JPH10104120A

JPH10104120A - レンズメーター

Info

Publication number: JPH10104120A
Application number: JP8259172A
Authority: JP
Inventors: Yukio Ikezawa; 幸男池沢; Hidekazu Yanagi; 英一柳; Yasufumi Fukuma; 康文福間; Takeyuki Kato; 健行加藤
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1996-09-30
Filing date: 1996-09-30
Publication date: 1998-04-24

Abstract

(57)【要約】【課題】眼鏡レンズの狭域のみを測定して眼鏡レンズ
のの測定値を迅速に表示できると共に、眼鏡レンズの広
域を測定してマッピング表示を行うことができるレンズ
メーターを提供する。【解決手段】本発明のレンズメーターは、測定光束発
生用の光源２１を備え、測定光束の投光光路２４に眼鏡
レンズ３１の狭域特性測定用の中央パターン２８と眼鏡
レンズ３１の広域特性測定用の多数の周辺パターン２９
とを有するパターン形成板２６が設けられ、眼鏡レンズ
３１の狭域を透過した透過測定光束に基づく中央パター
ン像３３を受像しかつ狭域のみを測定して測定値を表示
する通常測定モードと、眼鏡レンズ３１の広域を透過し
た透過測定光束に基づく多数の周辺パターン像３４を受
像しかつ広域を測定してマッピング表示を行う広域測定
モードとの間で切換可能である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、眼鏡レンズとして
の累進焦点レンズのレンズ特性をマッピング表示可能な
レンズメータに関する。

【０００２】

【従来の技術】近時、レンズメーターには、測定光束発
生用の光源を備え、測定光束の投光光路に累進焦点レン
ズをセットし、累進焦点レンズの広域を透過した透過測
定光束に基づく多数のパターン像を受像することにより
広域を測定して球面度Ｓ（図１９（イ）参照）、円柱度
Ｃ（図１９（ロ）参照）、軸角度Ａ（図１９（ハ）参
照）、プリズム度Ｐｒｓ（図１９（ニ）参照）を画像表
示（マッピング表示）するものが現われてきている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、眼鏡レ
ンズの測定を行う場合、眼鏡レンズの数カ所の狭域のみ
を測定して、その眼鏡レンズの球面度、円柱度、軸角
度、プリズム度の各レンズ特性値を決定したい場合があ
るが、マッピング表示専用のレンズメーターを用いて、
眼鏡レンズの所望の狭域のみの球面度、円柱度、軸角
度、プリズム度のレンズ特性値を得ようとすると、眼鏡
レンズの広域を測定することにより得られた多数の測定
値を演算する必要があるため、その所望の狭域のみの各
レンズ特性値を得るのに時間がかかり、迅速に所望の狭
域のみの各レンズ特性値を得難いという問題がある。

【０００４】例えば、眼鏡レンズが球面レンズ及び乱視
用レンズの場合には、その球面レンズ及び乱視用レンズ
の一部分を測定することにより、その球面レンズの各レ
ンズ特性値を決定でき、このような場合には、眼鏡レン
ズの所望の狭域のみを測定することによりその眼鏡レン
ズの球面度、円柱度、軸角度、プリズム度の各レンズ特
性値を測定するのが望ましいのであるが、マッピング表
示専用のレンズメーターでは測定に時間がかかりすぎる
という問題がある。

【０００５】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的は、眼鏡レンズの狭域のみの測定と全域
の測定との両方を行うことができるレンズメーターを提
供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に記載
のレンズメーターは、測定光束発生用の光源を備え、測
定光束の投光光路に眼鏡レンズの狭域特性測定用の中央
パターンと眼鏡レンズの広域特性測定用の多数の周辺パ
ターンとを有するパターン形成板が設けられ、前記眼鏡
レンズの狭域を透過した透過測定光束に基づく中央パタ
ーン像を受像しかつ狭域のみを測定して測定値を表示す
る通常測定モードと、前記眼鏡レンズの広域を透過した
透過測定光束に基づく多数の周辺パターン像を受像しか
つ広域を測定してマッピング表示を行う広域測定モード
との間で切換可能である。

【０００７】本発明の請求項２に記載のレンズメーター
は、請求項１に記載のものにおいて、前記光源が波長分
布特性又は複数の波長を有し、前記透過測定光束に基づ
くパターン像を受像する受像光路が、前記中央パターン
像を受像する一方の受像光路と、前記透過測定光束に基
づく多数のパターン像を受像する他方の受像光路とに分
岐され、前記受像光路の分岐部には前記透過測定光束の
一部を透過しかつ残りを反射するビームスプリッターが
設けられている。

【０００８】本発明の請求項３に記載のレンズメーター
は、請求項２に記載のものにおいて、前記一方の受像光
路に前記中央パターン像を拡大する拡大光学系が設けら
れている。

【０００９】本発明の請求項４に記載のレンズメーター
は、請求項１に記載のものにおいて、前記光源が互いに
波長の異なる測定光束を発生する２個の光源を備え、一
方の光源が通常測定モードに用いられ、他方の光源が広
域測定モードに用いられ、前記中央パターンは前記一方
の光源から発生された測定光束を少なくとも透過させる
光学波長特性を有し、前記周辺パターンは前記他方の光
源から発生された測定光束のみを透過させる光学波長特
性を有することを特徴とする。

【００１０】本発明の請求項５に記載のレンズメーター
は、請求項１に記載のものにおいて、前記投光光路に眼
鏡レンズセット用のレンズ受けが設けられ、該レンズ受
けはプレート板と前記眼鏡レンズを受けるレンズ受け筒
とを有し、通常測定モードのときに前記レンズ受け筒に
補助レンズ受け筒が装着されることを特徴とする。

【００１１】本発明の請求項６に記載のレンズメーター
は、請求項５に記載のものにおいて、前記補助レンズ受
け筒は、前記中央パターン像の形成に寄与する透過測定
光束を通過させるレンズ受け筒と前記周辺パターン像の
形成に寄与する透過測定光束を遮光する座台部とからな
ることを特徴とする。

【００１２】本発明の請求項７に記載のレンズメーター
は、請求項６に記載のものにおいて、前記レンズ受け筒
にマイナス度数の補助レンズが設けられていることを特
徴とする。本発明の請求項８に記載のレンズメーター
は、請求項５ないし請求項７のいずれか１項に記載のも
のにおいて、前記補助レンズ受け筒のプレート板からの
高さが前記レンズ受けのレンズ受け筒のプレート板から
の高さよりも高いことを特徴とする。

【００１３】本発明の請求項９に記載のレンズメーター
は、請求項５又は請求項６に記載のものにおいて、前記
補助レンズ受け筒と前記レンズ受けとのいずれか一方に
は、該補助レンズ受け筒が前記レンズ受けに装着された
ときに、前記広域測定モードから通常測定モードに自動
的に切換えるための切換え手段が設けられている。

【００１４】本発明の請求項１０に記載のレンズメータ
ーは、請求項１に記載のものにおいて、通常測定モード
用のレンズ受け筒と広域測定モード用のレンズ受け筒と
が準備され、通常測定モード用のレンズ受け筒のプレー
ト板からそのレンズ受け筒の頂部までの高さが広域測定
モード用のレンズ受け筒のプレート板からそのレンズ受
け筒の頂部までの高さよりも大きいことを特徴とする。

【発明の実施の形態】

【００１５】

【実施の形態１】図１は本発明に係わるレンズメーター
の外観図である。この図１において、１はレンズメータ
ー、２はレンズメーター１の本体、３は本体２の上部に
設けられたＣＲＴ又は液晶ディスプレイ等のモニター、
３ａはそのモニター３の表示画面、４は本体２の前側に
設けられた上光学部品収納部、５は上光学部品収納部の
下方に位置させて設けられた下光学部品収納部、６は下
光学部品収納部５の上端に設けられたレンズ受けテーブ
ル、７は両収納部５、６間に位置して本体２の正面に前
後移動調整可能に保持されたレンズ当て、８は本体２の
横側に前後回動可能に保持されたレンズ当て操作用のレ
バーで、このレバー８の前後回動によりレンズ当て７が
前後移動調整されるようになっている。

【００１６】そのレンズ当て７の上縁部にはスライダ９
ａが左右動自在に保持され、このスライダ９ａには鼻当
て支持部材９が上下回動可能に保持されている。この鼻
当て支持部材９は、図示を略すスプリングで上方にバネ
付勢されていると共に水平位置で上方への回動が規制さ
れるようになっている。尚、１０はモード切り換え用の
切換えスイッチ、１１は測定開始スイッチである。

【００１７】このレンズ受けテーブル６には、図２に示
す段付き取り付け孔１２が形成されている。この取り付
け孔１２にはレンズ受け１３が設けられる。このレンズ
受け１３には円形の未加工レンズ（生地レンズ）、眼鏡
フレームに枠入りされたままの眼鏡レンズがセットされ
る。

【００１８】本体２内には図２に示す測定光学系が設け
られている。その図２において、２０は投光手段であ
り、投光手段２０は測定光束発生用の光源２１、ピンホ
ール板２２、コリメートレンズ２３を有する。２２ａは
ピンホールである。光源２１は波長分布特性又は複数波
長を有する。ピンホール板２２はコリメートレンズ２３
の焦点位置に配置され、コリメートレンズ２３は光源２
１から出射された測定光束を平行光束Ｐに変換する役割
を果たす。その平行光束Ｐの投光光路２４の途中で、レ
ンズ受けテーブル６の上方には反射ミラー２５が設けら
れている。

【００１９】そのレンズ受けテーブル６に載置されるレ
ンズ受け１３は、プレート板２６とレンズ受け筒２７と
から構成されている。プレート板１３は図３に示すよう
に直方形状であり、レンズ受けテーブル６の段付き取り
付け孔１２に係止される。レンズ受け筒２７は金属製で
ある。プレート板２６には、レンズ受け装着用の環状溝
２６ａがその中央部に形成されている。そのレンズ受け
筒２７には防塵用の透明カバーガラス２７ａが設けられ
ている。レンズ受け筒２７はプレート板２６に着脱可能
で、このレンズ受け筒２７よりも背の高いレンズ受け筒
２７´ａをプレート板２６に装着することもできる。

【００２０】プレート板２６には環状溝２６ａで囲まれ
た内側に中央パターン２８が形成されている。この中央
パターン２８は４個のスリット孔２８ａないし２８ｄか
ら形成されている。中央パターン２８はこのスリット孔
２８ａないし２８ｄにより全体として正方形状を呈して
いる。そのスリット孔２８ａないし２８ｄの各端縁は互
いに離間している。

【００２１】プレート板２６には環状溝２６ａの外側に
周辺パターン２９が規則的に間隔を開けて形成されてい
る。この周辺パターン２９は円孔からなり、中央パター
ン２８と周辺パターン２９とはそのパターン形状が異な
っている。そのプレート板２６の残余の部分は遮光部３
０となっており、プレート板２６はパターン形成板とし
ての機能を有する。

【００２２】ここでは、レンズ受け１３には、眼鏡レン
ズ３１として負のパワーを有する未加工レンズがセット
されているものとする。その投光光路２４には眼鏡レン
ズ３１から所定距離の箇所にスクリーン３２が設けられ
ている。このスクリーン３２は、例えば拡散板からなっ
ている。

【００２３】その投光光路２４に眼鏡レンズ３１がセッ
トされていないときには、測定光束が平行光束Ｐのまま
プレート板２６に導かれ、このプレート板２６の各パタ
ーンを透過するので、その透過測定光束に基づきプレー
ト板２６に対応するパターンが図４に示すようにスクリ
ーン３５上に投影される。その図４において、３３は中
央パターン２８に対応するスクリーン３２上の中央パタ
ーン像、３４は周辺パターン２９に対応するスクリーン
３２上の周辺パターン像を示している。

【００２４】眼鏡レンズ３１が投光光路２４にセットさ
れると、その眼鏡レンズ３１の広域Ｓ１が平行光束Ｐに
よって照射される。その平行光束Ｐがその眼鏡レンズ３
１の負のパワーにより変形を受けて拡散され、図５に示
すようにスクリーン３２上に間隔の広がったパターンが
投影される。正のパワーを有する眼鏡レンズ（図示を略
す）が投光光路２４にセットされると、その平行光束Ｐ
がその眼鏡レンズの正のパワーにより変形を受けて収束
され、図６に示すようにスクリーン３２上に間隔の狭ま
ったパターンが投影される。

【００２５】投光光路２４にはスクリーン３２の背後に
ビームスプリッタ３５が設けられている。このビームス
プリッタ３５はその中央がハーフミラー面３５ａとさ
れ、その周辺が全反射ミラー面３５ｂとされている。投
光光路２４はビームスプリッタ３５により中央パターン
像３３を受像する一方の受像光路２４ａと、周辺パター
ン像３４を受像する他方の受像光路２４ｂとに分岐され
ている。

【００２６】受像光路２４ａには、結像レンズ３６と撮
像素子３７とが設けられている。その撮像素子３７は結
像レンズ３６に関してスクリーン３２と共役位置に設け
られている。受像光路２４ｂには、全反射ミラー３８と
結像レンズ３９と撮像素子４０とが設けられている。そ
の撮像素子４０は結像レンズ３９に関してスクリーン３
２と共役位置に設けられている。

【００２７】撮像素子３７には中央パターン像３３のみ
がハーフミラー面３５ａを介して結像され、撮像素子４
０には全反射ミラー面３５ｂによる反射に基づき周辺パ
ターン像３４が結像される。撮像素子３７には中央パタ
ーン像のみが形成されるので、結像レンズ３６として拡
大光学系を用いれば、図７に示すように、撮像素子３７
の撮像面３７ａに中央パターン像３３を拡大して投影で
き、従って、中央パターン像３３の解析精度の向上を図
ることができる。一方、撮像素子４０の撮像面４０ａに
は、図８に示すように、周辺パターン像３４の全体が投
影される。

【００２８】撮像素子３７と撮像素子４０とは、処理回
路４１に接続されている。この処理回路４１は、眼鏡レ
ンズ３１の狭域を透過した透過測定光束に基づく中央パ
ターン像３３を受像しかつ狭域のみを測定して測定値を
表示する通常測定モードと、眼鏡レンズ３１の広域を透
過した透過測定光束に基づく多数の周辺パターン像３４
を受像しかつ広域を測定してマッピング表示を行う広域
測定モードとを行う機能を有する。その処理回路４１に
は切換スイッチ１０が接続され、切換スイッチ１０は、
眼鏡レンズ３１の狭域を透過した透過測定光束に基づく
中央パターン像３３を受像しかつ狭域のみを測定して測
定値を表示する通常測定モードと、眼鏡レンズ３１の広
域を透過した透過測定光束に基づく多数の周辺パターン
像３４を受像しかつ広域を測定してマッピング表示を行
う広域測定モードとの間で切り換える機能を有する。

【００２９】例えば、切換スイッチ１０をオンすると、
処理回路４１が眼鏡レンズ３１の狭域を透過した透過測
定光束に基づく中央パターン像３３を受像しかつ狭域の
みを測定して測定値を表示する通常測定モードとなり、
中央パターン像３３のみに基づいて、レンズ特性として
の球面度数、円柱度数、軸角度、プリズム度が演算され
て、その結果が数値として、モニター３の表示画面３ａ
に表示される。この通常測定モードでは、中央パターン
像３３のみに基づいて、レンズ特性を測定して演算する
ものであるからその処理速度が高速である。また、例え
ば切換スイッチ１０をオフすると、処理回路４１が眼鏡
レンズ３１の広域を透過した透過測定光束に基づく多数
の周辺パターン像３４を受像しかつ広域を測定してマッ
ピング表示を行う広域測定モードとなり、広域の各箇所
でのレンズ特性に基づく度数分布が演算されて、球面度
数、円柱度数、軸角度、プリズム度がモニター３の表示
画面３ａに表示される。なお、広域測定モードで測定を
行う際には、眼鏡レンズ３１の中央部分のデータも中央
パターン像３３を用いて測定できる。

【００３０】通常測定モードでは、眼鏡レンズ３１の所
望の狭域のみを測定するために、眼鏡レンズ３１をレン
ズ受け筒２７に載せた状態で移動させることがあるが、
このレンズ受け筒２７に載せた状態で移動させたとき
に、眼鏡レンズ３１のコバがプレート板２６又はレンズ
受けテーブル６に当接して、測定を行うことができにく
いような場合には、レンズ受け筒２７をプレート板２６
から取り外して、レンズ受け筒２７´と交換して測定を
行えば良い。なお、この発明の実施の形態１では、ビー
ムスプリッタ３５としてミラーを用いたが、ダイクロイ
ックプリズムを用いて、同様の機能を持たせても良い。

【００３１】

【実施の形態２】図９において、４２、４３は光源とし
てのＬＥＤ、４４、４５はピンホール板、４４ａ、４５
ｂはピンホール、４６はビームスプリッタである。ここ
では、ＬＥＤ４２は波長５５０ｎｍの測定光束を発生
し、ＬＥＤ４３は波長６６０ｎｍの測定光束を発生する
ものとされ、２個のＬＥＤの測定光束の波長が互いに異
なるものとされている。ビームスプリッタ４６には、波
長５５０ｎｍの測定光束を透過し、波長６５０ｎｍの測
定光束を反射するダイクロイックミラー面４６ａが形成
され、各測定光束は発明の実施の形態１において説明し
たと同様にコリメートレンズ２３に導かれて平行光束と
される。

【００３２】この発明の実施の形態２では、プレート板
２６は、図１０に示すように、波長５５０ｎｍ以上の測
定光束を透過させる中央パターン２８´（図１１の符号
Ｔ１で示す透過率曲線参照）と、波長６６０ｎｍ以上の
測定光束を透過させる周辺パターン２９´（図１１の符
号Ｔ２で示す透過率曲線参照）と、遮光部２６ｂとから
形成されている。

【００３３】この発明の実施の形態２では、撮像素子は
１個のみであり、この撮像素子を符号３７で示す。この
ものによれば、例えば、切換スイッチ１０をオンする
と、処理回路４１は通常測定モードとなり、これにより
ＬＥＤ４２が駆動されて、中央パターン２８´のみがス
クリーン３２に投影され、眼鏡レンズ３１の狭域を透過
した透過測定光束に基づく中央パターン像のみが撮像素
子３７に受像される。また、切換スイッチ１０をオフす
ると、処理回路４１は広域測定モードとなり、これによ
りＬＥＤ４３が駆動されて、周辺パターン２９´がスク
リーン３２に投影され、眼鏡レンズ３１の広域を透過し
た透過測定光束に基づく周辺パターン像が撮像素子３７
に受像される。なお、中央パターン２８´は図１１に符
号Ｔ３で示すように全波長域において透過率１００％の
素通しの特性を有していても良い。

【００３４】

【実施の形態３】図１２ないし図１５は本発明に係わる
実施の形態４の説明図である。この図１２ないし図１５
において、発明の実施の形態１と同一構成要素について
は、同一符号を付してその詳細な説明は省略することと
し、異なる部分についてのみ説明する。

【００３５】ここでは、レンズ受け筒２７に補助レンズ
受け筒４６が装着される構造とされている。その補助レ
ンズ受け筒４６は座台部４６ａとレンズ受け筒４６ｂと
からなっている。レンズ受けテーブル６にはマイクロス
イッチ４７が設けられている。レンズ受け筒４６ｂには
補助レンズ４８が設けられている。マイクロスイッチ４
７には図示を略すコネクタが設けられ、マイクロスイッ
チ４７はそのコネクタにより処理回路４１に接続されて
いる。符号４９はそのマイクロスイッチ４７の作動片で
ある。このマイクロスイッチ４７は、補助レンズ受け筒
４６をレンズ受けテーブル６に載せると、通常測定モー
ドと広域測定モードとの間で自動的にモードを切り換え
る機能を有する。

【００３６】補助レンズ４８を設けた理由は以下の通り
である。眼鏡レンズ３１が累進焦点レンズの場合、その
測定レンジ（ダイナミックレンジ）として＋１５ディオ
プターから−１５ディオプターまでの範囲が要望されて
いる。また、眼鏡レンズ３１の狭域のみを測定する市販
のレンズメーターの場合、その測定レンジ（ダイナミッ
クレンジ）として＋２５ディオプターから−２５ディオ
プターまでの範囲が要望されている。従って、眼鏡レン
ズ３１が累進焦点レンズの場合、図１３に示すように、
そのバックフォーカスｆ１は最小約６６．６７ｍｍであ
る。一方、市販のレンズメーターの場合、眼鏡レンズ３
１のバックフォーカスｆ２は最小４０ｍｍである。ここ
で、プレート板６からスクリーン３２までの距離をＬ１
とし、プレート板６からレンズ受け筒２７の頂部までの
高さをＬ２（ｆ２＝Ｌ２＋Ｌ１）として、スクリーン３
２をＬ１よりもプレート板２６に近付けると、スクリー
ン３２上での測定光束の変位量Ｓが小さくなる。また、
逆に、スクリーン３２をＬ１よりもプレート板２６から
遠ざけてバックフォーカスｆ１の点Ｑに近付けると、バ
ックフォーカス４０ｍｍの眼鏡レンズ３１を通常測定モ
ードで測定する際、眼鏡レンズ３１が正のパワーを有す
る場合に、測定光束の交差が生じ、測定を行うことがで
きないことになる。そこで、プレート板２６からレンズ
受け筒２７の頂部までの高さＬ２を約１０ｍｍ、プレー
ト板２６からスクリーン３２までの距離Ｌ１を３０ｍｍ
に設定する。このように、プレート板２６からスクリー
ン３２までの距離Ｌ１を設定すると、測定感度が良好
で、しかも、通常測定モード、広域測定モードのいずれ
の場合でも、全ての測定レンジに渡って支障なく測定を
行うことができる。

【００３７】しかしながら、通常測定モードでは、眼鏡
レンズ３１の所望の狭域のみを測定するために、既に既
述したように眼鏡レンズ３１をレンズ受け筒２７に載せ
た状態で移動させることがあるが、このレンズ受け筒２
７に載せた状態で眼鏡レンズ３１を移動させたときに、
眼鏡レンズ３１のコバ３１ａが図１４に一点鎖線で示す
ようにレンズ受けテーブル６又はプレート板２６に当接
して、所望の狭域の測定を行うことができない場合があ
る。そこで、補助レンズ受け筒４６のプレート板２６か
らの高さをレンズ受け筒２７のプレート板２６からの高
さよりも高く設計し、例えば、図１５に示すように、レ
ンズ受け筒２７に補助レンズ受け筒４６を装着した際の
プレート板２６からレンズ受け筒４６ｂの頂部までの高
さＬ３を約２０ｍｍに設定する。

【００３８】このように、レンズ受け筒２７に補助レン
ズ受け筒４６を装着した際の高さＬ３を約２０ｍｍに設
定すると、通常測定モードで眼鏡レンズ３１の所望の狭
域のみを測定する時に、眼鏡レンズ３１をレンズ受け筒
２７に載せた状態で移動させたとしても、眼鏡レンズ３
１のコバ３１ａがプレート板２６又はレンズ受けテーブ
ル６に当接しないので、眼鏡レンズ３１の所望の狭域の
レンズ特性を支障なく測定できる。

【００３９】ところが、単に補助レンズ受け筒４６のプ
レート板２６又はレンズ受けテーブル６からレンズ受け
筒４６ｂまでの高さを高くすると、レンズ受け筒４６ｂ
の頂部からスクリーン３２までの距離Ｌ４が最小バック
フォーカス距離ｆ２よりも長くなり、最小バックフォー
カス距離ｆ２の眼鏡レンズ３１を測定できないこととな
る。そこで、補助レンズ４８にマイナス度数（負のパワ
ー）を用い、これによりバックフォーカス距離を延長す
るように補正することとした。

【００４０】この発明の実施の形態３では、撮像素子が
２個であり、補助レンズ受け筒４６は透明体で構成され
ているが、補助レンズ受け筒４６のレンズ受け筒４６ｂ
内のみ測定光束が通過し、残余の部分は測定光束が通過
しないように、補助レンズ受け筒４６の座台部４６ａ、
レンズ受け筒４６ｂの外周に遮光膜を形成することにす
れば、発明の実施の形態２と同様に１個の撮像素子によ
り、通常測定モードと広域測定モードとの測定を行うこ
とができる。処理回路４１は、補助レンズ受け筒４６が
レンズ受けテーブル６に装着されると、マイクロスイッ
チ４７により、自動的に広域測定モードから通常測定モ
ードに切り換えられる。

【００４１】本発明によれば、眼鏡フレームに枠入れさ
れた眼鏡レンズを測定することもでき、図１６はフレー
ムに枠入れされた眼鏡レンズを測定した際の一例を示
し、その画像パターンはプレート板２６の形状に対応し
て長方形状である。その図１６において、（イ）は球面
度Ｓ、（ロ）は円柱度Ｃ、（ハ）は軸角度Ａ、（ニ）は
プリズム度Ｐｒを示し、眼鏡レンズ３１として必要な範
囲をカバーできる測定範囲とされている。

【００４２】また、図１６（ホ）に示すように、例え
ば、円柱度Ｃのマッピング表示と並行して球面度Ｓ、円
柱度Ｃ、軸角度Ａ、プリズム量Ｐｒの測定数値も同時に
表示することもできる。更に、図１６（ヘ）に示すよう
に、左目（Ｌ）用の眼鏡レンズの画像と右目（Ｒ）用の
眼鏡レンズの画像とを同時に表示することも可能で、加
えて、いずれか一方の画像を他方の画像に対応させて、
反転表示することも可能であり、このように構成する
と、眼鏡フレームに枠入れされた状態での眼鏡レンズの
レイアウトを知るのが容易となる。なお、反転された一
方の画像と反転されていない他方の画像とを重ね合わせ
て表示することにより、左目用の眼鏡レンズと右目用の
眼鏡レンズとのレンズ特性を比較するようにしても良
い。更に、左目用の眼鏡レンズと右目用の眼鏡レンズと
を横に並べて表示しても良い。

【００４３】

【実施の形態４】図１７、図１８はコンタクトレンズ４
９を測定する場合の実施の形態を説明するための説明図
であって、図１７はレンズ容器５０を補助レンズ受け筒
４６にセットする構成を示している。このレンズ容器５
０は、容器本体５１とコンタクトレンズ載置部５２とシ
ール用カバーガラス５３と蓋板５４とからなり、容器本
体５１には生理食塩水が注入される。図１８はレンズ容
器５０を座台５５付き容器本体５６とコンタクトレンズ
載置部５７とシール用カバーガラス５８と蓋板５９とか
ら構成し、プレート板２６に載置する構成としたもので
ある。なお、図３、図１０において、斜めの線はハッチ
ングであり、遮光部３０を意味している。

【００４４】

【発明の効果】本発明の請求項１に係わるレンズメータ
ーは、以上説明したように構成したので、眼鏡レンズの
狭域のみを測定して眼鏡レンズのの測定値を迅速に表示
できると共に、眼鏡レンズの広域を測定してマッピング
表示を行うことができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わるレンズメーターの外観図であ
る。

【図２】本発明に係わるレンズメーターの実施の形態
１を示す光学図である。

【図３】図２に示すプレート板の平面図である。

【図４】眼鏡レンズが投光光路にセットされていない
ときにスクリーンに投影されたパターン像を示す図であ
る。

【図５】負のパワーを有する眼鏡レンズが投光光路に
セットされたときにスクリーンに投影されるパターン像
の一例を示す図である。

【図６】正のパワーを有する眼鏡レンズが投光光路に
セットされたときにスクリーンに投影されるパターン像
の一例を示す図である。

【図７】中央パターン像のみが図２に示す撮像素子に
拡大して結像された状態を示す図である。

【図８】多数の周辺パターン像が図２に示す撮像素子
に結像された状態を示す図である。

【図９】本発明に係わるレンズメーターの実施の形態
２の光学図である。

【図１０】図９に示すプレート板の平面図である。

【図１１】図１０に示すパターン形成板に形成された
各パターンの透過特性を示す透過率曲線図である。

【図１２】本発明に係わるレンズメーターの実施の形
態３の光学図である。

【図１３】図１２に示すプレート板とスクリーンとの
配置関係を説明するための説明図である。

【図１４】図１２に示すプレート板とスクリーンとの
配置関係を説明するための説明図であって、眼鏡レンズ
を移動させたときに眼鏡レンズのコバ面がレンズ受けテ
ーブルに当接した状態を示している。

【図１５】本発明に係わるレンズメーターの実施の形
態３の光学図であって、補助レンズ受け筒をレンズ受け
に装着した状態を示している。

【図１６】眼鏡レンズの各レンズ特性値のマッピング
図の一例を示し、（イ）は球面度分布、（ロ）は円柱度
分布、（ハ）は軸角度分布、（ニ）はプリズム度分布を
示し、（ホ）は円柱度分布と共に測定値を表示した状態
を示し、（ヘ）は左目用の眼鏡レンズの円柱度分布と右
目用の眼鏡レンズとの両方を表示すると共に一方の画像
を反転させて表示した状態を示す。

【図１７】コンタクトレンズを測定する場合の一の実
施の形態を説明するための説明図であって、補助レンズ
受け筒にレンズ容器を載置する場合の説明図である。

【図１８】コンタクトレンズを測定する場合の他の実
施の形態を説明するための説明図であって、レンズ受け
筒に直接レンズ容器を載置する場合の説明図である。

【図１９】眼鏡レンズの各レンズ特性値のマッピング
図の一例を示し、（イ）は球面度分布を示し、（ロ）は
円柱度分布を示し、（ハ）は軸角度分布を示し、（ニ）
はプリズム度分布を示す。

【符号の説明】

２１…光源２４…投光光路２６…プレート板（パターン形成板）３１…眼鏡レンズ２８…中央パターン２９…周辺パターン３３…中央パターン像３４…周辺パターン像４１…処理回路Ｐ…測定光束Ｓ１…広域

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者加藤健行東京都板橋区蓮沼町75番１号株式会社トプコン内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定光束発生用の光源を備え、測定光束
の投光光路に眼鏡レンズの狭域特性測定用の中央パター
ンと眼鏡レンズの広域特性測定用の多数の周辺パターン
とを有するパターン形成板が設けられ、前記眼鏡レンズ
の狭域を透過した透過測定光束に基づく中央パターン像
を受像しかつ狭域のみを測定して測定値を表示する通常
測定モードと、前記眼鏡レンズの広域を透過した透過測
定光束に基づく多数の周辺パターン像を受像しかつ広域
を測定してマッピング表示を行う広域測定モードとの間
で切換可能であるレンズメーター。
【請求項２】前記光源が波長分布特性又は複数波長特
性を有し、前記透過測定光束に基づくパターン像を受像
する受像光路が、前記中央パターン像を受像する一方の
受像光路と、前記透過測定光束に基づく多数のパターン
像を受像する他方の受像光路とに分岐され、前記受像光
路の分岐部には前記透過測定光束の一部を透過しかつ残
りを反射するビームスプリッターが設けられている請求
項１に記載のレンズメーター。
【請求項３】前記一方の受像光路には、前記中央パタ
ーン像を拡大する拡大光学系が設けられている請求項２
に記載のレンズメーター。
【請求項４】前記光源が互いに波長の異なる測定光束
を発生する２個の光源を備え、一方の光源が通常測定モ
ードに用いられ、他方の光源が広域測定モードに用いら
れ、前記中央パターンは前記一方の光源から発生された
測定光束を少なくとも透過させる光学波長特性を有し、
前記周辺パターンは前記他方の光源から発生された測定
光束のみを透過させる光学波長特性を有することを特徴
とする請求項１に記載のレンズメーター。
【請求項５】前記投光光路に眼鏡レンズセット用のレ
ンズ受けが設けられ、該レンズ受けはプレート板と前記
眼鏡レンズを受けるレンズ受け筒とを有し、通常測定モ
ードのときに前記レンズ受け筒に補助レンズ受け筒が装
着されることを特徴とする請求項１に記載のレンズメー
ター。
【請求項６】前記補助レンズ受け筒は、前記中央パタ
ーン像の形成に寄与する透過測定光束を通過させるレン
ズ受け筒と前記周辺パターン像の形成に寄与する透過測
定光束を遮光する座台部とからなることを特徴とする請
求項５に記載のレンズメーター。
【請求項７】前記レンズ受け筒にマイナス度数の補助
レンズが設けられていることを特徴とする請求項６に記
載のレンズメーター。
【請求項８】前記補助レンズ受け筒の前記プレート板
からの高さが前記レンズ受けのレンズ受け筒の前記プレ
ート板からの高さよりも高いことを特徴とする請求項５
ないし請求項７のいずれか１項に記載のレンズメータ
ー。
【請求項９】前記補助レンズ受け筒と前記レンズ受け
とのいずれか一方には、該補助レンズ受け筒が前記レン
ズ受けに装着されたときに、前記広域測定モードから通
常測定モードに自動的に切換えるための切換え手段が設
けられている請求項５又は請求項６に記載のレンズメー
ター。
【請求項１０】通常測定モード用のレンズ受け筒と広
域測定モード用のレンズ受け筒とが準備され、通常測定
モード用のレンズ受け筒のプレート板からそのレンズ受
け筒の頂部までの高さが広域測定モード用のレンズ受け
筒のプレート板からそのレンズ受け筒の頂部までの高さ
よりも大きいことを特徴とする請求項１に記載のレンズ
メーター。