JPH10142253A - Vibration detection sensor and vibration measuring device using the same - Google Patents

Vibration detection sensor and vibration measuring device using the same

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Publication number
JPH10142253A
JPH10142253A JP31131896A JP31131896A JPH10142253A JP H10142253 A JPH10142253 A JP H10142253A JP 31131896 A JP31131896 A JP 31131896A JP 31131896 A JP31131896 A JP 31131896A JP H10142253 A JPH10142253 A JP H10142253A
Authority
JP
Japan
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vibration
weight
housing
optical fiber
circuit
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP31131896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toru Okada
徹 岡田
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Suzuki Motor Corp
Original Assignee
Suzuki Motor Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Suzuki Motor Corp filed Critical Suzuki Motor Corp
Priority to JP31131896A priority Critical patent/JPH10142253A/en
Publication of JPH10142253A publication Critical patent/JPH10142253A/en
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  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 振動している被測定物に接触させることによ
り光学的に被測定物の振動を測定するものであって、小
型化及び軽量化を達成でき、しかも製造及び操作を簡単
にできるようにする。 【解決手段】 本発明の振動検出センサ10は、振動し
ている被測定物Mに接触させることにより被測定物Mと
ともに振動する筐体12と、筐体12内に収容された重
り14と、重り14を筐体12に対して揺動自在に支持
するコイルばね161,162と、重り14に固設され
た反射板18と、一端201から出射したレーザ光Lが
反射板18で反射して再び一端201に入射するように
一端201が筐体12に固設された光ファイバ20とを
備えたものである。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To measure the vibration of an object to be measured optically by bringing the object into contact with the object to be vibrated. Make it easy. SOLUTION: The vibration detection sensor 10 according to the present invention includes: a housing 12 which vibrates together with the object to be measured M by being brought into contact with the object to be vibrated; a weight 14 accommodated in the housing 12; The coil springs 161 and 162 that support the weight 14 swingably with respect to the housing 12, the reflecting plate 18 fixed to the weight 14, and the laser light L emitted from one end 201 is reflected by the reflecting plate 18. The optical fiber 20 has one end 201 fixed to the housing 12 so as to be incident on the one end 201 again.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、振動している被測
定物に接触させることにより被測定物の振動を測定す
る、振動検出センサ及びこれを用いた振動測定装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vibration detecting sensor for measuring the vibration of an object to be measured by bringing the object into contact with a vibrating object, and a vibration measuring device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、振動している被測定物に接触させ
ることにより被測定物の振動を測定する振動測定装置と
しては、圧電体を用いたものが一般的であった。この振
動測定装置は、物体の振動を電気信号に直接変換するも
のであるため、電磁波等の電気的ノイズの影響を受けや
すいという問題があった。そこで、この問題を解決した
振動測定装置が、特開平5−60781号公報に開示さ
れている。この振動測定装置は、物体の振動を一旦光信
号に変換し、この光信号を電気信号に変換することによ
り、電気的ノイズの影響を解消するものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a vibration measuring device for measuring the vibration of an object to be measured by bringing the object into contact with a vibrating object to be measured, an apparatus using a piezoelectric material is generally used. Since this vibration measuring device directly converts the vibration of an object into an electric signal, there is a problem that the vibration measuring device is easily affected by electric noise such as electromagnetic waves. Therefore, a vibration measuring device that solves this problem is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-60781. This vibration measuring device is to convert the vibration of an object into an optical signal once, and to convert the optical signal into an electric signal, thereby eliminating the influence of electric noise.

【0003】図5は、上記公報に開示されている従来の
振動測定装置を示すブロック図である。以下、この図面
に基づき説明する
FIG. 5 is a block diagram showing a conventional vibration measuring device disclosed in the above publication. Hereinafter, description will be given based on this drawing.

【0004】従来の振動測定装置70は、半導体レーザ
72と、半導体レーザ72とカプラ74とを結ぶ光ファ
イバ76と、半導体レーザ72から出射した光を二本の
光ファイバ78,80に分岐するカプラ74と、光ファ
イバ78,80の先端に設けられるとともにカプラ74
から分岐された光を再びカプラ74方向に反射する反射
板82,84と、光ファイバ80に固定させた重り86
と、カプラ74とフォトダイオード88とを結ぶ光ファ
イバ80と、カプラ74方向への光ファイバ78,80
からの反射光による干渉光がカプラ74で二分岐される
一方を受光するフォトダイオード90とを具備したもの
である。
A conventional vibration measuring device 70 comprises a semiconductor laser 72, an optical fiber 76 connecting the semiconductor laser 72 and the coupler 74, and a coupler for splitting light emitted from the semiconductor laser 72 into two optical fibers 78 and 80. 74 and a coupler 74 provided at the distal ends of the optical fibers 78 and 80.
Reflectors 82 and 84 for reflecting the light branched from the optical fiber again in the direction of the coupler 74, and a weight 86 fixed to the optical fiber 80.
An optical fiber 80 connecting the coupler 74 and the photodiode 88; and optical fibers 78 and 80 in the direction of the coupler 74.
And a photodiode 90 that receives one of two branches of the interference light due to the reflected light from the coupler 74.

【0005】半導体レーザ72から出射した光は、カプ
ラ74で反射板82方向と反射板84方向とに二分岐さ
れる。反射板82,84でそれぞれ反射された光は、再
びカプラ74へ戻り、ここで合波され干渉する。干渉光
は、カプラ74で二分岐され、一方がフォトダイオード
88に入射し、干渉光出力強度が電気信号に変換され
る。ここで、重り86を被測定物(図示せず)に接触さ
せたとする。そして、重り86が加速度を感じると、重
り86と固定されている部分の光ファイバ80に応力が
生じる。これによって光ファイバ80の実効屈折率が変
化して、光ファイバ80中を伝搬する光の位相が変化す
る。一方の光だけが加速度印加によって位相変化を受け
るので、両光の干渉状態が変化し、加速度印加に対応し
て干渉光強度が変化することにより、被測定物の加速度
が検出される。
The light emitted from the semiconductor laser 72 is split into two by a coupler 74 in a direction of a reflector 82 and a direction of a reflector 84. The lights respectively reflected by the reflection plates 82 and 84 return to the coupler 74 again, where they are multiplexed and interfere. The interference light is bifurcated by the coupler 74, one of which is incident on the photodiode 88, and the interference light output intensity is converted into an electric signal. Here, it is assumed that the weight 86 is brought into contact with an object to be measured (not shown). When the weight 86 feels acceleration, a stress is generated in the portion of the optical fiber 80 fixed to the weight 86. As a result, the effective refractive index of the optical fiber 80 changes, and the phase of light propagating in the optical fiber 80 changes. Since only one of the lights undergoes a phase change due to the application of the acceleration, the interference state of the two lights changes, and the intensity of the interference light changes in response to the application of the acceleration, whereby the acceleration of the object to be measured is detected.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
振動測定装置70では、四本の光ファイバ76,90,
78,80、二枚の反射板82,84及びカプラ74等
の多数の光学部品が必要である。しかも、二本の光ファ
イバ76,90はカプラ74を中心に半導体レーザ72
とフォトダイオード88とに分岐し、残りの二本の光フ
ァイバ78,80もカプラ74を中心に二枚の反射板8
2,84に分岐し、そのうちの一本の光ファイバ80の
みに重り86を接触させる等、光ファイバ76,90,
78,80が複雑に交錯する構造となっている。したが
って、従来の振動測定装置70では、光学系が複雑であ
ることにより、大型化を招くとともに、光軸や焦点の調
整も煩雑であった。
However, in the conventional vibration measuring device 70, four optical fibers 76, 90,
Numerous optical components such as 78, 80, two reflectors 82, 84 and coupler 74 are required. Moreover, the two optical fibers 76 and 90 are connected to the semiconductor laser 72 around the coupler 74.
And the photodiode 88, and the other two optical fibers 78 and 80 are also connected to the two reflectors 8 around the coupler 74.
2, 84, and the weight 86 is brought into contact with only one of the optical fibers 80.
78 and 80 are complicatedly intersected. Therefore, in the conventional vibration measuring device 70, the optical system is complicated, so that the size is increased and the adjustment of the optical axis and the focus is complicated.

【0007】[0007]

【発明の目的】そこで、本発明の目的は、振動している
被測定物に接触させることにより光学的に被測定物の振
動を測定できるとともに、小型化及び軽量化を達成で
き、しかも製造及び操作を簡単にできる、振動検出セン
サ及びこれを用いた振動測定装置を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to make it possible to optically measure the vibration of an object to be measured by bringing the object into contact with the object being vibrated, to achieve a reduction in size and weight, and to achieve manufacturing and An object of the present invention is to provide a vibration detection sensor and a vibration measuring device using the same, which can be easily operated.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の振動検出
センサは、振動している被測定物に接触させることによ
り当該被測定物とともに振動する筐体と、この筐体内に
収容された重りと、この重りを前記筐体に対して揺動自
在に支持する弾性体と、前記重りに固設された反射体
と、一端から出射したレーザ光が前記反射体で反射して
再び当該一端に入射するように当該一端が前記筐体に固
設された光ファイバとを備えたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a vibration detection sensor, comprising: a housing which vibrates together with a vibrating object by being brought into contact with the vibrating object; and a weight accommodated in the housing. An elastic body that swingably supports the weight with respect to the housing, a reflector fixed to the weight, and a laser beam emitted from one end reflected by the reflector and again applied to the one end. An optical fiber whose one end is fixed to the housing so as to be incident.

【0009】以下、反射体に対して、反射前のレーザ光
を照射光、反射後のレーザ光を反射光という。照射光は
光ファイバの一端から出射し、反射光は再び光ファイバ
の一端に入射している。ここで、振動検出センサを被測
定物体に接触させると、筐体は被測定物とともに振動す
る。一方、重りは、測定用の座標系において、弾性体の
作用によって静止したままである。したがって、反射体
は重りとともに静止しており、光ファイバの一端は筐体
とともに振動していることから、反射体と光ファイバの
一端との間の距離は、被測定物の振動に同期して伸縮す
る。その結果、反射光はドップラ効果により被測定物の
振動に応じた周波数に変化するので、照射光と反射光と
の混合波からなるビート波信号を含んだレーザ光が光フ
ァイバの他端から得られる。このように、わずか一本の
光ファイバ及び一個の反射体からなる光学系によって、
被測定物の振動に関する情報が光学的に得られる。
[0009] Hereinafter, the laser light before reflection is referred to as irradiation light, and the laser light after reflection is referred to as reflected light. The irradiation light is emitted from one end of the optical fiber, and the reflected light is incident again on one end of the optical fiber. Here, when the vibration detection sensor is brought into contact with the measured object, the housing vibrates together with the measured object. On the other hand, the weight remains stationary in the coordinate system for measurement due to the action of the elastic body. Therefore, the reflector is stationary with the weight, and one end of the optical fiber is vibrating with the housing, so that the distance between the reflector and one end of the optical fiber is synchronized with the vibration of the DUT. Expand and contract. As a result, the reflected light changes to a frequency corresponding to the vibration of the device under test due to the Doppler effect, so that a laser beam containing a beat wave signal consisting of a mixed wave of irradiation light and reflected light is obtained from the other end of the optical fiber. Can be Thus, with an optical system consisting of only one optical fiber and one reflector,
Information on the vibration of the device under test is obtained optically.

【0010】請求項2記載の振動検出センサは、請求項
1記載の振動検出センサにおいて、前記重りに接触する
とともに透光性を有する液体が前記筐体内に封入された
ものである。前述のとおり、重りは、測定用の座標系に
対しては静止しているが、筐体に対しては揺動する。し
たがって、重りに接触する液体を筐体内に封入すると、
重りと液体との摩擦力により、特に高周波数の重りの揺
動が抑制される。液体は、レーザ光を吸収して測定を妨
げることがない程度に、透光性を有していればよい。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the vibration detecting sensor according to the first aspect, wherein a liquid that is in contact with the weight and has a light transmitting property is sealed in the housing. As described above, the weight is stationary with respect to the coordinate system for measurement, but swings with respect to the housing. Therefore, if the liquid that comes into contact with the weight is sealed in the housing,
Due to the frictional force between the weight and the liquid, the swing of the weight, especially at a high frequency, is suppressed. The liquid only needs to have a light-transmitting property to the extent that the liquid does not interfere with the measurement by absorbing the laser light.

【0011】請求項3記載の振動測定装置は、請求項1
又は2記載の振動検出センサと、前記光ファイバの他端
へレーザ光を照射するレーザ光源と、前記光ファイバの
他端で得られた前記レーザ光の照射光と反射光との混合
波から電気的なビート波信号を抽出する混合回路と、こ
の混合回路で抽出されたビート波信号に基づき前記被測
定物の振動を算出する振動算出回路とを備えたものであ
る。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a vibration measuring apparatus.
Or the vibration detection sensor according to 2, a laser light source for irradiating the laser light to the other end of the optical fiber, and an electric power from a mixed wave of the irradiation light and the reflected light of the laser light obtained at the other end of the optical fiber. A mixing circuit for extracting a typical beat wave signal, and a vibration calculating circuit for calculating a vibration of the device under test based on the beat wave signal extracted by the mixing circuit.

【0012】振動している被測定物に振動検出センサを
接触させると、重り及び反射体は静止したままである
が、筐体及び光ファイバの一端は被測定物とともに振動
する。一方、レーザ光源からレーザ光が光ファイバを介
して反射体へ向けて照射される。このとき、反射体から
の反射光は、ドップラ効果により被測定物の振動に応じ
た周波数に変化している。そのため、照射光と反射光と
の混合波にはビート波信号が含まれており、このビート
波信号が混合回路で抽出される。ビート波信号は、被測
定物がレーザ光源に対して近づくとき又は遠ざかるとき
に対応して、高周波の部分と低周波の部分とが形成され
る。振動算出回路では、このビート波信号に基づき、被
測定物の振動に関する周波数、周期、振幅、速度、加速
度等が算出される。
When the vibration detection sensor is brought into contact with the vibrating object, the weight and the reflector remain stationary, but the housing and one end of the optical fiber vibrate together with the object. On the other hand, laser light is emitted from a laser light source toward the reflector via an optical fiber. At this time, the reflected light from the reflector changes to a frequency corresponding to the vibration of the measured object due to the Doppler effect. Therefore, a beat wave signal is included in the mixed wave of the irradiation light and the reflected light, and the beat wave signal is extracted by the mixing circuit. In the beat wave signal, a high-frequency portion and a low-frequency portion are formed corresponding to the time when the device under test approaches or moves away from the laser light source. The vibration calculation circuit calculates a frequency, a cycle, an amplitude, a speed, an acceleration, and the like relating to the vibration of the measured object based on the beat wave signal.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1及び図2は本発明に係る振動
検出センサの第一実施形態を示し、図1は断面図、図2
は分解斜視図である。以下、この図面に基づき説明す
る。
1 and 2 show a first embodiment of a vibration detecting sensor according to the present invention. FIG. 1 is a sectional view and FIG.
Is an exploded perspective view. Hereinafter, description will be made based on this drawing.

【0014】本実施形態の振動検出センサ10は、振動
している被測定物Mに接触させることにより被測定物M
とともに振動する筐体12と、筐体12内に収容された
重り14と、重り14を筐体12に対して揺動自在に支
持する弾性体としてのコイルばね161,162と、重
り14に固設された反射体としての反射板18と、一端
201から出射したレーザ光Lが反射板18で反射して
再び一端201に入射するように一端201が筐体12
に固設された光ファイバ20とを備えたものである。
The vibration detecting sensor 10 according to the present embodiment is configured to contact the object
The housing 12 vibrates together, the weight 14 accommodated in the housing 12, coil springs 161 and 162 as elastic bodies for supporting the weight 14 swingably with respect to the housing 12, and The reflecting plate 18 as a reflector provided, and the one end 201 is connected to the housing 12 so that the laser beam L emitted from the one end 201 is reflected by the reflecting plate 18 and is incident on the one end 201 again.
And an optical fiber 20 fixed to the optical fiber.

【0015】筐体12は、有底円筒形の本体部121
と、本体部121に被装される蓋部122とから構成さ
れている。筐体12の材質は、振動を吸収しない性質を
有する金属又は合成樹脂が好ましい。本体部121には
雌ねじが形成され、蓋部122には雄ねじが形成され、
本体部121と蓋体部122とはOリング123を挟ん
で螺合するようになっている。
The housing 12 has a bottomed cylindrical main body 121.
And a lid 122 mounted on the main body 121. The material of the housing 12 is preferably a metal or a synthetic resin having a property of not absorbing vibration. A female screw is formed on the main body 121, and a male screw is formed on the lid 122,
The main body 121 and the lid 122 are screwed together with the O-ring 123 interposed therebetween.

【0016】蓋体部122の中心には、貫通孔124が
形成されている。貫通孔124には、光ファイバ20の
一端201と、一端201に接するセルフォックレンズ
202とが、嵌合又は接着等により固設されている。セ
ルフォックレンズ202は、レーザ光Lを集光させるた
めのものであり、必ずしも必要ではない。重り14は、
円柱状の金属からなる。重り14の重さと、コイルばね
161,162のばね定数等とは、筐体12の振動によ
って重り14が振動しないように、選択されている。反
射板18は、一面を鏡面とした円板であり、接着又は嵌
合等により重り14に固設されている。
A through hole 124 is formed at the center of the lid 122. One end 201 of the optical fiber 20 and a SELFOC lens 202 that is in contact with the one end 201 are fixed to the through hole 124 by fitting or bonding. The Selfoc lens 202 is for condensing the laser light L, and is not always necessary. The weight 14 is
Made of columnar metal. The weight of the weight 14 and the spring constants of the coil springs 161 and 162 are selected so that the weight 14 does not vibrate due to the vibration of the housing 12. The reflection plate 18 is a disk having a mirror surface on one side, and is fixed to the weight 14 by bonding or fitting.

【0017】次に、振動検出センサ10の動作を説明す
る。以下、反射板18に対して、反射前のレーザ光Lを
照射光Lf、反射後のレーザ光Lを反射光Lrという。
Next, the operation of the vibration detection sensor 10 will be described. Hereinafter, the laser beam L before reflection on the reflection plate 18 is referred to as irradiation light Lf, and the laser beam L after reflection is referred to as reflection light Lr.

【0018】照射光Lfは光ファイバ20の一端201
からセルフォックレンズ202を通って出射し、反射光
Lrは再びセルフォックレンズ202を通って光ファイ
バ20の一端201に入射している。ここで、振動検出
センサ10の検出面125を被測定物体Mに接触させ
る。すると、筐体12は、被測定物Mとともに振動す
る。一方、重り14は、コイルばね161,162の作
用によって静止したままである。したがって、反射板1
8は重り14とともに静止しており、セルフォックレン
ズ202は筐体12とともに振動していることから、反
射板18とセルフォックレンズ202との間の距離は、
被測定物Mの振動に同期して伸縮する。その結果、反射
光Lrはドップラ効果により被測定物Mの振動に応じた
周波数に変化するので、照射光Lfと反射光Lrとの混
合波からなるビート波信号fdを含んだレーザ光Lが光
ファイバ20の他端203から得られる。このように、
わずか一本の光ファイバ20及び一枚の反射板18から
なる光学系によって、被測定物Mの振動に関する情報が
光学的に得られる。
The irradiation light Lf is applied to one end 201 of the optical fiber 20.
The reflected light Lr exits from the optical fiber 20 through the Selfoc lens 202 again, and enters the one end 201 of the optical fiber 20 through the Selfoc lens 202. Here, the detection surface 125 of the vibration detection sensor 10 is brought into contact with the measured object M. Then, the housing 12 vibrates together with the measured object M. On the other hand, the weight 14 remains stationary by the action of the coil springs 161 and 162. Therefore, the reflection plate 1
8 is stationary with the weight 14, and the SELFOC lens 202 is vibrating with the housing 12, so that the distance between the reflector 18 and the SELFOC lens 202 is
The object M expands and contracts in synchronization with the vibration of the object M. As a result, the reflected light Lr changes to a frequency corresponding to the vibration of the device under test M due to the Doppler effect. Obtained from the other end 203 of the fiber 20. in this way,
An optical system including only one optical fiber 20 and one reflecting plate 18 optically obtains information on the vibration of the device under test M.

【0019】図3乃至図5は本発明に係る振動検出セン
サの第二実施形態を示し、図3は断面図、図4及び図5
は要部斜視図である。以下、この図面に基づき説明す
る。ただし、図1と同一部分は同一符号を付すことによ
り重複説明を省略する。
3 to 5 show a second embodiment of the vibration detecting sensor according to the present invention. FIG. 3 is a sectional view, and FIGS.
FIG. Hereinafter, description will be made based on this drawing. However, the same parts as those in FIG.

【0020】本実施形態の振動検出センサ30は、第一
実施形態の振動検出センサ10において、重り32に接
触するとともに透光性を有する液体34が筐体12内に
封入されたものである。また、重り32には、液体34
の流路となる貫通孔321〜324が形成されている。
重り32は、測定用の座標系に対しては静止している
が、筐体12に対しては揺動する。したがって、重り3
2に接触する液体34を筐体12内に封入すると、重り
32と液体34との摩擦力により、特に高周波数の重り
32の揺動が抑制される。これにより、被測定物Mの振
動に含まれる高周波数のノイズを除去できる。なお、図
4に示す重り32の代わりに図5に示す重り36を用い
てもよい。重り36には、液体34の流路となる長溝3
61〜364が形成されている。
The vibration detection sensor 30 of the present embodiment is the same as the vibration detection sensor 10 of the first embodiment, except that a liquid 34 that is in contact with the weight 32 and has translucency is sealed in the housing 12. The weight 32 has a liquid 34.
Through holes 321 to 324 are formed.
The weight 32 is stationary with respect to the coordinate system for measurement, but swings with respect to the housing 12. Therefore, weight 3
When the liquid 34 that comes into contact with the liquid 2 is sealed in the housing 12, the swing of the high frequency weight 32 is particularly suppressed by the frictional force between the weight 32 and the liquid 34. Thereby, high frequency noise included in the vibration of the device under test M can be removed. Note that a weight 36 shown in FIG. 5 may be used instead of the weight 32 shown in FIG. The weight 36 has a long groove 3 serving as a flow path of the liquid 34.
61 to 364 are formed.

【0021】図6は、本発明に係る振動測定装置の一実
施形態を示すブロック図である。図7は、図6の振動測
定装置の動作を示す波形図である。以下、これらの図面
に基づき説明する。
FIG. 6 is a block diagram showing an embodiment of the vibration measuring device according to the present invention. FIG. 7 is a waveform chart showing the operation of the vibration measuring device of FIG. Hereinafter, description will be made based on these drawings.

【0022】振動測定装置40は、振動検出センサ10
と、光ファイバ20の他端203へレーザ光Lを照射す
るレーザ光源42と、光ファイバ20の他端203で得
られたレーザ光Lの照射光Lfと反射光Lrとの混合波
から電気的なビート波信号fdを抽出する混合回路44
と、混合回路44で抽出されたビート波信号fdに基づ
き被測定物Mの振動を算出する振動算出回路46とを備
えたものである。
The vibration measuring device 40 includes the vibration detecting sensor 10
And a laser light source 42 for irradiating the other end 203 of the optical fiber 20 with the laser light L, and an electric signal from the mixed wave of the irradiation light Lf of the laser light L obtained at the other end 203 of the optical fiber 20 and the reflected light Lr. Mixing circuit 44 for extracting a simple beat wave signal fd
And a vibration calculation circuit 46 that calculates the vibration of the device under test M based on the beat wave signal fd extracted by the mixing circuit 44.

【0023】レーザ光源42は、半導体レーザ42a
と、半導体レーザ42aを駆動する駆動回路42bと、
レーザ光Lの照射光Lfと反射光Lrとの自己混合波を
電気的信号に変換するフォトダイオード42cと、図示
しない光学系等とによって構成されている。例えば、半
導体レーザ42a及びフォトダイオード42cはこれら
が一体化されたシャープ(株)製LT030 シリーズであ
り、駆動用ICはシャープ(株)製IR3C01シリーズであ
る。
The laser light source 42 includes a semiconductor laser 42a
A driving circuit 42b for driving the semiconductor laser 42a;
It comprises a photodiode 42c for converting a self-mixed wave of the irradiation light Lf of the laser light L and the reflected light Lr into an electric signal, and an optical system (not shown). For example, the semiconductor laser 42a and the photodiode 42c are an LT030 series manufactured by Sharp Corporation and the driving IC is an IR3C01 series manufactured by Sharp Corporation.

【0024】混合回路44は、増幅器、リミッタ、直流
成分遮断用コンデンサ等によって構成されている。
The mixing circuit 44 includes an amplifier, a limiter, a DC component blocking capacitor, and the like.

【0025】振動算出回路46は、混合回路44で抽出
されたビート波信号fdをその周波数に応じた電圧に変
換する周波数−電圧変換回路48と、周波数−電圧変換
回路48で変換された電圧波形Vbに基づき被測定物M
の振動の周期Tmを算出する周期算出回路50と、混合
回路44で抽出されたビート波信号fdの一周期につい
て一定数のパルス信号PFDを発生させるパルス化回路5
2と、パルス化回路52から発生したパルス信号PFD
周期算出回路50で算出された一周期について計数する
振幅算出回路54とを備えている。
The vibration calculating circuit 46 includes a frequency-voltage converting circuit 48 for converting the beat wave signal fd extracted by the mixing circuit 44 into a voltage corresponding to the frequency, and a voltage waveform converted by the frequency-voltage converting circuit 48. DUT M based on Vb
And a pulsing circuit 5 for generating a fixed number of pulse signals P FD for one cycle of the beat wave signal fd extracted by the mixing circuit 44.
2 and an amplitude calculating circuit 54 that counts the pulse signal P FD generated from the pulsing circuit 52 for one cycle calculated by the cycle calculating circuit 50.

【0026】周波数−電圧変換回路48は、例えば、F
M波の復調に用いられる周波数弁別回路である。ビート
波信号fdは、被測定物Mがレーザ光源42に対して近
づくとき又は遠ざかるときに対応して、高周波の部分と
低周波の部分とが形成される(図7(3))。したがっ
て、周波数−電圧変換回路48により高周波の部分が高
電圧となり低周波の部分が低電圧となる電圧波形Vbに
変換される(図7(4))。すなわち、電圧波形Vbの
周期は、被測定物Mの周期Tm(図7(1))の二倍に
なっている。
The frequency-voltage conversion circuit 48 is, for example,
This is a frequency discrimination circuit used for demodulation of M waves. In the beat wave signal fd, a high-frequency portion and a low-frequency portion are formed corresponding to the time when the device under test M approaches or moves away from the laser light source 42 (FIG. 7 (3)). Accordingly, the frequency-voltage conversion circuit 48 converts the high-frequency portion into a high-voltage voltage waveform and the low-frequency portion into a low-voltage voltage waveform Vb (FIG. 7 (4)). That is, the period of the voltage waveform Vb is twice as long as the period Tm of the device under test M (FIG. 7A).

【0027】周期算出回路50は、周波数−電圧変換回
路48から出力された電圧波形Vbをしきい値Vsによ
りパルス化するコンパレータ501と、コンパレータ5
01でパルス化されたパルス信号を反転するインバータ
502と、インバータ502で反転されたパルス信号V
cに基づきリセット信号SRE、イネーブル信号SEN、ラ
ッチ信号SLAを出力するタイミング信号発生回路503
と、クロックパルスCPを発生させる発振器504と、
イネーブル信号SENによりクロックパルスCPを計数す
るとともにリセット信号SREによりその計数値をリセッ
トするカウンタ回路505と、ラッチ信号SLAによりカ
ウンタ回路505の計数値を保持するラッチ回路506
と、ラッチ回路506で保持された計数値を入力すると
ともにその計数値に基づき周期Tm及びその逆数の周波
数fmを算出するマイクロコンピュータ507とから構
成されている。
The period calculating circuit 50 includes a comparator 501 for pulsing the voltage waveform Vb output from the frequency-voltage converting circuit 48 with a threshold Vs, and a comparator 5.
01 and a pulse signal V inverted by the inverter 502.
c, a timing signal generating circuit 503 for outputting a reset signal S RE , an enable signal S EN , and a latch signal S LA .
An oscillator 504 for generating a clock pulse CP;
A counter circuit 505 for resetting the count value by the reset signal S RE with counting the clock pulses CP by the enable signal S EN, latch circuit 506 for holding the count value of the counter circuit 505 by the latch signal S LA
And a microcomputer 507 which inputs the count value held by the latch circuit 506 and calculates the period Tm and the reciprocal frequency fm based on the count value.

【0028】パルス化回路52は、ビート波信号fdの
一周期あたり一個のパルス信号PFDを発生させるコンパ
レータである。
The pulsing circuit 52 is a comparator for generating one pulse signal PFD per one cycle of the beat wave signal fd.

【0029】振幅算出回路54は、イネーブル信号SEN
によりパルス信号PFDを計数するとともにリセット信号
REによりその計数値をリセットするカウンタ回路54
1と、ラッチ信号SLAによりカウンタ回路541の計数
値を保持するラッチ回路542と、ラッチ回路542で
保持された計数値を入力するとともにその計数値に基づ
き被測定物Mの振幅Lmを算出するマイクロコンピュー
タ543とから構成されている。
The amplitude calculation circuit 54 supplies the enable signal S EN
The counter circuit 54 counts the pulse signal P FD by the reset signal and resets the count value by the reset signal S RE.
1, a latch circuit 542 for holding the count value of the counter circuit 541 by the latch signal SLA , and the count value held by the latch circuit 542 are input, and the amplitude Lm of the device under test M is calculated based on the count value. And a microcomputer 543.

【0030】図8は、振動測定装置40におけるタイミ
ング信号発生回路503の一例を示すブロック図であ
る。図9は、タイミング信号発生回路503の動作を示
すタイムチャートである。以下、これらの図面に基づき
説明する。
FIG. 8 is a block diagram showing an example of the timing signal generation circuit 503 in the vibration measuring device 40. FIG. 9 is a time chart showing the operation of the timing signal generation circuit 503. Hereinafter, description will be made based on these drawings.

【0031】タイミング信号発生回路503は、JKフ
リップフロップ561,562と、アンドゲート56
3,564と、インバータ565とから構成されてい
る。
The timing signal generation circuit 503 includes JK flip-flops 561 and 562 and an AND gate 56.
3,564 and an inverter 565.

【0032】JKフリップフロップ561,562は、
J,K端子が電源電圧Vccに接続されているので、クロ
ックパルスを入力するたびに出力が反転するTフリップ
フロップとして動作する。これにより、JKフリップフ
ロップ561は、パルス信号Vcのアップエッジで動作
して、パルス信号Vcの二倍の周期のパルス信号Veを
出力する(図9(1)(2))。すなわち、パルス信号
Veの周期は被測定物Mの周期Tmに一致する。同様
に、JKフリップフロップ562は、パルス信号Veの
アップエッジで動作して、パルス信号Veの二倍の周期
のイネーブル信号SENを出力する(図9(3))。イン
バータ565は、パルス信号Vcの反転出力が得られる
ように接続されている。アンドゲート563は、イネー
ブル信号SENが「0」かつパルス信号Veが「1」かつ
パルス信号Vcが「0」の場合に、ラッチ信号SLA
「1」となるように接続されている。アンドゲート56
4は、イネーブル信号SENが「0」かつパルス信号Ve
が「0」かつパルス信号Vcが「0」の場合に、リセッ
ト信号SREが「1」となるように接続されている。
The JK flip-flops 561 and 562 are
Since the J and K terminals are connected to the power supply voltage Vcc, they operate as T flip-flops whose outputs are inverted each time a clock pulse is input. As a result, the JK flip-flop 561 operates at the rising edge of the pulse signal Vc, and outputs a pulse signal Ve having a cycle twice as long as the pulse signal Vc (FIGS. 9A and 9B). That is, the cycle of the pulse signal Ve matches the cycle Tm of the device under test M. Similarly, the JK flip-flop 562 operates at the rising edge of the pulse signal Ve, and outputs the enable signal SEN having a cycle twice as long as the pulse signal Ve (FIG. 9 (3)). The inverter 565 is connected so as to obtain an inverted output of the pulse signal Vc. The AND gate 563 is connected such that when the enable signal SEN is “0”, the pulse signal Ve is “1”, and the pulse signal Vc is “0”, the latch signal SLA becomes “1”. AND gate 56
4 indicates that the enable signal SEN is "0" and the pulse signal Ve
Are connected so that the reset signal SRE becomes "1" when the pulse signal Vc is "0" and the pulse signal Vc is "0".

【0033】したがって、図9(3)〜(5)に示すよ
うに、パルス信号Veの一周期中イネーブル信号SEN
みが「1」となり、次のパルス信号Veの半周期にラッ
チ信号SLAのみが「1」となり、残りの半周期にリセッ
ト信号SREのみが「1」となる。こうして、図9(6)
(7)に示すように、カウンタ回路505,541、及
びラッチ回路506,542が動作する。
Therefore, as shown in FIGS. 9 (3) to 9 (5), only the enable signal SEN becomes “1” during one cycle of the pulse signal Ve, and the latch signal S LA is provided in a half cycle of the next pulse signal Ve. Only the reset signal SRE becomes "1" in the remaining half cycle. Thus, FIG. 9 (6)
As shown in (7), the counter circuits 505 and 541 and the latch circuits 506 and 542 operate.

【0034】次に、振動測定装置40の全体としての動
作を、図6に基づき説明する。
Next, the overall operation of the vibration measuring device 40 will be described with reference to FIG.

【0035】振動している被測定物Mに振動検出センサ
10を接触させると、重り14及び反射板18は静止し
たままであるが、筐体12及光ファイバ20の一端20
1は被測定物Mとともに振動する。一方、レーザ光源4
2からレーザ光Lが光ファイバ20を介して反射板18
へ向けて照射される。このとき、反射板18からの反射
光Lrは、ドップラ効果により被測定物Mの振動に応じ
た周波数に変化している。そのため、照射光Lfと反射
光Lrとの混合波にはビート波信号fdが含まれてお
り、ビート波信号fdが混合回路44で抽出される。ビ
ート波信号fdは、前述したように周波数−電圧変換回
路48により、被測定物Mの周期Tmの二倍の周期を有
する電圧波形Vbに変換される。したがって、電圧波形
Vbの周期を周期算出回路50で算出することにより、
周期Tm及び周波数fmが求められる。
When the vibration detection sensor 10 is brought into contact with the vibrating object M, the weight 14 and the reflection plate 18 remain stationary, but the housing 12 and one end 20 of the optical fiber 20 remain.
1 vibrates together with the object M to be measured. On the other hand, the laser light source 4
The laser beam L is transmitted from the optical fiber 20 to the reflector 18 via the optical fiber 20.
Irradiated toward At this time, the reflected light Lr from the reflecting plate 18 has changed to a frequency corresponding to the vibration of the device under test M due to the Doppler effect. Therefore, the mixed wave of the irradiation light Lf and the reflected light Lr includes the beat wave signal fd, and the beat wave signal fd is extracted by the mixing circuit 44. The beat-wave signal fd is converted by the frequency-voltage conversion circuit 48 into a voltage waveform Vb having a period twice as long as the period Tm of the device under test M as described above. Therefore, by calculating the cycle of the voltage waveform Vb by the cycle calculation circuit 50,
The period Tm and the frequency fm are obtained.

【0036】また、被測定物Mがレーザ光Lの波長λの
半分の距離だけ移動するごとに、ビート波信号fdの一
周期が形成される。したがって、ビート波信号fdの一
周期あたり一個のパルス信号PFDをパルス化回路52で
発生させると、被測定物Mの振動の一周期Tmの時間内
に振幅算出回路54で計数されたパルス数は、被測定物
Mの振動の振幅Lmの大きさに対応する。
Each time the device under test M moves by half the wavelength λ of the laser beam L, one cycle of the beat wave signal fd is formed. Therefore, when one pulse signal P FD is generated in one cycle of the beat wave signal fd by the pulsing circuit 52, the number of pulses counted by the amplitude calculating circuit 54 within one cycle Tm of the vibration of the device M is measured. Corresponds to the magnitude of the amplitude Lm of the vibration of the DUT M.

【0037】振動測定装置40によれば、被測定物Mの
周期Tmの二倍の周期を有する電圧波形Vbにビート波
信号fdを変換するようにしたので、電圧波形Vbの周
期を周期算出回路50で算出することにより、被測定物
Mの周期Tmを求めることができる。したがって、従来
のようにレーザ光Lの周波数レベルで測定していたこと
が、被測定物Mの周期レベルTmの低い周波数で測定で
きる。その結果、ビート波信号fdの周波数が高い場合
における、被測定物の周期Tm、周波数fm等の測定精
度を向上できる。
According to the vibration measuring device 40, since the beat wave signal fd is converted into the voltage waveform Vb having a period twice as long as the period Tm of the DUT M, the period of the voltage waveform Vb is calculated by the period calculating circuit. By calculating at 50, the period Tm of the DUT M can be obtained. Therefore, the measurement at the frequency level of the laser beam L as in the related art can be performed at a frequency lower than the periodic level Tm of the device under test M. As a result, when the frequency of the beat wave signal fd is high, the measurement accuracy of the period Tm, the frequency fm, and the like of the device under test can be improved.

【0038】また、ビート波信号fdの一周期に対応す
るパルス信号PFDをパルス化回路52から発生させ、パ
ルス信号PFDを被測定物Mの振動の一周期について振幅
算出回路54で計数するようにしたので、被測定物Mの
周期Tm,周波数fmと同時に、振幅Lmも測定でき
る。さらに、周期Tm及び振幅Lmに基づき、被測定物
Mの速度及び加速度も測定できる。
Further, a pulse signal P FD corresponding to one cycle of the beat wave signal fd is generated from the pulsing circuit 52, and the pulse signal P FD is counted by the amplitude calculating circuit 54 for one cycle of the vibration of the object M. Thus, the amplitude Lm can be measured at the same time as the period Tm and the frequency fm of the DUT M. Furthermore, the speed and the acceleration of the DUT M can be measured based on the cycle Tm and the amplitude Lm.

【0039】なお、本発明は、言うまでもなく、上記実
施形態に限定されるものではない。例えば、振幅Lmの
測定を必要としない場合は、パルス化回路52及び振幅
算出回路54を除去してもよい。また、周期算出回路5
0は、上記実施例ではディジタル処理により周期Tmを
求めるものであるが、アナログ処理によりに周期Tmを
求めるものでもよい。
It is needless to say that the present invention is not limited to the above embodiment. For example, when the measurement of the amplitude Lm is not required, the pulse generator 52 and the amplitude calculator 54 may be eliminated. Further, the cycle calculation circuit 5
In the above embodiment, 0 is used to determine the period Tm by digital processing. However, the value 0 may be obtained by analog processing.

【0040】[0040]

【発明の効果】請求項1,2又は3記載の振動検出セン
サ及び振動測定装置によれば、振動している被測定物に
接触させることにより被測定物とともに振動する筐体
と、この筐体内に収容された重りと、この重りを筐体内
に揺動自在に支持する弾性体と、重りに固設された反射
体と、一端から出射したレーザ光が反射体で反射して再
び一端に入射するように一端が筐体に固設された光ファ
イバとを備えたことにより、照射光と反射光との混合波
からなるビート波信号を含んだレーザ光を光ファイバの
他端から得ることができる。したがって、わずか一本の
光ファイバ及び一個の反射体からなる光学系によって、
被測定物の振動に関する情報を光学的に得ることができ
るので、部品点数の削減化により小型化及び軽量化を達
成できるとともに、光学的な調整も簡略化できるので製
造及び操作を単純化できる。
According to the vibration detecting sensor and the vibration measuring device according to the first, second, or third aspect, a housing that vibrates together with the object to be measured by being brought into contact with the object that is vibrating; Weight, an elastic body that swingably supports the weight in the housing, a reflector fixed to the weight, and a laser beam emitted from one end reflected by the reflector and incident again on one end. And an optical fiber fixed at one end to the housing so that a laser beam including a beat wave signal composed of a mixed wave of irradiation light and reflected light can be obtained from the other end of the optical fiber. it can. Therefore, with an optical system consisting of only one optical fiber and one reflector,
Since information on the vibration of the object to be measured can be obtained optically, downsizing and weight reduction can be achieved by reducing the number of parts, and optical adjustment can be simplified, so that manufacturing and operation can be simplified.

【0041】請求項2記載の振動検出センサによれば、
重りに接触するとともに透光性を有する液体を筐体内に
封入したことにより、重りと液体との摩擦力により高周
波数の重りの揺動が抑制されるので、振動に含まれる高
周波数のノイズを除去できる。
According to the vibration detecting sensor of the second aspect,
By enclosing the translucent liquid in the housing while contacting the weight, the high-frequency weight is prevented from swinging due to the frictional force between the weight and the liquid. Can be removed.

【0042】請求項3記載の振動測定装置によれば、請
求項1又は2記載の振動検出センサと、光ファイバの他
端へレーザ光を照射するレーザ光源と、光ファイバの他
端で得られたレーザ光の照射光と反射光との混合波から
電気的なビート波信号を抽出する混合回路と、混合回路
で抽出されたビート波信号に基づき被測定物の振動を算
出する振動算出回路とを備えたことにより、小型で操作
性に優れた振動検出センサを被測定物に接触させるだけ
で、被測定物の振動に関する周波数、周期、振幅、速
度、加速度等を簡便に測定できる。
According to the vibration measuring device of the third aspect, the vibration detecting sensor of the first or second aspect, a laser light source for irradiating the other end of the optical fiber with laser light, and the other end of the optical fiber can be obtained. A mixing circuit for extracting an electrical beat wave signal from a mixed wave of the irradiation light of the laser light and the reflected light, and a vibration calculation circuit for calculating a vibration of the device under test based on the beat wave signal extracted by the mixing circuit. Is provided, the frequency, cycle, amplitude, speed, acceleration, and the like relating to the vibration of the measured object can be easily measured simply by bringing the vibration detection sensor having a small size and excellent operability into contact with the measured object.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る振動検出センサの第一実施形態を
示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of a vibration detection sensor according to the present invention.

【図2】図1の振動検出センサの分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of the vibration detection sensor of FIG.

【図3】本発明に係る振動検出センサの第二実施形態を
示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a second embodiment of the vibration detection sensor according to the present invention.

【図4】図3の振動検出センサにおける重りの第一例を
示す要部斜視図である。
4 is a perspective view of a main part showing a first example of a weight in the vibration detection sensor of FIG. 3;

【図5】図3の振動検出センサにおける重りの第二例を
示す要部斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view of a main part showing a second example of a weight in the vibration detection sensor of FIG. 3;

【図6】本発明に係る振動測定装置の一実施形態を示す
ブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing one embodiment of a vibration measuring device according to the present invention.

【図7】図6の振動測定装置の動作を示す波形図であ
り、図7(1)が被測定物の振動であり、図7(2)が
被測定物の速度であり、図7(3)がビート波信号であ
り、図7(4)が電圧波形であり、図7(5)がパルス
信号であり、図7(6)がパルス信号である。
7 is a waveform chart showing the operation of the vibration measuring device of FIG. 6, wherein FIG. 7 (1) shows the vibration of the object to be measured, FIG. 7 (2) shows the speed of the object to be measured, and FIG. 3) is a beat wave signal, FIG. 7 (4) is a voltage waveform, FIG. 7 (5) is a pulse signal, and FIG. 7 (6) is a pulse signal.

【図8】図6の振動測定装置におけるタイミング信号発
生回路の一例を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram showing an example of a timing signal generation circuit in the vibration measuring device of FIG.

【図9】図3のタイミング信号発生回路の動作を示すタ
イムチャートであり、図9(1)がパルス信号であり、
図9(2)がパルス信号であり、図9(3)がイネーブ
ル信号であり、図9(4)がラッチ信号であり、図9
(5)がリセット信号であり、図9(6)がカウンタ回
路の動作であり、図9(7)がラッチ回路の動作であ
る。
9 is a time chart showing the operation of the timing signal generation circuit of FIG. 3, and FIG. 9 (1) is a pulse signal,
9 (2) shows a pulse signal, FIG. 9 (3) shows an enable signal, and FIG. 9 (4) shows a latch signal.
FIG. 9 (6) shows the operation of the counter circuit, and FIG. 9 (7) shows the operation of the latch circuit.

【図10】従来の振動測定装置を示すブロック図であ
る。
FIG. 10 is a block diagram showing a conventional vibration measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,30 振動検出センサ 12 筐体 14,32,36 重り 18 反射板(反射体) 20 光ファイバ 40 振動測定装置 42 レーザ光源 44 混合回路 46 振動算出回路 48 周波数−電圧変換回路 50 周期算出回路 52 パルス化回路 54 振幅算出回路 161,162 コイルばね(弾性体) 201 光ファイバの一端 203 光ファイバの他端 fd ビート波信号 M 被測定物 L レーザ光 Lf レーザ光の照射光 Lm 被測定物の振動の振幅 Lr レーザ光の反射光 PFD パルス化回路から出力されたパルス信号 Tm 被測定物の振動の周期 Vb 周波数−電圧変換回路から出力された電圧波形10, 30 Vibration detection sensor 12 Housing 14, 32, 36 Weight 18 Reflector (reflector) 20 Optical fiber 40 Vibration measuring device 42 Laser light source 44 Mixing circuit 46 Vibration calculation circuit 48 Frequency-voltage conversion circuit 50 Period calculation circuit 52 Pulsing circuit 54 Amplitude calculation circuit 161, 162 Coil spring (elastic body) 201 One end of optical fiber 203 The other end of optical fiber fd Beat wave signal M DUT L laser light Lf Irradiation light of laser light Lm Vibration of DUT vibration period Vb frequency of the pulse signal Tm measured object is output from the reflected light P FD pulsing circuit of the amplitude Lr laser beam - voltage voltage waveform output from the conversion circuit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 振動している被測定物に接触させること
により当該被測定物とともに振動する筐体と、この筐体
内に収容された重りと、この重りを前記筐体に対して揺
動自在に支持する弾性体と、前記重りに固設された反射
体と、一端から出射したレーザ光が前記反射体で反射し
て再び当該一端に入射するように当該一端が前記筐体に
固設された光ファイバと、を備えた振動検出センサ。
A housing that vibrates together with the object to be measured when the object comes into contact with the object to be vibrated, a weight accommodated in the housing, and the weight swingable with respect to the housing. An elastic body supported on the weight, a reflector fixed to the weight, and one end fixed to the housing such that laser light emitted from one end is reflected by the reflector and re-enters the one end. And an optical fiber.
【請求項2】 前記重りに接触するとともに透光性を有
する液体が前記筐体内に封入された請求項1記載の振動
検出センサ。
2. The vibration detecting sensor according to claim 1, wherein a liquid that is in contact with the weight and has a light transmitting property is sealed in the housing.
【請求項3】 請求項1又は2記載の振動検出センサ
と、前記光ファイバの他端へレーザ光を照射するレーザ
光源と、前記光ファイバの他端で得られた前記レーザ光
の照射光と反射光との混合波から電気的なビート波信号
を抽出する混合回路と、この混合回路で抽出されたビー
ト波信号に基づき前記被測定物の振動を算出する振動算
出回路と、を備えた振動測定装置。
3. The vibration detection sensor according to claim 1, wherein the laser light source irradiates the other end of the optical fiber with laser light, and the irradiation light of the laser light obtained at the other end of the optical fiber. A vibration circuit comprising: a mixing circuit that extracts an electric beat wave signal from a mixed wave with the reflected light; and a vibration calculation circuit that calculates a vibration of the device under test based on the beat wave signal extracted by the mixing circuit. measuring device.
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