JPH10151442A - 真空脱気装置 - Google Patents
真空脱気装置Info
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- JPH10151442A JPH10151442A JP31178296A JP31178296A JPH10151442A JP H10151442 A JPH10151442 A JP H10151442A JP 31178296 A JP31178296 A JP 31178296A JP 31178296 A JP31178296 A JP 31178296A JP H10151442 A JPH10151442 A JP H10151442A
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Landscapes
- Degasification And Air Bubble Elimination (AREA)
- Physical Water Treatments (AREA)
- Removal Of Specific Substances (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 脱気効果を上げる。
【解決手段】 脱気塔10内には、充填層12が収容さ
れており、散布装置20から被処理水が供給されこれが
重力により落下する。充填層12上方の脱気室14には
真空ポンプ26が接続されており、脱気室14は真空状
態におかれる。従って、被処理水中の溶存酸素が除去さ
れる。そして、処理水は充填層12の下方の処理水貯留
室16を経て排出ポンプ24によって排出される。ここ
で、充填層12を支持するグレーティング12aとして
その開口率が35%以上という開口率の高いものを採用
している。従って、グレーティング12aからの処理水
の落下がスムーズに行われ、ここに水膜が形成されるの
が防止される。これによって、グレーティング12aの
下方の空間が上方の空間と分離されることが防止され、
ここで酸素が再溶解することが防止できる。
れており、散布装置20から被処理水が供給されこれが
重力により落下する。充填層12上方の脱気室14には
真空ポンプ26が接続されており、脱気室14は真空状
態におかれる。従って、被処理水中の溶存酸素が除去さ
れる。そして、処理水は充填層12の下方の処理水貯留
室16を経て排出ポンプ24によって排出される。ここ
で、充填層12を支持するグレーティング12aとして
その開口率が35%以上という開口率の高いものを採用
している。従って、グレーティング12aからの処理水
の落下がスムーズに行われ、ここに水膜が形成されるの
が防止される。これによって、グレーティング12aの
下方の空間が上方の空間と分離されることが防止され、
ここで酸素が再溶解することが防止できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水中に溶存する気
体を減圧除去する真空脱気装置、特に超LSI製造工程
などで使用される微量溶存酸素の除去に好適なものに関
する。
体を減圧除去する真空脱気装置、特に超LSI製造工程
などで使用される微量溶存酸素の除去に好適なものに関
する。
【0002】
【従来の技術】超LSIの製造工程では、不純物の混入
をさけるために、高度に浄化された超純水が利用されて
おり、溶存酸素についても十分低濃度であることが要求
されている。例えば、半導体ウェハーの洗浄に用いられ
る超純水では、溶存酸素(DO)を10μg/L(pp
b)以下にまで除去することが要求されている。
をさけるために、高度に浄化された超純水が利用されて
おり、溶存酸素についても十分低濃度であることが要求
されている。例えば、半導体ウェハーの洗浄に用いられ
る超純水では、溶存酸素(DO)を10μg/L(pp
b)以下にまで除去することが要求されている。
【0003】水中の溶存酸素の除去には、一般に真空脱
気装置が利用されている。この真空脱気装置では、水の
表面積を増大させるために気液接触材を充填した脱気塔
内の気体を真空ポンプで排気することにより真空状態と
し、被処理水を気液接触材上を落下させることで、溶存
酸素を除去する。
気装置が利用されている。この真空脱気装置では、水の
表面積を増大させるために気液接触材を充填した脱気塔
内の気体を真空ポンプで排気することにより真空状態と
し、被処理水を気液接触材上を落下させることで、溶存
酸素を除去する。
【0004】このため、大容量の真空ポンプを用い処理
量を少なくすれば、溶存酸素を10μg/L以下にまで
低下させることが可能である。しかし、このような真空
度の上昇だけで溶存酸素を上記濃度まで低減するために
は、非常に大きな真空ポンプを用い、かつ装置の処理量
をかなり少なくしなければならない。従って、実際問題
としてこのような装置を採用することは困難であり、一
般的には処理水を窒素曝気したり、触媒還元したりして
溶存酸素濃度を上記濃度まで低減している。
量を少なくすれば、溶存酸素を10μg/L以下にまで
低下させることが可能である。しかし、このような真空
度の上昇だけで溶存酸素を上記濃度まで低減するために
は、非常に大きな真空ポンプを用い、かつ装置の処理量
をかなり少なくしなければならない。従って、実際問題
としてこのような装置を採用することは困難であり、一
般的には処理水を窒素曝気したり、触媒還元したりして
溶存酸素濃度を上記濃度まで低減している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、窒素曝気や、
触媒還元のためには、それなりの装置が必要であり、で
きればこのような装置を利用せずに、十分溶存酸素濃度
を低減することが望まれる。従って、真空脱気装置にお
ける溶存酸素の除去能力をさらに上昇したいという要求
がある。
触媒還元のためには、それなりの装置が必要であり、で
きればこのような装置を利用せずに、十分溶存酸素濃度
を低減することが望まれる。従って、真空脱気装置にお
ける溶存酸素の除去能力をさらに上昇したいという要求
がある。
【0006】本発明は、上記課題に鑑みなされたもので
あり、溶存酸素除去能力の高い真空脱気装置を提供する
ことを目的とする。
あり、溶存酸素除去能力の高い真空脱気装置を提供する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、気密に形成さ
れた脱気塔内に気液接触材の充填層を形成し、脱気塔の
上方から被処理水を供給し、充填層の下方から処理水を
排出すると共に、真空手段により脱気塔内の気体を排出
するようになした真空脱気装置において、前記気液接触
材を下方から支持する支持部材の開口率を35%以上と
したことを特徴とする。
れた脱気塔内に気液接触材の充填層を形成し、脱気塔の
上方から被処理水を供給し、充填層の下方から処理水を
排出すると共に、真空手段により脱気塔内の気体を排出
するようになした真空脱気装置において、前記気液接触
材を下方から支持する支持部材の開口率を35%以上と
したことを特徴とする。
【0008】従来より、充填層の気液接触材を支持する
支持部材としては、板に多数の穴のあいたパンチンメタ
ル等の目板が用いられてきた。この目板は、気液接触材
および被処理水の荷重に耐える必要性と被処理水が抵抗
なく通過できることを考え、開口率を20〜30%程度
に設定していた。また、目板の強度および被処理水の有
効透過面積を大きくするために、波板に形成したパンチ
ングメタルを利用することも提案されている。
支持部材としては、板に多数の穴のあいたパンチンメタ
ル等の目板が用いられてきた。この目板は、気液接触材
および被処理水の荷重に耐える必要性と被処理水が抵抗
なく通過できることを考え、開口率を20〜30%程度
に設定していた。また、目板の強度および被処理水の有
効透過面積を大きくするために、波板に形成したパンチ
ングメタルを利用することも提案されている。
【0009】しかし、このような従来の支持部材は、基
本的に処理水が充填層中に溜まらなければよいという考
え、すなわち開口全部を処理水の流れが覆わなければよ
いという考え方で構成されていた。
本的に処理水が充填層中に溜まらなければよいという考
え、すなわち開口全部を処理水の流れが覆わなければよ
いという考え方で構成されていた。
【0010】ところが、このような目板であると、開口
の周囲全部を水流が覆い、この水膜によって、目板の上
方の空間と、目板の下方の空間が別々の空間に仕切られ
る。そして、各種実験により、この目板の下方空間が別
空間として形成されると、この目板の下方空間の真空度
が十分でなくなり、酸素の再溶解が起こり、処理水溶存
酸素濃度が上昇してしまうことが分かった。
の周囲全部を水流が覆い、この水膜によって、目板の上
方の空間と、目板の下方の空間が別々の空間に仕切られ
る。そして、各種実験により、この目板の下方空間が別
空間として形成されると、この目板の下方空間の真空度
が十分でなくなり、酸素の再溶解が起こり、処理水溶存
酸素濃度が上昇してしまうことが分かった。
【0011】そこで、本発明では、気液接触材を支持す
る支持部材の開口率が35%以上とかなり大きいものと
した。従って、ここを通過する処理水が水膜を形成する
可能性がほとんどなくなり、支持部材の下方に空間が存
在しても、この下方の空間が支持部材の上方の空間と水
膜で仕切られ、別の空間になることを防止できる。そこ
で、支持部材の下方の空間での酸素の再溶解を防止し
て、効果的な脱気処理が行える。
る支持部材の開口率が35%以上とかなり大きいものと
した。従って、ここを通過する処理水が水膜を形成する
可能性がほとんどなくなり、支持部材の下方に空間が存
在しても、この下方の空間が支持部材の上方の空間と水
膜で仕切られ、別の空間になることを防止できる。そこ
で、支持部材の下方の空間での酸素の再溶解を防止し
て、効果的な脱気処理が行える。
【0012】例えば、脱気塔内の処理水の水位を支持部
材とほぼ同一に制御する場合においても、その制御精度
を余り高くするのは難しい。本発明のように、下方に空
間を生じてもよいようにしておくことで、制御の制御を
粗くしておいても、処理水溶存酸素濃度を安定して、低
濃度に維持することができる。
材とほぼ同一に制御する場合においても、その制御精度
を余り高くするのは難しい。本発明のように、下方に空
間を生じてもよいようにしておくことで、制御の制御を
粗くしておいても、処理水溶存酸素濃度を安定して、低
濃度に維持することができる。
【0013】また、本発明は、気密に形成された脱気塔
内に気液接触材の充填層を複数段に形成し、脱気塔の上
方から被処理水を供給し、最下段の充填層の下方から処
理水を排出すると共に、真空手段により脱気塔内の気体
を排出するようになした真空脱気装置において、最下段
の気液接触材を下方から支持する支持部材の開口率を3
5%以上としたことを特徴とする。
内に気液接触材の充填層を複数段に形成し、脱気塔の上
方から被処理水を供給し、最下段の充填層の下方から処
理水を排出すると共に、真空手段により脱気塔内の気体
を排出するようになした真空脱気装置において、最下段
の気液接触材を下方から支持する支持部材の開口率を3
5%以上としたことを特徴とする。
【0014】このように、真空脱気塔内における充填層
を複数段に形成することによって、最初の方の段で、溶
存酸素濃度をある程度低下させておき、最終段におい
て、目標となる溶存酸素濃度まで溶存酸素濃度を低下す
ればよい。従って、1段で一度の低濃度まで溶存酸素濃
度を低下させるのに比べ、確実にかつ効率的な溶存酸素
の除去が行える。そして、最下段の支持部材の開口率を
大きなものにすることによって、ここにおける溶存酸素
濃度の低下を十分なものにできる。
を複数段に形成することによって、最初の方の段で、溶
存酸素濃度をある程度低下させておき、最終段におい
て、目標となる溶存酸素濃度まで溶存酸素濃度を低下す
ればよい。従って、1段で一度の低濃度まで溶存酸素濃
度を低下させるのに比べ、確実にかつ効率的な溶存酸素
の除去が行える。そして、最下段の支持部材の開口率を
大きなものにすることによって、ここにおける溶存酸素
濃度の低下を十分なものにできる。
【0015】また、本発明は、前記支持部材は、グレー
ティング構造であることを特徴とする。このようにグレ
ーティング構造とすることによって、大きな開口率で、
かつ十分な強度を得ることができる。
ティング構造であることを特徴とする。このようにグレ
ーティング構造とすることによって、大きな開口率で、
かつ十分な強度を得ることができる。
【0016】また、本発明は、前記気液接触材の充填層
は、紐状体のリングを複数接続して構成された気液接触
材を多数充填してなり、前記支持部材の直上に比較的大
きな気液接触材の層を形成し、その上方に比較的小さな
気液接触材の層を形成したことを特徴とする。
は、紐状体のリングを複数接続して構成された気液接触
材を多数充填してなり、前記支持部材の直上に比較的大
きな気液接触材の層を形成し、その上方に比較的小さな
気液接触材の層を形成したことを特徴とする。
【0017】このように、大きな気液接触材の層を形成
することによって、支持部材の開口を大きなものとして
気液接触材の支持が行える。また、上方を小さな気液接
触材とすることで、気液接触材における表面積を十分大
きなものに維持できる。従って、支持部材の開口率を大
きなものにしながら、脱気効率を十分なものに維持し効
率的な処理が行える。
することによって、支持部材の開口を大きなものとして
気液接触材の支持が行える。また、上方を小さな気液接
触材とすることで、気液接触材における表面積を十分大
きなものに維持できる。従って、支持部材の開口率を大
きなものにしながら、脱気効率を十分なものに維持し効
率的な処理が行える。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明に好適な実施の形態
(以下、実施形態という)について、図面に基づいて説
明する。
(以下、実施形態という)について、図面に基づいて説
明する。
【0019】「第1実施形態」図1は、第1実施形態に
係る真空脱気装置の全体構成を示す図であり、円筒状の
脱気塔10を有している。この脱気塔10は、気密に形
成され、その内部の中間部分に充填層12が形成されて
いる。この充填層12は、テラレット(商品名(日鉄化
工機株式会社))やラヒシリング等の空隙率の大きな気
液接触材を多数充填したものである。例えば、テラレッ
ト(商品名)は、図2に示すように、外側リング121
の中に、9個の内部リング122が放射状に収められた
形をしており、9個の内部リング122の中心側が相互
に接合され、外側が外側リング121に接合されてい
る。従って、外側リング121の直径が内部リング12
2の直径の2倍強となっている。例えば、外側リング1
21の外径が50mm程度、内部リング122の外径
(厚みに対応する)は20mm程度のものが採用され
る。この気液接触材の充填個数は25,000/m3、
表面積は180m2/m3、空隙率は90%程度である。
また、気液接触材は、通常ポリプロピレンなど各種のプ
ラスチック材料で構成されている。
係る真空脱気装置の全体構成を示す図であり、円筒状の
脱気塔10を有している。この脱気塔10は、気密に形
成され、その内部の中間部分に充填層12が形成されて
いる。この充填層12は、テラレット(商品名(日鉄化
工機株式会社))やラヒシリング等の空隙率の大きな気
液接触材を多数充填したものである。例えば、テラレッ
ト(商品名)は、図2に示すように、外側リング121
の中に、9個の内部リング122が放射状に収められた
形をしており、9個の内部リング122の中心側が相互
に接合され、外側が外側リング121に接合されてい
る。従って、外側リング121の直径が内部リング12
2の直径の2倍強となっている。例えば、外側リング1
21の外径が50mm程度、内部リング122の外径
(厚みに対応する)は20mm程度のものが採用され
る。この気液接触材の充填個数は25,000/m3、
表面積は180m2/m3、空隙率は90%程度である。
また、気液接触材は、通常ポリプロピレンなど各種のプ
ラスチック材料で構成されている。
【0020】そして、充填層12を構成する気液接触材
は、多数の穴が形成された支持部材であるグレーティン
グ12aで支持されている。このグレーティング12a
の構成例を図3に示す。このグレーティング12aは、
プレート123を複数枚並行に並べ、これに複数のロッ
ド124を串刺しにして構成されている。この例では、
プレート123は、厚さ3mm、幅30mm程度のステ
ンレス製薄板で、30mm間隔で並列配置されている。
一方、ロッド124は、直径9mmで、100mm間隔
で並列配置されている。従って、ほぼ30mm×100
mmの開口が多数形成されており、この上に単位気液接
触材が堆積される。
は、多数の穴が形成された支持部材であるグレーティン
グ12aで支持されている。このグレーティング12a
の構成例を図3に示す。このグレーティング12aは、
プレート123を複数枚並行に並べ、これに複数のロッ
ド124を串刺しにして構成されている。この例では、
プレート123は、厚さ3mm、幅30mm程度のステ
ンレス製薄板で、30mm間隔で並列配置されている。
一方、ロッド124は、直径9mmで、100mm間隔
で並列配置されている。従って、ほぼ30mm×100
mmの開口が多数形成されており、この上に単位気液接
触材が堆積される。
【0021】通常の板に穴を開けたパンチングメタルで
は、開口率を上げるとその強度が十分でなくなるが、本
実施形態のグレーティング12aでは、開口率を非常に
大きくしても十分な強度を維持することができる。ま
た、この例では、グレーティング12aの周囲にドーナ
ツ状の支持部を設け、ここを脱気塔10にボルト締めす
ることによって、グレーティング12aを脱気塔10に
固定している。
は、開口率を上げるとその強度が十分でなくなるが、本
実施形態のグレーティング12aでは、開口率を非常に
大きくしても十分な強度を維持することができる。ま
た、この例では、グレーティング12aの周囲にドーナ
ツ状の支持部を設け、ここを脱気塔10にボルト締めす
ることによって、グレーティング12aを脱気塔10に
固定している。
【0022】ここで、グレーティング12aとして、開
口率の非常に大きいものを採用すると、上述の気液接触
材が開口から落下する可能性がある。そこで、グレーテ
ィング12aの直上に、上述した気液接触材より大きい
気液接触材を少しだけ積んで支持層120aを形成し、
その上に上述の小さい気液接触材を堆積して気液接触層
120bを形成している。これによって、気液接触材の
落下を防止して、かつ良好な気液接触を図ることができ
る。大きい気液接触材としては、外径が95mm程度、
厚みが40mm程度のものなどが採用できる。また、充
填層12の高さが3500mm程度であれば、下から5
00mm程度を大きな気液接触材で構成される支持層1
20aとすることが好適である。なお、このような支持
層120aは、必ずしも設ける必要はない。
口率の非常に大きいものを採用すると、上述の気液接触
材が開口から落下する可能性がある。そこで、グレーテ
ィング12aの直上に、上述した気液接触材より大きい
気液接触材を少しだけ積んで支持層120aを形成し、
その上に上述の小さい気液接触材を堆積して気液接触層
120bを形成している。これによって、気液接触材の
落下を防止して、かつ良好な気液接触を図ることができ
る。大きい気液接触材としては、外径が95mm程度、
厚みが40mm程度のものなどが採用できる。また、充
填層12の高さが3500mm程度であれば、下から5
00mm程度を大きな気液接触材で構成される支持層1
20aとすることが好適である。なお、このような支持
層120aは、必ずしも設ける必要はない。
【0023】また、脱気塔10内の充填層12の上方に
は脱気室14、充填層12の下方には処理水貯留室16
が形成されている。
は脱気室14、充填層12の下方には処理水貯留室16
が形成されている。
【0024】脱気室14の上部には、被処理水供給管1
8から供給される被処理水を充填層12に向けて散布す
る散布装置20が設けられている。また、処理水貯留室
16の底部には、処理水を排出する処理水排出管22を
介し、排出ポンプ24が接続されている。
8から供給される被処理水を充填層12に向けて散布す
る散布装置20が設けられている。また、処理水貯留室
16の底部には、処理水を排出する処理水排出管22を
介し、排出ポンプ24が接続されている。
【0025】そして、充填層12の上方である脱気室1
4には、真空ポンプ26が排気管28を介し接続されて
おり、さらに処理水貯留室16と脱気室14には、それ
ぞれ圧力検出用ノズル30aおよび30bが付設されて
おり、両ノズル30a,30bを介して処理水貯留室1
6における処理水水位を検出するための差圧計30が設
けられている。そして、この差圧計30の出力が制御装
置32に伝達され、被処理水供給管18に付設したコン
トロール弁33を介して被処理水の流量がコントロール
される。
4には、真空ポンプ26が排気管28を介し接続されて
おり、さらに処理水貯留室16と脱気室14には、それ
ぞれ圧力検出用ノズル30aおよび30bが付設されて
おり、両ノズル30a,30bを介して処理水貯留室1
6における処理水水位を検出するための差圧計30が設
けられている。そして、この差圧計30の出力が制御装
置32に伝達され、被処理水供給管18に付設したコン
トロール弁33を介して被処理水の流量がコントロール
される。
【0026】このような装置において、被処理水である
純水は、被処理水供給管18を介し、散布装置20に供
給される。散布装置20は、その下面に多数の穴が形成
されており、脱気室14内において、被処理水を充填層
12に向けて散布する。散布された被処理水は、重力に
よって落下し、充填層12の充填材の表面を伝って、処
理水貯留室16に溜まる。そして、排出ポンプ24によ
って、処理水排出管22を介し、後段の装置へ導入され
る。
純水は、被処理水供給管18を介し、散布装置20に供
給される。散布装置20は、その下面に多数の穴が形成
されており、脱気室14内において、被処理水を充填層
12に向けて散布する。散布された被処理水は、重力に
よって落下し、充填層12の充填材の表面を伝って、処
理水貯留室16に溜まる。そして、排出ポンプ24によ
って、処理水排出管22を介し、後段の装置へ導入され
る。
【0027】一方、真空ポンプ26の運転によって、脱
気室14内の気体は、排気管28を介し、外部に排出さ
れる。そこで、脱気室14内は、高真空状態になってい
る。例えば、気温25゜Cで24Torr(ほぼ水蒸気
圧のみの圧力)程度まで減圧される。
気室14内の気体は、排気管28を介し、外部に排出さ
れる。そこで、脱気室14内は、高真空状態になってい
る。例えば、気温25゜Cで24Torr(ほぼ水蒸気
圧のみの圧力)程度まで減圧される。
【0028】従って、散布装置20から散布された被処
理水から、溶存酸素が放出される。そして、充填層12
を落下する際には、気液接触材の表面を伝うことによ
り、被処理水の表面積が増大されており、被処理水から
の溶存酸素の放出がさらに促進される。
理水から、溶存酸素が放出される。そして、充填層12
を落下する際には、気液接触材の表面を伝うことによ
り、被処理水の表面積が増大されており、被処理水から
の溶存酸素の放出がさらに促進される。
【0029】ここで、本実施形態においては、処理水貯
留室16内の水位が充填層12のグレーティング12a
の位置とほぼ同一の位置に設定されている。すなわち、
制御装置32が差圧計30の出力によってコントロール
弁33を制御し、処理水貯留室16における水位をグレ
ーティング12aの位置とほぼ同一の位置に制御する。
差圧計30は、脱気室14内と処理水貯留室16の2点
で連通しており、この2点の圧力差より、水位を検出す
る。そこで、差圧計30の下方側連通端は、処理水貯留
室16の水面以下すなわち、グレーティング12a以下
に設定され、上方側連通端は水面上すなわちグレーティ
ング12a以上に設定される。図示の例では、上方側連
通端は、脱気室14内に位置しているが、水面より上方
であれば、たとえば充填層12内でもよい。なお、処理
水の水位検知および制御の方法としては、フロート式、
静電容量式、光電式等の他の方法を使用しても良いこと
は言うまでもない。
留室16内の水位が充填層12のグレーティング12a
の位置とほぼ同一の位置に設定されている。すなわち、
制御装置32が差圧計30の出力によってコントロール
弁33を制御し、処理水貯留室16における水位をグレ
ーティング12aの位置とほぼ同一の位置に制御する。
差圧計30は、脱気室14内と処理水貯留室16の2点
で連通しており、この2点の圧力差より、水位を検出す
る。そこで、差圧計30の下方側連通端は、処理水貯留
室16の水面以下すなわち、グレーティング12a以下
に設定され、上方側連通端は水面上すなわちグレーティ
ング12a以上に設定される。図示の例では、上方側連
通端は、脱気室14内に位置しているが、水面より上方
であれば、たとえば充填層12内でもよい。なお、処理
水の水位検知および制御の方法としては、フロート式、
静電容量式、光電式等の他の方法を使用しても良いこと
は言うまでもない。
【0030】このように、本装置によれば、充填層12
の下方に実質的に気相空間がない。そして、この構成に
よって、溶存酸素の除去効率が上昇する。このことは実
験的に確かめられているが、その原理は次のようなもの
と考えられている。まず、排気を充填層12の上部空間
である脱気室14から行うことによって、被処理水から
放出された酸素を効率的に排出できる。すなわち、脱気
室14の上部の方が気相中に放出される溶存酸素の量が
多いので、より好ましい脱気処理が行われる。
の下方に実質的に気相空間がない。そして、この構成に
よって、溶存酸素の除去効率が上昇する。このことは実
験的に確かめられているが、その原理は次のようなもの
と考えられている。まず、排気を充填層12の上部空間
である脱気室14から行うことによって、被処理水から
放出された酸素を効率的に排出できる。すなわち、脱気
室14の上部の方が気相中に放出される溶存酸素の量が
多いので、より好ましい脱気処理が行われる。
【0031】そして、充填層12の下部に実質的な気相
空間がないため、空間としては、グレーティング12a
の上方の充填層12内とこれに連通する脱気室14だけ
である。従って、充填層12中で分離された気体が、そ
のまま脱気室14を介し、外部に排出される。すなわ
ち、実質的に1つの空間内で、脱気が行われるため、効
果的な脱気が行われる。
空間がないため、空間としては、グレーティング12a
の上方の充填層12内とこれに連通する脱気室14だけ
である。従って、充填層12中で分離された気体が、そ
のまま脱気室14を介し、外部に排出される。すなわ
ち、実質的に1つの空間内で、脱気が行われるため、効
果的な脱気が行われる。
【0032】ここで、従来の脱気装置では、パンチング
メタル等の目板を設け、これで気液接触材を支持し、か
つこの目板の下方に空間を設けていた。充填層12は、
気液接触材を目板で支持する構造であり、この目板の部
分において水膜が生じ充填層12内の空間と目板の下方
の空間(充填層12の下方空間)が分離される。そこ
で、充填層12の下方空間の圧力が比較的高くなりやす
く、ここに酸素が残留する可能性が生じるためではない
かと推察される。なお、理論的には、酸素は、被処理水
からのみ発生するため、充填層12の下方に空間を設け
ても一旦低下した溶存酸素が再び上昇することはないと
考えられる。しかし、目板及びここから落下する水膜で
仕切られた2つの部屋が存在するということは、真空ポ
ンプ26に対する負荷が大きくなることであり、例えば
圧力値が変動しやすくなるなどして、トータルとして脱
気効果が十分でなくなることは十分推察される。また、
脱気塔10は気密に構成されているといえども外気のリ
ークによる侵入も全く0とはいえないが、充填層12の
下方が液体で満たされていることで、前記外気のリーク
を防止する効果も発揮されている。なお、このような処
理水水位の制御については、特願平8−155315号
等に提案した。
メタル等の目板を設け、これで気液接触材を支持し、か
つこの目板の下方に空間を設けていた。充填層12は、
気液接触材を目板で支持する構造であり、この目板の部
分において水膜が生じ充填層12内の空間と目板の下方
の空間(充填層12の下方空間)が分離される。そこ
で、充填層12の下方空間の圧力が比較的高くなりやす
く、ここに酸素が残留する可能性が生じるためではない
かと推察される。なお、理論的には、酸素は、被処理水
からのみ発生するため、充填層12の下方に空間を設け
ても一旦低下した溶存酸素が再び上昇することはないと
考えられる。しかし、目板及びここから落下する水膜で
仕切られた2つの部屋が存在するということは、真空ポ
ンプ26に対する負荷が大きくなることであり、例えば
圧力値が変動しやすくなるなどして、トータルとして脱
気効果が十分でなくなることは十分推察される。また、
脱気塔10は気密に構成されているといえども外気のリ
ークによる侵入も全く0とはいえないが、充填層12の
下方が液体で満たされていることで、前記外気のリーク
を防止する効果も発揮されている。なお、このような処
理水水位の制御については、特願平8−155315号
等に提案した。
【0033】このように、本実施態様では、充填層12
の下方の気相の空間を実質的になくすことで、このよう
な欠点を除去したため、効率的な脱気を行うことができ
る。ところが、このような水位制御は必ずしも非常に精
密に行えるわけではない。すなわち、通常の制御では、
実際の水位は、目標となる水位に対しある程度幅を持っ
て変動せざるを得ない。従って、グレーティング12a
の下方に空間が生じることを完全には防止できない。
の下方の気相の空間を実質的になくすことで、このよう
な欠点を除去したため、効率的な脱気を行うことができ
る。ところが、このような水位制御は必ずしも非常に精
密に行えるわけではない。すなわち、通常の制御では、
実際の水位は、目標となる水位に対しある程度幅を持っ
て変動せざるを得ない。従って、グレーティング12a
の下方に空間が生じることを完全には防止できない。
【0034】しかし、本実施形態では、上述のように、
充填層12の支持部材として、開口率の非常に高いグレ
ーティング12aを採用している。従って、グレーティ
ング12aの開口部に水膜が形成されることがなく、グ
レーティング12aの下方空間が水膜によって、充填層
12内の空間から隔離されることがない。従って、ある
程度の空間がグレーティング12aの下方に存在する場
合においても、その悪影響を最小限に抑制することがで
きる。そこで、水位制御の精度をかなり粗くすることが
できる。
充填層12の支持部材として、開口率の非常に高いグレ
ーティング12aを採用している。従って、グレーティ
ング12aの開口部に水膜が形成されることがなく、グ
レーティング12aの下方空間が水膜によって、充填層
12内の空間から隔離されることがない。従って、ある
程度の空間がグレーティング12aの下方に存在する場
合においても、その悪影響を最小限に抑制することがで
きる。そこで、水位制御の精度をかなり粗くすることが
できる。
【0035】また、本実施形態においては、脱気室14
内に排気管28を連通しているが、充填層12内に排気
管28を連通してもさしつかえない。ただし、この場合
は充填層12の気液接触の有効高さが低くなり、その分
だけ効果が低下する。よって気液接触の有効高さを低く
しない意味から充填層12内の上方に排気管28を連通
することが好ましい。また、目標水位を高い位置にする
と、それだけ充填層12の気液接触させるための有効高
さが減少する。このため、充填層12の下端と同一の位
置に目標水位を設定するとよい。
内に排気管28を連通しているが、充填層12内に排気
管28を連通してもさしつかえない。ただし、この場合
は充填層12の気液接触の有効高さが低くなり、その分
だけ効果が低下する。よって気液接触の有効高さを低く
しない意味から充填層12内の上方に排気管28を連通
することが好ましい。また、目標水位を高い位置にする
と、それだけ充填層12の気液接触させるための有効高
さが減少する。このため、充填層12の下端と同一の位
置に目標水位を設定するとよい。
【0036】さらに、本実施形態では、グレーティング
12aの下方空間の悪影響がほとんどないため、目標水
位をグレーティング12aの下方に設定することもでき
る。そして、この場合には、差圧計30の上部側連通端
をグレーティング12aの下方に設定することができ
る。
12aの下方空間の悪影響がほとんどないため、目標水
位をグレーティング12aの下方に設定することもでき
る。そして、この場合には、差圧計30の上部側連通端
をグレーティング12aの下方に設定することができ
る。
【0037】さらに、本実施態様では差圧計30と制御
装置32とで水位を制御する際に、被処理水供給管18
に付設したコントロール弁33により被処理水の供給量
を調節したが、処理水排出管22にコントロール弁(図
示せず)を付設し、このコントロール弁により処理水の
排出量を調整してもよい。
装置32とで水位を制御する際に、被処理水供給管18
に付設したコントロール弁33により被処理水の供給量
を調節したが、処理水排出管22にコントロール弁(図
示せず)を付設し、このコントロール弁により処理水の
排出量を調整してもよい。
【0038】また、真空手段としては真空ポンプ26に
かえて、蒸気エゼクタとバロメトリックコンデンサとを
組合せたものを用いることができる。
かえて、蒸気エゼクタとバロメトリックコンデンサとを
組合せたものを用いることができる。
【0039】「第2実施形態」図4に、第2実施形態の
構成を示す。この第2実施形態では、1つの脱気塔10
内に、2つの充填層を設け、2段構成になっている。
構成を示す。この第2実施形態では、1つの脱気塔10
内に、2つの充填層を設け、2段構成になっている。
【0040】すなわち、脱気塔10の内部には、第1充
填層34と、第2充填層36が設けられている。そし
て、第1充填層34の上部空間が第1脱気室38、第2
充填層36の上部が第2脱気室40とされている。散布
装置20は、この第1脱気室38内に配置され、被処理
水を第1充填層34に散布する。
填層34と、第2充填層36が設けられている。そし
て、第1充填層34の上部空間が第1脱気室38、第2
充填層36の上部が第2脱気室40とされている。散布
装置20は、この第1脱気室38内に配置され、被処理
水を第1充填層34に散布する。
【0041】そして、第2充填層36は、第1実施形態
と同様に、開口率の高いグレーティング36aで支持さ
れているが、第1充填層34は穴のない底板34aによ
って支持されている。また、この底板34aの中央部に
は、水封装置42が設けられ、第1充填層34の底部を
水封している。さらに、この水封装置42には、第2脱
気室40に配置された散布装置44が接続されており、
水封装置42から流れ出す1次処理水を被処理水とし
て、第2脱気室40を介し第2充填層36に供給してい
る。
と同様に、開口率の高いグレーティング36aで支持さ
れているが、第1充填層34は穴のない底板34aによ
って支持されている。また、この底板34aの中央部に
は、水封装置42が設けられ、第1充填層34の底部を
水封している。さらに、この水封装置42には、第2脱
気室40に配置された散布装置44が接続されており、
水封装置42から流れ出す1次処理水を被処理水とし
て、第2脱気室40を介し第2充填層36に供給してい
る。
【0042】また、第1脱気室38には、第1真空ポン
プ(VP1)46が、排気管48を介し接続されてお
り、第2脱気室40には、第2真空ポンプ(VP2)5
0が排気管52を介し接続されている。そして、この第
1及び第2真空ポンプ46、50によって、第1及び第
2脱気室38、40がそれぞれ減圧される。
プ(VP1)46が、排気管48を介し接続されてお
り、第2脱気室40には、第2真空ポンプ(VP2)5
0が排気管52を介し接続されている。そして、この第
1及び第2真空ポンプ46、50によって、第1及び第
2脱気室38、40がそれぞれ減圧される。
【0043】図5は、水封装置42の概略構成を示す図
であり、底板34aを貫通するパイプ42aと、第1充
填層34内側において、このパイプ42aの上端を覆う
カップ42bからなっている。そして、カップ42b
は、その下端に開口を有しているため、第1充填層34
内を流下してきた1次処理水は、カップ42bの下端か
らカップ42b内に入り、パイプ42aにオーバーフロ
ーして流入する。従って、第1充填層34の下部には、
水層Wが形成され、これによって第1脱気室38と第2
脱気室40が完全に水封されることになる。
であり、底板34aを貫通するパイプ42aと、第1充
填層34内側において、このパイプ42aの上端を覆う
カップ42bからなっている。そして、カップ42b
は、その下端に開口を有しているため、第1充填層34
内を流下してきた1次処理水は、カップ42bの下端か
らカップ42b内に入り、パイプ42aにオーバーフロ
ーして流入する。従って、第1充填層34の下部には、
水層Wが形成され、これによって第1脱気室38と第2
脱気室40が完全に水封されることになる。
【0044】なお、第2充填層36の下方に処理水貯留
室16が設けられ、ここに排出管22を介し排水ポンプ
24が接続されること、差圧計30の出力によって、制
御装置32がコントロール弁33を制御して、処理水貯
留室16の処理水水位をグレーティング36aとほぼ同
一に維持することは上述の第1実施形態と同様である。
室16が設けられ、ここに排出管22を介し排水ポンプ
24が接続されること、差圧計30の出力によって、制
御装置32がコントロール弁33を制御して、処理水貯
留室16の処理水水位をグレーティング36aとほぼ同
一に維持することは上述の第1実施形態と同様である。
【0045】このような装置によれば、溶存酸素を多量
に含む被処理水は、まず第1脱気室38及び第1充填層
34内において、溶存酸素を粗取りされる。そして、溶
存酸素が粗取りされた1次処理水が、散布装置44を介
し、第2脱気室40に供給される。この第2脱気室40
から後は、上述の第1実施形態と同様の動作である。
に含む被処理水は、まず第1脱気室38及び第1充填層
34内において、溶存酸素を粗取りされる。そして、溶
存酸素が粗取りされた1次処理水が、散布装置44を介
し、第2脱気室40に供給される。この第2脱気室40
から後は、上述の第1実施形態と同様の動作である。
【0046】このように第1脱気室38、第1充填層3
4を設け、ここで溶存酸素を粗取りするため、第2脱気
室40、第2充填層36において効果的な処理が行わ
れ、処理水中の溶存酸素濃度を十分低濃度にすることが
できる。
4を設け、ここで溶存酸素を粗取りするため、第2脱気
室40、第2充填層36において効果的な処理が行わ
れ、処理水中の溶存酸素濃度を十分低濃度にすることが
できる。
【0047】特に、本実施形態では、水封装置42を設
け、第2脱気室40と第1脱気室38を完全に切り離し
ている。そこで、処理が完全な多段処理になり、短絡が
発生したりすることがない。さらに、後述するごとく第
1脱気室38と、第2脱気室40の真空度などを別々に
設定することができ、効果的な脱気処理が行える。そし
て、第1充填層34もその底部に水層があるため、上述
の場合と同様の処理効果が発揮できる。
け、第2脱気室40と第1脱気室38を完全に切り離し
ている。そこで、処理が完全な多段処理になり、短絡が
発生したりすることがない。さらに、後述するごとく第
1脱気室38と、第2脱気室40の真空度などを別々に
設定することができ、効果的な脱気処理が行える。そし
て、第1充填層34もその底部に水層があるため、上述
の場合と同様の処理効果が発揮できる。
【0048】上述した第2実施形態では脱気塔10の内
部に充填層を2段に設けているが、充填層の段数は2段
に限定されるものではなく、3段以上とすることができ
る。なお、このように充填層を複数段とした場合は、最
下段の充填層の下部にのみグレーティング36aを用
い、その上部の充填層の下部は水封装置42で水封する
とよい。
部に充填層を2段に設けているが、充填層の段数は2段
に限定されるものではなく、3段以上とすることができ
る。なお、このように充填層を複数段とした場合は、最
下段の充填層の下部にのみグレーティング36aを用
い、その上部の充填層の下部は水封装置42で水封する
とよい。
【0049】また、充填層を2段に設けた第2実施形態
では、第1脱気室38と第2脱気室40にそれぞれ真空
ポンプ46,50を連通しているが、最上部の脱気室3
8内または充填層34の上方部の一ヶ所に排気管48を
介して真空ポンプ46を付設してもよい。
では、第1脱気室38と第2脱気室40にそれぞれ真空
ポンプ46,50を連通しているが、最上部の脱気室3
8内または充填層34の上方部の一ヶ所に排気管48を
介して真空ポンプ46を付設してもよい。
【0050】また、真空ポンプを複数台用いる場合は、
下方に向かって真空度が高くなるように順次真空ポンプ
の真空度に変化を持たせることが好ましい。
下方に向かって真空度が高くなるように順次真空ポンプ
の真空度に変化を持たせることが好ましい。
【0051】また水位の位置はグレーティング36aの
下端とほぼ同一位置にすることに限定されず、グレーテ
ィング36aのやや上方あるいはやや下方でよいこと
や、真空ポンプにかえてエゼクタを用いてもよいことな
どは前述した通りである。
下端とほぼ同一位置にすることに限定されず、グレーテ
ィング36aのやや上方あるいはやや下方でよいこと
や、真空ポンプにかえてエゼクタを用いてもよいことな
どは前述した通りである。
【0052】「実験結果」ここで、第2実施形態の装置
を実際に作成し、運転した結果について、以下に示す。
を実際に作成し、運転した結果について、以下に示す。
【0053】まず、脱気塔10は、直径400mmφ、
高さ12000mm、第1脱気室高さ700mm、第1
充填層高さ3500mm、第2脱気室高さ900mm、
第2充填層3500mmとした。第1及び第2充填層3
4、36の気液接触材としては、複数のリングを組み合
わせたもので、1つの気液接触材は、外径が51mm、
高さ19mmであって、1m3当たりの充填個数250
00個、1m3当たりの表面積180m2、空間率は89
%のものが採用された(テラレット(商品名))。
高さ12000mm、第1脱気室高さ700mm、第1
充填層高さ3500mm、第2脱気室高さ900mm、
第2充填層3500mmとした。第1及び第2充填層3
4、36の気液接触材としては、複数のリングを組み合
わせたもので、1つの気液接触材は、外径が51mm、
高さ19mmであって、1m3当たりの充填個数250
00個、1m3当たりの表面積180m2、空間率は89
%のものが採用された(テラレット(商品名))。
【0054】そして、被処理水を線速度(LV)40〜
80m/H(時間)で供給した。供給した被処理水の温
度は23±1゜C、溶存酸素は8〜9mg/lであっ
た。なお、第1、第2脱気室38、40の圧力は、それ
ぞれ33Torr、22Torrであった。
80m/H(時間)で供給した。供給した被処理水の温
度は23±1゜C、溶存酸素は8〜9mg/lであっ
た。なお、第1、第2脱気室38、40の圧力は、それ
ぞれ33Torr、22Torrであった。
【0055】「実験結果1」このような条件において、
処理水水位をグレーティング36aの下端より1m下方
に設定し、被処理水のLVを40m/Hと80m/Hの
2種類とし、第2充填層の下端に設置されるグレーティ
ング36aの開口率を20〜70%の範囲で変化させ
て、得られる処理水のDOとの関係を調べた。その結果
を図6に示す。
処理水水位をグレーティング36aの下端より1m下方
に設定し、被処理水のLVを40m/Hと80m/Hの
2種類とし、第2充填層の下端に設置されるグレーティ
ング36aの開口率を20〜70%の範囲で変化させ
て、得られる処理水のDOとの関係を調べた。その結果
を図6に示す。
【0056】これより、LV40m/HおよびLV80
m/Hの両方の場合において、グレーティング36aの
開口率が35%以上となることで、処理水DOが急激に
減少することが分かる。従って、グレーティング36a
の開口率を35%以上にすることによって、グレーティ
ング36aの下方に空間を形成してもその悪影響が抑制
されることが分かる。なお、LVが高い方が、DOの低
下し始める開口率が若干高くなる。これは、水量が増し
たことで開口部の縁から落下する水量が増すため、水膜
が形成されやすくなるためであると考えられる。しか
し、変化の程度はそれ程大きくなく、開口率を35%以
上とすることが好適であることが理解される。
m/Hの両方の場合において、グレーティング36aの
開口率が35%以上となることで、処理水DOが急激に
減少することが分かる。従って、グレーティング36a
の開口率を35%以上にすることによって、グレーティ
ング36aの下方に空間を形成してもその悪影響が抑制
されることが分かる。なお、LVが高い方が、DOの低
下し始める開口率が若干高くなる。これは、水量が増し
たことで開口部の縁から落下する水量が増すため、水膜
が形成されやすくなるためであると考えられる。しか
し、変化の程度はそれ程大きくなく、開口率を35%以
上とすることが好適であることが理解される。
【0057】「実験結果2」次に、目標とする処理水の
水位をグレーティング36aの下端とほぼ同一位置に設
定し、被処理水のLVを40m/Hと80m/Hの2種
類とし、グレーティング36aの開口率を 20〜70
%の範囲で変化させて、得られる処理水のDOを調べ
た。グレーティング36aの開口率20〜30%の条件
では、得られる処理水のDOがLV40m/Hで4.0
〜6.0ppb、LV80m/Hで5.0〜8.0pp
bの範囲で、頻繁に変動した。一方、開口率35〜70
%の条件では、DOはLV40m/Hで4.0〜4.5
ppb、LV80m/Hで5.0〜5.5ppbの範囲
で安定していた。
水位をグレーティング36aの下端とほぼ同一位置に設
定し、被処理水のLVを40m/Hと80m/Hの2種
類とし、グレーティング36aの開口率を 20〜70
%の範囲で変化させて、得られる処理水のDOを調べ
た。グレーティング36aの開口率20〜30%の条件
では、得られる処理水のDOがLV40m/Hで4.0
〜6.0ppb、LV80m/Hで5.0〜8.0pp
bの範囲で、頻繁に変動した。一方、開口率35〜70
%の条件では、DOはLV40m/Hで4.0〜4.5
ppb、LV80m/Hで5.0〜5.5ppbの範囲
で安定していた。
【0058】このように、グレーティング36aの開口
率が低いと、処理水DOが変動した。これは、グレーテ
ィング36aにおいて水膜が形成された状態で、水位が
上下するためと考えられる。また、グレーティング36
aの開口率35〜70%の範囲においても、開口率の高
いグレーティング36aを使用した方がより安定したD
Oが得られた。
率が低いと、処理水DOが変動した。これは、グレーテ
ィング36aにおいて水膜が形成された状態で、水位が
上下するためと考えられる。また、グレーティング36
aの開口率35〜70%の範囲においても、開口率の高
いグレーティング36aを使用した方がより安定したD
Oが得られた。
【0059】「実験結果3」被処理水のLVを80m/
Hに固定し、グレーティング36aの開口率30%およ
び70%の2種類について、処理水水位をグレーティン
グ36aの下端からグレーティング36aの下端より1
m下方まで変化させたときの処理水DOを調べた。この
結果を図7に示す。このように、開口率30%の時に
は、処理水水位の低下に伴ってDOは大きく上昇した。
一方、開口率70%の時は、処理水水位低下によるDO
の上昇はほとんど見られなかった。
Hに固定し、グレーティング36aの開口率30%およ
び70%の2種類について、処理水水位をグレーティン
グ36aの下端からグレーティング36aの下端より1
m下方まで変化させたときの処理水DOを調べた。この
結果を図7に示す。このように、開口率30%の時に
は、処理水水位の低下に伴ってDOは大きく上昇した。
一方、開口率70%の時は、処理水水位低下によるDO
の上昇はほとんど見られなかった。
【0060】これより、グレーティング36aの開口率
を上昇することで、グレーティング36aの下方におけ
る空間の存在の悪影響が抑制されることが分かる。
を上昇することで、グレーティング36aの下方におけ
る空間の存在の悪影響が抑制されることが分かる。
【0061】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
充填層の下端に設けられる気液接触材の支持部材の開口
率を35%以上にした。これによって、支持部材から落
下する処理水の水膜形成が防止され、充填層支持部材の
下方に空間が生じてもここにおける酸素の再溶解を抑制
することができる。これによって、処理水水位が変動し
ても溶存酸素濃度の低い処理水を安定して得ることがで
きる。
充填層の下端に設けられる気液接触材の支持部材の開口
率を35%以上にした。これによって、支持部材から落
下する処理水の水膜形成が防止され、充填層支持部材の
下方に空間が生じてもここにおける酸素の再溶解を抑制
することができる。これによって、処理水水位が変動し
ても溶存酸素濃度の低い処理水を安定して得ることがで
きる。
【図1】 第1実施形態の構成を示す図である。
【図2】 気液接触材の構成を示す図である。
【図3】 グレーティングの構成を示す図である。
【図4】 第2実施形態の構成を示す図である。
【図5】 水封装置の構成を示す図である。
【図6】 グレーティング開口率と処理水DOの関係を
示す特性図である。
示す特性図である。
【図7】 処理水水位とDOの関係を示す特性図であ
る。
る。
10 脱気塔、12 充填層、12a グレーティング
(支持部材)、14脱気室、16 処理水貯留室、20
散布装置、24 排出ポンプ、26 真空ポンプ、3
0 差圧計、32 制御装置、34 第1充填層、36
第2充填層、38 第1脱気室、40 第2脱気室、
42 水封装置、44 散布装置、46 第1真空ポン
プ、50 第2真空ポンプ。
(支持部材)、14脱気室、16 処理水貯留室、20
散布装置、24 排出ポンプ、26 真空ポンプ、3
0 差圧計、32 制御装置、34 第1充填層、36
第2充填層、38 第1脱気室、40 第2脱気室、
42 水封装置、44 散布装置、46 第1真空ポン
プ、50 第2真空ポンプ。
Claims (4)
- 【請求項1】 気密に形成された脱気塔内に気液接触材
の充填層を形成し、脱気塔の上方から被処理水を供給
し、充填層の下方から処理水を排出すると共に、真空手
段により脱気塔内の気体を排出するようになした真空脱
気装置において、 前記気液接触材を下方から支持する支持部材の開口率を
35%以上としたことを特徴とする真空脱気装置。 - 【請求項2】 気密に形成された脱気塔内に気液接触材
の充填層を複数段に形成し、脱気塔の上方から被処理水
を供給し、最下段の充填層の下方から処理水を排出する
と共に、真空手段により脱気塔内の気体を排出するよう
になした真空脱気装置において、 最下段の気液接触材を下方から支持する支持部材の開口
率を35%以上としたことを特徴とする真空脱気装置。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の装置におい
て、 前記支持部材は、グレーティング構造の目板であり、こ
の目板の開口率を35%以上としたことを特徴とする真
空脱気装置。 - 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1つに記載の装
置において、 前記気液接触材の充填層は、紐状体のリングを複数接続
して構成された気液接触材を多数充填してなり、前記支
持部材の直上に比較的大きな気液接触材の層を形成し、
その上方に比較的小さな気液接触材の層を形成したこと
を特徴とする真空脱気装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31178296A JPH10151442A (ja) | 1996-11-22 | 1996-11-22 | 真空脱気装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31178296A JPH10151442A (ja) | 1996-11-22 | 1996-11-22 | 真空脱気装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10151442A true JPH10151442A (ja) | 1998-06-09 |
Family
ID=18021415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31178296A Pending JPH10151442A (ja) | 1996-11-22 | 1996-11-22 | 真空脱気装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10151442A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101696649B1 (ko) * | 2016-03-07 | 2017-01-16 | 이동근 | 순수한 이산화염소 발생장치 및 그 방법 |
| CN111947128A (zh) * | 2020-06-16 | 2020-11-17 | 连云港市宏庆电力辅机开发有限公司 | 还原式除氧器 |
-
1996
- 1996-11-22 JP JP31178296A patent/JPH10151442A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101696649B1 (ko) * | 2016-03-07 | 2017-01-16 | 이동근 | 순수한 이산화염소 발생장치 및 그 방법 |
| CN111947128A (zh) * | 2020-06-16 | 2020-11-17 | 连云港市宏庆电力辅机开发有限公司 | 还原式除氧器 |
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