JPH10104213A - ガス分析装置 - Google Patents
ガス分析装置Info
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- JPH10104213A JPH10104213A JP8258589A JP25858996A JPH10104213A JP H10104213 A JPH10104213 A JP H10104213A JP 8258589 A JP8258589 A JP 8258589A JP 25858996 A JP25858996 A JP 25858996A JP H10104213 A JPH10104213 A JP H10104213A
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Abstract
くし、また、ガス前処理装置と分析装置との接続を容易
とする。 【解決手段】 試料ガスをガス前処理装置からインター
フェースを通して分析装置に導入して試料分析を行うガ
ス分析装置において、ガス前処理装置2と分析装置3と
をインターフェース4のみを介して接続し、インターフ
ェースは、インターフェース内に配置される分析装置の
カラムに対して試料のトラップおよび放出のフォーカシ
ング処理を行う。ガス前処理装置と分析装置とをインタ
ーフェースのみを介して接続し、そのインターフェース
にフォーカシング機能を付加する構成とすることによっ
て、試料ガスの経路を短くすることができ、経路中にお
ける試料成分の吸着によって生じる成分分離の低下や成
分の変質等による分析精度の低下を減少させることがで
き、両装置の接続を容易とすることができる。
Description
フ等のガス分析装置に関する。
おいてガス化した試料をキャリヤガスに注入して試料ガ
スを生成し、この試料ガスをガスクロマトグラフ等の分
析装置に導入することによって行っている。また、ガス
クロマトグラフの検出ピークをシャープとするために、
ガス前処理装置にサーマルディソープション濃縮装置を
設けた構成も知られている。
るための概略ブロック図である。図5において、ガス分
析装置11は、パイプ16によって接続するガス前処理
装置12と分析装置13とを備え、両装置12,13間
にはフォーカシング機構15を設けている。このフォー
カシング機構は、試料を一時的にトラップした後に分析
装置13に急速に導入することによって、シャープな検
出ピークを得る機構である。なお、ガスクロマトグラフ
により分析を行う場合には、分析装置13は試料ガスを
導入するキャピラリカラム等のカラム13cと検出器1
3aを備えている。
13の上面の試料導入口17に取り付けている。このよ
うな取り付け構成では、ガス前処理装置12とガス分析
装置13とを密着して配置することができないため、ガ
ス前処理装置12からガス分析装置13への試料ガスの
導入は、両装置12,13間に設けたパイプ16によっ
て行っている。そして、このパイプ16への試料の吸着
を防止するために、パイプ16全体を加熱するヒートラ
イン14を設けた構成としている。
は、上記したように分析装置の試料導入口にフォーカシ
ング機構を取り付け、また、分析装置とガス前処理装置
との間をヒートラインを要するパイプによって接続して
いる。そのため、ガス前処理装置から分析装置までの試
料ガスの経路が長くなって該経路中に試料成分が吸着
し、成分の分離が低下したり、成分の変質等が起こって
分析精度が低下するという問題点がある。また、ヒート
ラインとインターフェース間の接続や、インターフェー
スと分析装置間の接続を行う必要があるため、ガス分析
装置の設置,分解,整備に手間がかかるという問題点も
ある。
装置の問題点を解決し、ガス分析装置において、試料ガ
スの経路を短くすることを第1の目的とし、また、ガス
前処理装置と分析装置との接続を容易とすることを第2
の目的とする。
は、試料ガスをガス前処理装置からインターフェースを
通して分析装置に導入して、試料分析を行うガス分析装
置において、ガス前処理装置と分析装置とをインターフ
ェースのみを介して接続し、インターフェースは、イン
ターフェース内に配置される分析装置のカラムに対して
試料のトラップおよび放出を行わせてフォーカシング処
理を行う構成とする。
理装置と分析装置とをインターフェースのみを介して接
続し、そのインターフェースにフォーカシング機能を付
加する構成とすることによって、試料ガスの経路を短く
することができ、経路中における試料成分の吸着によっ
て生じる成分分離の低下や成分の変質等による分析精度
の低下を減少させることができる。また、ガス前処理装
置と分析装置とをインターフェースのみによって接続す
る構成とすることにより、ガス前処理装置と分析装置と
の接続を容易とすることができる。
ースをガス前処理装置と一体に形成し、分析装置側に設
けた接続ポートによって分析装置との接続を行うもので
あり、これによって、インターフェースと分析装置との
接続を容易に行うことができる。
ーフェースを分析装置と一体に形成し、ガス前処理装置
に設けた接続ポートによってガス前処理装置との接続を
行うものであり、これによって、インターフェースとガ
ス前処理装置との接続を容易に行うことができる。
参照しながら詳細に説明する。図1は本発明のガス分析
装置の概略を説明するためのブロック図である。図1の
概略ブロック図において、ガス分析装置1は、ガス前処
理装置2と分析装置3とを備え、両装置2,3間はイン
ターフェース4によって接続している。
中に注入して試料ガスを生成する装置であり、サーマル
ディソープション濃縮装置を設けてシャープな検出ピー
クを得ることができる。また、分析装置3はガスクロマ
トグラフを用いることができ、試料ガスを導入するキャ
ピラリカラム等のカラム3cと検出器3aによって構成
することができる。なお、サーマルディソープション濃
縮装置全体は、ガス成分の吸着を防止するためにヒータ
等によって高温に保温されている。
と分析装置3とを接続する機能とフォーカシング機能と
を備える。インターフェース4の接続機能は、インター
フェースのみによってガス前処理装置2と分析装置3と
を接続するものであり、図1に示す構成では、インター
フェース4をガス前処理装置2と一体に形成し、分析装
置3に設けた接続ポート3bに挿入して接続を行う。ま
た、インターフェース4のフォーカシング機能は、試料
のトラップおよび放出によってシャープな検出ピークを
得る機能であり、本発明のインターフェース4によるフ
ォーカシングは、インターフェース4内に分析装置3の
カラムの延長部分3dを配置し、このカラム3dに対し
て試料のトラップおよび放出のフォーカシング処理を行
わせるものである。本発明では、分析装置のカラムを使
用することによって、ガス前処理装置とガス分析装置と
の間のガス移動のための管,および管の接続を省略する
ことができる。
ーカシング機構を符号5で示し、インターフェース4を
通ってガス前処理装置2側に達したカラムの先端部分を
符号3eで示している。
におけるガス前処理装置と分析装置との接続を説明する
ための概略ブロック図である。図2において、インター
フェース4はガス前処理装置2と一体に形成され、分析
装置3の側面には接続ポート3bが形成されている。ガ
ス前処理装置2と分析装置3とを接続するには、分析装
置3の接続ポート3bから外側にカラム3d,3eを延
ばし、カラム先端3eをインターフェース4内を通して
ガス前処理装置2内に導入し、導入したカラム先端3e
をガス前処理装置2内の管部とジョイントによって接続
する。そして、インターフェース4を分析装置3側の接
続ポート3bに挿入して、インターフェース4と分析装
置3との接続を行う。これによって、ガス前処理装置2
と分析装置3とはインターフェース4によって接続が行
われ、内部を通るカラム3dによって試料ガスの経路が
形成される。
ための概略図であり、ガス前処理装置2と一体に形成し
た構成について示している。図3において、インターフ
ェース4はガス前処理装置2の側壁2aから突出したシ
ャーシ4aを備え、その先端4bを分析装置3側の接続
ポートに対する接続端とし、シャーシ4a内にフォーカ
シング機構5を備える。フォーカシング機構5は、シャ
ーシ4aの接続端とガス前処理装置2の内部との間に、
分析装置3のカラム3dを挿入可能なパイプ5aを設
け、該パイプ5aには加熱手段5bと冷却手段5cと温
度検出手段5dを設ける。冷却手段5cはカラム3dを
冷却してカラム3dの内壁に試料成分を吸着させ、ま
た、加熱手段5bはカラム3dを加熱して吸着した試料
成分を瞬時に放出させることによって、フォーカシング
を行う。温度検出手段5dはカラム3dの温度を検出し
て、加熱手段5bおよび冷却手段5cを制御してフォー
カシング処理の制御を行うものである。
巻いたシーズヒータを用いることができ、図示しない電
源から電流を供給することによって加熱を行う。また、
冷却手段5cはパイプ5aに隣接させた冷却用パイプを
用いることができ、図示しない媒体源から液体窒素等の
冷却媒体をパイプ5a内に流すことによって冷却を行
う。また、温度検出手段5dは熱電対等を用いることが
できる。また、シャーシ4a内には断熱材5eが詰めら
れ、結露防止を行っている。
端部からパイプ5a内を通過させてインターフェース4
内を通し、ガス前処理装置2内に設けたジョイント6に
接続し、これによって、ガス前処理装置2からの試料ガ
スをカラム内に導入することができる。カラム内に導入
された試料ガスは、はじめに冷却手段5cで冷却された
パイプ5aによってカラム3dの内壁に吸着され、濃縮
が行われる。その後、吸着された試料ガスの成分は、加
熱手段5bで加熱されたパイプ5aによってカラム3d
の内壁から瞬時に放出され、分析装置側のカラムおよび
検出器に送られ分析が行われる。
する。図4は本発明の他の実施形態について説明するた
めの概略ブロック図である。この実施形態は、インター
フェースを分析装置と一体に形成した構成である。図4
において、分析装置3の側壁にインターフェース4を一
体に突出して形成し、ガス前処理装置2側にインターフ
ェース4の先端部を挿入する接続ポート2bを形成す
る。なお、インターフェース4内に設けるフォーカシン
グ機構は、図1〜3に示す構成例と同様とすることがで
きるため、ここでは説明を省略する。
装置2と分析装置3とを接続するには、前記構成例と同
様にして、分析装置3のカラムの延長した先端3dをガ
ス前処理装置2のジョイントに接続し、インターフェー
ス4の先端部をガス前処理装置2の接続ポート2b内に
挿入することによって行う。
ェースをガス前処理装置あるいは分析装置の何れかに一
体に形成することによって、接続用のパイプを不要とす
ることができる。
ェースの端部を接続対象側に設けた接続ポートに挿入す
ることによってガス前処理装置と分析装置との接続を行
うことができるため、装置間でのジョイント接続作業を
省くことができる。
装置と分析装置とを机上に併置し、インターフェースの
一方の接続ポートに挿入するだけでガス分析装置の設置
ができるため、設置のための作業を容易に行うことがで
きる。
ェース内にフォーカシング機構が組み込まれているた
め、構造が簡易となり、保守点検が容易となる。
横方向に配置した構成を示しているが、両装置を縦方向
に配置する構成とすることもできる。この場合には、イ
ンターフェースを装置の上端あるいは下端において一体
に形成することによって構成することができる。
ガス分析装置において試料ガスの経路を短くすることが
でき、また、ガス前処理装置と分析装置との接続を容易
とすることができる。
ブロック図である。
装置との接続を説明するための概略ブロック図である。
めの概略図である。
概略ブロック図である。
略ブロック図である。
接続ポート、3…分析装置、3a…検出器、3c,3
d,3e…カラム、4…インターフェース、4a…シャ
ーシ、4b…シャーシ先端、5…フォーカシング機構、
5a…パイプ、5b…加熱手段、5c…冷却手段、5d
…温度検出手段、5e…断熱材、6…ジョイント。
Claims (1)
- 【請求項1】 試料ガスをガス前処理装置から分析装置
に導入して、試料の分析を行うガス分析装置において、
ガス前処理装置と分析装置とをインターフェースのみを
介して接続し、前記インターフェースは、インターフェ
ース内に配置される分析装置のカラムに対して試料のト
ラップおよび放出を行わせてフォーカシング処理を行う
ことを特徴とするガス分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25858996A JP3651524B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25858996A JP3651524B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | ガス分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10104213A true JPH10104213A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3651524B2 JP3651524B2 (ja) | 2005-05-25 |
Family
ID=17322367
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25858996A Expired - Fee Related JP3651524B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3651524B2 (ja) |
-
1996
- 1996-09-30 JP JP25858996A patent/JP3651524B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3651524B2 (ja) | 2005-05-25 |
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