JPH10116423A - フォーカス制御の引き込み装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 モータ１０１、移送台１１５等の取り付け誤
差によって高さずれが生じてもディスク１００の基材表
面に広範囲に傷を付けることがないフォーカス制御の引
き込み装置を提供することを目的とする。また、フォー
カス制御を動作させた場合に焦点位置が制御可能範囲Ｍ
を逸脱しないフォーカス制御の引き込み装置を提供する
ことを目的とする。 【解決手段】 マイコン１３５は、Ｄ／Ａ変換器１３１
に値を設定して集束レンズ１０３をディスク１００に近
づける。コンパレータ１３２によって焦点位置とディス
ク１００の情報面が一致したことが検出されると、マイ
コン１３５はディジタルフィルタ１２５を動作状態にす
ると共にＤ／Ａ変換器１３１の設定値をホールドする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置の
集束レンズを駆動して光ビームの焦点を光ディスクの情
報面に一致させるフォーカス制御系におけるフォーカス
制御の引き込み装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１４は従来のフォーカス制御の引き込
み装置を示すブロック図である。

【０００３】移送台１１５には、レーザ１０９、カップ
リングレンズ１０８、偏光ビ−ムスプリッタ１１０、１
／４波長板１０７、全反射鏡１０５、光検出器１１３お
よびアクチュエ−タ１０４が取り付けられており、移送
台１１５は、たとえばリニアモータ等の移送モータ（図
示せず。）によってディスク１００の半径方向に移動す
るように構成されている。

【０００４】移送台１１５に取り付けられたレ−ザ１０
９より発生した光ビ−ムは、カップリングレンズ１０８
で平行光にされた後に、偏光ビ−ムスプリッタ１１０、
１／４波長板１０７を通過し、全反射鏡１０５で反射さ
れ、集束レンズ１０３によりディスク１００の情報面上
に集束して照射される。

【０００５】ディスク１００の情報面により反射された
反射光は、集束レンズ１０３を通過して全反射鏡１０５
で反射され、１／４波長板１０７、偏光ビ−ムスプリッ
タ１１０、検出レンズ１１１、円筒レンズ１１２を通過
して４分割された光検出器１１３上に照射される。集束
レンズ１０３はアクチュエ−タ１０４の可動部に取り付
けられている。アクチュエ−タ１０４はコイル、永久磁
石より構成されている。したがって、アクチュエ−タ１
０４のコイル（図示せず。）に電力増幅器１２８を用い
て電圧を加えるとコイルに電流が流れ、コイルは永久磁
石（図示せず。）から磁気力を受ける。よって、集束レ
ンズ１０３はディスク１００の面と垂直な方向（図では
上下方向）に移動する。集束レンズ１０３は光ビーム１
０６の焦点とディスク１００の情報面とのずれを示すフ
ォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と記す。）に基づ
いて光ビ−ム１０６の焦点が常にディスク１００の情報
面に位置するように制御される。

【０００６】光検出器１１３上に照射されたディスク１
００からの反射光は、４分割された光検出器１１３によ
ってそれぞれ電流に変換され、Ｉ／Ｖ変換器１１６、１
１７、１１８、１１９に入力される。Ｉ／Ｖ変換器１１
６、１１７、１１８、１１９は、入力される電流をその
電流レベルに応じて電圧に変換する。加算器１２０、１
２１は入力信号を加算して、差動増幅器１２２に送る。
差動増幅器１２２は入力電圧の差を演算し、演算した値
を出力する。図１４に示した光学系は一般に非点収差法
と呼ばれるフォーカスエラー検出方式を構成している。
従って、差動増幅器１２２の出力が光ビーム１０６の焦
点とディスク１００の情報面とのずれを示すＦＥ信号と
なる。

【０００７】ＦＥ信号は、スイッチ８０１、位相補償回
路８００及び加算器１２７を介して電力増幅器１２８に
送られる。電力増幅器１２８によりアクチュエータ１０
４のコイルに電流が流れる。スイッチ８０１、８０４は
端子ｄがハイレベルの場合に端子ａと端子ｂが接続さ
れ、ローレベルの場合に端子ａと端子ｃが接続される。

【０００８】位相補償回路８００はフォーカス制御系を
安定にする。ＦＥ信号に応じて集束レンズ１０３が駆動
されるので光ビーム１０６の焦点が常に情報面上に位置
する。

【０００９】次に上述したフォーカス制御の引き込みに
ついて説明する。最初に図１５を用いてＦＥ信号につい
て説明する。波形（ｂ）はＦＥ信号を示す。縦軸はＦＥ
信号のレベルを示し、横軸は光ビーム１０６の焦点位置
とディスクの情報面の距離を示す。距離がｕ１の場合
は、光ビームの焦点位置が情報面から非常に離れている
場合を示す。同様にｕ２の場合は、焦点位置が基材の表
面と一致した場合を示す。ｕ４の場合は焦点位置が情報
面に一致した場合でる。従って、ｕ４＝０である。ｕ５
の場合は、焦点位置が情報面より上にある場合を示す。
模式図（ａ）は、ｕ１、ｕ２、ｕ４、ｕ５の場合の光ビ
ームの焦点位置とディスクの情報面の位置関係を示して
いる。

【００１０】距離がｕ４の近傍でＦＥ信号はＳ字の様な
変化をする。一般にＳ字カーブと呼ばれる。図１５に示
した範囲Ｍがほぼフォーカス制御の制御可能範囲であ
る。範囲Ｍは通常２０ｕｍ程度である。

【００１１】フォーカス制御の引き込みは、ｕ４のＦＥ
信号がゼロクロスするタイミングを検出してフォーカス
制御を動作状態にすることで行われる。

【００１２】ところで、距離がｕ２の場合に、小さなＳ
字カーブが現れる。これは基材がポリカーボネート等の
樹脂でできているので屈折率が空気と異なるため光ビー
ムが反射するためである。従って、このｕ２でのゼロク
ロスを検出しないようにするため、集束レンズ１０３を
光ビームの焦点とディスク１００の情報面の距離がｕ５
となるまで一旦上げる。そして、集束レンズ１０３を徐
々に下げながら最初のゼロクロスのタイミングでフォー
カス制御系を動作させる。集束レンズ１０３を一旦上げ
ることで、ｕ４のゼロクロスを正確に検出することがで
きる。

【００１３】ゼロクロスの検出はコンパレータ１３２で
行っている。コンパレータ１３２の−端子にはＥ１の基
準電圧１３３が接続されている。また、＋端子にはＦＥ
信号が接続されている。従って、光ビームの焦点とディ
スクの情報面の距離がｕ３になった時点でコンパレータ
１３２の出力であるゼロクロス検出信号がハイレベルに
なる。このタイミングでフォーカス制御系が動作を開始
する。

【００１４】尚、基準電圧１３３をＥ２とすれば集束レ
ンズを上げながらｕ４のゼロクロスを検出することがで
きる。しかしながら、検出の遅延が大きくなりフォーカ
ス制御の応答性が低い場合にはオーバーシュートが原因
で焦点位置が制御可能範囲Ｍを超えてしまうことがあ
る。尚、この場合はゼロクロス検出信号がローレベルに
なったタイミングがＦＥ信号がゼロクロスしたタイミン
グを示す。

【００１５】図１６の波形を用いてフォーカス制御の引
き込みを説明する。波形（ａ）はマイコン８０２の端子
ａの出力を示す。波形（ｂ）は信号発生回路８０３の端
子ａの出力を、波形（ｃ）は光ビームの焦点位置を、波
形（ｄ）はＦＥ信号を、波形（ｅ）は信号発生回路８０
３の端子ｂの出力を、波形（ｆ）はコンパレータ１３２
の出力を、波形（ｇ）はマイコン８０２の端子ｂの出力
をそれぞれ示す。スイッチ８０１、８０４は端子ｄがロ
ーレベルの場合は端子ａに端子ｃの信号が出力され、端
子ｄがハイレベルの場合は出力端子ａに端子ｂの信号が
出力される。

【００１６】波形（ａ）の時間ｔ０でフォーカス制御の
引き込みが開始され、マイコン８０２の端子ａがハイレ
ベルになると、信号発生回路８０３は端子ｂをローレベ
ルにして端子ａに波形（ｂ）に示す電圧を出力し、この
電圧が加算回路１２７を介して電力増幅器１２８に送ら
れる。従って、集束レンズ１０３はディスク１００に近
づいていく。光ビーム１０６の焦点も同様にディスク１
００の情報面に近づいていく。時間ｔ１で焦点位置は基
材表面と一致する。ＦＥ信号には小さなＳ字カーブが現
れる。その後時間ｔ２で焦点位置は情報面と一致する。
ＦＥ信号にはＳ字カーブが現れる。その後、集束レンズ
１０３はさらに移動し時間ｔ３で停止する。

【００１７】信号発生回路８０３の端子ａの出力は時間
ｔ３以降は徐々に減少する。従って、焦点位置は情報面
に向かって移動する。また、信号発生回路８０３は時間
ｔ３で端子ｂをハイレベルに切り換える。マイコン８０
２は信号発生回路８０３の端子ｂのレベルがハイレベル
になると端子ｄに入力されるゼロクロス検出信号を調べ
る。以下では、ゼロクロス検出信号を検出してフォーカ
ス制御の引き込みを許可する信号を引き込み許可信号と
いう。

【００１８】時間ｔ４で情報面と焦点位置が一致する。
ＦＥ信号は波形（ｄ）に示すように時間ｔ４でゼロクロ
スする。ゼロクロスした直後の時間ｔ５でコンパレータ
１３２の出力がハイレベルになる。マイコン８０２は端
子ｃがハイレベルであるので端子ｄに入力されるゼロク
ロス検出信号を検出して端子ｂをハイレベルに切り換え
る。従って、スイッチ８０１の端子ａと端子ｂが接続さ
れ、フォーカス制御ループが閉じる。即ち、フォーカス
制御は動作状態になる。マイコン８０２は、Ａ／Ｄ変換
器１３４を介してエンベロープ信号を取り込む。エンベ
ロープ信号が所定のレベル以上であるとフォーカス制御
が正常に引き込めたと判断する。エンベロープ信号が所
定のレベル以下の場合は再度フォーカス制御の引き込み
を行う。エンベロープ信号について図１７を用いて説明
する。波形（ａ）は制御可能範囲におけるＦＥ信号を、
波形（ｂ）はＡＳ信号を、波形（ｃ）はエンベロープ信
号を示す。尚、図１４ではＥＮＶ信号と記している。Ａ
Ｓ信号は光検出器１１３に入射するディスク１００から
の全反射光量を示す。ＡＳ信号は情報面に予め凹凸で記
録されている情報によって変調を受ける。情報を示す信
号は、波形（ｂ）の振幅Ｌの成分である。エンベロープ
検出回路１３６はディスクに記録されている情報成分を
検出する。エンベロープ検出信号は、この情報成分を検
出し、振幅Ｌの信号になる。従って、エンベロープ信号
のレベルが所定のレベル以上の場合はフォーカス制御が
正常に動作している。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】モータ１０１、移送台
１１５等の取り付け誤差によって高さずれが生じること
がある。集束レンズ１０３がディスク１００に近づく方
向に大きな高さずれが生じた場合、集束レンズ１０３を
ディスク１００に近づけた際にディスク１００の基材と
集束レンズ１０３が衝突する。ディスク１００は回転し
ているので衝突によって基材表面に広範囲に渡って傷が
付き信号の再生性能が大幅に劣化する。ディスク１００
を停止してフォーカス制御を引き込んだ場合にはエンベ
ロープ信号が生成されないので、フォーカス制御が正確
に引き込めたか否かを判断するためにはモータ１０１を
回転する必要がある。フォーカス制御が正常に引き込め
ない場合には再度モータ１０１の停止し、フォーカス制
御の引き込みを行う必要があり、フォーカス制御の引き
込み時間が増大する。

【００２０】また、高さずれが生じた場合には信号発生
回路８０３の出力値が零から大きくずれた値の時に焦点
位置と情報面が一致する。即ち、集束レンズ１０３を中
立位置から大きく動かした位置で焦点位置と情報面が一
致する。この状態でフォーカス制御を動作させると直後
の位相補償回路８００の出力値は零であるので、集束レ
ンズ１０３は中立位置の方向に向かって移動しようとす
る。従って、焦点位置は一旦情報面からずれる。図１６
の波形（ｃ）に示すように時間ｔ５直後に焦点位置はず
れる。それによって、波形（ｄ）に示すようにＦＥ信号
のレベルも増大する。その後フォーカス制御系によって
焦点位置は、情報面に一致するように制御される。フォ
ーカス制御系の応答性が悪い場合には焦点位置は制御可
能範囲Ｍを逸脱する場合がある。

【００２１】本発明は、上記問題点に鑑み、モータ１０
１、移送台１１５等の取り付け誤差によって高さずれが
生じてもディスク１００の基材表面に傷を付けることが
ないフォーカス制御の引き込み装置を提供することを目
的とする。また、フォーカス制御を動作させた場合に焦
点位置が制御可能範囲Ｍを逸脱しないフォーカス制御の
引き込み装置を提供することを目的とする。

【００２２】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、請求項１にかかるフォーカス制御の引き込み装置
は、ディスクの情報面より信号を再生する光ビームの焦
点位置と情報面とのずれ量を検出する焦点ずれ検出手段
と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動する移動
手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づいて情報面
上に前記焦点位置があるように前記移動手段を制御する
フォーカス制御手段と、信号発生手段と、前記信号発生
手段の出力信号に応じて前記焦点位置が情報面に接近す
るように前記移動手段を制御する接近手段と、前記焦点
ずれ検出手段の信号に基づいて前記焦点が情報面の近傍
にあることを検出する情報面検出手段とを備え、前記接
近手段により前記移動手段を駆動した際に前情報面検出
手段の信号に応じてフォーカス制御を動作させると共
に、前記接近手段手段をホールド状態にするようにした
ものである。

【００２３】請求項２にかかるフォーカス制御の引き込
み装置は、ディスクの情報面より信号を再生する光ビー
ムの焦点位置と情報面とのずれ量を検出する焦点ずれ検
出手段と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動す
る移動手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づいて
情報面上に前記焦点位置があるように前記移動手段をＰ
ＩＤ制御するフォーカス制御手段と、信号発生手段と、
前記信号発生手段の出力信号に応じて前記焦点位置が情
報面に接近するように前記移動手段を制御する接近手段
と、前記焦点ずれ検出手段の信号に基づいて前記焦点が
情報面の近傍にあることを検出する情報面検出手段とを
備え、前記接近手段により前記移動手段を駆動した際に
前情報面検出手段の信号に応じてフォーカス制御を動作
させると共に、前記ＰＩＤ制御のＩ信号生成系の積分器
の初期値を前記接近手段手段の値に基づいて設定するよ
うにしたものである。

【００２４】請求項３にかかるフォーカス制御の引き込
み装置は、ディスクを回転させるモータと、ディスクの
情報面より信号を再生する光ビームの焦点位置と情報面
とのずれ量を検出する焦点ずれ検出手段と、前記光ビー
ムのディスクからの反射光を検出する反射光検出手段
と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動する移動
手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づいて情報面
上に前記焦点位置があるように前記移動手段を制御する
フォーカス制御手段と、信号発生手段と、前記信号発生
手段の出力信号に応じて前記焦点位置が情報面に接近す
るように前記移動手段を制御する第１の接近手段と、前
記焦点位置が情報面を通過するように前記移動手段を制
御する第２の接近手段と、前記焦点ずれ検出手段の信号
に基づいて前記焦点が情報面の近傍にあることを検出す
る情報面検出手段と、前記モータを停止した状態で前記
第２の接近手段を動作させた際の前記反射光量検出手段
の出力値の最大値Ｑを測定する最大値検出手段とを備
え、前記モータを動作状態にして前記第１の接近手段に
より前記移動手段を駆動して前情報面検出手段の信号に
応じて前記フォーカス制御手段を動作させる際に、予め
前記最大値検出手段により測定した最大値Ｑに応じて前
記第２の接近手段による前記焦点位置の移動範囲を制限
するようにしたものである。

【００２５】

【発明の実施の形態】本発明のフォーカス制御の引き込
み装置は、モータ、アクチュエータ等の取り付け誤差に
よって高さずれが生じてもフォーカス制御を動作させる
前後でＤＣ的にレンズ位置が変化しないので安定にフォ
ーカス制御の引き込みができる。

【００２６】また、アクチュエータ等の取り付け誤差に
よって高さずれが生じ、レンズがディスクに衝突する可
能性がある場合でも、レンズとディスクが近づいたこと
を検出してレンズの移動を停止するのでレンズとディス
クが衝突することがない。

【００２７】以下、本発明の実施の形態について図面を
参照しながら説明する。 （実施の形態１）以下、本発明の実施の形態１によるフ
ォーカス引き込み装置について、そのブロック図である
図１を用いて説明する。図１４に示した従来例と同様な
ブロックには同一の番号を付して説明を省略する。

【００２８】図１４と異なる点は、位相補償回路８０
０、スイッチ８０１、スイッチ８０４、信号発生回路８
０３が削除され、アナログ・ディジタル変換器（Ａ／Ｄ
変換器）１２４、ディジタルフィルタ１２５、ディジタ
ル・アナログ変換器（Ｄ／Ａ変換器）１２６が追加され
た点である。Ａ／Ｄ変換器１２４はＦＥ信号をディジタ
ル信号に変換する。ディジタルフィルタ１２５は従来の
位相補償回路８００をディジタルで構成したものであ
る。Ｄ／Ａ変換器１２６は、ディジタル信号をアナログ
信号に変換する。フォーカス制御の引き込みについて図
２を用いて説明する。波形（ａ）はＤ／Ａ変換器１３１
の出力波形を示す。波形（ｂ）は焦点の位置を、波形
（ｃ）はＦＥ信号を、波形（ｄ）はコンパレータ１３２
の出力であるゼロクロス検出信号を、波形（ｅ）は引き
込み許可信号を、波形（ｆ）はマイコン１３５の端子ａ
の波形をそれぞれ示す。尚、引き込み許可信号は、マイ
コン１３５の内部信号である。

【００２９】マイコン１３５は端子ａをローレベルにす
ることでディジタルフィルタ１２５を不動作にする。デ
ィジタルフィルタ１２５の出力は零になる。詳細につい
ては後述する。波形（ａ）の時間ｔ１０にフォーカス制
御の引き込み動作が開始する。マイコン１３５は端子ｂ
を介してＤ／Ａ変換器１３１に値を設定する。Ｄ／Ａ変
換器１３１の出力値は徐々に増加する。Ｄ／Ａ変換器１
３１の出力値が徐々に増加する期間は、波形ａの時間ｔ
１０から時間ｔ１２の期間である。Ｄ／Ａ変換器１３１
の出力は加算器１２７を介して電力増幅器１２８に送ら
れる。集束レンズ１０３は時間ｔ１２でディスクに最も
近づく。時間ｔ１２の状態は、焦点位置がディスクの情
報面を通り過ぎてさらにディスクに近づいた状態であ
る。従って、時間ｔ１１で情報面と焦点が一致する。時
間ｔ１２以降はＤ／Ａ変換器１３１の出力は徐々に低下
する。従って、時間ｔ１２以降は集束レンズは徐々に下
がる。マイコン１３５は内部の引き込み許可信号をハイ
レベルにして、時間ｔ１２以降に端子ｃに入力されるゼ
ロクロス検出信号を取り込む。時間ｔ１２以降は焦点は
ディスクの情報面に近づいていく。時間ｔ１３に焦点と
情報面が一致する。その直後にゼロクロス検出信号がハ
イレベルになる。マイコン１３５は時間ｔ１４にゼロク
ロス検出信号がハイレベルになったことを検出してＤ／
Ａ変換器１３１の出力値を時間ｔ１４の値に固定する。
従って、時間ｔ１４以降はＤ／Ａ変換器１３１の出力値
はＤとなる。そして、端子ａをハイレベルに切り換えて
ディジタルフィルタ１２５を動作状態にする。

【００３０】従って、時間ｔ１４以降はフォーカス制御
が動作状態になる。ディジタルフィルタ１２５の時間ｔ
１４における出力値は、零であるがＤ／Ａ変換器１３１
の出力がＤであるので集束レンズ１０３がフォーカス制
御系が動作した直後にずれることがない。マイコン１３
５は、Ａ／Ｄ変換器１３４を介してエンベロープ信号を
取り込む。エンベロープ信号が所定のレベル以上である
とフォーカス制御が正常に動作していると判断する。

【００３１】次に、図２の時間ｔ１０から時間ｔ１２の
期間集束レンズが徐々にディスクに近づく動作について
図３のアクチュエータ１０４の特性を用いて説明する。
図３はアクチュエータ１０４の周波数特性を示す。一般
にボード線図と呼ばれる図である。横軸が周波数を示
す。特性図（ａ）の縦軸がゲインを示す。特性図（ｂ）
の縦軸が位相を示す。アクチュエータ１０４の集束レン
ズ１０３はバネを介して移送台１１５に取り付けられて
いる。また、バネにはゴム等の粘性を持った物質が張り
付けられている。電力増幅器１２８によってコイルに流
れる電流をｉとし、集束レンズ１０３の位置をｘとする
と、ｘとｙの関係は数１の微分方程式で表すことができ
る。ｗは一般に固有角周波数と呼ばれ、ａは減衰率と呼
ばれる。

【００３２】

【数１】

【００３３】数１をボード線図で表すと上述した図３の
ボード線図になる。従って、周波数が５０Ｈｚでゲイン
は高くなり、位相は−９０度となる。また、５０Ｈｚよ
り低い周波数では、感度は周波数に因らず一定で、位相
遅れは無い。図２の波形（ａ）に示した時間ｔ１０から
ｔ１２の期間はコイルの電流は徐々に増加する。時間ｔ
１０からｔ１２の期間の電流の変化は５０Ｈｚ以下にし
ているので集束レンズ１０３の位置は、電流値ｉのレベ
ルに対応する。時間ｔ１２から時間ｔ１４の期間も同様
である。

【００３４】従って、図２の波形（ａ）に示したＤが高
さずれに相当する集束レンズ１０３の駆動電流ｉのレベ
ルに対応している。

【００３５】図１に示したディジタルフィルタ１２５の
ブロック図を図４に示す。図４において入力端子２００
は図１のＡ／Ｄ変換器１２４に、端子２０１はマイコン
１３５の端子ａに、端子２０２はＤ／Ａ変換器１２６に
接続されている。スイッチ２０３はフォーカス制御のオ
ン又はオフを切り換える。加算器２０４、２０５、２０
６は、入力信号を加算し出力する。減算器２０７は入力
信号を減算する。乗算器２０８、２０９は、入力信号に
係数を乗算し出力する。このディジタルフィルタ１２５
は周期Ｔの基準クロックＣＬＫの立ち上がりエッジに同
期して動作しており、遅延回路２１０、２１１は入力信
号を周期Ｔの時間だけ遅延し出力する。遅延回路２１
０、２１１は端子ａに入力されるディジタルデータを基
準クロックＣＬＫの立ち上がりエッジに同期して記憶し
て端子ｂより出力するランダムアクセスメモリ（ＲＡ
Ｍ）で構成されている。以下では、遅延器２１１のＲＡ
ＭをＲＡＭ１と、遅延器２１０のＲＡＭをＲＡＭ２と言
う。ディジタルフィルタ１２５の点線で示したブロック
Ａはフォーカス制御系の低域のゲインを高くする位相遅
れ補償フィルタで、ブロックＢはゲイン交点近傍の位相
余裕を確保するための位相進み補償フィルタである。即
ち、ディジタルフィルタ１２５はＰＩＤ制御系を実現す
るための位相補償フィルタである。遅延回路２１０、２
１１は端子ｃがローレベルになると記憶している値がク
リアーされる。即ち、遅延の動作を停止する。

【００３６】図５にディジタルフィルタ１２５のゲイン
及び位相の特性を示す。特性（ａ）がブロックＡの特性
を、特性（ｂ）がブロックＢの特性を、特性（ｃ）がブ
ロックＡ、ブロックＢ及びＰ信号を加算した全体の特性
を各々示す。なお、縦軸はゲイン及び位相を示し、横軸
は周波数を対数（Ｌｏｇ）で示している。ブロックＡの
特性（ａ）は、積分を示しゲインの傾きは−２０ｄＢ／
ｄｅｃとなる。また、ブロックＢの特性（ｂ）のｆｇ近
傍のゲインの傾きは、ほぼ２０ｄＢ／ｄｅｃとなる。特
性（ｃ）に示した周波数ｆｇがフォーカス制御系のゲイ
ン交点でありその周波数で位相余裕を確保するために位
相進みが最大になっている。また、ブロックＡの位相遅
れ補償フィルタの効果が現れるのは周波数ｆｌ以下であ
りそれに伴って位相が遅れている。なお、一般にｆｇは
数１００Ｈｚから数ｋＨｚに設定されている。尚、上述
したようにアクチュエータ１０４の駆動電流に対する変
位の関係は一般に２次比例要素の特性になっており、ゲ
イン交点近傍では−４０ｄＢ／ｄｅｃの傾きになってい
る。

【００３７】（実施の形態２）以下、本発明の実施の形
態２によるフォーカス制御の引き込み装置について、そ
のブロック図である図６を用いて説明する。図１に示し
た第１の実施の形態と同様なブロックには同一の番号を
付して説明を省略する。

【００３８】図１と異なる点は、ディジタルフィルタ１
２５がディジタルフィルタ２５０に、マイコン１３５が
マイコン２５１にそれぞれ置き換わっている点である。

【００３９】フォーカス引き込みについて図７を用いて
説明する。波形（ａ）はＤ／Ａ変換器１３１の出力波形
を示す。波形（ｂ）は焦点の位置を、波形（ｃ）はＦＥ
信号を、波形（ｄ）はコンパレータ１３２の出力である
ゼロクロス検出信号を、波形（ｅ）は引き込み許可信号
を、波形（ｆ）はマイコン２５１の端子ａの波形を、波
形（ｇ）はディジタルフィルタ２５０の出力信号をそれ
ぞれ示す。尚、引き込み許可信号は、マイコン２５１の
内部信号である。

【００４０】図７の時間ｔ２３までの動作は実施の形態
１の動作と同様なので説明を省略する。尚、時間ｔ２０
は時間ｔ１０に対応する。同様に時間ｔ２１は時間ｔ１
１に、時間ｔ２２は時間ｔ１２に、時間ｔ２３は時間ｔ
１３にそれぞれ対応する。

【００４１】時間ｔ２４でマイコンはＤ／Ａ変換器１３
１の出力を零にする。そして、ディジタルフィルタ２５
０の出力がＤになるようにディジタルフィルタ１２５の
内部のＩ信号生成系のＲＡＭの初期値を設定する。その
後にディジタルフィルタ２５０を動作状態にすることで
フォーカス制御を動作状態にする。従って、時間ｔ２４
以降はフォーカス制御が動作状態になる。時間ｔ２４の
Ｄ／Ａ変換器１３１の出力は零であるがディジタルフィ
ルタ２５０の出力値は、Ｄであるので集束レンズ１０３
がフォーカス制御系が動作した直後にずれることがな
い。マイコン２５１は、Ａ／Ｄ変換器１３４を介してエ
ンベロープ信号を取り込む。エンベロープ信号が所定の
レベル以上であるとフォーカス制御が正常に引き込めた
と判断する。

【００４２】次にディジタルフィルタ２５０について図
８を用いて説明する。図８はディジタルフィルタ２５０
のブロック図を示す。端子２６０はＡ／Ｄ変換器１２４
に接続されている。端子２６２はＤ／Ａ変換器１２６
に、端子２６１はマイコン２５１の端子ａに、端子２７
２はマイコン２５１の端子ｆに、端子２７３はマイコン
２５１の端子ｇにそれぞれ接続されている。

【００４３】実施の形態２のディジタルフィルタ２５０
が実施の形態１のディジタルフィルタ１２５と異なる点
は、ＲＡＭ１の機能である。ＲＡＭ１には外部より所定
のデータを書き込める機能が付加されている。ＲＡＭ１
の端子ｄがデータを入力する端子で、端子ｅが書き込み
パルスを入力する端子である。端子ｅがハイレベルにな
るとその時の端子ｄに設定されたデータがＲＡＭ１の値
に記憶される。

【００４４】図９の波形を用いてディジタルフィルタ２
５０の動作を説明する。波形（ａ）は、ディジタルフィ
ルタ２５０の基準クロックＣＬＫである。立ち上がりエ
ッジに同期してフィルタが動作する。波形（ｂ）はディ
ジタルフィルタ２５０の端子２７２に設定されるディジ
タルデータを示す。波形（ｃ）は端子２７３の波形を、
波形（ｄ）は端子２６１の波形を、波形（ｅ）は端子２
６２の波形を、波形（ｆ）はＤ／Ａ変換器１３１の出力
波形を、波形（ｇ）は加算器１２７の出力波形をそれぞ
れ示す。

【００４５】時間ｔ３０からｔ３２の期間は、図７の時
間ｔ２４の近傍の期間を示す。時間ｔ３０でゼロクロス
が検出されるとマイコン２５１は端子ａの信号をローレ
ベルからハイレベルに切り換える。従ってスイッチ２６
３は閉じる。また、ＲＡＭ１、ＲＡＭ２はクリアー状態
が解除される。また、マイコン２５１はディジタルフィ
ルタ２５０の端子２７２にＤに相当するディジタルデー
タを設定する。時間ｔ３１で書き込みパルスがディジタ
ルフィルタ２５０に送られる。従って、ＲＡＭ１の値は
Ｄに相当するディジタル値になる。時間ｔ３１ではディ
ジタルフィルタ２５０のクリアー状態が解除された以後
にクロックＣＬＫの立ち上がりエッジが入力されていな
いので、Ｉ信号の値は零である。また、Ｐ信号の値はＦ
Ｅ信号のゼロクロス近傍であるのでほぼ零である。従っ
て、ディジタルフィルタ２５０の出力値はＤに相当する
ディジタル値である。ディジタルフィルタ２５０の出力
はＤ／Ａ変換器１２６に送られる。従って、Ｄ／Ａ変換
器１２６の出力値はＤとなる。また、時間ｔ３１でＤ／
Ａ変換器１３１の出力値は零になる。よって、加算器１
２７の出力は時間ｔ３１の前後でＤとなる。

【００４６】時間ｔ３２でディジタルフィルタ２５０の
クリアー状態が解除された後の最初の基準クロックＣＬ
Ｋの立ち上がりエッジが入力される。ディジタルフィル
タ２５０は動作を開始する。

【００４７】実施の形態２では、ディスクの内周側と外
周側を再生する場合に異なる高さずれがあっても高さず
れに応じてＲＡＭ１の値が変化する。これに対し、一定
の駆動電流を常時加える実施の形態１では、高さずれが
異なると、その差が外乱となり制御精度を悪化させる。
従って、高さずれの量が異なる場合でも制御精度を悪化
させることがない。

【００４８】ところで、実施の形態２及び３のフォーカ
ス制御の引き込み装置は、集束レンズ１０３を一旦ディ
スク１００に近づけ、その後徐々に下げながらＦＥ信号
が最初にゼロクロスするタイミングでフォーカス制御を
動作させる。これは、従来の技術で説明したようにディ
スクの基材表面でＦＥ信号がゼロクロスした場合の誤検
出を防止するためである。しかしながら従来の技術にお
いて図１５で説明したように基準電圧１３３をＥ２に変
更すれば、集束レンズ１０３を徐々に上げながら最初に
ゼロクロス検出信号がローレベルになるタイミングでフ
ォーカス制御を動作させることで正常にフォーカス制御
を引き込むことができる。実施の形態２及び３で説明し
たフォーカス制御の引き込み装置は、基準電圧１３３を
Ｅ２に変更して、集束レンズ１０３を徐々に上げながら
最初にゼロクロス検出信号がローレベルになるタイミン
グでフォーカス制御を動作させるように変更しても発明
が目的とする効果を同様に発揮する。従って、実施の形
態２及び３で説明した発明はフォーカス制御を動作させ
る際の集束レンズ１０３の移動方向に限定されるもので
はない。

【００４９】（実施の形態３）以下、本発明の実施の形
態３によるフォーカス引き込み装置について、そのブロ
ック図である図１０を用いて説明する。図１に示した第
１の実施の形態と同様なブロックには同一の番号を付し
て説明を省略する。

【００５０】図１と異なる点は、マイコン１３５がマイ
コン３００に入れ替わっている点である。また、ＬＰＦ
３０１、Ａ／Ｄ変換器３０２が追加されている。マイコ
ン３００はＡ／Ｄ変換器３０２の出力を取り込むことが
できる。また、モータ１０１の回転をオン又はオフでき
る構成になっている。

【００５１】尚、実施の形態３においては、高さずれが
大きく集束レンズを可能範囲の上限まで上げた場合に集
束レンズ１０３がディスク１００の基材表面と衝突する
場合を示している。

【００５２】最初に図１１を用いてローパスフィルタ３
０１（以下、ＬＰＦと記す。）の出力信号であるＡＳＬ
について説明する。模式図（ａ）と、ディスク１００と
ビーム１０６の焦点との関係を示す。波形ｂはＦＥ信号
を示す。模式図（ａ）及び波形（ｂ）は従来例で用いた
図１５と同様である。波形（ｃ）がＡＳＬ信号を示す。

【００５３】ＡＳＬ信号は、光検出器１１３に入射する
全反射光量の低周波信号成分のレベルを示している。従
って、焦点とディスク１００の情報面が一致した場合に
最大となる。尚、焦点とディスク１００の基材表面が一
致した場合でもＡＳＬのレベルは高くなるが、基材表面
の反射率は情報面の反射率に比べ非常に低いのでｕ４の
場合にＡＳＬは最大になる。

【００５４】フォーカス制御の引き込みについて図１１
を用いて説明する。図１２の波形（ａ）はＤ／Ａ変換器
１３１の出力波形を示す。波形（ｂ）はＡＳＬ信号を、
波形（ｃ）はＦＥ信号を、波形（ｄ）はゼロクロス検出
信号を、波形（ｅ）は引き込み許可信号を、波形（ｆ）
はモータのオン／オフ信号を示す。モータのオン／オフ
信号はローレベルでオフを、ハイレベルでオンを示す。

【００５５】マイコン３００は初期状態でモータ１０１
を停止させておく。マイコン３００は端子ａをローレベ
ルにすることでディジタルフィルタ１２５を不動作にす
る。ディジタルフィルタ１２５の出力は零になる。波形
（ａ）の時間ｔ４０にフォーカス引き込み動作が開始す
る。マイコン３００は端子ｂを介してＤ／Ａ変換器１３
１に値を設定する。Ｄ／Ａ変換器１３１の出力値は徐々
に増加する。Ｄ／Ａ変換器１３１の出力値が徐々に増加
する期間は、波形（ａ）の時間ｔ４０から時間ｔ４３の
期間である。Ｄ／Ａ変換器１３１の出力は加算器１２７
を介して電力増幅器１２８に送られる。焦点は時間ｔ４
１で基材表面と一致し、時間ｔ４２で情報面と一致す
る。時間ｔ４２でＡＳＬ信号は最大になる。マイコン３
００はＡＳＬの最大値Ｑを内部のＲＡＭｑに記憶してお
く。焦点は時間４３でディスクに最も近づく。高さずれ
があるので集束レンズ１０３はディスク１００の基材表
面と衝突する。しかしながら、モータ１０１はオフ状態
であり、集束レンズ１０３の移動速度は低速であるので
集束レンズ１０３及びディスク１００には傷が付かな
い。

【００５６】時間ｔ４３以降はＤ／Ａ変換器１３１の出
力は徐々に低下する。従って、時間ｔ４３以降は集束レ
ンズ１０３は徐々に下がる。時間ｔ４４で集束レンズ１
０３はディスク１００から最も離れる。

【００５７】マイコン３００は時間ｔ４４にモータ１０
１をオンにする。従ってディスク１００は回転を始め
る。マイコン３００は時間ｔ４５になるとＤ／Ａ変換器
１３１の出力値を徐々に増加させる。従って、焦点位置
はディスク１００に徐々に近づいていく。時間ｔ４６に
ＡＳＬの値がＱ／２になるとマイコンはタイマー３０３
をスタートさせる。タイマー３０３の値が所定の値にな
るまでＤ／Ａ変換器１３１の出力値を徐々に増加させ
る。所定の値をＴｕｐと記す。時間ｔ４７で焦点と情報
面が一致する。時間ｔ４８でタイマー３０３の測定値が
所定の値になるとマイコン３００はＤ／Ａ変換器１３１
の出力値を徐々に低下させる。また、時間ｔ４８以後は
引き込み許可信号をハイレベルにしてゼロクロス検出信
号の検出を開始する。

【００５８】時間ｔ４９でゼロクロス検出信号がハイレ
ベルになるとフォーカス制御系を動作状態にする。時間
４９以後の動作は実施の形態１において図２を用いて説
明した時間ｔ１４以後の動作と同様である。尚、マイコ
ン３００はエンベロープ信号をＡ／Ｄ変換器１３４を介
して取り込む。エンベロープ信号が所定のレベル以下の
場合には、フォーカス制御が正常に動作していないとし
て再度フォーカス制御の引き込みを行う。この場合に
は、モータ１０１を停止してＡＳＬの最大値の測定はし
ない。図１２の時間ｔ４５以降の動作を再度行う。

【００５９】Ｔｕｐが大きい場合には集束レンズ１０３
がディスク１００に近づき衝突する場合が起こり得る。

【００６０】そこでＴｕｐの設定方法について説明す
る。図１３に焦点とディスク１００の情報面が一致した
場合の模式図を示す。集束レンズ１０３の表面と基材表
面は一般に１．５ｍｍ程度離れている。この距離は光学
系の設計に因って決まる。ディスク１００に面振れが無
い場合には、この状態よりレンズを数ｕｍ程度ディスク
に近づけた後に徐々に下げる。そして、ゼロクロス検出
信号に応じてフォーカス制御を動作させればよい。しか
しながら、ディスクに面振れがある場合には、図１３の
状態からディスクが焦点から離れることがある。図１３
では、ディスク１００が図の上方向に移動ことを示す。
集束レンズは徐々に下がっているので最悪の場合には、
焦点と情報面が一致しない場合が発生する。即ちフォー
カス制御を動作させることができなくなる。

【００６１】面振れを±３００ｕｍすると図１３の状態
から６００ｕｍだけ集束レンズを上げ、その後徐々に下
げれば必ず、焦点と情報面が一致する。また、６００ｕ
ｍ上げてもレンズの表面と基材表面の距離は最悪でも６
００ｕｍある。この値は以下の式で求めることができ
る。

【００６２】 ６００ｕｍ＝１５００ｕｍ−６００ｕｍ−３００ｕｍ この式は、面振れによりディスク１００が一番上がった
状態で焦点と情報面が一致し、その位置より６００ｕｍ
レンズを上げた場合を示す。なお、面振れによりディス
ク１００が一番上がった状態はディスク１００が３００
ｕｍ上がった状態である。

【００６３】ところで、図１２ではＡＳＬ信号がＱ／２
になった時点からタイマー３０３を動作させるとしてい
るが、ＡＳＬがＱ／２になるのは、焦点が情報面から１
０ｕｍ程度離れた状態であるので上記の６００ｕｍに比
べ無視できる。また、ＡＳＬがＱ／２になるタイミング
を検出しているのでＡＳＬの測定に誤差があっても確実
にＱ／２のタイミングを検出できる。尚、Ｑ／２の値
は、基材厚と焦点が一致したときのＡＳＬのレベルより
大きな値でなければならない。ただし、通常は、基材厚
と焦点が一致したときのＡＳＬのレベルはＱ／２に比べ
十分に小さい。

【００６４】集束レンズ１０３を上げる速度は、ＦＥ信
号やＡＳＬ信号の検出が正確に行え、アクチュエータ１
０４の５０Ｈｚの固有振動の影響を受けない低速でなけ
ればならない。集束レンズ１０３を上げる速度を２ｍｍ
／ｓと仮定すると、レンズが６００ｕｍ移動する時間
は、３００ｍｓである。従って、タイマー３０３をいて
３００ｍｓを計測できるように構成する。即ち、Ｔｕｐ
＝３００ｍｓである。

【００６５】

【発明の効果】以上のように、請求項１にかかるフォー
カス制御の引き込み装置によれば、ディスクの情報面よ
り信号を再生する光ビームの焦点位置と情報面とのずれ
量を検出する焦点ずれ検出手段と、前記焦点位置を情報
面に垂直な方向に駆動する移動手段と、前記焦点ずれ検
出手段の出力に基づいて情報面上に前記焦点位置がある
ように前記移動手段を制御するフォーカス制御手段と、
信号発生手段と、前記信号発生手段の出力信号に応じて
前記焦点位置が情報面に接近するように前記移動手段を
制御する接近手段と、前記焦点ずれ検出手段の信号に基
づいて前記焦点が情報面の近傍にあることを検出する情
報面検出手段とを備え、前記接近手段により前記移動手
段を駆動した際に前情報面検出手段の信号に応じてフォ
ーカス制御を動作させると共に、前記接近手段手段をホ
ールド状態にするようにしたので、高さずれがあっても
前記フォーカス制御系を動作させる際に焦点が情報面と
ずれることがない。

【００６６】請求項２にかかるフォーカス制御の引き込
み装置によれば、ディスクの情報面より信号を再生する
光ビームの焦点位置と情報面とのずれ量を検出する焦点
ずれ検出手段と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に
駆動する移動手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基
づいて情報面上に前記焦点位置があるように前記移動手
段をＰＩＤ制御するフォーカス制御手段と、信号発生手
段と、前記信号発生手段の出力信号に応じて前記焦点位
置が情報面に接近するように前記移動手段を制御する接
近手段と、前記焦点ずれ検出手段の信号に基づいて前記
焦点が情報面の近傍にあることを検出する情報面検出手
段とを備え、前記接近手段により前記移動手段を駆動し
た際に前情報面検出手段の信号に応じてフォーカス制御
を動作させると共に、前記ＰＩＤ制御のＩ信号生成系の
積分器の初期値を前記接近手段の値に基づいて設定する
ようにしたので、ディスクの外周と内周で異なる高さず
れがあっても前記フォーカス制御系を動作させる際に焦
点が情報面とずれることがない。また、制御精度を悪化
させることがない。

【００６７】請求項３にかかるフォーカス制御の引き込
み装置によれば、ディスクを回転させるモータと、ディ
スクの情報面より信号を再生する光ビームの焦点位置と
情報面とのずれ量を検出する焦点ずれ検出手段と、前記
光ビームのディスクからの反射光を検出する反射光検出
手段と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動する
移動手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づいて情
報面上に前記焦点位置があるように前記移動手段を制御
するフォーカス制御手段と、信号発生手段と、前記信号
発生手段の出力信号に応じて前記焦点位置が情報面に接
近するように前記移動手段を制御する第１の接近手段
と、前記焦点位置が情報面を通過するように前記移動手
段を制御する第２の接近手段と、前記焦点ずれ検出手段
の信号に基づいて前記焦点が情報面の近傍にあることを
検出する情報面検出手段と、前記モータを停止した状態
で前記第２の接近手段を動作させた際の前記反射光量検
出手段の出力値の最大値Ｑを測定する最大値検出手段と
を備え、前記モータを動作状態にして前記第１の接近手
段により前記移動手段を駆動して前情報面検出手段の信
号に応じて前記フォーカス制御手段を動作させる際に、
予め前記最大値検出手段により測定した最大値Ｑに応じ
て前記第２の接近手段による前記焦点位置の移動範囲を
制限するようにしたので、高さずれがあってもディスク
が回転した状態で集束レンズとディスクが衝突すること
がない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態によるフォーカス制
御の引き込み装置のブロック図

【図２】上記実施の形態１における出力信号を示す波形
図

【図３】上記実施の形態１におけるアクチュエータ１０
４の特性を示すボード線図

【図４】上記実施の形態１におけるディジタルフィルタ
１２５のブロック図

【図５】上記実施の形態１におけるディジタルフィルタ
１２５の特性を示すボード線図

【図６】本発明の第２の実施の形態によるフォーカス制
御の引き込み装置のブロック図

【図７】上記実施の形態２における出力信号を示す波形
図

【図８】上記実施の形態２におけるディジタルフィルタ
２５０のブロック図

【図９】上記実施の形態２における出力信号の波形図

【図１０】本発明の第３の実施の形態によるフォーカス
制御の引き込み装置のブロック図

【図１１】上記実施の形態３における焦点とディスクの
情報面の関係を示すための図

【図１２】上記実施の形態３における出力値を示す波形
図

【図１３】上記実施の形態３における焦点とディスクの
情報面の関係を示す模式図

【図１４】従来のフォーカス制御の引き込み装置のブロ
ック図

【図１５】上記従来例における焦点とディスクの情報面
の関係を示す模式図とＦＥ信号を示す波形図

【図１６】上記従来例における出力信号を示す波形図

【図１７】上記従来例におけるはＦＥ信号、ＡＳ信号、
ＥＮＶ信号を示す波形図

【符号の説明】

１００ ディスク １０１ モータ １０３ 集束レンズ １０４ アクチュエータ １０５ 全反射鏡 １０６ 光ビーム １０７ １／４波長板 １０８ カップリングレンズ １０９ レーザ １１０ 偏光ビームスプリッター １１１ 検出レンズ １１２ 円筒レンズ １１３ 光検出器 １１４ 移送モータ １１５ 移送台 １１６，１１７，１１８，１１９ Ｉ／Ｖ変換器 １２０，１２１ 加算器 １２２ 差動増幅器 １２３ 加算器 １２４ Ａ／Ｄ変換器 １２５ ディジタルフィルタ １２６ Ｄ／Ａ変換器 １２７ 加算器 １２８ 電力増幅器 １３１ Ｄ／Ａ変換器 １３２ コンパレータ １３３ 基準電圧 １３４ Ａ／Ｄ変換器 １３５ マイコン １３６ エンベロープ検出回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ディスクの情報面より信号を再生する光ビ
   ームの焦点位置と情報面とのずれ量を検出する焦点ずれ
   検出手段と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動
   する移動手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づい
   て情報面上に前記焦点位置があるように前記移動手段を
   制御するフォーカス制御手段と、信号発生手段と、前記
   信号発生手段の出力信号に応じて前記焦点位置が情報面
   に接近するように前記移動手段を制御する接近手段と、
   前記焦点ずれ検出手段の信号に基づいて前記焦点が情報
   面の近傍にあることを検出する情報面検出手段とを備
   え、 前記接近手段により前記移動手段を駆動した際に前情報
   面検出手段の信号に応じてフォーカス制御を動作させる
   と共に、前記接近手段手段をホールド状態にすることを
   特徴とするフォーカス制御の引き込み装置。
2. 【請求項２】ディスクの情報面より信号を再生する光ビ
   ームの焦点位置と情報面とのずれ量を検出する焦点ずれ
   検出手段と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動
   する移動手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づい
   て情報面上に前記焦点位置があるように前記移動手段を
   ＰＩＤ制御するフォーカス制御手段と、信号発生手段
   と、前記信号発生手段の出力信号に応じて前記焦点位置
   が情報面に接近するように前記移動手段を制御する接近
   手段と、前記焦点ずれ検出手段の信号に基づいて前記焦
   点が情報面の近傍にあることを検出する情報面検出手段
   とを備え、 前記接近手段により前記移動手段を駆動した際に前情報
   面検出手段の信号に応じてフォーカス制御を動作させる
   と共に、前記ＰＩＤ制御のＩ信号生成系の積分器の初期
   値を前記接近手段の値に基づいて設定するようにしたこ
   とを特徴とするフォーカス制御の引き込み装置。
3. 【請求項３】ディスクを回転させるモータと、ディスク
   の情報面より信号を再生する光ビームの焦点位置と情報
   面とのずれ量を検出する焦点ずれ検出手段と、前記光ビ
   ームのディスクからの反射光を検出する反射光検出手段
   と、前記焦点位置を情報面に垂直な方向に駆動する移動
   手段と、前記焦点ずれ検出手段の出力に基づいて情報面
   上に前記焦点位置があるように前記移動手段を制御する
   フォーカス制御手段と、信号発生手段と、前記信号発生
   手段の出力信号に応じて前記焦点位置が情報面に接近す
   るように前記移動手段を制御する第１の接近手段と、前
   記焦点位置が情報面を通過するように前記移動手段を制
   御する第２の接近手段と、前記焦点ずれ検出手段の信号
   に基づいて前記焦点が情報面の近傍にあることを検出す
   る情報面検出手段と、前記モータを停止した状態で前記
   第２の接近手段を駆動して前記反射光量検出手段の出力
   値の最大値Ｑを測定する最大値検出手段とを備え、 前記モータを動作状態にして前記第１の接近手段により
   前記移動手段を駆動して前情報面検出手段の信号に応じ
   て前記フォーカス制御手段を動作させる際に、予め前記
   最大値検出手段により測定した最大値Ｑに応じて前記第
   ２の接近手段による前記焦点位置の移動範囲を制限する
   ようしたことを特徴とするフォーカス制御の引き込み装
   置。