JPH10135009A - Chip type variable resistor - Google Patents

Chip type variable resistor

Info

Publication number
JPH10135009A
JPH10135009A JP28874696A JP28874696A JPH10135009A JP H10135009 A JPH10135009 A JP H10135009A JP 28874696 A JP28874696 A JP 28874696A JP 28874696 A JP28874696 A JP 28874696A JP H10135009 A JPH10135009 A JP H10135009A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
thick
resistor
chip
shaped
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28874696A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinji Shino
信治 篠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP28874696A priority Critical patent/JPH10135009A/en
Publication of JPH10135009A publication Critical patent/JPH10135009A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Adjustable Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】Ag系導電体膜で構成された端子電極であって
も、馬蹄形状の厚膜抵抗体膜と端子電極との接続が断線
することがない、安定した特性を導出できるチップ状可
変抵抗器を提供する。 【解決手段】絶縁基板1の表面に馬蹄形状の厚膜抵抗体
膜2、該該厚膜抵抗体膜2の表面を摺動する摺動子3を
配置し、基板1の端部の表面、端面、裏面にAg系厚膜
導体膜からなり、且つ前記厚膜抵抗体膜2又は摺動子の
一部と接続する端子電極4a、4bを形成し成るチップ
状可変抵抗器である。前記基板1の端部に形成した端子
電極4a、4bの表面側の角部Cに、絶縁体被膜6、6
を設ける。
(57) [Summary] Even with a terminal electrode made of an Ag-based conductor film, stable connection characteristics are ensured without breaking the connection between the horseshoe-shaped thick film resistor film and the terminal electrode. Provide a chip-shaped variable resistor that can be derived. A horseshoe-shaped thick-film resistor film and a slider that slides on the surface of the thick-film resistor film are arranged on a surface of an insulating substrate, and a surface of an end portion of the substrate is provided. This is a chip-shaped variable resistor made of an Ag-based thick film conductor film on the end face and the back face, and having terminal electrodes 4a and 4b connected to a part of the thick film resistor film 2 or a slider. Insulating films 6 and 6 are formed on the corners C on the surface side of the terminal electrodes 4a and 4b formed at the end of the substrate 1.
Is provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、チップ状可変抵抗
器に関し、特に、耐熱衝撃性に優れたチップ状抵抗器に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip-shaped variable resistor, and more particularly to a chip-shaped resistor excellent in thermal shock resistance.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にチップ状電子部品は、プリント配
線基板の所定配線パターン上に、他の電子部品と一括的
に半田リフロー方式、半田フロー方式などで表面実装で
きる小型な電子部品といい、例えばコンデンサ、抵抗、
コイルなどがある。
2. Description of the Related Art Generally, a chip-shaped electronic component is a small electronic component that can be surface-mounted on a predetermined wiring pattern of a printed wiring board together with other electronic components by a solder reflow method, a solder flow method, or the like. Capacitors, resistors,
There are coils and the like.

【0003】また、チップ状の抵抗部品には、チップ抵
抗器、多連抵抗器、抵抗ネットワーク素子などの固定的
な抵抗値を導出し、またはそれを組み合わせた構造の固
定抵抗器と、任意な抵抗値を得ることができる可変抵抗
器とに分類できる。
[0003] Further, a chip-shaped resistor component includes a fixed resistor having a structure in which a fixed resistor value such as a chip resistor, a multiple resistor, a resistor network element or the like is derived or a combination thereof is combined with an optional resistor. It can be classified into a variable resistor that can obtain a resistance value.

【0004】チップ状電子部品においては、電気的な特
性は勿論のこと、表面実装においては、強固に且つ安定
的に半田接合させる必要があり、端子電極を構成する例
えばAg金属成分の半田食われを防止するとともに、半
田のりが良好である( 半田濡れ性に優れている) ことが
非常に重要となる。
[0004] In chip-type electronic components, it is necessary not only to have electrical characteristics, but also to perform solder bonding firmly and stably in surface mounting, and for example, solder erosion of Ag metal components constituting terminal electrodes is required. It is very important to prevent soldering and to have good solder paste (excellent solder wettability).

【0005】上述の半田食われや半田濡れ性は、例えば
チップコンデンサの端子電極においては、絶縁基板( 誘
電体層と内部電極層とが交互に積層した積層体) の端部
に、Ag系の厚膜導体電極を形成し、その表面にNiメ
ッキ、Snメッキ(半田メッキ)などを施することによ
って解決していた。
[0005] The above-mentioned solder erosion and solder wettability may be caused by the fact that, for example, in the case of a terminal electrode of a chip capacitor, an Ag-based material The problem has been solved by forming a thick-film conductor electrode and applying Ni plating, Sn plating (solder plating) or the like to the surface thereof.

【0006】また、固定抵抗器は、絶縁基板の端部に形
成した端子電極の構造も、Ag系の厚膜導体電極を形成
し、その表面にNiメッキ、Snメッキ(半田メッキ)
などを施していた。
In the fixed resistor, a terminal electrode formed at an end of the insulating substrate also has a structure in which an Ag-based thick-film conductor electrode is formed, and Ni plating and Sn plating (solder plating) are formed on the surface thereof.
And so on.

【0007】即ち、端子電極材料の半田食われの防止、
半田の濡れ性に関しては、特に、表面にメッキ層を形成
することがで解決されていた。
That is, prevention of solder erosion of the terminal electrode material,
Regarding the wettability of solder, it has been particularly solved by forming a plating layer on the surface.

【0008】このメッキ層は製造工程中の最終段階で形
成されるものであり、上述のチップコンデンサや固定抵
抗器は、構造上、容量成分、抵抗成分などを導出する素
子部分が、絶縁基板内に配置されていたり、その表面が
完全にガラス保護膜によって覆われている構造であるた
め、電気的な特性を変動させることなく、メッキ処理が
可能であった。
This plating layer is formed at the final stage in the manufacturing process. The above-mentioned chip capacitor and fixed resistor are structurally configured such that an element portion for deriving a capacitance component, a resistance component, and the like is formed in an insulating substrate. And the surface is completely covered with the glass protective film, so that the plating process was possible without changing the electrical characteristics.

【0009】可変抵抗器の場合には、図3に示すように
絶縁基板1上に、馬蹄形状の厚膜抵抗体膜2を酸化ルニ
ウムなどを主成分とする厚膜抵抗ペーストを印刷・焼き
つけにより形成し、その厚膜抵抗体膜2上に摺動子3を
配置していた。
In the case of a variable resistor, as shown in FIG. 3, a horseshoe-shaped thick-film resistor film 2 is printed and baked on an insulating substrate 1 by printing and baking a thick-film resistor paste mainly containing ruthenium oxide or the like. The slider 3 was disposed on the thick resistor film 2.

【0010】また、端子電極4a、4bは、絶縁基板1
の端部に、Ag系(金属成分がAg単体、Ag合金)導
電性ペーストの塗布焼きつけによって形成していた。例
えば、端子電極4a、4bは、絶縁基板1の一対の端部
の一方端部の表面、端面、裏面に形成され、厚膜抵抗体
膜2の端部にで電気的に接続される。尚、端子電極4c
は、摺動子3 と接続する端子電極であり、例えば金属加
工による部材で構成されている。
Further, the terminal electrodes 4a and 4b are
Was formed by applying and baking an Ag-based (metal component is Ag alone, Ag alloy) conductive paste at the end of the conductive paste. For example, the terminal electrodes 4 a and 4 b are formed on the front surface, the end surface, and the back surface of one end of the pair of ends of the insulating substrate 1, and are electrically connected to the ends of the thick film resistor film 2. In addition, the terminal electrode 4c
Is a terminal electrode connected to the slider 3, and is composed of, for example, a member formed by metal working.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】可変抵抗器は、構造
上、厚膜抵抗体膜2と摺動子3とが摺動することから、
固定抵抗器のように厚膜抵抗膜2上にガラス被覆膜を形
成することができず、厚膜抵抗体膜2が外部に露出する
構造となっていた。
The variable resistor has a structure in which the thick-film resistor film 2 and the slider 3 slide on the structure.
A glass coating film cannot be formed on the thick-film resistance film 2 like a fixed resistor, and the thick-film resistor film 2 is exposed to the outside.

【0012】その結果、チップ状可変抵抗器において、
端子電極4a、4bを、その金属材料であるAgの半田
食われの防止して、半田濡れ性を向上させるための表面
にメッキ層を形成することは困難であった。例えば、端
子電極4a、4bにメッキ処理を行うと、同時に厚膜抵
抗体膜2上にもメッキ層が被着してしまい、厚膜抵抗体
膜2の実質的な導電率が非常に低くなり、抵抗器として
動作しなくなるためである。
As a result, in the chip-shaped variable resistor,
It has been difficult to form a plating layer on the surface of the terminal electrodes 4a and 4b for preventing solder erosion of Ag as a metal material and improving solder wettability. For example, when plating is performed on the terminal electrodes 4a and 4b, a plating layer is also deposited on the thick film resistor film 2 at the same time, and the substantial conductivity of the thick film resistor film 2 becomes extremely low. This is because it does not operate as a resistor.

【0013】即ち、チップ状可変抵抗器において、その
外部に露出する厚膜抵抗体膜2に直接、摺動子3が接触
している構造であるため、固定抵抗器やチップコンデン
サのように端子電極にメッキ層を形成することができ
ず、これら他のチップ部品に比較して半田食われの発
生、半田濡れ性が劣っていた。
That is, in the chip-shaped variable resistor, since the slider 3 is in direct contact with the thick-film resistor film 2 exposed to the outside, a terminal like a fixed resistor or a chip capacitor is used. A plated layer could not be formed on the electrode, and solder erosion and solder wettability were inferior to these other chip components.

【0014】また、このような制約がある端子電極4
a、4bは、絶縁基板1の端部の表面、端面、裏面の3
つの面に形成されるが、この端子電極4a、4bを形成
すべく導電性ペーストの3面の印刷において、表面と端
面、裏面と端面との角部が非常に膜厚が薄くなってしま
う。しかも、半田食われは、この膜厚が薄くなる表面側
の角部と裏面側の角部で顕著に発生してしまうが、特
に、絶縁基板1の表面側のの角部でAgの半田食われが
発生すると、厚膜抵抗体膜2と端子電極4a、4bとの
間の断線となり、その結果、所定抵抗値が得られないと
いう致命的な問題を有していた。
Further, the terminal electrode 4 having such a restriction
a and 4b are the front surface, the end surface, and the back surface of the insulating substrate 1;
However, when the conductive paste is printed on three surfaces to form the terminal electrodes 4a and 4b, the thickness of the corners between the front surface and the end surface and between the back surface and the end surface becomes extremely thin. In addition, solder erosion is remarkably generated at the corners on the front side and the back side where the film thickness is reduced. In particular, the solder erosion occurs at the corners on the front side of the insulating substrate 1. When cracks occur, a disconnection occurs between the thick resistor film 2 and the terminal electrodes 4a and 4b, and as a result, there is a fatal problem that a predetermined resistance value cannot be obtained.

【0015】本発明は上述の問題点に鑑みて案出された
ものであり、その目的は、Ag系導電体膜で構成された
端子電極であっても、馬蹄形状の厚膜抵抗体膜と端子電
極との接続が断線することがないチップ状可変抵抗器を
提供することにある。
The present invention has been devised in view of the above-described problems, and has as its object to provide a horseshoe-shaped thick-film resistor film even if it is a terminal electrode formed of an Ag-based conductive film. An object of the present invention is to provide a chip-shaped variable resistor in which connection with a terminal electrode is not broken.

【0016】[0016]

【課題を解決するため手段】本発明は、絶縁基板の表面
に馬蹄形状の厚膜抵抗体膜、該該厚膜抵抗体膜の表面を
摺動する摺動子を形成するとともに、基板端部の表面、
端面、裏面にAg系厚膜導体膜からなり、且つ前記厚膜
抵抗体膜と接続する端子電極を形成したチップ状可変抵
抗器において、前記端子電極の表面と端面との角部分
に、絶縁体被膜を被着させたことを特徴とするチップ状
可変抵抗器である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a horseshoe-shaped thick-film resistor film on a surface of an insulating substrate, and a slider for sliding on the surface of the thick-film resistor film. Surface,
In a chip-shaped variable resistor formed of an Ag-based thick-film conductor film on an end face and a back face and having a terminal electrode connected to the thick-film resistor film, an insulator is provided at a corner between the surface of the terminal electrode and the end face. A chip-shaped variable resistor having a coating applied thereto.

【0017】[0017]

【作用】本発明によれば、チップ状可変抵抗器の端子電
極において、最もAg系厚膜導体膜の膜厚が薄くなって
しまう部分、即ち、前記基板の端部の表面と端面との角
部に絶縁体被膜で被覆したため、リフロー半田接合、フ
ロー半田接合しても、表面側の角部の膜厚が薄くなる端
子電極には、半田が被着されないことになる。従って、
この角部分では、端子電極のAg成分が半田食われを起
こさないため、実質的に端子電極中における電気的な断
線が皆無となる。
According to the present invention, in the terminal electrode of the chip-shaped variable resistor, the portion where the thickness of the Ag-based thick conductor film becomes the thinnest, that is, the angle between the surface of the end portion of the substrate and the end surface. Since the portion is covered with the insulator film, the solder is not applied to the terminal electrode having a thinner film at the corner portion on the front surface even when reflow soldering or flow soldering is performed. Therefore,
At this corner, since the Ag component of the terminal electrode does not cause solder erosion, there is substantially no electrical disconnection in the terminal electrode.

【0018】[0018]

【実施例】以下、本発明のチップ状可変抵抗器を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明のチップ状可変抵抗
器の断面図であり、図2はチップ状可変抵抗器に用いる
絶縁基板の平面図であり、図3は本発明のチップ状可変
抵抗器の絶縁基板の製造工程の一工程の概略図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a chip-shaped variable resistor according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view of a chip-shaped variable resistor of the present invention, FIG. 2 is a plan view of an insulating substrate used for the chip-shaped variable resistor, and FIG. 3 is an insulating substrate of the chip-shaped variable resistor of the present invention. It is the schematic of one process of the manufacturing process of (1).

【0019】図において、1は絶縁基板であり、2は馬
蹄形状の厚膜抵抗体膜であり、3は摺動子であり、4
a、4bは厚膜抵抗体からなる端子電極であり、4cは
金属片を加工した端子電極であり、5は、端子電極4c
と一体化した摺動子3の保持部材である。
In the figure, 1 is an insulating substrate, 2 is a horseshoe-shaped thick-film resistor film, 3 is a slider, 4
Reference numerals a and 4b denote terminal electrodes formed of thick film resistors, 4c denotes a terminal electrode formed by processing a metal piece, and 5 denotes a terminal electrode 4c.
This is a holding member for the slider 3 integrated with the above.

【0020】絶縁基板1はアルミナセラミックなどから
なり、その中央部分には貫通孔11が形成されている。
また、絶縁基板1の一対の端部の一方の端部には、凹部
12が形成され、結果として、2つの突出部13、14
が形成されている。
The insulating substrate 1 is made of alumina ceramic or the like, and has a through hole 11 formed in the center thereof.
A recess 12 is formed at one end of the pair of ends of the insulating substrate 1, and as a result, the two protrusions 13 and 14 are formed.
Are formed.

【0021】このような絶縁基板1の一方の端部の突出
部13、14には、端子電極4a、4bが形成されてい
る。
The terminal electrodes 4a, 4b are formed on the protruding portions 13, 14 at one end of the insulating substrate 1.

【0022】また、絶縁基板1の貫通孔11を中心に馬
蹄形状の厚膜抵抗体膜2が形成されている。
A horseshoe-shaped thick resistor film 2 is formed around the through hole 11 of the insulating substrate 1.

【0023】端子電極4a、4bは、突出部13、14
の表面、端面、裏面の3つの面に渡って形成されてい
る。このような端子電極4a、4bは、金属成分として
Ag(Ag単体またはAg合金)を主成分とするAg系
の導電性ペーストの印刷及び焼きつけによって形成され
る。具体的には、突出部13、14の表面及び裏面の2
つの面に、Ag系導電性ペーストの印刷及び焼きつけを
行い形成し、その後、突出部13、14の端面に、上述
の表面の厚膜導体膜、裏面の厚膜導体膜の両者に接続す
るように、Ag性導電性ペーストの印刷・焼きつけを行
う。
The terminal electrodes 4a and 4b are
Is formed over three surfaces of the front surface, the end surface, and the back surface. Such terminal electrodes 4a and 4b are formed by printing and baking an Ag-based conductive paste containing Ag (Ag alone or an Ag alloy) as a metal component as a main component. Specifically, 2 of the front and back surfaces of the protrusions 13 and 14
One surface is printed and baked with an Ag-based conductive paste, and then formed on the end surfaces of the projections 13 and 14 so as to be connected to both the above-mentioned thick film conductor film on the front surface and the thick film conductor film on the rear surface. Then, printing and baking of the Ag conductive paste are performed.

【0024】厚膜抵抗体膜2は、貫通孔11を中心に馬
蹄形状をなし、その両端は突出部13、14に延出し、
端子電極4a、4bに接続される。このような厚膜抵抗
体膜2は、酸化ルテニウムを主成分とする抵抗ペースト
の印刷、焼きつけによって形成される。
The thick resistor film 2 has a horseshoe shape centered on the through hole 11, and both ends thereof extend to the protruding portions 13 and 14.
Connected to terminal electrodes 4a, 4b. Such a thick-film resistor film 2 is formed by printing and baking a resistance paste containing ruthenium oxide as a main component.

【0025】このような絶縁基板1の表面には、摺動子
3が配置されている。摺動子3は、例えば、リン青銅な
どの弾性を有する金属材料を機械的な加工によって成型
した皿状となっている。また、皿状の上面平板部32に
は、摺動子3を回動させるためのドライバー溝31が形
成され、同時に、平板部32の外周部から下方に延出
し、厚膜抵抗体膜2に摺動する接点33が形成されてい
る。また、摺動子3の中央部分には、絶縁基板1の貫通
孔11と合致する貫通孔34が形成されている。
A slider 3 is arranged on the surface of the insulating substrate 1. The slider 3 has a dish shape formed by mechanically processing a metal material having elasticity such as phosphor bronze. A driver groove 31 for rotating the slider 3 is formed in the dish-shaped upper flat plate portion 32, and at the same time, extends downward from the outer peripheral portion of the flat plate portion 32, and is formed on the thick film resistor film 2. A sliding contact 33 is formed. Further, a through hole 34 that matches the through hole 11 of the insulating substrate 1 is formed at the center of the slider 3.

【0026】このような摺動子3は、絶縁基板1上に配
置され、さらに、保持部材5によって、摺動子3の接点
33が厚膜抵抗体膜2に接触して摺動するようになる。
Such a slider 3 is disposed on the insulating substrate 1, and the contact member 33 of the slider 3 is slid by the holding member 5 in contact with the thick-film resistor film 2. Become.

【0027】保持部材5は、円筒状の加締めピン部51
と平板状の端子部52とからなり、端子部52の先端部
が端子電極4cとなっている。、例えば、円筒状の加締
めピン部51は、絶縁基板1の裏面側から絶縁基板1の
貫通孔11に挿通され、摺動子3の貫通孔34に挿通さ
れて、摺動子3内でその先端部が加締め処理される。ま
た、平板部52は、絶縁基板11の裏面に沿って配置さ
れ、絶縁基板1の他方側の端部に延出している。この絶
縁基板1の他方側端部の面に露出する部分が端子電極4
cとなる。
The holding member 5 includes a cylindrical caulking pin 51
And a flat terminal portion 52, and the tip of the terminal portion 52 is a terminal electrode 4c. For example, the cylindrical caulking pin portion 51 is inserted into the through hole 11 of the insulating substrate 1 from the back side of the insulating substrate 1, is inserted into the through hole 34 of the slider 3, and is inserted in the slider 3. The tip is crimped. The flat plate portion 52 is arranged along the back surface of the insulating substrate 11 and extends to the other end of the insulating substrate 1. The portion exposed on the other end surface of the insulating substrate 1 is a terminal electrode 4
c.

【0028】この保持部材5によって、摺動子3は絶縁
基板1上に、その接点33が厚膜抵抗体膜2上を摺動す
るように保持され、さらに電気的には、接点33から端
子電極4cまで電気的に導通することになる。
The slider 3 is held by the holding member 5 on the insulating substrate 1 so that the contact 33 slides on the thick-film resistor film 2. The electrical conduction is made to the electrode 4c.

【0029】以上の構成により、馬蹄形状の厚膜抵抗体
膜2の所定位置に摺動子3の接点33が接触する場合、
馬蹄形状の抵抗体膜2の一端と電気的に接続する端子電
極4a(4b)と接点33が接続する端子電極4c間
に、所定抵抗値が導出できることになる。
With the above configuration, when the contact 33 of the slider 3 comes into contact with a predetermined position of the horseshoe-shaped thick film resistor film 2,
A predetermined resistance value can be derived between the terminal electrode 4a (4b) electrically connected to one end of the horseshoe-shaped resistor film 2 and the terminal electrode 4c connected to the contact point 33.

【0030】このような構造において、本発明は、特に
絶縁基板1の突出部13、14の表面と端面とが成す角
部Cに、絶縁体被膜6、6を形成したことである。
In such a structure, the present invention is characterized in that the insulator films 6, 6 are formed particularly on the corners C formed by the surfaces of the protrusions 13, 14 of the insulating substrate 1 and the end faces.

【0031】絶縁体被膜6は、ガラス、樹脂から成り、
突出部13、14の全幅に渡って形成されている。
The insulating film 6 is made of glass or resin.
The protrusions 13 and 14 are formed over the entire width.

【0032】このような絶縁体被膜6は、図3に示すよ
うに、絶縁基板1の他方側端部を上方にし、且つ絶縁基
板1の表面を下向きに傾けた状態で、突出部13、14
の端部を、例えば溶融したガラスペーストや樹脂ペース
トの槽30に浸漬して、その後、焼きつけや熱硬化によ
って簡単に形成することができる。
As shown in FIG. 3, the insulating film 6 has the projecting portions 13 and 14 with the other end of the insulating substrate 1 facing upward and the surface of the insulating substrate 1 inclined downward.
Is immersed in a bath 30 of, for example, a molten glass paste or a resin paste, and then can be easily formed by baking or thermosetting.

【0033】このように形成した絶縁体被膜6、6は、
絶縁基板1の一方側の端部の角部Cの全幅に渡って形成
されることになり、一般に厚膜導体膜から構成される端
子電極4a、4bで、最も膜厚が薄くなる角部Cに絶縁
体被膜6、6を安定的に被覆することができる。
The thus formed insulator films 6, 6
It is formed over the entire width of the corner C at one end of the insulating substrate 1, and the terminal electrode 4a, 4b generally formed of a thick conductor film has the thinnest corner C. Can be stably coated with the insulator films 6 and 6.

【0034】以上のように構成のチップ状可変抵抗器
を、プリント配線基板の所定配線に、リフロー半田、フ
ロー半田処理によって表面実装すると、端子電極4c側
においては、端子電極4cを中心に絶縁基板1の裏面に
配置した平板部52部分に強固に被着することになる。
When the chip-shaped variable resistor constructed as described above is surface-mounted on a predetermined wiring of a printed wiring board by reflow soldering or flow soldering, on the terminal electrode 4c side, the insulating substrate is centered on the terminal electrode 4c. 1 is firmly adhered to the flat plate portion 52 disposed on the back surface of the substrate 1.

【0035】また、端子電極4a、4bにおいては、突
出部13、14の裏面部分の厚膜導体膜は勿論のこと、
端面部分に半田が付着することになる。
In the terminal electrodes 4a and 4b, not only the thick conductor films on the back surfaces of the protruding portions 13 and 14 but also
The solder will adhere to the end face.

【0036】しかし、この半田が端子電極4a、4bの
端面部分に付着したとしても、表面側の角部Cには、絶
縁体被膜6、6が形成されているため、この絶縁体被膜
6、6部分には半田が付着しない。従って、この角部C
で、端子電極4a、4bのAg成分の半田に食われるこ
とが一切なく、端子電極4a、4bと厚膜抵抗体膜2と
の接続状態が、この角部Cで断線することが皆無とな
る。
However, even if the solder adheres to the end surfaces of the terminal electrodes 4a and 4b, since the insulating films 6 and 6 are formed on the corners C on the front surface, the insulating films 6 and 6 are formed. No solder adheres to the six portions. Therefore, this corner C
Thus, the terminal electrodes 4a and 4b are not eroded by the Ag component solder at all, and the connection between the terminal electrodes 4a and 4b and the thick-film resistor film 2 is never broken at the corner C. .

【0037】尚、突出部13、14の裏面と端面とが成
す裏面側の角部も、絶縁体被膜6、6が形成された表面
の角部Cと同様に形成しても構わない。尚、裏面側の角
部は、仮に半田食われが生じて、断線しても、馬蹄形状
の厚膜抵抗体膜2と端子電極4a、4bとの断線という
致命的な問題には到らない。
The corners on the back surface formed by the back surfaces and the end surfaces of the protrusions 13 and 14 may be formed in the same manner as the corners C on the surface on which the insulating films 6 and 6 are formed. Incidentally, the corners on the rear surface side are liable to be eroded by solder, and even if they are disconnected, the fatal problem of disconnection between the horseshoe-shaped thick film resistor film 2 and the terminal electrodes 4a and 4b does not occur. .

【0038】また、端子電極4a、4b部分では、溶融
した半田が付着して半田食われが発生するものの、この
部分は根本的に平面部分であり、比較的膜厚を厚くする
ことができるため、半田食われによる断線という問題を
回避できる。尚、端子電極4a、4bの端面部分の膜厚
としては、10〜20μm程度にすればよい。
Although the molten solder adheres to the terminal electrodes 4a and 4b to cause solder erosion, this portion is basically a flat portion and can be made relatively thick. Also, the problem of disconnection due to solder erosion can be avoided. The thickness of the end surfaces of the terminal electrodes 4a and 4b may be about 10 to 20 μm.

【0039】以上のように、構造的に端子電極4a、4
bの表面に半田食われの防止及び半田濡れ性の向上のた
めのメッキ層を形成することができない、チップ状可変
抵抗器であっても、端子電極4a、4bの角部Cに絶縁
体被膜6、6を形成しておくことにより、半田食われに
よる断線を未然に防止できる。
As described above, structurally the terminal electrodes 4a, 4a
In the case of a chip-shaped variable resistor in which a plating layer for preventing solder erosion and improving solder wettability cannot be formed on the surface of the terminal b, an insulator film is formed on the corners C of the terminal electrodes 4a and 4b. By forming 6 and 6, disconnection due to solder erosion can be prevented beforehand.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、Ag系導
電体膜で構成された端子電極であっても、馬蹄形状の厚
膜抵抗体膜と端子電極との接続が断線することがない、
安定した特性を導出できるチップ状可変抵抗器となる。
As described above, according to the present invention, even if the terminal electrode is made of an Ag-based conductor film, the connection between the horseshoe-shaped thick film resistor film and the terminal electrode may be broken. Absent,
It becomes a chip-shaped variable resistor that can derive stable characteristics.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のチップ状可変抵抗器の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a chip-shaped variable resistor according to the present invention.

【図2】本発明のチップ状可変抵抗器に用いる絶縁基板
の平面図である。
FIG. 2 is a plan view of an insulating substrate used for the chip-shaped variable resistor of the present invention.

【図3】本発明のチップ状可変抵抗器の絶縁基板の製造
工程の一工程の概略図である。
FIG. 3 is a schematic view of one step of a process for manufacturing an insulating substrate of a chip-shaped variable resistor according to the present invention.

【図4】従来のチップ状可変抵抗器の断面図である。FIG. 4 is a sectional view of a conventional chip-shaped variable resistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・絶縁基板 2・・・厚膜抵抗体膜 3・・・摺動子 4a、4b・・厚膜導体膜から端子電極 4c・・端子電極 6・・・絶縁体被膜 C・・・角部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Insulating substrate 2 ... Thick film resistor film 3 ... Slider 4a, 4b ... Terminal electrode from thick film conductor film 4c ... Terminal electrode 6 ... Insulator film C ... Corner

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基板の表面に馬蹄形状の厚膜抵抗体
膜、該該厚膜抵抗体膜の表面を摺動する摺動子を形成す
るとともに、基板端部の表面、端面、裏面にAg系厚膜
導体膜からなり、且つ前記厚膜抵抗体膜と接続する端子
電極を形成したチップ状可変抵抗器において、 前記端子電極の表面と端面との角部分に、絶縁体被膜を
被着させたことを特徴とするチップ状可変抵抗器。
1. A horseshoe-shaped thick-film resistor film on a surface of an insulating substrate, a slider sliding on the surface of the thick-film resistor film, and a surface, an end surface, and a back surface of an end portion of the substrate. In a chip-shaped variable resistor made of an Ag-based thick-film conductor film and having a terminal electrode connected to the thick-film resistor film, an insulator film is applied to a corner portion between a surface of the terminal electrode and an end face. A chip-shaped variable resistor.
JP28874696A 1996-10-30 1996-10-30 Chip type variable resistor Pending JPH10135009A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28874696A JPH10135009A (en) 1996-10-30 1996-10-30 Chip type variable resistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28874696A JPH10135009A (en) 1996-10-30 1996-10-30 Chip type variable resistor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10135009A true JPH10135009A (en) 1998-05-22

Family

ID=17734170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28874696A Pending JPH10135009A (en) 1996-10-30 1996-10-30 Chip type variable resistor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10135009A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7098768B2 (en) Chip resistor and method for making the same
JPH06173081A (en) Electronic parts
US6856234B2 (en) Chip resistor
KR19980080414A (en) Thermistor element
JP3845030B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JP3167968B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JPH10135009A (en) Chip type variable resistor
JP4081873B2 (en) Resistor and manufacturing method thereof
JPH09260106A (en) Electronic part manufacturing method
JP2939425B2 (en) Surface mount type resistor and its manufacturing method
JP4295202B2 (en) Chip component and chip component manufacturing method
JP3353037B2 (en) Chip resistor
JP2839262B2 (en) Chip resistor and manufacturing method thereof
JPH0963805A (en) Square chip resistor
JPH04329616A (en) Laminated type electronic component
JP2909947B2 (en) Chip type electronic components
JP2000156304A (en) Jumper resistor
JP2572660Y2 (en) Semi-fixed resistor for backside adjustment
JP2556410Y2 (en) Collective electronic components
JPS6228746Y2 (en)
JPH11283863A (en) Electronic component and manufacture thereof
JP2975491B2 (en) Chip resistor
JPH1050506A (en) Multiple electronic components
JP2000294402A (en) Multiple chip resistor and manufacturing method thereof
JPH10223403A (en) Chip part