JPH10133230A - Manufacturing method of liquid crystal display device - Google Patents

Manufacturing method of liquid crystal display device

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JPH10133230A
JPH10133230A JP28796796A JP28796796A JPH10133230A JP H10133230 A JPH10133230 A JP H10133230A JP 28796796 A JP28796796 A JP 28796796A JP 28796796 A JP28796796 A JP 28796796A JP H10133230 A JPH10133230 A JP H10133230A
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JP
Japan
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insulating film
liquid crystal
short
crystal display
circuit ring
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JP28796796A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuaki Iwameji
和明 岩目地
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Kyocera Corp
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Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to connect first short-circuit ring wirings without complicating production stages by laminating and forming the first short-circuit ring wirings and insulating films, forming semiconductor films on these insulating films and connecting second shorting ring wirings after the insulating films are etched away. SOLUTION: Scanning signal wirings 2 are formed on a substrate 1 (a) and the first insulating films 3 are formed on these scanning signal wirings 2 (b). Metallic foil 4 consisting of SUS, etc., is then stuck onto the first insulating films 3 (c). Second insulating films 5, the first semiconductor films 6 and the second semiconductor films 7 are thereafter successively laminated and formed (d). The second insulating films 5 and the first insulating films 3 are etched away with the semiconductor films 6, 7 as a mask (e). Image signal wirings 8 are then formed from the second semiconductor film 7 parts to the scanning signal wiring 2 parts (f). The patterning of the insulating films is made possible even if resist films are not specifically formed. The easy connection of the first shorting ring wirings and the second shorting ring wirings is made possible.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置の製造
方法に関し、特に各画素に薄膜トランジスタを形成した
パネル(以下、TFTアレイパネルという)を使用した
アクティブマトリクス型液晶表示装置の製造方法に関す
る。
The present invention relates to a method of manufacturing a liquid crystal display device, and more particularly to a method of manufacturing an active matrix type liquid crystal display device using a panel in which a thin film transistor is formed in each pixel (hereinafter referred to as a TFT array panel).

【0002】[0002]

【従来の技術】アクティブマトリクス型液晶表示装置
は、単純マトリクス方式と比べてコントラストが高く、
多階調表示特性に優れているため、カラー液晶表示装置
では欠かせない技術となっている。特に、スイッチング
素子として薄膜トランジスタを使用したアクティブマト
リクス型液晶表示装置は、CRTと同等の画質が得られ
るようになった。
2. Description of the Related Art An active matrix type liquid crystal display has a higher contrast than a simple matrix type.
Because of its excellent multi-gradation display characteristics, it is an indispensable technology for color liquid crystal display devices. In particular, an active matrix type liquid crystal display device using a thin film transistor as a switching element can obtain image quality equivalent to that of a CRT.

【0003】以下、図面を参照しながら、従来の液晶表
示装置およびその製造方法を説明する。
Hereinafter, a conventional liquid crystal display device and a method of manufacturing the same will be described with reference to the drawings.

【0004】図2は、従来の方法で製造した液晶表示装
置におけるTFTアレイパネルの等価回路図、図3は、
従来の方法で製造した液晶表示装置におけるTFTアレ
イパネルの一画素の平面図、図4は、図3のA−A’線
の断面図である。
FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of a TFT array panel in a liquid crystal display device manufactured by a conventional method, and FIG.
A plan view of one pixel of a TFT array panel in a liquid crystal display device manufactured by a conventional method, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG.

【0005】このアクティブマトリクス方式の液晶表示
装置は、走査信号配線11から供給される走査信号によ
って薄膜トランジスタ12がスイッチングされ、画像信
号配線13の信号電圧をドレイン電極13bに接続され
た画素電極14に印加することにより、画素電極14と
対向電極(不図示)との間に封入された液晶材料(不図
示)に電圧を印加して画像表示を行うものである。
In the active matrix type liquid crystal display device, the thin film transistor 12 is switched by the scanning signal supplied from the scanning signal line 11, and the signal voltage of the image signal line 13 is applied to the pixel electrode 14 connected to the drain electrode 13b. By doing so, an image is displayed by applying a voltage to a liquid crystal material (not shown) sealed between the pixel electrode 14 and a counter electrode (not shown).

【0006】この従来の液晶表示装置は、図3および図
4に示すように、画像信号配線13と、走査信号配線1
1とを絶縁膜15を介して交差して設け、この画像信号
配線13と走査信号配線11との交差部に、画素電極1
4と、この画素電極14に画像信号を供給するゲート電
極11a、絶縁膜15、半導体膜16、ソース電極13
aおよびドレイン電極13bから成る薄膜トランジスタ
12と、この画像信号電圧を保持するための付加容量1
7とをマトリクス状に設けた構造になっている。すなわ
ち、薄膜トランジスタ12で画素電極14への画像信号
の供給を制御する。
As shown in FIGS. 3 and 4, this conventional liquid crystal display device has an image signal wiring 13 and a scanning signal wiring 1.
Are provided so as to intersect with each other with an insulating film 15 interposed therebetween.
4, a gate electrode 11a for supplying an image signal to the pixel electrode 14, an insulating film 15, a semiconductor film 16, and a source electrode 13.
a and a drain electrode 13b, and an additional capacitor 1 for holding this image signal voltage.
7 are provided in a matrix. That is, the supply of the image signal to the pixel electrode 14 is controlled by the thin film transistor 12.

【0007】ここで、画素電極14と薄膜トランジスタ
12のドレイン電極13b、および付加容量用電極18
は、絶縁膜15に形成されたコンタクトホール15a、
15bを介して接続されている。
Here, the pixel electrode 14, the drain electrode 13b of the thin film transistor 12, and the additional capacitance electrode 18
Are contact holes 15a formed in the insulating film 15,
15b.

【0008】ところで、このような液晶表示装置では組
立工程などでTFTアレイパネルに強い静電気が帯電
し、薄膜トランジスタ12のゲート電極11とソース電
極13との間や、走査信号配線11と画像信号配線13
との間に静電気による高電圧が印加され、絶縁膜15の
絶縁破壊を誘発していた。
In such a liquid crystal display device, strong static electricity is charged to the TFT array panel during an assembling process or the like, and the gate electrode 11 and the source electrode 13 of the thin film transistor 12 or the scanning signal wiring 11 and the image signal wiring 13
And a high voltage due to static electricity was applied between them, causing dielectric breakdown of the insulating film 15.

【0009】そのため、従来の液晶表示装置では、図2
に示すように、表示領域Xの外部に走査信号配線11が
接続された第一の短絡環配線19と画像信号配線13が
接続された第二の短絡環配線20を設けて、この第一の
短絡環配線19と第二の短絡環配線20を接続し、薄膜
トランジスタ12のゲート電極11aとソース電極13
aとの間や、走査信号配線11と画像信号配線13との
間を同電位に保つようにしていた。この第一の短絡環配
線19と第二の短絡環配線20は、図5に示すように、
絶縁膜15に形成されたコンタクトホール15cを介し
て接続されている。
Therefore, in the conventional liquid crystal display device, FIG.
As shown in FIG. 3, a first short-circuit ring 19 to which the scanning signal line 11 is connected and a second short-circuit ring 20 to which the image signal line 13 is connected are provided outside the display area X. The short-circuit wire 19 and the second short-circuit wire 20 are connected, and the gate electrode 11a and the source electrode 13 of the thin film transistor 12 are connected.
a and between the scanning signal wiring 11 and the image signal wiring 13 are kept at the same potential. The first short-circuit ring wiring 19 and the second short-circuit ring wiring 20 are, as shown in FIG.
The connection is made via a contact hole 15c formed in the insulating film 15.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】ところが、この従来の
液晶表示装置の製造方法では、第一の短絡環配線19と
第二の短絡環配線20がコンタクトホール15cを介し
て接続されているものの、第一の短絡環配線19上に第
二の短絡環配線20を形成する直前に、レジスト膜を用
いたフォトリソグラフィー技術によって、絶縁膜15に
コンタクトホール15cを形成しなければならないこと
から、製造工程が煩雑になるという問題があった。
However, in this conventional method for manufacturing a liquid crystal display device, although the first short-circuit ring wiring 19 and the second short-circuit ring wiring 20 are connected via the contact hole 15c, Immediately before forming the second short-circuit ring wiring 20 on the first short-circuit ring wiring 19, the contact hole 15c must be formed in the insulating film 15 by photolithography using a resist film. Is complicated.

【0011】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑みて発明されたものであり、製造工程を煩雑化させず
に第一の短絡環配線を接続できる液晶表示装置の製造方
法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such problems of the prior art, and provides a method of manufacturing a liquid crystal display device which can connect the first short-circuit ring wiring without complicating the manufacturing process. The purpose is to do.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る液晶表示装置の製造方法では、複数
の画像信号配線と、複数の走査信号配線とを絶縁膜を介
して交差して形成し、この画像信号配線と走査信号配線
との交点に画素電極とこの画素電極に画像信号を供給す
るスイッチング素子とをマトリクス状に形成し、この画
素電極とこの画素電極に対向して設けられた対向電極と
の間に液晶材料を封入する液晶表示装置の製造方法にお
いて、前記複数の走査信号配線が接続された第一の短絡
環配線と前記絶縁膜を積層して形成し、この絶縁膜の一
部が露出するようにこの絶縁膜上に前記スイッチング素
子の半導体膜を形成し、この半導体膜をマスクに前記絶
縁膜をエッチング除去した後に、前記複数の画像信号配
線に接続された第二の短絡環配線を前記第一の短絡環配
線に接続して形成する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a liquid crystal display device, wherein a plurality of image signal wirings and a plurality of scanning signal wirings intersect via an insulating film. A pixel electrode and a switching element for supplying an image signal to the pixel electrode are formed in a matrix at an intersection of the image signal wiring and the scanning signal wiring, and the pixel electrode is opposed to the pixel electrode. In a method of manufacturing a liquid crystal display device in which a liquid crystal material is sealed between a provided counter electrode, a first short-circuit ring wire to which the plurality of scan signal wires are connected and the insulating film are stacked and formed. A semiconductor film of the switching element was formed on the insulating film so that a part of the insulating film was exposed, and after the insulating film was removed by etching using the semiconductor film as a mask, the semiconductor film was connected to the plurality of image signal lines. No. The short-circuit ring line formed by connecting the first short-circuit ring line.

【0013】また、請求項2に係る液晶表示装置の製造
方法では、前記複数の画像信号配線が接続された第二の
短絡環配線と前記絶縁膜を積層して形成し、この絶縁膜
の一部が露出するようにこの絶縁膜上に前記スイッチン
グ素子の半導体膜を形成し、この半導体膜をマスクに前
記絶縁膜をエッチング除去した後に、前記複数の走査信
号配線に接続された第一の短絡環配線を前記第二の短絡
環配線に接続して形成する。
According to a second aspect of the present invention, in the method of manufacturing a liquid crystal display device, the second short-circuit ring wiring to which the plurality of image signal wirings are connected and the insulating film are laminated. Forming a semiconductor film of the switching element on the insulating film so that the portion is exposed, etching the insulating film using the semiconductor film as a mask, and then removing the first short circuit connected to the plurality of scanning signal lines. The ring wiring is formed by connecting to the second short-circuit ring wiring.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面に基づき詳細に説明する。本発明に係る液晶表示装置
の製造方法においても、最終的には図2に示すような構
造の液晶表示装置が製造される。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, a liquid crystal display device having a structure as shown in FIG. 2 is finally manufactured.

【0015】図1は本発明に係る液晶表示装置の一実施
形態を示す工程図である。まず、図1(a)に示すよう
に、基板1上に、走査信号配線2を形成する。この走査
信号配線2は、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、ア
ルミニウム(Al)、チタン(Ti)などで構成され、
真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法など
で厚み500〜3000Å程度に形成されている。この
走査信号配線2は、スイッチング素子を構成する薄膜ト
ランジスタのゲート電極(不図示)と同じものであり、
ゲート電極と同時にパターニングされる。
FIG. 1 is a process chart showing one embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention. First, a scanning signal line 2 is formed on a substrate 1 as shown in FIG. The scanning signal wiring 2 is made of chromium (Cr), tantalum (Ta), aluminum (Al), titanium (Ti), or the like.
It is formed to a thickness of about 500 to 3000 ° by a vacuum evaporation method, an electron beam evaporation method, a sputtering method, or the like. The scanning signal wiring 2 is the same as a gate electrode (not shown) of a thin film transistor forming a switching element.
It is patterned simultaneously with the gate electrode.

【0016】次に、図1(b)に示すように、走査信号
配線2上に第1の絶縁膜3を形成する。この第1の絶縁
膜3は、例えば二酸化シリコン(SiO2 )膜などから
成り、例えばプラズマCVD法などで3000〜500
0Å程度の厚みに形成される。この第1の絶縁膜3は薄
膜トランジスタのゲート絶縁膜の一部を構成するもので
ある。
Next, as shown in FIG. 1B, a first insulating film 3 is formed on the scanning signal wiring 2. The first insulating film 3 is made of, for example, a silicon dioxide (SiO 2 ) film or the like.
It is formed to a thickness of about 0 °. The first insulating film 3 forms a part of the gate insulating film of the thin film transistor.

【0017】次に、第1の絶縁膜3上にSUS等から成
る金属箔4を貼り付けて、第2の絶縁膜5、第1の半導
体膜6、第2の半導体膜7を順次積層形成する。
Next, a metal foil 4 made of SUS or the like is attached on the first insulating film 3, and a second insulating film 5, a first semiconductor film 6, and a second semiconductor film 7 are sequentially formed. I do.

【0018】第2の絶縁膜5は、例えば窒化シリコン膜
などから成り、プラズマCVD法などで厚み500〜3
000Å程度の厚みに形成される。この第2の絶縁膜5
も薄膜トランジスタのゲート絶縁膜の一部を構成する。
The second insulating film 5 is made of, for example, a silicon nitride film and has a thickness of 500 to 3 by a plasma CVD method or the like.
It is formed to a thickness of about 000 mm. This second insulating film 5
Also constitute a part of the gate insulating film of the thin film transistor.

【0019】第1の半導体膜6は、アモルファスシリコ
ン膜などで構成され、プラズマCVD法などで厚み10
00〜3000Å程度に形成される。この第1の半導体
膜6は、薄膜トランジスタのチャネルとして機能する。
The first semiconductor film 6 is formed of an amorphous silicon film or the like, and has a thickness of 10 by a plasma CVD method or the like.
It is formed at about 00-3000 °. This first semiconductor film 6 functions as a channel of the thin film transistor.

【0020】第2の半導体膜7は、n型の半導体不純物
を高濃度に含むアモルファスシリコン膜などで構成さ
れ、プラズマCVD法などで厚み500Å程度に形成さ
れる。この第2の半導体膜7は、薄膜トランジスタのオ
ーミックコンタクト層として機能する。
The second semiconductor film 7 is made of an amorphous silicon film or the like containing a high concentration of n-type semiconductor impurities, and is formed to a thickness of about 500 ° by a plasma CVD method or the like. This second semiconductor film 7 functions as an ohmic contact layer of the thin film transistor.

【0021】次に、図1(e)に示すように、半導体膜
6、7をマスクとして第2の絶縁膜5と第1の絶縁膜3
をエッチング除去する。このエッチングは、例えば7:
1の緩衝フッ酸液などで行う。緩衝フッ酸液では、シリ
コンから成る第1の半導体膜6と第2の半導体膜7はエ
ッチングされないが、二酸化シリコンから成る第1の絶
縁膜3はエッチングされる。したがって、半導体膜6、
7をマスクとして、第1の絶縁膜3をエッチングでき
る。
Next, as shown in FIG. 1E, the second insulating film 5 and the first insulating film 3 are formed using the semiconductor films 6 and 7 as a mask.
Is removed by etching. This etching is, for example, 7:
1 with a buffered hydrofluoric acid solution or the like. In the buffered hydrofluoric acid solution, the first semiconductor film 6 and the second semiconductor film 7 made of silicon are not etched, but the first insulating film 3 made of silicon dioxide is etched. Therefore, the semiconductor film 6,
The first insulating film 3 can be etched using the mask 7 as a mask.

【0022】次に、第2の半導体膜7部分から、走査信
号配線2部分にかけて画像信号配線8を形成する。この
画像信号配線8は、クロム(Cr)、チタン(Ti)、
アルミニム(Al)、モリブデン(Mo)などから成
り、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法
などで厚み2000Å程度に形成される。この画像信号
配線8は、薄膜トランジスタのソース・ドレイン電極の
一部を構成するものである。なお、このソース・ドレイ
ン電極の下部には、ITO(酸化インジウム錫)などの
透明電極を介在させてもよい。このような透明電極は、
画素電極(不図示)として使用される。
Next, an image signal wiring 8 is formed from the second semiconductor film 7 to the scanning signal wiring 2. This image signal wiring 8 is made of chromium (Cr), titanium (Ti),
It is made of aluminum (Al), molybdenum (Mo), or the like, and is formed to a thickness of about 2000 mm by a vacuum evaporation method, an electron beam evaporation method, a sputtering method, or the like. The image signal wiring 8 forms a part of the source / drain electrode of the thin film transistor. Note that a transparent electrode such as ITO (indium tin oxide) may be interposed below the source / drain electrodes. Such a transparent electrode,
Used as a pixel electrode (not shown).

【0023】なお、請求項1の液晶表示装置は、ゲート
電極がソース・ドレイン電極の下層に位置する逆スタガ
型のスイッチング素子を用いる場合であるが、ソース・
ドレイン電極がゲート電極の上層に位置するスタガ型の
スイッチング素子を用いてもよい。これが請求項2に記
載した液晶表示装置である。
In the liquid crystal display device of the first aspect, an inverted staggered switching element in which a gate electrode is located below a source / drain electrode is used.
A staggered switching element in which the drain electrode is located above the gate electrode may be used. This is the liquid crystal display device according to the second aspect.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上のように、請求項1に係る液晶表示
装置の製造方法によれば、複数の走査信号配線が接続さ
れた第一の短絡環配線と前記絶縁膜を積層して形成し、
この絶縁膜の一部が露出するようにこの絶縁膜上に前記
スイッチング素子の半導体膜を形成し、この半導体膜を
マスクに前記絶縁膜をエッチング除去した後に、複数の
画像信号配線に接続された第二の短絡環配線を前記第一
の短絡環配線に接続して形成することから、レジスト膜
を格別に形成しなくても、絶縁膜をパターニングでき、
もって走査信号配線が接続された第一の短絡環配線と画
像信号配線が接続された第二の短絡環配線を極めて容易
に接続することができる。
As described above, according to the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the first aspect, the first short-circuit ring wiring to which a plurality of scanning signal wirings are connected and the insulating film are laminated. ,
A semiconductor film of the switching element was formed on the insulating film so that a part of the insulating film was exposed, and after the insulating film was removed by etching using the semiconductor film as a mask, the semiconductor film was connected to a plurality of image signal lines. Since the second short-circuit ring is formed by connecting to the first short-circuit ring, the insulating film can be patterned without forming a resist film,
Thus, the first short-circuit ring to which the scanning signal wiring is connected and the second short-circuit ring to which the image signal wiring is connected can be connected very easily.

【0025】また、請求項2に係る液晶表示装置の製造
方法では、複数の画像信号配線が接続された第二の短絡
環配線と前記絶縁膜を積層して形成し、この絶縁膜の一
部が露出するようにこの絶縁膜上に前記スイッチング素
子の半導体膜を形成し、この半導体膜をマスクに前記絶
縁膜をエッチング除去した後に、複数の走査信号配線に
接続された第一の短絡環配線を前記第二の短絡環配線に
接続して形成することから、請求項1に係る液晶表示装
置の製造方法と同様の効果が得られる。
In the method of manufacturing a liquid crystal display device according to a second aspect of the present invention, the insulating film is formed by laminating a second short-circuit ring wire to which a plurality of image signal wires are connected, and a part of the insulating film. Forming a semiconductor film of the switching element on the insulating film such that the first short-circuit ring wiring connected to the plurality of scanning signal wirings after etching the insulating film using the semiconductor film as a mask; Is connected to the second short-circuit ring wiring, the same effects as those of the method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 1 can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る液晶表示装置の製造方法の工程を
示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing steps of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention.

【図2】従来の液晶表示装置の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a conventional liquid crystal display device.

【図3】従来の液晶表示装置の一画素部分の平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view of one pixel portion of a conventional liquid crystal display device.

【図4】図3のA−A’線断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line A-A ′ of FIG. 3;

【図5】従来の液晶表示装置における第一の短絡環配線
と第二の短絡環配線の接続部を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a connection portion between a first short-circuit ring and a second short-circuit ring in a conventional liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・基板、2・・・走査信号配線、3・・・第一の
絶縁膜、4・・・メタルマスク、5・・・第二の絶縁
膜、6・・・半導体膜、7・・・オーミックコンタクト
層、8・・・画像信号配線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate, 2 ... Scan signal wiring, 3 ... First insulating film, 4 ... Metal mask, 5 ... Second insulating film, 6 ... Semiconductor film, 7 ..Omic contact layers, 8 ... Image signal wiring

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の画像信号配線と、複数の走査信号
配線とを絶縁膜を介して交差して形成し、この画像信号
配線と走査信号配線との交点に画素電極とこの画素電極
に画像信号を供給するスイッチング素子とをマトリクス
状に形成し、この画素電極とこの画素電極に対向して設
けられた対向電極との間に液晶材料を封入する液晶表示
装置の製造方法において、前記複数の走査信号配線が接
続された第一の短絡環配線と前記絶縁膜を積層して形成
し、この絶縁膜の一部が露出するようにこの絶縁膜上に
前記スイッチング素子の半導体膜を形成し、この半導体
膜をマスクに前記絶縁膜をエッチング除去した後に、前
記複数の画像信号配線に接続された第二の短絡環配線を
前記第一の短絡環配線に接続して形成することを特徴と
する液晶表示装置の製造方法。
A plurality of image signal wirings and a plurality of scanning signal wirings are formed to intersect with an insulating film interposed therebetween, and a pixel electrode is formed at an intersection between the image signal wirings and the scanning signal wirings, and an image is formed on the pixel electrode. A switching element for supplying a signal is formed in a matrix, and a liquid crystal display device is encapsulated with a liquid crystal material between the pixel electrode and a counter electrode provided to face the pixel electrode. A first short-circuit ring wiring to which a scanning signal wiring is connected and the insulating film are stacked and formed, and a semiconductor film of the switching element is formed on the insulating film so that a part of the insulating film is exposed; After the insulating film is removed by etching using the semiconductor film as a mask, a second short-circuit ring connected to the plurality of image signal lines is connected to the first short-circuit ring to form. Liquid crystal display Production method.
【請求項2】 複数の画像信号配線と、複数の走査信号
配線とを絶縁膜を介して交差して形成し、この画像信号
配線と走査信号配線との交点に画素電極とこの画素電極
に画像信号を供給するスイッチング素子とをマトリクス
状に形成し、この画素電極とこの画素電極に対向して設
けられた対向電極との間に液晶材料を封入する液晶表示
装置の製造方法において、前記複数の画像信号配線が接
続された第二の短絡環配線と前記絶縁膜を積層して形成
し、この絶縁膜の一部が露出するようにこの絶縁膜上に
前記スイッチング素子の半導体膜を形成し、この半導体
膜をマスクに前記絶縁膜をエッチング除去した後に、前
記複数の走査信号配線に接続された第一の短絡環配線を
前記第二の短絡環配線に接続して形成することを特徴と
する液晶表示装置の製造方法。
A plurality of image signal lines and a plurality of scanning signal lines intersecting each other with an insulating film interposed therebetween, and a pixel electrode at an intersection between the image signal line and the scanning signal line; A switching element for supplying a signal is formed in a matrix, and a liquid crystal display device is encapsulated with a liquid crystal material between the pixel electrode and a counter electrode provided to face the pixel electrode. A second short-circuit ring wiring to which the image signal wiring is connected and the insulating film are laminated and formed, and a semiconductor film of the switching element is formed on the insulating film so that a part of the insulating film is exposed, After the insulating film is removed by etching using the semiconductor film as a mask, a first short-circuit ring connected to the plurality of scanning signal lines is connected to the second short-circuit ring to form. Liquid crystal display Production method.
JP28796796A 1996-10-30 1996-10-30 Manufacturing method of liquid crystal display device Pending JPH10133230A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001082275A1 (en) * 2000-04-21 2001-11-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Display panel substrate, method for producing the same, thin-film forming apparatus used therefor

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001082275A1 (en) * 2000-04-21 2001-11-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Display panel substrate, method for producing the same, thin-film forming apparatus used therefor

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