JPH10125426A - Icソケット - Google Patents
IcソケットInfo
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- JPH10125426A JPH10125426A JP8270104A JP27010496A JPH10125426A JP H10125426 A JPH10125426 A JP H10125426A JP 8270104 A JP8270104 A JP 8270104A JP 27010496 A JP27010496 A JP 27010496A JP H10125426 A JPH10125426 A JP H10125426A
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Abstract
てコンタクトピッチを縮小したICソケットにおいて、
多数のコンタクトの取付作業性を改善する。 【解決手段】 ICソケット10は、ハウジング12に
固定的に収容される複数のコンタクト14を備える。そ
れらコンタクト14は、それぞれに所望個数のコンタク
ト14を有する複数のコンタクト群30に分割され、各
コンタクト群30に含まれる全てのコンタクト14が、
電気絶縁性の保持部材32により相互に一体的に、かつ
他のコンタクト群30に含まれるコンタクト14から独
立して保持される。コンタクト14を予め保持した複数
の保持部材32を、コンタクトテール部26の先端部分
をハウジング底部16の貫通孔22に貫入しつつハウジ
ング12に取付けることにより、全てのコンタクト14
がハウジング12に、対象のICデバイスのリードピッ
チと同一のピッチで装着される。
Description
着可能に支持してICデバイスと外部回路との間を電気
的に接続するICソケットに関する。
の、ICデバイスの交換や増減設を行うことが予測され
る電子回路において、ICデバイスを脱着可能に支持し
つつ、ソケット内に組込まれた複数のコンタクトを介し
てICデバイスと電子回路との間を電気的に接続する一
種の実装用コネクタとして使用されている。また、電子
機器に搭載する前のICデバイスに、導通試験等の所定
の電気的試験を実施する際に使用される試験用のICソ
ケットも周知である。電気的試験に際しては、ICデバ
イスを試験回路に対して容易かつ正確に、しかも多数の
ICデバイスを順次交換可能に接続する必要があるの
で、ICデバイスを脱着可能に支持して試験装置の回路
基板に搭載され、ソケット内の複数のコンタクトを介し
てICデバイスと試験回路との間を電気的に接続するI
Cソケットが、好都合に使用されるのである。
て、例えば特表平7−505255号に開示されたもの
が知られている。このICソケットは、多数のリード
(すなわち電極パッド)を方形格子状又は千鳥格子状に
配列したアレイ型パッケージ構造(例えばBGA(ボー
ルグリッドアレイ)やLGA(ランドグリッドアレ
イ))を有するICデバイスに対して使用できるもので
あり、無蓋容器状の樹脂製ハウジングと、ハウジング底
部の上方に配置され、ICデバイスを支持する支持台
と、支持台とハウジング底部との間に設置される複数の
弾性コンタクトと、ハウジングに蝶番式に連結される蓋
とを備える。支持台には、各コンタクトの一端の接点部
を挿通する複数の挿通孔が設けられ、ハウジング底部に
は、各コンタクトの他端のテール部を係止する複数の係
止孔が設けられる。各コンタクトは、テール部をハウジ
ング底部の係止孔に圧入することにより、テール部を外
方に延出した状態でハウジング底部に固定される。
装置の回路基板にICソケットを搭載して各コンタクト
のテール部を試験回路に半田付け等により接続する。次
いでICデバイスを支持台に載せ、支持台の挿通孔に配
置された各コンタクトの接点部にICデバイスの各リー
ドを接触させた状態で、蓋をICデバイスに押し付けつ
つハウジングに係着する。それにより各コンタクトが弾
性変形し、その弾性復元力による圧力下で、ICデバイ
スの各リードと各コンタクトの接点部とが接触する。
おける小形化及びリード配置の高密度化が進むに従い、
ICソケットに対しても、そのようなICデバイスに適
応可能な構造を有することが要求されている。例えば、
BGAやLGA等のアレイ型パッケージ構造を有するI
Cデバイスにおいて、格子状に配列された複数のリード
の配置間隔(ピッチ)が、従来一般的な1.27mmか
ら、1.0mm以下に縮小される傾向がある。このような
微小リードピッチのICデバイスに対応して、上記した
従来のICソケットでコンタクトピッチをリードピッチ
と同一に縮小しようとすると、ICソケットのハウジン
グ底部に設けた係止孔の周囲壁の厚みが必然的に減少す
る。その結果、コンタクトのテール部を係止孔に圧入す
る際に、係止孔の周囲壁が応力により比較的容易に変形
し、ハウジング底部に白化、撓み、破壊等の損傷が生じ
る危惧がある。
い、隣合うコンタクト同士の短絡を防止するためにコン
タクト自体の形状が細小化されるので、ハウジング底部
の係止孔に圧入する際の圧入力によってコンタクト自体
が比較的容易に変形したり破壊されたりする危惧もあ
る。コンタクトが変形すると、ソケット内で多数のコン
タクトを互いに平行にかつ接点部高さを同一に保持する
ことが困難となり、短絡の危険性が増すだけでなく、接
触圧力の不均一による信号伝送障害が生じる場合があ
る。仮に、コンタクトに損傷を与えずに係止孔に圧入で
きたとしても、係止孔周囲壁に前述した変形が生じる
と、やはり多数のコンタクトを互いに平行にかつ接点部
高さを同一に保持することが困難となる。
クトは、単体で取扱う際に一層慎重な作業が要求される
ので、作業者の精神的負担が増す。作業時間を短縮する
ために、そのようなコンタクトを多数一括してハウジン
グ底部に圧入する場合には、細小なコンタクト形状及び
狭隘なコンタクトピッチに対応可能な圧入装置を提供す
ることが困難である。他方、ハウジング底部に設けられ
る係止孔は、コンタクトのテール部を確実に係止するた
めに、一般に段付孔状に形成されるが、このような形状
の係止孔を多数、上記したような狭隘なピッチで格子配
列に成形できる金型を作成することは困難である。
ケージ構造を有するICデバイスのリードピッチの一層
の縮小に対応してコンタクトピッチを縮小したICソケ
ットであって、ソケットハウジングに多数のコンタクト
を取付ける際に生じ得るハウジングやコンタクトの損傷
の危惧を低減して、ICソケットの構造的信頼性を向上
でき、しかも多数のコンタクトの取付作業性を著しく改
善できるICソケットを提供することにある。
に、本発明は、無蓋容器状のハウジングと、ハウジング
に固定的に収容される複数のコンタクトとを具備し、そ
れらコンタクトの各々が、ハウジングの底部の上方でI
Cデバイスの複数のリードの各々に電気的に接続される
一端の接点部と、ハウジングの底部から外方に延出され
て外部回路に電気的に接続される他端のテール部とを備
えてなるICソケットにおいて、複数のコンタクトを、
それぞれに1つ以上の所望個数のコンタクトを有する複
数のコンタクト群に分割し、1つのコンタクト群に含ま
れる全てのコンタクトをハウジング上で固定的に、かつ
他のコンタクト群に含まれるコンタクトから独立して、
ICデバイスのリード配置に対応した位置に保持する電
気絶縁性の複数の保持部材と、複数の保持部材をハウジ
ングに固定する固定手段とを具備したことを特徴とする
ICソケットを提供する。
て、保持部材が、1つのコンタクト群に含まれる全ての
コンタクトに一体成形される樹脂成形体からなるICソ
ケットを提供する。
て、固定手段が、ハウジング及び保持部材に相補的に設
けられ、保持部材をハウジングに固定的に係合させる係
合部からなるICソケットを提供する。
て、ハウジングが、底部の上方に配置されてICデバイ
スを支持する支持部を備え、支持部に、複数のコンタク
トの各々の接点部を挿通する複数の挿通孔が設けられる
ICソケットを提供する。
て、ハウジングに着脱可能に取付けられる蓋体をさらに
具備し、蓋体がその閉鎖時に、ICデバイスの複数のリ
ードと複数のコンタクトの接点部とを所定圧力下で接触
させるべく構成されたICソケットを提供する。
明をその実施形態に基づき詳細に説明する。なお以下の
実施形態の説明では、本発明を試験用ICソケットに適
用した例を示すが、本発明はこれに限定されず、実装用
ICソケットにも適用できるものである。
ICソケット10を分解図で示す。ICソケット10
は、無蓋容器状のハウジング12と、ハウジング12に
固定的に収容される複数のコンタクト14とを備える。
ハウジング12は、機械的強度及び耐熱性に優れた電気
絶縁性材料から形成され、略矩形平面形状を有する底部
16と、底部16の四辺から略直立状に延長される囲壁
18とを備える。底部16及び囲壁18は、開放された
内部空間20をハウジング12内に画成する。
ンタクト14を個別に受容する複数の貫通孔22が設け
られる。それら貫通孔22は、ICソケット10の適用
対象となるアレイ型パッケージ構造を有したICデバイ
ス100(図6参照)のリード配置に対応可能な方形格
子状配列で、底部16に形成される。したがって複数の
貫通孔22のピッチは、対象のICデバイス100のリ
ードピッチと同一である。
性材料からなるピン状導体であり、ハウジング12の底
部16の上方に配置される一端の接点部24と、ハウジ
ング底部16に設けた貫通孔22を通して外方に延出さ
れる他端のテール部26と、接点部24とテール部26
との間を連結する弾性変形可能な連結部28とを各々に
備える。各コンタクト14は、後述するようにICソケ
ット10の作用時に、接点部24でICデバイス100
の複数のリード102(図6参照)の各々に接続される
とともに、テール部26で外部の試験回路(図示せず)
に接続され、それにより各リード102と試験回路との
間を電気的に接続する。
個数のコンタクト14を有する複数のコンタクト群30
に分割される(図を簡略にするため、図1では2つのコ
ンタクト群30のみ示す)。そして各コンタクト群30
に含まれる全てのコンタクト14は、電気絶縁性の保持
部材32により相互に一体的に、かつ他のコンタクト群
30に含まれるコンタクト14から独立して保持され
る。したがってICソケット10では、複数の保持部材
32により保持された複数のコンタクト群30を、それ
ら保持部材32を介してハウジング12の所定位置に固
定的に設置することにより、複数のコンタクト14がI
Cデバイス100のリード102の配置に対応した位置
に固定される。
のコンタクト14を一列に整列した状態に一体的に保持
する棒状の基部34と、基部34の長手方向両端から直
立状に延長される一対の腕部36とを備える。基部34
には、各コンタクト14のテール部26を係止する複数
の係止孔38が、腕部36の延長方向に略平行に貫通形
成される。複数の係止孔38のピッチは、ハウジング底
部16の貫通孔22のピッチと同一であり、したがって
対象のICデバイス100のリードピッチと同一であ
る。各コンタクト14は、連結部28が両腕部36の間
に相互離間して配置され、後述する係止構造を有したテ
ール部26の一部分で係止孔38に受容、係止されると
ともに、テール部26の先端部分が基部34から延長さ
れる。
a(図2)でハウジング12の底部16に当接されると
ともに、軸方向両端面34b(図2)でハウジング12
の囲壁18の一対の対向面18aに当接された状態で、
ハウジング12に収容される。また保持部材32の腕部
36は、基部34の軸方向両端面34bから同一平面状
に延長された外端面36b(図2)で、ハウジング12
の囲壁18の対向面18aに当接される。すなわち保持
部材32の両腕部36の外端面36b間の距離は、ハウ
ジング12の囲壁18の対向面18a間の距離に等し
い。また、保持部材32の基部34の底面34aから腕
部36の頂面36aまでの高さは、ハウジング12の囲
壁18の高さに略等しい。さらに、保持部材32の基部
34の底面34aに平行な横断方向寸法は、係止孔38
のピッチ、ハウジング底部16の貫通孔22のピッチ、
及びICデバイス100のリードピッチと同一である。
の両腕部36には、外端面36bから外方へ突出する係
合突条40が設けられる。係合突条40は、腕部36の
延長方向に平行に直線状に延長される。ハウジング12
の囲壁18の対向面18aには、各保持部材32の両腕
部36の係合突条40を受容可能な複数の溝42が凹設
される。それら溝42は、囲壁18の頂面18bからハ
ウジング12の底部16まで、底部16に略直交して直
線状に延長される。
2に複数のコンタクト14を装着する際には、まず1つ
のコンタクト群30の全てのコンタクト14を予め保持
した保持部材32を、基部34をハウジング底部16に
対向させるとともに両腕部36の係合突条40をハウジ
ング12の囲壁対向面18aの溝42に係合させつつ、
囲壁頂面18bから囲壁18に摺動式に取付ける。保持
部材32は、係合突条40と溝42との係合により案内
されて、ハウジング底部16に向かって平行移動し、保
持部材32の基部34から突出する各コンタクト14の
テール部26の先端部分が、ハウジング底部16の貫通
孔22に貫入される。保持部材32の基部34がハウジ
ング底部16に当接されると、各コンタクト14のテー
ル部26の先端部分がハウジング底部16から外方に延
出され、1つのコンタクト群30の全てのコンタクト1
4が所定位置に配置される。このような作業を、全ての
コンタクト群30に対し、順次に又は一括して行うこと
により、全てのコンタクト14がハウジング12に、I
Cデバイス100のリードピッチと同一のピッチで装着
される。
ば、複数のコンタクト14をハウジング12に装着する
際に、保持部材32の作用により、従来行われていたハ
ウジング底部16へのコンタクト圧入工程が省略される
ので、例えばリードピッチを1.0mm以下に縮小したI
Cデバイス100に対応してコンタクト14を微小ピッ
チに配置したとしても、ハウジング底部16の複数の貫
通孔22の周囲壁が圧入時の応力により損傷する危惧は
排除される。同様に、細小化されたコンタクト14が、
圧入力によって変形する危惧も排除される。しかも複数
のコンタクト14は、保持部材32により互いに平行
に、かつハウジング底部16に対して垂直に保持される
ので、保持部材32へのコンタクト14の取付けを正確
に行いさえすれば、コンタクト14同士の短絡の危険性
や、接点部高さの不均一による信号伝送障害が生じる危
惧が回避される。
数のコンタクト14は、コンタクト群30として容易に
取扱うことができ、作業者の精神的負担が軽減される。
しかもそのようなコンタクト群30は、手作業によって
ハウジング12に取着することもでき、複数のコンタク
ト群30を一括してハウジング12に装着することも容
易である。さらに、複数のコンタクト14は保持部材3
2を介してハウジング12に取付けられるので、ハウジ
ング底部16に設けられる貫通孔22を簡単な円筒孔に
形成することができ、狭隘なピッチであっても容易に格
子配列に成形できる。ハウジング12への複数のコンタ
クト14の固定は、コンタクト14と保持部材32との
間の固定、及び保持部材32とハウジング12との間の
固定によって得られる。
確に固定するためには、コンタクト14をインサートと
して金型内に配置し、樹脂材料からインサート成形工程
により保持部材32をコンタクト14に一体に成形する
ことが好ましい。この場合、図6に示すように、テール
部26の一部分に切欠きや突起等からなる簡単な係止構
造44を設けることが望ましい。また、予め複数の係止
孔38を設けた保持部材32を別体に成形し、それら係
止孔38にコンタクト14のテール部26を圧入するこ
とにより、コンタクト14を保持部材32に固定するこ
ともできる。この場合周知のように、テール部26の一
部分に鋸歯状の係止構造が設けられる。このような圧入
による構成は、従来技術におけるようにハウジング底部
にコンタクトを直接に圧入する構成に比べて、保持部材
32の基部34の係止孔38の周囲壁に圧入時の応力を
逃がし易いので、基部34の損傷を可及的に回避でき
る。
ンタクト群30に含まれる全てのコンタクト14を、ハ
ウジング12上でICデバイス100のリード配置に対
応した位置に固定的に保持するものである。したがっ
て、コンタクト群30の設定の仕方に依存して、複数の
コンタクト14を上記の1列等ピッチ配置以外の様々な
配列に保持する種々の基部を有した保持部材を提供でき
る。例えば図3(a)に概略的に示すように、同一形状
の保持部材32をハウジング12内に複数個並列に配置
した場合、全ての係止孔38にコンタクト14を保持す
る保持部材32と、コンタクト14を保持しない係止孔
38′(但し上記したインサート成形工程を採用する場
合、この部位には孔が形成されない)を有する保持部材
32′、32″とが生じることになる。この場合、保持
部材32′、32″の成形後に、コンタクト14を保持
しない係止孔38′の部分を、破線で示すように切除す
ることもできる。このように本発明に係る保持部材は、
コンタクトを1つだけ保持する場合にも、所期の目的を
達成できるものである。
ICデバイスのリード配置に対応して、複数のコンタク
ト14を2列等ピッチの長方形格子状配置で保持する保
持部材32Aと、複数のコンタクト14を3列等ピッチ
の正方形格子状配置で保持する保持部材32Bとを使用
することもできる。このような構成においても、上記し
たと同様の効果を得ることができることは言うまでもな
い。このように本発明に係る保持部材は、コンタクト群
30におけるコンタクト14の個数や配置を積極的に限
定するものではなく、インサート成形や圧入による保持
部材へのコンタクトの取付工程で、保持部材及びコンタ
クトの損傷や保持部材の成形不可要因が生じない範囲
で、様々な形状に形成できるものである。
2の底部16の上方に設置される支持台46を備えるこ
とができる。支持台46は、機械的強度及び耐熱性に優
れた電気絶縁性材料から形成され、ICデバイス100
を支持する略矩形薄板状の多孔支持部48と、多孔支持
部48の周縁四隅から略直立状に延長される4つの脚部
50とを備える。多孔支持部48は、略平坦な主表面4
8aを備え、複数の挿通孔52が主表面48aに略直交
して多孔支持部48に貫通形成される。主表面48aの
周縁領域には、ICデバイス100をその側縁で案内か
つ位置決めするための突枠54が、主表面48aから僅
かに突出して少なくとも局所的に形成される。
象のICデバイス100のリードピッチと同一のピッチ
で方形格子状に配列され、保持部材32を介してハウジ
ング底部16に支持された複数のコンタクト14の接点
部24をそれぞれに受容する。それにより、複数のコン
タクト14の接点部24が、ICデバイス100のリー
ド102に対応した位置に保持される。各コンタクト1
4の接点部24は、多孔支持部48の裏面48b(図
6)側から挿通孔52に挿入される。好ましくは挿通孔
52は、コンタクト14の接点部24の挿入を容易にす
るために、図6に示すように多孔支持部48の主表面4
8a側から裏面48b側へ向かって徐々に拡大されてい
る。また、好ましくは挿通孔52は、コンタクト14の
接点部24の移動を許容するために、隙間を介して接点
部24を受容可能な寸法を有する。
は、多孔支持部48に一体的に連結される基端50aを
支点として、末端の自由端50bが弾性的に揺動できる
ように構成される。各脚部50の自由端50bには、脚
部50に略直交して外方へ突出する爪56を設けること
ができる。これら爪56は、ハウジング12の囲壁18
のもう1組の対向面18cに対応して設けられた肩面5
8に係合する。このような構造により、支持台46は4
つの脚部50を介して、ハウジング12の囲壁18にス
ナップ式に取付けられる。
と、支持台46の多孔支持部48の裏面48bの周縁領
域が、ハウジング12の囲壁18の頂面18bに当接さ
れるようになっている。その結果、保持部材32は、両
腕部36の頂面36aが支持台46によって係止される
ので、ハウジング12に確実に固定されることになる。
したがってこの場合、支持台46は、保持部材の係合突
条40とハウジングの溝42との相補的係合作用に協働
して、保持部材32をハウジング12に固定する固定手
段としても作用する。
けたときには、好ましくは各コンタクト14は、いかな
る負荷も受けずに(すなわち連結部28が変形せずに)
接点部24が多孔支持部48の挿通孔52に遊挿され、
接点部24が多孔支持部48の主表面48aから僅かに
突出した状態となっている。そして、多孔支持部48に
ICデバイス100を載せて、リード102とコンタク
ト14の接点部24との間に所望の接触圧力を得るべ
く、ICデバイス100に圧力を負荷すると、各コンタ
クト18が連結部28にて個々に変形し、各接点部24
が挿通孔50内に摩擦を生じることなく容易に引き込ま
れる。このように、コンタクト14の連結部28は、コ
ンタクト14自体にばね機能を付与して、接点部24を
ICデバイス100のリード102に電気的に接続する
ときに所望の接触圧力を得ることを可能にする。
ハウジング12に取付けたときに、負荷を受けて連結部
28が僅かに弾性変形した状態にあってもよい。この場
合、コンタクト14の接点部24と連結部28との境界
領域に突起60(図6)を設け、支持台46の多孔支持
部48の裏面48bに突起60を係合させることによ
り、コンタクト14が支持台46から負荷を受ける構成
とすることが好ましい。このような構成によれば、複数
のコンタクト14の弾性的付勢力を受けて、保持部材3
2がハウジング底部16に押付けられ、固定される。さ
らに、支持台46の各脚部50の爪56とハウジング1
2の囲壁18の肩面58との係合に遊びを持たせておけ
ば、支持台46の爪56が複数のコンタクト14の弾性
的付勢力の下でハウジング12の肩面58に係合し、支
持台46がハウジング底部16の上方所定位置に保持さ
れるとともに、後述する蓋体62を閉じたときのICデ
バイス100の斜め押しを弾性的に吸収できるので、リ
ード102とコンタクト14との接触圧力の不均一性を
回避することができ、しかもICデバイス100のリー
ド102へ損傷を与える危惧を低減できる。
00を支持するとともにコンタクト14の接点部24を
所定位置に保持する機能を有するものであるが、例えば
コンタクト自体にICデバイス支持機能を付与すること
により、支持台46を省略することもできる。この場合
のコンタクトは、上記コンタクト14のようにC字状に
湾曲した連結部28を備えるものではなく、比較的高剛
性の直線状連結部を備え、その代わりに接点部自体にI
Cデバイスのリードを弾性的に受容する弾性構造を備え
たものを採用できる。このような構造のコンタクトに対
しては、例えばコンタクトの連結部と接点部との境界領
域を保持部材によって保持する構成とすれば、接点部を
所定位置に固定的に保持することが可能となる。
固定手段としては、上記のように支持台46を流用する
以外にも様々な形態を提供できる。例えば図4(a)に
示すように、保持部材32の腕部36の外端面36b
に、係合突条40の代わりに係合爪37を設け、ハウジ
ング12の囲壁18の対向面18aに溝42の代わりに
肩19を設け、係合爪37と肩19との係合により保持
部材32を固定する構成とすることができる。また図4
(b)に示すように、保持部材32の基部34の底面3
4aに突起35を設け、ハウジング12の底部16に凹
部17を設け、凹部17に突起35を圧入することによ
り保持部材32を固定することもできる。この場合、腕
部36を省略することもできる。
させたときに良好な導通状態を確保するためには、接触
導体間に所定の接触圧力が必要なことは周知である。I
Cソケット10は、複数のコンタクト14の接点部24
とICデバイス100の複数のリード102との間にこ
のような接触圧力を付与する加圧手段として、ハウジン
グ12に着脱可能に取付けられる蓋体62を備えること
ができる。好ましくは蓋体62は、図5に示すように、
軸64を介してハウジング12の囲壁頂面18bの一縁
に蝶番式に連結される。なお、電気的試験を実施する際
に、所望の治具により支持台46上のICデバイス10
0をハウジング底部16に接近する方向へ押圧すること
ができる場合は、蓋体62は不用となる。
面の略中央に、ICデバイス100を押圧する平坦な押
圧面66を有した隆起部68が設けられる。図6に示す
ように、蓋体62を所定の閉鎖位置に配置すると、蓋体
62の隆起部68の押圧面66が、支持台46上のIC
デバイス100をハウジング底部16に接近する方向へ
押圧する。その結果、支持台46の多孔支持部48の各
挿通孔52に受容された各コンタクト14の接点部24
は、コンタクト14自体の弾性復元力と蓋体62の押圧
力との協働により、ICデバイス100の各リード10
2に所定圧力下で接触され、良好な導通状態が得られ
る。
64とは反対側の先端に軸70を介して回動可能に取付
けられた係合要素72を備えることができる。係合要素
72は、その自由端にハウジング12側へ突出する爪7
4を備え、蓋体62が所定の閉鎖位置にあるときに、爪
74がハウジング12の囲壁18の外面に設けた張出部
76に選択的に係合することにより、蓋体62を閉鎖位
置に掛止して、蓋体62が生じる押圧力を維持する。
から形成できる。例えば上記実施形態において、ハウジ
ング12、支持部材46及び蓋体62は、PPS(ポリ
フェニレンサルファイド)、PBT(ポリブチレンテレ
フタレート)、PEI(ポリエーテルイミド)、PES
(ポリエーテルスルホン)等の、耐熱性及び機械的強度
に優れた電気絶縁性樹脂材料から形成されることが好ま
しい。また、コンタクト14は、ベリリウム銅や燐青銅
等のばね性を有する金属材料からなることが好ましく、
そのようなコンタクトの少なくとも接点部分には、ニッ
ケル下地の金メッキを施すことが望ましい。
は、ICソケットに収容された複数のコンタクトを所望
個数ずつに分割してなる複数のコンタクト群を、複数の
保持部材によってハウジング上に個別に保持し、以て全
てのコンタクトをICデバイスのリード配置に対応した
位置に固定的に保持する構成としたので、ハウジングに
多数のコンタクトを取付ける際に生じ得るハウジングや
コンタクトの損傷の危惧を低減して、ICソケットの構
造的信頼性を向上でき、しかも多数のコンタクトの取付
作業性を著しく改善することができる。したがって本発
明によれば、アレイ型パッケージ構造を有するICデバ
イスのリードピッチの一層の縮小に対応して、コンタク
トピッチを縮小可能なICソケットを、高い信頼性の下
に容易に製造することが可能となる。
視図である。
る。
形例を示す概略平面図で、(a)同一形状の複数の保持
部材、及び(b)異なる形状の複数の保持部材、のそれ
ぞれを有する場合を示す。
形例を示す概略側面図で、(a)ハウジング囲壁と保持
部材腕部との係合、及び(b)ハウジング底部と保持部
材基部との係合、の各例を示す。
状態で示す斜視図である。
Cデバイスを搭載した状態で示す断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 無蓋容器状のハウジングと、該ハウジン
グに固定的に収容される複数のコンタクトとを具備し、
それらコンタクトの各々が、該ハウジングの底部の上方
でICデバイスの複数のリードの各々に電気的に接続さ
れる一端の接点部と、該ハウジングの該底部から外方に
延出されて外部回路に電気的に接続される他端のテール
部とを備えてなるICソケットにおいて、 前記複数のコンタクトを、それぞれに1つ以上の所望個
数の該コンタクトを有する複数のコンタクト群に分割
し、1つの該コンタクト群に含まれる全ての該コンタク
トを前記ハウジング上で固定的に、かつ他の該コンタク
ト群に含まれる該コンタクトから独立して、ICデバイ
スのリード配置に対応した位置に保持する電気絶縁性の
複数の保持部材と、 前記複数の保持部材を前記ハウジングに固定する固定手
段、とを具備したことを特徴とするICソケット。 - 【請求項2】 前記保持部材が、1つの前記コンタクト
群に含まれる全ての該コンタクトに一体成形される樹脂
成形体からなる請求項1に記載のICソケット。 - 【請求項3】 前記固定手段が、前記ハウジング及び前
記保持部材に相補的に設けられ、該保持部材を該ハウジ
ングに固定的に係合させる係合部からなる請求項1又は
2に記載のICソケット。 - 【請求項4】 前記ハウジングが、前記底部の上方に配
置されてICデバイスを支持する支持部を備え、該支持
部に、前記複数のコンタクトの各々の前記接点部を挿通
する複数の挿通孔が設けられる請求項1〜3のいずれか
1項に記載のICソケット。 - 【請求項5】 前記ハウジングに着脱可能に取付けられ
る蓋体をさらに具備し、該蓋体がその閉鎖時に、ICデ
バイスの複数のリードと前記複数のコンタクトの前記接
点部とを所定圧力下で接触させるべく構成された請求項
1〜4のいずれか1項に記載のICソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8270104A JPH10125426A (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | Icソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8270104A JPH10125426A (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | Icソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10125426A true JPH10125426A (ja) | 1998-05-15 |
Family
ID=17481599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8270104A Pending JPH10125426A (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | Icソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10125426A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1996
- 1996-10-11 JP JP8270104A patent/JPH10125426A/ja active Pending
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