JPH021527A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JPH021527A JPH021527A JP63244226A JP24422688A JPH021527A JP H021527 A JPH021527 A JP H021527A JP 63244226 A JP63244226 A JP 63244226A JP 24422688 A JP24422688 A JP 24422688A JP H021527 A JPH021527 A JP H021527A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、被測定光ファイバに光パルスを入射し、こ
の被測定光ファイバから入射端に戻ってくる光信号を検
出することにより、被測定光ファイバの障害点探索、損
失特性等を行なう光パルス試験器に関するものである。
の被測定光ファイバから入射端に戻ってくる光信号を検
出することにより、被測定光ファイバの障害点探索、損
失特性等を行なう光パルス試験器に関するものである。
［従来の技術〕
従来の光パルス試験器は、光パルスを被測定ファイバに
入射し、その被測定光ファイバより戻ってくるフレネル
反射光および後方散乱光を検出することにより被測定光
ファイバを試験していた。
入射し、その被測定光ファイバより戻ってくるフレネル
反射光および後方散乱光を検出することにより被測定光
ファイバを試験していた。
この光パルス試験器の概要を第６図に示す０図の中でｌ
Ｏはパルス信号を発生するパルス発生部、２０は前記パ
ルス信号により光パルスを発生する光出力部、３０は前
記光パルスを被測定光ファイバ４０に入射し、この被測
定光ファイバから入射端側に戻ってくるフレネル反射光
および後方散乱光を取り出すための光路の切換え手段で
。
Ｏはパルス信号を発生するパルス発生部、２０は前記パ
ルス信号により光パルスを発生する光出力部、３０は前
記光パルスを被測定光ファイバ４０に入射し、この被測
定光ファイバから入射端側に戻ってくるフレネル反射光
および後方散乱光を取り出すための光路の切換え手段で
。
この例では方向性結合器を用いている。５１はフレネル
反射光および後方散乱光を電気信号に変換するための光
電変換器、５２はこの電気信号を増幅する第１の増幅器
、５３は可変抵抗減衰器、５４はこの可変抵抗減衰器５
３の出力する電気信号を増幅する第２の増幅器、６０は
前記電気信号をデジタル信号に変換するためのＡ／Ｄ変
換器、９０は表示部、／Ｏ０はデータ処理部である。
反射光および後方散乱光を電気信号に変換するための光
電変換器、５２はこの電気信号を増幅する第１の増幅器
、５３は可変抵抗減衰器、５４はこの可変抵抗減衰器５
３の出力する電気信号を増幅する第２の増幅器、６０は
前記電気信号をデジタル信号に変換するためのＡ／Ｄ変
換器、９０は表示部、／Ｏ０はデータ処理部である。
第７図は、この構成により得られる被測定光ファイバの
特性を示す代表的な表示例である。第３図は縦軸はレベ
ル（ｄＢ）、横軸は距離（ｋｍ）、Ｆｏは被測定光ファ
イバ４０の入射端で生じたフレネル反射、Ｆｌは他端で
生じたフレネル反射である。特性Ａは後方散乱光であっ
゛て、その傾斜は被測定光ファイバ４０の光伝送特性を
示す、また、Ｓは被測定光ファイバ４０の融着接続によ
る１１ｉ続点を示す。
特性を示す代表的な表示例である。第３図は縦軸はレベ
ル（ｄＢ）、横軸は距離（ｋｍ）、Ｆｏは被測定光ファ
イバ４０の入射端で生じたフレネル反射、Ｆｌは他端で
生じたフレネル反射である。特性Ａは後方散乱光であっ
゛て、その傾斜は被測定光ファイバ４０の光伝送特性を
示す、また、Ｓは被測定光ファイバ４０の融着接続によ
る１１ｉ続点を示す。
前記光パルス試験器の構成において、可変抵抗減衰器５
３は被測定光ファイバ４０の種類、観１１１１範囲、光
出力部２０が出力する光パルスのパルス輻、＊ Ｊｉお
よび出力レベルによって決定付けられる反射光を光電変
換１．た電気信号を減衰させ、第２の増幅器５４におい
て前記電気信号の飽和を防ぐためのもの°である。従来
の光パルス試験器では第２の増幅器５４において前記電
気イ、１号が飽和していないことを表示部９０の画面を
目視しながら可変抵抗減衰器５３の減衰量を手動操作に
より可変し調整４行なっていた。
３は被測定光ファイバ４０の種類、観１１１１範囲、光
出力部２０が出力する光パルスのパルス輻、＊ Ｊｉお
よび出力レベルによって決定付けられる反射光を光電変
換１．た電気信号を減衰させ、第２の増幅器５４におい
て前記電気信号の飽和を防ぐためのもの°である。従来
の光パルス試験器では第２の増幅器５４において前記電
気イ、１号が飽和していないことを表示部９０の画面を
目視しながら可変抵抗減衰器５３の減衰量を手動操作に
より可変し調整４行なっていた。
［発明が解決しようとする課ａ］
被測定対象側としての被測定光ファイバの特性である測
定波形は、第７図に示すように、距離が遠くなるにつれ
レベルが次第に低下したり、パルス状にレベルが高いフ
レネル反射等がある。
定波形は、第７図に示すように、距離が遠くなるにつれ
レベルが次第に低下したり、パルス状にレベルが高いフ
レネル反射等がある。
方、測定者側が任意に変更するものとして観測距離範囲
を部分的に拡大縮小する機能を用いる等があり、操作者
は上記各種いずれの側のパラメータ変更を考慮した上で
可変抵抗減衰器５３を操作しなければならなかった。
を部分的に拡大縮小する機能を用いる等があり、操作者
は上記各種いずれの側のパラメータ変更を考慮した上で
可変抵抗減衰器５３を操作しなければならなかった。
上記のような光パルス試験器においては、被測定光ファ
イバ４０からのフレネル反射光および後方散乱光を受光
し電気信号に変換後、その電気信号を増幅してＡ／Ｄ変
換器６０に加えるにあたり、オペレータが可変抵抗減衰
器５３の減衰量の設定値を誤って大きく設？した場合、
前記電気信号のレベルの低下によりＳ／Ｎが悪化し、
Ｓ／Ｎ改Ｎのために長時間の７ベレージング処理を必要
とする問題があった。
イバ４０からのフレネル反射光および後方散乱光を受光
し電気信号に変換後、その電気信号を増幅してＡ／Ｄ変
換器６０に加えるにあたり、オペレータが可変抵抗減衰
器５３の減衰量の設定値を誤って大きく設？した場合、
前記電気信号のレベルの低下によりＳ／Ｎが悪化し、
Ｓ／Ｎ改Ｎのために長時間の７ベレージング処理を必要
とする問題があった。
逆に可変抵抗減衰器５３の減衰器の設定値を小さく設定
した場合、前記電気信号が第２の増幅器５４で飽和し、
被測定光ファイバ４０からのフレネル反射光および後方
散乱光を忠実に観測できないという問題があった。
した場合、前記電気信号が第２の増幅器５４で飽和し、
被測定光ファイバ４０からのフレネル反射光および後方
散乱光を忠実に観測できないという問題があった。
さらに、オペレータが特に初心者である場合には、減衰
量を可変するにあたって最適な減衰量が設定されたかを
判断することが困難であるとともに、減衰量を最適な偵
に設定するのに必要以上の時間を要し１、能率的な測定
が行なえなかった。
量を可変するにあたって最適な減衰量が設定されたかを
判断することが困難であるとともに、減衰量を最適な偵
に設定するのに必要以上の時間を要し１、能率的な測定
が行なえなかった。
そして、減衰量の設定値が異なると、この；或衰に以外
のパラメータを同一にして同じ被測定ファイバをａ１１
定り、た場合でも信リレベルのＳ／Ｎに差が生じ、それ
らの測定結果にはバラツキが生じる。したがって、減衰
量を最適に設定し、前記信号レベルのＳ／Ｎが良好なも
ので測定した場合は、その測定結果の精度が高く、一方
減衰罎の設定が不適当で前記信号レベルのＳ／Ｎが！１
チいもので測定した場合には、その測定結果の１７を度
が悪くなり、よって測定結果の再現性が悪くなる。した
がって、オペレータが減衰：＃を設定するにあたりオペ
レータの個人差が生じることにより３１１定結果の精度
が変化したり、測定（１果の再現性が悪く信頼ｎが低下
するという欠点があった。
のパラメータを同一にして同じ被測定ファイバをａ１１
定り、た場合でも信リレベルのＳ／Ｎに差が生じ、それ
らの測定結果にはバラツキが生じる。したがって、減衰
量を最適に設定し、前記信号レベルのＳ／Ｎが良好なも
ので測定した場合は、その測定結果の精度が高く、一方
減衰罎の設定が不適当で前記信号レベルのＳ／Ｎが！１
チいもので測定した場合には、その測定結果の１７を度
が悪くなり、よって測定結果の再現性が悪くなる。した
がって、オペレータが減衰：＃を設定するにあたりオペ
レータの個人差が生じることにより３１１定結果の精度
が変化したり、測定（１果の再現性が悪く信頼ｎが低下
するという欠点があった。
また、オペレータが常に表示部！ＩＯの１．ｉｉ面を目
視Ｉ７ながら減）（賃を設定することが必要であるため
に、外部コントローラによる無人測定での減衰量の最適
設定にも応用しにくい面もあった。
視Ｉ７ながら減）（賃を設定することが必要であるため
に、外部コントローラによる無人測定での減衰量の最適
設定にも応用しにくい面もあった。
本発明は、係る間Ｉａへに鑑みて成されたものであって
、その目的は被測定光ファイバからのフレネル反ｒ１を
光および後方散乱光を観測する設定パラメータを変更１
．ても゛電気信号が飽和せず、かつ最適な減衰量が自動
的に設定でき、オペレータの個人差により測定結果のば
らつきをｋ）小にし、操イ「のＩｌｔ １１ｉ−化が図
れ、かつ外部コントローラによる無人；１１１１９↓−
も容易に応用できる光パルス試験器を提供することにあ
る。
、その目的は被測定光ファイバからのフレネル反ｒ１を
光および後方散乱光を観測する設定パラメータを変更１
．ても゛電気信号が飽和せず、かつ最適な減衰量が自動
的に設定でき、オペレータの個人差により測定結果のば
らつきをｋ）小にし、操イ「のＩｌｔ １１ｉ−化が図
れ、かつ外部コントローラによる無人；１１１１９↓−
も容易に応用できる光パルス試験器を提供することにあ
る。
［課題を解決するための手段］
ト記ＩＩ的を達成するために、本発明は被測定光ファイ
バ（４０）に所定の波長の光パルスを入射し、前記被測
定光ファイバからのフレネル反射光または後方散乱光を
受光し、これを電気信号に変ｍｌてＡ／Ｄ変換した後、
信号処３１〜その結果を表示またはデータを出力する光
パルス試１ｐ器において； 観測距＃範囲の所定の位置に対応する前記電気信号のレ
ベルを可変するレベル可変手段（５５）と。
バ（４０）に所定の波長の光パルスを入射し、前記被測
定光ファイバからのフレネル反射光または後方散乱光を
受光し、これを電気信号に変ｍｌてＡ／Ｄ変換した後、
信号処３１〜その結果を表示またはデータを出力する光
パルス試１ｐ器において； 観測距＃範囲の所定の位置に対応する前記電気信号のレ
ベルを可変するレベル可変手段（５５）と。
前記レベル可変手段の出力信号をＡ／Ｄ変擾するＡ／Ｄ
ｆ換器（６０）と、 前記被測定光ファイバからの前記フレネル反射光または
後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータを入力する
ためのｌ／Ｏｆ−段（７２）と、 前Ｊ・；パラメータに基づく前記レベル可変手段に予（
…設定すべき初回（ｉｉ（ａ）を格納するための初期値
記憶手段（８１）と。
ｆ換器（６０）と、 前記被測定光ファイバからの前記フレネル反射光または
後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータを入力する
ためのｌ／Ｏｆ−段（７２）と、 前Ｊ・；パラメータに基づく前記レベル可変手段に予（
…設定すべき初回（ｉｉ（ａ）を格納するための初期値
記憶手段（８１）と。
１ｉＩ記初旧値を前記レベル０Ｔｉ４手段に設定した後
に得られる前記Ａ／Ｄ変換器からの出力値とを比較司る
ため、予め設定した基準値（ｃ）を記憶するための基準
値記憶手段（８２）と、 ＋ｉカ記初初期を前記レベル可変り段に設定した後、得
られる前記Ａ／Ｄ変換器の出力値と、前記基準値記憶手
段に記憶されている前た基準値とを比く交ｌ２、ｎｉｊ
記レベし可変ｆ段に設定されている初期値を変更するた
めの補正値（ｄ）を算出する比較手段（８３）と、 を備えたものである。
に得られる前記Ａ／Ｄ変換器からの出力値とを比較司る
ため、予め設定した基準値（ｃ）を記憶するための基準
値記憶手段（８２）と、 ＋ｉカ記初初期を前記レベル可変り段に設定した後、得
られる前記Ａ／Ｄ変換器の出力値と、前記基準値記憶手
段に記憶されている前た基準値とを比く交ｌ２、ｎｉｊ
記レベし可変ｆ段に設定されている初期値を変更するた
めの補正値（ｄ）を算出する比較手段（８３）と、 を備えたものである。
［作用］
この発明においては、被測定光ファイバ４０の挿す、ｎ
と、この被測定光ファイバ４０を試！１廣するための光
パルス試験器の各パラメータの設定をｌ／ＯＴ−段７２
に入力［１、このパラメータによって決まるレベル可変
４段５５の初期値を初１す１偵記憶、１段１１１より出
力しレベル可変手段５５に設定する１次に、被測定光フ
ァイバ４０に所定の波長の光パルスを入射し、被測定光
ファイバ４０からのフレネル反射または後方散乱光を受
）６し、これを電気信号に変換した後、Ａ／Ｄ変］よ器
６ｏに加え、このＡ／Ｄｆ４！！塁（ｉｏからの出力値
と、基準値記憶手段８２に予め設定された基１・１蝿値
とを比較ｆ”ｌ’１８３で比較し、前記レベル可変手段
５５の初期値を変更する。これにより、＠適な減衰量つ
まり飽和を起さないための必要最小限の減衰量で被測定
光ファイバ４０を広ダイナミツクレンジで測定できる。
と、この被測定光ファイバ４０を試！１廣するための光
パルス試験器の各パラメータの設定をｌ／ＯＴ−段７２
に入力［１、このパラメータによって決まるレベル可変
４段５５の初期値を初１す１偵記憶、１段１１１より出
力しレベル可変手段５５に設定する１次に、被測定光フ
ァイバ４０に所定の波長の光パルスを入射し、被測定光
ファイバ４０からのフレネル反射または後方散乱光を受
）６し、これを電気信号に変換した後、Ａ／Ｄ変］よ器
６ｏに加え、このＡ／Ｄｆ４！！塁（ｉｏからの出力値
と、基準値記憶手段８２に予め設定された基１・１蝿値
とを比較ｆ”ｌ’１８３で比較し、前記レベル可変手段
５５の初期値を変更する。これにより、＠適な減衰量つ
まり飽和を起さないための必要最小限の減衰量で被測定
光ファイバ４０を広ダイナミツクレンジで測定できる。
［実施例］
第１図は、この発明の一実施例を示す図で、被測定光フ
ァイバに光パルスを入射し、この被測定光ファイバから
入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後方散乱光
を検出することによりＡ／Ｄ変換器への入力信号の大き
さを最適設定させるために自動レベル可変機能をもった
光パルス試験器のブロー、クダイヤグラムである。この
図において、１Ｏ１２０，３０，４０，５１，５２，５
４，６０，９０、ｌＯＯは、上記従来の光パルス試験器
と同一の構成部であり、その説明を省略する。
ァイバに光パルスを入射し、この被測定光ファイバから
入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後方散乱光
を検出することによりＡ／Ｄ変換器への入力信号の大き
さを最適設定させるために自動レベル可変機能をもった
光パルス試験器のブロー、クダイヤグラムである。この
図において、１Ｏ１２０，３０，４０，５１，５２，５
４，６０，９０、ｌＯＯは、上記従来の光パルス試験器
と同一の構成部であり、その説明を省略する。
５５は、第１の増幅器５２が出力する電気信号のレベル
を可変するレベル可変手段であり、この例では減衰ｉ
Ａ Ｔ ６ 、 Ａ Ｔ ＋ 、−１Ａ Ｔ ｎ−＋、
ＡＴｎ （ＡＴ ｏ ＞ ＡＴ＋ ）−）ＡＴｎ−ｔ
）ＡＴｎ ）の値をとる可変抵抗減衰器である。またこ
のレベル可変手段５５はデジタル入力によりその減衰値
が変更されるものである。この手段は第１の増幅器５２
、レベル可変手段５５、第２の増幅器５４を一つの可変
利得増幅器に置き換えても良い、７２は前記被測定光フ
ァイバからの前記フレネル反射光および後方散乱光のレ
ベルを決定付けるパラメータを入力するためのＩ／Ｏ手
段であり、この実施例でＩ／Ｏ手段７２には、被測定光
ファイバ４０の種類、観測距離範囲、光出力部２０が出
力する光パルスのパルス幅、波長、光のレベルなどのパ
ラメータを入力する。
を可変するレベル可変手段であり、この例では減衰ｉ
Ａ Ｔ ６ 、 Ａ Ｔ ＋ 、−１Ａ Ｔ ｎ−＋、
ＡＴｎ （ＡＴ ｏ ＞ ＡＴ＋ ）−）ＡＴｎ−ｔ
）ＡＴｎ ）の値をとる可変抵抗減衰器である。またこ
のレベル可変手段５５はデジタル入力によりその減衰値
が変更されるものである。この手段は第１の増幅器５２
、レベル可変手段５５、第２の増幅器５４を一つの可変
利得増幅器に置き換えても良い、７２は前記被測定光フ
ァイバからの前記フレネル反射光および後方散乱光のレ
ベルを決定付けるパラメータを入力するためのＩ／Ｏ手
段であり、この実施例でＩ／Ｏ手段７２には、被測定光
ファイバ４０の種類、観測距離範囲、光出力部２０が出
力する光パルスのパルス幅、波長、光のレベルなどのパ
ラメータを入力する。
８１は前記Ｉ／Ｏ手段７２に入力された前記パラメータ
に基づいて、前記レベル可変手段５５に設定すべき初期
値ａを記憶している初期値記憶手段である。
に基づいて、前記レベル可変手段５５に設定すべき初期
値ａを記憶している初期値記憶手段である。
ここで本実施例では第６図に示した代表的な表示例から
もわかるように、被測定光ファイバ４０の特性は接続点
を除いては全て右下りであることと、前記被測定光ファ
イバ４０の入射端で光出力部２０が出力する光パルスの
パルス幅に対応する幅を持つフレネル反射Ｆｏが生じる
ことから、これらを鑑みた」二での初期値が予め初期値
記憶手段８１に記憶されている。
もわかるように、被測定光ファイバ４０の特性は接続点
を除いては全て右下りであることと、前記被測定光ファ
イバ４０の入射端で光出力部２０が出力する光パルスの
パルス幅に対応する幅を持つフレネル反射Ｆｏが生じる
ことから、これらを鑑みた」二での初期値が予め初期値
記憶手段８１に記憶されている。
つまり、初期値記憶手段８１の記憶内容としては、標準
的な光ファイバの減衰特性どして、所定の減衰特性（前
記右下りの特性線）に対応する設定値（レベル可変手段
５５の減衰量）を所定距離毎に合計複数個記憶している
。この減衰特性線は、前記パラメータの種類によって変
化する１例えば、光の波長が異なることにより特性線全
体の傾きが変る他、出力する光のパルス幅によりフレネ
ル反射部分の幅が変化し、かつ特性線のレベルが上下に
シフトする。また後述するように観Ｊｉｌｔ距＃範囲の
変更により、所定観測距離範囲のみが拡大、縮小される
。さらに、光のレベルについては、同じ波長でもＬＤか
らの出力パワーの違うユニー／ トに対応するパラメー
タを持つ。
的な光ファイバの減衰特性どして、所定の減衰特性（前
記右下りの特性線）に対応する設定値（レベル可変手段
５５の減衰量）を所定距離毎に合計複数個記憶している
。この減衰特性線は、前記パラメータの種類によって変
化する１例えば、光の波長が異なることにより特性線全
体の傾きが変る他、出力する光のパルス幅によりフレネ
ル反射部分の幅が変化し、かつ特性線のレベルが上下に
シフトする。また後述するように観Ｊｉｌｔ距＃範囲の
変更により、所定観測距離範囲のみが拡大、縮小される
。さらに、光のレベルについては、同じ波長でもＬＤか
らの出力パワーの違うユニー／ トに対応するパラメー
タを持つ。
８２は前記初期値を前記レベル可変手段５５に設定した
後に得られる前記Ａ／Ｄ変換器６０の出力値と比較する
ために予め設定された基準値Ｃを記憶するための基準値
記憶手段である。
後に得られる前記Ａ／Ｄ変換器６０の出力値と比較する
ために予め設定された基準値Ｃを記憶するための基準値
記憶手段である。
実施例では、第３図および第６図に示すように前記増幅
器５４で前記電気信号が飽和した場合の前記Ａ／Ｄ変換
器６０の出力値よりも少し小さな値に前記基準値Ｃを設
定している。これにより、ダイナミックレンジを最大に
するための上限値が決定されることになる。
器５４で前記電気信号が飽和した場合の前記Ａ／Ｄ変換
器６０の出力値よりも少し小さな値に前記基準値Ｃを設
定している。これにより、ダイナミックレンジを最大に
するための上限値が決定されることになる。
８３は前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後書
られる前記Ａ／Ｄ変換器６０の出力値と、＠記基準値と
を比較し、前記レベル可変手段５５に設定されている初
期値を最適値に補正するための補正値を算出するための
比較手段である。
られる前記Ａ／Ｄ変換器６０の出力値と、＠記基準値と
を比較し、前記レベル可変手段５５に設定されている初
期値を最適値に補正するための補正値を算出するための
比較手段である。
制御部７１は前記Ｉ／Ｏ手段７２に入力されたパラメー
タにより前記パルス発生部／Ｏ．Ａ／Ｄ変換器６０、初
期値記憶手段８１．基準値記憶手段８２、比較手段８３
、データ処理部／Ｏ０を制御する。尚、制御部７１は観
測距離範囲の変更時にパルス発生部／Ｏが発生する一定
な間隔のパルスが出力されてから、Ａ／Ｄ変換器６０の
取り込みを開始させるまでの時間を制御線ｅを介して変
更させている。尚、データ処理部ｌＯＯは、表示部９０
への表示処理あるいはデータ出力部１／Ｏからのデータ
出力を選択的に動作させる。
タにより前記パルス発生部／Ｏ．Ａ／Ｄ変換器６０、初
期値記憶手段８１．基準値記憶手段８２、比較手段８３
、データ処理部／Ｏ０を制御する。尚、制御部７１は観
測距離範囲の変更時にパルス発生部／Ｏが発生する一定
な間隔のパルスが出力されてから、Ａ／Ｄ変換器６０の
取り込みを開始させるまでの時間を制御線ｅを介して変
更させている。尚、データ処理部ｌＯＯは、表示部９０
への表示処理あるいはデータ出力部１／Ｏからのデータ
出力を選択的に動作させる。
次に第２図のフローチャートを参照しながらこの実施例
の一連の動作を説明する。
の一連の動作を説明する。
そして、第３図は、光パルス試験器により光ファイバＡ
Ｉと光ファイバ８１とを接続点Ｓで融着接続した被測定
光ファイバを測定した表示例である。ここで観測する範
囲を観測距離範囲Ａとする。また第４図は、被測定光フ
ァイバの第３図の観測距離範囲Ｂに対応する部分のみを
拡大して測定した表示例である。第３図と第４図のレベ
ルＬと距１ｔＤｌおよびＤ２はそれぞれ等しい。
Ｉと光ファイバ８１とを接続点Ｓで融着接続した被測定
光ファイバを測定した表示例である。ここで観測する範
囲を観測距離範囲Ａとする。また第４図は、被測定光フ
ァイバの第３図の観測距離範囲Ｂに対応する部分のみを
拡大して測定した表示例である。第３図と第４図のレベ
ルＬと距１ｔＤｌおよびＤ２はそれぞれ等しい。
光パルス試験器の観測距離範囲を観測距離範囲Ａから観
Ｊｌｌ距ｆａ、ｗＡ囲Ｂに変更するときに、レベル可変
手段５５の設定値（減衰量）を以下の手順で自動的に変
更する。
Ｊｌｌ距ｆａ、ｗＡ囲Ｂに変更するときに、レベル可変
手段５５の設定値（減衰量）を以下の手順で自動的に変
更する。
（イ）工／Ｏ手段７２に各種パラメータが設定されるこ
とにより、設定値の補正動作が開始される。
とにより、設定値の補正動作が開始される。
（ロ）初期値記憶手段８１に記憶しているレベル可変手
段５５に設定する初期値として、Ｉ／Ｏ手段７２に記憶
されたパラメータに対応した初期値ａを、初期値記憶手
段８１から出力してこの値をレベル可変手段５５に設定
する。（ＳＰＩ）したがって今、補正しようとする補正
する所定観測点部分のみの拡大については、初期値記憶
手段８１に記憶されている距離ＤＩ’に対応した光のレ
ベルＬｌ“は予め予想できるので、この光のレベルＬｌ
’に対応するＡ／Ｄ変換後の受光レベルを比較手段８３
において比較するにあたり最低限必要なＳ／Ｎの信号レ
ベルを得るための設定値（減衰量）ａを出力するように
なっている。
段５５に設定する初期値として、Ｉ／Ｏ手段７２に記憶
されたパラメータに対応した初期値ａを、初期値記憶手
段８１から出力してこの値をレベル可変手段５５に設定
する。（ＳＰＩ）したがって今、補正しようとする補正
する所定観測点部分のみの拡大については、初期値記憶
手段８１に記憶されている距離ＤＩ’に対応した光のレ
ベルＬｌ“は予め予想できるので、この光のレベルＬｌ
’に対応するＡ／Ｄ変換後の受光レベルを比較手段８３
において比較するにあたり最低限必要なＳ／Ｎの信号レ
ベルを得るための設定値（減衰量）ａを出力するように
なっている。
（ハ）次に、パルス発生部／Ｏが電気パルス信号を発生
し、この電気パルス信号により光出力部２０が光パルス
を出力する。この光パルスを切換え手段３０をｉ１１遇
させ被測定光ファイバ４０に入射して、この被測定光フ
ァイバから入射端側に戻ってくるフレネル反射光および
後方散乱光を切換え手段３０で光電変換器５１に導く。
し、この電気パルス信号により光出力部２０が光パルス
を出力する。この光パルスを切換え手段３０をｉ１１遇
させ被測定光ファイバ４０に入射して、この被測定光フ
ァイバから入射端側に戻ってくるフレネル反射光および
後方散乱光を切換え手段３０で光電変換器５１に導く。
（ニ）フレネル反射光および後方散乱光を光電変換器５
１で電気信号に変換し、この電気信号を増幅器５２で増
幅した後、初期値記憶手段８１かも出力された初期値ａ
に設定されているレベル可変手段５５により減衰させ、
再び増幅器５４により増幅して出力する（ＳＦ３）。
１で電気信号に変換し、この電気信号を増幅器５２で増
幅した後、初期値記憶手段８１かも出力された初期値ａ
に設定されているレベル可変手段５５により減衰させ、
再び増幅器５４により増幅して出力する（ＳＦ３）。
そして、第７図に示すように被測定光ファイバの特性線
が右下りであることがら、ｒ＆測距離範囲の光パルスの
入射端に近い部分の１点に対応する電気信号をＡ／Ｄ変
換器６０でデジタル信号に変換しデジタル信号すを得る
（ＳＦ３）。
が右下りであることがら、ｒ＆測距離範囲の光パルスの
入射端に近い部分の１点に対応する電気信号をＡ／Ｄ変
換器６０でデジタル信号に変換しデジタル信号すを得る
（ＳＦ３）。
ここでこのデジタル信号すの精度を高めるために第５図
（ａ）に示すサンプリング間隔Ｐ１でサンプリングして
いる観測距離範囲の距ｔｌｉｌＤ１と距ＡＩＤ２間を、
第５図（ｂ）のようにサンプリング間隔Ｐｉに比べて短
いサンプリング間隔Ｐ２でサンプリングし、これにより
得たデジタル信号の平均値をデジタル信号すとしている
。このデジタル信号すは、前記電気信号を初期値ａに予
備設定されているレベル可変手段５５で減衰１．て得た
Ａ／Ｄ変換器６０の出力で、この後に行なう基準値Ｃと
比較するために得るものである。
（ａ）に示すサンプリング間隔Ｐ１でサンプリングして
いる観測距離範囲の距ｔｌｉｌＤ１と距ＡＩＤ２間を、
第５図（ｂ）のようにサンプリング間隔Ｐｉに比べて短
いサンプリング間隔Ｐ２でサンプリングし、これにより
得たデジタル信号の平均値をデジタル信号すとしている
。このデジタル信号すは、前記電気信号を初期値ａに予
備設定されているレベル可変手段５５で減衰１．て得た
Ａ／Ｄ変換器６０の出力で、この後に行なう基準値Ｃと
比較するために得るものである。
（ホ）次に、比較手段８３はデジタル信号すと、基準値
記憶手段８２に記憶されている基準値Ｃとを比較し、レ
ベル可変手段５５の設定値をｃ −ｂ ＜ Ａ Ｔ ｎ
−Ａ Ｔ ｎ−＋が成立するための補正値ｄを算出し
て、この結果をレベル可変手段５５に出力する。
記憶手段８２に記憶されている基準値Ｃとを比較し、レ
ベル可変手段５５の設定値をｃ −ｂ ＜ Ａ Ｔ ｎ
−Ａ Ｔ ｎ−＋が成立するための補正値ｄを算出し
て、この結果をレベル可変手段５５に出力する。
ここで、比較手段８３は、第３図に示す如く全観測距離
範囲のなかで前記フレネル反射Ｆ、を含まない被測定光
ファイバ４０の特性Ａのできるだけ左側の部分に相当す
るデジタル信号すと基準値Ｃとを比較【７補正値ｄを得
て（ＳＦ３）、さらに補正値ｄによりレベル可変手段５
５の設定値（減衰量）を最適値に自動的に設定する（Ｓ
Ｆ３） 。
範囲のなかで前記フレネル反射Ｆ、を含まない被測定光
ファイバ４０の特性Ａのできるだけ左側の部分に相当す
るデジタル信号すと基準値Ｃとを比較【７補正値ｄを得
て（ＳＦ３）、さらに補正値ｄによりレベル可変手段５
５の設定値（減衰量）を最適値に自動的に設定する（Ｓ
Ｆ３） 。
ところで、フレネル反射ＦＯを含む観測距離範囲の補正
動作時、このフレネル反射Ｆｏは、工／Ｏ手段７２に入
力される光パルス幅のパラメータにより自動的に排除で
きるようになっている。
動作時、このフレネル反射Ｆｏは、工／Ｏ手段７２に入
力される光パルス幅のパラメータにより自動的に排除で
きるようになっている。
（へ）以上の過程によりレベル可変手段５５の最適設定
が終了し、再びＩ／Ｏ手段７２にパラメータが設定され
るまでは上記動作による補正値ｄによりレベル可変手段
５５の値が変更されることはない、そして、この後補正
された値により被測定ファイバ４０の特性測定が行なわ
れるが、特性測定自体の動作は従来の光パルス試験器に
同じであり、特開昭５７−１６１６３３号公報に記載さ
れている。
が終了し、再びＩ／Ｏ手段７２にパラメータが設定され
るまでは上記動作による補正値ｄによりレベル可変手段
５５の値が変更されることはない、そして、この後補正
された値により被測定ファイバ４０の特性測定が行なわ
れるが、特性測定自体の動作は従来の光パルス試験器に
同じであり、特開昭５７−１６１６３３号公報に記載さ
れている。
ところで、光パルス試験器の観測比＃範囲を観測圧＃、
範囲Ａから観測距離範囲Ｂに変更するときに、レベル可
変手段５５の設定値（減衰量）を変更しないと、観測結
果は第４図の表示（２）になる、従来の光パルス試験器
は、前述したように観測範囲を変えた場合には可変抵抗
減衰器５３の設定値をその都度オペレータが手動で可変
し、Δ１１定結果を表示（１）のようなＳ／Ｈの良好な
状態に変える必要があった。
範囲Ａから観測距離範囲Ｂに変更するときに、レベル可
変手段５５の設定値（減衰量）を変更しないと、観測結
果は第４図の表示（２）になる、従来の光パルス試験器
は、前述したように観測範囲を変えた場合には可変抵抗
減衰器５３の設定値をその都度オペレータが手動で可変
し、Δ１１定結果を表示（１）のようなＳ／Ｈの良好な
状態に変える必要があった。
本実施例では、このように観測範囲を変えた場合、前記
観測開始点ＤｉがＩ／Ｏ手段７２に入力されることによ
り、この観測開始点ＤＩを含むパラメータの組み合わせ
によって決まる初期値ａを初期値記憶手段８１から出力
してレベル可変手段５５に設定した後、前記（ハ）〜（
へ）の動作を行なっている。この方法により、レベル可
変手段５５の設定値を常に最適になるように調整でき、
第４図の表示（１）のように測定波形をレベルが高＜
Ｓ／Ｎの良好な状態で観測できる。
観測開始点ＤｉがＩ／Ｏ手段７２に入力されることによ
り、この観測開始点ＤＩを含むパラメータの組み合わせ
によって決まる初期値ａを初期値記憶手段８１から出力
してレベル可変手段５５に設定した後、前記（ハ）〜（
へ）の動作を行なっている。この方法により、レベル可
変手段５５の設定値を常に最適になるように調整でき、
第４図の表示（１）のように測定波形をレベルが高＜
Ｓ／Ｎの良好な状態で観測できる。
また、光パルス試験器から遠陥地の場所に１／Ｏ手段７
２に接続された外部コントローラを設け、この外部コン
トローラにパラメータを入力することにより前記自動補
正が行なえ、被測定光ファイバ４０が敷設された箇所の
、無人測定に容易に応用できる。
２に接続された外部コントローラを設け、この外部コン
トローラにパラメータを入力することにより前記自動補
正が行なえ、被測定光ファイバ４０が敷設された箇所の
、無人測定に容易に応用できる。
また、第７図に示すように通常は長距離にわたって１６
設された実回線においては多くの接続箇所が存在し、こ
の箇所で光のレベルが大きく変化するので従来この作業
に手間がかかったが、本発明の光パルス試験器によれば
任意の観測範囲におけるフレネル反射光および後方散乱
光の受光レベルを予想して自動的に予備設定しその後比
較して予想外のレベルであってもそれに対応できるので
、レベルの変化があっても最適値に自動的に設定するこ
とができる。
設された実回線においては多くの接続箇所が存在し、こ
の箇所で光のレベルが大きく変化するので従来この作業
に手間がかかったが、本発明の光パルス試験器によれば
任意の観測範囲におけるフレネル反射光および後方散乱
光の受光レベルを予想して自動的に予備設定しその後比
較して予想外のレベルであってもそれに対応できるので
、レベルの変化があっても最適値に自動的に設定するこ
とができる。
［発明の効果］
この発明に係る光パルス試験器は、被測定光ファイバか
らのフレネル反射光および後方散乱光を観測する設定パ
ラメータを変更しても前記電気信号が飽和せず、かつ最
適な減衰量が自動的に設定できるので、オペレータの個
人差による測定結果のばらつきを最小にし、操作の簡単
化、省力化、短時間化が図れる。また、実回線での接続
点のレベル変動を許容して自動化が計れる。さらに、外
部コントローラによる無人測定にも容易に応用できる。
らのフレネル反射光および後方散乱光を観測する設定パ
ラメータを変更しても前記電気信号が飽和せず、かつ最
適な減衰量が自動的に設定できるので、オペレータの個
人差による測定結果のばらつきを最小にし、操作の簡単
化、省力化、短時間化が図れる。また、実回線での接続
点のレベル変動を許容して自動化が計れる。さらに、外
部コントローラによる無人測定にも容易に応用できる。
第１図は１本発明の光パルス試験器を示すブごツクダイ
アグラム、第２１Δは、同党パルス試験器の補正動作を
示すフローチャート、第３図および第４図は、同光パル
ス試験器の補正動作を説明するための被測定ファイバの
特性グラフ、第５図（ａ）は、設定された観測距離範囲
のサンプリング間隔を示す図、第５図（ｂ）は、同図（
ａ）の距１ｔＤ１とＤ２間のサンプリング間隔を短くと
った状態を示す図、第６図は、従来の光パルス試験器を
示すブロック図、第７図は、一般的な光ファイバの特性
を示すグラフである。 ４０・・・被測定光ファイバ、５４川第２の増幅器、５
５・・・レベル可変手段、ゝ６ｏ・・・Ａ／Ｄ変換器、
７１・・・制御部、８１・・・初期値記憶手段、８２・
・・ノＳ準値記憶手段、８３・・・比較手段。 第２図 特許出願人 アンリッ株式会社 代理人・弁理士 西 村 教 光 ＝２′イ公の ”Ｏ
アグラム、第２１Δは、同党パルス試験器の補正動作を
示すフローチャート、第３図および第４図は、同光パル
ス試験器の補正動作を説明するための被測定ファイバの
特性グラフ、第５図（ａ）は、設定された観測距離範囲
のサンプリング間隔を示す図、第５図（ｂ）は、同図（
ａ）の距１ｔＤ１とＤ２間のサンプリング間隔を短くと
った状態を示す図、第６図は、従来の光パルス試験器を
示すブロック図、第７図は、一般的な光ファイバの特性
を示すグラフである。 ４０・・・被測定光ファイバ、５４川第２の増幅器、５
５・・・レベル可変手段、ゝ６ｏ・・・Ａ／Ｄ変換器、
７１・・・制御部、８１・・・初期値記憶手段、８２・
・・ノＳ準値記憶手段、８３・・・比較手段。 第２図 特許出願人 アンリッ株式会社 代理人・弁理士 西 村 教 光 ＝２′イ公の ”Ｏ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定光ファイバ（４０）に光パルスを入射し、前記被
測定光ファイバからのフレネル反射光または後方散乱光
を受光し、これを電気信号に変換してＡ／Ｄ変換した後
、信号処理し、その結果を表示またはデータを出力する
光パルス試験器において； 前記電気信号のレベルを可変するレベル可変手段（５５
）と、 前記レベル可変手段の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ
変換器（６０）と、 前記被測定光ファイバからの前記フレネル反射光または
後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータを入力する
ためのＩ／Ｏ手段（７２）と、 前記パラメータに基づく前記レベル可変手段に設定すべ
き初期値（ａ）を格納するための初期値記憶手段（８１
）と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後に得られ
る前記Ａ／Ｄ変換器からの出力値とを比較するため、予
め設定した基準値（ｃ）を記憶するための基準値記憶手
段（８２）と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後、得られ
る前記Ａ／Ｄ変換器の出力値と、前記基準値記憶手段に
記憶されている前記基準値とを比較し、前記レベル可変
手段に設定されている初期値を変更するための補正値（
ｄ）を算出する比較手段（８３）と、 を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63244226A JPH0762642B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-09-30 | 光パルス試験器 |
| US07/258,995 US4893006A (en) | 1987-10-19 | 1988-10-17 | Optical time domain reflectometer with level adjusting function |
| DE3850210A DE3850210D1 (de) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | Optisches Zeitbereichsreflektometer mit Niveaueinstellung. |
| DE3850210T DE3850210T4 (de) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | Optisches Zeitbereichsreflektometer mit Niveaueinstellung. |
| EP88117405A EP0313020B1 (en) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | Optical time domain reflectometer with level adjusting function |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62-261850 | 1987-10-19 | ||
| JP26185087 | 1987-10-19 | ||
| JP63244226A JPH0762642B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-09-30 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH021527A true JPH021527A (ja) | 1990-01-05 |
| JPH0762642B2 JPH0762642B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=26536632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63244226A Expired - Fee Related JPH0762642B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-09-30 | 光パルス試験器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4893006A (ja) |
| EP (1) | EP0313020B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0762642B2 (ja) |
| DE (2) | DE3850210T4 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH0422836A (ja) * | 1990-05-18 | 1992-01-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 電気的パルスエコーによる光海底ケーブルの障害点測定方法 |
| WO2008004443A1 (en) * | 2006-07-03 | 2008-01-10 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
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|---|---|---|---|---|
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| US5148230A (en) * | 1990-04-25 | 1992-09-15 | Tektronix, Inc. | Measurement apparatus having improved sample density using nested data acquisitions |
| US5023445A (en) * | 1990-04-27 | 1991-06-11 | Tektronix, Inc. | Signal acquisition method and automatic masking system for an OTDR |
| US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
| US5530367A (en) * | 1995-01-06 | 1996-06-25 | Fluke Corporaton | Pulse based cable attenuation measurement system |
| GB9620288D0 (en) * | 1996-09-28 | 1996-11-13 | Univ Strathclyde | Automatic fault location in cabling systems |
| US6687632B1 (en) | 1998-01-23 | 2004-02-03 | Trilithic, Inc. | Testing of CATV systems |
| JP4109351B2 (ja) * | 1998-07-02 | 2008-07-02 | 株式会社キーエンス | 検出スイッチおよび光電スイッチ |
| US6154584A (en) * | 1999-02-03 | 2000-11-28 | Lan-Hopper Systems, Inc. | Optical analyzer with variable attenuators at inputs and outputs |
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| WO2001018521A1 (en) * | 1999-09-06 | 2001-03-15 | Anritsu Corporation | System for measuring wavelength dispersion of optical fiber |
| JP2003050181A (ja) * | 2001-08-03 | 2003-02-21 | Ando Electric Co Ltd | 光ファイバ測定装置 |
| DE602006010058D1 (de) * | 2006-08-03 | 2009-12-10 | Alcatel Lucent | Steuerkreis für Online-OTDR-Messung mit integrierter Sinuswelle |
| CN106788694A (zh) | 2010-05-27 | 2017-05-31 | 爱斯福公司 | 多采集otdr方法及装置 |
| CN103124193B (zh) * | 2011-11-21 | 2015-11-18 | 上海光家仪器仪表有限公司 | 基于嵌入式系统的多功能光时域反射仪 |
| US9641243B2 (en) | 2015-02-23 | 2017-05-02 | Exfo Inc. | Safe-mode OTDR method |
| EP3401662A1 (en) * | 2017-05-12 | 2018-11-14 | ADVA Optical Networking SE | A method and apparatus for measurement of a backscattered trace of a fiber |
| US11387922B2 (en) | 2020-02-25 | 2022-07-12 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Receiver with a power detecting function for a pulsed signal and receiving method |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6033011B2 (ja) * | 1978-05-28 | 1985-07-31 | 日本ビクター株式会社 | 自動音量減衰装置 |
| JPS6150033A (ja) * | 1984-08-18 | 1986-03-12 | Iwatsu Electric Co Ltd | タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ |
| DE3506884A1 (de) * | 1985-02-27 | 1986-08-28 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Optisches zeitbereichsreflektometer mit heterodyn-empfang |
| DE3609371A1 (de) * | 1986-03-20 | 1987-09-24 | Philips Patentverwaltung | Optisches zeitbereichsreflektometer mit heterodyn-empfang |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP63244226A patent/JPH0762642B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-17 US US07/258,995 patent/US4893006A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-19 DE DE3850210T patent/DE3850210T4/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-19 DE DE3850210A patent/DE3850210D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-19 EP EP88117405A patent/EP0313020B1/en not_active Expired - Lifetime
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| JP4688231B2 (ja) * | 2006-07-03 | 2011-05-25 | アンリツ株式会社 | オプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3850210T2 (de) | 1995-01-26 |
| EP0313020A2 (en) | 1989-04-26 |
| US4893006A (en) | 1990-01-09 |
| JPH0762642B2 (ja) | 1995-07-05 |
| EP0313020B1 (en) | 1994-06-15 |
| EP0313020A3 (en) | 1991-04-10 |
| DE3850210T4 (de) | 1995-08-10 |
| DE3850210D1 (de) | 1994-07-21 |
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