JPH1011755A - 記録パワー調整方法およびそれを使用したディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ディスクや光学ヘッドの特性変動やばらつきに
対して運用時の試し書きを必要とせずに、レーザ光の記
録パワーを最適に設定する。 【解決手段】例えば、光変調方式の光磁気ディスク装置
に適用する。レーザ光の記録パワーを所定の範囲で測定
ステップＰＳをもって単調増加させ、ディスクに対して
データを記録再生し、再生データのエラーレートを測定
して誤り訂正可能なレート（ＥＲ_LIM以下）を実現する
記録パワーの上限ＰＲ及び下限ＰＦを求める（ST1〜ST
9）。そして、その上限ＰＲ及び下限ＰＦの中心値を利
用して最適記録パワーＰＢを求め（ST9）、そのパワー
ＰＢにおけるエラーレートＥＲＲが所定エラーレートＥ
Ｒ_BOTより小さい等の条件を満たすとき、そのパワーＰ
Ｂのデータを不揮発性メモリに記録パワーの設定値デー
タとして書き込む（ST15,ST14）。運用時には、メモリ
よりパワーＰＢのデータを読み出し、そのデータに基づ
いて記録パワーを設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、記録パワー調整
方法およびそれを使用したディスク装置に関する。詳し
くは、レーザ光の最適記録パワーを求め、そのデータを
不揮発性メモリに設定値データとして格納することによ
って、ディスクや光学ヘッドの特性変動やばらつきに対
して運用時の試し書きを必要とせずに、レーザ光の記録
パワーを最適に設定し得る記録パワー調整方法およびそ
れを使用したディスク装置に係るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光磁気ディスク装置（光磁気ディ
スクドライブ）は、主にパーソナルコンピュータ等の周
辺機器として使用され、大容量のフロッピーディスク装
置的な位置づけとして発展してきた。しかしながら、光
変調方式の採用によって、高速で高密度な記録が可能に
なると、画像情報のディジタル記録再生機器としての用
途が開かれてきた。

【０００３】光磁気ディスク装置等のディスク装置で
は、ビデオテープレコーダ（ＶＴＲ）とは異なり、連続
した画像情報を不連続な領域に記録することが可能であ
ると共に、不連続な領域にあるデータをランダムアクセ
スして連続した画像情報として再生することが可能であ
る。

【０００４】光磁気ディスク装置等のディスク装置を、
放送局またはポスト・プロダクションにおける画像情報
の記録再生機器として見た場合に、ランダムアクセスが
可能であることは、いわゆるノンリニアな送出または編
集を実現する上で非常に重要な特徴である。

【０００５】光磁気ディスク装置等のディスク装置で、
実際にＶＴＲを越えるだけの高速大容量で画像情報を記
録再生できるわけではない。しかしながら、ワークステ
ーションと結び付けたノンリニアな送出または編集に対
する要求が高まるにつれ、光磁気ディスク装置等のディ
スク装置は、放送局またはポスト・プロダクションにお
ける画像情報の記録再生機器として重要な位置を占め始
めつつある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
に、高速高密度を目的とする光磁気ディスク装置では光
変調方式が採用されている。光磁気記録における記録の
原理は、レーザ光が照射されてキュリー点まで熱せられ
た垂直磁化膜が、冷却の過程で外部磁界の向きに磁化さ
れることである。このときに、必要なレーザ光の記録パ
ワーは、磁性膜の記録感度や環境温度等によっても変化
するが、半導体レーザを搭載した光学ヘッド（ＯＰ：Op
tical Pickup）の特性によっても変化する。したがっ
て、各光学ヘッド毎の記録パワー調整が不可欠である。

【０００７】従来の光磁気ディスク装置では、これらの
特性変動やぱらつきを補償するために、適当な周期で試
し書きを行い、必要に応じてレーザ光の記録パワーを自
動的に再調整するような方法が採用されていた。コンピ
ューターの周辺機器として用いる場合には、試し書きな
どの処理が使用中に発生して目的とする処理の時間が遅
れても、なんの問題も起きない。しかしながら、画像情
報の記録再生を行う場合は、一定のデータレートで送り
込まれてくる画像情報に実時間で対応しなければならな
いので、試し書きなどの処理が発生すると不都合であ
る。

【０００８】また、従来の光磁気ディスク装置には、サ
ーチを伴う不連続な領域への記録に対応するためのバッ
ファとして半導体メモリが搭載されている。しかし、そ
の半導体メモリの容量に対して試し書きに必要なバッフ
ァの容量は桁違いに大きく、装置の価格を大幅に上げて
しまうことになる。

【０００９】そこで、この発明では、ディスクや光学ヘ
ッドの特性変動やばらつきに対して運用時の試し書きを
必要とせずに、レーザ光の記録パワーを最適に設定でき
るようにすることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係る記録パワ
ー調整方法は、ディスクにレーザ光を照射することでデ
ータをディスクに記録するものにおいて、レーザ光の記
録パワーを所定範囲で単調増加または単調減少させてデ
ィスクに対してデータを記録および再生する工程と、デ
ィスクより再生されたデータのエラーレートを測定して
誤り訂正可能な第１のエラーレートを実現する記録パワ
ーの上限および下限を取得する工程と、この取得された
記録パワーの上限および下限の中心値を利用して最適記
録パワーを求める工程と、この求められた最適記録パワ
ーを記録パワーの設定値として不揮発性メモリに格納す
る工程とを有するものである。

【００１１】また、この発明に係るディスク装置は、デ
ィスクにレーザ光を照射することでデータを上記ディス
クに記録し得るディスク装置において、レーザ光の記録
パワーを所定範囲で単調増加または単調減少させてディ
スクに対してデータを記録および再生する記録再生制御
手段と、この記録再生制御手段の制御によってディスク
より再生されたデータのエラーレートを測定して誤り訂
正可能な第１のエラーレートを実現する記録パワーの上
限および下限を取得する記録パワー取得手段と、この記
録パワーの上限および下限の中心値を利用して最適記録
パワーを求める記録パワー算出手段と、この最適記録パ
ワーを記録パワーの設定値として不揮発性メモリに格納
するメモリ書き込み制御手段とを備えるものである。

【００１２】これらの発明においては、レーザ光の記録
パワーを所定範囲で単調増加または単調減少させてディ
スクに対してデータを記録および再生する。そして、そ
れぞれの記録パワーでディスクに記録された後に再生さ
れたデータのエラーレートを測定し、誤り訂正可能な第
１のエラーレートを実現する記録パワーの上限および下
限を取得する。そして、取得された記録パワーの上限お
よび下限の中心値を利用して最適記録パワーを求める。
例えば、中心値に経時変化によって必要となる記録パワ
ーの増加量の最大値を加算して最適記録パワーを得る。
そして、この最適記録パワーを記録パワーの設定値とし
て不揮発性メモリに格納する。運用時には、レーザ光の
記録パワーを、この不揮発性メモリに記憶された最適記
録パワーに設定することとなる。

【００１３】また、この発明に係る記録パワー調整方法
は、ディスクにレーザ光を照射することでデータをディ
スクに記録するものにおいて、ディスクの記録領域内の
径方向に複数個の測定領域を設定する工程と、複数個の
測定領域に対してそれぞれレーザ光の記録パワーを所定
範囲で単調増加または単調減少させてディスクに対して
データを記録および再生する工程と、複数の測定領域よ
りそれぞれ再生されたデータのエラーレートを測定し、
複数個の測定領域における誤り訂正可能な第１のエラー
レートを実現する記録パワーの上限および下限を取得す
る工程と、この取得された複数個の測定領域における記
録パワーの上限および下限の中心値を利用して複数個の
測定領域における最適記録パワーを求める工程と、この
求められた複数個の測定領域における最適記録パワーを
それぞれ複数個の測定領域における記録パワーの設定値
として不揮発性メモリに格納する工程とを有するもので
ある。

【００１４】また、この発明に係るディスク装置は、デ
ィスクにレーザ光を照射することでデータをディスクに
記録し得るディスク装置において、ディスクの記録領域
内の径方向に複数個の測定領域を設定する測定領域設定
手段と、この複数個の測定領域に対してそれぞれレーザ
光の記録パワーを所定範囲で単調増加または単調減少さ
せてディスクに対してデータを記録および再生する記録
再生制御手段と、この記録再生制御手段の制御によって
複数個の測定領域よりそれぞれ再生されたデータのエラ
ーレートを測定し、複数個の測定領域における誤り訂正
可能な第１のエラーレートを実現する記録パワーの上限
および下限を取得する記録パワー取得手段と、この複数
個の測定領域における記録パワーの上限および下限の中
心値を利用して複数個の測定領域における最適記録パワ
ーを求める記録パワー算出手段と、この複数個の測定領
域における最適記録パワーをそれぞれ複数個の測定領域
における記録パワーの設定値として不揮発性メモリに格
納するメモリ書き込み制御手段とを備えるものである。

【００１５】これらの発明において、ディスクの記録領
域内の径方向に複数個の測定領域を設定する。そして、
複数個の測定領域のそれぞれに対して、レーザ光の記録
パワーを所定範囲で単調増加または単調減少させてデー
タを記録および再生する。そして、複数個の測定領域の
それぞれに対して、各記録パワーでディスクに記録され
た後に再生されたデータのエラーレートを測定し、誤り
訂正可能な第１のエラーレートを実現する記録パワーの
上限および下限を取得する。そして、複数個の測定領域
のそれぞれに対して、記録パワーの上限および下限の中
心値を利用して最適記録パワーを求める。例えば、中心
値に経時変化によって必要となる記録パワーの増加量の
最大値を加算して最適記録パワーを得る。そして、複数
個の測定領域における最適記録パワーを記録パワーの設
定値として不揮発性メモリに格納する。

【００１６】複数個の測定領域における最適記録パワー
を使用して複数個の測定領域以外の径方向領域の最適記
録パワーを線形補間演算で求めることで、全ての径方向
領域における最適記録パワーを得ることができる。運用
時には、レーザ光の記録パワーを、光学ヘッドが位置す
る径方向領域に対応した最適記録パワーに設定すること
となる。

【００１７】また、この発明に係る記録パワー調整方法
は、ディスクにレーザ光を照射することでデータをディ
スクに記録するものにおいて、ディスクの記録領域内に
単一の測定領域を設定する工程と、この測定領域に対し
てレーザ光の記録パワーを所定範囲で単調増加または単
調減少させてデータを記録および再生する工程と、測定
領域より再生されたデータのエラーレートを測定し、誤
り訂正可能な第１のエラーレートを実現する記録パワー
の上限および下限を取得する工程と、この取得された記
録パワーの上限および下限の中心値を利用して、最適記
録パワーを求める工程と、この求められた最適記録パワ
ーを単一の測定領域における記録パワーの設定値として
不揮発性メモリに格納する工程とを有するものである。

【００１８】また、この発明に係るディスク装置は、デ
ィスクにレーザ光を照射することでデータをディスクに
記録し得るディスク装置において、ディスクの記録領域
内に単一の測定領域を設定する測定領域設定手段と、こ
の単一の測定領域に対してレーザ光の記録パワーを所定
範囲で単調増加または単調減少させてデータを記録およ
び再生する記録再生制御手段と、この記録再生制御手段
の制御によって単一の測定領域より再生されたデータの
エラーレートを測定し、誤り訂正可能な第１のエラーレ
ートを実現する記録パワーの上限および下限を取得する
記録パワー取得手段と、この記録パワーの上限および下
限の中心値を利用して最適記録パワーを求める記録パワ
ー算出手段と、この最適記録パワーを単一の測定領域に
おける記録パワーの設定値として不揮発性メモリに格納
するメモリ書き込み制御手段とを備えるものである。

【００１９】これらの発明においては、ディスクの記録
領域内に単一の測定領域を設定する。そして、この単一
の測定領域に対して、レーザ光の記録パワーを所定範囲
で単調増加または単調減少させてデータを記録および再
生する。そして、単一の測定領域に対して、各記録パワ
ーでディスクに記録された後に再生されたデータのエラ
ーレートを測定し、誤り訂正可能な第１のエラーレート
を実現する記録パワーの上限および下限を取得する。そ
して、単一の測定領域に対して記録パワーの上限および
下限の中心値を利用して最適記録パワーを求める。例え
ば、中心値に経時変化によって必要となる記録パワーの
増加量の最大値を加算して最適記録パワーを得る。そし
て、単一の測定領域における最適記録パワーを記録パワ
ーの設定値として不揮発性メモリに格納する。

【００２０】不揮発性メモリに格納された単一の測定領
域における最適記録パワーとディスクの径方向の各領域
に応じて記録パワーを変化させるための径補正ゲインと
を使用して、ディスクの全ての径方向領域における最適
記録パワーを得ることができる。運用時には、レーザ光
の記録パワーを、光学ヘッドが位置する径方向領域に対
応した最適記録パワーに設定することとなる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の実施の形態について説明する。図１は、実施の形
態としての光変調方式の光磁気ディスク装置１０の構成
を示している。このディスク装置１０は、光磁気ディス
ク（ＭＯＤ）１１を回転駆動するためのスピンドルモー
タ１２と、記録時に補助磁界を発生するための磁気ヘッ
ド１３と、レーザダイオード、対物レンズ、光検出器、
プリアンプ等から構成される光学ヘッド（ＯＰ）１４と
を有している。磁気ヘッド１３と光学ヘッド１４は光磁
気ディスク１１を挟むように対向して配設される。

【００２２】また、ディスク装置１０は、光学ヘッド１
４のレーザダイオードを駆動するためのレーザ駆動回路
１５と、マイクロコンピュータを備え、システム全体を
制御するためのシステムコントローラ１６とを有してい
る。ここで、マイクロコンピュータは、周知のように、
制御、測定等を実際に行うＣＰＵ（中央処理装置）、こ
のＣＰＵの動作プログラムを格納したＲＯＭ（リードオ
ンリーメモリ）、上記制御、測定等の過程で一時的に必
要となるデータを格納するＲＡＭ（ランダムアクセスメ
モリ）を有している。

【００２３】レーザ駆動回路１５には光学ヘッド１４よ
り出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPが供給されると共に、
システムコントローラ１６よりＤ／Ａ変換器１７を介し
てパワー制御信号Ｓ_PCが供給され、光学ヘッド１４のレ
ーザダイオードより出力されるレーザ光のパワーが記録
時および再生時のそれぞれで最適パワーとなるように制
御される。

【００２４】レーザ駆動回路１５には、記録時に、後述
するように記録データＲＤが供給される。そのため、光
学ヘッド１４のレーザダイオードは、記録時には、記録
データＲＤに対応してレーザパワーが変化するようにレ
ーザ駆動回路１５で駆動される。これにより、光磁気デ
ィスク１１のデータ部（ＭＯ領域）に記録データＲＤが
光磁気記録される。

【００２５】また、光学ヘッド１４からは、再生時に光
磁気ディスク１１のデータ部（ＭＯ領域）からの再生信
号Ｓ_MOが得られると共に、記録時および再生時には光磁
気ディスク１１のプリフォーマット部（ＲＯＭ領域）か
らの再生信号Ｓ_RFが得られる。さらに、光学ヘッド１４
からは、従来周知の検出方法で得られるトラッキングエ
ラー信号Ｅ_Tおよびフォーカスエラー信号Ｅ_Fが出力され
る。

【００２６】なお、図２は、光磁気ディスク１１の各セ
クタの記録フォーマットを示している。各セクタの先頭
には、予めピットによってアドレス等が記録されている
プリフォーマット部が配され、このプリフォーマット部
に続いて出力レーザパワーのレベルを制御するためのテ
スト部としてのＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）
部が配される。さらに、ＡＬＰＣ部に続いてデータ部が
配される。

【００２７】また、ディスク装置１０は、ＣＰＵを備え
るサーボ回路１８を有している。サーボ回路１８には、
光学ヘッド１４より出力されるエラー信号Ｅ_T，Ｅ_Fが供
給される。このサーボ回路１８の動作はシステムコント
ローラ１６によって制御される。サーボ回路１８によっ
て、トラッキングコイルやフォーカスコイル、さらには
ラジアル方向移動用のリニアモータを含むアクチュエー
タ１９が制御されて、光学ヘッド１４のトラッキングや
フォーカスのサーボが行われ、また光学ヘッド１４のラ
ジアル方向への移動が制御される。さらに、サーボ回路
１８によって、スピンドルモータ１２の回転が制御さ
れ、光磁気ディスク１１が線速度一定で回転するように
される。

【００２８】また、ディスク装置１０は、光学ヘッド１
４より出力されるプリフォーマット部からの再生信号Ｓ
_RFに対して波形等化処理を行うための波形等化回路２１
と、この波形等化回路２１の出力信号よりクロック信号
ＣＫ_RFを再生するためのＰＬＬ（Phase- Locked Loop）
回路２２と、波形等化回路２１の出力信号をクロック信
号ＣＫ_RFを使用してディジタル信号に変換するためのＡ
／Ｄ（Analog-to-digital）変換器２３と、このＡ／Ｄ
変換器２３の出力信号よりアドレスデータＡＤを得るた
めのアドレスデコーダ２４とを有している。このアドレ
スデコーダ２４で得られるアドレスデータＡＤはシステ
ムコントローラ１６に供給され、記録時や再生時におけ
るアクセス制御に利用される。なお、ＰＬＬ回路２２で
再生されるクロック信号ＣＫ_RFもシステムコントローラ
１６に供給され、システム制御における基準クロック信
号として利用される。

【００２９】また、ディスク装置１０は、外部、例えば
ホストコンピュータからの入力データＤinを受け取るた
めのデータインタフェース３１と、このデータインタフ
ェース３１で受け取った入力データＤinに対してエラー
訂正符号を付加するためのＥＣＣエンコーダ３２と、こ
のＥＣＣエンコーダ３２の出力データに対してディジタ
ル変調処理としての（１，７）ＲＬＬ変調処理をするチ
ャネルエンコーダ３３とを有している。ここで、ＥＣＣ
エンコーダ３２からは各セクタのデータ部に記録される
セクタデータが順次出力されてチャネルエンコーダ３３
に供給されて変調処理される。

【００３０】また、ディスク装置１０は、チャネルエン
コーダ３３の出力データを識別時の符号誤りの伝播を避
けるために中間系列、すなわちＮＲＺＩ（Non-Return-t
o-Zero-Inverted）符号に変換するためのプリコード回
路３４を有している。このプリコード回路３４より出力
される記録データＲＤがレーザ駆動回路１５に供給さ
れ、上述したように光磁気ディスク１１のデータ部に記
録される。

【００３１】また、ディスク装置１０は、光学ヘッド１
４より出力されるデータ部からの再生信号Ｓ_MOに対して
波形等化処理を行うための波形等化回路４１と、この波
形等化回路４１の出力信号よりクロック信号ＣＫ_MOを再
生するためのＰＬＬ回路４２と、波形等化回路４１の出
力信号をクロック信号ＣＫ_MOを使用してディジタル信号
に変換するためのＡ／Ｄ変換器４３とを有している。

【００３２】ところで、再生信号Ｓ_MOは、光学系で決ま
るＭＴＦ（Modulation Transfer Function)により帯域
制限されており、高域ほど信号の振幅は小さくなってい
る。図３は、ＭＴＦ特性の一例を示している。この Ｍ
ＴＦ特性により周波数の高い信号、つまりパルス幅（符
号反転幅）の狭い信号ほど振幅が小さくなる。このよう
に振幅の小さな信号は、０／１の識別が困難となるた
め、ＭＴＦとは逆の特性を持った高域強調フィルタを通
すことで、もとの記録波形に近づける波形等化処理が行
われる。

【００３３】また、ディスク装置１０は、Ａ／Ｄ変換器
４３の出力データに対して０／１の識別やＮＲＺＩ符号
の復号を行うための識別・復号回路４４と、この識別・
復号回路４４の出力データに対して復調処理をするチャ
ネルデコーダ４５と、このチャネルデコーダ４５の出力
データに対してエラーの検出・訂正の処理をするＥＣＣ
デコーダ４６と、このＥＣＣデコーダ４６より出力され
るエラー訂正処理されたデータを出力データＤoutとし
て、外部、例えばホストコンピュータに送るためのデー
タインタフェース４７とを有している。

【００３４】ここで、ＥＣＣデコーダ４６からはエラー
フラグ等のエラー情報ＥＩが出力され、このエラー情報
ＥＩがシステムコントローラ１６に供給される。後述す
るように、システムコントローラ１６のＣＰＵは、この
エラー情報ＥＩに基づいて再生データのエラーレートを
測定することとなる。

【００３５】また、ディスク装置１０は、後述するよう
にレーザ光の記録パワーの設定値を格納しておくための
ＮＶＲＡＭ（nonvolatile ＲＡＭ）等の不揮発性メモリ
５１と、システムの状態等を表示するための液晶表示素
子等で構成される表示器５２を有している。これら不揮
発性メモリ５１および表示器５２は、それぞれシステム
コントローラ１６に接続されている。

【００３６】図１に示す光磁気ディスク装置１０の動作
を説明する。まず、記録時の動作について説明する。記
録時には、外部、例えばホストコンピュータより供給さ
れる入力データＤinがデータインタフェース３１で受け
取られた後、ＥＣＣエンコーダ３２でエラー訂正符号が
付加される。そして、ＥＣＣエンコーダ３２からは各セ
クタのデータ部に記録されるセクタデータが順次出力さ
れてチャネルエンコーダ３３に供給される。

【００３７】チャネルエンコーダ３３ではディジタル変
調処理としての（１，７）ＲＬＬ変調処理が行われる。
そして、チャネルエンコーダ３３より出力される変調デ
ータはプリコード回路３４でＮＲＺＩ符号に変換され、
記録データＲＤとしてレーザ駆動回路１５に供給され
る。これにより、記録データＲＤが光磁気ディスク１１
のデータ部に光磁気記録される。

【００３８】次に、再生時の動作について説明する。再
生時には、光学ヘッド１４によって光磁気ディスク１１
のデータ部より再生信号Ｓ_MOが再生される。この再生信
号Ｓ _MOは波形等化回路４１に供給されて波形等化処理が
行われる。そして、Ａ／Ｄ変換器４３の出力データに対
して識別・復号回路４４で０／１の識別やＮＲＺＩ符号
の復号が行われる。

【００３９】識別・復号回路４４の出力データはチャネ
ルデコーダ４５で復調処理された後にＥＣＣエンコーダ
４６でエラー訂正処理され、エラー訂正処理されたデー
タがデータインタフェース４７より外部、例えばホスト
コンピュータに出力データＤoutとして送られる。

【００４０】ところで、本実施の形態においては、記録
パワーの調整処理時に、レーザ光の最適記録パワーのデ
ータを記録パワーの設定値データとして予め不揮発性メ
モリ５１に格納しておく。そして、実際の運用時におけ
る記録時に、システムコントローラ１６は不揮発性メモ
リ５１よりその設定値データを読み出し、その設定値デ
ータに対応したレーザパワー制御信号Ｓ_PCを出力して、
レーザ光の記録パワーが最適記録パワーとなるよう制御
する。

【００４１】ここで、記録パワーとエラーレートとの関
係について説明する。

【００４２】図４は、光変調方式の光磁気ディスク装置
において、レーザ光の記録パワーを変化させて光磁気デ
ィスクに対してデータを記録および再生し、その再生デ
ータのエラーレートを測定した結果の一例を示してい
る。この図４において、ＥＲ_{LI M}は誤り訂正可能なエラ
ーレートの上限、ＰＦはエラーレートがＥＲ_LIM以下と
なる下限の記録パワー、ＰＲはエラーレートがＥＲ_LIM
以下となる上限の記録パワー、ＲＮＧはエラーレートが
ＥＲ_LIM以下となる記録パワーの範囲（マージン）であ
る。

【００４３】光磁気ディスクで用いられている磁性体は
垂直磁化膜である。そして、光変調方式の記録では、予
め一方向に磁化を揃えた消去状態の磁化膜に対して、そ
の反対の外部磁界を与え、反転させたい領域にレーザ光
を照射する。

【００４４】記録パワーが小さすぎる場合には、充分に
磁化反転させることができないので再生信号Ｓ_MOのレベ
ルが低くすぎ、正しいデータの再生はできない。記録パ
ワーが大きくなるにしたがって、低周波信号（長いパル
ス）から順番に磁化反転が可能になる。磁化反転が可能
な記録パワーまで到達した後は、磁化反転幅が徐々に大
きくなっていく。磁化反転福の変化は、再生信号のデュ
ーティの変化となって現れるが、高周波信号（短いパル
ス）に対する影響の方が強く現れる。

【００４５】図５に、波形等化後の再生信号のアイパタ
ーンの変化の様子を示している。このアイパターン
は、（１，７）ＲＬＬとＮＲＺＩを組み合わせた変調方
式を用いた場合の例である。この場合、最小反転幅２Ｔ
のアイが振幅の中心に開き、３Ｔ〜８Ｔがピークまでの
振幅を持っている。記録パワーを（ａ）〜（ｆ）に大き
くしていったときのデューティの変化は、２Ｔのアイが
下端から離れて徐々に上端に移動することとなって観測
される。

【００４６】２値化してディジタル信号に戻すためのし
きい値を固定にしておくと、２Ｔのアイの中心ＴＨが移
動していくので良好なエラーレートを示す範囲が狭くな
る。この問題を解決するために、例えばラジオ技術社か
ら出版されている「光ディスク技術（尾上守夫監修）」
の１９１ページで紹介されているように、２値化した信
号のデューティが５０％になるようにフィードバックを
掛ける方法が用いられる。これによって、再生信号のテ
ューティによらず、しきい値は２Ｔのアイの中心近傍に
制御され、図４に示すように、ある範囲（ＲＮＧ）の記
録パワーにおいて良好なエラーレートを実現することが
可能になる。

【００４７】次に、本実施の形態において、不揮発性メ
モリ５１に格納すべき最適記録パワーのデータについて
説明する。

【００４８】光変調方式の光磁気ディスク装置では、
光磁気ディスクの磁性膜の記録感度のばらつき、周囲
温度の変化、光磁気ディスクの傾き（スキュー）のば
らつき、レーザー光のフォーカスずれ、レーザ光の
トラッキングずれ、光磁気ディスクまたは光学ピック
アップの汚れ、記録パワーの制御回路の誤差、補助
磁界の誤差等の特性変動の要因がある。

【００４９】光磁気記録は熱記録であるから、さまざま
な特性変動は全て熱的な変動に換算することが可能であ
る。光変調方式の光磁気ディスク装置の記録に関して考
えれば、これらはすべて記録時のレーザーパワーの最適
値の変動と等価である。また、さまざまな特性変動の中
で経時的な変動（レーザ光のフォーカスずれ、トラッキ
ングずれ、光磁気ディスクまたは光学ピックアップの汚
れ）は、必要な記録パワーが増加する方向に変動するこ
とがわかっている。

【００５０】必要な記録パワーが増減するような特性の
ばらつきにおいて、必要な記録パワーが増加または減少
する方向に全ての要因がばらついたときに必要な記録パ
ワーの変化をＡとし、経時変化によって必要となる記録
パワーの増加量の最大値をＢとする。このとき、図４に
示すように、訂正可能なエラーレートを実現することが
可能な記録パワーの範囲（マージン）ＲＮＧが必要な記
録パワーの範囲ＭＮＧ、つまり２Ａ＋Ｂ以上であり、上
限の記録パワーＰＲからＡ以上、下限の記録パワーＰＦ
からＡ＋Ｂ以上離れたところ（ＰＢ参照）に記録パワー
を設定することが可能であれば、従来行われていたよう
な試し書きによる運用時の調整は不要になる。

【００５１】本実施の形態においては、上述した条件を
満足し、試し書きによる運用時の調整が不要となる記録
パワーを最適記録パワーとして求め、その最適記録パワ
ーのデータを予め不揮発性メモリ５１に記録パワーの設
定値データとして格納しておくものである。

【００５２】図６（ａ）〜（ｆ）は、記録パワーとエラ
ーレートの関係を示す測定結果の態様を示している。図
６（ａ）は、最も一般的な測定結果の態様であって、記
録パワーが変化する所定範囲で、エラーレートが誤り訂
正可能なエラーレートの上限ＥＲ_LIMを２回横切るもの
である。

【００５３】図６（ｂ）は、記録パワーが変化する所定
範囲で、エラーレートが誤り訂正可能なエラーレートの
上限ＥＲ_LIMより常に低くなるものである。この場合、
記録パワーの下限ＰＦおよび上限ＰＲがないことから、
後述する最適記録パワーを求める処理では、下限ＰＦと
して記録パワーが変化する所定範囲の最小値Ｐ[0]が使
用され、上限ＰＦとしてその所定範囲の最大値Ｐ[MN-1]
が使用される。

【００５４】図６（ｃ），（ｄ）は、それぞれ記録パワ
ーが変化する所定範囲で、エラーレートが誤り訂正可能
なエラーレートの上限ＥＲ_LIMを１回横切るものであ
る。そして、図６（ｃ）の場合、記録パワーの上限ＰＲ
がないことから、後述する最適記録パワーを求める処理
では、上限ＰＲとして記録パワーが変化する所定範囲の
最大値Ｐ[MN-1]が使用される。また、図６（ｄ）の場
合、記録パワーの下限ＰＦがないことから、後述する最
適記録パワーを求める処理では、下限ＰＦとして記録パ
ワーが変化する所定範囲の最小値Ｐ[0]が使用される。

【００５５】図６（ｅ）は、記録パワーが変化する所定
範囲で、エラーレートが誤り訂正可能なエラーレートの
上限ＥＲ_LIMを３回以上（図では４回）横切るものであ
る。

【００５６】図６（ｆ）は、記録パワーが変化する所定
範囲で、エラーレートが誤り訂正可能なエラーレートの
上限ＥＲ_LIMより常に高くなるものである。この場合、
記録パワーの下限ＰＦおよび上限ＰＲがないことから、
後述する最適記録パワーを求める処理では、下限ＰＦと
して記録パワーが変化する所定範囲の最小値Ｐ[0]が使
用され、上限ＰＦとしてその所定範囲の最大値Ｐ[MN-1]
が使用される。

【００５７】図６（ａ）〜（ｄ）の場合は、誤り訂正可
能なエラーレートを実現する記録パワーの範囲ＲＮＧを
調べて、これが上述したＭＮＧ（＝２Ａ＋Ｂ）以上であ
れば、記録パワーの調整、すなわち最適記録パワーを求
め、そのデータを不揮発性メモリ５１に格納することが
可能である。図６（ｅ）の場合は、ＥＲ_LIM の近傍をエ
ラーレートがうろうろしている場合、または何らかの原
因で動作不良が発生した場合であり、記録パワーの調整
は不可能（ＮＧ）である。図６（ｆ）の場合は、エラー
レートより調整不能となる。

【００５８】本実施の形態においては、上述した図６
（ａ）〜（ｆ）に示す６通りの態様を区別して記録パワ
ーの調整処理、すなわち最適記録パワーを求め、そのデ
ータを不揮発性メモリ５１に格納する処理が行われる。
図７のフローチャートは、記録パワー調整処理における
システムコントローラ１６のＣＰＵの制御動作を示して
いる。

【００５９】まず、ステップＳＴ１で、エラーレート測
定に必要な変数を全て初期化する。すなわち、測定番号
Ｍを０、エラーレートの立ち下がり回数（エラーレート
が誤り訂正可能なエラーレートの上限ＥＲ_LIMを高い方
から低い方に横切る回数）ＦＡＬＬを０、エラーレート
の立ち上がり回数（エラーレートが誤り訂正可能なエラ
ーレートの上限ＥＲ_LIMを低い方から高い方に横切る回
数）ＲＩＳＥを０、立ち下がりを確認した測定番号ＭＦ
を０、立ち上がりを確認した測定番号ＭＲをＭＮ−１、
記録パワーの設定データＰ[M]をＰＭＩＮに設定する。

【００６０】ここで、ＭＮは全測定回数であり、ＰＭＩ
Ｎは測定用記録パワーの最小値である。また、誤り訂正
可能なエラーレートを実現する記録パワーの上限がない
場合に測定に用いた最大の記録パワーを上限として用い
るためにＭＲ＝ＭＮ−１とし、また同様に下限がない場
合に測定に用いた最小の記録パワーを下限として用いる
ためにＭＦ＝０ としている。

【００６１】次に、ステップＳＴ２で、システムコント
ローラ１６より設定データＰ[M]に対応したレーザパワ
ー制御信号Ｓ_PCを出力して記録パワーを設定データＰ
[M]に対応させて光磁気ディスク１１にデータを記録
し、その後に再生パワーに制御したレーザ光によって光
磁気ディスク１１よりそのデータを再生し、ＥＣＣデコ
ーダ４６からのエラー情報ＥＩに基づいてエラーレート
ＥＲ[M]を測定する。

【００６２】次に、ステップＳＴ３で、Ｍ＞０、ＥＲ[M
-1]＞ＥＲ_LIM、ＥＲ[M]≦ＥＲ_LIMの条件を満たしている
か否かを判定する。これらの条件を満たしているとき
は、記録パワーがＰ[M-1]からＰ[M]の間に誤り訂正可能
なエラーレートを示す記録パワーの下限ＰＦが存在する
ので、ステップＳＴ４で、エラーレートの立ち下がり回
数ＦＡＬＬをインクリメントすると共に、立ち下がりを
確認した測定番号ＭＦをＭとして、ステップＳＴ７に進
む。

【００６３】また、ステップＳＴ３で条件を満たしてい
ないときは、ステップＳＴ５に進む。ステップＳＴ５で
は、Ｍ＞０、ＥＲ[M-1]＜ＥＲ_LIM、ＥＲ[M]≧ＥＲ_LIMの
条件を満たしているか否かを判定する。これらの条件を
満たしているときは、記録パワーがＰ[M-1]からＰ[M]の
間に誤り訂正可能なエラーレートを示す記録パワーの上
限ＰＲが存在するので、ステップＳＴ６で、エラーレー
トの立ち上がり回数ＲＩＳＥをインクリメントすると共
に、立ち上がりを確認した測定番号ＭＲをＭとして、ス
テップＳＴ７に進む。なお、ステップＳＴ５で条件を満
たしていないときも、ステップＳＴ７に進む。

【００６４】ステップＳＴ７では、測定番号Ｍをインク
リメントすると共に、記録パワーの設定データＰ[M]
を、測定ステップＰＳだけ大きくする。そして、ステッ
プＳＴ８で、測定番号Ｍが全測定回数ＭＮと一致するか
否かを判定する。Ｍ＝ＭＮでないときは、ステップＳＴ
２に戻って、次の記録パワーによる記録再生とエラーレ
ートの測定をする。一方、ＭＮ回の測定が終了し、Ｍ＝
ＭＮであるときは、ステップＳＴ９に進む。

【００６５】ステップＳＴ９では、以下の式によって、
誤り訂正可能なエラーレートを示す記録パワーの下限Ｐ
Ｆおよび上限ＰＲを補間演算によって求める。

【００６６】PF＝PS・（ER_LIM−ER[MF-1]）/（ER[MF]−
ER[MF-1]）＋P[MF-1] PR＝PS・（ER_LIM−ER[MR-1]）/（ER[MR]−ER[MR-1]）＋
P[MR-1] さらに、ステップＳＴ９では、以下の式によって、最適
記録パワーＰＢおよびエラーレートがＥＲ_LIM以下とな
る記録パワーの範囲（マージン）ＲＮＧを求める。

【００６７】ＰＢ＝（ＰＦ+ＰＲ+１）／２＋ＣＭＰ ＲＮＧ＝ＰＲ−ＰＦ ここで、ＣＭＰは上述した経時変化によって必要となる
記録パワーの増加量の最大値Ｂに相当するものである。
また、ＰＢを求める式で、右辺第１項の「＋１」は、
「ＰＦ+ＰＲ」が奇数となるとき、整数演算をした結果
が（ＰＦ+ＰＲ）／２より小さくなることを回避するた
めに付加している。

【００６８】次に、ステップＳＴ１０で、Ｍ＝０とし、
ステップＳＴ１１で、Ｐ[M]≦ＰＢ、Ｐ[M+1]＜ＰＢの条
件を満たすか否かを判定する。これらの条件を満たして
いないときは、ステップＳＴ１２で、Ｍをインクリメン
トしてステップＳＴ１１に戻り、再び上述した条件を満
たすか否かの判定をする。ステップＳＴ１１で条件を満
たすときは、ステップＳＴ１３で、以下の式によって、
最適記録パワーＰＢにおけるエラーレートＥＲＲを補間
演算する。

【００６９】 ERR＝（ER[M+1]−ER[M]）＊（PB−P[M]）／PS＋ER[M] 次に、ステップＳＴ１４で、ＲＮＧ＞ＭＮＧ、ＦＡＬＬ
＋ＲＩＳＥ＜３、ＥＲＲ＜ＥＲ_BOTの条件を満たしてい
るか否かを判定する。ＲＮＧ＞ＭＮＧの条件は、記録パ
ワーの範囲（マージン）ＲＮＧが充分な大きさだけある
ことを調べるためのものである。ＭＮＧは上述したよう
に必要な記録パワーの範囲である（図４参照）。ＦＡＬ
Ｌ＋ＲＩＳＥ＜３の条件は、図６（ｅ）に相当する調整
不能な場合を検出するためのものである。ＥＲＲ＜ＥＲ
_BOTの条件は、図６（ｆ）に相当する調整不能な場合を
検出するためのものである。そして、ＥＲ_BOTは、誤り
訂正可能なエラーレートの上限と同じまたはそれ以下の
エラーレートである。

【００７０】ステップＳＴ１４で全ての条件を満たして
いるときは、ステップＳＴ１５で、ステップＳＴ９で算
出された最適記録パワーＰＢのデータを不揮発性メモリ
５１に書き込み、調整を終了する。一方、ステップＳＴ
１４でいずれかの条件を満たしていないときは、ステッ
プＳＴ１６で、表示器５２に不良であること、例えばど
の条件を満たさないために調整不能であったかを表示
し、ステップＳＴ９で算出された最適記録パワーＰＢの
データを不揮発性メモリ５１に書き込むことなく、調整
を終了する。

【００７１】このように本実施の形態においては、予め
光磁気ディスク１１や光学ヘッド１４の特性変動やばら
つきに対するレーザ光の最適記録パワーＰＢを求め、種
々の条件から不良でないと判定するときはそのデータを
不揮発性メモリ５１に記録パワーの設定値データとして
格納するものである。そのため、運用時には不揮発性メ
モリ５１より最適記録パワーＰＢのデータを読み出し、
そのデータに基づいて記録パワーを設定することで、光
磁気ディスク１１や光学ヘッド１４の特性変動やばらつ
きに対して運用時の試し書きを必要とせずに、レーザ光
の記録パワーを最適に設定できる。そして、運用時の試
し書きを必要としないことから、画像情報の実時間処理
が容易となると共に、試し書きに必要なバッファを不要
とできることから装置の価格を大幅に低減できる利益が
ある。

【００７２】なお、上述実施の形態においては、光磁気
ディスク１１がスピンドルモータ１２によって線速度一
定で回転駆動されるＣＬＶ（Constant Linear Velocit
y）方式の光磁気ディスク装置１０を示したが、光磁気
ディスクの回転速度が一定となるＣＡＶ（Constant Ang
ular Velocity）方式やＭＣＡＶ（Modified ＣＡＶ）方
式の光磁気ディスク装置では、以下の第１および第２の
方法によって記録パワーの調整を行えばよい。

【００７３】第１の方法について説明する。この第１の
方法は、光磁気ディスクの記録領域内の径方向に複数個
の測定領域を設定し、この複数個の測定領域に対して図
７のフローチャートによって最適記録パワーを求め、そ
のデータを不揮発性メモリに書き込むものである。この
場合、複数個の測定領域以外の径方向領域の最適記録パ
ワーは、複数個の測定領域における最適記録パワーのデ
ータを使用して線形補間演算で求める。運用時には、複
数個の測定領域における最適記録パワーのデータと、上
述した線形補間演算によって求められた複数個の測定領
域以外の径方向領域の最適記録パワーのデータとから記
録パワーを設定することで、試し書きを必要とせずに、
レーザ光の記録パワーを最適に設定できる。

【００７４】なお、予め、線形補間演算を行って複数個
の測定領域以外の径方向領域の最適記録パワーを求め、
そのデータを不揮発性メモリに書き込んでおいてもよい
が、運用時に線形補間演算を行って複数個の測定領域以
外の径方向領域の最適記録パワーを求めるようにしても
よい。

【００７５】次に、第２の方法について説明する。この
第２の方法は、光磁気ディスクの記録領域内に単一の測
定領域を設定し、この単一の測定領域に対して図７のフ
ローチャートによって最適記録パワーを求め、そのデー
タを不揮発性メモリに書き込むものである。この場合、
単一の測定領域以外の径方向領域の最適記録パワーは、
光磁気ディスクの径方向の各領域に応じて記録パワーを
変化させるための径補正ゲインを使用して求める。

【００７６】例えばＣＡＶ方式の場合には、線速度は半
径に応じて線形に変化するので、必要な記録パワーも線
形に変化するものと考えられ、予め記録パワーの径補正
ゲインを与えておくことができる。ここで、単一の測定
領域における最適記録パワーから径補正のオフセット値
を逆算することで、単一の測定領域以外の全ての径方向
領域の最適記録パワーを得ることができる。

【００７７】運用時には、単一の測定領域における最適
記録パワーのデータと、上述した演算によって求められ
た単一の測定領域以外の径方向領域の最適記録パワーの
データとから記録パワーを設定することで、試し書きを
必要とせずに、レーザ光の記録パワーを最適に設定でき
る。

【００７８】なお、予め、演算を行って単一の測定領域
以外の径方向領域の最適記録パワーを求め、そのデータ
を不揮発性メモリに書き込んでおいてもよいが、運用時
に演算を行って単一の測定領域以外の径方向領域の最適
記録パワーを求めるようにしてもよい。

【００７９】ただし、この第２の方法では、単一の測定
領域以外の径方向領域において、求められた最適記録パ
ワーによって記録再生してエラーレートを測定し、その
エラーレートがＥＲ_BOTよりも小さくなることを調べる
必要がある。そして、単一の測定領域以外の径方向領域
でエラーレートがＥＲ_BOT以上となるときは、単一の測
定領域における最適記録パワーのデータを不揮発性メモ
リに書き込むことなく、表示器に不良であることを表示
し、調整不能とすればよい。

【００８０】また、第２の方法では、求められた単一の
測定領域以外の径方向領域における最適記録パワーがレ
ーザパワーの許容範囲にないときはレーザの破壊を招く
おそれがある。そこで、求められた単一の測定領域以外
の径方向領域における最適記録パワーがレーザパワーの
許容範囲内にないときは、同様に、単一の測定領域にお
ける最適記録パワーのデータを不揮発性メモリに書き込
むことなく、表示器に不良であることを表示し、調整不
能とすればよい。

【００８１】また、上述実施の形態においては、この発
明を光変調方式の光磁気ディスク装置に適用したもので
あるが、磁界変調方式の光磁気ディスク装置における記
録パワーも同様にして調整することができる。さらに
は、相変化型光ディスク装置に対する記録パワーの調整
にも、この発明を同様に適用できることは勿論である。

【００８２】

【発明の効果】この発明によれば、レーザ光の最適記録
パワーを求め、そのデータを不揮発性メモリに記録パワ
ーの設定値データとして格納するものであり、ディスク
や光学ヘッドの特性変動やばらつきに対して運用時の試
し書きを必要とせずに、レーザ光の記録パワーを最適に
設定することができる。運用時の試し書きを必要としな
いことから、画像情報の実時間処理が容易となると共
に、試し書きに必要なバッファを不要とできることから
装置の価格を大幅に低減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態としての光変調方式の光磁気ディス
ク装置を示すブロック図である。

【図２】各セクタの記録フォーマットを示す図である。

【図３】ＭＴＦ特性を示す図である。

【図４】記録パワーとエラーレートとの関係を示す測定
結果例を示す図である。

【図５】記録パワーの変化による波形等化後の再生信号
のアイパターンの変化を示す図である。

【図６】記録パワーとエラーレートの関係を示す測定結
果の態様を示す図である。

【図７】ＣＰＵの記録パワーの調整処理を示すフローチ
ャートである。

【符号の説明】

１０・・・光変調方式の光磁気ディスク装置、１１・・
・光磁気ディスク（ＭＯＤ）、１３・・・磁気ヘッド、
１４・・・光学ヘッド、１５・・・レーザ駆動回路、１
６・・・システムコントローラ、１８・・・サーボ回
路、２１，４１・・・波形等化回路、２３・・・アドレ
スデコーダ、３２・・・ＥＣＣエンコーダ、３３・・・
チャネルエンコーダ、３４・・・プリコード回路、４４
・・・識別・復号回路、４５・・・チャネルデコーダ、
４６・・・ＥＣＣデコーダ、５１・・・不揮発性メモ
リ、５２・・・表示器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ

Claims (26)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディスクにレーザ光を照射することでデ
   ータを上記ディスクに記録するものにおいて、 上記レーザ光の記録パワーを所定範囲で単調増加または
   単調減少させて上記ディスクに対してデータを記録およ
   び再生する工程と、 上記ディスクより再生されたデータのエラーレートを測
   定して誤り訂正可能な第１のエラーレートを実現する上
   記記録パワーの上限および下限を取得する工程と、 上記取得された記録パワーの上限および下限の中心値を
   利用して最適記録パワーを求める工程と、 上記求められた最適記録パワーのデータを記録パワーの
   設定値データとして不揮発性メモリに格納する工程とを
   有することを特徴とする記録パワー調整方法。
2. 【請求項２】 上記最適記録パワーを求める工程では、
   上記中心値に経時変化によって必要となる記録パワーの
   増加量の最大値を加算して上記最適記録パワーとするこ
   とを特徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
3. 【請求項３】 上記記録パワーの上限および下限を取得
   する工程では、上記記録パワーの上限がないとき上記所
   定範囲の最大の記録パワーを上記記録パワーの上限と
   し、上記記録パワーの下限がないとき上記所定範囲の最
   小の記録パワーを上記記録パワーの下限とすることを特
   徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
4. 【請求項４】 上記求められた記録パワーの上限および
   下限より上記第１のエラーレートを実現する記録パワー
   の範囲であるマージンを求める工程を有し、 上記マージンが必要な記録パワーの変化の最大値より小
   さいとき、表示器に不良であることを表示すると共に、
   上記求められた最適記録パワーのデータを不揮発性メモ
   リに格納する工程を行わないことを特徴とする請求項１
   に記載の記録パワー調整方法。
5. 【請求項５】 上記ディスクより再生されたデータのエ
   ラーレートが上記第１のエラーレートの上限を横切る記
   録パワーの数をカウントする工程を有し、 上記カウント数が３以上であったとき、表示器に不良で
   あることを表示すると共に、上記最適記録パワーのデー
   タを不揮発性メモリに格納する工程を行わないことを特
   徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
6. 【請求項６】 上記求められた最適記録パワーにおける
   エラーレートを周辺の記録パワーにおけるエラーレート
   より補間演算によって求める工程を有し、 上記求められた最適記録パワーにおけるエラーレートが
   上記第１のエラーレートの上限以下またはその上限より
   小さなエラーレート以下でないとき、表示器に不良であ
   ることを表示すると共に、上記最適記録パワーのデータ
   を不揮発性メモリに格納する工程を行わないことを特徴
   とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
7. 【請求項７】 ディスクにレーザ光を照射することでデ
   ータを上記ディスクに記録するものにおいて、 上記ディスクの記録領域内の径方向に複数個の測定領域
   を設定する工程と、 上記複数個の測定領域に対して、それぞれ上記レーザ光
   の記録パワーを所定範囲で単調増加または単調減少させ
   てデータを記録および再生する工程と、 上記複数個の測定領域よりそれぞれ再生されたデータの
   エラーレートを測定し、上記複数個の測定領域における
   誤り訂正可能な第１のエラーレートを実現する上記記録
   パワーの上限および下限を取得する工程と、 上記取得された複数個の測定領域における記録パワーの
   上限および下限の中心値を利用して、上記複数個の測定
   領域における最適記録パワーを求める工程と、 上記求められた複数個の測定領域における最適記録パワ
   ーのデータをそれぞれ上記複数個の測定領域における記
   録パワーの設定値データとして不揮発性メモリに格納す
   る工程とを有することを特徴とする記録パワー調整方
   法。
8. 【請求項８】 上記不揮発性メモリに格納された上記複
   数個の測定領域における最適記録パワーのデータを使用
   して上記複数個の測定領域以外の径方向領域の最適記録
   パワーを線形補間演算で求める工程をさらに有すること
   を特徴とする請求項７に記載の記録パワー調整方法。
9. 【請求項９】 ディスクにレーザ光を照射することでデ
   ータを上記ディスクに記録するものにおいて、 上記ディスクの記録領域内に単一の測定領域を設定する
   工程と、 上記測定領域に対して上記レーザ光の記録パワーを所定
   範囲で単調増加または単調減少させてデータを記録およ
   び再生する工程と、 上記測定領域より再生されたデータのエラーレートを測
   定し、誤り訂正可能な第１のエラーレートを実現する上
   記記録パワーの上限および下限を取得する工程と、 上記取得された記録パワーの上限および下限の中心値を
   利用して、最適記録パワーを求める工程と、 上記求められた最適記録パワーのデータを上記単一の測
   定領域における記録パワーの設定値データとして不揮発
   性メモリに格納する工程とを有することを特徴とする記
   録パワー調整方法。
10. 【請求項１０】 上記求められた最適記録パワーと上記
    ディスクの径方向の各領域に応じて記録パワーを変化さ
    せるための径補正ゲインとを使用して上記ディスクの径
    方向の各領域における最適記録パワーを求める工程をさ
    らに有することを特徴とする請求項９に記載の記録パワ
    ー調整方法。
11. 【請求項１１】 上記求められた各領域における最適記
    録パワーの変化範囲がレーザパワーの許容範囲でないと
    き、表示器に不良であることを表示すると共に、上記求
    められた単一測定領域の最適記録パワーのデータを不揮
    発性メモリに格納する工程を行わないことを特徴とする
    請求項１０に記載の記録パワー調整方法。
12. 【請求項１２】 上記求められた最適記録パワーと上記
    ディスクの径方向の各領域に応じて記録パワーを変化さ
    せるための径補正ゲインとを使用して上記ディスクの径
    方向の所定領域における最適記録パワーを求める工程
    と、 上記所定の領域に対して上記求められた最適記録パワー
    で上記記録データを記録および再生する工程と、 上記ディスクの所定領域より再生されたデータのエラー
    レートを測定する工程と、 上記測定されたエラーレートが上記第１のエラーレート
    の上限以下またはその上限より小さなエラーレート以下
    でないとき、表示器に不良であることを表示すると共
    に、上記求められた単一の測定領域における最適記録パ
    ワーのデータを不揮発性メモリに格納する工程を行わな
    いことを特徴とする請求項９に記載の記録パワー調整方
    法。
13. 【請求項１３】 ディスクにレーザ光を照射することで
    データを上記ディスクに記録し得るディスク装置におい
    て、 上記レーザ光の記録パワーを所定範囲で単調増加または
    単調減少させて上記ディスクに対してデータを記録およ
    び再生する記録再生制御手段と、 上記記録再生制御手段の制御によって上記ディスクより
    再生されたデータのエラーレートを測定して誤り訂正可
    能な第１のエラーレートを実現する上記記録パワーの上
    限および下限を取得する記録パワー取得手段と、 上記記録パワーの上限および下限の中心値を利用して最
    適記録パワーを求める記録パワー算出手段と、 上記最適記録パワーのデータを記録パワーの設定値デー
    タとして不揮発性メモリに格納するメモリ書き込み制御
    手段とを備えることを特徴とするディスク装置。
14. 【請求項１４】 上記記録再生制御手段、記録パワー取
    得手段、記録パワー算出手段およびメモリ書き込み制御
    手段は、制御、測定等を実際に行う中央処理装置、この
    中央処理装置の動作プログラムを格納したリードオンリ
    ーメモリ、上記制御、測定等の過程で一時的に必要とな
    るデータを格納するランダムアクセスメモリを有するマ
    イクロコンピュータで構成されることを特徴とする請求
    項１３に記載のディスク装置。
15. 【請求項１５】 上記記録パワー算出手段は、上記中心
    値に経時変化によって必要となる記録パワーの増加量の
    最大値を加算して上記最適記録パワーとすることを特徴
    とする請求項１３に記載のディスク装置。
16. 【請求項１６】 上記記録パワー取得手段は、上記記録
    パワーの上限がないとき上記所定範囲の最大の記録パワ
    ーを上記記録パワーの上限とし、上記記録パワーの下限
    がないとき上記所定範囲の最小の記録パワーを上記記録
    パワーの下限とすることを特徴とする請求項１３に記載
    のディスク装置。
17. 【請求項１７】 上記メモリ書き込み制御手段による上
    記不揮発性メモリへの最適記録パワーの書き込みを制限
    するメモリ書き込み制限手段をさらに備えることを特徴
    とする請求項１３に記載のディスク装置。
18. 【請求項１８】 上記メモリ書き込み制限手段は、 上記記録パワー取得手段で取得された上記記録パワーの
    上限および下限より上記第１のエラーレートを実現する
    記録パワーの範囲であるマージンを求めるマージン算出
    手段を有し、 上記マージンが必要な記録パワーの変化の最大値より小
    さいとき、上記メモリ書き込み制御手段によって上記不
    揮発性メモリへの最適記録パワーのデータの書き込みが
    行われることを禁止すると共に、表示器に不良であるこ
    とを表示することを特徴とする請求項１７に記載のディ
    スク装置。
19. 【請求項１９】 上記メモリ書き込み制限手段は、上記
    記録再生制御手段の制御によって上記ディスクより再生
    されたデータのエラーレートが上記第１のエラーレート
    の上限を横切る記録パワーの数をカウントするカウント
    手段を有し、 上記カウント手段のカウント数が３以上であったとき、
    上記メモリ書き込み制御手段によって上記不揮発性メモ
    リへの最適記録パワーのデータの書き込みが行われるこ
    とを禁止すると共に、表示器に不良であることを表示す
    ることを特徴とする請求項１７に記載のディスク装置。
20. 【請求項２０】 上記メモリ書き込み制限手段は、 上記記録パワー算出手段で求められた最適記録パワーに
    おけるエラーレートを周辺の記録パワーにおけるエラー
    レートより補間演算によって求める補間演算手段を有
    し、 上記最適記録パワーにおけるエラーレートが上記第１の
    エラーレートの上限以下またはその上限より小さなエラ
    ーレート以下でないとき、上記メモリ書き込み制御手段
    によって上記不揮発性メモリへの最適記録パワーのデー
    タの書き込みが行われることを禁止すると共に、表示器
    に不良であることを表示することを特徴とする請求項１
    ７に記載のディスク装置。
21. 【請求項２１】 ディスクにレーザ光を照射することで
    データを上記ディスクに記録し得るディスク装置におい
    て、 上記ディスクの記録領域内の径方向に複数個の測定領域
    を設定する測定領域設定手段と、 上記複数個の測定領域に対して、それぞれ上記レーザ光
    の記録パワーを所定範囲で単調増加または単調減少させ
    てデータを記録および再生する記録再生制御手段と、 上記記録再生制御手段の制御によって上記複数個の測定
    領域よりそれぞれ再生されたデータのエラーレートを測
    定し、上記複数個の測定領域における誤り訂正可能な第
    １のエラーレートを実現する上記記録パワーの上限およ
    び下限を取得する記録パワー取得手段と、 上記複数個の測定領域における記録パワーの上限および
    下限の中心値を利用して、上記複数個の測定領域におけ
    る最適記録パワーを求める記録パワー算出手段と、 上記複数個の測定領域における最適記録パワーのデータ
    をそれぞれ上記複数個の測定領域における記録パワーの
    設定値データとして不揮発性メモリに格納するメモリ書
    き込み制御手段とを備えることを特徴とするディスク装
    置。
22. 【請求項２２】 上記複数個の測定領域における最適記
    録パワーを使用して上記複数個の測定領域以外の径方向
    領域の最適記録パワーを線形補間演算で求める線形補間
    演算手段をさらに備えることを特徴とする請求項２１に
    記載のディスク装置。
23. 【請求項２３】 ディスクにレーザ光を照射することで
    データを上記ディスクに記録し得るディスク装置におい
    て、 上記ディスクの記録領域内に単一の測定領域を設定する
    測定領域設定手段と、 上記単一の測定領域に対して上記レーザ光の記録パワー
    を所定範囲で単調増加または単調減少させてデータを記
    録および再生する第１の記録再生制御手段と、 上記第１の記録再生制御手段の制御によって上記単一の
    測定領域より再生されたデータのエラーレートを測定
    し、誤り訂正可能な第１のエラーレートを実現する上記
    記録パワーの上限および下限を取得する記録パワー取得
    手段と、 上記記録パワーの上限および下限の中心値を利用して、
    最適記録パワーを求める第１の記録パワー算出手段と、 上記最適記録パワーのデータを上記単一の測定領域にお
    ける記録パワーの設定値データとして不揮発性メモリに
    格納するメモリ書き込み制御手段とを備えることを特徴
    とするディスク装置。
24. 【請求項２４】 上記最適記録パワーと上記ディスクの
    径方向の各領域に応じて記録パワーを変化させるための
    径補正ゲインとを使用して上記ディスクの径方向の各領
    域における最適記録パワーを求める第２の記録パワー算
    出手段をさらに備えることを特徴とする請求項２３に記
    載のディスク装置。
25. 【請求項２５】 上記メモリ書き込み制御手段による上
    記不揮発性メモリへの最適記録パワーの書き込みを制限
    するメモリ書き込み制限手段を備え、 上記メモリ書き込み制限手段は、上記第２の記録パワー
    算出手段で算出された上記各領域における最適記録パワ
    ーの変化範囲がレーザパワーの許容範囲内にないとき、
    上記メモリ書き込み制御手段によって上記不揮発性メモ
    リへの最適記録パワーのデータの書き込みが行われるこ
    とを禁止すると共に、表示器に不良であることを表示す
    ることを特徴とする請求項２４に記載のディスク装置。
26. 【請求項２６】 上記メモリ書き込み制御手段による上
    記不揮発性メモリへの最適記録パワーの書き込みを制限
    するメモリ書き込み制限手段と、 上記最適記録パワーと上記ディスクの径方向の各領域に
    応じて記録パワーを変化させるための径補正ゲインとを
    使用して上記ディスクの径方向の所定領域における最適
    記録パワーを求める第２の記録パワー算出手段と、 上記ディスクの径方向の所定領域に対して上記第２の記
    録パワー算出手段で求められた最適記録パワーで上記デ
    ータを記録および再生する第２の記録再生制御手段と、 上記第２の記録再生制御手段の制御によって上記ディス
    クより再生されたデータのエラーレートを測定するエラ
    ーレート測定手段とをさらに備え、 上記メモリ書き込み制御手段は、上記エラーレート測定
    手段で測定されたエラーレートが上記第１のエラーレー
    トの上限以下またはその上限より小さなエラーレート以
    下でないとき、上記メモリ書き込み制御手段によって上
    記不揮発性メモリへの最適記録パワーのデータの書き込
    みが行われることを禁止すると共に、表示器に不良であ
    ることを表示することを特徴とする請求項２３に記載の
    ディスク装置。