 3 to the lens 6, and the image sensor from the lens 6 are detected. 7 and the irradiation optical axis of the laser beam 4 and the reflected optical axis from the reference position A (optical axis of the reflected light beam passing through the central position of the image sensor 7)
A computer device (arithmetic processing unit) that is obtained based on the arithmetic expression shown in the following equation (1) using the angle K formed by
8 is provided, and a calibration auxiliary device 9 for calibrating the values of these respective parameters is further provided.

【0012】この校正用補助機器9は、校正を行うため
に使用される校正用測定物3Aと、この校正用測定物3
Aをレーザ光線4の照射方向で移動させる移動装置(例
えば、モータなど)11と、この移動装置11を上記コ
ンピュータ装置8からの指示により所定距離だけ移動さ
せる駆動ユニット12とから構成されている。なお、イ
メージセンサ7からの受光位置信号は、増幅器13、A
/D変換器14を介して、コンピュータ装置8に入力さ
れている。
The calibration auxiliary device 9 includes a calibration measurement object 3A used for performing calibration, and the calibration measurement object 3A.
A moving device (for example, a motor) 11 for moving A in the irradiation direction of the laser beam 4 and a drive unit 12 for moving the moving device 11 by a predetermined distance according to an instruction from the computer 8 are provided. The light receiving position signal from the image sensor 7 is sent to the amplifier 13, A
It is input to the computer device 8 via the / D converter 14.

【0013】次に、上記コンピュータ装置8において、
演算される演算式(1) について説明する。この演算式
(1) は、被測定物3(3A)がレーザ光線4の照射光軸
方向(y軸方向)に移動(変位)すると、イメージセン
サ7にて検出される反射光線5の受光位置が変化する。
この時、下記に示す(1) 式のような関係が成立する。
Next, in the computer device 8,
The calculation formula (1) to be calculated will be described. This formula
In (1), when the DUT 3 (3A) moves (displaces) in the irradiation optical axis direction (y-axis direction) of the laser beam 4, the light receiving position of the reflected beam 5 detected by the image sensor 7 changes. .
At this time, the relationship as shown in equation (1) below is established.

【0014】 Δd=Δx・S/(f・sin K−Δx・cos K)・・・・(1) 但し、 Δd:被測定物の変位量(基準位置からの移動量) Δx:イメージセンサでの受光位置の変化量 S:基準位置における被測定物からレンズまでの距離 f:レンズからイメージセンサまでの距離 K:レーザ光線とレンズの光軸(基準位置における反射
光軸)とのなす角度をそれぞれ示す。
Δd = Δx · S / (f · sin K−Δx · cos K) (1) However, Δd: displacement of the object to be measured (movement amount from the reference position) Δx: image sensor Change in the light receiving position of S: Distance from the object to be measured at the reference position to the lens f: Distance from the lens to the image sensor K: Angle between the laser beam and the optical axis of the lens (reflected optical axis at the reference position) Shown respectively.

【0015】したがって、上記の(1) 式により、被測定
物3のy軸方向での移動量すなわち変位量Δdが求めら
れ、例えば予め分かっているレンズ6の中心位置Bに、
イメージセンサ7の中心位置に対応する基準位置Aまで
の距離Cに変位量Δdを加算すれば、レンズ6の中心位
置Bからの照射光軸方向(y軸方向)における距離L
(C+Δd)を求めることができる。
Therefore, the amount of movement of the object 3 to be measured in the y-axis direction, that is, the amount of displacement Δd is obtained from the above equation (1), and for example, at the center position B of the lens 6 which is known in advance,
If the displacement amount Δd is added to the distance C to the reference position A corresponding to the center position of the image sensor 7, the distance L from the center position B of the lens 6 in the irradiation optical axis direction (y-axis direction).
(C + Δd) can be obtained.

【0016】ところで、上記演算式において、S,
f,Kの正確な値は、未知であり、これらをできるだけ
正確に推定する必要がある。以下、上記S,f,Kの値
を、できるだけ正確に推定する、すなわち校正する方法
について説明する。
In the above equation, S,
The exact values of f and K are unknown and it is necessary to estimate them as accurately as possible. Hereinafter, a method of estimating the values of S, f, and K as accurately as possible, that is, calibrating, will be described.

【0017】まず、*S,*f,*Kを暫定値として求
められた変位量ΔdをΔ*d(*S,*f,*S,*
K)とし、真の値をS,f,Kとした場合、暫定値*
S,*f,*S,*Kとの間には、誤差ΔS,Δf,Δ
Kが生じている。
First, the displacement amount Δd obtained by using * S, * f, * K as provisional values is Δ * d (* S, * f, * S, *
K) and the true values are S, f, and K, the provisional value *
Between S, * f, * S, and * K, errors ΔS, Δf, and Δ
K is occurring.

【0018】すなわち、真の値は、下記の(2) 〜(4) 式
にて表される。 S=*S−ΔS ・・・・(2) f=*f−Δf ・・・・(3) K=*K−ΔK ・・・・(4) ここで、校正用測定物3Aの変位量の真の値は、コンピ
ュータ装置8にて分かるため、この真の値を既知Δdと
すると、残差Uは、下記の(5) 式にて表される。
That is, the true value is expressed by the following equations (2) to (4). S = * S-ΔS (2) f = * f-Δf (3) K = * K-ΔK (4) where the displacement of the calibration measurement object 3A Since the true value of is known by the computer device 8, if this true value is known Δd, the residual U is expressed by the following equation (5).

【0019】[0019]

【数1】 [Equation 1]

【0020】ここで、Δ*d(S,f,K)≒Δdであ
るとすれば、上記の(5) 式は、下記(6) 式のように表す
ことができる。 U=Δ*dS ×ΔS+Δ*df ×Δf+Δ*dKK ×ΔK ・・・・(6) 但し、(6) 式中、
Here, if Δ * d (S, f, K) ≈Δd, the above equation (5) can be expressed as the following equation (6). U = Δ * d S × ΔS + Δ * d f × Δf + Δ * dK K × ΔK (6) However, in the formula (6),

【0021】[0021]

【数2】 [Equation 2]

【0022】を表すものとする。実際に、偏微分する
と、以下の(7) 〜(9) 式のようになる。
Is represented by Actually, partial differentiation is as shown in the following equations (7) to (9).

【0023】[0023]

【数3】 (Equation 3)

【0024】但し、(S,f,K)の値は、暫定値(*
S,*f,*K)で近似されたものである。次に、上記
(6) 式に、最小二乗法を適用して、ΔS,Δf,ΔKの
近似解を求める。
However, the value of (S, f, K) is a provisional value (*
S, * f, * K). Then above
The least squares method is applied to the equation (6) to obtain an approximate solution of ΔS, Δf, ΔK.

【0025】まず、目的関数をU2 とすると、U2 は下
記の(10)式で表される。
First, assuming that the objective function is U 2 , U 2 is expressed by the following equation (10).

【0026】[0026]

【数4】 [Equation 4]

【0027】上記の(10)式を、ΔS,Δf,ΔKで、そ
れぞれ偏微分すると、下記の(11)〜(13)式のようにな
る。
When the above equation (10) is partially differentiated by ΔS, Δf, and ΔK, the following equations (11) to (13) are obtained.

【0028】[0028]

【数5】 (Equation 5)

【0029】上記の(11)〜(13)式を、下記の(14)式に示
すように零と置く。
The above equations (11) to (13) are set to zero as shown in the following equation (14).

【0030】[0030]

【数6】 (Equation 6)

【0031】上記の(14)式を解くことにより、(ΔS,
Δf,ΔK)が求められる。但し、(7) 〜(9) 式の偏微
分を(*S,*f,*K)で評価しているため、こが最
終的に求める値ではなく、上記(2) 〜(4) 式から、下記
の(15)〜(17)式に示すように、推定値(*S′,*
f′,*K′)が求められる。
By solving the above equation (14), (ΔS,
Δf, ΔK) is obtained. However, since the partial differentiation of Eqs. (7) to (9) is evaluated by (* S, * f, * K), this is not the final value, and the above Eqs. (2) to (4) are used. Therefore, as shown in the following equations (15) to (17), the estimated value (* S ′, *
f ', * K') is calculated.

【0032】[0032]

【数7】*S′=*S−ΔS ・・・・(15) *f′=*f−Δf ・・・・(16) *K′=*K−ΔK ・・・・(17) 上記の(*S′,*f′,*K′)を、何回か計算を行
い、収束解を求める。すなわち、校正用測定物を何回か
移動させて、これらの測定データを使用して計算する。
この収束解が、求める各パラメータの推定値であり、真
の値に非常に近いものである。
[Equation 7] * S '= * S-ΔS ··· (15) * f ′ = * f-Δf ··· (16) * K ′ = * K-ΔK ··· (17) Above (* S ', * f', * K ') is calculated several times to obtain a convergent solution. That is, the calibration measurement object is moved several times, and calculation is performed using these measurement data.
This convergent solution is an estimated value of each parameter to be obtained and is very close to the true value.

【0033】このように、基準位置から被測定物までの
距離を、演算式により求める際に、その演算式に含まれ
ているパラメータを、より真の値に校正することがで
き、したがって従来のように、スプライン曲線を使用す
る場合に比べて、被測定物の変位量を、簡単にかつ広範
囲に亘って測定できるとともに、被測定物までの距離
も、広範囲に測定することができる。
As described above, when the distance from the reference position to the object to be measured is obtained by an arithmetic expression, the parameters included in the arithmetic expression can be calibrated to a more true value, and therefore the conventional method can be used. As described above, compared with the case of using the spline curve, the displacement amount of the measured object can be easily measured over a wide range, and the distance to the measured object can also be measured over a wide range.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上のように本発明の構成によると、基
準位置から被測定物までの距離を、演算式により求める
際に、その演算式に含まれているパラメータを、校正用
測定物を変位させるとともに、これらの測定データによ
り最小二乗法を適用して校正するようにしたので、誤差
が非常に少ない値にすることができ、したがって従来の
ように、スプライン曲線を使用する場合とは異なり、被
測定物の変位量を簡単にかつ広範囲に亘って測定できる
とともに、被測定物までの距離も、広範囲に測定するこ
とができる。
As described above, according to the configuration of the present invention, when the distance from the reference position to the object to be measured is calculated by an arithmetic expression, the parameter included in the arithmetic expression is used as the calibration measuring object. Since the measurement data is applied and the least-squares method is applied for calibration along with the displacement, the error can be made very small, which is different from the case where the spline curve is used as in the past. The displacement amount of the measured object can be easily measured over a wide range, and the distance to the measured object can also be measured over a wide range.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態におけるレーザ距離測定装
置の概略構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a laser distance measuring device according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来例のレーザ距離測定方法を説明する原理図
である。
FIG. 2 is a principle diagram illustrating a conventional laser distance measuring method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ距離測定装置 2 照射器 3 被測定物 3A 校正用測定物 4 レーザ光線 5 反射光線 6 レンズ 7 イメージセンサ 8 コンピュータ装置 9 校正用補助機器 1 Laser Distance Measuring Device 2 Irradiator 3 Object to be Measured 3A Measuring Object for Calibration 4 Laser Beam 5 Reflected Ray 6 Lens 7 Image Sensor 8 Computer Device 9 Auxiliary Equipment for Calibration

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木下 正生 大阪府大阪市此花区西九条5丁目3番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 前田 誠一 大阪府大阪市此花区西九条5丁目3番28号 日立造船株式会社内 (72)発明者 吉田 晴彦 大阪府大阪市此花区西九条5丁目3番28号 日立造船株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (72) Inventor Masao Kinoshita 5-3-8 Nishikujo, Konohana-ku, Osaka City, Osaka Prefecture Hitachi Shipbuilding Co., Ltd. (72) Seiichi Maeda, Nishikujo, Nishinojo-ku, Osaka City, Osaka Prefecture 3-28, Hitachi Shipbuilding Co., Ltd. (72) Haruhiko Yoshida 5--3-28, Nishikujo Nishikonohana-ku, Osaka City, Osaka Prefecture Hitachi Shipbuilding Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レーザ光線の照射器と、この照射器から被
測定物に照射されたレーザ光線の反射光線を、レンズを
介して受光するイメージセンサと、このイメージセンサ
における受光位置を検出して、基準位置から被測定物ま
での距離を、基準位置からレンズまでの距離、レンズか
らイメージセンサまでの距離およびレーザ光線の照射光
軸と基準位置からの反射光軸とのなす角度をパラメータ
とする演算式に基づき求める演算処理部とを有するレー
ザ距離測定装置における上記演算式のパラメータを校正
する方法であって、校正用測定物に複数個の既知の変位
量を与えるとともに、この変位量に応じて測定データを
取得し、これらの測定データを用いて、上記各パラメー
タを、最小二乗法により推定することを特徴とするレー
ザ距離測定装置における校正方法。
1. A laser beam irradiator, an image sensor for receiving a reflected light beam of a laser beam emitted from the irradiator to an object to be measured through a lens, and detecting a light receiving position in the image sensor. , The distance from the reference position to the object to be measured, the distance from the reference position to the lens, the distance from the lens to the image sensor, and the angle between the irradiation optical axis of the laser beam and the reflection optical axis from the reference position are used as parameters. A method for calibrating the parameters of the above-described arithmetic expression in a laser distance measuring device having an arithmetic processing unit obtained based on an arithmetic expression, wherein a plurality of known displacement amounts are given to a calibration measurement object, A laser distance measuring device characterized by obtaining measured data by using the measured data and estimating each of the above parameters by the least square method using these measured data. Kick calibration method.
JP24225595A 1995-09-21 1995-09-21 Calibration method in laser distance measuring device Pending JPH0989521A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24225595A JPH0989521A (en) 1995-09-21 1995-09-21 Calibration method in laser distance measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24225595A JPH0989521A (en) 1995-09-21 1995-09-21 Calibration method in laser distance measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0989521A true JPH0989521A (en) 1997-04-04

Family

ID=17086553

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24225595A Pending JPH0989521A (en) 1995-09-21 1995-09-21 Calibration method in laser distance measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0989521A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110196422A (en) * 2019-06-26 2019-09-03 Oppo广东移动通信有限公司 Test method, test device and the mobile terminal of laser ranging
CN112066889A (en) * 2020-09-14 2020-12-11 西安邮电大学 A laser displacement sensor thermal error measurement system and thermal error measurement method
JP2022128878A (en) * 2021-02-24 2022-09-05 三菱電機エンジニアリング株式会社 Displacement sensor

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110196422A (en) * 2019-06-26 2019-09-03 Oppo广东移动通信有限公司 Test method, test device and the mobile terminal of laser ranging
CN112066889A (en) * 2020-09-14 2020-12-11 西安邮电大学 A laser displacement sensor thermal error measurement system and thermal error measurement method
CN112066889B (en) * 2020-09-14 2022-07-22 西安邮电大学 Thermal error measuring system and thermal error measuring method for laser displacement sensor
JP2022128878A (en) * 2021-02-24 2022-09-05 三菱電機エンジニアリング株式会社 Displacement sensor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5931225B2 (en) Method for calculating distance change using an interferometer
US10725179B2 (en) Laser tracker
JP2004531739A (en) Apparatus and method for optically monitoring thickness
JP4633794B2 (en) Optical device for measuring the thickness of at least partly transparent media
US20190361124A1 (en) Displacement measurement device and displacement measurement method
CN110132374A (en) A self-compensating laser liquid level measurement system
CN111220088B (en) Measurement system and method
JPH07134013A (en) Surface shape measuring method and projection exposure apparatus
JPH0660807B2 (en) High-precision measurement method of the center position of light
JP2603317B2 (en) Laser distance meter and calibration method for thickness gauge using laser distance meter
JP2001165629A (en) Shape measuring device and shape measuring method
JP3192461B2 (en) Optical measuring device
JP3401979B2 (en) Triangulation type distance measuring device and obstacle detection device
JP3323963B2 (en) Measuring device
JP2003254747A (en) Straightness measurement method
JP2591143B2 (en) 3D shape measuring device
JPH10111107A (en) Distance measuring method and distance measuring device
JP2924754B2 (en) Optical differential velocity meter
JPS62182612A (en) Apparatus for measuring surface position of specimen
JPH0711413B2 (en) Non-contact type surface profile measuring device
JP2816257B2 (en) Non-contact displacement measuring device
JPS603502A (en) Non-contacting type distance measuring method
JPH07181006A (en) Laser length measuring device
JPH01153908A (en) Three-dimensional measuring instrument
JPH0534120A (en) Method and apparatus for measuring shape of surface