JPH1012187A - Ion trap mass spectrometer - Google Patents
Ion trap mass spectrometerInfo
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- JPH1012187A JPH1012187A JP8159495A JP15949596A JPH1012187A JP H1012187 A JPH1012187 A JP H1012187A JP 8159495 A JP8159495 A JP 8159495A JP 15949596 A JP15949596 A JP 15949596A JP H1012187 A JPH1012187 A JP H1012187A
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- mass spectrometer
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Abstract
(57)【要約】
【課題】高沸点成分の質量分析を可能とした質量分析計
を提供する。
【解決手段】トラップ場を構成するエンドキャップ5,
6の側面に各々円板状のセラミックヒータ18,19を
ねじ20で接触した状態で取り付ける。セラミックヒー
タ18,19には電源線21が各々2本ずつ接続され
る。セラミックヒータ18の近くには、温度センサ22
が取り付けられ、セラミックヒータ18,19に電源線
21を通して電源を供給し、トラップ場を構成している
エンドキャップ5,6とリング電極7を加熱する。
(57) [Problem] To provide a mass spectrometer capable of mass spectrometry of a high boiling point component. An end cap forming a trap field is provided.
Disk-shaped ceramic heaters 18 and 19 are attached to the side surfaces of 6 in a state of being in contact with screws 20 respectively. Two power supply lines 21 are connected to the ceramic heaters 18 and 19 respectively. A temperature sensor 22 is located near the ceramic heater 18.
Is attached, and power is supplied to the ceramic heaters 18 and 19 through the power supply line 21 to heat the end caps 5 and 6 and the ring electrode 7 which constitute the trapping field.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の電極のうち
少なくとも一つの電極の側面に接触して設けた加熱手段
および電極内に埋め込んだ加熱手段を備えたイオントラ
ップ形質量分析計に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ion trap mass spectrometer provided with a heating means provided in contact with a side surface of at least one of a plurality of electrodes and a heating means embedded in the electrodes.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、イオントラップ形質量分析計で
は、外部より導入された試料をトラップ場のなかでイオ
ン化し質量分離して分析する。ここでトラップ場を加熱
する一般的な手段として、トラップ場を構成する複数の
電極から離れたところにトラップ場全体を非接触で囲む
ような加熱手段を設け複数の電極に囲まれたトラップ場
を加熱していた。2. Description of the Related Art Generally, in an ion trap type mass spectrometer, a sample introduced from the outside is ionized in a trapping field and mass separated for analysis. Here, as a general means for heating the trapping field, a heating means that surrounds the entire trapping field in a non-contact manner away from the plurality of electrodes constituting the trapping field is provided, and the trapping field surrounded by the plurality of electrodes is provided. Had been heated.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の方法で
は加熱手段がトラップ場を構成している複数の電極に接
触していないため、複数の電極の温度が精度良く設定温
度にならない。同時に加熱手段からの隔離によって各電
極が同一温度にならない。そのため、複数の電極の実温
度よりも高い沸点を有する試料が外部から導入された場
合、トラップ場でイオン化される前の中性分子は複数の
電極のうち少なくとも一つの電極に吸着してしまい、試
料イオンが生成されないという欠点があった。However, in the conventional method, since the heating means does not contact the plurality of electrodes constituting the trapping field, the temperature of the plurality of electrodes does not accurately reach the set temperature. At the same time, the electrodes are not at the same temperature due to the isolation from the heating means. Therefore, when a sample having a boiling point higher than the actual temperature of the plurality of electrodes is introduced from the outside, neutral molecules before being ionized in the trap field will be adsorbed to at least one of the plurality of electrodes, There is a disadvantage that sample ions are not generated.
【0004】本発明の目的は、高沸点成分の質量分析を
可能としたイオントラップ形質量分析計を提供すること
にある。It is an object of the present invention to provide an ion trap type mass spectrometer capable of mass spectrometry of a high boiling point component.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に、本発明ではトラップ場を構成している複数の電極の
うち少なくとも一つの電極の側面に接触して設けた加熱
手段および電極内に埋め込んだ加熱手段を備える。In order to attain the above object, according to the present invention, a heating means provided in contact with a side surface of at least one of a plurality of electrodes constituting a trapping field and an inside of the electrode are provided. An embedded heating means is provided.
【0006】トラップ場を構成している複数の電極のう
ち少なくとも一つの電極の側面に接触して設けた加熱手
段および電極内に埋め込んだ加熱手段により、複数の電
極が精度良く設定温度になり、また各電極を同一温度に
加熱することで、高沸点成分(沸点150℃以上)がト
ラップ場に導入された場合でも質量分析が行えるように
作用する。[0006] The heating means provided in contact with the side surface of at least one of the plurality of electrodes constituting the trapping field and the heating means embedded in the electrodes bring the plurality of electrodes to the set temperature with high accuracy. Further, by heating each electrode to the same temperature, the mass spectrometry can be performed even when a high boiling component (boiling point of 150 ° C. or more) is introduced into the trapping field.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を用
いて説明する。図2に質量分析を行う際のイオントラッ
プ形質量分析計のブロック図を示す。一般に、イオント
ラップ形質量分析計は電子を出射するフィラメント2
と、それを加熱するフィラメント電源1がある。イオン
トラップはリング電極7とエンドキャップ5および6に
より構成され、リング電極7とエンドキャップ5および
6で取り囲まれる区域15がトラップ場となる。フィラ
メント2がフィラメント電源1によって加熱されると、
電子がフィラメント2から放射される。このとき、円筒
状ゲート電極3がフィラメント・レンズ制御装置4によ
って制御され、フィラメント2から放射される電子を望
むようにゲートで開閉する。これにより、エンドキャッ
プ5の開口部を通して区域15に電子が導入される。高
周波電圧発生器8のスイッチが入って電極7と電極5お
よび6の間に高周波電圧が印加されると、電極7と電極
5および6によって取り囲まれる区域15のなかに双曲
電界が生成される。フィラメント2から導入されてきた
電子によって、外部からの試料導入経路14から区域1
5に導入されてきた試料がイオン化され、生成したイオ
ンを双曲電界内に蓄積することができる。イオンを外置
きの検出器10によって検出するために、エンドキャッ
プ6の開口部と検出器10の間にイオンレンズ電極16
を設ける。イオンレンズ制御装置17によってイオンレ
ンズ電極16を制御することでイオンレンズを開閉し、
区域15でイオン化された試料イオンを区域15からエ
ンドキャップ6の開口部を通して検出器10により検出
する。増幅器11では、検出器10の出力で集められる
電流信号を受け取り、電圧信号に変換する。電圧信号
は、プロセッサ13内で処理するために、記憶装置12
のなかに記憶される。コンピュータ制御装置9によっ
て、高周波電圧発生器8,フィラメント・レンズ制御装
置4,イオンレンズ制御装置12を制御するための制御
信号が生成される。コンピュータ制御装置9によって、
プロセッサ13から受け取る指令に応答して、高周波電
圧発生器8,フィラメント・レンズ制御装置4,イオン
レンズ制御装置12へ制御信号が送り出され、プロセッ
サ13からの要求に応答して、プロセッサ13へデータ
が送り出される。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 shows a block diagram of an ion trap mass spectrometer when performing mass spectrometry. Generally, an ion trap type mass spectrometer has a filament 2 for emitting electrons.
And a filament power supply 1 for heating it. The ion trap is constituted by the ring electrode 7 and the end caps 5 and 6, and the area 15 surrounded by the ring electrode 7 and the end caps 5 and 6 becomes a trap field. When the filament 2 is heated by the filament power supply 1,
Electrons are emitted from the filament 2. At this time, the cylindrical gate electrode 3 is controlled by the filament / lens control device 4 so that the electrons emitted from the filament 2 are opened and closed by the gate as desired. Thereby, electrons are introduced into the area 15 through the opening of the end cap 5. When the high-frequency voltage generator 8 is switched on and a high-frequency voltage is applied between the electrodes 7 and the electrodes 5 and 6, a hyperbolic electric field is generated in the area 15 surrounded by the electrodes 7 and the electrodes 5 and 6. . The electron introduced from the filament 2 causes the sample 1 from the outside to enter the area 1 from the sample introduction path 14.
The sample introduced into 5 is ionized, and the generated ions can be stored in the hyperbolic electric field. In order to detect ions by the external detector 10, an ion lens electrode 16 is provided between the opening of the end cap 6 and the detector 10.
Is provided. The ion lens is opened and closed by controlling the ion lens electrode 16 by the ion lens control device 17,
The sample ions ionized in the zone 15 are detected by the detector 10 from the zone 15 through the opening of the end cap 6. Amplifier 11 receives the current signal collected at the output of detector 10 and converts it to a voltage signal. The voltage signal is stored in the storage device 12 for processing in the processor 13.
It is stored inside. A control signal for controlling the high-frequency voltage generator 8, the filament / lens control device 4, and the ion lens control device 12 is generated by the computer control device 9. By the computer controller 9
In response to a command received from the processor 13, a control signal is sent to the high-frequency voltage generator 8, the filament / lens controller 4, and the ion lens controller 12, and in response to a request from the processor 13, data is sent to the processor 13. Will be sent out.
【0008】図1はトラップ場を構成しているエンドキ
ャップ5および6の側面に加熱手段を接触して設けた状
態の斜視図を示す。トラップ場を構成するエンドキャッ
プ5および6の側面に各々円板状のセラミックヒータ1
8と19をねじ20を使用して接触した状態で取り付け
る。このとき、セラミックヒータ18と19は同じ加熱
性能を有するものを使用するのが望ましい。セラミック
ヒータ18と19には電源供給のための電源線21が各
々2本ずつ接続されている。また、セラミックヒータ1
8の近くに温度センサ22が、セラミックヒータ18を
エンドキャップ6に接触して取り付けるためのねじ20
によって取り付けられている。FIG. 1 is a perspective view showing a state in which a heating means is provided in contact with the side surfaces of end caps 5 and 6 constituting a trapping field. Disc-shaped ceramic heaters 1 are provided on the side surfaces of the end caps 5 and 6 constituting the trapping field, respectively.
Attach 8 and 19 in contact using screws 20. At this time, it is desirable that the ceramic heaters 18 and 19 have the same heating performance. Two power lines 21 for supplying power are connected to the ceramic heaters 18 and 19, respectively. In addition, ceramic heater 1
A temperature sensor 22 near screw 8 is provided with screws 20 for mounting ceramic heater 18 in contact with end cap 6.
Installed by.
【0009】図3は、図1でトラップ場を構成している
エンドキャップ5および6の側面に接触して設けた加熱
手段であるセラミックヒータ18と19を制御するため
の制御のブロック図を示す。ヒータ電源23によってセ
ラミックヒータ18と19に電源を供給し、トラップ場
を構成しているエンドキャップ5および6とリング電極
7を加熱する。セラミックヒータ18の近くに取り付け
られた温度センサ22が常時セラミックヒータ18の温
度を監視しており、コンピュータ制御装置9から送られ
る制御信号と温度センサ22からの温度監視信号を温度
制御装置24に送ることにより、ヒータ電源23を投入
したり遮断したりすることで、セラミックヒータ18の
温度を任意に制御することができる。セラミックヒータ
18と19は同じ加熱性能を有し、またヒータ電源23
にはセラミックヒータ18と19は並列に接続されてい
ることから、セラミックヒータ18の温度とセラミック
ヒータ19の温度は等しくなるため、エンドキャップ5
および6の温度は均一になり、高沸点成分も吸着するこ
となく高感度で検出することができる。FIG. 3 is a block diagram of control for controlling ceramic heaters 18 and 19 which are heating means provided in contact with the side surfaces of the end caps 5 and 6 constituting the trapping field in FIG. . Power is supplied to the ceramic heaters 18 and 19 by the heater power supply 23 to heat the end caps 5 and 6 and the ring electrode 7 constituting the trapping field. A temperature sensor 22 mounted near the ceramic heater 18 constantly monitors the temperature of the ceramic heater 18, and sends a control signal sent from the computer controller 9 and a temperature monitoring signal from the temperature sensor 22 to the temperature controller 24. Thus, the temperature of the ceramic heater 18 can be arbitrarily controlled by turning on or off the heater power supply 23. The ceramic heaters 18 and 19 have the same heating performance.
Since the ceramic heaters 18 and 19 are connected in parallel to each other, the temperature of the ceramic heater 18 and the temperature of the ceramic heater 19 become equal.
And the temperature of 6 becomes uniform, and high-boiling components can be detected with high sensitivity without being adsorbed.
【0010】[0010]
【発明の効果】本発明によれば、イオントラップ形質量
分析計を用いて試料の質量分析を行う際に、高沸点成分
(沸点150℃以上)に対しても質量分析を行うことが
できる。According to the present invention, when mass spectrometry of a sample is performed using an ion trap type mass spectrometer, mass spectrometry can be performed even for high boiling components (boiling point of 150 ° C. or higher).
【図1】本発明の実施例を示すイオントラップ形質量分
析計のトラップ場を構成して電極の側面に加熱手段を接
触して設けた状態の斜視図。FIG. 1 is a perspective view of a state where a trapping field of an ion trap mass spectrometer according to an embodiment of the present invention is configured and a heating means is provided in contact with a side surface of an electrode.
【図2】質量分析を行う際のイオントラップ形質量分析
計のブロック図。FIG. 2 is a block diagram of an ion trap mass spectrometer when performing mass spectrometry.
【図3】本発明の実施例を示す温度制御のブロック図。FIG. 3 is a block diagram of temperature control showing the embodiment of the present invention.
5,6…エンドキャップ、7…リング電極、18,19
…センミックヒータ、20…ねじ、21…電源線、22
…温度センサ。5, 6 ... end cap, 7: ring electrode, 18, 19
... Senmic heater, 20 ... Screw, 21 ... Power line, 22
... Temperature sensor.
Claims (1)
電極と、試料をイオン化してイオン化した前記試料を前
記トラップ場に蓄積するイオン化手段と、前記複数の電
極のうち少なくとも一つの電極に交流電圧を印加してト
ラップ電界を発生させる電圧印加手段と、前記トラップ
場から前記イオン化された試料の質量分析手段とを含む
イオントラップ質量分析計において、前記複数の電極の
うち少なくとも一つの電極の側面に接触して設けた加熱
手段および電極内に埋め込んだ加熱手段を備えたことを
特徴とするイオントラップ質量分析計。1. A plurality of electrodes provided so as to surround a trapping field, ionization means for ionizing a sample and storing the ionized sample in the trapping field, and at least one of the plurality of electrodes. In an ion trap mass spectrometer including a voltage application unit that generates a trapping electric field by applying an AC voltage, and a mass analysis unit for the ionized sample from the trapping field, at least one electrode of the plurality of electrodes is used. An ion trap mass spectrometer comprising a heating means provided in contact with a side surface and a heating means embedded in an electrode.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8159495A JPH1012187A (en) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | Ion trap mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8159495A JPH1012187A (en) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | Ion trap mass spectrometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1012187A true JPH1012187A (en) | 1998-01-16 |
Family
ID=15695024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8159495A Pending JPH1012187A (en) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | Ion trap mass spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1012187A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017191737A (en) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | 株式会社島津製作所 | Ion trap mass spectroscope |
| RU231761U1 (en) * | 2024-12-02 | 2025-02-10 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)" | Device for heating and maintaining the temperature of units of a high-resolution mass spectrometric complex with a harmonized Kingdon trap |
-
1996
- 1996-06-20 JP JP8159495A patent/JPH1012187A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017191737A (en) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | 株式会社島津製作所 | Ion trap mass spectroscope |
| RU231761U1 (en) * | 2024-12-02 | 2025-02-10 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)" | Device for heating and maintaining the temperature of units of a high-resolution mass spectrometric complex with a harmonized Kingdon trap |
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