JPH10109253A - 工作機械の移動誤差測定システム - Google Patents

工作機械の移動誤差測定システム

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JPH10109253A
JPH10109253A JP8260690A JP26069096A JPH10109253A JP H10109253 A JPH10109253 A JP H10109253A JP 8260690 A JP8260690 A JP 8260690A JP 26069096 A JP26069096 A JP 26069096A JP H10109253 A JPH10109253 A JP H10109253A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 工作機械の移動誤差測定作業が簡単に行える
工作機械の移動誤差測定システムの実現。 【解決手段】 工作機械91の各移動軸の移動誤差を、
レーザ測長器を使用して測定する工作機械の移動誤差測
定システムであって、移動部分に固定された測定用コー
ナーキューブ170、171、172に向かって測定用
レーザビームを出射するレーザ測長器の干渉光学ユニッ
ト14を、外部信号に応じて回転させる回転機構を備え
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ISO230−2
やJIS−B−6201-1990 あるいはANSI/AS
ME B5,54等に規定されている工作機械の移動誤
差をレーザ測長器を使用して測定する測定システムに関
する。
【0002】
【従来の技術】NC工作機械の精度については、ISO
230−2やJIS−B−6201-1990 あるいはAN
SI/ASME B5,54等の規格に試験項目や試験
方法が規定されている。ここで規定されている項目は、
各移動軸方向あるいは対角線方向(ダイアゴナル)の移
動量誤差、バックラッシュ、ヨーイング等である。例え
ば各移動軸方向の移動量誤差の試験方法では、各移動軸
方向毎に所定量ずつ移動する動作を行った後、逆方向に
同じように戻る動作を所定量繰り返し、それぞれの移動
点での誤差の最大値や2乗平均値を算出する方法が規定
されている。
【0003】上記のような試験項目の測定には、通常の
接触型のゲージや磁気スケール等も使用されるが、もっ
とも一般的にはレーザ測長器が使用される。図1は、レ
ーザ測長器を使用してNC工作機械(マシニングセン
タ)の精度を測定するための従来の配置例を示す図であ
る。図1に示すように、工作機械91は、加工ツールを
保持し駆動する加工ツール部92と、被加工物を載せる
載物台93と、それらの制御を行うNCコントローラ9
7を備える。加工ツール部92は上下方向(Z軸方向)
に移動可能であり、載物台93はZ軸方向に垂直な平面
内の相互に垂直な2方向に移動可能であり、NCコント
ローラ97により移動が制御される。上記のISO23
0−2やJIS−B−6201-1990 の移動量誤差とバ
ックラッシュの測定に関する規定では、これらのNCコ
ントローラ97から各軸方向に所定の移動量だけ移動す
るように指示した時に実際にどれだけ移動したかを測定
する。図示しているのは、矢印で示した方向(X軸方
向)の移動量誤差とバックラッシュを測定する場合であ
り、まずレーザ光源11から出射されるレーザ光の光軸
がX軸方向に一致するように光軸合わせしたレーザ光源
11を配置する。次に加工ツール部92の先端にレーザ
干渉測長器の干渉光学ユニット13をレーザ光が入射す
るように取り付け、載物台93の端に反射鏡(コーナー
キューブ)を配置する。
【0004】図2は、干渉光学ユニット13の構成を示
す図である。レーザ光源11は、He−Neレーザ等の
可干渉性の良好な(干渉距離の長い)レーザ光を出力す
るレーザ光源であり、そこから出力されたレーザ光は、
偏光ビームスプリッタ131で2つのレーザビームに分
けられる。この時、偏光ビームスプリッタ131の光軸
は入射するレーザ光の偏光面に対して45°になるよう
に調整されている。この場合、偏光ビームスプリッタ1
31を透過するレーザ光はP偏光、偏光ビームスプリッ
タ131で反射するレーザ光はS偏光と呼ばれ、互いに
偏光方向が直交している。一方のレーザビーム(P偏
光)は載物台93の端に配置されたコーナーキューブ1
7に入射し、そこで逆方向に反射されて再び偏光ビーム
スプリッタ131に入射する。他方のレーザビーム(S
偏光)は干渉光学ユニット13に設けられた参照用コー
ナーキューブ132に入射し、そこで逆方向に反射され
て再び偏光ビームスプリッタ131に入射する。コーナ
ーキューブ17から偏光ビームスプリッタ131に入射
したレーザビームと参照用コーナーキューブ132から
偏光ビームスプリッタ131に入射したレーザビーム
は、偏光ビームスプリッタ131で重なり合い、偏光板
138を通過した後光検出器133に入射する。これら
の2つのレーザビームは相互に干渉し干渉縞を生じる
が、干渉縞の強度は2つのレーザビームの光路差がレー
ザビームの波長の整数倍の時にもっとも大きくなり、光
路差が波長の整数倍と1/2異なる時にもっとも小さく
なる。そのため、載物台93が移動し、その端に配置さ
れたコーナーキューブ17が移動すると光検出器133
の出力強度が周期的に変化する。具体的にはコーナーキ
ューブ17が1/2波長分移動すると、往復で波長分の
光路差が生じるため、光検出器133の出力強度が変化
するサイクル数に1/2波長を乗じた値がコーナーキュ
ーブ17、すなわち載物台93の移動距離である。
【0005】光検出器133の出力信号は、増幅器13
4で増幅された後、比較器135で出力信号の中間レベ
ルと比較されて2値信号に変換され、それをカウンタ1
36で計数する。測長値算出部137は、カウンタ13
6の値から移動距離を算出する。図1及び図2に示した
従来の配置で、各軸方向の移動量を測定する手順につい
て説明する。
【0006】作業者は、図1のようなX軸方向の移動量
誤差を測定する配置を完了した後、NCコントローラ9
7を操作して、ISO230−2やJIS−B−620
1-1990 等に規定された試験方法に対応する移動量分だ
け載物台93をX軸方向に移動させるように指示する。
そしてこの移動に対応するレーザ測長器の測定値を記録
する。このような測定を、規定された個数の目標位置へ
規定された回数分移動させて行う。具体的には、ISO
230−2とJIS−B−6201-1990 では、2mま
での移動距離ではメートル当たり5つの目標位置をとる
必要があり、更に各目標位置に5回以上各向きで移動さ
せる必要があり、測定を行う回数は膨大である。しか
も、各目標位置をどのような順番に測定するかで、直線
サイクルと折り返しサイクル等の複数のサイクルが規定
されており、対象となる工作機械毎にいずれかを選択し
て測定を行う必要がある。各目標位置のNCコントロー
ラ97への入力は、測定毎に行われる場合も、最初にま
とめて入力し、ボタン操作により順に移動させる場合も
ある。いずれにしろ、各目標位置を入力する必要があ
る。そのため、作業に時間がかかる上、作業が非常に煩
雑で誤り易いという問題があった。また、測定値には規
定された演算処理を施して、評価値を算出することも必
要である。
【0007】更に、マシニングセンタやフライス盤等の
NC工作機械では移動軸は通常3軸あり、これらのすべ
ての移動軸方向について移動量誤差を測定する必要があ
る。そのため、X軸方向の測定が終了すると、レーザ光
源11、干渉光学ユニット13及びコーナーキューブ1
7の配置をY軸方向の移動量誤差を測定する配置に変更
した上で、Y軸方向の測定を行い、その後更にZ軸方向
の測定を行う必要がある。そのため、図1に示したレー
ザ光源11からのレーザービームがX軸方向に出力され
る配置からY軸方向及びZ軸方向に出力される配置に変
える必要があるが、レーザービームをZ軸方向に、しか
も加工ツール部92を通過するように配置するのは容易
でない。そのため反射鏡(ミラー)等を組み合わせてレ
ーザービームの方向を変えるようにしているが、配置を
調整する要素が増加するために調整作業は更に煩雑にな
る。
【0008】このような問題を解決するため、実願昭6
2−52869号にはレーザ光源から干渉光学ユニット
へのレーザビームの伝達を光ファイバで行うことにより
配置の自由度を大幅に向上させた分離型レーザ干渉計が
提案されている。この分離型ーザ干渉計を使用すれば各
軸へのセッティングは容易に行えるものの、このような
分離型レーザ干渉計を使用しても、方向の切り換えは自
動的に行えず、作業者が各軸にセッティングする必要が
あるのが現状である。
【0009】更に、上記のレーザ光源11、干渉光学ユ
ニット13及びコーナーキューブ17の配置において
は、レーザビームが測定しようとする移動軸の方向に平
行に出力されることが必要であり、もし平行でないと測
定した値は、平行との角度差の余弦(cos)値になり
誤差を生じる。角度差が小さければ誤差は小さいが、レ
ーザ測長器を使用して測定する測定値は非常な高精度を
要求されるため、角度差が十分に小さくなるように、レ
ーザビームと移動軸の平行度を十分に合わせる必要があ
り、熟練した作業者が行う必要がある上、熟練した作業
者が行うにしても煩雑な作業であるという問題があっ
た。
【0010】また、図6はANSI/ASME B5,
54に規定された対角線方向の移動量誤差を測定する従
来の配置例を示す図である。図示のように、載物台93
2の端に干渉光学ユニット13を配置し、加工ツール部
の先端にコーナーキューブ17を取り付け、干渉光学ユ
ニット13から出射されたレーザ光がコーナーキューブ
17に入射するようにする。その上で、載物体931と
932及び加工ツール部を移動させて、干渉光学ユニッ
ト13がコーナーキューブ17に対して相対的に図の破
線上を移動するように制御し、干渉光学ユニット13と
コーナーキューブ17間の距離の変化を検出する。図6
に示したような対角線方向の移動量誤差を測定するため
のセッティングが更に煩雑であることは容易に理解でき
ることである。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本出願人は、このよう
な問題点を解決するため、特願平8−56082号で、
干渉光学ユニットから出力される測定用レーザビームの
出射方向を、3軸方向に切り換え可能なレーザ測長器を
開示している。これを使用することにより、測定用レー
ザビームの出射方向を自動的に切り換えられるようにな
る。しかし、測定用レーザビームの出射方向が切り換え
られない従来のレーザ測長器が広く使用されており、こ
のような従来のレーザ測長器を使用して工作機械の移動
誤差の測定が容易に行える測定システムが要望されてい
る。
【0012】また、レーザビームの出射方向を3軸方向
に切り換えられるだけでは、図6に示した対角線方向の
測定のためのセッティングは容易にならず、あいかわら
ず煩雑な作業が必要であるという問題があった。本発明
は、このような要望を実現するためのものであり、工作
機械の移動誤差を容易に測定できる、測定作業の自動化
にも適用できる工作機械の移動誤差測定システムの実現
を目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を実現するた
め、本発明の工作機械の移動誤差測定システムは、レー
ザ測長器の干渉光学ユニットを外部信号に応じて回転さ
せる回転機構を備え、測定用レーザビームの出射方向が
切り換えられない従来のレーザ測長器を使用しても、測
定用レーザビームの出射方向が切り換えられるようにす
る。
【0014】すなわち、本発明の工作機械の移動誤差測
定システムは、工作機械の各移動軸の移動誤差を、レー
ザ測長器を使用して測定する工作機械の移動誤差測定シ
ステムであって、移動部分に固定された測定用コーナー
キューブに向かって測定用レーザビームを出射するレー
ザ測長器の干渉光学ユニットを、外部信号に応じて回転
させる回転機構を備えることを特徴とする。
【0015】3軸方向の移動誤差を測定するため、回転
機構は直角な2軸の回りを独立に回転可能な2軸回転機
構であることが望ましい。また、安定したレーザビーム
を出射するレーザ光源はかなりの大きさと重量を有する
ため、レーザ光源を干渉光学ユニットと一緒に回転させ
ることは難しい。そこで、レーザ光源と干渉光から干渉
縞に応じた電気信号を生成して干渉縞の変化数をカウン
トする受光処理ユニットは、干渉光学ユニットと分離し
て設け、それらの間を光ファイバで接続した分離型レー
ザ測長器を使用することが望ましい。
【0016】
【発明の実施の形態】図3は、本発明の第1実施例の縦
型のマシニングセンタの全自動測定システムの構成を示
す図である。図3に示すように、NC工作機械は従来の
ものと同じであり、加工ツール部92、載物台93、N
Cコントローラ97等を備える。従来のNC工作機械の
NCコントローラ97は、一般にRS−232C用ター
ミナル等のデータ入出力ポートを備えている。本発明が
適用されるNC工作機械のNCコントローラ97もこの
ようなデータ入出力ポートを備えていることが要求され
る。
【0017】本実施例で使用されるレーザ測長器は実願
昭62−52869号に記載されている分離型レーザ干
渉計である。この分離型レーザ干渉計は、レーザ光源と
干渉光学ユニットの間を単一モードファイバ又は偏波面
保存ファイバ等の光ファイバで接続することにより、レ
ーザ光源と干渉光学ユニットの間のアラインメント調整
を不要にすると共にその間の配置の自由度を高めたレー
ザ測長器である。更に、信号処理部を干渉光学ユニット
から分離することも可能であり、干渉光学ユニットに光
検出器を設けて干渉縞の信号を電気信号に変換し、電気
信号用ケーブルで信号処理部に送ることも可能である
が、ここでは信号処理部に光検出器を設けて干渉縞の光
信号を光ファイバを介して信号処理部の光検出器に送信
する形式のものを使用する。これにより、干渉光学ユニ
ットをより小型にできる。
【0018】図3において、参照番号11はHe−Ne
レーザ等の可干渉距離の長いレーザ光を出力するレーザ
光源であり、14は干渉光学ユニットであり、15は回
転機構であり、16は信号処理ユニットであり、32は
回転機構15の動作を制御する方向切り換えコントロー
ラであり、31は測定制御部に相当するノート型パーソ
ナルコンピュータ(PC)である。ノート型PCは通常
のコンピュータであり、構成についての説明は省略す
る。レーザ光源111と干渉光学ユニット14の間は単
一モードファイバ又は偏波面保存ファイバ等の光ファイ
バ121で接続され、干渉光学ユニット14と信号処理
ユニット16の間は光ファイバ122で接続されてい
る。回転機構15と方向切り換えコントローラ32の間
は電気ケーブル35で接続されている。また、ノート型
PC31とNCコントローラ97、信号処理ユニット1
6、及び方向切り換えコントローラ32の間はデータ通
信ケーブルで接続されており、制御信号やデータの送受
信が可能である。信号処理ユニット16は光検出器とそ
の出力の変化から干渉縞の本数を計数するカウンタを備
えている。
【0019】図4は、干渉光学ユニット14と回転機構
15の部分を示す斜視図である。図4に示すように、N
C工作機械の加工ツール部92からは主軸921が伸び
ており、その先端にエンドミル等の刃物を取り付けるツ
ールチャック922が設けられている。回転機構15は
このツールチャック922に取り付ける。回転機構15
は、ツールチャック922に取り付けるポール151
と、ポール151に固定された第1の支持部材154
と、第1の支持部材154に取り付けられたモータ15
2と、第1の支持部材154によって回転可能に支持さ
れモータ152によって回転する第2の支持部材155
と、第2の支持部材155に取り付けられたモータ15
3と、第2の支持部材155によって回転可能に支持さ
れモータ153によって回転する回転軸156と、回転
軸156に固定された第3の支持部材157を有する。
干渉光学ユニット14は第3の支持部材157に固定さ
れる。
【0020】主軸921の方向をZ軸方向、Z軸方向に
垂直な平面内の2方向をX軸方向とY軸方向とし、図4
の状態で干渉光学ユニット14からX軸方向に測定用レ
ーザビームが出射されているとする。モータ152を回
転することにより、干渉光学ユニット14から出射され
る測定用レーザビームはXY平面内で方向が変化する。
従って、図4の状態から90°回転すればY軸方向に測
定用レーザビームが出射される。また、モータ153を
回転することにより、干渉光学ユニット14から出射さ
れる測定用レーザビームはXZ平面内で方向が変化す
る。従って、図4の状態から90°回転すればZ軸方向
に測定用レーザビームが出射される。モータ152と1
53は、方向切り換えコントローラ32とケーブル35
で接続されており、方向切り換えコントローラ32から
の駆動信号に応じて動作する。また、モータ152と1
53は、回転量を検出するエンコーダを備えたモータで
あり、方向切り換えコントローラ32はケーブル35を
介して回転量を検出できるようになっている。従って、
90°以外の所望の値だけ回転させることも可能であ
る。
【0021】図5は、干渉光学ユニット14の内部の構
成を示す図である。すでに説明したように、この干渉光
学ユニット14は、実願昭62−52869号に記載さ
れている分離型レーザ干渉計であり、図2に示した従来
の構成と異なるのは、レーザ光源11から光ファイバ1
21で伝達されたレーザビームを平行ビームにするコリ
メータレンズ139と、偏光板138を通過した干渉ビ
ームを光ファイバ122の端面に集光するコリメータレ
ンズ140とが設けられている点である。従って、詳し
い説明は省略する。
【0022】図4と図5に示した干渉光学ユニット14
と回転機構15とを使用して図3に示したNC工作機械
91の移動誤差を測定する手順について簡単に説明す
る。まず最初にレーザビームの方向を切り換えた場合に
各軸に平行であることを確認し、各軸の測定に使用され
るコーナーキューブをすべて指定された位置に配置す
る。そして、最初に測定する軸方向に測定用レーザビー
ムが出射されるように設定した上で、NC工作機械91
の載物台93又は加工ツール部92を移動させ、その時
の移動量をレーザ測長器で測定する。1つの軸方向の測
定が終了したら、干渉光学ユニット14を回転して次に
測定する軸方向に測定レーザビームが出射されるように
した上で、移動量を測定し、残りの移動軸についても同
様の走査を行う。
【0023】工作機械では、移動軸方向だけでなく、A
NSI/ASME B5,54等に規定されているよう
に移動軸に対してある角度をなす方向に移動させた時の
移動誤差であるダイアゴナル移動誤差を測定する必要が
ある場合がある。このような場合には、回転機構により
干渉光学ユニットを回転させて、ダイアゴナル移動方向
に測定レーザビームが出射されるように設定した上で、
測定を行えばよい。本発明の移動誤差測定システムで
は、各軸方向の移動誤差を測定した後、続けてダイアゴ
ナル移動誤差を測定する場合も、自動的にダイアゴナル
移動に測定レーザビームが出射されるように設定できる
ので、連続して測定することが可能である。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
煩雑な工作機械の移動誤差測定作業が簡単に行えるよう
になり、工数が削減されると共に、測定作業を大幅に自
動化することも可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】NC工作機械の移動軸方向の移動誤差を測定す
る従来の配置例を示す図である。
【図2】従来の干渉光学ユニットの構成を示す図であ
る。
【図3】本発明の実施例の縦型マシニングセンタの移動
誤差測定システムの構成を示す図である。
【図4】実施例の干渉光学ユニットと回転機構を示す斜
視図である。
【図5】実施例の干渉光学ユニットの構成を示す図であ
る。
【図6】対角線方向の移動誤差を測定するための従来の
セッティング例を示す図である。
【符号の説明】
11…レーザ光源 13、14…干渉光学ユニット 16…信号処理ユニット 170、171、172…コーナーキューブ 31…測定制御手段(ノート型パーソナルコンピュー
タ) 91…工作機械 92…加工ツール部 93…載置台 97…NCコントローラ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 工作機械(91)の各移動軸の移動誤差
    を、レーザ測長器を使用して測定する工作機械の移動誤
    差測定システムであって、 移動部分に固定された測定用コーナーキューブ(17
    0、171、172)に向かって測定用レーザビームを
    出射する前記レーザ測長器の干渉光学ユニット(14)
    を、外部信号に応じて回転させる回転機構(15)を備
    えることを特徴とする工作機械の移動誤差測定システ
    ム。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の工作機械の移動誤差測
    定システムであって、 前記回転機構(15)は、直角な2軸の回りを独立に回
    転可能な2軸回転機構である工作機械の移動誤差測定シ
    ステム。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2に記載の工作機械の移動
    誤差測定システムであって、 前記レーザ測長器は、レーザ光源(11)が前記干渉光
    学ユニット(14)と分離して設けられており、前記レ
    ーザ光源(11)から前記干渉光学ユニット(14)に
    レーザビームを伝達する光ファイバ(121)を備える
    工作機械の移動誤差測定システム。
  4. 【請求項4】 請求項1から3のいずれか1項に記載の
    工作機械の移動誤差測定システムであって、 前記レーザ測長器は、前記測定用レーザビームと参照用
    レーザビームを合成した干渉光から干渉縞に応じた電気
    信号を生成して干渉縞の変化数をカウントする受光処理
    ユニット(16)が、前記干渉光学ユニット(14)と
    分離して設けられており、前記干渉光学ユニット(1
    4)から前記受光処理ユニット(16)にレーザビーム
    を伝達する光ファイバ(122)を備える工作機械の移
    動誤差測定システム。
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