JPH10111212A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JPH10111212A JPH10111212A JP8268835A JP26883596A JPH10111212A JP H10111212 A JPH10111212 A JP H10111212A JP 8268835 A JP8268835 A JP 8268835A JP 26883596 A JP26883596 A JP 26883596A JP H10111212 A JPH10111212 A JP H10111212A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 30
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 10
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 16
- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定光ファイバからの戻り光の測定波形
が、不連続波形のみが存在する波形であっても、正確に
測定できる光パルス試験器を提供すること。 【解決手段】 受光器５は被測定光ファイバ１０からの
戻り光を受光する。増幅部６はその受信光レベルを増幅
し、ディジタル処理部７は、増幅された受信光レベルを
対数変換する。Ｓ／Ｎ比比較手段１１は、該対数変換値
と所定のＳ／Ｎ比とを比較し、データ記憶手段１２は、
該対数変換値が該Ｓ／Ｎ比より良い受信光レベルと、該
戻り光の発生位置と、増幅部６の利得設定値とを記憶す
る。以降、増幅部６の利得を順次上げながら、増幅部６
からデータ記憶手段１２までの処理を繰り返し行う。最
後に、表示部８は、データ記憶手段１２に記憶されてい
る受信光レベルを、対応して記憶されている利得設定値
に基づいてレベル補正し、対応して記憶されている位置
の順番にしたがって結合して表示する。
が、不連続波形のみが存在する波形であっても、正確に
測定できる光パルス試験器を提供すること。 【解決手段】 受光器５は被測定光ファイバ１０からの
戻り光を受光する。増幅部６はその受信光レベルを増幅
し、ディジタル処理部７は、増幅された受信光レベルを
対数変換する。Ｓ／Ｎ比比較手段１１は、該対数変換値
と所定のＳ／Ｎ比とを比較し、データ記憶手段１２は、
該対数変換値が該Ｓ／Ｎ比より良い受信光レベルと、該
戻り光の発生位置と、増幅部６の利得設定値とを記憶す
る。以降、増幅部６の利得を順次上げながら、増幅部６
からデータ記憶手段１２までの処理を繰り返し行う。最
後に、表示部８は、データ記憶手段１２に記憶されてい
る受信光レベルを、対応して記憶されている利得設定値
に基づいてレベル補正し、対応して記憶されている位置
の順番にしたがって結合して表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、測定結果のＳ／
Ｎ比に応じて測定回路の利得を変化させ、あらかじめ期
待したＳ／Ｎ比の測定波形を得る光パルス試験器（以
下、「ＯＴＤＲ」という）についてのものである。
Ｎ比に応じて測定回路の利得を変化させ、あらかじめ期
待したＳ／Ｎ比の測定波形を得る光パルス試験器（以
下、「ＯＴＤＲ」という）についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】ＯＴＤＲは、光パルスを光方向性結合器
を通して被測定光ファイバへ送出し、戻ってくる光を検
出することによって光ファイバの障害点の検出、ならび
に損失や接続損失を測定するものである。
を通して被測定光ファイバへ送出し、戻ってくる光を検
出することによって光ファイバの障害点の検出、ならび
に損失や接続損失を測定するものである。
【０００３】次に、従来のＯＴＤＲの構成を図７により
説明する。図７の１はタイミング発生部、２は駆動回
路、３はレーザ等の光源、４は光方向性結合器、５は受
光器、６は増幅部、７はディジタル処理部、８は表示
部、１０は測定対象となる被測定光ファイバである。図
７では、タイミング発生部１からの電気パルスにより駆
動回路２はパルス電流を作り、光源３を発光させる。光
源３から出力された光パルスは、光方向性結合器４を通
過し、被測定光ファイバ１０に入射される。被測定光フ
ァイバ１０からの後方散乱光や反射光などの戻り光は、
光方向性結合器４から受光器５へ送られる。受光器５は
光信号を電気信号に変換する。受光器５の出力は、増幅
部６で増幅され、ディジタル処理部７でディジタル信号
に変換されたのち平均処理等のノイズ低減処理が行われ
る。さらに、この結果を対数変換したのち、表示部８に
表示する。
説明する。図７の１はタイミング発生部、２は駆動回
路、３はレーザ等の光源、４は光方向性結合器、５は受
光器、６は増幅部、７はディジタル処理部、８は表示
部、１０は測定対象となる被測定光ファイバである。図
７では、タイミング発生部１からの電気パルスにより駆
動回路２はパルス電流を作り、光源３を発光させる。光
源３から出力された光パルスは、光方向性結合器４を通
過し、被測定光ファイバ１０に入射される。被測定光フ
ァイバ１０からの後方散乱光や反射光などの戻り光は、
光方向性結合器４から受光器５へ送られる。受光器５は
光信号を電気信号に変換する。受光器５の出力は、増幅
部６で増幅され、ディジタル処理部７でディジタル信号
に変換されたのち平均処理等のノイズ低減処理が行われ
る。さらに、この結果を対数変換したのち、表示部８に
表示する。
【０００４】図７において、被測定光ファイバ１０から
戻ってくる後方散乱光は、該被測定光ファイバ１０内で
生じるレーリ散乱に起因するものである。この後方散乱
光のレベルは、被測定光ファイバ１０が通常のシングル
モードファイバであり、入射される光パルス幅が１×１
０-6秒である場合、入射される光パルスレベルよりも約
５０ｄＢ低い値となる。このような微弱な信号を扱うた
めに、図７に示す装置では、後方散乱光を繰り返し測定
し、その平均をとることでＳ／Ｎ比を改善している。デ
ィジタル処理部７はこのために設けられている。
戻ってくる後方散乱光は、該被測定光ファイバ１０内で
生じるレーリ散乱に起因するものである。この後方散乱
光のレベルは、被測定光ファイバ１０が通常のシングル
モードファイバであり、入射される光パルス幅が１×１
０-6秒である場合、入射される光パルスレベルよりも約
５０ｄＢ低い値となる。このような微弱な信号を扱うた
めに、図７に示す装置では、後方散乱光を繰り返し測定
し、その平均をとることでＳ／Ｎ比を改善している。デ
ィジタル処理部７はこのために設けられている。
【０００５】次に、従来のＯＴＤＲの測定波形を図８に
より説明する。なお、図８は、２本の異なる光ファイバ
を接続し、これを被測定光ファイバ１０として測定した
ものであり、横軸は光ファイバ距離（光源３から光パル
スが出射されたあと、被測定光ファイバ１０へ導かれて
からの時間）を表し、縦軸は受信光レベルを表す。図８
に示すように、測定波形は、ディジタル処理部７で対数
変換されることにより、右下がりの直線として示され
る。また、２本の光ファイバの接続部の損失は段差とし
てあらわれ、コネクタ等による反射や端末点の反射は、
上向きの大きな不連続波形として観測される。
より説明する。なお、図８は、２本の異なる光ファイバ
を接続し、これを被測定光ファイバ１０として測定した
ものであり、横軸は光ファイバ距離（光源３から光パル
スが出射されたあと、被測定光ファイバ１０へ導かれて
からの時間）を表し、縦軸は受信光レベルを表す。図８
に示すように、測定波形は、ディジタル処理部７で対数
変換されることにより、右下がりの直線として示され
る。また、２本の光ファイバの接続部の損失は段差とし
てあらわれ、コネクタ等による反射や端末点の反射は、
上向きの大きな不連続波形として観測される。
【０００６】図８に示すウィンドウの最大値は、増幅部
６で設定されたある利得におけるディジタル処理部７の
入力での最大値であり、図８に示すウィンドウの最小値
は、被測定光ファイバ１０からの受信光が微弱で、受光
器５がもつノイズに埋もれてしまうことにより、ディジ
タル処理部７の入力がその入力でのノイズレベルとなる
値である。この図に示すように、従来のＯＴＤＲでは、
受信光レベルが高く最大値に近い場合は、Ｓ／Ｎ比が良
く、きれいな観測波形が得られ、反対に、受信光レベル
が低い場合は、Ｓ／Ｎ比が悪くなり、観測波形はノイズ
が重畳して幅広い波形となる。
６で設定されたある利得におけるディジタル処理部７の
入力での最大値であり、図８に示すウィンドウの最小値
は、被測定光ファイバ１０からの受信光が微弱で、受光
器５がもつノイズに埋もれてしまうことにより、ディジ
タル処理部７の入力がその入力でのノイズレベルとなる
値である。この図に示すように、従来のＯＴＤＲでは、
受信光レベルが高く最大値に近い場合は、Ｓ／Ｎ比が良
く、きれいな観測波形が得られ、反対に、受信光レベル
が低い場合は、Ｓ／Ｎ比が悪くなり、観測波形はノイズ
が重畳して幅広い波形となる。
【０００７】また、図８において、観測できるウィンド
ウの幅は、一般の回路試験器（回路テスタ）の測定レン
ジと考えることができる。そのため、受信光レベルがウ
ィンドウの最大値を超え、メータが振り切れる場合に
は、一つ上のレンジを設定し、受信光レベルが低く、メ
ータの振れが小さい場合には、一つ下の測定レンジを選
んで測定する。この場合、ＯＴＤＲの受信波形のよう
に、時間軸上でレベルが大きく変化する場合には、１回
の測定で、ウィンドウの中に受信波形が全て収まること
は少ない。そのため、何度も測定レンジを切り替えて測
定しなければならない。
ウの幅は、一般の回路試験器（回路テスタ）の測定レン
ジと考えることができる。そのため、受信光レベルがウ
ィンドウの最大値を超え、メータが振り切れる場合に
は、一つ上のレンジを設定し、受信光レベルが低く、メ
ータの振れが小さい場合には、一つ下の測定レンジを選
んで測定する。この場合、ＯＴＤＲの受信波形のよう
に、時間軸上でレベルが大きく変化する場合には、１回
の測定で、ウィンドウの中に受信波形が全て収まること
は少ない。そのため、何度も測定レンジを切り替えて測
定しなければならない。
【０００８】出願人は、これらの欠点を解決するＯＴＤ
Ｒを出願している（特開平４−１５８２３７参照）。以
下、このＯＴＤＲについて簡単に説明する。このＯＴＤ
Ｒは、あらかじめＳ／Ｎ比が設定され、該設定値と対数
変換された受信光レベル（図７に示すディジタル処理部
７の出力に相当）とを比較する「ＳＮ比比較手段」と、
上記受信光レベルを記憶する「データ記憶手段」とを備
えている。そして、対数変換された受信光レベルがＳ／
Ｎ比の設定値より良い部分については、該受信光レベル
をデータ記憶手段へ記憶し、該受信光レベルが該設定値
より悪い部分については、増幅部の利得を上げてＳ／Ｎ
比を改善するか、または、後方散乱光の加算平均回数を
増やしてＳ／Ｎ比を改善し、比較および記憶を繰り返
す。最後に、データ記憶手段が記憶している各データを
結合して表示する。
Ｒを出願している（特開平４−１５８２３７参照）。以
下、このＯＴＤＲについて簡単に説明する。このＯＴＤ
Ｒは、あらかじめＳ／Ｎ比が設定され、該設定値と対数
変換された受信光レベル（図７に示すディジタル処理部
７の出力に相当）とを比較する「ＳＮ比比較手段」と、
上記受信光レベルを記憶する「データ記憶手段」とを備
えている。そして、対数変換された受信光レベルがＳ／
Ｎ比の設定値より良い部分については、該受信光レベル
をデータ記憶手段へ記憶し、該受信光レベルが該設定値
より悪い部分については、増幅部の利得を上げてＳ／Ｎ
比を改善するか、または、後方散乱光の加算平均回数を
増やしてＳ／Ｎ比を改善し、比較および記憶を繰り返
す。最後に、データ記憶手段が記憶している各データを
結合して表示する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したＯ
ＴＤＲ（特開平４−１５８２３７）には、最後にデータ
を結合する際に、データ記憶手段の記憶内容だけでは、
各データの受信光レベルを合わせるための基準が明確で
ないため、各データの受信光レベルを合わせ難くい、と
いう課題があった。すなわち、該ＯＴＤＲにおいて、デ
ータ記憶手段には各距離における受信光レベルしか記憶
されていないので、データを結合する際には、隣合うデ
ータ間の波形の接合部において、受信光レベルが一致し
滑らかに変化するように、互いの受信光レベルを調整し
て結合していた。そのため、隣合うデータが無い場合に
は、データの受信光レベルを決定することができない、
という課題があった。
ＴＤＲ（特開平４−１５８２３７）には、最後にデータ
を結合する際に、データ記憶手段の記憶内容だけでは、
各データの受信光レベルを合わせるための基準が明確で
ないため、各データの受信光レベルを合わせ難くい、と
いう課題があった。すなわち、該ＯＴＤＲにおいて、デ
ータ記憶手段には各距離における受信光レベルしか記憶
されていないので、データを結合する際には、隣合うデ
ータ間の波形の接合部において、受信光レベルが一致し
滑らかに変化するように、互いの受信光レベルを調整し
て結合していた。そのため、隣合うデータが無い場合に
は、データの受信光レベルを決定することができない、
という課題があった。
【００１０】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、Ｓ／Ｎ比比較手段と記憶手段を設け、測定波
形のＳ／Ｎ比の均一化と測定時間の短縮はかる光パルス
試験器について、より短時間で正確に測定できる光パル
ス試験器を提供することを目的とする。
たもので、Ｓ／Ｎ比比較手段と記憶手段を設け、測定波
形のＳ／Ｎ比の均一化と測定時間の短縮はかる光パルス
試験器について、より短時間で正確に測定できる光パル
ス試験器を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
測定対象となる光ファイバと、所定の光パルスを出力す
る光源と、前記光源により出力された光パルスを前記光
ファイバに入射し、該光ファイバ内の各位置からの戻り
光を出射する光方向性結合器と、前記光方向性結合器に
より出射された各位置からの戻り光を受光し、その受信
光レベルを出力する受光器と、前記受光器により出力さ
れた各受信光レベルを増幅する増幅部と、前記増幅部に
より増幅された各受信光レベルを対数変換する処理部
と、前記処理部の各対数変換値と所定のＳ／Ｎ比とを比
較する比較手段と、前記比較手段による比較の結果、そ
の対数変換値が前記所定のＳ／Ｎ比より良い受信光レベ
ルについて、該受信光レベルと、対応する光ファイバ内
の位置と、前記増幅部の利得とを記憶する記憶手段と、
前記増幅部の利得を所定値ずつ上げながら、該利得が該
増幅部の最大値になるまで、前記増幅部，前記処理部，
前記比較手段および前記記憶手段に対し、それぞれの処
理を繰り返し行わせる繰返手段と、前記記憶手段に記憶
されている受信光レベルを、対応して記憶されている利
得に基づいてレベル補正し、対応して記憶されている位
置の順番にしたがって結合して表示する表示部とを具備
することを特徴とする。請求項２記載の発明は、請求項
１記載の光パルス試験器において、前記処理部は、前記
増幅部により増幅された各受信光レベルをディジタル信
号に変換して加算平均を行い、該加算平均結果を対数変
換することを特徴とする。請求項３記載の発明は、請求
項１または請求項２のいずれかに記載の光パルス試験器
において、前記記憶手段は、前記比較手段による比較の
結果、その対数変換値が前記Ｓ／Ｎ比より良い受信光レ
ベルに対応する光ファイバ内の位置のうち、前記繰返手
段による繰り返し処理により、既に記憶されている位置
に関しては、その受信光レベルと位置と利得の再度の記
憶を省略することを特徴とする。
測定対象となる光ファイバと、所定の光パルスを出力す
る光源と、前記光源により出力された光パルスを前記光
ファイバに入射し、該光ファイバ内の各位置からの戻り
光を出射する光方向性結合器と、前記光方向性結合器に
より出射された各位置からの戻り光を受光し、その受信
光レベルを出力する受光器と、前記受光器により出力さ
れた各受信光レベルを増幅する増幅部と、前記増幅部に
より増幅された各受信光レベルを対数変換する処理部
と、前記処理部の各対数変換値と所定のＳ／Ｎ比とを比
較する比較手段と、前記比較手段による比較の結果、そ
の対数変換値が前記所定のＳ／Ｎ比より良い受信光レベ
ルについて、該受信光レベルと、対応する光ファイバ内
の位置と、前記増幅部の利得とを記憶する記憶手段と、
前記増幅部の利得を所定値ずつ上げながら、該利得が該
増幅部の最大値になるまで、前記増幅部，前記処理部，
前記比較手段および前記記憶手段に対し、それぞれの処
理を繰り返し行わせる繰返手段と、前記記憶手段に記憶
されている受信光レベルを、対応して記憶されている利
得に基づいてレベル補正し、対応して記憶されている位
置の順番にしたがって結合して表示する表示部とを具備
することを特徴とする。請求項２記載の発明は、請求項
１記載の光パルス試験器において、前記処理部は、前記
増幅部により増幅された各受信光レベルをディジタル信
号に変換して加算平均を行い、該加算平均結果を対数変
換することを特徴とする。請求項３記載の発明は、請求
項１または請求項２のいずれかに記載の光パルス試験器
において、前記記憶手段は、前記比較手段による比較の
結果、その対数変換値が前記Ｓ／Ｎ比より良い受信光レ
ベルに対応する光ファイバ内の位置のうち、前記繰返手
段による繰り返し処理により、既に記憶されている位置
に関しては、その受信光レベルと位置と利得の再度の記
憶を省略することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施形態について説明する。図１は、この発明の一実
施形態による光パルス試験器（ＯＴＤＲ）の構成例を示
すブロック図である。この図において、図７の各部に対
応する部分には同一の符号を付け、その説明を省略す
る。この図に示すＯＴＤＲにおいては、Ｓ／Ｎ比比較手
段１１およびデータ記憶手段１２が新たに設けられてい
る。
の実施形態について説明する。図１は、この発明の一実
施形態による光パルス試験器（ＯＴＤＲ）の構成例を示
すブロック図である。この図において、図７の各部に対
応する部分には同一の符号を付け、その説明を省略す
る。この図に示すＯＴＤＲにおいては、Ｓ／Ｎ比比較手
段１１およびデータ記憶手段１２が新たに設けられてい
る。
【００１３】この装置では、ディジタル処理部７で対数
変換されたデータを、Ｓ／Ｎ比比較手段１１へ送り、予
めＳ／Ｎ比比較手段１１に設定されている設定値と比較
する。全てのデータのＳ／Ｎ比が該設定値よりも良いこ
とは希であり、データのうち設定値よりも良い部分だけ
を選び出し、その部分の距離情報（光源３から光パルス
が出射されたあと、被測定光ファイバ１０へ導かれてか
らの時間）と受信レベルと増幅部６の利得設定値とをデ
ータ記憶手段１２へ送って記憶する。
変換されたデータを、Ｓ／Ｎ比比較手段１１へ送り、予
めＳ／Ｎ比比較手段１１に設定されている設定値と比較
する。全てのデータのＳ／Ｎ比が該設定値よりも良いこ
とは希であり、データのうち設定値よりも良い部分だけ
を選び出し、その部分の距離情報（光源３から光パルス
が出射されたあと、被測定光ファイバ１０へ導かれてか
らの時間）と受信レベルと増幅部６の利得設定値とをデ
ータ記憶手段１２へ送って記憶する。
【００１４】また、Ｓ／Ｎ比比較手段１１の設定値より
もＳ／Ｎ比が悪い部分は、増幅部６の利得を上げること
で受信レベルが高くなり、Ｓ／Ｎ比比較手段１１の設定
値よりもＳ／Ｎ比が良くなる。こうすると、先に記憶し
たデータは、受信レベルが高くなりすぎて、ディジタル
処理部７の入力の最大値を超えるが、この部分は既に記
憶してあるため、設定されたＳ／Ｎ比を今回満足した部
分についてのみその部分の距離情報と受信レベルと増幅
部６の利得設定値とをデータ記憶手段１２へ送って記憶
する。以下、同じようにして、設定値よりＳ／Ｎ比が良
いデータは記憶手段１２へ送って記憶し、設定値よりＳ
／Ｎ比が悪いデータはさらに増幅部６の利得を上げて平
均処理を行う。
もＳ／Ｎ比が悪い部分は、増幅部６の利得を上げること
で受信レベルが高くなり、Ｓ／Ｎ比比較手段１１の設定
値よりもＳ／Ｎ比が良くなる。こうすると、先に記憶し
たデータは、受信レベルが高くなりすぎて、ディジタル
処理部７の入力の最大値を超えるが、この部分は既に記
憶してあるため、設定されたＳ／Ｎ比を今回満足した部
分についてのみその部分の距離情報と受信レベルと増幅
部６の利得設定値とをデータ記憶手段１２へ送って記憶
する。以下、同じようにして、設定値よりＳ／Ｎ比が良
いデータは記憶手段１２へ送って記憶し、設定値よりＳ
／Ｎ比が悪いデータはさらに増幅部６の利得を上げて平
均処理を行う。
【００１５】増幅部６の利得が最大になったときに得ら
れるウィンドウは、ＯＴＤＲの最大感度の状態であり、
この場合には、有効ウィンドウ内の全ての部分の距離情
報と受信レベルと増幅部６の利得設定値を、データ記憶
手段１２へ送って記憶する。なお、この場合のウィンド
ウの最大値は、増幅部６で設定された最大の利得におけ
るディジタル処理部７の入力での最大値であり、ウィン
ドウの最小値は、被測定光ファイバ１０からの受信光が
微弱で、受光器５がもつノイズに埋もれてしまうことに
より、ディジタル処理部７の入力がその入力でのノイズ
レベルとなる値である。最後に、データ記憶手段１２に
記憶したデータを、その距離情報と受信レベルと利得設
定値にしたがって並べ替えて１つの測定データとして完
成させる。
れるウィンドウは、ＯＴＤＲの最大感度の状態であり、
この場合には、有効ウィンドウ内の全ての部分の距離情
報と受信レベルと増幅部６の利得設定値を、データ記憶
手段１２へ送って記憶する。なお、この場合のウィンド
ウの最大値は、増幅部６で設定された最大の利得におけ
るディジタル処理部７の入力での最大値であり、ウィン
ドウの最小値は、被測定光ファイバ１０からの受信光が
微弱で、受光器５がもつノイズに埋もれてしまうことに
より、ディジタル処理部７の入力がその入力でのノイズ
レベルとなる値である。最後に、データ記憶手段１２に
記憶したデータを、その距離情報と受信レベルと利得設
定値にしたがって並べ替えて１つの測定データとして完
成させる。
【００１６】次に、上記構成によるＯＴＤＲの動作を図
を参照しながら説明する。図２は、本実施形態によるＯ
ＴＤＲの動作例を示すフローチャートである。まず、ス
テップ２１では、ディジタル処理部７のデータをＳ／Ｎ
比比較手段１１へ送り、ステップ２２では、Ｓ／Ｎ比比
較手段１１に設定されている設定値とディジタル処理部
７から出力されたデータとを比較する。ここで、設定値
よりもディジタル処理部７から出力されたデータのほう
が（Ｓ／Ｎ比が）悪い場合にはステップ２３へ進む。
を参照しながら説明する。図２は、本実施形態によるＯ
ＴＤＲの動作例を示すフローチャートである。まず、ス
テップ２１では、ディジタル処理部７のデータをＳ／Ｎ
比比較手段１１へ送り、ステップ２２では、Ｓ／Ｎ比比
較手段１１に設定されている設定値とディジタル処理部
７から出力されたデータとを比較する。ここで、設定値
よりもディジタル処理部７から出力されたデータのほう
が（Ｓ／Ｎ比が）悪い場合にはステップ２３へ進む。
【００１７】ステップ２３では、増幅部６の利得が最大
であるか否かを判断し、最大の場合は、最後のウィンド
ウの平均処理を行うように、ステップ２４で現在のデー
タが最終データｎであることをセットする。一方、ステ
ップ２３において、増幅部６の利得が最大でない場合に
は、ステップ２５へ進む。ステップ２５では増幅部６の
利得を上げ、ステップ２６において、ディジタル処理部
７で平均処理を行ったあと、ステップ２２へ戻る。
であるか否かを判断し、最大の場合は、最後のウィンド
ウの平均処理を行うように、ステップ２４で現在のデー
タが最終データｎであることをセットする。一方、ステ
ップ２３において、増幅部６の利得が最大でない場合に
は、ステップ２５へ進む。ステップ２５では増幅部６の
利得を上げ、ステップ２６において、ディジタル処理部
７で平均処理を行ったあと、ステップ２２へ戻る。
【００１８】一方、ステップ２２において、設定値より
もディジタル処理部７から出力されたデータのほうが
（Ｓ／Ｎ比が）良い場合には、ステップ２７へ進む。ス
テップ２７では、該データをデータ記憶手段１２へ送
り、ステップ２８では送られてきたデータをデータ記憶
手段１２へ記憶する。ステップ２９では、現在のデータ
がｎ回目のデータ（最終データｎ）であるか否かを判断
し、最終データｎであればステップ３０へ進み、そうで
なければステップ２５へ進む。ステップ３０では、デー
タ記憶手段１２内のデータを、その距離情報と受信レベ
ルと利得設定値にしたがって並べ替えて１つの測定デー
タとして完成させ、ステップ３１では、完成したデータ
を表示部８に表示する。
もディジタル処理部７から出力されたデータのほうが
（Ｓ／Ｎ比が）良い場合には、ステップ２７へ進む。ス
テップ２７では、該データをデータ記憶手段１２へ送
り、ステップ２８では送られてきたデータをデータ記憶
手段１２へ記憶する。ステップ２９では、現在のデータ
がｎ回目のデータ（最終データｎ）であるか否かを判断
し、最終データｎであればステップ３０へ進み、そうで
なければステップ２５へ進む。ステップ３０では、デー
タ記憶手段１２内のデータを、その距離情報と受信レベ
ルと利得設定値にしたがって並べ替えて１つの測定デー
タとして完成させ、ステップ３１では、完成したデータ
を表示部８に表示する。
【００１９】次に、ディジタル処理部７で平均処理を行
い、対数変換を施した後のＯＴＤＲの測定波形を図３〜
図６により説明する。図３は、本実施形態によるＯＴＤ
Ｒの測定波形例を示すグラフである。この図では、Ｓ／
Ｎ比比較手段１１に設定する設定値を、例えば、ウィン
ドウの最大値から５ｄＢ下がった値とし、ラインＬ１で
示している。図３に示す不連続波形Ａ、Ｂ、Ｃのうち、
Ｓ／Ｎ比比較手段１１の設定値（ラインＬ１）を超える
部分をデータ記憶手段１２へ送って、その部分の距離情
報と受信レベルと増幅部６の利得設定値とを併せて記憶
する。
い、対数変換を施した後のＯＴＤＲの測定波形を図３〜
図６により説明する。図３は、本実施形態によるＯＴＤ
Ｒの測定波形例を示すグラフである。この図では、Ｓ／
Ｎ比比較手段１１に設定する設定値を、例えば、ウィン
ドウの最大値から５ｄＢ下がった値とし、ラインＬ１で
示している。図３に示す不連続波形Ａ、Ｂ、Ｃのうち、
Ｓ／Ｎ比比較手段１１の設定値（ラインＬ１）を超える
部分をデータ記憶手段１２へ送って、その部分の距離情
報と受信レベルと増幅部６の利得設定値とを併せて記憶
する。
【００２０】また、図３に示すラインＬ２は、ラインＬ
１よりも５ｄＢ下がったレベルを示すものである。増幅
部６において利得を５ｄＢ分上げて受信信号を大きく
し、ディジタル処理部７で平均処理を行い、対数変換を
施すと、図４の測定波形が得られる。図４では、ライン
Ｌ１がウィンドウの最大値となり、ラインＬ２がウィン
ドウの最大値から５ｄＢ下がったところとして観測され
る。Ｓ／Ｎ比比較手段１１に設定する設定値を、図３の
場合と同じく、ウィンドウの最大値から５ｄＢ下がった
値とすれば、不連続波形Ａ付近と不連続波形Ｂについて
のデータがデータ記憶手段１２へ送られ、その部分の距
離情報と受信レベルと増幅部６の利得設定値とが併せて
記憶される。ただし、Ｌ１（最大値）を超える部分は、
前回記憶したので除外する。
１よりも５ｄＢ下がったレベルを示すものである。増幅
部６において利得を５ｄＢ分上げて受信信号を大きく
し、ディジタル処理部７で平均処理を行い、対数変換を
施すと、図４の測定波形が得られる。図４では、ライン
Ｌ１がウィンドウの最大値となり、ラインＬ２がウィン
ドウの最大値から５ｄＢ下がったところとして観測され
る。Ｓ／Ｎ比比較手段１１に設定する設定値を、図３の
場合と同じく、ウィンドウの最大値から５ｄＢ下がった
値とすれば、不連続波形Ａ付近と不連続波形Ｂについて
のデータがデータ記憶手段１２へ送られ、その部分の距
離情報と受信レベルと増幅部６の利得設定値とが併せて
記憶される。ただし、Ｌ１（最大値）を超える部分は、
前回記憶したので除外する。
【００２１】また、図４に示すラインＬ３は、ラインＬ
２よりも５ｄＢ下がったレベルを示すものである。増幅
部６において利得を５ｄＢ分上げて受信信号を大きく
し、ディジタル処理部７で平均処理を行い、対数変換を
施すと、図５の測定波形が得られる。図５では、ライン
Ｌ２がウィンドウの最大値となり、ラインＬ３がウィン
ドウの最大値から５ｄＢ下がったところとして観測され
る。Ｓ／Ｎ比比較手段１１に設定する設定値を、図３、
図４の場合と同じく、ウィンドウの最大値から５ｄＢ下
がった値とすれば、点Ｄを含む波形部分についてのデー
タがデータ記憶手段１２へ送られ、その部分の距離情報
と受信レベルと増幅部６の利得設定値とが併せて記憶さ
れる。ただし、Ｌ２（最大値）を超える部分は、前回記
憶したので除外する。
２よりも５ｄＢ下がったレベルを示すものである。増幅
部６において利得を５ｄＢ分上げて受信信号を大きく
し、ディジタル処理部７で平均処理を行い、対数変換を
施すと、図５の測定波形が得られる。図５では、ライン
Ｌ２がウィンドウの最大値となり、ラインＬ３がウィン
ドウの最大値から５ｄＢ下がったところとして観測され
る。Ｓ／Ｎ比比較手段１１に設定する設定値を、図３、
図４の場合と同じく、ウィンドウの最大値から５ｄＢ下
がった値とすれば、点Ｄを含む波形部分についてのデー
タがデータ記憶手段１２へ送られ、その部分の距離情報
と受信レベルと増幅部６の利得設定値とが併せて記憶さ
れる。ただし、Ｌ２（最大値）を超える部分は、前回記
憶したので除外する。
【００２２】以下、同様の処理を、増幅部６の利得が最
大となるまで繰り返す。最後に、データ記憶手段１２に
記憶されているデータについて、不連続波形Ａ，Ｂ，
Ｃ、そして点Ｄを含む区間……という順番に、受信レベ
ルの高いものから縦方向に並べ、増幅部６の利得を上げ
たものは、データと一緒に記憶された利得設定値に基づ
いて、受信光レベルを補正する。また、横方向には距離
情報にしたがって並べる。そして、これらを一連のデー
タとして結合し、表示部８上に図６のように表示する。
大となるまで繰り返す。最後に、データ記憶手段１２に
記憶されているデータについて、不連続波形Ａ，Ｂ，
Ｃ、そして点Ｄを含む区間……という順番に、受信レベ
ルの高いものから縦方向に並べ、増幅部６の利得を上げ
たものは、データと一緒に記憶された利得設定値に基づ
いて、受信光レベルを補正する。また、横方向には距離
情報にしたがって並べる。そして、これらを一連のデー
タとして結合し、表示部８上に図６のように表示する。
【００２３】以上、この発明の実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、測定波形が、離散的に反射波形（不連続波形）のみ
が存在する波形であり、故に、複数個に分けて記憶され
ているデータの隣合うデータ間において波形の接合部が
存在しない場合であっても、各受信光レベルを正確にレ
ベル補正することができ、全域にわたりＳ／Ｎ比が均一
化された測定波形を得ることができる。
ば、測定波形が、離散的に反射波形（不連続波形）のみ
が存在する波形であり、故に、複数個に分けて記憶され
ているデータの隣合うデータ間において波形の接合部が
存在しない場合であっても、各受信光レベルを正確にレ
ベル補正することができ、全域にわたりＳ／Ｎ比が均一
化された測定波形を得ることができる。
【図１】 この発明の一実施形態による光パルス試験器
の構成例を示すブロック図である。
の構成例を示すブロック図である。
【図２】 本実施形態による光パルス試験器の動作例を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図３】 本実施形態による光パルス試験器の測定波形
例を示すグラフである。
例を示すグラフである。
【図４】 本実施形態による光パルス試験器の測定波形
例を示すグラフである。
例を示すグラフである。
【図５】 本実施形態による光パルス試験器の測定波形
例を示すグラフである。
例を示すグラフである。
【図６】 本実施形態による光パルス試験器の測定波形
例を示すグラフである。
例を示すグラフである。
【図７】 従来の光パルス試験器の構成例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図８】 従来の光パルス試験器の測定波形例を示すグ
ラフである。
ラフである。
１……タイミング発生部、 ２……駆動回路、 ３……
光源、４……光方向性結合器、 ５……受光器、 ６…
…増幅部、７……ディジタル処理部、 ８……表示部、
１０……被測定光ファイバ、１１……Ｓ／Ｎ比比較手
段、 １２……データ記憶手段
光源、４……光方向性結合器、 ５……受光器、 ６…
…増幅部、７……ディジタル処理部、 ８……表示部、
１０……被測定光ファイバ、１１……Ｓ／Ｎ比比較手
段、 １２……データ記憶手段
Claims (3)
- 【請求項１】 測定対象となる光ファイバと、 所定の光パルスを出力する光源と、 前記光源により出力された光パルスを前記光ファイバに
入射し、該光ファイバ内の各位置からの戻り光を出射す
る光方向性結合器と、 前記光方向性結合器により出射された各位置からの戻り
光を受光し、その受信光レベルを出力する受光器と、 前記受光器により出力された各受信光レベルを増幅する
増幅部と、 前記増幅部により増幅された各受信光レベルを対数変換
する処理部と、 前記処理部の各対数変換値と所定のＳ／Ｎ比とを比較す
る比較手段と、 前記比較手段による比較の結果、その対数変換値が前記
所定のＳ／Ｎ比より良い受信光レベルについて、該受信
光レベルと、対応する光ファイバ内の位置と、前記増幅
部の利得とを記憶する記憶手段と、 前記増幅部の利得を所定値ずつ上げながら、該利得が該
増幅部の最大値になるまで、前記増幅部，前記処理部，
前記比較手段および前記記憶手段に対し、それぞれの処
理を繰り返し行わせる繰返手段と、 前記記憶手段に記憶されている受信光レベルを、対応し
て記憶されている利得に基づいてレベル補正し、対応し
て記憶されている位置の順番にしたがって結合して表示
する表示部とを具備することを特徴とする光パルス試験
器。 - 【請求項２】 請求項１記載の光パルス試験器におい
て、 前記処理部は、前記増幅部により増幅された各受信光レ
ベルをディジタル信号に変換して加算平均を行い、該加
算平均結果を対数変換することを特徴とする光パルス試
験器。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２のいずれかに記
載の光パルス試験器において、 前記記憶手段は、前記比較手段による比較の結果、その
対数変換値が前記Ｓ／Ｎ比より良い受信光レベルに対応
する光ファイバ内の位置のうち、前記繰返手段による繰
り返し処理により、既に記憶されている位置に関して
は、その受信光レベルと位置と利得の再度の記憶を省略
することを特徴とする光パルス試験器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8268835A JPH10111212A (ja) | 1996-10-09 | 1996-10-09 | 光パルス試験器 |
| US08/953,806 US5870184A (en) | 1996-10-09 | 1997-10-09 | Optical pulse tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8268835A JPH10111212A (ja) | 1996-10-09 | 1996-10-09 | 光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10111212A true JPH10111212A (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=17463932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8268835A Withdrawn JPH10111212A (ja) | 1996-10-09 | 1996-10-09 | 光パルス試験器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5870184A (ja) |
| JP (1) | JPH10111212A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008004443A1 (en) * | 2006-07-03 | 2008-01-10 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11122173A (ja) * | 1997-10-20 | 1999-04-30 | Fujitsu Ltd | 波長分散による波形変化の検出及びその補償のための方法と装置 |
| JP3664914B2 (ja) * | 1999-07-12 | 2005-06-29 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験システム |
| US6677591B1 (en) * | 2002-01-30 | 2004-01-13 | Ciena Corporation | Method and system for inspecting optical devices |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3616798A1 (de) * | 1986-05-17 | 1987-11-19 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und anordnung zur messung der daempfung von lichtwellenleitern nach dem rueckstreuverfahren |
| US4812038A (en) * | 1987-01-21 | 1989-03-14 | Hewlett-Packard Company | Adaptive selection of OTDR test parameters and the fusion of data taken from successively shrinking measurement spans |
| JP3014134B2 (ja) * | 1990-10-22 | 2000-02-28 | 安藤電気株式会社 | 光パルス試験器 |
-
1996
- 1996-10-09 JP JP8268835A patent/JPH10111212A/ja not_active Withdrawn
-
1997
- 1997-10-09 US US08/953,806 patent/US5870184A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008004443A1 (en) * | 2006-07-03 | 2008-01-10 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
| JPWO2008004443A1 (ja) * | 2006-07-03 | 2009-12-03 | アンリツ株式会社 | オプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法 |
| JP4688231B2 (ja) * | 2006-07-03 | 2011-05-25 | アンリツ株式会社 | オプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法 |
| US8237921B2 (en) | 2006-07-03 | 2012-08-07 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5870184A (en) | 1999-02-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040106 |